JPH0763645A - 光ファイバーの障害点探索方法 - Google Patents
光ファイバーの障害点探索方法Info
- Publication number
- JPH0763645A JPH0763645A JP23244593A JP23244593A JPH0763645A JP H0763645 A JPH0763645 A JP H0763645A JP 23244593 A JP23244593 A JP 23244593A JP 23244593 A JP23244593 A JP 23244593A JP H0763645 A JPH0763645 A JP H0763645A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bending
- light
- point
- wavelength
- optical fiber
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ケーブル化された光ファイバーが実際に敷設
された状態で、故障点を特定するのは難しい。本発明
は、故障点を直接手で確かめて特定できる方法を提供す
ることを目的としている。 【構成】 目的を達成するために、本発明においては、
曲げによる損失変動という現象を応用し、光パルス試験
装置を用い、破断点と思われる付近に、ファイバーケー
ブルの曲げを印加し、後方散乱光またはフレネル反射光
のレベルが下がることを確認して破断点を特定する。
された状態で、故障点を特定するのは難しい。本発明
は、故障点を直接手で確かめて特定できる方法を提供す
ることを目的としている。 【構成】 目的を達成するために、本発明においては、
曲げによる損失変動という現象を応用し、光パルス試験
装置を用い、破断点と思われる付近に、ファイバーケー
ブルの曲げを印加し、後方散乱光またはフレネル反射光
のレベルが下がることを確認して破断点を特定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ファイバーに障害
が生じた場合に、修理すべき障害点を正確に特定し、修
理作業の効率をあげるための、光ファイバーの障害点探
索方法に関するものである。
が生じた場合に、修理すべき障害点を正確に特定し、修
理作業の効率をあげるための、光ファイバーの障害点探
索方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバーの障害点は、光パルス試験
装置を用い破断点からのフレネル反射光、後方散乱光量
の変化から判定する方法が一般的に用いられている。こ
の方法では、光ファイバーの長さ方向の位置の特性を正
確に測定できる。しかし、光ファイバーケーブルが蛇行
したり、さらに地中に埋設されている場合、どの部分の
修理を行わなければならないか特定するのが難しい。
装置を用い破断点からのフレネル反射光、後方散乱光量
の変化から判定する方法が一般的に用いられている。こ
の方法では、光ファイバーの長さ方向の位置の特性を正
確に測定できる。しかし、光ファイバーケーブルが蛇行
したり、さらに地中に埋設されている場合、どの部分の
修理を行わなければならないか特定するのが難しい。
【０００３】また、光ファイバーが保護被覆（シース、
ケーブル外被等）をかぶっていない、心線または素線と
なっていれば、可視レーザー光を被測定ファイバーに入
射させれば障害点で可視レーザー光が放射されるため目
視で故障点を特定できる。しかし、保護被覆をかぶって
いる場合、この方法で目視判断できない。
ケーブル外被等）をかぶっていない、心線または素線と
なっていれば、可視レーザー光を被測定ファイバーに入
射させれば障害点で可視レーザー光が放射されるため目
視で故障点を特定できる。しかし、保護被覆をかぶって
いる場合、この方法で目視判断できない。
【０００４】一方、図４および図５は、特開平４―３９
２７２に紹介されている曲げによる損失の原理である。
図４（ａ）に示すように、光ファイバー４は中心のコア
５の周囲をクラッド６で覆った構造を有する。そして、
このコア５内を光７が伝ぱんする。その伝ぱんモードは
種々のモードが存在するが、軸方向断面を考えると、光
７はコア５の内周面で反射されながら軸方向に伝ぱんし
ていく。光７が内周面で全反射されるためには、法線に
対する傾斜角度で示した入射角度θがこのコア５の屈折
率等の物理特性で定まる臨界角度θC 以上である必要が
ある。この入射角度θC 未満になると、光７が全反射さ
れなくて、一部がクラッド６へ入射する。よって、伝ぱ
ん損失が増大する。したがって、図４（ｂ）に示すよう
に、光ファイバー４を規定曲率以上に屈曲させると、屈
曲点での入射角度αが臨界角度θC 以下になり、その屈
曲点で伝ぱん損失が増大する。
２７２に紹介されている曲げによる損失の原理である。
図４（ａ）に示すように、光ファイバー４は中心のコア
５の周囲をクラッド６で覆った構造を有する。そして、
このコア５内を光７が伝ぱんする。その伝ぱんモードは
種々のモードが存在するが、軸方向断面を考えると、光
７はコア５の内周面で反射されながら軸方向に伝ぱんし
ていく。光７が内周面で全反射されるためには、法線に
対する傾斜角度で示した入射角度θがこのコア５の屈折
率等の物理特性で定まる臨界角度θC 以上である必要が
ある。この入射角度θC 未満になると、光７が全反射さ
れなくて、一部がクラッド６へ入射する。よって、伝ぱ
ん損失が増大する。したがって、図４（ｂ）に示すよう
に、光ファイバー４を規定曲率以上に屈曲させると、屈
曲点での入射角度αが臨界角度θC 以下になり、その屈
曲点で伝ぱん損失が増大する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、ケーブ
ル化された光ファイバーが実際に敷設された状態で、故
障点を特定するのは難しい状況である。しかし、一方、
曲げによる損失の事実がある。本発明は、故障点を直接
手で確かめて特定できる方法を提供することを目的とし
ている。
ル化された光ファイバーが実際に敷設された状態で、故
障点を特定するのは難しい状況である。しかし、一方、
曲げによる損失の事実がある。本発明は、故障点を直接
手で確かめて特定できる方法を提供することを目的とし
ている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、曲げによる損失変動という現象
を応用し、光パルス試験装置を用い、破断点と思われる
付近に、ファイバーケーブルの曲げを印加し、後方散乱
光またはフレネル反射光のレベルが下がることを確認し
て破断点を特定する。
に、本発明においては、曲げによる損失変動という現象
を応用し、光パルス試験装置を用い、破断点と思われる
付近に、ファイバーケーブルの曲げを印加し、後方散乱
光またはフレネル反射光のレベルが下がることを確認し
て破断点を特定する。
【０００７】
【作用】光パルス試験装置に光ファイバーケーブルを接
続し、後方散乱光およびフレネル反射光を観測し、曲げ
による測定波形の減衰状態を見ながら曲げの位置を変
え、減衰がフレネル反射のレベルを下げる時、または、
後方散乱光の破断点以後の減衰レベルが下がる時、その
曲げの部分で破断が生じていることがわかる。
続し、後方散乱光およびフレネル反射光を観測し、曲げ
による測定波形の減衰状態を見ながら曲げの位置を変
え、減衰がフレネル反射のレベルを下げる時、または、
後方散乱光の破断点以後の減衰レベルが下がる時、その
曲げの部分で破断が生じていることがわかる。
【０００８】
【実施例】光ファイバー通信は、その多くがシングルモ
ードファイバー（ＳＭＦ）と呼ばれるコア径の細いもの
を用いている。また、通信に用いる光の波長は１．３μ
ｍ帯と１．５５μｍ帯が多く用いられる。ところでＳＭ
Ｆは、ファイバーを曲げるとその部分のコアからクラッ
ドへ光が漏れだし、損失が増加するという現象がある。
この曲げによる損失は、波長が長くなる程多くなる。す
なわち１．３μｍよりも１．５５μｍの方が曲げに対す
る損失変動が大きく、さらにより長波長の光では曲げに
対してより敏感に損失が増大する。
ードファイバー（ＳＭＦ）と呼ばれるコア径の細いもの
を用いている。また、通信に用いる光の波長は１．３μ
ｍ帯と１．５５μｍ帯が多く用いられる。ところでＳＭ
Ｆは、ファイバーを曲げるとその部分のコアからクラッ
ドへ光が漏れだし、損失が増加するという現象がある。
この曲げによる損失は、波長が長くなる程多くなる。す
なわち１．３μｍよりも１．５５μｍの方が曲げに対す
る損失変動が大きく、さらにより長波長の光では曲げに
対してより敏感に損失が増大する。
【０００９】本発明は、この曲げによる損失変動という
現象を応用し、光パルス試験装置を用い、破断点と思わ
れる付近に、ファイバーケーブルの曲げを印加し、ケー
ブルの破断点を精密に探索する方法である。本発明に用
いられる光パルス試験装置の波長は、１．５５μｍまた
はそれ以上（例えば１．６５μｍ）が望ましい。
現象を応用し、光パルス試験装置を用い、破断点と思わ
れる付近に、ファイバーケーブルの曲げを印加し、ケー
ブルの破断点を精密に探索する方法である。本発明に用
いられる光パルス試験装置の波長は、１．５５μｍまた
はそれ以上（例えば１．６５μｍ）が望ましい。
【００１０】ケーブルに印加する曲げの曲率は、半径で
１ｃｍより数ｃｍであれば、フレキシブルチューブなど
の保護外被がかかっていても外被およびファイバーに損
傷を与えずに曲げることができ、また、損失変動の検出
も可能である。
１ｃｍより数ｃｍであれば、フレキシブルチューブなど
の保護外被がかかっていても外被およびファイバーに損
傷を与えずに曲げることができ、また、損失変動の検出
も可能である。
【００１１】この方法であれば故障点を直接手で確かめ
て特定できるため、その後の修復工事が容易である。ま
た、光パルス試験装置の空間分解能がそれほど高くなく
とも正確に位置が特定できる。
て特定できるため、その後の修復工事が容易である。ま
た、光パルス試験装置の空間分解能がそれほど高くなく
とも正確に位置が特定できる。
【００１２】図１は、故障点でフレネル反射がある場合
の、本発明による波形測定の様子を示している。図１
（ａ）は、曲げがない場合の破断によるフレネル反射を
示す。図１（ｂ）は、破断点より後方に曲げを印加した
場合の波形を示す。図１（ａ）に比べ波形変化がないた
め、もっと上流に破断点があることがわかる。
の、本発明による波形測定の様子を示している。図１
（ａ）は、曲げがない場合の破断によるフレネル反射を
示す。図１（ｂ）は、破断点より後方に曲げを印加した
場合の波形を示す。図１（ａ）に比べ波形変化がないた
め、もっと上流に破断点があることがわかる。
【００１３】図１（ｃ）は、破断点より前方に曲げを印
加した場合の波形を示す。曲げ損失の発生により後方散
乱光およびフレネル反射光のレベルが下がっている。曲
げ印加点と破断点間の距離Δｘが光パルス試験装置の空
間分解能よりも大きい場合、光パルス試験装置管面でΔ
ｘが読み取れるため、実際に曲げた点よりΔｘだけ後方
に破断点がある。
加した場合の波形を示す。曲げ損失の発生により後方散
乱光およびフレネル反射光のレベルが下がっている。曲
げ印加点と破断点間の距離Δｘが光パルス試験装置の空
間分解能よりも大きい場合、光パルス試験装置管面でΔ
ｘが読み取れるため、実際に曲げた点よりΔｘだけ後方
に破断点がある。
【００１４】Δｘが空間分解能よりも小さければ、光パ
ルス試験装置管面でΔｘを読み取ることはできない。し
かし、破断点より少しでも前に曲げを印加していれば、
曲げ損失増大に伴いフレネル反射光レベルが低下する。
したがって、その近傍に曲げを何回か印加してみる事に
よりフレネルレベルの変動の有無から破断点を特定でき
る。フレネルレベルの変動する曲げ印加点がすなわち破
断点である。
ルス試験装置管面でΔｘを読み取ることはできない。し
かし、破断点より少しでも前に曲げを印加していれば、
曲げ損失増大に伴いフレネル反射光レベルが低下する。
したがって、その近傍に曲げを何回か印加してみる事に
よりフレネルレベルの変動の有無から破断点を特定でき
る。フレネルレベルの変動する曲げ印加点がすなわち破
断点である。
【００１５】図２は、故障点でフレネル反射が生じない
場合の、本発明による波形測定の様子を示している。図
２（ａ）は、曲げがない場合の破断による波形を示す。
図２（ｂ）は、破断点より後方に曲げを印加した場合の
波形を示す。図２（ａ）に比べ波形変化がないため、も
っと上流に破断点があることがわかる。
場合の、本発明による波形測定の様子を示している。図
２（ａ）は、曲げがない場合の破断による波形を示す。
図２（ｂ）は、破断点より後方に曲げを印加した場合の
波形を示す。図２（ａ）に比べ波形変化がないため、も
っと上流に破断点があることがわかる。
【００１６】図２（ｃ）は、破断点より前方に曲げを印
加した場合の波形を示す。Δｘが光パルス試験装置の空
間分解能より大きい場合、フレネル反射がなくても、Δ
ｘを測定すれば破断点を特定できる。
加した場合の波形を示す。Δｘが光パルス試験装置の空
間分解能より大きい場合、フレネル反射がなくても、Δ
ｘを測定すれば破断点を特定できる。
【００１７】Δｘが光パルス試験装置の空間分解能より
小さい場合、後方散乱光の破断点以後の減衰波形のレベ
ルを測定しながら曲げ印加点を移動することにより、レ
ベル変動Δｙが生じた部分で破断が生じていると特定で
きる。
小さい場合、後方散乱光の破断点以後の減衰波形のレベ
ルを測定しながら曲げ印加点を移動することにより、レ
ベル変動Δｙが生じた部分で破断が生じていると特定で
きる。
【００１８】図３は、曲げの印加方法を示している。ケ
ーブルに印加する曲げの曲率は、半径で１ｃｍから数ｃ
ｍが適当であり、手により曲げる方法と、治工具により
曲げる方法がある。
ーブルに印加する曲げの曲率は、半径で１ｃｍから数ｃ
ｍが適当であり、手により曲げる方法と、治工具により
曲げる方法がある。
【００１９】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、光ファ
イバーの破断点を、曲げの位置を細かく移動することで
特定できるため、修理すべき障害点を確実に特定でき
る。
イバーの破断点を、曲げの位置を細かく移動することで
特定できるため、修理すべき障害点を確実に特定でき
る。
【図１】故障点でフレネル反射がある場合の光パルス試
験装置波形図である。
験装置波形図である。
【図２】故障点でフレネル反射が生じない場合の光パル
ス試験装置波形図である。
ス試験装置波形図である。
【図３】光ファイバーへの曲げの印加方法図である。
【図４】動作原理を説明するための光ファイバーを示す
図である。
図である。
【図５】動作を示すタイムチャートである。
１ 光パルス試験装置 ２ 破断点 ３ 曲げ ４ 光ファイバー ５ コア ６ クラッド ７ 光
Claims (1)
- 【請求項１】 光ファイバーの曲げによる損失の利用に
おいて、光パルス試験装置に光ファイバーをとりつけ、
後方散乱光とフレネル反射を観測し、曲げによる波形の
減衰により障害点を特定する光ファイバーの障害点探索
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23244593A JPH0763645A (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光ファイバーの障害点探索方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23244593A JPH0763645A (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光ファイバーの障害点探索方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0763645A true JPH0763645A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16939392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23244593A Pending JPH0763645A (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光ファイバーの障害点探索方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0763645A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005337804A (ja) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 光ファイバにおける故障箇所特定支援方法 |
| JP2011047914A (ja) * | 2009-07-28 | 2011-03-10 | Softbank Telecom Corp | 測定装置、測定方法、およびプログラム |
-
1993
- 1993-08-25 JP JP23244593A patent/JPH0763645A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005337804A (ja) * | 2004-05-25 | 2005-12-08 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 光ファイバにおける故障箇所特定支援方法 |
| JP2011047914A (ja) * | 2009-07-28 | 2011-03-10 | Softbank Telecom Corp | 測定装置、測定方法、およびプログラム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020702 |