JP2005327970A - Part push-up apparatus and method, and part mounting unit - Google Patents

Part push-up apparatus and method, and part mounting unit Download PDF

Info

Publication number
JP2005327970A
JP2005327970A JP2004146072A JP2004146072A JP2005327970A JP 2005327970 A JP2005327970 A JP 2005327970A JP 2004146072 A JP2004146072 A JP 2004146072A JP 2004146072 A JP2004146072 A JP 2004146072A JP 2005327970 A JP2005327970 A JP 2005327970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
push
pin
wafer sheet
pins
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004146072A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masachika Narita
正力 成田
Satoshi Shida
智 仕田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2004146072A priority Critical patent/JP2005327970A/en
Publication of JP2005327970A publication Critical patent/JP2005327970A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for delaminating a semiconductor chip from a wafer sheet in a reliable way without faulty delamination or damage. <P>SOLUTION: The part push-up unit 20 has a plurality of push-up pins 56 whose base sides are fixed to a common pin fixing section 87, and the pins 56 include at least one set different from the rest in terms of the tip position H in the vertical direction. It also has an elevating mechanism 95 for raising and lowering the pin fixing section 87. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ウェハシートに貼着されたウェハをダイシングした半導体チップである部品をウェハシートの下面から突き上げて剥離させる部品突上げ装置、そのような部品突上げ装置を備える部品実装装置、及び部品突上げ方法に関する。   The present invention relates to a component push-up device for pushing up and peeling a component, which is a semiconductor chip obtained by dicing a wafer attached to a wafer sheet, from the lower surface of the wafer sheet, a component mounting device including such a component push-up device, and a component It is related to the push-up method.

この種の部品突上げ装置は、例えば特許文献1に開示されている。図37(A)から図37(C)を参照して、従来の部品突上げ装置を説明する。ウェハシート1に貼着されたウェハ2はダイシングにより個々の半導体チップないしは電子部品3に分割され、この手電子部品3の実装側表面3aにバンプ4が形成されている。ウェハシート1は下面をエキスパンドリング5の先端に当接させつつ降下させることで放射状に拡張され、それによって隣接する電子部品3が互いに分離されている。部品突上げ装置6のホルダ7の先端がウェハシート1の下面に当接している。ホルダ7には複数のピン格納7aが設けられ、各ピン格納孔7aに対応して鉛直方向上向きの突上げピン8が設けられている。図37(A)に示すように、突上げ動作開始前には、それぞれ突上げピン8の先端が格納されている。突上げピン8の基端はピン固定部材9に固定され、先端の上下方向ないしは鉛直方向の位置Hは同一である。図37(B)に示すように、ピン固定部材9の上昇により各突上げピン8が各ピン格納孔7aから突出し、ウェハシート1と電子部品3間に介在する接着材層の接着力に抗して電子部品3の下面を突き上げる。その結果、図37(C)に示すように電子部品3はウェハシート1から剥離される。ウェハシート1から剥離された電子部品3は吸着ノズル10により保持される。   This type of component pushing-up device is disclosed in, for example, Patent Document 1. With reference to FIG. 37 (A) to FIG. 37 (C), a conventional component lifting device will be described. The wafer 2 adhered to the wafer sheet 1 is divided into individual semiconductor chips or electronic components 3 by dicing, and bumps 4 are formed on the mounting side surface 3 a of the hand electronic components 3. The wafer sheet 1 is expanded radially by lowering the lower surface while abutting against the tip of the expand ring 5, whereby adjacent electronic components 3 are separated from each other. The tip of the holder 7 of the component pushing-up device 6 is in contact with the lower surface of the wafer sheet 1. The holder 7 is provided with a plurality of pin storages 7a, and vertical push-up pins 8 are provided corresponding to the pin storage holes 7a. As shown in FIG. 37 (A), the tip of each push-up pin 8 is stored before the push-up operation is started. The base end of the push-up pin 8 is fixed to the pin fixing member 9, and the vertical position H or the vertical position H of the tip is the same. As shown in FIG. 37 (B), each push-up pin 8 protrudes from each pin storage hole 7a due to the rise of the pin fixing member 9, and resists the adhesive force of the adhesive layer interposed between the wafer sheet 1 and the electronic component 3. Then, the lower surface of the electronic component 3 is pushed up. As a result, the electronic component 3 is peeled from the wafer sheet 1 as shown in FIG. The electronic component 3 peeled from the wafer sheet 1 is held by the suction nozzle 10.

しかし、複数の突上げピン8の鉛直方向の位置Hが同一で、これらの突上げピン8が実質的に同時に電子部品3の下面を突き上げるので、剥離時に過度の応力が電子部品3に作用する。そのため、電子部品3の下面への接着材層の残留等の剥離不良や電子部品3の破損が生じる場合がある。   However, since the vertical positions H of the plurality of push-up pins 8 are the same, and these push-up pins 8 push up the lower surface of the electronic component 3 substantially simultaneously, excessive stress acts on the electronic component 3 at the time of peeling. . For this reason, there may be a case where a peeling failure such as an adhesive layer remaining on the lower surface of the electronic component 3 or damage to the electronic component 3 occurs.

特開平8−37395号公報Japanese Patent Laid-Open No. 8-37395

本発明は、半導体チップである部品を剥離不良や破損を起こすことなく確実にウェハシートから剥離させることができる部品突上げ装置、そのような部品突上げ装置を備える部品突上げ及び部品実装装置、並びに部品突上げ方法を提供することを課題とする。   The present invention relates to a component push-up device that can reliably peel a component that is a semiconductor chip from a wafer sheet without causing defective peeling or damage, a component push-up device and a component mounting device including such a component push-up device, It is another object of the present invention to provide a component pushing-up method.

本発明の第1の態様は、ウェハをダイシングにより分割してなり、かつウェハシートの上面に貼着された半導体チップである部品を、上記ウェハシートの下面側から突き上げて上記ウェハシートから剥離させる部品突上げ装置であって、上記ウェハシートの下方に配置され、基端側が共通のピン固定部に固定され、かつ先端の鉛直方向の位置が互いに異なるものを少なくとも一組含む複数の突上げピンと、上記ピン固定部を、上記複数の突上げピンの先端がウェハシートから離れている第1の位置と、上記複数の突上げピンの先端がウェハシートの下面から上記部品を突き上げる第2の位置との間で昇降させる昇降駆動機構とを備える部品突上げ装置を提供する。   According to a first aspect of the present invention, a part, which is a semiconductor chip formed by dividing a wafer by dicing and attached to the upper surface of the wafer sheet, is pushed up from the lower surface side of the wafer sheet and peeled off from the wafer sheet. A plurality of push-up pins including at least one set of push-up devices arranged below the wafer sheet, the base end side being fixed to a common pin fixing portion, and the positions of the tips in the vertical direction being different from each other; A first position where tips of the plurality of push-up pins are separated from the wafer sheet; and a second position where tips of the plurality of push-up pins push up the component from the lower surface of the wafer sheet. A component push-up device is provided that includes a lift drive mechanism that moves up and down.

複数の突上げピンはその先端の鉛直方向の位置が異なるのを少なくとも一組含む。そのため、昇降駆動機構が第1の位置から第2の位置に向けてピン固定部を上昇させると、すべての突上げピンの先端が実質的に同時に部品を押し上げるのではなく、まず先端の鉛直方向の位置が最も高い突上げピン、すなわち第1の位置で最もウェハシートの下面に近接している突上げピンの先端が部品を突き上げる。そして、ピン固定部が上昇するのに伴い、先端の鉛直方向の位置が高いものから順に突上げピンが部品を突き上げる。従って、部品の下面全体に実質的に同時にウェハシートから剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は部品の下面の一部の領域にウェハシートから剥離させようとする力が作用し、ピン固定部と共に突上げピンが上昇するのに伴ってウェハシートから剥離させようとする力が作用する領域が徐々に拡大する。よって、ウェハシートからの剥離時に過度の応力が部品に作用せず、部品の下面への接着材層の残留等の剥離不良や部品の破損を防止することができる。   The plurality of push-up pins include at least one set whose tips have different vertical positions. Therefore, when the elevating drive mechanism raises the pin fixing portion from the first position toward the second position, the tips of all the push-up pins do not push up the components substantially simultaneously, but first the vertical direction of the tips The tip of the push-up pin having the highest position, that is, the tip of the push-up pin closest to the lower surface of the wafer sheet in the first position pushes up the component. Then, as the pin fixing portion rises, the push-up pin pushes up the components in order from the highest vertical position of the tip. Therefore, the force to peel off the wafer sheet from the wafer sheet does not act on the entire lower surface of the component at the same time, but initially the force to peel off the wafer sheet acts on a part of the lower surface of the component. As the push-up pin rises together with the pin fixing portion, the region where the force to be peeled from the wafer sheet acts gradually expands. Therefore, excessive stress does not act on the component at the time of peeling from the wafer sheet, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the component and damage to the component.

具体的には、上記複数の突上げピンは、前記先端の鉛直方向の位置が最も高いものから最も低いものに向けて前記先端の鉛直方向の位置が漸次低くなるように配置されている。   Specifically, the plurality of push-up pins are arranged such that the vertical position of the tip gradually decreases from the highest to the lowest vertical position of the tip.

さらに具体的には、上記部品の対角線の一端から他端に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっている。   More specifically, the vertical position of the tip of the push-up pin decreases from one end to the other end of the diagonal line of the component.

代案としては、上記部品の互いに対向する2つの辺のうちの一方から他方に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっていてもよい。   As an alternative, the position of the tip of the push-up pin in the vertical direction may become lower from one side to the other side of the two parts facing each other.

また、上記部品の端縁から中央に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっていてもよい。   Further, the vertical position of the tip of the push-up pin may be lowered from the edge of the component toward the center.

さらに、上記部品の中央から端縁に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっていてもよい。   Further, the vertical position of the tip of the push-up pin may become lower from the center of the component toward the edge.

本発明の第1の態様に係る部品突上げ装置は、上記ピン固定部の一端側を横方向の軸線周りに回動可能に支持する支持機構と、上記昇降駆動機構により、上記複数の突上げピンの少なくとも1つが上記部品を突き上げる位置に上記ピン固定部が上昇すると、上記ピン固定部の他端側が上昇するように上記軸線周りに上記ピン固定部を回動させる回動駆動機構とをさらに備えてもよい。   The component thrusting device according to the first aspect of the present invention includes the support mechanism that supports one end side of the pin fixing portion so as to be rotatable about a horizontal axis, and the plurality of thrusting mechanisms by the lifting drive mechanism. A rotation drive mechanism for rotating the pin fixing portion around the axis so that the other end side of the pin fixing portion rises when the pin fixing portion rises to a position where at least one of the pins pushes up the component; You may prepare.

また、本発明の第1の態様に係る部品突上げ装置は、上記ピン固定部の一端側を横方向の軸線周りに回動可能に支持する支持機構と、上記軸線周りに上記ピン固定部を回動させて上記ピン固定部の姿勢を変化させ、それによって上記複数の突上げピンの上記鉛直方向の高さ調節する調節機構とをさらに備えてもよい。   The component lifting device according to the first aspect of the present invention includes a support mechanism that supports one end side of the pin fixing portion so as to be rotatable around a horizontal axis, and the pin fixing portion around the axis. An adjustment mechanism may be further provided that changes the posture of the pin fixing portion by rotating and thereby adjusts the vertical height of the plurality of push-up pins.

この支持機構と調節機構を設けることで、部品(半導体チップ)の厚みを含む寸法や材質、ウェハシートの厚みや材質、及び部品とウェハシートの間に介在する接着材層の材質等の条件に応じて突上げピンの先端の鉛直方向の位置を調節することが可能であり、これらの条件が変化した場合にも、剥離不良や部品の破損を生じることなくウェハシートから部品を剥離させることができる。   By providing this support mechanism and adjustment mechanism, the dimensions and materials including the thickness of the component (semiconductor chip), the thickness and material of the wafer sheet, and the material of the adhesive layer interposed between the component and the wafer sheet, etc. It is possible to adjust the vertical position of the tip of the push pin accordingly, and even if these conditions change, it is possible to peel the component from the wafer sheet without causing defective peeling or component damage it can.

本発明の第2の態様は、第1の態様の部品突上げ装置と、上記部品突上げ装置により上記ウェハシートから剥離された上記部品を保持し、上記実装側表面の向きを反転させる反転ヘッド装置と、上記反転ヘッド装置から受け渡された上記部品を基板に実装する実装ヘッド装置とを備える部品実装装置を提供する。   According to a second aspect of the present invention, there is provided the component push-up device according to the first aspect, and the reversing head that holds the component separated from the wafer sheet by the component push-up device and reverses the orientation of the mounting side surface. There is provided a component mounting apparatus including an apparatus and a mounting head apparatus that mounts the component delivered from the reversing head device on a substrate.

本発明の第3の態様は、ウェハをダイシングにより分割してなり、かつウェハシートの上面に貼着された半導体チップである部品の下面を、上記ウェハシートの下面側から突上げピンで突き上げて上記ウェハシートから剥離させる部品突上げ方法であって、上記部品の下面の一部である第1の領域において上記突上げピンにより上記部品を突き上げ、上記部品の下面の上記突上げピンにより突き上げられる領域が、上記第1の領域から上記部品の下面全体に漸次拡大するように、上記部品の下面を突き上げる突上げピンを漸次増加させる部品突上げ方法を提供する。   According to a third aspect of the present invention, the lower surface of a component, which is a semiconductor chip formed by dividing a wafer by dicing and is attached to the upper surface of the wafer sheet, is pushed up from the lower surface side of the wafer sheet by a push-up pin. A component push-up method for peeling from a wafer sheet, wherein the component is pushed up by the push-up pin in a first region that is a part of the lower surface of the component, and pushed up by the push-up pin on the lower surface of the component. There is provided a component pushing-up method for gradually increasing push-up pins that push up the lower surface of the component so that the region gradually expands from the first region to the entire lower surface of the component.

本発明の部品突上げ装置及び部品突上げ方法によれば、部品の下面全体に実質的に同時にウェハシートから剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は部品の下面の一部の領域にウェハシートから剥離させようとする力が作用し、この領域が漸次拡大する。よって、ウェハシートからの剥離時に過度の応力が部品に作用せず、部品の下面への接着材層の残留等の剥離不良や部品の破損を防止することができる。   According to the component pushing-up device and the component pushing-up method of the present invention, a force for peeling from the wafer sheet is not applied to the entire lower surface of the component at the same time. A force to be peeled from the wafer sheet acts on the region, and this region gradually expands. Therefore, excessive stress does not act on the component at the time of peeling from the wafer sheet, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the component and damage to the component.

次に、添付図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。図において、X軸方向とY軸方向は基板13の表面沿いの方向ないしは水平方向であり、Y軸方向は基板13の表面に対して垂直な方向ないしは鉛直方向である。   Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the figure, the X-axis direction and the Y-axis direction are directions or horizontal directions along the surface of the substrate 13, and the Y-axis direction is a direction perpendicular to the surface of the substrate 13 or a vertical direction.

(第1実施形態)
図1から図3は、本発明の第1の実施形態に係る部品突上げ装置を備える部品実装装置の一例である電子部品実装装置11を示す。
(First embodiment)
FIGS. 1 to 3 show an electronic component mounting apparatus 11 that is an example of a component mounting apparatus including a component lifting apparatus according to the first embodiment of the present invention.

まず、電子部品実装装置11の全体的な構成及び動作を説明する。この電子部品実装装置11は、部品の一例であるチップ部品やベアICチップ等の電子部品12を基板13に実装する実装動作を行う装置であり、大別して、複数の電子部品12を供給可能に収容する部品供給装置の一例である部品供給部14と、この部品供給部14から供給される各電子部品12を基板13に実装する実装動作を行う実装部15とを備えている。また、電子部品実装装置11は部品供給部14と実装部15の動作を制御するための制御部ないしはコントローラ16を備える。   First, the overall configuration and operation of the electronic component mounting apparatus 11 will be described. The electronic component mounting apparatus 11 is an apparatus that performs a mounting operation for mounting an electronic component 12 such as a chip component or a bare IC chip, which is an example of a component, on a substrate 13. The electronic component mounting device 11 can be roughly divided to supply a plurality of electronic components 12. A component supply unit 14, which is an example of a component supply device to be accommodated, and a mounting unit 15 that performs a mounting operation for mounting each electronic component 12 supplied from the component supply unit 14 on the substrate 13 are provided. The electronic component mounting apparatus 11 includes a control unit or a controller 16 for controlling operations of the component supply unit 14 and the mounting unit 15.

図4を併せて参照すると、部品供給部14はリフター17、プレート移動装置18、プレート配置装置19、部品突上げ装置20、認識カメラ21、及び反転ヘッド装置(部品供給ヘッド装置)22を備える。一方、実装部15は実装ヘッド装置24、XYテーブル25、及び2視野系認識カメラ26を備える。   Referring also to FIG. 4, the component supply unit 14 includes a lifter 17, a plate moving device 18, a plate placement device 19, a component push-up device 20, a recognition camera 21, and a reversing head device (component supply head device) 22. On the other hand, the mounting unit 15 includes a mounting head device 24, an XY table 25, and a two-field system recognition camera 26.

まず、部品供給部14を説明する。図4を参照すると、部品供給部14のリフター17は、昇降可能なマガジン28を備え、このマガジン28に電子部品12をウェハの形態で供給するためのウェハ供給用プレート29と、電子部品12をトレイ31に収容して供給するためのトレイ供給用プレート30とを選択的に供給可能に収納している。図5に示すように、ウェハ供給用プレート29は、大略円盤状の形状を有し、ダイシングが施されたウェハ32がその上面に貼着された伸縮性を有するシートであるウェハシート34と、このウェハシート34をその外周端部近傍において保持するウェハリング35とを備えている。このようにウェハ供給用プレート29が形成されていることにより、ウェハシート8を放射状に延伸させることで、格子状に配置されている夫々の電子部品12の配置位置も放射状に延伸させることができ、いわゆるエキスパンドを行うことが可能となっている。一方、図6に示すように、トレイ供給用プレート30は、トレイ供給用プレート30はたウェハ供給用プレート29と同様な外径形状を有し、略正方形状の内周孔部を有する環状プレートであるトレイリング36、このトレイリング36の上記内周孔部分に取り付けられたトレイ載置部37、このトレイ載置部37に着脱可能に載置された部品供給用の複数のトレイ31を備える。図7に拡大して示すように、部品供給トレイ31には電子部品12を収容するための凹部31aが形成されている。   First, the component supply unit 14 will be described. Referring to FIG. 4, the lifter 17 of the component supply unit 14 includes a magazine 28 that can be raised and lowered, and a wafer supply plate 29 for supplying the electronic component 12 to the magazine 28 in the form of a wafer, and the electronic component 12. A tray supply plate 30 for storing and supplying in the tray 31 is stored so as to be selectively supplied. As shown in FIG. 5, the wafer supply plate 29 has a substantially disk shape, and a wafer sheet 34 which is a stretchable sheet having a dicing wafer 32 attached to the upper surface thereof; A wafer ring 35 for holding the wafer sheet 34 in the vicinity of the outer peripheral end thereof is provided. Since the wafer supply plate 29 is formed in this way, by extending the wafer sheet 8 radially, the arrangement positions of the respective electronic components 12 arranged in a lattice shape can also be extended radially. It is possible to perform so-called expansion. On the other hand, as shown in FIG. 6, the tray supply plate 30 is an annular plate having an outer diameter similar to that of the tray supply plate 30 and the wafer supply plate 29 and having a substantially square inner peripheral hole portion. A tray ring 36, a tray mounting portion 37 attached to the inner peripheral hole portion of the tray ring 36, and a plurality of component supply trays 31 detachably mounted on the tray mounting portion 37 are provided. As shown in an enlarged view in FIG. 7, the component supply tray 31 is formed with a recess 31 a for accommodating the electronic component 12.

図4にのみ示すプレート移動装置18は、Y軸方向に移動可能でありリフター17のマガジン28から取り出したウェハ供給用プレート29又はトレイ供給用プレート30をプレート配置装置19まで搬送する。ウェハ供給用プレート29及びトレイ供給用プレート30のいずれも、バンプ39が形成されている電子部品12の基板13への実装側表面12aが鉛直方向上向きとなる姿勢でプレート配置装置19に保持される。   The plate moving device 18 shown only in FIG. 4 is movable in the Y-axis direction, and conveys the wafer supply plate 29 or the tray supply plate 30 taken out from the magazine 28 of the lifter 17 to the plate placement device 19. Both the wafer supply plate 29 and the tray supply plate 30 are held by the plate placement device 19 in such a posture that the mounting side surface 12a of the electronic component 12 on which the bumps 39 are formed on the substrate 13 is directed upward in the vertical direction. .

図2、図4、図8、及び図9を参照すると、プレート配置装置19は、ウェハ供給用プレート29やトレイ供給用プレート30の下面を支持するプレート支持ピン41と、これらのプレートの上面側に位置するプレート押圧体42を備える。プレート支持ピン41は平面視でリング状を呈する取付部材43に対して鉛直方向に移動可能に支持されている。また、プレート支持ピン41にはコイルばね44が装着されており、このコイルばね44によりプレート支持ピン41は鉛直方向上向きに弾性的に付勢されている。一方、プレート押圧体42はシリンダ45により昇降駆動される。さらに、取付部材43の内側には円筒状のエキスパンド部材46が配置され、その先端はウェハシート34の下面に当接している。図8に示すように、ウェハ供給用プレート29はプレート支持ピン41の先端部分とプレート押圧体42の間に挟持される。シリンダ45によって図8に示す位置からプレート押圧体42が降下すると、図9に示すようにエキスパンド部材46の先端が支点となってウェハシート34が放射状に延びる。このいわゆるエキスパンドにより隣接する電子部品12の間隔が広がる。トレイ供給用プレート30も同様の態様でプレート配置装置19によって保持される。図2に明瞭に示すように、プレート配置装置19は駆動用のモータ47を備えるY軸ロボット48によりY軸方向に移動可能である。   2, 4, 8, and 9, the plate placement device 19 includes a plate support pin 41 that supports the lower surfaces of the wafer supply plate 29 and the tray supply plate 30, and the upper surface side of these plates. A plate pressing body 42 is provided. The plate support pin 41 is supported so as to be movable in the vertical direction with respect to the attachment member 43 having a ring shape in plan view. A coil spring 44 is mounted on the plate support pin 41, and the plate support pin 41 is elastically biased upward in the vertical direction by the coil spring 44. On the other hand, the plate pressing body 42 is driven up and down by a cylinder 45. Further, a cylindrical expanding member 46 is disposed inside the attachment member 43, and the tip thereof is in contact with the lower surface of the wafer sheet 34. As shown in FIG. 8, the wafer supply plate 29 is sandwiched between the tip portions of the plate support pins 41 and the plate pressing body 42. When the plate pressing body 42 is lowered from the position shown in FIG. 8 by the cylinder 45, the wafer sheet 34 extends radially with the tip of the expanding member 46 as a fulcrum as shown in FIG. This so-called expand increases the interval between adjacent electronic components 12. The tray supply plate 30 is also held by the plate arranging device 19 in the same manner. As clearly shown in FIG. 2, the plate placement device 19 can be moved in the Y-axis direction by a Y-axis robot 48 having a driving motor 47.

図2及び図10を参照すると、部品突上げ装置20は、駆動用のモータ51を備えるX軸ロボット52によりX軸方向に移動可能である。また、部品突上げ装置20はアーム53の先端に突上げヘッド54を備える。突上げヘッド54のホルダ55内には突上げ針ないしは突上げピン56が昇降可能に収容されている。突上げピン56がウェハシート34に貼着された電子部品12を下面から突き上げることで、電子部品12がウェハシート34から剥離される。また、突上げヘッド54はZ軸周りに回転可能である。部品突上げ装置20の構成及び動作は後に詳述する。   Referring to FIGS. 2 and 10, the component pushing-up device 20 can be moved in the X-axis direction by an X-axis robot 52 including a driving motor 51. Further, the component thrusting device 20 includes a thrusting head 54 at the tip of the arm 53. In the holder 55 of the push-up head 54, a push-up needle or a push-up pin 56 is accommodated so as to be movable up and down. The electronic component 12 is peeled from the wafer sheet 34 by pushing up the electronic component 12 attached to the wafer sheet 34 from the lower surface by the push-up pins 56. The push-up head 54 can rotate around the Z axis. The configuration and operation of the component lifting device 20 will be described in detail later.

図1、図2、及び図4を参照すると、認識カメラ21は駆動用のモータ58を備えるX軸ロボット59に搭載されており、X軸方向に移動可能である。認識カメラ21はプレート配置装置19に保持されたウェハ供給用プレート29やトレイ供給用プレート30における電子部材の位置を光学的認識する。   Referring to FIGS. 1, 2, and 4, the recognition camera 21 is mounted on an X-axis robot 59 having a driving motor 58 and is movable in the X-axis direction. The recognition camera 21 optically recognizes the position of the electronic member on the wafer supply plate 29 and the tray supply plate 30 held by the plate placement device 19.

図2及び図22を参照すると、反転ヘッド装置22は、駆動用のモータ61を備えるX軸ロボット62によりX軸方向に移動可能である。反転ヘッド装置22は真空ポンプ63の吸引力により電子部品12を解除可能に吸着保持するための吸着ノズル65を備える。吸着ノズル65は昇降可能であり、かつZ軸周りに回転可能である。また、吸着ノズル65は鉛直方向の向きを反転可能である。反転ヘッド装置22の構成及び動作は後に詳述する。   Referring to FIGS. 2 and 22, the reversing head device 22 is movable in the X-axis direction by an X-axis robot 62 including a driving motor 61. The reversing head device 22 includes a suction nozzle 65 for sucking and holding the electronic component 12 so as to be released by the suction force of the vacuum pump 63. The suction nozzle 65 can move up and down and can rotate about the Z axis. Further, the suction nozzle 65 can reverse the vertical direction. The configuration and operation of the reversing head device 22 will be described in detail later.

次に、図1及び図2を参照して実装部15について説明する。実装ヘッド装置24は、モータ66により作動するX軸ロボット67によりX軸方向に沿って進退移動可能である。また、実装ヘッド装置24はボイスコイルモータ68にて昇降駆動可能であり、モータ69によりそれ自体の軸線周りに回転可能な保持部70を備える。保持部70は吸着保持した電子部品12を介して、押圧エネルギーや超音波振動エネルギーや熱エネルギー等の接合エネルギーを、基板13の接合部に付与できるように構成されている。   Next, the mounting unit 15 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. The mounting head device 24 can be moved forward and backward along the X-axis direction by an X-axis robot 67 operated by a motor 66. The mounting head device 24 can be driven up and down by a voice coil motor 68 and includes a holding portion 70 that can be rotated around its own axis by a motor 69. The holding unit 70 is configured so that bonding energy such as pressing energy, ultrasonic vibration energy, and thermal energy can be applied to the bonding portion of the substrate 13 through the electronic component 12 held by suction.

XYテーブル25の上面には、基板13を解除可能に保持して固定する基板保持台72が設置されている。この基板保持台72は、X軸方向左向きに基板13を搬送する基板搬送装置73により供給された基板13を保持する。XYテーブル25はX軸及びY軸方向の駆動用のモータ74,75を備え、基板保持台72に保持された基板13をX軸方向及びY軸方向に移動させる。この移動により、実装ヘッド装置24に対する基板13上における電子部品12が実装される位置の位置決めがなされる。   On the upper surface of the XY table 25, a substrate holding base 72 for holding and fixing the substrate 13 in a releasable manner is installed. The substrate holding table 72 holds the substrate 13 supplied by the substrate transfer device 73 that transfers the substrate 13 leftward in the X-axis direction. The XY table 25 includes motors 74 and 75 for driving in the X-axis and Y-axis directions, and moves the substrate 13 held on the substrate holding base 72 in the X-axis direction and the Y-axis direction. By this movement, the position where the electronic component 12 is mounted on the substrate 13 with respect to the mounting head device 24 is positioned.

2視野系認識カメラ26は実装ヘッド装置24に保持された電子部品12と基板13の両方を光学的に認識する。   The two-view system recognition camera 26 optically recognizes both the electronic component 12 and the substrate 13 held by the mounting head device 24.

部品供給部14及び実装部15の全体的な動作を概説する。プレート移動装置18がリフター17のマガジン28からウェハ供給用プレート29を取り出し、Y軸方向に移動してプレート配置装置19に供給する。プレート配置装置19によるウェハ供給用プレート29の保持(図8)及びエキスパンド動作(図9)の完了後、Y軸ロボット48によるプレート配置装置19のY軸方向の移動とX軸ロボット52による部品突上げ装置20のX軸方向の移動により、認識カメラ21の認識結果に基づいて突上げヘッド54がいずれかの電子部品12に対して位置決めされる。また、X軸ロボット62による反転ヘッド装置22のX軸方向の移動により、反転ヘッド装置22が当該電子部品12に対して位置決めされる。反転ヘッド装置22の吸着ノズル65のより吸着動作と同期して、反転ヘッド装置22の突上げピン56でウェハシート34の下面側から電子部品12を突き上げることで、電子部品12がウェハシート34から剥離して吸着ノズル65で保持される。反転ヘッド装置22は電子部品12の受渡位置P2(図24参照)までX軸方向に移動すると共に、吸着ノズル65の向きを反転させる。また、実装ヘッド装置24もX軸ロボット67により受渡位置P2までX軸方向に移動する。実装ヘッド装置24の保持部70で電子部品12を保持した後に、吸着ノズル65による吸着を解除して電子部品12を反転ヘッド装置から実装ヘッド装置24に受け渡す。電子部品12が受け渡された実装ヘッド装置24はXYテーブル25上の基板13の上方に移動する。XYテーブル25により基板13がX軸方向及びY軸方向に移動することで、2視野系認識カメラ26の認識結果に基づいて、実装ヘッド装置24に対して基板13の適切な位置が位置決めされる。この位置決め後に実装ヘッド装置24が電子部品12を基板13に実装する。トレイ供給用プレート30に関しても、同様の動作が実行される。   The overall operation of the component supply unit 14 and the mounting unit 15 will be outlined. The plate moving device 18 takes out the wafer supply plate 29 from the magazine 28 of the lifter 17, moves it in the Y-axis direction, and supplies it to the plate arranging device 19. After the holding of the wafer supply plate 29 by the plate placement device 19 (FIG. 8) and the expansion operation (FIG. 9) are completed, the Y-axis robot 48 moves the plate placement device 19 in the Y-axis direction and the X-axis robot 52 projects the parts. As the lifting device 20 moves in the X-axis direction, the push-up head 54 is positioned with respect to any electronic component 12 based on the recognition result of the recognition camera 21. Further, the reversing head device 22 is positioned with respect to the electronic component 12 by the movement of the reversing head device 22 in the X-axis direction by the X-axis robot 62. In synchronization with the suction operation of the suction nozzle 65 of the reversing head device 22, the electronic component 12 is pushed up from the lower surface side of the wafer sheet 34 by the push-up pin 56 of the reversing head device 22, so that the electronic component 12 is removed from the wafer sheet 34. It peels and is held by the suction nozzle 65. The reversing head device 22 moves to the delivery position P2 of the electronic component 12 (see FIG. 24) in the X-axis direction and reverses the direction of the suction nozzle 65. The mounting head device 24 is also moved in the X-axis direction by the X-axis robot 67 to the delivery position P2. After the electronic component 12 is held by the holding unit 70 of the mounting head device 24, the suction by the suction nozzle 65 is released and the electronic component 12 is transferred from the reversing head device to the mounting head device 24. The mounting head device 24 to which the electronic component 12 has been transferred moves above the substrate 13 on the XY table 25. As the substrate 13 is moved in the X-axis direction and the Y-axis direction by the XY table 25, an appropriate position of the substrate 13 is positioned with respect to the mounting head device 24 based on the recognition result of the two-field recognition camera 26. . After this positioning, the mounting head device 24 mounts the electronic component 12 on the substrate 13. A similar operation is also performed on the tray supply plate 30.

次に、図1、図2、図10から図17を参照して部品突上げ装置20を詳細に説明する。図2、図10、及び図11に示すように、部品突上げ装置20は駆動用のモータ51を備えるX軸ロボット52に搭載された基部80を備える。この基部80にはY軸方向に延びるアーム53の基端側が取り付けられている。アーム53の基端側はZ軸方向に延びるLMガイドないしは直進ガイド81を介して基部80に取り付けられており、基部80で支持されたシリンダ82によってアーム53全体が昇降する。   Next, the component lifting device 20 will be described in detail with reference to FIGS. 1, 2, and 10 to 17. As shown in FIGS. 2, 10, and 11, the component pushing-up device 20 includes a base 80 mounted on an X-axis robot 52 including a driving motor 51. A base end side of an arm 53 extending in the Y axis direction is attached to the base portion 80. The base end side of the arm 53 is attached to the base portion 80 via an LM guide or linear guide 81 extending in the Z-axis direction, and the entire arm 53 is moved up and down by a cylinder 82 supported by the base portion 80.

図12から図15に示すように、アーム53はその先端に突上げヘッド54を備えている。また、図16及び図17に最も明瞭に示すように、突上げヘッド54はプレート配置装置19で保持されたウェハ供給用プレート29の下方に配置されている。突上げヘッド54はアーム53の先端に固定されたケーシング83を備えている。このケーシング83にはボールスプライン84がそのスプライン軸85が鉛直方向に延びるように取り付けられ、このスプライン軸85の先端側に複数の突上げピン56の基端側を固定したピン固定部材87が取り付けられている。ボールスプライン84の回転操作部86はケーシング83に対して回転自在に取り付けられており、その外周にはプーリ89が固定されている。図2及び図11に示すように、このプーリ89と、アーム53の基端側に配置されたモータ91の出力軸に固定されたプーリ92との間には駆動ベルト93が掛け渡されている。従って、モータ91の回転はプーリ89,92、駆動ベルト93、及び回転操作部86を介してスプライン軸85のZ軸周りの回転に変換される。また、スプライン軸85はカム式の昇降駆動機構95により昇降可能である。具体的には、モータ96の出力軸に固定されたカム97と当接されたカムフォロア98がレバー99の上端に取り付けられ、このレバー99はケーシング83で支持された直進ガイド100により鉛直方向に直進可能となっている。また、レバー99のL字状の下端に設けられた突起101がスプライン軸85の下端に当接している。さらに、スプライン軸85にはコイルばね102が装着されており、このコイルばね102によってスプライン軸85は鉛直方向下向きに弾性的に付勢されている。そのため、スプライン軸85の下端は常に突起101に当接している。モータ96の回転はカム97及びカムフォロア98で直進運動に変換され、この直進運動はレバー99によりスプライン軸85に伝達される。   As shown in FIGS. 12 to 15, the arm 53 includes a push-up head 54 at the tip thereof. As shown most clearly in FIGS. 16 and 17, the push-up head 54 is disposed below the wafer supply plate 29 held by the plate placement device 19. The thrust head 54 includes a casing 83 fixed to the tip of the arm 53. A ball spline 84 is attached to the casing 83 such that the spline shaft 85 extends in the vertical direction, and a pin fixing member 87 is attached to the tip end side of the spline shaft 85 to fix the base end sides of the plurality of push-up pins 56. It has been. The rotation operation portion 86 of the ball spline 84 is rotatably attached to the casing 83, and a pulley 89 is fixed to the outer periphery thereof. As shown in FIGS. 2 and 11, a drive belt 93 is stretched between the pulley 89 and a pulley 92 fixed to the output shaft of the motor 91 disposed on the base end side of the arm 53. . Therefore, the rotation of the motor 91 is converted into rotation around the Z axis of the spline shaft 85 via the pulleys 89 and 92, the drive belt 93, and the rotation operation unit 86. The spline shaft 85 can be moved up and down by a cam type lifting drive mechanism 95. Specifically, a cam follower 98 that is in contact with a cam 97 fixed to the output shaft of the motor 96 is attached to the upper end of the lever 99, and this lever 99 goes straight in the vertical direction by the straight guide 100 supported by the casing 83. It is possible. Further, the protrusion 101 provided at the L-shaped lower end of the lever 99 is in contact with the lower end of the spline shaft 85. Further, a coil spring 102 is mounted on the spline shaft 85, and the spline shaft 85 is elastically biased downward in the vertical direction by the coil spring 102. Therefore, the lower end of the spline shaft 85 is always in contact with the protrusion 101. The rotation of the motor 96 is converted into linear motion by the cam 97 and the cam follower 98, and this linear motion is transmitted to the spline shaft 85 by the lever 99.

スプライン軸85の上端側はケーシング83に対して固定された中空のホルダ55内に挿入されている。図16及び図17に示すように、ホルダ55の先端面はウェハシート34の下面に当接される。また、ホルダ55の先端面には複数のシート吸着孔55a(図15(A)にのみ示す)が設けられており、これらのシート吸着孔55aを介して作用する真空ポンプ103(図16にのみ示す。)の吸引力によりホルダ55の先端面55bにウェハシート34の下面が吸着保持される。   The upper end side of the spline shaft 85 is inserted into a hollow holder 55 fixed to the casing 83. As shown in FIGS. 16 and 17, the front end surface of the holder 55 is brought into contact with the lower surface of the wafer sheet 34. Further, a plurality of sheet suction holes 55a (shown only in FIG. 15A) are provided on the front end surface of the holder 55, and the vacuum pump 103 that operates through these sheet suction holes 55a (only in FIG. 16). The lower surface of the wafer sheet 34 is sucked and held on the front end surface 55b of the holder 55 by the suction force shown in FIG.

ホルダ55内に位置するスプライン軸85の上端にはピン固定部材87が固定されている。図21(A)を併せて参照すると、ピン固定部材87には複数本(本実施形態では12本)の突上げピン56が固定されている。図16及び図20(A)に示すように、突上げ動作の開始前は、各突上げピン56の先端はホルダ55の先端面に形成されたピン格納孔55cに格納されている。突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hを異ならせている。具体的には、突上げピン56の先端は同一の仮装平面PL(図16にのみ示す)上に位置し、この仮装平面PLは水平面に対して傾斜している。換言すれば、突上げピン56は、前記先端の鉛直方向の高さHが最も高いものから最も低いものに向けて先端の鉛直方向の高さHが漸次低くなるように配置されている。さらに具体的には、図21(A)において矢印A1で示すように、電子部品12の対角線の一端から他端に向けて、上記突上げピン56の鉛直方向の位置が低くなっている。   A pin fixing member 87 is fixed to the upper end of the spline shaft 85 located in the holder 55. Referring also to FIG. 21A, a plurality of (12 in this embodiment) push-up pins 56 are fixed to the pin fixing member 87. As shown in FIGS. 16 and 20A, the tip of each push-up pin 56 is stored in a pin storage hole 55 c formed in the tip surface of the holder 55 before the push-up operation is started. The vertical position H of the tip of the push-up pin 56 is varied. Specifically, the tip of the push-up pin 56 is located on the same temporary dressing plane PL (shown only in FIG. 16), and the temporary mounting plane PL is inclined with respect to the horizontal plane. In other words, the push-up pin 56 is arranged such that the vertical height H of the tip gradually decreases from the highest height H to the lowest height of the tip. More specifically, as indicated by an arrow A1 in FIG. 21A, the vertical position of the push-up pin 56 decreases from one end of the diagonal line of the electronic component 12 to the other end.

次に、部品突上げ装置20の動作を説明する。図18を参照すると、まずステップS18−1において図8及び図9を参照して既に説明したように、プレート配置装置19によるウェハシート34のエキスパンド動作が実行される。次に、ステップS18−2においてアーム53の上昇によりホルダ55の先端面がウェハシート34の下面に当接した後、真空ポンプ63が作動してシート吸着孔55aにウェハシート34の下面が吸着される。電子部品12の品種変更等が有った場合には、モータ91によりスプライン軸85を回転させることでピン固定部材87のZ軸周りの角度位置を調節し、それによって当該電子部品12に応じて複数の突上げピン56の平面視での配置位置を調節することができる。次に、ステップS18−3において認識カメラ21が突上げの対象となる電子部品12の位置を認識する。ステップS18−4では、認識カメラ21の認識結果に基づいて反転ヘッド装置22が移動した後、吸着ノズル65が降下して当該電子部品12の吸着を開始する。ステップS18−5において、吸着ノズル65の上昇動作と同期して突上げピン56による電子部品12の突上げ動作が実行される。最後に、ステップS18−6において、突上げ動作によってウェハシート34から剥離された電子部品12を吸着保持した吸着ノズル65が上昇する。   Next, the operation of the component lifting device 20 will be described. Referring to FIG. 18, first, in step S <b> 18-1, as already described with reference to FIGS. 8 and 9, the expanding operation of the wafer sheet 34 by the plate arranging device 19 is executed. Next, in step S18-2, the front end surface of the holder 55 is brought into contact with the lower surface of the wafer sheet 34 by the raising of the arm 53, and then the vacuum pump 63 is operated to suck the lower surface of the wafer sheet 34 into the sheet suction hole 55a. The When there is a change in the type of the electronic component 12, etc., the angular position around the Z axis of the pin fixing member 87 is adjusted by rotating the spline shaft 85 by the motor 91, and accordingly, according to the electronic component 12 The arrangement positions of the plurality of push-up pins 56 in plan view can be adjusted. Next, in step S18-3, the recognition camera 21 recognizes the position of the electronic component 12 to be pushed up. In step S18-4, after the reversing head device 22 moves based on the recognition result of the recognition camera 21, the suction nozzle 65 descends to start sucking the electronic component 12. In step S18-5, the electronic component 12 is pushed up by the push-up pin 56 in synchronization with the raising operation of the suction nozzle 65. Finally, in step S18-6, the suction nozzle 65 that sucks and holds the electronic component 12 separated from the wafer sheet 34 by the push-up operation is raised.

図18のステップS18−5の突上げ動作を詳細に説明する。まず、図19を参照すると、突上げ動作は突上げピン全体が上昇し(ステップS19−1)、それによって電子部品12はウェハシート34から「斜め」に剥離される(ステップS19−2)。図20(A)から図20(C)を参照すると、突上げ動作の開始前は突上げピン56の先端はピン格納孔55c内に格納されている(図20(A))。次に、昇降駆動機構95によってスプライン軸85及びその先端のピン固定部材87がホルダ55内で上昇を開始する。ピン固定部材87のZ軸周りに回転角度位置を保持するために、スプライン軸85の上昇と同期してモータ91によりボールスプライン84の回転操作部86が回転する。ピン固定部材87が上昇すると、すべての突上げピン56の先端が実質的に同時に電子部品12を押し上げるのではなく、最初に突上げピン56のうち先端の鉛直方向の位置Hが最も高いものの先端が電子部品12を突き上げる。そして、ピン固定部材87がさらに上昇するのに伴い、先端の鉛直方向の位置Hが高いものから順に電子部品12を突き上げ(図20(B)及び図21(A)参照)、最終的にウェハシート34から電子部品12が剥離される(図20(C)参照)。従って、電子部品12の下面全体に実質的に同時にウェハシート34から剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は電子部品12の一つの角部の近傍でウェハシートから剥離させようとする力が作用し、ピン固定部材87と共に突上げピン56が上昇するのに伴ってウェハシート34から剥離させようとする力が作用する領域が対角線方向に徐々に拡大する。よって、ウェハシート34からの剥離時に過度の応力が電子部品12に作用せず、電子部品12の下面への接着材層の残留等の剥離不良や電子部品12の破損を防止することができる。突上げピン56の姿勢(剥離角度)を微調節して剥離性を向上するために、昇降駆動機構95によりピン固定部材87がウェハシート34に向けて上昇させている途中に、モータ91によりスプライン軸85を動かし、それによってピン固定部材87をZ軸周りに回転させてもよく、Z軸周りに揺動させてもよい。   The push-up operation in step S18-5 in FIG. 18 will be described in detail. First, referring to FIG. 19, in the push-up operation, the whole push-up pin rises (step S19-1), and thereby the electronic component 12 is peeled off from the wafer sheet 34 "obliquely" (step S19-2). 20A to 20C, the tip of the push-up pin 56 is stored in the pin storage hole 55c before the start of the push-up operation (FIG. 20A). Next, the elevating drive mechanism 95 starts to raise the spline shaft 85 and the pin fixing member 87 at the tip thereof in the holder 55. In order to maintain the rotational angle position around the Z axis of the pin fixing member 87, the rotation operation portion 86 of the ball spline 84 is rotated by the motor 91 in synchronization with the rise of the spline shaft 85. When the pin fixing member 87 is raised, the tips of all the push-up pins 56 do not push up the electronic component 12 substantially simultaneously, but the tip of the push-up pin 56 having the highest vertical position H in the tip first. Pushes up the electronic component 12. Then, as the pin fixing member 87 is further raised, the electronic component 12 is pushed up in order from the highest vertical position H of the tip (see FIGS. 20B and 21A), and finally the wafer. The electronic component 12 is peeled from the sheet 34 (see FIG. 20C). Accordingly, the force to be peeled off from the wafer sheet 34 substantially simultaneously does not act on the entire lower surface of the electronic component 12, but at first it is attempted to peel off from the wafer sheet in the vicinity of one corner of the electronic component 12. As the push pin 56 rises together with the pin fixing member 87, the region where the force to be peeled off from the wafer sheet 34 is gradually expanded in the diagonal direction. Therefore, excessive stress does not act on the electronic component 12 during peeling from the wafer sheet 34, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the electronic component 12 and damage to the electronic component 12. In order to finely adjust the posture (peeling angle) of the push-up pin 56 and improve the peelability, the spline is driven by the motor 91 while the pin fixing member 87 is raised toward the wafer sheet 34 by the lifting drive mechanism 95. The shaft 85 may be moved, whereby the pin fixing member 87 may be rotated around the Z axis or may be swung around the Z axis.

図21(B)に示すように、突上げピン56の本数を減らしてもよい(この例では9本)。ただし、突上げピン56のピッチを過度に狭くすると、密に配置された突上げピン56の先端により電子部品12はその下面全体がウェハシート34に密着した状態のままで上方に移動することになる。そのため、ウェハシート34から電子部品12が剥がれず、剥離不良を生じするおそれがある。逆に、突上げピン56のピッチを過度に広くすると電子部品12の下面の突上げピン56で突き上げられる部分に応力集中が生じ電子部品12が破損するおそれがある。従って、突上げピン56の本数はこれらの点を考慮して設定する必要がある。   As shown in FIG. 21B, the number of push-up pins 56 may be reduced (9 in this example). However, if the pitch of the push-up pins 56 is excessively narrowed, the electronic component 12 moves upward while the entire bottom surface thereof is in close contact with the wafer sheet 34 by the tips of the push-up pins 56 that are densely arranged. Become. For this reason, the electronic component 12 is not peeled off from the wafer sheet 34, and there is a risk of causing a peeling failure. On the contrary, if the pitch of the push-up pins 56 is excessively widened, stress concentration may occur in the portion pushed up by the push-up pins 56 on the lower surface of the electronic component 12 and the electronic component 12 may be damaged. Therefore, the number of push-up pins 56 needs to be set in consideration of these points.

次に、反転ヘッド装置22を詳細に説明する。図2及び図22を参照すると、反転ヘッド装置22は、電子部品2を解除可能に吸着保持する保持部の一例である吸着ノズル65と、この吸着ノズル65をZ軸周りに回転させる回転駆動装置102とを有する反転ヘッド103を備えている。また、反転ヘッド装置22は、反転ヘッド103を昇降させて、吸着ノズル65の昇降を行うヘッド昇降装置104と、反転ヘッド103を昇降可能に支持するとともに、Y軸方向に延びる反転中心周りに反転ヘッド103を回転させて、吸着ノズル65の鉛直方向の向きを反転させるヘッド反転装置105を備える。さらに、反転ヘッド装置22は、ヘッド昇降装置104とヘッド反転装置105を支持するヘッドフレーム106を備えている。このヘッドフレーム106は駆動用のモータ61を有するX軸ロボット62に搭載されている。従って、反転ヘッド103は電子部品12の取出位置P1(図24(A)参照)と電子部品12の受渡位置P2(図24(B)参照)との間でX軸方向に進退移動する。   Next, the reversing head device 22 will be described in detail. Referring to FIGS. 2 and 22, the reversing head device 22 includes a suction nozzle 65 that is an example of a holding unit that sucks and holds the electronic component 2 so as to be releasable, and a rotation driving device that rotates the suction nozzle 65 around the Z axis. The reversing head 103 is provided. The reversing head device 22 moves the reversing head 103 up and down to support the head lifting device 104 that raises and lowers the suction nozzle 65 and the reversing head 103 so that the reversing head 103 can move up and down. A head reversing device 105 that rotates the head 103 to reverse the vertical direction of the suction nozzle 65 is provided. Further, the reversing head device 22 includes a head frame 106 that supports the head lifting device 104 and the head reversing device 105. The head frame 106 is mounted on an X-axis robot 62 having a driving motor 61. Accordingly, the reversing head 103 moves back and forth in the X-axis direction between the take-out position P1 of the electronic component 12 (see FIG. 24A) and the delivery position P2 of the electronic component 12 (see FIG. 24B).

図23(A)から図23(B)を参照すると、吸着ノズル65は、平坦な先端面65aに開口した吸着孔65bと、この吸着孔65bに一端が連通する吸着流路65cとを備える。吸着流路65cの他端には真空ポンプ63が接続されている。吸着孔65bは、吸着流路65cと連通する中央部65dと、この中央部65dから放射状に延びる複数の分岐部65eとを備える。本実施形態では平面視ないしは底面視で90度の角度間隔で配置された4個の分岐部65eが設けられている。吸着孔65b及び先端面65aの形状及び寸法は、先端面65aの吸着孔65bよりも外側の部分が電子部品12のバンプ39に当接する一方、吸着孔65bは実装側表面12aのバンプ39が存在しない部分と隙間をあけて対向するように設定されている。そのため、真空ポンプ63の吸引動作により吸着ノズル65の先端面65aと実装側表面12a間の隙間から吸着孔65bを介して吸着流路65cに流入する空気流が生じ、この空気流により生じる負圧で先端面65aに電子部品12が保持される。換言すれば、反転ヘッド装置22の吸着ノズル65は、その先端面65aが実装側表面12aとは非接触の状態で電子部品12を吸着保持する。従って、実装側表面12aの全体に均一に吸引力が作用し、過度の吸引力による撓み等の変形を生じさせることなく高精度で吸着ノズル65に電子部品12を保持することができる。   Referring to FIGS. 23 (A) to 23 (B), the suction nozzle 65 includes a suction hole 65b opened in the flat tip surface 65a, and a suction flow path 65c having one end communicating with the suction hole 65b. A vacuum pump 63 is connected to the other end of the adsorption channel 65c. The suction hole 65b includes a central portion 65d communicating with the suction flow path 65c and a plurality of branch portions 65e extending radially from the central portion 65d. In the present embodiment, four branch portions 65e arranged at an angular interval of 90 degrees in plan view or bottom view are provided. The shape and dimensions of the suction hole 65b and the tip surface 65a are such that the outer portion of the tip surface 65a than the suction hole 65b contacts the bump 39 of the electronic component 12, while the suction hole 65b has the bump 39 on the mounting side surface 12a. It is set so as to be opposed to the part not to be opened with a gap. Therefore, the suction operation of the vacuum pump 63 generates an air flow that flows into the suction flow path 65c through the suction hole 65b from the gap between the tip surface 65a of the suction nozzle 65 and the mounting side surface 12a, and the negative pressure generated by this air flow. Thus, the electronic component 12 is held on the tip surface 65a. In other words, the suction nozzle 65 of the reversing head device 22 sucks and holds the electronic component 12 in a state in which the tip surface 65a thereof is not in contact with the mounting side surface 12a. Therefore, the suction force acts uniformly on the entire mounting surface 12a, and the electronic component 12 can be held on the suction nozzle 65 with high accuracy without causing deformation such as bending due to excessive suction force.

また、吸着ノズル65の先端面65aの外形寸法は、図23(A)において符号t1で示すように先端面65aの外周縁が電子部品12の端縁よりも例えば25〜50μm程度内側に位置するように設定されている。従って、図23(B)に示すように、トレイ31の凹部31aに収容された電子部品12が凹部31aを構成する壁面と当接している場合でも、吸着ノズル65の先端面65aと凹部31aの壁面との間には符号t2で示す例えば25〜50μm程度の隙間が確保され、吸着ノズル65が凹部31aの壁面と干渉するのを防止することができる。また、吸着ノズル65の先端面65aの外形寸法は先端面65aの外周縁がバンプ39よりも外側に位置に位置するように設定されている。従って、吸着孔65bよりも外側の部分の先端面65aにバンプが確実に当接するので、上述の吸着孔65aと実装側表面12aの隙間に生じる負圧によって電子部品12が確実に吸着ノズル65に保持される。   The outer dimension of the front end surface 65a of the suction nozzle 65 is such that the outer peripheral edge of the front end surface 65a is located, for example, about 25 to 50 μm inside the end edge of the electronic component 12 as indicated by reference numeral t1 in FIG. Is set to Therefore, as shown in FIG. 23B, even when the electronic component 12 accommodated in the recess 31a of the tray 31 is in contact with the wall surface constituting the recess 31a, the tip surface 65a of the suction nozzle 65 and the recess 31a A clearance of about 25 to 50 μm, for example, indicated by reference numeral t2 is secured between the wall surface and the suction nozzle 65 can be prevented from interfering with the wall surface of the recess 31a. The outer dimension of the tip surface 65 a of the suction nozzle 65 is set so that the outer peripheral edge of the tip surface 65 a is positioned outside the bump 39. Accordingly, the bumps reliably come into contact with the tip surface 65a outside the suction hole 65b, so that the electronic component 12 is reliably attached to the suction nozzle 65 by the negative pressure generated in the gap between the suction hole 65a and the mounting side surface 12a. Retained.

図24(A)から図24(D)を参照して電子部品12が反転ヘッド装置22によってプレート配置装置19から取り出されて実装ヘッド装置24で基板13に実装されるまでの動作を説明する。まず、図24(A)に示すように、プレート配置装置19に対応する電子部品12の供給位置P1において、ウェハ供給用プレート29又はトレイ供給用プレート30から反転ヘッド装置22の吸着ノズル65が電子部品12を吸着する。この際、吸着ノズル65は鉛直方向上向きとなっている電子部品12の実装側表面12aを保持する。次に、図24(B)に示すように、吸着ノズル65が上昇すると共に、実装ヘッド装置24が受渡位置P2に移動する。次に、吸着ノズル65に電子部品12を保持した反転ヘッド装置22が受渡位置P2に移動して、実装ヘッド装置24の下方に配置される。続いて、反転ヘッド103の向きが反転し、その結果、電子部品12の実装側表面12aと反対側の面が鉛直方向上向きとなる。そして、図24(C)で示すように、実装ヘッド装置24の保持部70が降下して電子部品12を保持する。電子部品12は実装側表面12aが鉛直方向下向きの姿勢で保持部70に保持される。次に、図24(D)に示すように、実装ヘッド装置24が基板13の所定位置の上方に移動下後に保持部70が降下し、当該所定位置に電子部品12が実装される。   With reference to FIG. 24A to FIG. 24D, the operation from when the electronic component 12 is taken out of the plate placement device 19 by the reversing head device 22 and mounted on the substrate 13 by the mounting head device 24 will be described. First, as shown in FIG. 24A, at the supply position P1 of the electronic component 12 corresponding to the plate placement device 19, the suction nozzle 65 of the reversing head device 22 is moved from the wafer supply plate 29 or the tray supply plate 30 to the electron. The component 12 is sucked. At this time, the suction nozzle 65 holds the mounting surface 12a of the electronic component 12 facing upward in the vertical direction. Next, as shown in FIG. 24B, the suction nozzle 65 moves up and the mounting head device 24 moves to the delivery position P2. Next, the reversing head device 22 holding the electronic component 12 on the suction nozzle 65 moves to the delivery position P <b> 2 and is disposed below the mounting head device 24. Subsequently, the direction of the reversing head 103 is reversed, and as a result, the surface of the electronic component 12 opposite to the mounting side surface 12a is directed upward in the vertical direction. Then, as shown in FIG. 24C, the holding unit 70 of the mounting head device 24 descends to hold the electronic component 12. The electronic component 12 is held by the holding unit 70 in a posture in which the mounting side surface 12a is vertically downward. Next, as shown in FIG. 24D, after the mounting head device 24 is moved above a predetermined position of the substrate 13, the holding unit 70 is lowered, and the electronic component 12 is mounted at the predetermined position.

吸着ノズル65の吸着孔65bの形状は図23(A)から図23(C)に示すものに限定されない。例えば、図25(A)から図25(C)に示すように平面視ないしは底面視で45度の角度間隔で配置された8個の分岐部65eを設けてもよい。   The shape of the suction hole 65b of the suction nozzle 65 is not limited to that shown in FIGS. 23 (A) to 23 (C). For example, as shown in FIGS. 25 (A) to 25 (C), eight branch portions 65e arranged at an angle interval of 45 degrees in a plan view or a bottom view may be provided.

(第2実施形態)
第2実施形態は、部品突上げ装置20の突上げピン56の先端の配置が第1実施形態と異なる。図26(A)及び図27(A)を参照すると、12本の突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hは電子部品12の端縁から中央に向けて低くなっている。換言すれば、突上げピン56の先端は凹状の仮想曲面上に位置している。
(Second Embodiment)
The second embodiment differs from the first embodiment in the arrangement of the tip of the push-up pin 56 of the component push-up device 20. Referring to FIGS. 26A and 27A, the vertical position H of the tips of the 12 push-up pins 56 decreases from the edge of the electronic component 12 toward the center. In other words, the tip of the push-up pin 56 is located on the concave virtual curved surface.

図26(A)から図26(C)を参照すると、突上げ動作の開始前は突上げピン56の先端はピン格納孔55c内に格納されている(図26(A))。次に、ピン固定部材87がホルダ55内で上昇すると、すべての突上げピン56の先端が実質的に同時に電子部品12を押し上げるのではなく、突上げピン56のうち先端の鉛直方向の位置Hが最も高いものが、最初に電子部品12を突き上げる。そして、ピン固定部材87がさらに上昇するのに伴い、先端の鉛直方向の位置Hが高いものから順に電子部品12を突き上げ(図26(B)及び図27(A)参照)、最終的にウェハシート34から電子部品12が剥離される(図26(C)参照)。従って、電子部品12の下面全体に実質的に同時にウェハシート34から剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は電子部品12の端縁近傍の領域でウェハシート34から剥離させようとする力が作用し、ピン固定部材87と共に突上げピン56が上昇するのに伴って、ウェハシート34から剥離させようとする力が作用する領域が電子部品の中央部へ向けて拡大する。よって、ウェハシート34からの剥離時に過度の応力が電子部品12に作用せず、電子部品12の下面への接着材層の残留等の剥離不良や電子部品12の破損を防止することができる。   Referring to FIGS. 26 (A) to 26 (C), the tip of the push-up pin 56 is stored in the pin storage hole 55c before the start of the push-up operation (FIG. 26 (A)). Next, when the pin fixing member 87 is raised in the holder 55, the tips of all the push-up pins 56 do not push up the electronic component 12 substantially simultaneously, but the vertical position H of the tips of the push-up pins 56. With the highest value pushes up the electronic component 12 first. Then, as the pin fixing member 87 is further raised, the electronic component 12 is pushed up in order from the highest vertical position H of the tip (see FIGS. 26B and 27A), and finally the wafer. The electronic component 12 is peeled from the sheet 34 (see FIG. 26C). Accordingly, the force to be peeled off from the wafer sheet 34 substantially simultaneously does not act on the entire lower surface of the electronic component 12, but at first it is attempted to peel off from the wafer sheet 34 in a region near the edge of the electronic component 12. As the force to act and the push pin 56 rises together with the pin fixing member 87, the region where the force to be peeled off from the wafer sheet 34 acts increases toward the center of the electronic component. Therefore, excessive stress does not act on the electronic component 12 during peeling from the wafer sheet 34, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the electronic component 12 and damage to the electronic component 12.

図27(B)に示すように、突上げピン56の本数を減らしてもよい(この例では9本)。第2実施形態のその他の構成及び作用は第1実施形態と同様である。   As shown in FIG. 27B, the number of push-up pins 56 may be reduced (9 in this example). Other configurations and operations of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

(第3実施形態)
第3実施形態は、部品突上げ装置20の突上げピン56の先端の配置が第1実施形態と異なる。図28(A)及び図29(A)を参照すると、12本の突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hは、電子部品12の中央から端縁に向けて低くなっている。換言すれば、突上げピン56の先端は凸状の仮想曲面上に位置している。
(Third embodiment)
The third embodiment is different from the first embodiment in the arrangement of the tip of the push-up pin 56 of the component push-up device 20. Referring to FIGS. 28A and 29A, the vertical position H of the tips of the twelve push-up pins 56 decreases from the center of the electronic component 12 toward the edge. In other words, the tip of the push-up pin 56 is located on the convex virtual curved surface.

図28(A)から図28(C)を参照すると、突上げ動作の開始前は突上げピン56の先端はピン格納孔55c内に格納されている(図28(A))。次に、ピン固定部材87がホルダ55内で上昇すると、すべての突上げピン56の先端が実質的に同時に電子部品12を押し上げるのではなく、突上げピン56のうち先端の鉛直方向の位置Hが最も高いものが、最初に電子部品12を突き上げる。そして、ピン固定部材87がさらに上昇するのに伴い、先端の鉛直方向の位置Hが高いものから順に電子部品12を突き上げ(図28(B)及び図29(A)参照)、最終的にウェハシート34から電子部品12が剥離される(図28(C)参照)。従って、電子部品12の下面全体に実質的に同時にウェハシート34から剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は電子部品12の中央部近傍の領域でウェハシート34から剥離させようとする力が作用し、ピン固定部材87と共に突上げピン56が上昇するのに伴って、ウェハシート34から剥離させようとする力が作用する領域が電子部品12の端縁へ向けて拡大する。よって、ウェハシート34からの剥離時に過度の応力が電子部品12に作用せず、電子部品12の下面への接着材層の残留等の剥離不良や電子部品12の破損を防止することができる。   Referring to FIGS. 28A to 28C, the tip of the push-up pin 56 is stored in the pin storage hole 55c before the start of the push-up operation (FIG. 28A). Next, when the pin fixing member 87 is raised in the holder 55, the tips of all the push-up pins 56 do not push up the electronic component 12 substantially simultaneously, but the vertical position H of the tips of the push-up pins 56. With the highest value pushes up the electronic component 12 first. Then, as the pin fixing member 87 is further raised, the electronic component 12 is pushed up in order from the highest vertical position H of the tip (see FIGS. 28B and 29A), and finally the wafer. The electronic component 12 is peeled from the sheet 34 (see FIG. 28C). Therefore, the force to be peeled off from the wafer sheet 34 substantially simultaneously does not act on the entire lower surface of the electronic component 12, but first, it is attempted to peel off from the wafer sheet 34 in a region near the center of the electronic component 12. As the pushing force 56 is raised together with the pin fixing member 87, the region where the force to be peeled off from the wafer sheet 34 acts is expanded toward the edge of the electronic component 12. Therefore, excessive stress does not act on the electronic component 12 during peeling from the wafer sheet 34, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the electronic component 12 and damage to the electronic component 12.

図29(B)に示すように、突上げピン56の本数を減らしてもよい(この例では9本)。第3実施形態のその他の構成及び作用は第1実施形態と同様である。   As shown in FIG. 29B, the number of push-up pins 56 may be reduced (9 in this example). Other configurations and operations of the third embodiment are the same as those of the first embodiment.

(第4実施形態)
第4実施形態は、部品突上げ装置20のピン固定部材87が回動する点と突上げピン56の先端の配置が第1実施形態と異なる。
(Fourth embodiment)
The fourth embodiment differs from the first embodiment in that the pin fixing member 87 of the component pushing-up device 20 rotates and the arrangement of the tip of the pushing-up pin 56.

図30から図32を参照すると、ピン固定部材87の一端側が支持機構110によって回動可能に支持されている。具体的には、ピン固定部材87の一端側には互いに対向する一対の支軸111が固定されており、この支軸111がスプライン軸85側に回動自在に支持されている。また、部品突上げ装置20はピン固定部材87を支軸111の軸線L周りに回動させる回動駆動機構112を備える。具体的には、この回動駆動機構112は、上端がピン固定部材87の他端側に当接し、下端側にカムローラ113を備えるプッシュロッドを備えている。このプッシュロッド114は鉛直方向に進退可能に支持されている。また、回転駆動機構112はプランジャ155の先端にカムローラ113と当接するカム116が固定されたシリンダ117を備えている。プランジャ115は水平方向に延びている。シリンダ117のプランジャ115が可能位置から突出位置に突出すると、カムロー113を介してプッシュロッド114が鉛直方向上向きに移動し、その結果ピン固定部材87が支軸111の軸線L周りに上向きに回動する。   30 to 32, one end side of the pin fixing member 87 is rotatably supported by the support mechanism 110. Specifically, a pair of opposite support shafts 111 are fixed to one end side of the pin fixing member 87, and the support shafts 111 are rotatably supported on the spline shaft 85 side. Further, the component pushing-up device 20 includes a rotation drive mechanism 112 that rotates the pin fixing member 87 around the axis L of the support shaft 111. Specifically, the rotation drive mechanism 112 includes a push rod having an upper end that abuts on the other end side of the pin fixing member 87 and a cam roller 113 on the lower end side. The push rod 114 is supported so as to be movable back and forth in the vertical direction. The rotational drive mechanism 112 includes a cylinder 117 to which a cam 116 that contacts the cam roller 113 is fixed at the tip of the plunger 155. The plunger 115 extends in the horizontal direction. When the plunger 115 of the cylinder 117 protrudes from the possible position to the protruding position, the push rod 114 moves upward in the vertical direction via the cam row 113, and as a result, the pin fixing member 87 rotates upward around the axis L of the support shaft 111. To do.

図35(A)を併せて参照すると、12本の突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hは、電子部品12の互いに対向する2つの辺のうち一方から他方に向けて低くなっている。   Referring also to FIG. 35A, the vertical position H of the tips of the twelve push-up pins 56 decreases from one side to the other side of the two opposite sides of the electronic component 12. .

本実施形態における突上げピン56による電子部品12の突上げ動作(図18のステップS18−5に対応する。)を説明する。図33を参照すると、まず、カム式の昇降駆動機構95により突上げピン56全体が上昇する(ステップS33−1)。次に、支軸側の突上げピン56が電子部品12を突き上げる位置までピン固定部材87が上昇すると、回動駆動機構112によりピン固定部材87が支軸111周りに回動し、ピン固定部材87の他端側(支軸111とは反対側)の突上げピン56が上昇する(ステップS33−2)。これら2段階の動作によって電子部品12はウェハシート34から「斜め」に剥離される。図34(A)から図34(C)を参照すると、突上げ動作の開始前は突上げピン56の先端はピン格納孔55c内に格納されている(図34(A))。次に、昇降駆動機構95によってスプライン軸85と共にピン固定部材87が上昇すると、すべての突上げピン56の先端が実質的に同時に電子部品12を押し上げるのではなく、先端の鉛直方向の位置Hが高いピン固定部材87の一端側(支軸111側)の突上げピン56が、ピン格納孔55cから突出して電子部品12を突き上げる。次に、回動駆動機構112によりピン固定部材87が回動され、その結果ピン固定部材87の他端側(支軸111とは反対側)の突上げピン56がピン格納孔55cから突出して電子部品12を突き上げる(図34(B)及び図35(A)参照)。最終的にウェハシート34から電子部品12が剥離される(図34(C)参照)。従って、電子部品12の下面全体に実質的に同時にウェハシート34から剥離させようとする力が作用するのではなく、最初は電子部品12の互いに対向する2つの辺の一方の近傍でウェハシートから剥離させようとする力が作用し、ピン固定部材87と共に突上げピン56が上昇するのに伴ってウェハシート34から剥離させようとする力が作用する領域が他方の辺に向かって徐々に拡大する。よって、ウェハシート34からの剥離時に過度の応力が電子部品12に作用せず、電子部品12の下面への接着材層の残留等の剥離不良や電子部品12の破損を防止することができる。突上げピン56の姿勢(剥離角度)を微調節して剥離性を向上するために、ピン固定部材87が昇降駆動機構95によりウェハシート34に向けて上昇している途中や、回動駆動機構112により回動させている途中に、モータ91によりスプライン軸85を動かし、それによってピン固定部材87をZ軸周りに回転させてもよく、Z軸周りに揺動させてもよい。   A push-up operation of the electronic component 12 by the push-up pin 56 in this embodiment (corresponding to step S18-5 in FIG. 18) will be described. Referring to FIG. 33, first, the entire push-up pin 56 is raised by the cam-type lifting drive mechanism 95 (step S33-1). Next, when the pin fixing member 87 rises to a position where the push-up pin 56 on the support shaft pushes up the electronic component 12, the pin fixing member 87 is rotated around the support shaft 111 by the rotation drive mechanism 112. The push-up pin 56 on the other end side of 87 (the side opposite to the support shaft 111) rises (step S33-2). The electronic component 12 is peeled off from the wafer sheet 34 "obliquely" by these two-stage operations. Referring to FIGS. 34 (A) to 34 (C), the tip of the push-up pin 56 is stored in the pin storage hole 55c before the start of the push-up operation (FIG. 34 (A)). Next, when the pin fixing member 87 is lifted together with the spline shaft 85 by the lifting drive mechanism 95, the tips of all the push-up pins 56 do not push up the electronic component 12 substantially at the same time, but the vertical position H of the tips is changed. The push-up pin 56 on one end side (support shaft 111 side) of the high pin fixing member 87 protrudes from the pin storage hole 55c and pushes up the electronic component 12. Next, the pin fixing member 87 is rotated by the rotation driving mechanism 112. As a result, the push-up pin 56 on the other end side (the side opposite to the support shaft 111) of the pin fixing member 87 protrudes from the pin storage hole 55c. The electronic component 12 is pushed up (see FIGS. 34B and 35A). Finally, the electronic component 12 is peeled from the wafer sheet 34 (see FIG. 34C). Accordingly, the force to peel off the wafer sheet 34 from the wafer sheet 34 substantially simultaneously does not act on the entire lower surface of the electronic component 12, but at first, from the wafer sheet near one of the two opposite sides of the electronic component 12. A force to be peeled acts, and a region where a force to peel from the wafer sheet 34 acts gradually expands toward the other side as the push-up pins 56 rise together with the pin fixing members 87. To do. Therefore, excessive stress does not act on the electronic component 12 during peeling from the wafer sheet 34, and it is possible to prevent peeling failure such as residual adhesive layer on the lower surface of the electronic component 12 and damage to the electronic component 12. In order to finely adjust the posture (peeling angle) of the push-up pin 56 to improve the peelability, the pin fixing member 87 is being lifted toward the wafer sheet 34 by the lift drive mechanism 95, or a rotation drive mechanism During the rotation by 112, the spline shaft 85 may be moved by the motor 91, whereby the pin fixing member 87 may be rotated around the Z axis or may be swung around the Z axis.

図35(B)に示すように、突上げピン56の本数を減らしてもよい(この例では9本)。また、図36(A)から図36(C)に示すように、ピン固定部材87の下面に当接するカム118によりピン固定部材87を支軸111周りに回転させてもよい。第1実施形態から第3実施形態の突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hの設定(図21、図27、及び図29参照)を本実施形態で採用してもよい。逆に本実施形態の突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hの設定を第1実施形態で採用してもよい。第4実施形態のその他の構成及び作用は第1実施形態と同様である。   As shown in FIG. 35B, the number of push-up pins 56 may be reduced (9 in this example). Further, as shown in FIGS. 36A to 36C, the pin fixing member 87 may be rotated around the support shaft 111 by a cam 118 that contacts the lower surface of the pin fixing member 87. The setting of the position H in the vertical direction of the tip of the push-up pin 56 of the first to third embodiments (see FIGS. 21, 27, and 29) may be adopted in this embodiment. Conversely, the setting of the vertical position H of the tip of the push-up pin 56 of this embodiment may be employed in the first embodiment. Other configurations and operations of the fourth embodiment are the same as those of the first embodiment.

(第5実施形態)
第5実施形態では昇降駆動機構95によりピン固定部材87をある程度上昇させた後に回動駆動機構112にピン固定部材87を回動させている。しかし、昇降駆動機構95によりピン固定部材87を上昇させる前に、回動駆動機構112によりピン固定部材87の軸線L周りの回転角度位置を調節してもよい。ピン固定部材87の軸線L周りの回転角度位置により突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hの差を調節することができる。この場合、回動駆動機構112はピン固定部材87の調節機構として機能する。ただし、突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hが同一、すなわち突上げピン56の先端が同一の水平面に位置しないようにピン固定部材87の姿勢を設定する必要がある。ピン固定部材87の軸線L周りの回転角度位置を維持したまま、上昇させると第1実施形態から第2実施形態と同様に、突上げピン56で電子部品12を突き上げてウェハシート34から剥離させることができる。
(Fifth embodiment)
In the fifth embodiment, the pin fixing member 87 is rotated by the rotation driving mechanism 112 after the pin fixing member 87 is raised to some extent by the lifting drive mechanism 95. However, before the pin fixing member 87 is raised by the elevating drive mechanism 95, the rotational angle position around the axis L of the pin fixing member 87 may be adjusted by the rotation driving mechanism 112. The difference in the vertical position H of the tip of the push-up pin 56 can be adjusted by the rotational angle position around the axis L of the pin fixing member 87. In this case, the rotation drive mechanism 112 functions as an adjustment mechanism for the pin fixing member 87. However, it is necessary to set the posture of the pin fixing member 87 so that the vertical position H of the tip of the push-up pin 56 is the same, that is, the tip of the push-up pin 56 is not located on the same horizontal plane. When the pin fixing member 87 is raised while maintaining the rotational angle position around the axis L, the electronic component 12 is pushed up by the push-up pin 56 and peeled off from the wafer sheet 34 as in the first to second embodiments. be able to.

本実施形態では、電子部品12の厚みを含む寸法や材質、ウェハシート34の厚みや材質、及び電子部品12とウェハシート34の間に介在する接着材層の材質等の条件に応じて突上げピン56の先端の鉛直方向の位置Hを調節することが可能であり、これらの条件が変化した場合にも、剥離不良や電子部品12の破損を生じることなくウェハシート34から電子部品12を剥離させることができる。   In the present embodiment, the thickness and material including the thickness of the electronic component 12, the thickness and material of the wafer sheet 34, and the material such as the material of the adhesive layer interposed between the electronic component 12 and the wafer sheet 34 are pushed up. It is possible to adjust the vertical position H of the tip of the pin 56, and even when these conditions change, the electronic component 12 is peeled from the wafer sheet 34 without causing poor peeling or damage to the electronic component 12. Can be made.

本発明の第1実施形態に係る部品実装装置を示す斜視図。The perspective view which shows the component mounting apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 図1の部品実装装置の模式的な部分斜視図。The typical fragmentary perspective view of the component mounting apparatus of FIG. 図1の部品実装装置の模式的な部分正面図。The typical partial front view of the component mounting apparatus of FIG. 図1の部分装置が備える部品供給装置を示す半透過斜視図。The semi-transparent perspective view which shows the component supply apparatus with which the partial apparatus of FIG. 1 is provided. ウェハ供給用プレートを示す斜視図。The perspective view which shows the plate for wafer supply. トレイ供給用プレートを示す斜視図。The perspective view which shows the plate for tray supply. 図6のトレイの部分拡大斜視図。FIG. 7 is a partially enlarged perspective view of the tray of FIG. 6. 図1の部品実装装置が備えるプレート配置装置を示す模式的な断面図。The typical sectional view showing the plate arrangement device with which the component mounting device of Drawing 1 is provided. 図1の部品実装装置が備えるプレート配置装置を示す模式的な断面図。The typical sectional view showing the plate arrangement device with which the component mounting device of Drawing 1 is provided. 図1の部品実装装置が備える部品突上げ装置を示す斜視図。The perspective view which shows the component pushing-up apparatus with which the component mounting apparatus of FIG. 1 is provided. 図1の部品実装装置が備える部品突上げ装置を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the component pushing-up apparatus with which the component mounting apparatus of FIG. 1 is provided. 図1の部品実装装置が備える部品突上げ装置の突上げヘッドを示す部分斜視図。FIG. 2 is a partial perspective view showing a push-up head of a component push-up device provided in the component mounting apparatus of FIG. 1. 図12の突上げヘッドの内部構造を示す部分斜視図。The fragmentary perspective view which shows the internal structure of the thrust head of FIG. 図12の突上げヘッドの分解斜視図。FIG. 13 is an exploded perspective view of the push-up head in FIG. 12. 図12の突上げヘッドを示し、(A)は縦断面図、(B)は平面図、(C)は(A)のXV−XV線での断面図。The thrust head of FIG. 12 is shown, (A) is a longitudinal cross-sectional view, (B) is a top view, (C) is sectional drawing in the XV-XV line | wire of (A). 図1の部品実装装置が備えるプレート配置装置と部品突上げ装置を示す模式的な断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a plate placement device and a component push-up device provided in the component mounting device of FIG. 1. 部品配置装置と部品突上げ装置の位置関係を示す模式的な部分斜視図。The typical fragmentary perspective view which shows the positional relationship of a components placement apparatus and a component pushing-up apparatus. 部品突上げ装置の動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating operation | movement of a component pushing-up apparatus. 図18のステップS18−5の詳細を示すフローチャート。The flowchart which shows the detail of step S18-5 of FIG. (A)、(B)、及び(C)は第1実施形態における突上げ動作を示す模式的な部分断面図である。(A), (B), and (C) are typical fragmentary sectional views which show the pushing-up operation | movement in 1st Embodiment. (A)は第1実施形態における剥離中の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図、(B)は突上げピンの数を減少させた場合の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図。(A) is a typical partial perspective view showing the relationship between the semiconductor chip being peeled and the push-up pins in the first embodiment, and (B) is a semiconductor chip and push-up pins when the number of push-up pins is reduced. The typical fragmentary perspective view which shows the relationship. 図1の部品実装装置が備える反転ヘッド装置を示す斜視図。The perspective view which shows the inversion head apparatus with which the component mounting apparatus of FIG. 1 is provided. 図1の反転ヘッド装置が備える吸着ノズルを示し(A)は模式的な縦断面図、(B)は(A)の底面図、(C)はトレイの凹部との関係を示す模式的な縦断面図。1A is a schematic longitudinal sectional view, FIG. 1B is a bottom view of FIG. 1A, and FIG. 1C is a schematic longitudinal section showing a relationship with a recess of a tray. Plan view. 受け渡し動作時の部品反転ヘッド部と実装ヘッド部の関係を示す模式的な説明図。Schematic explanatory drawing which shows the relationship between the component reversal head part at the time of delivery operation | movement, and a mounting head part. 図1の部品反転装置が備える吸着ノズルの変形例を示し(A)は模式的な縦断面、(B)は(A)の底面図、(C)はトレイの凹部との関係を示す模式的な縦断面図。1A and 1B show a modification of the suction nozzle provided in the component reversing device of FIG. 1. FIG. 1A is a schematic longitudinal section, FIG. 1B is a bottom view of FIG. 1A, and FIG. Longitudinal sectional view. (A)、(B)、及び(C)は第2実施形態における突上げ動作を示す模式的な部分断面図である。(A), (B), and (C) are typical fragmentary sectional views which show the pushing-up operation | movement in 2nd Embodiment. (A)は第2実施形態における剥離中の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図、(B)は突上げピンの数を減少させた場合の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図。(A) is a typical partial perspective view showing the relationship between a semiconductor chip being peeled and a push-up pin in the second embodiment, and (B) is a semiconductor chip and a push-up pin when the number of push-up pins is reduced. The typical fragmentary perspective view which shows the relationship. (A)、(B)、及び(C)は第3実施形態における突上げ動作を示す模式的な部分断面図である。(A), (B), and (C) are typical fragmentary sectional views showing pushing up operation in a 3rd embodiment. (A)は第3実施形態における剥離中の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図、(B)は突上げピンの数を減少させた場合の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図。(A) is a typical partial perspective view showing the relationship between a semiconductor chip being peeled and a push-up pin in the third embodiment, and (B) is a semiconductor chip and a push-up pin when the number of push-up pins is reduced. The typical fragmentary perspective view which shows the relationship. 第4実施形態に係る部品突上げ装置の突上げヘッドを示す部分斜視図。The fragmentary perspective view which shows the thrust head of the component thrust apparatus which concerns on 4th Embodiment. 図26の突上げヘッドの内部構造を示す部分斜視図。FIG. 27 is a partial perspective view showing the internal structure of the push-up head of FIG. 第4実施形態に係る部品突上げ装置を示す模式的な部分断面図。The typical fragmentary sectional view which shows the component pushing-up apparatus which concerns on 4th Embodiment. 第4実施形態におけるICチップ突上げ動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating IC chip pushing-up operation | movement in 4th Embodiment. (A)、(B)、及び(C)は第4実施形態における突上げ動作を示す模式的な部分断面図。(A), (B), and (C) are typical fragmentary sectional views which show the pushing-up operation | movement in 4th Embodiment. (A)は第4実施形態における剥離中の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図、(B)は突上げピンの数を減少させた場合の半導体チップと突上げピンの関係を示す模式的な部分斜視図。(A) is a typical partial perspective view showing the relationship between the semiconductor chip being peeled and the push-up pins in the fourth embodiment, and (B) is a semiconductor chip and push-up pins when the number of push-up pins is reduced. The typical fragmentary perspective view which shows the relationship. (A)、(B)、及び(C)は第4実施形態の変形例における突上げ動作を示す模式的な部分断面図である。(A), (B), and (C) are typical fragmentary sectional views which show the pushing-up operation | movement in the modification of 4th Embodiment. (A)、(B)、及び(C)は従来の部品突上げ装置を示す模式的な断面図。(A), (B), and (C) are typical sectional drawings which show the conventional component pushing-up apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

11 電子部品実装装置
12 電子部品
12a 実装側表面
13 基板
14 部品供給部
15 実装部
16 コントローラ
17 リフター
18 プレート移動装置
19 プレート配置装置
20 部品突上げ装置
21 認識カメラ
22 反転ヘッド装置
24 実装ヘッド装置
25 XYテーブル
26 2視野光学系認識カメラ
28 マガジン
29 ウェハ供給用プレート
30 トレイ供給用プレート
31 トレイ
31a 凹部
32 ウェハ
34 ウェハシート
35 ウェハリング
36 トレイリング
37 トレイ載置部
39 バンプ
41 プレート支持ピン
42 プレート押圧体
43 取付部材
44 コイルばね
45 シリンダ
46 エキスパンド部材
47 モータ
48 Y軸ロボット
51 モータ
52 X軸ロボット
53 アーム
54 突上げヘッド
55 ホルダ
55a シート吸着孔
55b 先端面
55c ピン格納孔
56 突上げピン
58 モータ
59 X軸ロボット
61 モータ
62 X軸ロボット
63 真空ポンプ
65 吸着ノズル
65a 先端面
65b 吸着孔
65c 吸着流路
65d 中央部
65e 分岐部
66 モータ
67 X軸ロボット
68 ボイスコイルモータ
69 モータ
70 保持部
72 基板保持台
73 基板搬送装置
74,75 モータ
80 基部
81 直進ガイド
82 シリンダ
83 ケーシング
84 ボールスプライン
85 スプライン軸
86 回転操作部
87 ピン固定部材
89 プーリ
91 モータ
92 プーリ
93 駆動ベルト
95 昇降駆動機構
96 モータ
97 カム
98 カムフォロア
99 レバー
100 直進ガイド
101 突起
102 コイルばね
103 真空ポンプ
102 回転駆動装置
103 反転ヘッド
104 ヘッド昇降装置
105 ヘッド反転装置
106 ヘッドフレーム
110 支持機構
111 支軸
112 回転駆動機構
113 カムローラ
114 プッシュロッド
115 プランジャ
116 カム
117 シリンダ
118 カム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Electronic component mounting apparatus 12 Electronic component 12a Mounting side surface 13 Board | substrate 14 Component supply part 15 Mounting part 16 Controller 17 Lifter 18 Plate moving apparatus 19 Plate arrangement apparatus 20 Component pushing-up apparatus 21 Recognition camera 22 Reversing head apparatus 24 Mounting head apparatus 25 XY table 26 Two-field optical system recognition camera 28 Magazine 29 Wafer supply plate 30 Tray supply plate 31 Tray 31a Recess 32 Wafer 34 Wafer sheet 35 Wafer ring 36 Traying 37 Tray mounting part 39 Bump 41 Plate support pin 42 Plate pressing Body 43 Mounting member 44 Coil spring 45 Cylinder 46 Expanding member 47 Motor 48 Y-axis robot 51 Motor 52 X-axis robot 53 Arm 54 Push-up head 55 Holder 55a Pin suction hole 55b tip face 55c pin storage hole 56 push-up pin 58 motor 59 X-axis robot 61 motor 62 X-axis robot 63 vacuum pump 65 suction nozzle 65a tip face 65b suction hole 65c suction flow path 65d central part 65e branching part 66 Motor 67 X-axis robot 68 Voice coil motor 69 Motor 70 Holding part 72 Substrate holding stand 73 Substrate transport device 74, 75 Motor 80 Base 81 Linear guide 82 Cylinder 83 Casing 84 Ball spline 85 Spline shaft 86 Rotating operation part 87 Pin fixing member 89 Pulley 91 Motor 92 Pulley 93 Drive belt 95 Elevating drive mechanism 96 Motor 97 Cam 98 Cam follower 99 Lever 100 Straight guide 101 Projection 102 Coil spring 103 Vacuum pump 102 Rotation drive device 10 3 Reversing Head 104 Head Lifting Device 105 Head Reversing Device 106 Head Frame 110 Support Mechanism 111 Supporting Shaft 112 Rotation Drive Mechanism 113 Cam Roller 114 Push Rod 115 Plunger 116 Cam 117 Cylinder 118 Cam

Claims (10)

ウェハ(32)をダイシングにより分割してなり、かつウェハシート(34)の上面に貼着された半導体チップである部品(12)を、上記ウェハシートの下面側から突き上げて上記ウェハシートから剥離させる部品突上げ装置(20)であって、
上記ウェハシートの下方に配置され、基端側が共通のピン固定部(87)に固定され、かつ先端の鉛直方向の位置(H)が互いに異なるものを少なくとも一組含む複数の突上げピン(56)と、
上記ピン固定部を、上記複数の突上げピンの先端がウェハシートから離れている第1の位置と、上記複数の突上げピンの先端がウェハシートの下面から上記部品を突き上げる第2の位置との間で昇降させる昇降駆動機構(95)とを備える部品突上げ装置。
The component (12), which is a semiconductor chip formed by dividing the wafer (32) by dicing and attached to the upper surface of the wafer sheet (34), is pushed up from the lower surface side of the wafer sheet and peeled off from the wafer sheet. A component push-up device (20),
A plurality of push-up pins (56) including at least one set of pins arranged below the wafer sheet, the base end side being fixed to a common pin fixing portion (87), and the tip vertical position (H) being different from each other. )When,
The pin fixing portion includes a first position where tips of the plurality of push-up pins are separated from the wafer sheet, and a second position where tips of the plurality of push-up pins push up the component from the lower surface of the wafer sheet; And a lift drive mechanism (95) for lifting and lowering between the components.
上記複数の突上げピンは、前記先端の鉛直方向の位置が最も高いものから最も低いものに向けて前記先端の鉛直方向の位置が漸次低くなるように配置されている請求項1に記載の部品突上げ装置。   2. The component according to claim 1, wherein the plurality of push-up pins are arranged such that the vertical position of the tip gradually decreases from the highest to the lowest vertical position of the tip. Pushing device. 上記部品の対角線の一端から他端に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっている請求項2に記載の部品突上げ装置。   The component pushing-up device according to claim 2, wherein the vertical position of the tip of the push-up pin decreases from one end to the other end of the diagonal line of the component. 上記部品の互いに対向する2つの辺のうちの一方から他方に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっている請求項2に記載の部品突上げ装置。   The component pushing-up device according to claim 2, wherein the vertical position of the tip of the push-up pin is lowered from one side to the other of two sides facing each other. 上記部品の端縁から中央に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっている請求項2に記載の部品突上げ装置。   The component pushing-up device according to claim 2, wherein the vertical position of the tip of the pushing pin is lowered from the edge of the component toward the center. 上記部品の中央から端縁に向けて、上記突上げピンの先端の鉛直方向の位置が低くなっている請求項2に記載の部品突上げ装置。   The component pushing-up device according to claim 2, wherein a vertical position of a tip of the pushing pin is lowered from the center of the component toward an edge. 上記ピン固定部の一端側を横方向の軸線(L)周りに回動可能に支持する支持機構(110)と、
上記昇降駆動機構により、上記複数の突上げピンの少なくとも1つが上記部品を突き上げる位置に上記ピン固定部が上昇すると、上記ピン固定部の他端側が上昇するように上記軸線周りに上記ピン固定部を回動させる回動駆動機構(112)とをさらに備える請求項1に記載の部品突上げ装置。
A support mechanism (110) for rotatably supporting one end of the pin fixing portion around a horizontal axis (L);
When the pin fixing part rises to a position where at least one of the plurality of push-up pins pushes up the component by the lifting drive mechanism, the pin fixing part around the axis so that the other end side of the pin fixing part rises. The component pushing-up device according to claim 1, further comprising a rotation drive mechanism (112) for rotating the component.
上記ピン固定部の一端側を横方向の軸線(L)周りに回動可能に支持する支持機構と、
上記軸線周りに上記ピン固定部を回動させて上記ピン固定部の姿勢を変化させ、それによって上記複数の突上げピンの上記鉛直方向の高さ調節する調節機構とをさらに備える請求項1に記載の部品突上げ装置。
A support mechanism for rotatably supporting one end side of the pin fixing portion around a lateral axis (L);
2. The adjusting mechanism according to claim 1, further comprising an adjustment mechanism for rotating the pin fixing portion around the axis to change the posture of the pin fixing portion, thereby adjusting the vertical height of the plurality of push-up pins. The component lifting device described.
請求項1に記載の部品突上げ装置(20)と、
上記部品突上げ装置により上記ウェハシートから剥離された上記部品を保持し、上記実装側表面の向きを反転させる反転ヘッド装置(22)と、
上記反転ヘッド装置から受け渡された上記部品(12)を基板(13)に実装する実装ヘッド装置(24)と
を備える部品実装装置。
A component lifting device (20) according to claim 1,
A reversing head device (22) for holding the component separated from the wafer sheet by the component push-up device and reversing the orientation of the mounting side surface;
A component mounting device comprising: a mounting head device (24) for mounting the component (12) delivered from the reversing head device on a substrate (13).
ウェハ(32)をダイシングにより分割してなり、かつウェハシート(34)の上面に貼着された半導体チップである部品(12)の下面を、上記ウェハシートの下面側から突上げピン(56)で突き上げて上記ウェハシートから剥離させる部品突上げ方法であって、
上記部品の下面の一部である第1の領域において上記突上げピンにより上記部品を突き上げ、
上記部品の下面の上記突上げピンにより突き上げられる領域が、上記第1の領域から上記部品の下面全体に漸次拡大するように、上記部品の下面を突き上げる突上げピンを漸次増加させる部品突上げ方法。
The wafer (32) is divided by dicing, and the lower surface of the component (12), which is a semiconductor chip attached to the upper surface of the wafer sheet (34), is pushed up from the lower surface side of the wafer sheet (56). A component push-up method that pushes up and peels off from the wafer sheet,
In the first region which is a part of the lower surface of the component, the component is pushed up by the push-up pin,
Component push-up method for gradually increasing the push-up pins that push up the lower surface of the component so that the region pushed up by the push-up pin on the lower surface of the component gradually expands from the first region to the entire lower surface of the component .
JP2004146072A 2004-05-17 2004-05-17 Part push-up apparatus and method, and part mounting unit Withdrawn JP2005327970A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004146072A JP2005327970A (en) 2004-05-17 2004-05-17 Part push-up apparatus and method, and part mounting unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004146072A JP2005327970A (en) 2004-05-17 2004-05-17 Part push-up apparatus and method, and part mounting unit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005327970A true JP2005327970A (en) 2005-11-24

Family

ID=35474054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004146072A Withdrawn JP2005327970A (en) 2004-05-17 2004-05-17 Part push-up apparatus and method, and part mounting unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005327970A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009200296A (en) * 2008-02-22 2009-09-03 Osaki Engineering Co Ltd Transfer system of semiconductor chip
JP2009277906A (en) * 2008-05-15 2009-11-26 Denso Corp Method of manufacturing molded package
WO2011125492A1 (en) * 2010-03-31 2011-10-13 古河電気工業株式会社 Semiconductor device manufacturing method
WO2014118929A1 (en) * 2013-01-31 2014-08-07 富士機械製造株式会社 Die supply device
CN108962794A (en) * 2018-07-20 2018-12-07 北京北方华创微电子装备有限公司 A kind of liter of needle method and the thimble lifting device for applying it
KR102576912B1 (en) * 2022-10-05 2023-09-11 제너셈(주) Detaching structure and detaching apparatus having the same

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009200296A (en) * 2008-02-22 2009-09-03 Osaki Engineering Co Ltd Transfer system of semiconductor chip
JP2009277906A (en) * 2008-05-15 2009-11-26 Denso Corp Method of manufacturing molded package
WO2011125492A1 (en) * 2010-03-31 2011-10-13 古河電気工業株式会社 Semiconductor device manufacturing method
JP2011216529A (en) * 2010-03-31 2011-10-27 Furukawa Electric Co Ltd:The Method for manufacturing semiconductor device
CN102822946A (en) * 2010-03-31 2012-12-12 古河电气工业株式会社 Semiconductor device manufacturing method
TWI427691B (en) * 2010-03-31 2014-02-21 Furukawa Electric Co Ltd Manufacturing method of semiconductor device
WO2014118929A1 (en) * 2013-01-31 2014-08-07 富士機械製造株式会社 Die supply device
JPWO2014118929A1 (en) * 2013-01-31 2017-01-26 富士機械製造株式会社 Die supply device
CN108962794A (en) * 2018-07-20 2018-12-07 北京北方华创微电子装备有限公司 A kind of liter of needle method and the thimble lifting device for applying it
KR102576912B1 (en) * 2022-10-05 2023-09-11 제너셈(주) Detaching structure and detaching apparatus having the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4516354B2 (en) Parts supply method
JP4156460B2 (en) Work pickup method and apparatus, and mounting machine
KR101163590B1 (en) Mounting apparatus
JP4405211B2 (en) Semiconductor chip peeling apparatus, peeling method, and semiconductor chip supply apparatus
JP4308772B2 (en) Component supply head device, component supply device, component mounting device, and mounting head unit moving method
JP6685245B2 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method
JP7023590B2 (en) Semiconductor chip pickup and mounting equipment
JP2012004393A (en) Die bonder and pickup method and pickup device
KR20090025154A (en) Expanding method and expanding apparatus
KR102003130B1 (en) Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device
JP6941513B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment and manufacturing method of semiconductor equipment
JP2009302232A5 (en)
JP4735829B2 (en) Chip push-up device
JP2020072125A (en) Electronic component pick-up device and mounting device
JP2005327970A (en) Part push-up apparatus and method, and part mounting unit
JP2007115934A (en) Electronic component knocking-up device and method for feeding electronic component
JPH11297793A (en) Chip thrust-up device and die-bonding device using the same
JP2022157320A (en) Pick-up collet, pick-up device, and mounting device
JP4591484B2 (en) Electronic component mounting method
JP6200735B2 (en) Die bonder and bonding method
JP6093125B2 (en) Wafer cart and electronic component mounting apparatus
KR20120100956A (en) Substrate conveying apparatus, exposure apparatus, substrate supporting apparatus, and method for manufacturing device
TWI805288B (en) Pick-up collet, pick-up device and installation device
JP7035273B2 (en) Electronic component peeling device and electronic component peeling method
JP2007329347A (en) Pitch changing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20061206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070410

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080825