JP2005326353A - 振動特性評価システム - Google Patents
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Abstract
【課題】 供試体の振動特性評価をより容易に行うことのできる振動特性評価システムを提供する。
【解決手段】 振動特性評価システムであって、供試体(S)が載置される載置台(2)と、載置台を所定方向に加振する加振手段(例えば、振動発生機31)と、加振手段によって加振された供試体の振動を検出する検出手段(例えば、センサ2a)と、検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて加振手段の振動を制御する振動制御手段(例えば、振動制御部11)と、供試体に対してストロボ光を発光するストロボ手段(例えば、ストロボスコープ4)と、検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて、供試体の振動数と同期するストロボ光を発光させるように前記ストロボ手段の発光周期を制御する発光制御手段(例えば、発光制御部12)と、を備えている。
【選択図】図2
【解決手段】 振動特性評価システムであって、供試体(S)が載置される載置台(2)と、載置台を所定方向に加振する加振手段(例えば、振動発生機31)と、加振手段によって加振された供試体の振動を検出する検出手段(例えば、センサ2a)と、検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて加振手段の振動を制御する振動制御手段(例えば、振動制御部11)と、供試体に対してストロボ光を発光するストロボ手段(例えば、ストロボスコープ4)と、検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて、供試体の振動数と同期するストロボ光を発光させるように前記ストロボ手段の発光周期を制御する発光制御手段(例えば、発光制御部12)と、を備えている。
【選択図】図2
Description
本発明は、振動特性評価システムに関する。
従来、電気・電子分野の比較的小型の部品等から航空・宇宙分野の比較的大型の製品等について、様々な振動条件の下で振動試験を行うことにより、部品や製品の耐震性や耐久性を評価する振動特性評価システムが知られている。このような振動特性評価システムとして、例えば、モーダル解析を利用して供試体Sの振動特性評価を行うものが使用されている(例えば、特許文献1)。
特許文献1記載の振動特性評価システムは、供試体を振動させる加振器と、この加振器の振動による供試体の変位を検出する変位センサと、この変位センサを移動させるアームと、各部を制御する制御部等を備えている。
そして、制御部のCPUにより変位センサ及びアームを制御して、供試体の形状を解析し、この解析結果に基づいて加振器とアームとを制御して、供試体の振動特性(例えば、質量、ばね定数等)を解析する。
特開平05−164652号公報
特許文献1記載の振動特性評価システムは、供試体を振動させる加振器と、この加振器の振動による供試体の変位を検出する変位センサと、この変位センサを移動させるアームと、各部を制御する制御部等を備えている。
そして、制御部のCPUにより変位センサ及びアームを制御して、供試体の形状を解析し、この解析結果に基づいて加振器とアームとを制御して、供試体の振動特性(例えば、質量、ばね定数等)を解析する。
しかしながら、特許文献1記載の振動特性評価システムにおいては、供試体の構造の複雑さに解析系の複雑さが比例するので、構造の複雑な供試体(例えば、電気・電子部品の実装基板等)の振動特性評価には、解析系を組む作業に多大な時間を要し、振動特性評価が煩雑になるという問題点があった。
また、実装基板のような供試体においては、基板上のLED、コンデンサ等の個々の部品ごとの詳細な振動特性評価を行うことができないという問題点もあった。
このような問題点を解決するため、供試体に対しストロボ光を発光し、振動特性評価を行う方法も知られているが、加振器の振動数を変える度にストロボの発光周期を調整して振動数と同期して発光させる操作が必要となり、操作にかかる負担が大きかった。
また、実装基板のような供試体においては、基板上のLED、コンデンサ等の個々の部品ごとの詳細な振動特性評価を行うことができないという問題点もあった。
このような問題点を解決するため、供試体に対しストロボ光を発光し、振動特性評価を行う方法も知られているが、加振器の振動数を変える度にストロボの発光周期を調整して振動数と同期して発光させる操作が必要となり、操作にかかる負担が大きかった。
そこで、本発明の課題は、供試体の振動特性評価をより容易に行うことのできる振動特性評価システムを提供することである。
上記課題を解決するため、請求項1記載の発明は、例えば、図2に示すように、振動特性評価システム(1)であって、
供試体(S)が載置される載置台(2)と、
前記載置台を所定方向に加振する加振手段(例えば、振動発生機31)と、
前記加振手段によって加振された前記供試体の振動を検出する検出手段(例えば、センサ2a)と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて前記加振手段の振動を制御する振動制御手段(例えば、振動制御部11)と、
前記供試体に対してストロボ光を発光するストロボ手段(例えば、ストロボスコープ4)と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて、前記供試体の振動数と同期するストロボ光を発光させるように前記ストロボ手段の発光周期を制御する発光制御手段(例えば、発光制御部12)と、
を備えることを特徴とする。
供試体(S)が載置される載置台(2)と、
前記載置台を所定方向に加振する加振手段(例えば、振動発生機31)と、
前記加振手段によって加振された前記供試体の振動を検出する検出手段(例えば、センサ2a)と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて前記加振手段の振動を制御する振動制御手段(例えば、振動制御部11)と、
前記供試体に対してストロボ光を発光するストロボ手段(例えば、ストロボスコープ4)と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて、前記供試体の振動数と同期するストロボ光を発光させるように前記ストロボ手段の発光周期を制御する発光制御手段(例えば、発光制御部12)と、
を備えることを特徴とする。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の振動特性評価システムであって、
前記発光制御手段により制御される前記ストロボ手段の発光周期を調整する発光周期調整手段(例えば、発光周期調整部13、発光周期調整指示部13a)を備えていることを特徴とする。
前記発光制御手段により制御される前記ストロボ手段の発光周期を調整する発光周期調整手段(例えば、発光周期調整部13、発光周期調整指示部13a)を備えていることを特徴とする。
請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の振動特性評価システムであって、
前記載置台の振動数を整数倍する指示を行うための振動数調整指示手段(例えば、振動数調整指示部11a)を備え、
前記振動制御手段は、
前記振動数調整指示手段による振動数の調整指示があった場合に、前記載置台の振動数が指示された整数倍の振動数になるように前記加振手段の振動を制御することを特徴とする。
前記載置台の振動数を整数倍する指示を行うための振動数調整指示手段(例えば、振動数調整指示部11a)を備え、
前記振動制御手段は、
前記振動数調整指示手段による振動数の調整指示があった場合に、前記載置台の振動数が指示された整数倍の振動数になるように前記加振手段の振動を制御することを特徴とする。
請求項4記載の発明は、請求項1〜3の何れか一項に記載の振動特性評価システムであって、
前記供試体の動画像を撮像する撮像手段(例えば、ビデオカメラ5)と、
前記撮像手段によって撮像された動画像データを記録媒体(6a)に記憶する動画像データ記憶手段(例えば、記憶部6)と、
前記記録媒体に記憶されている動画像データを表示させる表示手段(例えば、表示部8)と、
を備えていること特徴とする。
前記供試体の動画像を撮像する撮像手段(例えば、ビデオカメラ5)と、
前記撮像手段によって撮像された動画像データを記録媒体(6a)に記憶する動画像データ記憶手段(例えば、記憶部6)と、
前記記録媒体に記憶されている動画像データを表示させる表示手段(例えば、表示部8)と、
を備えていること特徴とする。
請求項1記載の発明によれば、ストロボ手段の発光周期と供試体の振動数とを自動的に同期させることができる。従って、ユーザがストロボ手段の発光周期と供試体の振動数とを同期させる操作を行う必要がなくなることとなって、供試体の振動特性評価をより容易に行うことができる。
また、供試体の振動特性評価をモーダル解析により行うのではなく、ストロボ光によるストロボ効果を利用して行う。従って、モーダル解析系を備える必要がないため、振動特性評価システムをより安価に製造することができる。
また、供試体の振動特性評価をモーダル解析により行うのではなく、ストロボ光によるストロボ効果を利用して行う。従って、モーダル解析系を備える必要がないため、振動特性評価システムをより安価に製造することができる。
請求項2記載の発明によれば、請求項1記載の発明と同様の効果が得られるのは無論のこと、特に、ストロボ手段の発光周期を調整する発光周期調整手段を備えている。従って、ユーザが、振動中の載置台上の供試体を目視しながらストロボ手段の発光周期を調整するだけで、発光周期がその調整分だけ変化して、供試体が静止して見える状態から、振動して見える状態に移行させることができることとなって、供試体の振幅をより迅速に確認し、振動特性評価を行うことができる。
請求項3記載の発明によれば、請求項1又は2記載の発明と同様の効果が得られるのは無論のこと、特に、載置台の振動数を整数倍する指示があった場合には、載置台の振動数が指示された整数倍の振動数になるように制御される。従って、載置台の振動数が、供試体のn次振動が起きる振動数近傍に迅速に設定されることとなって、振動特性評価をより一層容易に行うことができる。
請求項4記載の発明によれば、請求項1〜3の何れか一項に記載の発明と同様の効果が得られるのは無論のこと、特に、供試体の振動の動画像を記録可能であるので、振動試験を行った後であればいつでも供試体の振動特性を目視により再確認することができる。
以下、図を参照して本発明にかかる振動特性評価システムを実施するための最良の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明にかかる振動特性評価システムを説明するための模式図、図2は、図1の振動特性評価システムの構成例を示すブロック図である。
図1は、本発明にかかる振動特性評価システムを説明するための模式図、図2は、図1の振動特性評価システムの構成例を示すブロック図である。
図1、図2に示すように、振動特性評価システム1は、供試体Sが載置される載置台2と、載置台2を振動させて振動試験を行う振動試験機3と、供試体Sに対してストロボ光を発光するストロボスコープ4と、供試体Sの動画像を撮像するビデオカメラ5と、各種データ等を記録媒体6aに記憶する記憶部6と、振動特性評価システム1を操作するための操作部7と、操作部7により入力された各種データ等を表示する表示部8と、振動特性評価システム1の各部を制御する制御装置10等を備えている。
振動試験機3は、供試体Sを水平方向又は鉛直方向の何れかに加振する加振手段としての振動発生機31を備えている。この振動発生機31は、載置台2に接続されており、磁界内に配置された可動コイル(図示省略)に駆動電流を供給することにより載置台2を振動させるようになっている。
載置台2には、図1に示すように、振動発生機31によって加振された載置台2の振動を検出するセンサ2aが設けられている。このセンサ2aは、載置台2の振動加速度を検出するために用いられ、載置台2とともに振動し、検出した振動検出信号としての加速度信号を制御装置10に出力するようになっている。ここで、載置台2には、供試体Sが固定されているので、載置台2の振動数を、供試体Sの振動数とみなすものとする。即ち、センサ2aは、供試体Sの振動を検出する検出手段として機能する。
ストロボスコープ4は、ストロボ手段として機能し、制御装置10から出力される発光制御信号(後述)に基づいて、振動中の載置台2上の供試体Sに対してストロボ光を発光する。
制御装置10は、振動発生機31の振動を制御する振動制御部11と、ストロボスコープ4の発光周期を制御する発光制御部12と、発光制御部12に制御されるストロボスコープ4の発光周期を調整する発光周期調整部13等を備えている。
振動制御部11は、振動制御手段として機能し、センサ2aから出力された加速度信号の入力に基づいて、振動発生機31の振動を制御するための振動制御信号を出力する。
この振動制御部11には、載置台2の振動数を整数倍する指示を行うための振動数調整指示部11aが接続されている。
この振動制御部11には、載置台2の振動数を整数倍する指示を行うための振動数調整指示部11aが接続されている。
振動数調整指示部11aは、振動数調整指示手段として機能し、振動数を整数倍させる旨の調整指示を振動制御部11に出力する。そして、振動制御部11はこの調整指示に従って、載置台2の振動数が指示された整数倍の振動数になるように振動発生機31の振動を制御するようになっている。
この振動制御部11と振動試験機3の間には、振動制御部11からの振動制御信号を増幅する電力増幅器9が設けられている。この電力増幅器9は、D/A変換器(図示省略)と、入力信号を増幅する増幅器(図示省略)等を備えている。そして、振動制御部11から出力される振動制御信号をD/A変換器によりD/A変換した後、増幅器により増幅し、振動発生機31に出力する。
発光制御部12は、発光制御手段として機能し、センサ2aからの加速度信号の入力に基づいて、載置台2の振動数と同期するストロボ光を発光させるようにストロボスコープ4の発光周期の制御を行う。この制御は、例えば、発光制御部12から発光制御信号(同期信号)がストロボスコープ4に出力されることにより行われる。
ここで、載置台2の振動数を供試体Sの振動数とみなしているので、載置台2の振動数と同期するストロボ光を発光させる発光制御信号がストロボスコープ4に出力されると、ストロボスコープ4の発光周期と供試体Sの振動数とが同期して、供試体Sが静止して見える、いわゆるストロボ効果を得ることができる。
ここで、載置台2の振動数を供試体Sの振動数とみなしているので、載置台2の振動数と同期するストロボ光を発光させる発光制御信号がストロボスコープ4に出力されると、ストロボスコープ4の発光周期と供試体Sの振動数とが同期して、供試体Sが静止して見える、いわゆるストロボ効果を得ることができる。
発光周期調整部13は、発光制御部12により制御されるストロボスコープ4の発光周期を調整するためのものである。この発光周期調整部13には、発光周期調整指示部13aが接続されている。
発光周期調整指示部13aは、例えば、ツマミ(図示省略)等から構成されており、ユーザによるツマミの回動動作によりストロボスコープ4の発光周期の調整指示が発光周期調整部13に出力されると、発光周期調整部13がその調整指示に従って、ストロボスコープ4の発光周期を調節するようになっている。
即ち、振動試験開始時においては、発光制御部12から出力される発光制御信号は発光周期調整部13により発光周期を調整されることなくそのままストロボスコープ4へ出力されると、ストロボ効果により供試体Sが静止して見える状態となるので、ユーザは供試体Sを目視しながら、発光周期調整指示部13aの操作により発光制御部12から出力されている発光制御信号を調整することにより、ストロボスコープ4の発光周期を変化させ、供試体Sが静止して見える状態から振動して見える状態へ移行させて、供試体Sの振動を目視できるようになっている。
なお、ストロボスコープ4の発光周期の調整範囲は特に限定されるものではないが、例えば、発光周期2〜5Hz程度の調整が可能な構成であればよい。
このように、発光周期調整部13、発光周期調整指示部13aは、発光周期調整手段として機能する。
このように、発光周期調整部13、発光周期調整指示部13aは、発光周期調整手段として機能する。
ビデオカメラ5は、撮像手段として機能し、例えば、振動中の載置台2上の供試体SをCCDにより撮像して、供試体Sの動画像の画像データを得る。
記憶部6は、記録媒体6aの読取/書込装置であり、記録媒体6aを着脱自在に収納する。
この記憶部6は、センサ2aから出力される加速度信号データや振動発生機31の振動数データ等を記録媒体6aに記憶する。
さらに、この記憶部6は、動画像データ記憶手段として機能し、ビデオカメラ5から制御装置10を介して入力される供試体Sの動画像データを記録媒体6aに記憶する。
この記憶部6は、センサ2aから出力される加速度信号データや振動発生機31の振動数データ等を記録媒体6aに記憶する。
さらに、この記憶部6は、動画像データ記憶手段として機能し、ビデオカメラ5から制御装置10を介して入力される供試体Sの動画像データを記録媒体6aに記憶する。
操作部7は、例えば、キーボードやマウス等からなり、供試体Sの質量、寸法、重心値、偏心量等の数値データや振動試験に関するコマンドを入力、或いは選択するためのものである。
表示部8は、表示手段として機能し、例えば、CRT表示装置等からなり、操作部7から入力された数値データやコマンド、或いは算出された数値データ、記録媒体6aに記録されている供試体Sの動画像データ等を表示するためのものである。
次に、振動特性評価システム1を用いて行う振動特性評価の一例について説明する。ここでは、供試体Sを、電気・電子部品の実装基板上のLEDとする。
先ず、ユーザは、振動特性評価システム1に電源を入れるとともに、載置台2に実装基板を載置する。ここで、載置台2に実装基板を固定することにより、載置台2の振動数を実装基板上のLEDの振動数とみなすものとする。
次いで、ユーザは、表示部8を見ながら操作部7を操作して、振動試験開始指示を与える。このとき、ビデオカメラ5も起動させ、LEDの動画像を撮像できる状態としておく。
次いで、ユーザは、表示部8を見ながら操作部7を操作して、振動試験開始指示を与える。このとき、ビデオカメラ5も起動させ、LEDの動画像を撮像できる状態としておく。
振動試験開始後は、振動制御部11から振動発生機31の振動を制御する振動制御信号が出力され、電力増幅器9により増幅された後、振動発生機31に入力され振動し、この振動発生機31の振動がセンサ2aにより加速度信号として検出され、この加速度信号に基づいて振動制御部11から振動制御信号が出力される。
具体的には、例えば、1Hzから載置台2の振動数を漸次増加させていき、載置台2上のLEDが共振するおおよその振動数を目視により探す。例えば、LEDの共振が97Hz近傍で大雑把に目視できたとすると、LEDの固有振動数が97Hz近傍であることがわかる。
次いで、ユーザは、操作部7の操作により、載置台2の振動数の増加を一旦止め、97Hzに振動数を合わせる。ここで、振動数を97Hzに合わせた時点では、発光制御部12がセンサ2aから出力された加速度信号に基づいて、97Hzの振動数に同期するストロボ光を発光させる発光制御信号をストロボスコープ4に出力するので、ストロボスコープ4の発光周期と載置台2の振動数(即ち、LEDの振動数)とが同期し、ユーザにはLEDが静止して見える状態となっている。
次いで、ユーザは、発光周期調整指示部13aを操作することにより、発光制御部12から出力されている発光制御信号を調整し、ストロボスコープ4の発光周期を調整する。即ち、載置台2の振動数は97Hzのままにしておいて、ストロボスコープ4の発光周期のみを2Hz〜5Hzの間で変化させる。
このようにストロボスコープ4の発光周期のみを調整することにより、LEDが静止して見える状態から振動して見える状態に移行する。ここで、発光周期の調整の程度により、LEDの振動の見え方が変わってくるので、例えば、LEDが最も大きく振動して見える状態になるように調整する。
そして、ユーザは、このLEDの振動の状態を目視して、LEDの振動特性を評価し、LEDの補強方法や配置の再検討等を行う。
そして、ユーザは、このLEDの振動の状態を目視して、LEDの振動特性を評価し、LEDの補強方法や配置の再検討等を行う。
次いで、ユーザは、必要に応じて、振動数調整指示部11aの操作により載置台2の振動数を97Hzの整数倍に相当する振動数に設定する。具体的には、例えば、97Hzの2倍の振動数にする旨の調整指示が振動制御部11に入力されると、振動制御部11は載置台2の振動数を194Hzまで増加する振動制御を行う。
そして、載置台2の振動数が194Hzになった後は、上記と同様に発光周期調整部13の操作によりストロボスコープ4の発光周期の微調整を行い、LEDの2次振動時における振動特性を評価する。
そして、載置台2の振動数が194Hzになった後は、上記と同様に発光周期調整部13の操作によりストロボスコープ4の発光周期の微調整を行い、LEDの2次振動時における振動特性を評価する。
また、この一連の振動試験時におけるLEDの振動は、ビデオカメラ5により動画像データとして記録媒体6aに記憶される。従って、LEDの詳細な振動特性評価は必ずしも振動試験時に行う必要はなく、上記方法でLEDの振動を記録した動画像データに基づいて、振動試験後に詳細な評価を行うようにしてもよい。
以上説明した振動特性評価システム1によれば、ストロボスコープ4の発光周期と載置台2の振動数とを自動的に同期させることができる。従って、ユーザがストロボスコープ4の発光周期と載置台2の振動数とを同期させる操作を行う必要がないため、より容易に振動特性評価を行うことができる。
また、供試体Sの振動特性をモーダル解析により行うのではなく、ストロボ光によるストロボ効果を利用して行うので、振動特性評価システム1をより安価に製造することができる。
また、供試体Sの振動特性をモーダル解析により行うのではなく、ストロボ光によるストロボ効果を利用して行うので、振動特性評価システム1をより安価に製造することができる。
また、載置台2の振動数を供試体Sの振動数とみなして振動特性評価を行うことができるので、載置台2にセンサ2aを取り付けることにより評価が可能となる。従って、センサ2aを直接取り付けることができない比較的小さい基板等の振動特性評価を行うことができることとなって、より多くの供試体の振動特性評価を行うことができる。
また、ユーザが、振動中の載置台2上の実装基板のLEDを目視しながらストロボスコープ4の発光周期を調整するだけで、発光周期がその調整分だけ変化して、LEDが静止して見える状態からわずかに振動して見える状態に移行させることができることとなって、LEDの振動を迅速に確認することができる。
また、振動数調整指示部11aの調整指示により、載置台2の振動数が、供試体Sのn次振動が起きる振動数近傍に迅速に設定されることとなって、振動特性評価をより一層容易に行うことができる。
また、ビデオカメラ5によってLEDの振動の動画像を記録可能であるので、振動試験後にいつでも振動特性を目視により再確認することができる。
また、ビデオカメラ5によってLEDの振動の動画像を記録可能であるので、振動試験後にいつでも振動特性を目視により再確認することができる。
なお、ビデオカメラ5により記録された画像を解析することにより、LEDの振動特性を自動的に評価する構成としてもよい。
より具体的には、例えば、振動試験前にLEDに所定の印をつけておいて、振動試験中のLEDの動画像を撮像し、撮像した動画像に基づいてLEDの振動時における印の軌跡を数値化して、LEDの振幅が最も大きいときの載置台2の振動数を決定し、決定した振動数になるように振動発生機31の振動を制御し、次いで、LEDの振動が目視可能となるようにストロボスコープ4の発光周期を調整し、LEDの振動特性を自動的に評価し、評価結果を表示部8に表示する。このストロボスコープ4の発光周期の調整は、例えば、発光周期の調整分とLEDの振動とが対応付けられたテーブル等に基づいて行い、振動特性評価は、例えば、LEDの振動と振動特性とが対応付けられたテーブル等に基づいて行う。
より具体的には、例えば、振動試験前にLEDに所定の印をつけておいて、振動試験中のLEDの動画像を撮像し、撮像した動画像に基づいてLEDの振動時における印の軌跡を数値化して、LEDの振幅が最も大きいときの載置台2の振動数を決定し、決定した振動数になるように振動発生機31の振動を制御し、次いで、LEDの振動が目視可能となるようにストロボスコープ4の発光周期を調整し、LEDの振動特性を自動的に評価し、評価結果を表示部8に表示する。このストロボスコープ4の発光周期の調整は、例えば、発光周期の調整分とLEDの振動とが対応付けられたテーブル等に基づいて行い、振動特性評価は、例えば、LEDの振動と振動特性とが対応付けられたテーブル等に基づいて行う。
また、振動特性の評価前の段階でLEDの共振する振動数が既知であれば、最初からその振動数近傍に設定し、LEDの振動を目視できるようにストロボスコープ4の発光周期を調整してもよい。
また、振動特性評価の対象はLEDに限定されるものではなく、例えば、抵抗器、コンデンサ、フィルタ、インダクタ等であってもよいし、比較的大型の製品等であってもよい。
また、上記実施の形態においては、載置台2にセンサ2aを設け、載置台2の振動数をLEDの振動数とみなして振動特性評価を行う構成を示したが、評価する部品によっては、その部品に直接センサ2aを設け、振動を検出するようにしてもよい。
また、振動特性評価の対象はLEDに限定されるものではなく、例えば、抵抗器、コンデンサ、フィルタ、インダクタ等であってもよいし、比較的大型の製品等であってもよい。
また、上記実施の形態においては、載置台2にセンサ2aを設け、載置台2の振動数をLEDの振動数とみなして振動特性評価を行う構成を示したが、評価する部品によっては、その部品に直接センサ2aを設け、振動を検出するようにしてもよい。
1 振動特性評価システム
2 載置台
2a センサ(検出手段)
4 ストロボスコープ(ストロボ手段)
5 ビデオカメラ(撮像手段)
6 記憶部(動画像データ記憶手段)
6a 記録媒体
8 表示部(表示手段)
11 振動制御部(振動制御手段)
11a 振動数調整指示部(振動数調整指示手段)
12 発光制御部(発光制御手段)
13 発光周期調整部(発光周期調整手段)
13a 発光周期調整指示部(発光周期調整手段)
31 振動発生機(加振手段)
2 載置台
2a センサ(検出手段)
4 ストロボスコープ(ストロボ手段)
5 ビデオカメラ(撮像手段)
6 記憶部(動画像データ記憶手段)
6a 記録媒体
8 表示部(表示手段)
11 振動制御部(振動制御手段)
11a 振動数調整指示部(振動数調整指示手段)
12 発光制御部(発光制御手段)
13 発光周期調整部(発光周期調整手段)
13a 発光周期調整指示部(発光周期調整手段)
31 振動発生機(加振手段)
Claims (4)
- 供試体が載置される載置台と、
前記載置台を所定方向に加振する加振手段と、
前記加振手段によって加振された前記供試体の振動を検出する検出手段と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて前記加振手段の振動を制御する振動制御手段と、
前記供試体に対してストロボ光を発光するストロボ手段と、
前記検出手段から出力される振動検出信号の入力に基づいて、前記供試体の振動数と同期するストロボ光を発光させるように前記ストロボ手段の発光周期を制御する発光制御手段と、
を備えることを特徴とする振動特性評価システム。 - 前記発光制御手段により制御される前記ストロボ手段の発光周期を調整する発光周期調整手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の振動特性評価システム。
- 前記載置台の振動数を整数倍する指示を行うための振動数調整指示手段を備え、
前記振動制御手段は、
前記振動数調整指示手段による振動数の調整指示があった場合に、前記載置台の振動数が指示された整数倍の振動数になるように前記加振手段の振動を制御することを特徴とする請求項1又は2記載の振動特性評価システム。 - 前記供試体の動画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された動画像データを記録媒体に記憶する動画像データ記憶手段と、
前記記録媒体に記憶されている動画像データを表示させる表示手段と、
を備えていること特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の振動特性評価システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004146542A JP2005326353A (ja) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 振動特性評価システム |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2004146542A JP2005326353A (ja) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 振動特性評価システム |
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Publication Number | Publication Date |
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ID=35472819
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Country | Link |
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JP (1) | JP2005326353A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN104034369A (zh) * | 2014-06-23 | 2014-09-10 | 康吉诺(北京)科技有限公司 | 一种故障诊断分析仪 |
CN106596305A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 潍柴动力股份有限公司 | 一种高频振动下疲劳裂纹检测系统及检测方法 |
KR101835801B1 (ko) | 2016-04-19 | 2018-03-08 | 주식회사 액트로 | 광학식 손떨림 보정유닛의 검사장치와 검사방법 |
-
2004
- 2004-05-17 JP JP2004146542A patent/JP2005326353A/ja active Pending
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