JP2005322581A - 撮像素子及びそれを用いた撮像装置 - Google Patents

撮像素子及びそれを用いた撮像装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 本発明は、光電変換膜に蓄積された正孔の読み出しに必要な電子量を確保しつつ、電子放出源から放出された電子群の広がりを抑止できる撮像素子及びそれを用いた撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 互いに対向する第1の透光性基板101及び第2の基板201と、第1の透光性基板の第2の基板に対向する面側に設けられた透光性導電膜102及び光電変換膜103と、第2の基板の第1の透光性基板に対向する面側に設けられた複数の電子放出源を有し構成される撮像素子において、第1の透光性基板及び第2の基板間で第1の透光性基板及び第2の基板それぞれに直交する方向の磁界を形成する磁石501を備える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、撮像素子及びそれを用いた撮像装置に関し、互いに対向する基板上に形成された光電変換膜と、電界によって電子を引き出す複数の電子放出源を有し構成される撮像素子及びそれを用いた撮像装置に関する。
加熱しないで、電界によって電子を引き出す電子放出源が、FED(Field Emission Display)と呼ばれる平面ディスプレイの電子放出源として用いられている。また、前記電子放出源と光電変換膜とを対向させた撮像装置が例えば特許文献1で提案されている。この撮像装置は、複数のSpindt型電子放出源をマトリックス状に配列したアレイと、これに対向する光電変換膜で構成されており、Spindt型電子放出源が形成されたマトリックスアレイから放出された電子群によって光電変換膜に正孔が生成及び蓄積され、この正孔を読み出すことで時系列の映像信号が得られる。
しかし、Spindt型電子放出源から放出される電子群は一般的にエミッタ先端部から約30度の広がりを持つこと、また、通常の撮像条件では電子群による走査直前の光電変換膜の電位が低いことから、Spindt型電子放出源と光電変換膜との間の真空空間で、Spindt型電子放出源から放出された電子群の広がりがさらに助長される。その結果、光電変換膜上に投影される電子群の広がりが大きくなり、解像度の低下により画質が劣化するという問題がある。
上記の問題を解消するために、例えば、特許文献2に記載されているように、電子放出源と光電変換膜との間に多数の開口を有するメッシュ状のグリッド電極を挿入した撮像装置が知られている。この撮像装置では、グリッド電極に電子放出源に印加される電圧に比べて格段に高い電圧を常時印加することで、電子放出源から放出された電子群が光電変換膜に到達するまでの時間を短縮し、電子放出源と光電変換膜との間の真空空間での電子群の広がりを抑制している。
また、FEDにおいても、電子放出源から放出される電子群を電界によって蛍光膜上に集束する方法として、例えば特許文献3や非特許文献1に記載のように、電子放出源を取り囲むように電子放出源と同一の平面上もしくはその上部に絶縁物を介して集束電極を設ける方法が知られている。
この集束電極付電子放出源及び集束電極付電子放出源アレイでは、通常、集束電極に電子放出のために電子放出源や電子放出源アレイに印加される電圧より低い電圧を印加することで、電子放出源から放出された電子群が蛍光膜に至るまでの真空空間での広がりを抑制している。
特開平6−176704号公報 特開2000−48743号 特開平10−199400号 W.D.Kesling et al."Beam Focusing for Field Emission Flat Panel Displays",Proceedings of the 7th International Vacuum Microelectronics Conference,Grenoble,France,4−7July,1994,PP.135−138
複数の電子放出源と光電変換膜とを真空空間を挟んで対向させた撮像素子において、従来の技術では、電子放出源と光電変換膜との間に高い電圧を印加したグリッド電極を挿入することで、電子放出源から放出された電子群が光電変換膜に到達するまでの時間を短縮し、真空空間での電子群の広がりを抑制している。
しかし、この従来技術では、真空空間での電子群の広がりの原因となる電子放出源から放出された直後の電子群の光電変換膜に平行な方向の速度成分は、電子群が光電変換膜に到達するまでの間に変化しないため、原理上、電子群の真空空間での広がりをある程度許容せざるを得ない。そのため、放出された直後の電子群が大きな広がりを持つSpindt型電子放出源を用いたときには、光電変換膜上に投影される電子群の広がりが画素面積よりも大きくなり、解像度等の画質が劣化するおそれがある。
これを抑制するには、グリッド電極の電極をさらに高める必要があるが、一方でグリッド電極に印加できる電圧の上限はグリッド電極と電子放出源との間の絶縁耐圧で制限される。また、グリッド電極を挿入することで、電子放出源から放出された電子群の一部がグリッド電極に捕獲されるため、光電変換膜に蓄積された正孔を読み出す電子量の減少を招くという問題を生じる。
また、従来技術では、電子群の広がりを抑制するための集束電極を設けた電子放出源アレイを作製することができ、このような集束電極付電子放出源アレイの撮像素子への適用も十分に可能である。しかし、電子放出源アレイ内に集束電極を形成するための面積を確保しなければならず、その結果、アレイ内に電子放出源を形成することのできる面積が小さくなり、アレイから放出される電子量が減少するという問題を生じる。
これに加えて、集束電極付の電子放出源アレイでは、電子放出源から放出された電子群の広がりを抑制するには、通常、集束電極に、電子放出のために電子放出源アレイに印加される電圧より低い電圧が印加されるが、この集束電極に印加される電圧が低くなるほど、すなわち、電子群の広がりを抑制するほど、電子放出源から取り出せる電子量が減少することが知られている。
これらのことから、集束電極を設けた電子放出源アレイの撮像装置への適用においては、電子群の真空空間での広がりの抑制と、光電変換膜に蓄積された正孔の読み出しに必要な電子量の確保とは相反事項となる。特に、画素が小さくなるほど、電子群の広がりの抑制と電子量の確保とを両立させることが難しくなり、電子群の広がりを抑制して高い解像度を得ようとすると、光電変換膜に蓄積された電荷を全て読み出すことができず、残像の発生等を招くという不具合を生じる。
更に、個々の電子放出源もしくは複数の電子放出源をひとつの単位として、これらを取り囲むように集束電極を電子放出源アレイ内の全領域にわたって均一に形成することは難しく、その結果、集束電極の効果が個々の電子放出源または複数の電子放出源毎に異なるという問題を生じる。さらに、微細・高集積化された電子放出源アレイに、このような集束電極を形成するには、より複雑な作製工程が必要となり、電子放出源アレイの作製歩留まりの低下等を招く。
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、光電変換膜に蓄積された正孔の読み出しに必要な電子量を確保しつつ、電子放出源から放出された電子群の広がりを抑止できる撮像素子及びそれを用いた撮像装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、互いに対向する第1の透光性基板及び第2の基板と、前記第1の透光性基板の前記第2の基板に対向する面側に設けられた透光性導電膜及び光電変換膜と、前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面側に設けられた複数の電子放出源を有し構成される撮像素子において、
前記第1の透光性基板及び第2の基板間で前記第1の透光性基板及び第2の基板それぞれに直交する方向の磁界を形成する磁石を備えたことにより、
光電変換膜に蓄積された正孔の読み出しに必要な電子量を確保しつつ、電子放出源から放出された電子群の広がりを防止できる。
請求項2に記載の発明では、前記磁石は、前記第1の透光性基板及び第2の基板を空洞内に収納する円筒型の永久磁石であることにより、請求項1の発明を実現できる。
請求項3に記載の発明では、前記磁石は、前記第1の透光性基板を空洞内に収納する円筒型の第1の永久磁石と、
前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面とは逆側に前記第2の基板と対向する円盤形の第2の永久磁石で構成されることにより、請求項1の発明を実現できる。
請求項5に記載の発明では、前記磁石は、前記第1の透光性基板の前記第2の基板に対向する面とは逆側に前記第1の透光性基板と対向する円盤形の透光性永久磁石と、
前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面とは逆側に前記第2の基板と対向する円盤形の第3の永久磁石で構成されることにより、請求項1の発明を実現できる。
請求項6に記載の発明では、前記透光性永久磁石は、前記第1の透光性基板の少なくとも一部として使用することにより、小型化が可能になる。
請求項7に記載の発明では、前記透第3の永久磁石は、前記第2の基板の少なくとも一部として使用することにより、小型化が可能になる。
請求項8に記載の発明は、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像素子を用いて構成したことを特徴とする撮像装置である。
本発明によれば、光電変換膜に蓄積された正孔の読み出しに必要な電子量を確保しつつ、電子放出源から放出された電子群の広がりを抑止できる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
まず、本発明の原理を説明する。透光性導電膜と電子放出源それぞれがz方向に離間してx−y平面に配置されている場合(図1参照、y軸の向きは紙面の表から裏)、電子放出源からz方向に対し斜めに発射された電子は互いに垂直なx方向、y方向、z方向それぞれの速度成分を持つ。z方向に平行な磁界があるとき、透光性導電膜に平行な速度成分による電子の運動はローレンツ力によって回転運動をし(z方向の運動にはローレンツ力が働かない)、電子の軌道はz軸を中心とする螺旋状となり、ある時間でx方向とy方向の原点、即ちz軸上に戻る。このz軸上に戻る時点が透光性導電膜上となるように磁束密度または透光性導電膜と電子放出源の離間距離を調節することによって、電子放出源から斜めに発射された電子は透光性導電膜上に集束される。
なお、磁界がz方向に平行でなくなると、z方向の運動にもローレンツ力が働くため、電子放出源からz方向に発射された電子でも軌道が螺旋状に歪むため、透光性導電膜及び電子放出源に対してできるだけ垂直に、つまりz軸に平行に磁界を発生させることが必要である。
図1は、本発明の撮像素子の第1実施形態の断面図を示す。同図中、本撮像素子は、内部に空洞を有する円筒型の永久磁石501と、前記永久磁石501の空洞内に配置される撮像素子本体部とから構成されている。
撮像素子本体部は、真空容器の一部を兼ねる透光性基板101及び基板201と、真空容器301とによって内部が真空に保たれている。透光性基板101の真空側表面(基板201に対向する面側)には、透光性導電膜102が形成され、更に、光電変換膜103が形成されている。基板201の真空側表面(透光性基板101に対向する面側)には、カソード電極202と電子源203とゲート電極204及び絶縁層205とからなる電子放出源を複数有する電子放出源アレイが形成されている。透光性導電膜102と電子放出源アレイそれぞれはz方向に所定距離だけ離間してx−y平面に配置されている。
また、光電変換膜103と電子放出源アレイとの離間間隔の中間点は、永久磁石501のz方向の中間点を通るx−y平面上に位置し、かつ、光電変換膜103の有効撮像領域の中心点は永久磁石501の内径の中心軸上に位置し、上記中心軸はx−y平面に垂直に交わるよう、円筒型の永久磁石501の空洞内に撮像素子本体部が収納されて配置されている。
きらに、図1には示されない、永久磁石501と撮像素子本体部とを保持する機構、及び、永久磁石501から生じる磁力線の外部への漏洩を防止する磁気シールドを備えている。
透光性基板101としては、例えば可視光撮像の場合はガラス、紫外光撮像の場合はサファイアや石英ガラス、X線撮像の場合はベリリウム(Be)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、ボロンナイトライド(BN)及び酸化アルミ(Al)等の公知の基板材料が撮像する光の波長に応じて用いられる。前記透光性基板101上に真空蒸着法やスパッタリング法等により形成される透光性導電膜102としては、例えば酸化錫(SnO)膜やITO膜またはアルミニウム等の金属薄膜が用いられる。
また、前記透光性導電膜103上に真空蒸着法等により形成される光電変換膜103としては、従来から知られている酸化鉛(PbO)、三硫化アンチモン(Sb)、セレン(Se)、シリコン(Si)、カドミウム(Cd)、カドミウムセレン(CdSe)亜鉛(Zn)、ヒ素(As)、テルル(Te)等からなる半導体材料が用いられるが、なかでも非晶質Seを主体とする半導体材料を用いて高電界を印加した場合には、膜内で光生成電荷のアバランシェ増倍を生じさせて感度を飛躍的に高めることができる。
電子放出源アレイとしては、高融点金属を堆積して作られるSpindt型電子放出源や、シリコンをエッチングして作られるシリコンコーン型電子放出源やシリコンを陽極酸化してポーラス状にすることで作られる平面型電子源等、公知の電子放出源からなるアレイが用いられる。
また、電子放出源アレイには1次元のアレイと2次元のマトリックスアレイとがあるが、本撮像素子には、どちらのアレイも適用することができる。本実施形態では、電子放出源アレイとして、2次元のSpindt型電子放出源マトリックスアレイを用いた例を示す。
図2は、Spindt型電子放出源マトリックスアレイの部分拡大斜視図を示す。同図中、Spindt型電子放出源マトリックスアレイでは、ガラス、シリコン、石英、セラミックス、樹脂等からなる基板201上にカソード電極202、絶縁層205及びゲート電極204が形成される。カソード電極202はy方向に延在し、ゲート電極204はこれと直交するx方向に延在し、X−Yマトリクスを構成している。
カソード電極202とゲート電極204が交差して区画される領域を画素と呼び、各画素内のゲート電極204には絶縁層205を貫通し、カソード電極202の表面に達する細孔が形成され、この細孔内にカソード電極202から突出したコーン状電子源203が設けられている。電子源203は、モリブデン(Mo)、ニオブ(Nb)、タングステン(W)等の高融点金属で作製され、通常、1つの画素内には、複数(図2では、3×3)の細孔及び電子源203が設けられている。
また、図示はしないが、各画素内には、電子源203から放出される電子量の時間変動を抑制すること等を目的に保護抵抗層や電流制限トランジスタ等が形成される場合がある。
撮像素子本体部では、光は透光性基板101及び透光性導電膜102を透過し、光電変換膜103に到達する。透光性導電膜102に信号ピン104を介して電子源203に印加される電圧より高い電圧が印加されると、光によって光電変換膜103内に生じた電子・正孔対の内、正孔は光電変換膜103のSpindt型電子放出源マトリックスアレイ側に移動し、そこに蓄積される。
一方、Spindt型電子放出源マトリックスアレイのカソード電極202及びゲート電極204にはパルス電圧が印加され、これにより、順次選択された画素内の電子源203から電子群が放出される。この電子群が光電変換膜103に蓄積された正孔と再結合する際に、信号ピン104を介して外部回路に流れる電流を出力として取り出すことで、入射光像に対応した映像信号を得ることができる。
永久磁石501には、酸化鉄(Fe)−ストロンチウム(Sr)−バリウム(Ba)等からなるストロンチウム系フェライト磁石、酸化鉄−酸化ストロンチウム(SrO)−バリウム−コバルト(Co)−ランタン(La)等からなるランタンコバルト系フェライト磁石、マンガン(Mn)−アルミニウム−カーボン(C)等からなるマンガンアルミニウムカーボン磁石、鉄(Fe)−クロム(Cr)−コバルト等からなる鉄クロムコバルト磁石、サマリウム(Sm)−コバルト等からなるサマリウムコバルト磁石、ネオジウム(Ne)−鉄−ホウ素(B)等からなるネオジウム系磁石、鉄−ニッケル(Ni)−コバルト−アルミニウムや鉄−ニッケル−コバルト−アルミニウム−チタンや鉄−ニッケル−コバルト−アルミニウム−銅(Cu)等からなるアルニコ磁石、バリウム−酸化鉄−酸素(O)等からなるバリウム磁石、上記の磁石材料の粉体を、塩化ビニール、塩素化ポリエチレンゴム、エラストマー、ニトリルゴム、ナイロン、PPS樹脂、エポキシ樹脂等に混ぜ合わせたボンド磁石等の公知の永久磁石が用いられる。
図1には、永久磁石501の端面502をN極、端面502に対向する端面503をS極とした例を示しているが、端面502をS極、端面503をN極としてもよい。永久磁石501のN極である端面502から出発した磁力線の内、永久磁石501の空洞内に向かう磁力線601は、磁石501の空洞のz方向の中間点を横切るx−y平面を垂直に通過した後、S極である端面503に入る。
このため、Spindt型電子放出源マトリックスアレイから放出された電子群が走行する真空空間401において、z方向にほぼ平行な磁界を形成することができる。前記真空空間401に形成される磁界の強度は永久磁石501の材質、形状、配置等によって制御できるため、この磁界強度を調整することで、電子源203から放出された電子群の真空空間401での広がりを抑制して、電子群を光電変換膜103上に収束させて結像させることができる。
また、磁界の有無による電子源203の電子放出特性には差異はなく、永久磁石501を適用しても、永久磁石501がない場合と同等な放出電子量を得ることができる。一方、永久磁石501の代りに電磁石を用いることで上記と同様な効果を得ることができる。しかし、電磁石では消費電力の増加を招くという不具合があるのに対して、永久磁石では消費電力の増加を招くことはない。
なお、本実施形態では、永久磁石501に近づくほど、空洞内に形成される磁界の強度は急激に増すため、永久磁石501の内径及び外径を有効撮像領域より十分に広くすることで、電子群が走行する真空空間401における磁界強度の一様性を高めることができる。また、永久磁石501の円筒のz方向の長さを十分に確保することで、電子群が走行する真空空間401でのz方向以外の磁界成分を減らすことができる。
図3は、本発明の撮像素子の第2実施形態の断面図を示す。この実施形態では、形状の異なる2つ永久磁石を備える。同図中、本撮像素子は、撮像素子本体部の光電変換膜103と平行に、内部に空洞を有する円筒型の永久磁石511が、その空洞内に透光性基板101,透光性導電膜102,光電変換膜103を収納した状態で配置されている。
また、撮像素子本体部の基板201の透光性基板101に対向する面とは逆側(大気側)に、基板201と対向して円盤形の永久磁石521が配置されている。永久磁石521の直径は、撮像素子本体部の有効撮像領域の対角長より長く、かつ、永久磁石511の内径より短く設定されている。また、永久磁石511の内径の中心軸と永久磁石521の中心軸が一致し、撮像素子本体部の有効撮像領域の中心点は上記中心軸上に位置し、かつ、上記中心軸はx−y平面に垂直に交わるよう、永久磁石511と撮像素子本体部及び永久磁石521が配置されている。
また、図3には示さないが、永久磁石511及び永久磁石521と撮像素子本体部とを保持する機構、及び、永久磁石511及び永久磁石521から生じる磁力線の外部への漏洩を防止する磁気シールドを備えている。
本実施形態では、永久磁石511の端面512をN極、端面512に対向する端面513をS極、また、永久磁石521の端面522をS極、端面522に対向する端面523をN極とするが、永久磁石511の端面512をS極、端面512に対向する端面513をN極、また、永久磁石521の端面522をN極、端面522に対向する端面523をS極としてもよい。
永久磁石511のN極である端面512から出発した磁力線の内、撮像素子本体部の電子群が走行する真空空間401に向かう磁力線611は、永久磁石511の空洞のz方向の中間点を横切るx−y平面を垂直に通過した後、そのまま直進し、永久磁石521のS極である端面522に入る。
このため、本撮像素子では、電子群が走行する真空空間401において、z方向にほぼ平行な磁界を形成することができ、高解像度で、かつ、歪みのない画像を得ることができる。
なお、上記本実施形態では、永久磁石511及び永久磁石512を撮像素子本体部の外部に配置しているが、図4に示すように、基板201に貫通孔206を設け、前記基板201のSpindt型電子放出源マトリックスアレイとは反対の方向に真空容器302によって囲まれた真空空間402を形成し、真空空間402内に永久磁石521を配置してもよい。
更に、図5に示すように、透光性基板101、基板201、真空容器301、カソード電極202、ゲート電極204、絶縁層205を拡大して、永久磁石511が真空容器301の一部を構成するようにしてもよい。
なお、永久磁石521を真空内に配置する場合や永久磁石511を真空容器301の一部として用いる場合には、高真空維持の観点から、ボンド磁石以外の永久磁石を用いることが望ましい。
図6は、本発明の撮像素子の第3実施形態の断面図を示す。この実施形態では、2つの永久磁石を備え、その永久磁石の1つに透光性の永久磁石を用いる。同図中、本撮像素子は、撮像素子本体部の透光性基板101の基板201に対向する面とは逆側(大気側)に光電変換膜と平行に円盤形の透光性永久磁石531を配置し、また、基板201の透光性基板101に対向する面とは逆側(大気側)に透光性永久磁石531と平行に円盤形の永久磁石541を配置している。
透光性永久磁石531には、2酸化チタン(TiO)−コバルト等からなる公知の透光性永久磁石が用いられる。また、透光性永久磁石531及び永久磁石541の直径は撮像素子本体部の有効撮像領域の対角長より大きく設定されている。
本実施形態では、透光性永久磁石531の端面532をS極、端面532に対向する端面533をN極、また、永久磁石541の端面542をS極、端面542に対向する端面543をN極とした例を示しているが、透光性永久磁石531の端面532をN極、端面532に対向する端面533をS極、また、永久磁石541の端面542をN極、端面542に対向する端面543をS極としてもよい。
本撮像素子では、透光性永久磁石531のN極である端面533から出発した磁力線は、光電変換膜103に垂直に入射し、そのまま永久磁石541のS極である端面542に入るため、電子群が走行する真空空間に、z方向に平行な磁界を形成することができる。また、電子群が走行する真空空間401は、透光性永久磁石531及び永久磁石541の外周部分から離れた場所に位置するため、真空空間401には強度が一様な磁界を形成することができる。さらに、透光性永久磁石531及び永久磁石541が撮像素子本体部に接触して配置されているため、撮像素子及びこれを用いた撮像装置を小型化できる。
図7は、本発明の撮像素子の第4実施形態の断面図を示す。同図中、本撮像素子は、撮像素子本体部の透光性基板として透光性永久磁石551を用い、また、Spindt型電子放出源マトリックスアレイが形成される基板として永久磁石561を用いたものである。
透光性永久磁石551としては、2酸化チタン−コバルト等からなる透光性永久磁石の絶縁性をより高めたものが用いられ、また、永久磁石561にはストロンチウム系フェライト磁石、ランタンコバルト系フェライト磁石、バリウム磁石等の絶縁性の高い永久磁石が用いられる。
本実施形態では、前述の第3実施形態と同様に、電子群が走行する真空空間に、z方向に平行で、かつ、強度が一様な磁界を形成することができる。また、透光性永久磁石551及び永久磁石561が撮像素子本体部に組み込まれているため、撮像素子及びこれを適用した撮像装置の大きさを従来と同等にすることができる。
なお、本実施形態では撮像素子本体部の透光性基板の一部として透光性永久磁石551を用いても良く、Spindt型電子放出源マトリックスアレイが形成される基板の一部として永久磁石561を用いてもよい。また、永久磁石561の代わりにSpindt型電子放出源マトリックスアレイを構成するカソード電極202またはゲート電極204のいずれかとして導電性の永久磁石を用いてもよい。更に、永久磁石561、カソード電極202、ゲート電極204の代わりに、絶縁層205として絶縁性の永久磁石を用いてもよい。
図8は、本発明の撮像素子を適用した撮像装置の概略構成図を示す。同図中、本撮像装置は、光学レンズ801を通過した光が、光電変換膜に垂直に入射し、かつ、焦点を結ぶように、本発明の撮像素子821を配置している。撮像素子821から出力された信号は信号増幅及び画像処理回路831に供給されて増幅及び画像処理される。駆動回路832は撮像素子821を動作させるために必要なパルス電圧等を生成して撮像素子821に供給する。同期回路833は同期信号を生成して、信号増幅及び画像処理回路831及び駆動回路832に供給する。
このように、本願発明では、光電変換膜と電子放出源に垂直な方向に強度が一様な磁界を形成することが可能となり、電子群の真空空間での広がりを抑制でき、電子群を光電変換膜上に収束して結像することができるため、高い解像度を得ることができる。
また、電子群の真空空間での広がりの抑制に永久磁石による磁界を利用することで、電子放出源アレイ内に電子放出源を形成するための十分な面積を確保することができるとともに、電子群の集束効果を高めても電子放出源の電子放出特性に影響を及ぼすことなく十分な量の電子を取り出すことができるため、残像の低減とダイナミックレンジの拡大とが可能になる。更に、電子群の真空空間での広がりの抑制に永久磁石による磁界を利用しているため、消費電力の増加をもたらすことがない。
なお、永久磁石511が請求項記載の第1の永久磁石に対応し、永久磁石521が第2の永久磁石に対応し、永久磁石541が第3の永久磁石に対応する。
本発明の撮像素子の第1実施形態の断面図である。 Spindt型電子放出源マトリックスアレイの部分拡大斜視図である。 本発明の撮像素子の第2実施形態の断面図である。 本発明の撮像素子の第2実施形態の変形例の断面図である。 本発明の撮像素子の第2実施形態の他の変形例の断面図である。 本発明の撮像素子の第3実施形態の断面図である。 本発明の撮像素子の第4実施形態の断面図である。 本発明の撮像素子を適用した撮像装置の概略構成図である。
符号の説明
101 透光性基板
102 透光性導電膜
103 光電変換膜
104,114 信号ピン
105 貫通孔
201 基板
202 カソード電極
203 電子源
204 ゲート電極
205 絶縁層
301,302 真空容器
401,402 真空空間
501,511,521,541,561 永久磁石
502,512,523,533,543,553,563 端面(N極)
503,513,522,532,542,552,562 端面(S極)
531,551 透光性永久磁石
601,611,621,631 磁力線
801 光学レンズ
821 撮像素子
831 信号増幅及び画像処理回路
832 駆動回路
833 同期回路
834 電源

Claims (8)

  1. 互いに対向する第1の透光性基板及び第2の基板と、前記第1の透光性基板の前記第2の基板に対向する面側に設けられた透光性導電膜及び光電変換膜と、前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面側に設けられた複数の電子放出源を有し構成される撮像素子において、
    前記第1の透光性基板及び第2の基板間で前記第1の透光性基板及び第2の基板それぞれに直交する方向の磁界を形成する磁石を備えたことを特徴とする撮像素子。
  2. 前記磁石は、前記第1の透光性基板及び第2の基板を空洞内に収納する円筒型の永久磁石であることを特徴とする請求項1記載の撮像素子。
  3. 前記磁石は、前記第1の透光性基板を空洞内に収納する円筒型の第1の永久磁石と、
    前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面とは逆側に前記第2の基板と対向する円盤形の第2の永久磁石で構成されることを特徴とする請求項1記載の撮像素子。
  4. 前記第1の永久磁石は、前記第1の透光性基板及び第2の基板を収納する真空容器の一部を兼用することを特徴とする請求項3記載の撮像素子。
  5. 前記磁石は、前記第1の透光性基板の前記第2の基板に対向する面とは逆側に前記第1の透光性基板と対向する円盤形の透光性永久磁石と、
    前記第2の基板の前記第1の透光性基板に対向する面とは逆側に前記第2の基板と対向する円盤形の第3の永久磁石で構成されることを特徴とする請求項1記載の撮像素子。
  6. 前記透光性永久磁石は、前記第1の透光性基板の少なくとも一部として使用することを特徴とする請求項5記載の撮像素子。
  7. 前記第3の永久磁石は、前記第2の基板の少なくとも一部として使用することを特徴とする請求項5または6記載の撮像素子。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像素子を用いて構成したことを特徴とする撮像装置。
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