JP2005337804A

JP2005337804A - 光ファイバにおける故障箇所特定支援方法

Info

Publication number: JP2005337804A
Application number: JP2004154870A
Authority: JP
Inventors: Seiichi Yoshino; 精一吉野; Shinya Miyazaki; 進也宮崎; Masaaki Takatani; 雅昭高谷; Koji Arakawa; 孝二荒川
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp; Nippon Telegraph and Telephone East Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp; Nippon Telegraph and Telephone East Corp
Priority date: 2004-05-25
Filing date: 2004-05-25
Publication date: 2005-12-08

Abstract

【課題】光ファイバにおける故障箇所の特定が迅速かつ容易となるように支援する方法を提供する。
【解決手段】光ファイバケーブル１やドロップ光ファイバ３の光心線（光ファイバ）における故障の箇所までの距離と該箇所の光損失、この光損失よりも大きい光損失が検出されるように治具で曲げられた箇所（１０１，１０２，１０３，２）までの距離と当該箇所の光損失、を検出して表示する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ファイバにおける故障の箇所の特定を支援する方法に関するものである。

光パルス試験器は、例えば、局舎からユーザ宅に向けて敷設された光ファイバにおける故障の箇所や、光の反射が生じている箇所までの距離と、これら箇所の光損失を検出して表示することができる。

光パルス試験器は、例えば、横軸に伝搬時間（距離に対応）、縦軸に受光パワー（光損失に対応）をとった表示画面に線グラフを描画することで、光損失箇所や反射箇所までの距離と受光パワーを表示する。
特開平９−２２９８２０号公報

ところで、光ファイバが地下や地上を行き交いながら敷設されるというような実際の状況においては、修理方法の見極めのために、例えば、光ファイバが地上から地下へ入る箇所と故障箇所の前後関係を特定することが必要である。

しかしながら、光パルス試験器は、単に光パルス試験器から故障箇所まで距離を表示するだけなので、上記のような前後関係の特定が光パルス試験器だけでは行えない。

光ファイバの配線図からは、光ファイバが地上から地下へ入る箇所まで距離を読みとることができるが、これはあくまで実長とは異なる旦長なので、光パルス試験器と配線図とを用いて前後関係の特定が行えないことである。

したがって、さらに、実長と旦長の差（余長）までも検討して前後関係の特定を行う必要があるが、その作業は極めて煩雑である。

その一方で、このような検討をしないで、実際に故障箇所と思われる箇所の近傍で光ファイバを切断し、その後にも、光パルス試験器で故障箇所が検出されるか否かを調べることにより、前後関係を特定することができるが、切断やその修復が必要なため、長時間を要することとなる。

本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、光ファイバにおける故障箇所の特定が迅速かつ容易となるように支援する方法を提供することにある。

上記の課題を解決するために、請求項１の本発明は、光ファイバにおける故障の箇所の特定を支援する方法であって、光パルス試験器が、光ファイバにおける故障の箇所までの距離と該箇所の光損失、この光損失よりも大きい光損失が検出されるように治具で曲げられた箇所までの距離と当該箇所の光損失、を検出して表示することを特徴とする。

請求項２の本発明は、請求項１記載の方法において、前記光ファイバで通信するときの光の波長とは異なる波長の光を前記光パルス試験器が用いることを特徴とする。

請求項３の本発明は、請求項１または２記載の方法において、前記治具は、前記検出のときの光の波長が１．５５μｍ以上、１．６５μｍ以下であるときに１ｄＢ以上の光損失を生じさせるものであり、前記光パルス試験器が当該範囲に波長のある光を用いることを特徴とする。

請求項４の本発明は、請求項１または２記載の方法において、前記治具は、前記検出のときの光の波長が１．６５μｍであるときに１ｄＢ以上の光損失を生じさせるものであり、前記光パルス試験器が当該波長の光を用いることを特徴とする。

請求項５の本発明は、前記治具は、請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、前記光ファイバが曲げられたときに元に戻るのを防止する部材を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、光ファイバにおける故障の箇所までの距離と該箇所の光損失、この光損失よりも大きい光損失が検出されるように治具で曲げられた箇所までの距離と当該箇所の光損失、を検出して表示することで、故障の箇所と曲げの箇所の前後関係が明確になるので、光ファイバにおける故障の箇所の特定が迅速かつ容易となる。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。

図１は、本発明で故障箇所の特定が容易となる光ファイバが適用された通信環境の一例を示す図である。

図１において、光ファイバケーブル１は、光ファイバである光心線を多数含んでなるものであり、図示しない局舎から電柱を経由して、さらにその先へと敷設されている。予め光ファイバケーブル１からは、ユーザ宅で光通信を行うための１本の光心線が予め引き出されており、電柱の近傍には、その光心線（余長部）を巻回して予め収納しておく収納箱２が設けられている。

収納箱２内では、引き出された光心線がドロップ光ファイバ３と接続され、そのドロップ光ファイバ３は、電柱に設けられた引き留め部１０１、光ファイバケーブル１上の引き留め部１０２、ユーザ宅の外壁における引き留め部１０３において順次に引き留められている。

さらに、ドロップ光ファイバ３は、光配線クリート、キャビネット、ワイヤプロテクタ、光ステップルなどを介して、ユーザ宅内のメディアコンバータに接続されている。メディアコンバータは、ユーザのコンピュータに電気回線を介して接続されている。

本実施の形態では、例えば、引き留め部１０１，１０２，１０３の箇所においてドロップ光ファイバ３が曲げられる。

図２は、引き留め部でドロップ光ファイバ３が曲げられている様子を示す外観図である。

ドロップ光ファイバ３は、光ファイバである光心線３１とその支持線３２とが結合されたものであり、引き留め部では、水切りのために光心線３１と支持線３２とが分離されるので、光ファイバである光心線３１だけに曲げを付与することが容易に行える。

このように分離された光心線３１は、治具１０によって曲げが付与されれる。

治具１０は、曲げを付与する曲げ付与部１１と、曲げが元に戻るのを防止する部材である戻り防止部１２，１２とを備えている。

曲げ付与部１１は、例えば円柱状に形成され、光心線３１はその外周部に渡されてから作業者により２点を持たれて引かれることで曲がるようになっているので、作業性が良好である。

ここで、曲げ半径を小さくしすぎると、光心線３１が座屈して破損する可能性があるので、曲げ半径は５ｍｍ以上であることが好ましい。樹脂製の被覆を設けた光心線３１に６ｍｍの曲げを繰り返し付与する試験を行ったときに被覆が損傷しないことが確認されている。

また、治具１０は、曲げられた後の光心線３１を挟みこむように、戻り防止部１２，１２を備えていて、これにより、光心線３１の曲げが被覆の剛性により元に戻るのを防止することができる。

また、本実施の形態では、例えば、予め光ファイバケーブル１から引き出された光心線を、図３に示すように、収納箱２内で、治具１０により曲げを付与し、その後、ドロップ光ファイバ３と接続してもよい。

このようにして光心線に曲げが付与されると曲げ箇所に光損失が生じるが、本実施の形態では、この曲げ付与は、この曲げ箇所の光損失が、経験的に分かっている故障箇所での光損失よりも大きくなるように行われる。

図４は、局舎またはユーザ宅に設けられた光パルス試験器が光ファイバケーブル１を試験したときに表示する表示内容の一例を示す図である。

光パルス試験器は、例えば、横軸に光パルス試験器からの伝搬時間（距離に対応）、縦軸に光パルス試験器からの受光パワー（光損失に対応）をとった表示画面を構成する。そして、光パルス試験器は、横軸に距離を示した箇所での受光パワーを検出し、これを線グラフで表示する。

受光パワーは、通常は距離に相当する量となる。距離に相当する量に対して、矢印Ａで示すように受光パワーが減少すれば軸ずれや曲げ等による故障箇所が存在することがわかる。

また、矢印Ｂで示すように、別な箇所の受光パワーがさらに大きい減少量を示せば、この箇所が治具１０による曲げ箇所であることがわかる。

したがって、図４の場合、故障箇所が曲げの箇所よりも近くにあることがわかる。

図５は、光の波長と曲げによる光損失の関係を示す図である。

図５に示すように、曲げ半径が同じならば、波長が長いほど光損失が大きい。例えば、曲げ半径７ｍｍ、波長１．３１μｍの場合、光損失が１ｄＢ程度であるのに対し、波長を１．５５μｍにすると光損失は７ｄＢ程度になる。さらに波長を１．６５μｍにすると光損失は１０ｄＢ以上になる。したがって、波長が長い方が、検出の精度を高めることができる。

また、通信中にも試験が行えるように、光パルス試験器は、通信で使用される波長と異なった波長の光を用いるのが好ましい。

そこで、波長１．６５μｍの光を用いるのが最も好ましいが、波長１．５５μｍ以上、１．６５μｍ以下の光を用いてもよい。

また、曲げ半径７ｍｍ、波長１．３１μｍの場合、光損失が１ｄＢ程度であること、並びにパルス試験器の検出精度を考慮すると、波長が１．５５μｍ以上、１．６５μｍ以下の場合の曲げによる光損失増加を見際めるためには、光損失が１ｄＢ以上であることが好ましく、したがって、このように光損失が１ｄＢ以上となるように治具１０を構成するのが好ましい。

また、光心線は、規格の違い、メーカの違い、被覆径の違いなどを考慮すると、曲げが付与されても破損しないようにするには、曲げによる光損失が１０ｄＢ以下となるように治具１０を構成するのが好ましい。

図６は、光ファイバケーブル１の光心線を曲げたときの曲げ半径と波長が１．５５μｍのときの光損失の関係を示す実験結果のグラフである。

図６に示すように、曲げ半径８．５ｍｍ以下では光損失が１ｄＢ以上であり、曲げ半径８．０ｍｍ以下では光損失が１０ｄＢ以上であることがわかる。このことから、光ファイバケーブル１の光心線の曲げ半径は８．５ｍｍ近傍が最適である。

図７は、ドロップ光ファイバ３の光心線３１を曲げたときの曲げ半径と波長が１．５５μｍのときの光損失の関係を示す実験結果のグラフである。

図７に示すように、曲げ半径７．５ｍｍ以下では光損失が１ｄＢ以上である。つまり、光損失が１ｄＢ以上となる曲げ半径が図６の場合よりも小さくなる。これは、ドロップ光ファイバ３の光心線３１は、光ファイバケーブル１の光心線よりも被覆が厚いためである。図７からわかるように、曲げ半径７．５ｍｍ以下で最適となる。

なお、故障箇所での軸ずれや反射による光損失変動は波長を変えてもあまり変化しないことから、例えば、波長を短い方から長い方へと変えていき、長い波長ほど光損失が大きくなれば、その箇所を曲げ箇所と判断することができる。

本発明で故障箇所の特定が容易となる光ファイバが適用された通信環境の一例を示す図である。引き留め部でドロップ光ファイバ３の光心線３１が曲げられている様子を示す外観図である。収納箱２内で光ファイバケーブル１の光心線が曲げられている様子を示す外観図である。局舎に設けられた光パルス試験器が光ファイバケーブル１を試験したときに表示する表示内容の一例を示す図である。光の波長と曲げによる光損失の関係を示す図である。光ファイバケーブル１の光心線を曲げたときの曲げ半径と波長が１．５５μｍのときの光損失の関係を示す実験結果のグラフである。ドロップ光ファイバ３の光心線３１を曲げたときの曲げ半径と波長が１．５５μｍのときの光損失の関係を示す実験結果のグラフである。

符号の説明

１光ファイバケーブル
２収納箱
３ドロップ光ファイバ
１０治具
１１曲げ付与部
１２戻り防止部
３１光心線
３２支持線
１０１，１０２，１０３引き留め部

Claims

光ファイバにおける故障の箇所の特定を支援する方法であって、
光パルス試験器が、光ファイバにおける故障の箇所までの距離と該箇所の光損失、この光損失よりも大きい光損失が検出されるように治具で曲げられた箇所までの距離と当該箇所の光損失、を検出して表示することを特徴とする方法。
前記光ファイバで通信するときの光の波長とは異なる波長の光を前記光パルス試験器が用いることを特徴とする請求項１記載の方法。
前記治具は、
前記検出のときの光の波長が１．５５μｍ以上、１．６５μｍ以下であるときに１ｄＢ以上の光損失を生じさせるものであり、
前記光パルス試験器が当該範囲に波長のある光を用いることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
前記治具は、
前記検出のときの光の波長が１．６５μｍであるときに１ｄＢ以上の光損失を生じさせるものであり、
前記光パルス試験器が当該波長の光を用いることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
前記治具は、
前記光ファイバが曲げられたときに元に戻るのを防止する部材を備えたことを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の方法。