JP2005317811A - 測定装置および測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 有機材料を用いた光電変換素子の出力特性を、正確に、かつ迅速に測定することができる測定装置および測定方法を提供する。
【解決手段】 制御部21は、バイアス電源11にバイアス電圧を印加するように指示し、サンプリング遅延時間、たとえば、10ms以上太陽電池セル10の時定数以下の時間が経過したときに、電圧計12からの測定値および電流計13からの測定値を取得する。この場合、制御部21は、バイアス電源11を、短絡状態から開放状態の方向に、ステップ状に変化させる毎に、電圧と電流を測定し、第1の電圧電流特性を求める。次に、バイアス電源11を、開放状態から短絡状態の方向に、ステップ状に変化させる毎に、電圧と電流を測定し、第2の電圧電流特性を求める。演算部22は、第1の電圧電流特性と第2の電圧電流特性とを平均して、第3の電圧電流特性を求め、求めた第3の電圧電流特性から太陽電池セル10の特性を求める。
【選択図】 図1
Description
前記生成手段で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出手段とを有する測定装置において、
前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出手段は、第1の電圧電流特性の電流値と第2の電圧電流特性の電流値とを平均することによって、第3の電圧電流特性を生成し、生成した第3の電圧電流特性から前記光電変換素子の特性を算出することを特徴とする測定装置である。
前記生成手段で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出手段とを有する測定装置において、
前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出手段は、第1の電圧電流特性に基づいて第1の光電変換素子の特性、および、第2の電圧電流特性に基づいて第2の光電変換素子の特性を算出し、算出した第1の光電変換素子の特性と第2の光電変換素子の特性の平均を前記光電変換素子の特性とすることを特徴とする測定装置である。
本発明に従えば、色素増感型太陽電池の出力特性を、正確に、かつ迅速に測定することができる。
前記生成工程で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出工程とを有する測定方法において、
前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出工程は、第1の電圧電流特性の電流値と第2の電圧電流特性の電流値とを平均することによって、第3の電圧電流特性を生成し、生成した第3の電圧電流特性から前記光電変換素子の特性を算出することを特徴とする測定方法である。
前記生成工程で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出工程とを有する測定方法において、
前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出工程は、第1の電圧電流特性に基づいて第1の光電変換素子の特性、および、第2の電圧電流特性に基づいて第2の光電変換素子の特性を算出し、算出した第1の光電変換素子の特性と第2の光電変換素子の特性の平均を前記光電変換素子の特性とすることを特徴とする測定方法である。
本発明に従えば、色素増感型太陽電池の出力特性を、正確に、かつ迅速に測定することができる。
本発明に従えば、有機材料を用いた光電変換素子の出力特性を正確にかつ迅速に測定することができる機能を、コンピュータに実行させるためのプログラムとして実現することができる。
本発明に従えば、有機材料を用いた光電変換素子の出力特性を正確にかつ迅速に測定することができる機能を、コンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体として実現することができる。
Unit)と、プログラムおよび処理を行うために必要な情報を記憶するメモリとを含んで構成されるコンピュータを用いても実現できる。この場合、上述した実施の形態の機能を実現するプログラムを、前記メモリに格納しておき、格納したプログラムを逐次読出して、実行することによって実現される。
Unit)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出して、実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は、本発明を構成することになる。
Memory)、フラッシュROMなどによる半導体メモリを含め、固定的にプログラムを記録することができる記録媒体であればよい。
11 バイアス電源
12 電圧計
13 電流計
14,20 測定装置
21 制御部
22 演算部
23 記憶部
24 入力部
25 出力部
30 色素増感型太陽電池
31 支持体
32 電極層
33 多孔性半導体層
34 色素
35 キャリア輸送層
36 対極
37 電気回路
40,40a〜40d 電子
Claims (22)
- 光電変換素子に印加するバイアス電圧を変化させて、前記光電変換素子で生成される電圧値および前記電圧値における電流値を測定し、測定した電圧値と電流値に基づいて前記光電変換素子の電圧電流特性を生成する生成手段と、
前記生成手段で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出手段とを有する測定装置において、
前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出手段は、第1の電圧電流特性の電流値と第2の電圧電流特性の電流値とを平均することによって、第3の電圧電流特性を生成し、生成した第3の電圧電流特性から前記光電変換素子の特性を算出することを特徴とする測定装置。 - 前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項1記載の測定装置。
- 前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項1記載の測定装置。
- 光電変換素子に印加するバイアス電圧を変化させて、前記光電変換素子で生成される電圧値および前記電圧値における電流値を測定し、測定した電圧値と電流値に基づいて前記光電変換素子の電圧電流特性を生成する生成手段と、
前記生成手段で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出手段とを有する測定装置において、
前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出手段は、第1の電圧電流特性に基づいて第1の光電変換素子の特性、および、第2の電圧電流特性に基づいて第2の光電変換素子の特性を算出し、算出した第1の光電変換素子の特性と第2の光電変換素子の特性の平均を前記光電変換素子の特性とすることを特徴とする測定装置。 - 前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項4記載の測定装置。
- 前記生成手段は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項4記載の測定装置。
- 前記光電変換素子の特性は、短絡電流、開放電圧、曲線因子の少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の測定装置。
- 前記光電変換素子が色素増感型太陽電池であることを特徴とする請求項1〜7に記載の測定装置。
- 前記光電変換素子に印加するバイアス電圧の変化がステップ状であり、電流を測定する際のサンプリング遅延時間が、10ms以上、かつ、光電変換素子の時定数以下であることを特徴とする請求項8記載の測定装置。
- 前記サンプリング遅延時間が、40ms以上、かつ、100ms以下であることを特徴とする請求項9記載の測定装置。
- 光電変換素子に印加するバイアス電圧を変化させて、前記光電変換素子で生成される電圧値および前記電圧値における電流値を測定し、測定した電圧値と電流値に基づいて前記光電変換素子の電圧電流特性を生成する生成工程と、
前記生成工程で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出工程とを有する測定方法において、
前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出工程は、第1の電圧電流特性の電流値と第2の電圧電流特性の電流値とを平均することによって、第3の電圧電流特性を生成し、生成した第3の電圧電流特性から前記光電変換素子の特性を算出することを特徴とする測定方法。 - 前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項11記載の測定方法。
- 前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項11記載の測定方法。
- 光電変換素子に印加するバイアス電圧を変化させて、前記光電変換素子で生成される電圧値および前記電圧値における電流値を測定し、測定した電圧値と電流値に基づいて前記光電変換素子の電圧電流特性を生成する生成工程と、
前記生成工程で生成した電圧電流特性に基づいて前記光電変換素子の特性を算出する算出工程とを有する測定方法において、
前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させたときに第1の電圧電流特性を生成し、および、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させたときに第2の電圧電流特性を生成し、
前記算出工程は、第1の電圧電流特性に基づいて第1の光電変換素子の特性、および、第2の電圧電流特性に基づいて第2の光電変換素子の特性を算出し、算出した第1の光電変換素子の特性と第2の光電変換素子の特性の平均を前記光電変換素子の特性とすることを特徴とする測定方法。 - 前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項14記載の測定方法。
- 前記生成工程は、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を開放状態から短絡状態に変化させて第1の電圧電流特性を生成した後に、前記光電変換素子に印加するバイアス電圧を短絡状態から開放状態に変化させて第2の電圧電流特性を生成することを特徴とする請求項14記載の測定方法。
- 前記光電変換素子の特性は、短絡電流、開放電圧、曲線因子の少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項11〜16のいずれかに記載の測定方法。
- 前記光電変換素子が色素増感型太陽電池であることを特徴とする請求項11〜17に記載の測定方法。
- 前記光電変換素子に印加するバイアス電圧の変化がステップ状であり、電流を測定する際のサンプリング遅延時間が、10ms以上、かつ、光電変換素子の時定数以下であることを特徴とする請求項18記載の測定方法。
- 前記サンプリング遅延時間が、40ms以上、かつ、100ms以下であることを特徴とする請求項19記載の測定方法。
- コンピュータに請求項11〜20のいずれかに記載の工程を実行させるためのプログラム。
- 請求項21に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6169290A (ja) * | 1985-09-13 | 1986-04-09 | Hitachi Ltd | 色ズレ補正回路 |
WO2009157368A1 (ja) * | 2008-06-26 | 2009-12-30 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池モジュールの検査装置および検査方法 |
WO2013133141A1 (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-12 | ソニー株式会社 | 測定方法、測定装置および測定プログラム |
JP2013235937A (ja) * | 2012-05-08 | 2013-11-21 | Konica Minolta Inc | 太陽電池評価装置および該方法 |
JP2014145696A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Ushio Inc | 電圧電流特性測定方法および電圧電流特性測定装置並びにソーラーシミュレータ |
JP2015015879A (ja) * | 2013-06-03 | 2015-01-22 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 太陽電池のi−v特性測定装置、i−v特性測定方法、及び、i−v特性測定装置用プログラム |
CN104516394A (zh) * | 2013-10-03 | 2015-04-15 | 香港城市大学 | 一种用于调节电源的方法 |
JP2015519864A (ja) * | 2012-05-14 | 2015-07-09 | テュフ ラインランド(シャンハイ)カンパニー リミテッド | 光起電力素子の評価方法、測定システム構成及び測定システム構成の使用方法 |
JP2023511565A (ja) * | 2020-03-31 | 2023-03-20 | ファーウェイ デジタル パワー テクノロジーズ カンパニー リミテッド | 太陽電池ストリング、変換器、及び太陽電池発電システムのためのパラメータ曲線スキャン方法 |
-
2004
- 2004-04-28 JP JP2004134627A patent/JP4327651B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6169290A (ja) * | 1985-09-13 | 1986-04-09 | Hitachi Ltd | 色ズレ補正回路 |
WO2009157368A1 (ja) * | 2008-06-26 | 2009-12-30 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池モジュールの検査装置および検査方法 |
WO2013133141A1 (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-12 | ソニー株式会社 | 測定方法、測定装置および測定プログラム |
JP2013235937A (ja) * | 2012-05-08 | 2013-11-21 | Konica Minolta Inc | 太陽電池評価装置および該方法 |
JP2015519864A (ja) * | 2012-05-14 | 2015-07-09 | テュフ ラインランド(シャンハイ)カンパニー リミテッド | 光起電力素子の評価方法、測定システム構成及び測定システム構成の使用方法 |
US10305423B2 (en) | 2012-05-14 | 2019-05-28 | Tuv Rheinland (Shanghai) Co., Ltd. | Photovoltaic element evaluation method, measurement system configuration and process for using a measurement system configuration |
JP2014145696A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Ushio Inc | 電圧電流特性測定方法および電圧電流特性測定装置並びにソーラーシミュレータ |
JP2015015879A (ja) * | 2013-06-03 | 2015-01-22 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 太陽電池のi−v特性測定装置、i−v特性測定方法、及び、i−v特性測定装置用プログラム |
CN104516394A (zh) * | 2013-10-03 | 2015-04-15 | 香港城市大学 | 一种用于调节电源的方法 |
JP2023511565A (ja) * | 2020-03-31 | 2023-03-20 | ファーウェイ デジタル パワー テクノロジーズ カンパニー リミテッド | 太陽電池ストリング、変換器、及び太陽電池発電システムのためのパラメータ曲線スキャン方法 |
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