JP2005308644A - マスセンタリング方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】左右の偏心量が既知である第1の試験用ワークを所定の回転数で回転し、該偏心量によって生じた不釣り合いに基づく第1の計測値を計測し、左右の偏心量が既知であり且つその偏心量が第1のワークのものと異なる第2のワークを前記所定の回転数で回転し、該偏心量によって生じた不釣り合いに基づく第2の計測値を計測し、第1の計測値と第2の計測値に基づいて、被検ワークを前記所定の回転数で回転させることによって生じる被検ワークの不釣り合いに基づく第3の計測値から被検ワークの偏心量を算出するための影響係数を算出する。
【選択図】図2
Description
100 測定部
102 モータ
113 ベース
114a、114b ばね
115 テーブル
116a、116b 軸受
117a、117b テーブル側壁
118a、118b ピン
119 プーリ
123 シャフト
124 ケレー
126a、26b 変位センサ
200 演算部
300 加工部
500 ボス
C クランク軸
C11a、C11b 仮穴
C12a、C12b 係合孔
Claims (14)
- 回転体である被検ワークの偏心量を計測するマスセンタリング方法であって、
左右の偏心量が既知である第1の試験用ワークを所定の回転数で回転し、該偏心量によって生じた不釣り合いに基づく第1の計測値を計測し、
左右の偏心量が既知であり、且つその偏心量が第1のワークのものと異なる第2のワークを前記所定の回転数で回転し、該偏心量によって生じた不釣り合いに基づく第2の計測値を計測し、
該第1の計測値と該第2の計測値に基づいて、該被検ワークを前記所定の回転数で回転させることによって生じる該被検ワークの不釣り合いに基づく第3の計測値から該被検ワークの偏心量を算出するための影響係数を算出する、
ことを特徴とする、マスセンタリング方法。 - 前記第1、第2、及び第3の計測値は、該第1及び第2の試験用ワーク及び該被検ワークを回転可能に支持する軸受が固定され、且つ弾性支持されたテーブルの所定の二箇所の変位を計測することによって得られたものであることを特徴とする、請求項1に記載のマスセンタリング方法。
- 前記第1、第2、及び第3の計測値は、該テーブルに該第1及び第2の試験用ワーク及び該被検ワークを設置したときの該テーブルの所定の二箇所の位置を原点とする、該テーブルの所定の二箇所それぞれの変位の該第1及び第2の試験用ワーク及び該被検ワークの回転軸に垂直な所定方向成分の最大値をベクトル長さとし、該変位が最大値を取ったときの該第1及び第2の試験用ワーク又は該被検ワークの回転軸周りの位相をベクトルの方向とするベクトル量であることを特徴とする、請求項2に記載のマスセンタリング方法。
- 前記第1の計測値の該テーブルの所定の二箇所の一方でのベクトルをA1、他方でのベクトルをB1とし、
該第1の試験用ワークの左側の偏心量ベクトルをUa1、右側の偏心量ベクトルをUb1とし、
前記第2の計測値の該テーブルの所定の二箇所の一方でのベクトルをA2、他方でのベクトルをB2とし、
該第1の試験用ワークの左側の偏心量ベクトルをUa2、右側の偏心量ベクトルをUb2とし、
Ua1=ν1×A1 + ν2×B1
Ub1=ν3×A1 + ν4×B1
Ua2=ν1×A2 + ν2×B2
Ub2=ν3×A2 + ν4×B2
を解いて影響係数ν1、ν2、ν3、ν4を算出し、
前記第3の計測値の該テーブルの所定の二箇所の一方でのベクトルA、他方でのベクトルBから、該被検ワークの左側の偏心量ベクトルUa、右側の偏心量ベクトルUbを、
Ua=ν1×A + ν2×B
Ub=ν3×A + ν4×B
を用いて算出することを特徴とする、請求項3に記載のマスセンタリング方法。 - 該テーブルは、前記所定方向のみに変位可能となるように支持されていることを特徴とする、請求項3または請求項4のいずれかに記載のマスセンタリング方法。
- 該第1の試験用ワークは、左右不釣り合い量が0と見なせるマスターワークの一端の中心に偏心量が第1の値である第1のボスを取り付け、且つ該マスターワークの他端の中心に偏心量が第2の値である第2のボスを取り付けたものであり、
該第2の試験用ワークは、該マスターワークの一端の中心に該第2のボスを取り付け、且つ該マスターワークの他端の中心に該第1のボスを取り付けたものである、
ことを特徴とする、請求項1から請求項5のいずれかに記載のマスセンタリング方法。 - 該第1の値は0であることを特徴とする、請求項6に記載のマスセンタリング方法。
- 回転体である被検ワークの偏心量を計測するマスセンタリング装置であって、
該被検ワークを所定の回転軸周りに回転可能に支持する支持手段と、
該被検ワークを所定の回転数で回転させる回転手段と、
前記保持手段と一体となっているテーブルと、
前記テーブルを少なくとも該回転軸に垂直な所定方向に振動可能に弾性支持するばねと、
前記テーブルの第1の箇所及び第2の箇所の変位を計測するセンサと、
左右の偏心量が既知である第1の試験用ワークを前記所定の回転数で回転したときの前記センサの計測結果である第1の計測値と、左右の偏心量が既知であり且つその偏心量が第1のワークのものと異なる第2のワークを前記所定の回転数で回転したときの前記センサの計測結果である第2の計測値に基づいてあらかじめ算出された影響係数と、被検ワークを前記所定の回転数で回転したときの前記センサの計測結果である第3の計測値から該被検ワークの左右の偏心量を算出する、演算手段と、
を有することを特徴とする、マスセンタリング装置。 - 前記第1、第2、及び第3の計測値は、前記テーブルに該第1及び第2の試験用ワーク及び該被検ワークを設置したときの前記テーブルの前記第1及び第2の箇所の位置を原点とする、該テーブルの前記第1及び第2の箇所それぞれの変位の該所定方向成分の最大値をベクトル長さとし、該変位が最大値を取ったときの該回転軸周りの位相をベクトルの方向とするベクトル量であることを特徴とする、請求項8に記載のマスセンタリング装置。
- 前記第1の計測値の前記第1の箇所でのベクトルをA1、前記第2の箇所でのベクトルをB1とし、
該第1の試験用ワークの左側の偏心量ベクトルをUa1、右側の偏心量ベクトルをUb1とし、
前記第2の計測値の前記第1の箇所でのベクトルをA2、前記第2の箇所でのベクトルをB2とし、
該第1の試験用ワークの左側の偏心量ベクトルをUa2、右側の偏心量ベクトルをUb2とし、
Ua1=ν1×A1 + ν2×B1
Ub1=ν3×A1 + ν4×B1
Ua2=ν1×A2 + ν2×B2
Ub2=ν3×A2 + ν4×B2
を解いて影響係数ν1、ν2、ν3、ν4を算出し、
前記第3の計測値の前記第1の箇所でのベクトルA、前記第2の箇所でのベクトルBから、該被検ワークの左側の偏心量ベクトルUa、右側の偏心量ベクトルUbを、
Ua=ν1×A + ν2×B
Ub=ν3×A + ν4×B
を用いて算出することを特徴とする、請求項9に記載のマスセンタリング方法。 - 該テーブルは、前記所定方向のみに変位可能となるように支持されていることを特徴とする、請求項8から請求項10のいずれかに記載のマスセンタリング方法。
- 前記支持手段は、該被検ワークの左右両端に形成された穴のそれぞれに挿入されるピンと、前記ピンを回転可能に支持する軸受と、を有することを特徴とする、請求項8から請求項11のいずれかに記載のマスセンタリング装置。
- 該第1の試験用ワークは、左右不釣り合い量が0と見なせるマスターワークの一端の中心に偏心量が第1の値である第1のボスを取り付け、且つ該マスターワークの他端の中心に偏心量が第2の値である第2のボスを取り付けたものであり、
該第2の試験用ワークは、該マスターワークの一端の中心に該第2のボスを取り付け、且つ該マスターワークの他端の中心に該第1のボスを取り付けたものであり、
前記ピンを該第1及び第2のボスに係合させることによって該第1及び第2の試験用ワークは前記支持手段に支持される、
ことを特徴とする、請求項12に記載のマスセンタリング装置。 - 該第1の値は0であることを特徴とする、請求項13に記載のマスセンタリング装置。
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JP2004128583A JP4276124B2 (ja) | 2004-04-23 | 2004-04-23 | マスセンタリング方法及び装置 |
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JP2010281743A (ja) * | 2009-06-05 | 2010-12-16 | Ihi Corp | 影響係数取得方法 |
JP2012073122A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Ihi Corp | 影響係数補正方法及び補正機能付き単体バランス装置 |
JP2012073121A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Ihi Corp | 影響係数補正方法及び補正機能付き単体バランス装置 |
CN105890843A (zh) * | 2016-04-18 | 2016-08-24 | 神华集团有限责任公司 | 动平衡方法和装置 |
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- 2004-04-23 JP JP2004128583A patent/JP4276124B2/ja not_active Expired - Lifetime
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