JP2005326373A - 磁気検出素子及びこれを用いた磁気検出器 - Google Patents
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Abstract
【課題】構成が簡単で精度の高い磁気検出器を提供すること。
【解決手段】反強磁性層と磁性層とを、前記反強磁性層と磁性層の長手方向に対して45度の方向の磁場中で積層して磁性薄膜コアを形成する。このように形成した磁性薄膜コアでは、反強磁性層によって磁性層に誘起される交換結合磁界によって、前記磁性層は、所定方向に磁化されてバイアス磁界を与えたと同様の作用をうける。2つの磁性薄膜コアを1つの基板上に同一工程で形成する。
【選択図】図1
【解決手段】反強磁性層と磁性層とを、前記反強磁性層と磁性層の長手方向に対して45度の方向の磁場中で積層して磁性薄膜コアを形成する。このように形成した磁性薄膜コアでは、反強磁性層によって磁性層に誘起される交換結合磁界によって、前記磁性層は、所定方向に磁化されてバイアス磁界を与えたと同様の作用をうける。2つの磁性薄膜コアを1つの基板上に同一工程で形成する。
【選択図】図1
Description
本発明は、外部磁界により検出導体のインピーダンスが変化する磁気インピーダンス効果を利用して磁気及び磁界を検出する磁気検出素子に関し、特に地磁気などの磁界の方向を検出することができる磁気検出器に関する。
地磁気を検出するために磁気インピーダンス効果を利用する磁気検出器(以下、磁気センサという)が従来から開発されている。
例えば、磁気インピーダンス効果を利用して地磁気の方位を検出できる磁気センサの従来技術が特開平8−184657号公報に示されている。
例えば、磁気インピーダンス効果を利用して地磁気の方位を検出できる磁気センサの従来技術が特開平8−184657号公報に示されている。
図5は前記従来技術の磁気センサ50の側面図及び付属する回路のブロック図である。図5に示すように、この磁気センサ50は、励磁コイル52が巻回された細長い磁性体54を有し、前記励磁コイル52に高周波電源53から高周波電流を供給する。本従来技術においては磁気インピーダンス特性における動作点を、所望の点に設定するために、高周波電源53に直流電源59を直列に接続して磁気センサ50に直流バイアス磁界を与えている。前記励磁コイル52の両端子間には、励磁コイル52のインピーダンスを検出する検出部56が接続されている。
図5に示す磁気センサ50を2つ、図6に示すように基板61上に直交させて配置し、地磁気センサ60を構成する。地磁気センサ60のそれぞれの磁気センサを50a、50bとする。図6では、磁気センサ50a、50bのそれぞれの高周波電源53及び検出部56は図示を省略している。地磁気センサ60を地表面に平行にして1回転させると、磁気センサ50a、50bのインピーダンスはそれぞれ図7に示す波形58a及び58bのように変化する。波形58a、58bは、位相差が90度の正弦波である。波形58a、58bで示されるそれぞれのインピーダンス値から地磁気の方向が判る。
特開平8−184657号公報
前記従来の地磁気センサ60では、2つの磁気センサ50a、50bが正確に90度の角度差(直交)で配置されていない場合、方位の検出値に誤差が生じる。2つの磁気センサ50a、50bを高精度で直交させるためには組立て工程に多大な手数を要するため、量産に適さず、地磁気センサ60のコスト低減が難しかった。また従来の磁気インピーダンス素子では、直流バイアス磁界を与えるために直流電源や永久磁石を必要とする。そのため構成が複雑となり、その分コストが高くなるとともに、磁気検出素子の小型化に対する制約要因となっていた。
本発明は組立て工程に手数を要することなく2つの磁気センサが正確に直交した磁気検出素子を提供することを目的とする。
本発明は組立て工程に手数を要することなく2つの磁気センサが正確に直交した磁気検出素子を提供することを目的とする。
本発明の磁気検出素子は、所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と少なくとも1つの磁性層とを非磁性基板の上に積層して形成した一方向に長い第1の磁性薄膜コア、前記第1の磁性薄膜コアの長手方向に直交する長手方向を有し、前記所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と少なくとも1つの磁性層とを前記の非磁性基板上に積層して形成した一方向に長い第2の磁性薄膜コア、及び、前記第1の磁性薄膜コアに巻回した第1の導体層、及び前記第2の磁性薄膜コアに巻回した第2の導体層を有する。
本発明によれば、磁性層と反強磁性層とを所定の方向の磁界中で交互に積層することにより、反強磁性層による交換結合磁界により、磁性層は実質的に前記所定方向に磁化される。その結果反強磁性層と磁性層の積層体である前記第1及び第2の磁性薄膜コアは、前記所定方向の磁気バイアスを与えられたと同様の状態になる。従って本発明の磁気性薄膜コアによる磁気インピーダンス素子では、永久磁石や導体に直流電流を流すなどの手段により外部からバイアス磁界を印加する必要はない。
また第1及び第2の磁性薄膜コアを同一基板上に同一工程で形成するので、両者の位置関係を正確に所望の関係(直交)に保つことができる。
本発明によれば、磁性層と反強磁性層とを所定の方向の磁界中で交互に積層することにより、反強磁性層による交換結合磁界により、磁性層は実質的に前記所定方向に磁化される。その結果反強磁性層と磁性層の積層体である前記第1及び第2の磁性薄膜コアは、前記所定方向の磁気バイアスを与えられたと同様の状態になる。従って本発明の磁気性薄膜コアによる磁気インピーダンス素子では、永久磁石や導体に直流電流を流すなどの手段により外部からバイアス磁界を印加する必要はない。
また第1及び第2の磁性薄膜コアを同一基板上に同一工程で形成するので、両者の位置関係を正確に所望の関係(直交)に保つことができる。
本発明の磁気検出器は、所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを非磁性基板の上に交互に積層して形成した一方向に長い第1の磁性薄膜コア、前記第1の磁性薄膜コアの長手方向に直交する長手方向を有し、前記所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを前記の非磁性基板上に交互に積層して形成した一方向に長い第2の磁性薄膜コア、及び、前記第1の磁性薄膜コアに巻回した第1の導体層、前記第2の磁性薄膜コアに巻回した第2の導体層、前記第1の導体層に接続されて高周波電流を流す高周波電源、前記第1の導体層に接続されて、前記第1の導体層のインピーダンスを検出する検出部、前記第2の導体層に接続されて高周波電流を流す高周波電源、及び前記第2の導体層に接続されて、前記第2の導体層のインピーダンスを検出する検出部を有する。
本発明によれば、磁性層と反強磁性層とを所定の方向の磁界中で交互に積層することにより、反強磁性層による交換結合磁界により、磁性層は実質的に前記所定方向に磁化される。その結果反強磁性層と磁性層の積層体である前記第1及び第2の磁性薄膜コアは、前記所定方向の磁気バイアスを与えられたと同様の状態になる。従って本発明の磁気性薄膜コアによる磁気インピーダンス素子では、永久磁石や導体に直流電流を流すなどの手段により外部からバイアス磁界を印加する必要はない。
また第1及び第2の磁性薄膜コアを同一基板上に同一工程で形成するので、両者の位置関係を正確に所望の関係(直交)に保つことができる。
さらに、本発明の磁気検出器では、前記第1及び第2の導体層の、外部磁界によるそれぞれのインピーダンス変化の逆正接演算を行うことにより、地磁気などの外部磁界の方向を検出できる。
本発明によれば、磁性層と反強磁性層とを所定の方向の磁界中で交互に積層することにより、反強磁性層による交換結合磁界により、磁性層は実質的に前記所定方向に磁化される。その結果反強磁性層と磁性層の積層体である前記第1及び第2の磁性薄膜コアは、前記所定方向の磁気バイアスを与えられたと同様の状態になる。従って本発明の磁気性薄膜コアによる磁気インピーダンス素子では、永久磁石や導体に直流電流を流すなどの手段により外部からバイアス磁界を印加する必要はない。
また第1及び第2の磁性薄膜コアを同一基板上に同一工程で形成するので、両者の位置関係を正確に所望の関係(直交)に保つことができる。
さらに、本発明の磁気検出器では、前記第1及び第2の導体層の、外部磁界によるそれぞれのインピーダンス変化の逆正接演算を行うことにより、地磁気などの外部磁界の方向を検出できる。
本発明によれば、2つの検出素子を1つの基板上に同一工程でパターン形成するので、2つの検出素子の位置関係を高精度に保つことができる。本発明の磁気検出素子では、反強磁性層によって磁性層に交換結合磁界を与えることにより、磁性層はバイアス磁界が印加されたと同様の状態になる。従ってバイアス磁界印加用の永久磁石や直流電源等を必要としないので安価になるとともに小型化が可能になる。外部磁界の変化に対するインピーダンス変化が最も急峻なインピーダンス特性を有する範囲に動作点を設定するために、交換結合磁界によるバイアス磁界に加えて、導体層に直流電流を流して直流磁界を重畳してもよい。この場合の直流バイアス電流値は、直流電流のみでバイアス磁界を与える場合に比べると小さな値でよい。また、反強磁性層による交換結合磁界により磁性層の磁区構造が安定になるという効果もあるため本発明の磁気検出素子では安定した磁気インピーダンス特性が得られる。
以下、本発明の磁気検出器の好適な実施例を図1から図4を参照して説明する。
図1は本発明の実施例の磁界検出器1の平面図である。図において、ガラスなどからなる非磁性の基板5上に形成された矩形の磁性薄膜コア11a、11bにそれぞれの導体層12a、12bが巻回されている。矩形の磁性薄膜コア11a、11bは、それぞれの長手方向(22a、22b)が互いに直交するように配置されている。磁性薄膜コア11a、11bとそれぞれの導体層12a、12bとの間は、例えば酸化シリコン(SiO2 )の絶縁層(図は省略)によって電気的に絶縁されている。導体層12aの両端子19a、20a間には、高周波電源6aと検出部7aが並列に接続されている。また導体層12bの両端子19b、20b間には高周波電源6b及び検出部7bが並列に接続されている。高周波電源6a、6b及び検出部7a、7bは、通常基板5の外部に設けられているが、図1に示すように基板5上に設けてもよい。基板5の上に磁性薄膜コア11a、11b及び導体層12a、12bを形成したものを「磁気検出素子」という。磁気検出素子に高周波電源6a、6b及び検出部7a、7bを接続したものを「磁気検出器」という。
図1は本発明の実施例の磁界検出器1の平面図である。図において、ガラスなどからなる非磁性の基板5上に形成された矩形の磁性薄膜コア11a、11bにそれぞれの導体層12a、12bが巻回されている。矩形の磁性薄膜コア11a、11bは、それぞれの長手方向(22a、22b)が互いに直交するように配置されている。磁性薄膜コア11a、11bとそれぞれの導体層12a、12bとの間は、例えば酸化シリコン(SiO2 )の絶縁層(図は省略)によって電気的に絶縁されている。導体層12aの両端子19a、20a間には、高周波電源6aと検出部7aが並列に接続されている。また導体層12bの両端子19b、20b間には高周波電源6b及び検出部7bが並列に接続されている。高周波電源6a、6b及び検出部7a、7bは、通常基板5の外部に設けられているが、図1に示すように基板5上に設けてもよい。基板5の上に磁性薄膜コア11a、11b及び導体層12a、12bを形成したものを「磁気検出素子」という。磁気検出素子に高周波電源6a、6b及び検出部7a、7bを接続したものを「磁気検出器」という。
磁性薄膜コア11a、11bは、長手方向の長さが例えば1500μm、幅が50μmの帯状の形状を有し、フォトレジスト法などによりにパターン形成されている。
図2は、図1に示す磁性薄膜コア11aのII−II断面図である。図2では磁性コア11aの断面を示すが、磁性薄膜コア11aと11bは同じ構成を有するので、断面も同じである。磁性薄膜コア11a、11bはNiFeなどの軟磁性体からなる磁性層15と、Fe−Mnなどの反強磁性体からなる反強磁性層14が基板5の上に交互に積層されている。本実施例では、例えば厚さ0.3μmの5つの磁性層15と、厚さ200Aの5つの反強磁性層14が交互に積層されている。導体層12a、12bはCuからなり、例えば膜厚1μm、幅20μmの導体層が40回巻回されている。図1では図を見易くするため巻回数は10回となっている。
図2は、図1に示す磁性薄膜コア11aのII−II断面図である。図2では磁性コア11aの断面を示すが、磁性薄膜コア11aと11bは同じ構成を有するので、断面も同じである。磁性薄膜コア11a、11bはNiFeなどの軟磁性体からなる磁性層15と、Fe−Mnなどの反強磁性体からなる反強磁性層14が基板5の上に交互に積層されている。本実施例では、例えば厚さ0.3μmの5つの磁性層15と、厚さ200Aの5つの反強磁性層14が交互に積層されている。導体層12a、12bはCuからなり、例えば膜厚1μm、幅20μmの導体層が40回巻回されている。図1では図を見易くするため巻回数は10回となっている。
NiFeなどからなる磁性層15、およびFe−Mnなどからなる反強磁性層14は、スパッタ法、真空蒸着法などの成膜方法で形成される。
図1及び図2を参照して磁気検出素子の製造法を説明する。まず基板5の表面に点線で示すように、導体層12a、12bの導体層半体12c、12dを銅のスパッタリング又は銅の真空蒸着によって形成する。次に基板5及び導体層半体12c、12dの上に、図2に示すように5つの磁性層15と5つの反強磁性層14を交互にスパッタリング又は真空蒸着によって成膜する。反強磁性層14及び磁性層15の成膜中には、図1に矢印13aで示す方向(矢印13bも矢印13aと同じ方向を示す)に100Oeの磁界を印加する。矢印13aの方向は、磁性薄膜コア11aの長手方向22aに対して時計回りに45°の方向である。また、矢印13bの方向は、磁性薄膜コア11bの長手方向22bに対して反時計回りに45°の方向である。上記のように磁界中で形成された磁性薄膜コア11a、11bにおいて、磁性薄膜コア11aの磁性層15の磁化容易軸の方向は、矢印13aの方向となり、磁性薄膜コア11bの磁性層15の磁化容易軸の方向は矢印13bの方向になる。また反強磁性層14によって磁性層15に交換結合磁界が誘起され、その方向は、磁性薄膜コア11aでは矢印13aの方向であり、磁性薄膜コア11bでは矢印13bの方向である。これにより、磁性薄膜コア11aの磁化方向は概ね矢印13aの方向となり、磁性薄膜コア11bの磁化方向は概ね矢印13bの方向になる。
図1及び図2を参照して磁気検出素子の製造法を説明する。まず基板5の表面に点線で示すように、導体層12a、12bの導体層半体12c、12dを銅のスパッタリング又は銅の真空蒸着によって形成する。次に基板5及び導体層半体12c、12dの上に、図2に示すように5つの磁性層15と5つの反強磁性層14を交互にスパッタリング又は真空蒸着によって成膜する。反強磁性層14及び磁性層15の成膜中には、図1に矢印13aで示す方向(矢印13bも矢印13aと同じ方向を示す)に100Oeの磁界を印加する。矢印13aの方向は、磁性薄膜コア11aの長手方向22aに対して時計回りに45°の方向である。また、矢印13bの方向は、磁性薄膜コア11bの長手方向22bに対して反時計回りに45°の方向である。上記のように磁界中で形成された磁性薄膜コア11a、11bにおいて、磁性薄膜コア11aの磁性層15の磁化容易軸の方向は、矢印13aの方向となり、磁性薄膜コア11bの磁性層15の磁化容易軸の方向は矢印13bの方向になる。また反強磁性層14によって磁性層15に交換結合磁界が誘起され、その方向は、磁性薄膜コア11aでは矢印13aの方向であり、磁性薄膜コア11bでは矢印13bの方向である。これにより、磁性薄膜コア11aの磁化方向は概ね矢印13aの方向となり、磁性薄膜コア11bの磁化方向は概ね矢印13bの方向になる。
図1に示す磁気検出器1に、磁性薄膜コア11bの長手方向22bに対して反時計回りに角度θの方向でかつ強さがHの外部磁界Hexが印加されるときの動作を図3を参照して説明する。図において、磁性薄膜コア11aには、Ha=Hsinθで表される強さの磁界が印加される。また磁性薄膜コア11bには、Hb=Hcosθで表される強さの磁界が印加される。前記のように、磁性薄膜コア11a、11bは、それぞれ矢印13a、13bの方向に磁化されているので、磁性薄膜コア11a、11bはあたかも矢印13a、13bの方向にバイアス磁界が与えられている状態になる。
図4を用いて前記のバイアス磁界について説明する。図4の(a)は、図1に示す導体層12aに高周波電源6aから高周波電流を流して、導体層12aのインピーダンスを検出部7aで検出した、外部磁界Hex(横軸)の強さHとインピーダンスZ(縦軸)の大きさとの関係を実測で求めたグラフである。同様にして図4の(b)は、外部磁界Hexの強さHと、導層体12bのインピーダンスZの大きさとの関係を実測で求めたグラフである。
本実施例では、図1に示すように、反強磁性層14によって磁性層15に矢印13aの方向の交換結合磁界を与えることにより、図4の(a)に示すように、磁性薄膜コア11aと導体層12aにおける、外部磁界Hexの強さとインピーダンスZとの関係を表す曲線Caが、負方向(外部磁界Hexの方向とは逆方向)にずれる。このことは磁性薄膜コア11aに正方向のバイアス磁界が印加されていることを示している。
同様にして、図4の(b)に示すように、磁性薄膜コア11b及び導体層13bにおいて、外部磁界Hexの強さとインピーダンスZとの関係を表す曲線Cbが、正方向にずれる。このことは、磁性薄膜コア11bに正方向のバイアス磁界が印加されていることを示している。
同様にして、図4の(b)に示すように、磁性薄膜コア11b及び導体層13bにおいて、外部磁界Hexの強さとインピーダンスZとの関係を表す曲線Cbが、正方向にずれる。このことは、磁性薄膜コア11bに正方向のバイアス磁界が印加されていることを示している。
図4の(a)において、磁性薄膜コア11aに印加される磁界の強さHaは図3に示すように、Hsinθである(Ha=Hsinθ)。このときのインピーダンスZはZaである。インピーダンスZaは検出部7aで検出される。検出部7aの出力のインピーダンスZaのデータは方位検出演算部30に入力され、内部のメモリに記録されている外部磁界Hexが零のときのインピーダンスZoとの比較によりインピーダンス変化ΔZaが得られる。
また図4の(b)において、磁性薄膜コア11bに印加される磁界の強さHbは図3に示すように、Hcosθである(Hb=Hcosθ)。このときのインピーダンスZはZbである。インピーダンスZbは検出部7bで検出される。検出部7bの出力のインピーダンスZbのデータは方位検出演算部30に入力され、内部のメモリに記録されている外部磁界Hexが零のときのインピーダンスZoとの比較によりインピーダンス変化ΔZbが得られる。インピーダンス変化ΔZaとΔZbの比から次の式(1)に示す関係が得られる。
tanθ=ΔZa/ΔZb ・・・(1)
式(1)の逆正接演算を方位検出演算部30で行うことにより、外部磁界の方向θを求めることができる。外部磁界の方向θは表示部31で表示してもよく、また他の機器に入力して利用することができる。
また図4の(b)において、磁性薄膜コア11bに印加される磁界の強さHbは図3に示すように、Hcosθである(Hb=Hcosθ)。このときのインピーダンスZはZbである。インピーダンスZbは検出部7bで検出される。検出部7bの出力のインピーダンスZbのデータは方位検出演算部30に入力され、内部のメモリに記録されている外部磁界Hexが零のときのインピーダンスZoとの比較によりインピーダンス変化ΔZbが得られる。インピーダンス変化ΔZaとΔZbの比から次の式(1)に示す関係が得られる。
tanθ=ΔZa/ΔZb ・・・(1)
式(1)の逆正接演算を方位検出演算部30で行うことにより、外部磁界の方向θを求めることができる。外部磁界の方向θは表示部31で表示してもよく、また他の機器に入力して利用することができる。
本実施例では図1に示すように、磁性薄膜コア11a、11bの磁化方向をそれぞれ矢印13a、13bの方向にして、それぞれの磁性薄膜コア11a、11bの長手方向に対して45度ずらしている。これにより、図4の(a)及び(b)に示すように、磁気インピーダンス特性曲線Ca及びCbがそれぞれ負方向にシフトして、インピーダンス特性曲線Ca、Cbの比較的勾配の大きな部分に動作点Pa、Pbが設定される。磁化の方向13a、13bは磁性薄膜コア11a、11bを形成するときに印加する磁場の方向で定まる。使用時にこの磁化の方向13a、13bを変えたいときには、導体層12a、12bに流す交周波電流に直流電流を重畳することにより可能である。その直流電流値を調節することにより、インピーダンス変化が急峻な線形になる最適なバイアス磁界を与えることができる。すなわち、図4の(a)及び(b)に示す動作点Pa、Pbを所望の値に設定することができ、磁気インピーダンス特性曲線Ca、Cbの最も勾配の大きい点に動作点Pa、Pbを設定することが可能となる。その結果、磁気検出器の感度を最高の状態に設定することができる。前記直流電流値は、従来のように直接電流のみで直流バイアス磁界を印加する場合に比べるとはるかに少ない電流でよいので、直流電源も小型のものでよい。
本発明では、反強磁性層による交換結合磁界により、磁性薄膜コア11a、11bの磁性層15の磁区構造が安定になるという効果も得られる。この効果により、磁気検出素子のインピーダンス特性が安定化し、信頼性の高い安定した特性の磁気検出器が実現できる。
本発明は地磁気などの磁気や磁界を検出する小型かつ簡単な構成の磁気検出器に利用可能である。
1 磁気検出器
5 基板
11a、11b 磁性薄膜コア
12a、12b 導体層
6a、6b 高周波電源
7a、7b 検出部
13a、13b 磁場の方向
14 反強磁性層
15 磁性層
Hex 外部磁界
5 基板
11a、11b 磁性薄膜コア
12a、12b 導体層
6a、6b 高周波電源
7a、7b 検出部
13a、13b 磁場の方向
14 反強磁性層
15 磁性層
Hex 外部磁界
Claims (4)
- 所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを非磁性基板の上に交互に積層して形成した一方向に長い第1の磁性薄膜コア、
前記第1の磁性薄膜コアの長手方向に直交する長手方向を有し、前記所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを前記の非磁性基板上に交互に積層して形成した一方向に長い第2の磁性薄膜コア、及び、
前記第1の磁性薄膜コアに巻回した第1の導体層、及び
前記第2の磁性薄膜コアに巻回した第2の導体層
を有する磁気検出素子。 - 前記磁場の前記所定の方向は、前記第1及び第2磁性薄膜コアのそれぞれの長手方向に対して45度異なる方向であることを特徴とする請求項1記載の磁気検出素子。
- 所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを非磁性基板の上に交互に積層して形成した一方向に長い第1の磁性薄膜コア、
前記第1の磁性薄膜コアの長手方向に直交する長手方向を有し、前記所定の方向の磁場中において、少なくとも1つの反強磁性層と、少なくとも1つの磁性層とを前記の非磁性基板上に交互に積層して形成した一方向に長い第2の磁性薄膜コア、及び、
前記第1の磁性薄膜コアに巻回した第1の導体層、
前記第2の磁性薄膜コアに巻回した第2の導体層、
前記第1の導体層に接続されて高周波電流を流す高周波電源、
前記第1の導体層に接続されて、前記第1の導体層のインピーダンスを検出する検出部、
前記第2の導体層に接続されて高周波電流を流す高周波電源、及び
前記第2の導体層に接続されて、前記第2の導体層のインピーダンスを検出する検出部
を有する磁気検出器。 - 前記磁場の前記所定の方向は、前記第1及び第2磁性薄膜コアのそれぞれの長手方向に対して45度異なる方向であることを特徴とする請求項3記載の磁気検出器。
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JP2004146806A JP2005326373A (ja) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 磁気検出素子及びこれを用いた磁気検出器 |
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JP2004146806A JP2005326373A (ja) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 磁気検出素子及びこれを用いた磁気検出器 |
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-
2004
- 2004-05-17 JP JP2004146806A patent/JP2005326373A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2017040663A (ja) * | 2016-11-04 | 2017-02-23 | 愛知製鋼株式会社 | Mi磁気センサ |
JP2019148475A (ja) * | 2018-02-27 | 2019-09-05 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
WO2019167598A1 (ja) * | 2018-02-27 | 2019-09-06 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
JP7020176B2 (ja) | 2018-02-27 | 2022-02-16 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
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