JP2005303419A - Diplexer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、移動体通信装置に使用されるダイプレクサに関する。 The present invention relates to a diplexer used in a mobile communication device.
従来のダイプレクサを図6の回路図及び図7の分解斜視図を参照して説明する。図6において、低域通過フィルタLPFは第1のインダクタL1、第1のコンデンサC11、C12を有し、第1のポートP1と第2のポートP2との間に接続される。高域通過フィルタHPFは第2のインダクタインダクタL2、第2のコンデンサC21〜C23を有し、第2のポートP2と第3のポートP3との間に接続される。 A conventional diplexer will be described with reference to a circuit diagram of FIG. 6 and an exploded perspective view of FIG. In FIG. 6, the low-pass filter LPF has a first inductor L1 and first capacitors C11 and C12, and is connected between the first port P1 and the second port P2. The high-pass filter HPF includes a second inductor inductor L2 and second capacitors C21 to C23, and is connected between the second port P2 and the third port P3.
図7において、第2、第3及び第6のシート層512、513、516の上面にはコンデンサ電極Cp51、Cp52、コンデンサ電極Cp53、Cp54、コンデンサ電極Cp55、Cp56がそれぞれ形成される。第4のシート層514の上面にはストリップライン電極St51、St52が形成される。第5及び第7のシート層515、517の上面にはグランド電極Gp51、グランド電極Gp52がそれぞれ形成される。また、第2〜第5のシート層512〜515上には、各シート層512〜515を貫通するビアホール電極Vh5が形成される。
In FIG. 7, capacitor electrodes Cp51 and Cp52, capacitor electrodes Cp53 and Cp54, and capacitor electrodes Cp55 and Cp56 are formed on the upper surfaces of the second, third and
第1〜第7のシート層511〜517が積み重ねられ、一体的に焼結されることにより多層基板51となる。そして、ストリップライン電極St51とコンデンサ電極Cp51、Cp53、Cp55、及びストリップライン電極St52とコンデンサ電極Cp54、Cp56とはそれぞれ多層基板51の内部にてビアホール電極Vh5で接続される。また、多層基板51の側面及び表裏面には、コンデンサ電極Cp51に電気的に接続され、第1及び第2のポートP1、P2となる外部端子T51、T52と、コンデンサ電極Cp52に電気的に接続され、第3のポートP3となる外部端子T53と、グランド電極Gp51、Gp52に電気的に接続され、グランド端子となる外部端子T54が形成される。
The first to
そして、ストリップライン電極St51、St52で第1及び第2のインダクタL1、L2をそれぞれ形成する。また、コンデンサ電極Cp51、Cp53で第1のコンデンサC11、コンデンサ電極cp55とグランド電極Gp51、Gp52とで第1のコンデンサC12をそれぞれ形成する。さらに、コンデンサ電極Cp51、Cp54で第2のコンデンサC21、コンデンサ電極Cp52、Cp54で第2のコンデンサc22、コンデンサ電極Cp56とグランド電極Gp51、Gp52とで第2のコンデンサc23をそれぞれ形成する(例えば、特許文献1参照。)。 Then, the first and second inductors L1 and L2 are formed by the stripline electrodes St51 and St52, respectively. The capacitor electrodes Cp51 and Cp53 form the first capacitor C11, the capacitor electrode cp55 and the ground electrodes Gp51 and Gp52 form the first capacitor C12. Further, the capacitor electrode Cp51, Cp54 forms the second capacitor C21, the capacitor electrode Cp52, Cp54 forms the second capacitor c22, and the capacitor electrode Cp56 and the ground electrode Gp51, Gp52 form the second capacitor c23 (for example, patents) Reference 1).
以上の構成では、ローパスフィルタLPFを構成する第1のインダクタL1とハイパスフィルタHPFを構成する第2のインダクタL2とは、それぞれストリップライン電極St51とストリップラインSt52によって形成されているが、これらストリップラインSt51、St52が第4のシート層514上に隣接して形成されているので相互に結合し合って第1のポートP1と第3のポートP3との間のアイソレーションが低下する。
In the above configuration, the first inductor L1 constituting the low-pass filter LPF and the second inductor L2 constituting the high-pass filter HPF are formed by the stripline electrode St51 and the stripline St52, respectively. Since St51 and St52 are formed adjacent to each other on the
本発明は、ハイパスフィルタ側とローパスフィルタ側との結合を無くして各ポート間のアイソレーションを向上することを目的とする。 An object of the present invention is to improve isolation between ports by eliminating coupling between a high-pass filter side and a low-pass filter side.
上記課題に対して、本発明は、インダクタンス素子と容量素子と有すると共に、共通端子と第1の入出力端子との間に介挿されたハイパスフィルタ部と、インダクタンス素子と容量素子と有すると共に、共通端子と第2の入出力端子との間に介挿されたローパスフィルタ部と、前記ハイパスフィルタ部と前記ローパスフィルタ部とをその面上に配設する回路基板とを備え、前記回路基板上には、前記ハイパスフィルタ部の前記容量素子と前記ローパスフィルタ部の前記容量素子とが互いに間隔を置いて並設され、前記ハイパスフィルタ部の前記インダクタンス素子と前記ローパスフィルタ部の前記インダクタンス素子とを、前記容量素子を形成した領域を挟んで両側の領域に互いに離間してそれぞれ配設した。 In response to the above problem, the present invention has an inductance element and a capacitive element, and has a high-pass filter portion interposed between the common terminal and the first input / output terminal, an inductance element and a capacitive element, A low-pass filter portion interposed between the common terminal and the second input / output terminal, and a circuit board on which the high-pass filter portion and the low-pass filter portion are disposed, The capacitive element of the high-pass filter unit and the capacitive element of the low-pass filter unit are arranged in parallel with a gap therebetween, and the inductance element of the high-pass filter unit and the inductance element of the low-pass filter unit are In addition, they are spaced apart from each other on both sides of the area where the capacitive element is formed.
また、前記ハイパスフィルタ部は所定周波数以下の低域側周波数帯を減衰する低域トラップ回路と前記低域トラップ回路に直列に介挿されたハイパスフィルタとを有し、前記ローパスフィルタ部は前記所定周波数以上の高域側周波数帯を減衰する高域トラップ回路と前記高域トラップ回路に直列に介挿されたローパスフィルタとを有し、前記低域トラップ回路、前記ハイパスフィルタ、前記高域トラップ回路、前記ローパスフィルタはそれぞれ前記インダクタンス素子と前記容量素子とを有し、互いに間隔を置いて並設された前記低域トラップ回路の前記容量素子と前記高域トラップ回路の前記容量素子との領域の両側には、前記低域トラップ回路の前記インダクタンス素子と前記高域トラップ回路の前記インダクタンス素子とを互いに離間してそれぞれ配設し、互いに間隔を置いて並設された前記ハイパスフィルタの前記容量素子と前記ローパスフィルタの前記容量素子との領域の両側には、前記ハイパスフィルタの前記インダクタンス素子と前記ローパスフィルタの前記インダクタンス素子とを互いに離間してそれぞれ配設した。 The high-pass filter unit includes a low-pass trap circuit that attenuates a low-frequency band below a predetermined frequency, and a high-pass filter that is inserted in series with the low-pass trap circuit, and the low-pass filter unit includes the predetermined low-pass filter unit. A high-frequency trap circuit for attenuating a high-frequency band above the frequency and a low-pass filter inserted in series with the high-frequency trap circuit, the low-frequency trap circuit, the high-pass filter, and the high-frequency trap circuit Each of the low-pass filters includes the inductance element and the capacitive element, and the low-pass filter has a region between the capacitive element of the low-frequency trap circuit and the capacitive element of the high-frequency trap circuit that are arranged in parallel with each other at an interval. On both sides, the inductance element of the low-frequency trap circuit and the inductance element of the high-frequency trap circuit are separated from each other. Arranged on both sides of a region of the capacitive element of the high-pass filter and the capacitive element of the low-pass filter, which are arranged in parallel with each other at a distance from each other, on the inductance element of the high-pass filter and the low-pass filter. The inductance elements are arranged apart from each other.
また、前記低域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記低域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記高域トラップ回路は帯域の異なる複数の前記高域側周波数帯に対応して複数設けられ、前記複数の低域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記低域側周波数帯に対応する低域トラップ回路を前記共通端子側に配設し、前記複数の高域トラップ回路のうち前記所定周波数側に近い前記高域側周波数帯に対応する高域トラップ回路を前記共通端子側に配設した。 A plurality of the low-frequency trap circuits are provided corresponding to the plurality of low-frequency bands in different bands, and a plurality of the high-frequency trap circuits are provided corresponding to the plurality of high-frequency bands in different bands. A low-frequency trap circuit corresponding to the low-frequency side frequency band close to the predetermined frequency side among the plurality of low-frequency trap circuits is disposed on the common terminal side, and among the plurality of high-frequency trap circuits, the A high frequency trap circuit corresponding to the high frequency band close to a predetermined frequency side is disposed on the common terminal side.
また、前記インダクタンス素子と前記容量素子とを薄膜、或いは厚膜によって形成した。 Further, the inductance element and the capacitive element are formed of a thin film or a thick film.
請求項1に記載のダイプレクサによれば、回路基板上には、ハイパスフィルタ部の容量素子とローパスフィルタ部の容量素子とが互いに間隔を置いて並設され、ハイパスフィルタ部のインダクタンス素子とローパスフィルタ部のインダクタンス素子とを、容量素子を形成した領域を挟んで両側の領域に互いに離間してそれぞれ配設したので、ハイパスフィルタ部を構成するインダクタンス素子とローパスフィルタ部を構成するインダクタンス素子とが相互に離間されるので互いに結合しにくくなり、第1の入出力端子と第2の入出力端子との間の相互アイソレーションが向上する。
According to the diplexer according to
また、請求項2に記載のダイプレクサによれば、ハイパスフィルタ部は低域トラップ回路とハイパスフィルタとを有し、ローパスフィルタ部は高域トラップ回路とローパスフィルタとを有し、低域トラップ回路、ハイパスフィルタ、高域トラップ回路、ローパスフィルタはそれぞれインダクタンス素子と容量素子とを有し、互いに間隔を置いて並設された低域トラップ回路の容量素子と高域トラップ回路の容量素子との領域の両側には、低域トラップ回路のインダクタンス素子と高域トラップ回路のインダクタンス素子とを互いに離間してそれぞれ配設し、互いに間隔を置いて並設されたハイパスフィルタの容量素子とローパスフィルタの容量素子との領域の両側には、ハイパスフィルタのインダクタンス素子とローパスフィルタのインダクタンス素子とを互いに離間してそれぞれ配設したので、低域トラップ回路と高域トラップ回路とは相互のインダクタンス素子が結合しない。また、ハイパスフィルタとローパスフィルタとは相互のインダクタンス素子が結合しない。
According to the diplexer according to
また、請求項3に記載のダイプレクサによれば、複数の低域トラップ回路のうち所定周波数側に近い低域側周波数帯に対応する低域トラップ回路を共通端子側に配設し、複数の高域トラップ回路のうち所定周波数側に近い高域側周波数帯に対応する高域トラップ回路を共通端子側に配設したので、ハイパスフィルタ部とローパスフィルタ部とのそれぞれの通過特性が良くなって相互のアイソレーションが向上する。 According to the diplexer of the third aspect, the low frequency trap circuit corresponding to the low frequency band close to the predetermined frequency side among the plurality of low frequency trap circuits is disposed on the common terminal side, and a plurality of high frequency trap circuits are provided. Since the high-frequency trap circuit corresponding to the high-frequency band close to the predetermined frequency side is arranged on the common terminal side, the high-pass filter section and the low-pass filter section have improved pass characteristics and are mutually compatible. This improves the isolation.
また、請求項4に記載のダイプレクサによれば、インダクタンス素子と容量素子とを薄膜、或いは厚膜によって形成したので、小型化が図れる。
ンが向上する。
According to the diplexer of the fourth aspect, since the inductance element and the capacitive element are formed of a thin film or a thick film, the size can be reduced.
Improve.
図1乃至図5に従って本発明のダイプレクサを説明する。図1は本発明のダイプレクサの1実施形態を示す回路図、図2は伝送特性図、図3乃至図5は図1のダイプレクサ回路を構成する回路基板のパターン図であり、図3は上面のパターン図、図4は内層面のパターン図、図5が下面のパターン図である。なお、図4及び図5のパターン図は上面側から見た透視図である。 The diplexer of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a diplexer of the present invention, FIG. 2 is a transmission characteristic diagram, FIGS. 3 to 5 are pattern diagrams of a circuit board constituting the diplexer circuit of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a pattern diagram of the inner layer surface, and FIG. 5 is a pattern diagram of the lower surface. 4 and 5 are perspective views seen from the upper surface side.
まず、図1において、アンテナ接続用の共通端子1と第1の入出力端子2との間は所定周波数(例えば2.2GHzの分波周波数)よりも周波数が高い高域側周波数帯、例えば、ブルートゥース(BTと略す)(ノキア社等の登録商標)システムの送受信周波数帯(帯域は2.4GHz〜2.5GHz)の信号と、無線LANシステムの送受信周波数帯(帯域は4.9GHz〜6.0GHz)の信号とを伝送し、共通端子1と第2の入出力端子3との間は、所定周波数よりも周波数が低い定期側周波数帯、例えば、GSMシステムの送受信周波数帯(帯域は806MHz〜960MHz)の信号と、DCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯(帯域は1710MHz〜1990MHz)の信号とを伝送する。
First, in FIG. 1, a high frequency band higher than a predetermined frequency (for example, 2.2 GHz demultiplexing frequency) between the
そして、共通端子1と第1の入出力端2との間にハイパスフィルタ部10が設けられ、共通端子1と第2の入出力端子3との間にローパスフィルタ部11が設けられる。
A high
ハイパスフィルタ部10は、直列に介挿された2つの低域トラップ回路4、5とハイパスフィルタ6とから構成される。第1の低域トラップ回路4はインダクタンス素子4aと容量素子4bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、1900MHz近傍に選ばれてDCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯を減衰する。第2の低域トラップ回路5もインダクタンス素子5aと容量素子5bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、920MHz近傍に選ばれてGSMシステムの送受信周波数帯を減衰する。
The high-
そして、第1の低域トラップ回路4が共通端子1側に配置され、ハイパスフィルタ6は第1の入出力端子2側に配置され、第2の低域トラップ回路5が第1の低域トラップ回路4とハイパスフィルタ6との間に介挿される。
The first low-frequency trap circuit 4 is disposed on the
ハイパスフィルタ6は半区間のハイパスフィルタを有し、これを構成するインダクタンス素子6aは第2の低域トラップ回路5の出力端とグランドとの間に接続され、容量素子6bは第2の低域トラップ回路の出力端と第1の入出力端子2との間に接続される。
The high-
また、ローパスフィルタ部11は、直列に介挿された2つの高域トラップ回路7、8とローパスフィルタ9とから構成される。第1の高域トラップ回路7はインダクタンス素子7aと容量素子7bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば、2.45GHz近傍に選ばれてブルートゥース(ノキア社等の登録商標)システムの送受信周波数帯を減衰する。第2の高域トラップ回路8もインダクタンス素子8aと容量素子8bとの並列共振回路で構成され、その共振周波数は、例えば5.5GHz近傍に選ばれて無線LANシステムの送受信周波数帯を減衰する。
The low-pass filter unit 11 includes two high-
そして、第1の高域トラップ回路7が共通端子1側に配置され、ローパスフィルタ9が第2の入出力端子3側に配置され、第2の高域トラップ回路8が第1の高域トラップ回路7とローパスフィルタ9との間に介挿される。
The first high-frequency trap circuit 7 is disposed on the
ローパスフィルタ9は半区間のローパスフィルタを有し、これを構成するインダクタンス素子9aは第2の高域トラップ回路8の出力端と第2の入出力端3との間に接続され、容量素子9bは第2の高域トラップ回路の出力端とグランドとの間に接続される。
The low-
以上の構成では、所定周波数に近い第1の低域トラップ回路4(1900MHz)と第1の高域とラップ回路7(2.45GHz)とが共通端子1側に配設されるので、第1の入出力端子2と第2の入出力端子3との間のアイソレーションが向上する。
In the above configuration, the first low frequency trap circuit 4 (1900 MHz), the first high frequency, and the wrap circuit 7 (2.45 GHz) close to the predetermined frequency are disposed on the
以上の構成における共通端子1と第1の入出力端子2との間の伝送特性及び共通端子1と第2の入出力端子3との間の伝送特性はそれぞれ図2のA、Bのようになる。図2における周波数ポイント1乃至4はそれぞれGSMシステムの送受信周波数帯、DCSシステム及びPCSシステムの送受信周波数帯、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯、無線LANシステムの送受信周波数帯の中心周波数の位置を示す。
The transmission characteristics between the
伝送特性Aにおける減衰極A1、A2はそれぞれ第1の低域トラップ回路4と第2の低域トラップ回路5によるものである。この減衰極A1、A2の周波数においては共通端子1に入力されたGSMシステムの送受信周波数帯及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号は第1及び第2の低域トラップ回路4、5によって反射されるので、それらの信号は効率よく第2の入出力端子3に出力される。従って伝送特性Bに示すように周波数ポイント1及び周波数ポイント2では減衰量が極めて少なくなる。また、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯の信号及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号はGSMシステムの送受信周波数帯の信号及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号による妨害を受けない。
The attenuation poles A1 and A2 in the transmission characteristic A are due to the first low-frequency trap circuit 4 and the second low-frequency trap circuit 5, respectively. At the frequencies of the attenuation poles A1 and A2, signals in the transmission / reception frequency band of the GSM system and the transmission / reception frequency band of the DCS system / PCS system input to the
また、伝送特性Bにおける減衰極B1、B2はそれぞれ第1の高域トラップ回路7と第2の高域トラップ回路8によるものである。この減衰極B1、B2の周波数においては共通端子1に入力されたブルートゥースシステムの送受信周波数帯及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号が第1及び第2の高域トラップ回路7、8によって反射されるので、それらの信号は効率よく第1の入出力端子2に出力される。従って伝送特性Aに示すように周波数ポイント3及び周波数ポイント4では減衰量が極めて少なくなる。また、GSMシステムの送受信周波数帯の信号及びDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯の信号はブルートゥースシステムの送受信周波数帯の信号及び無線LANシステムの送受信周波数帯の信号による妨害を受けない。
The attenuation poles B1 and B2 in the transmission characteristic B are due to the first high-frequency trap circuit 7 and the second high-
なお、伝送特性Aにおける減衰極A3は第1の高域トラップ回路7と第2の高域トラップ回路8とローパスフィルタ9における容量素子9bとによる直列共振によるものであり、これは減衰極B1とB2との間の周波数に現れる。よって、ブルートゥースシステムの送受信周波数帯と無線LANシステムの送受信周波数帯との間に存在する不要な信号が減衰するので、この信号による妨害が軽減される。
The attenuation pole A3 in the transmission characteristic A is due to series resonance by the first high-frequency trap circuit 7, the second high-
同様に、伝送特性Bにおける減衰極B3は第1の低域トラップ回路4と第2の低域トラップ回路5とハイパスフィルタ6におけるインダクタンス素子6aとによる直列共振によるものであり、これは減衰極A1とA2との間の周波数に現れる。よって、GSMシステムの送受信周波数帯とDCSシステム/PCSシステムの送受信周波数帯との間に存在する不要な信号が減衰するので、この信号による妨害が軽減される。
Similarly, the attenuation pole B3 in the transmission characteristic B is due to series resonance by the
以上の回路構成を有するダイプレクサは、複数枚の積層板からなる方形の回路基板20に構成されている。
この回路基板(多層基板)20は、低温焼成セラミック(LTCC)等の材料で、2層の積層板20a、20bで形成され、図3は1層目の積層板20aの上面に形成されたパターン図を示し、ストリップ線路21は図1のインダクタンス素子4aを構成するものであり、その一端側の電極21aと他端側の電極21bとが上下方向に重なり合っており、それらの電極21a、21b間には、絶縁材からなる誘電体(図示せず、以下同じ)が設けられる。
よって、2つの電極21a、21bとその間の誘電体とによって図1の容量素子4bが構成される。
The diplexer having the above circuit configuration is configured on a rectangular circuit board 20 made of a plurality of laminated plates.
The circuit board (multilayer board) 20 is made of a material such as a low-temperature fired ceramic (LTCC), and is formed of two layers of
Accordingly, the
また、ストリップ線路22は図1のインダクタンス素子7aを構成するものであり、その一端側の電極22aと他端側の電極22bとが上下方向に重なり合っており、それらの電極22a、22b間には絶縁材からなる誘電体が設けられる。
よって、2つの電極22a、22bとその間の誘電体とによって図1の容量素子7bが構成される。
また、ストリップ線路21,22の一端側同士は互いに接続されると共に、ストリップ線路21の一端側の電極21aとストリップ線路22の一端側の電極22aとは接続され、それらの近傍のビアホール23aが設けられている。
Further, the
Therefore, the capacitive element 7b of FIG. 1 is configured by the two
The strip lines 21 and 22 are connected to each other at one end, the
そして、ストリップ線路21の電極21a、21bとストリップ線路22の電極22a、22bとが互いに間隔を置いて並設され、それらの並設された領域を挟んでその領域の両側には、ストリップ線路21とストリップ線路22とが離間した状態で配設される。
Then, the
ストリップ線路24は図1のインダクタンス素子5aを構成するものであり、その一端側の電極24aは、ストリップ線路21の他端側の電極21bに接続されると共に、他端側の電極24bと上下方向に重なり合っており、それらの電極24aと電極24bとの間には絶縁材からなる誘電体が設けられる。
よって、2つの電極24a、24bとその間の誘電体によって図1の容量素子5bが構成される。
また、ストリップ線路24は渦巻き状に形成されており、この渦巻き状部を横切るストリップ線路24の他端側は、絶縁材からなる誘電体(図示せず)によって、渦巻き状部から絶縁された状態となっている。
The
Therefore, the
Further, the
ストリップ線路25は図1のインダクタンス素子8aを構成するものであり、その一端側の電極25aは、ストリップ線路22の他端側の電極22bに接続されると共に、他端側の電極25bと上下方向に重なり合っており、それらの電極25aと電極25bとの間には絶縁材からなる誘電体が設けられる。
よって、2つの電極25a、25bとその間の誘電体とによって図1の容量素子8bが構成される。
The
Accordingly, the capacitive element 8b of FIG. 1 is configured by the two
そして、ストリップ線路24の電極24a、24bとストリップ線路25の電極25a、25bとが互いに間隔を置いて並設され、それらの並設された領域を挟んでその領域の両側には、ストリップ線路24とストリップ線路25とが離間した状態で配設される。
Then, the
ストリップ線路26は図1のインダクタンス素子6aを構成するものであり、その一端側の電極26aはストリップ線路24の他端側の電極24bに接続されると共に、他端側にはビアホール27aが設けられる。
また、電極26aと上下方向で重なる電極28が設けられ、電極26aと電極28との間には、絶縁材からなる誘電体が設けられる。
従って、電極26aと電極28とその間の誘電体とによって図1の容量素子6bが構成されると共に、電極28にはビアホール29aが設けられる。
The
In addition, an
Accordingly, the
ストリップ線路30は図1のインダクタンス素子9aを構成するものであり、その一端側の電極30aはストリップ線路25の他端側の電極25bに接続されると共に、他端側にはビアホール31aが設けられる。
そして、一端側の電極30aと上下方向で重なる電極32が設けられ、電極30aと電極32との間には、絶縁材からなる誘電体が設けられる。
従って、電極30aと電極32とその間の誘電体とによって図1の容量素子9bが構成されると共に、電極32にはビアホール33aが設けられる。
The
And the
Accordingly, the
そして、ストリップ線路26の電極26aとストリップ線路30の電極30aとが互いに間隔を置いて配設され、それらの配設された領域を挟んでその領域の両側には、ストリップ線路26とストリップ線路30とが離間した状態で配設される。
The
以上のように、回路基板20の中央部側には、各容量素子4b〜9bを構成する電極21a/21b、24a/24b、26a/28と、電極22a/22b、25a/25b、30a/32とが2列に並ぶように配設され、これらの電極の両側には、互いに離間し、且つ、並設された状態でストリップ線路21、24、26とストリップ線路22、25、30が2列に配設される。
よって、ハイパスフィルタ部10を構成するストリップ線路21、24、26とローパスフィルタ部11を構成するストリップ線路22、25、30とが相互に離間されるので互いに結合しにくくなり、第1の入出力端子2と第2の入出力端子3との間の相互アイソレーションが向上する。
As described above, the
Therefore, since the strip lines 21, 24, and 26 constituting the high-
また、ハイパスフィルタ部10を構成するストリップ線路21、24、26とローパスフィルタ部11を構成するストリップ線路22、25、30、及び各容量素子4b〜9bを構成する電極21a/21b、24a/24b、26a/28と、電極22a/22b、25a/25b、30a/32、更に誘電体は、蒸着法やスパッタ等の薄膜技術、或いは印刷や塗布等の厚膜技術によって形成されている。
Further, the strip lines 21, 24 and 26 constituting the high-
そして、これ等が薄膜によって形成される場合、ストリップ線路や電極は、銀やアルミ等が使用されると共に、誘電体は、窒化シリコン、チタン酸バリウム系、チタン酸鉛系等が使用され、また、これ等が厚膜によって形成される場合、ストリップ線路や電極は、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用されると共に、誘電体は、窒化シリコン、チタン酸バリウム系、チタン酸鉛系等が使用される。 When these are formed by a thin film, the strip line and electrode are made of silver or aluminum, and the dielectric is made of silicon nitride, barium titanate, lead titanate, or the like. When these are formed by a thick film, the strip line and electrode are made of silver paste or silver-palladium paste, and the dielectric is made of silicon nitride, barium titanate, lead titanate, or the like. used.
図4は2層目の積層板20bの上面に設けられた内層パターン図を示し、引き出し線路41の一端には、ビアホール23bが設けられ、このビアホール23bは、1層目のビアホール23aに対応した位置に設けられて、ビアホール23aに接続導体(図示せず)を介して接続される。
また、引き出し線路41の他端には、ビアホール42bが設けられ、このビアホール42bは、積層板20bの1つの辺20b1の近傍で、且つ、辺20b1の中央部に設けられている。
FIG. 4 shows an inner layer pattern diagram provided on the upper surface of the second-
In addition, a via
引き出し線路43の一端には、ビアホール29bが設けられ、このビアホール29bは、1層目のビアホール29aに対応した位置に設けられて、ビアホール29aに接続導体(図示せず)を介して接続される。
引き出し線路43の他端には、ビアホール44bが設けられ、このビアホール44bは、積層板20bの辺20b1と対向する辺20b2側の1つの角部の近傍に設けられている。
A via
A via
また、引き出し線路45の一端には、ビアホール31bが設けられ、このビアホール31bは、1層目のビアホール31aに対応した位置に設けられて、ビアホール31aに接続導体(図示せず)を介して接続される。
引き出し線路45の他端には、ビアホール46bが設けられ、このビアホール46bは、辺20b2側のもう一つの角部の近傍に設けられている。
Also, a via
A via
また、2層目の積層板20bには、ビアホール27b、33bが設けられ、このビアホール27b、33bは、1層目のビアホール27a、33aに対応した位置に設けられ、ビアホール27bはビアホール27aに接続導体(図示せず)を介して接続されると共に、ビアホール33bはビアホール33aに接続導体(図示せず)接続される。
そして、引き出し線路41,43,45は、何れも厚膜技術によって形成されたものとなっており、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が印刷や塗布されて形成されている。
The
The lead lines 41, 43, 45 are all formed by thick film technology, and are formed by printing or applying a silver paste, a silver-palladium paste, or the like.
図5は2層目の積層板20bの下面のパターンを示し、積層板20bの下面には、ビアホール42b、44b、46bにそれぞれ接続導体(図示せず)を介して接続された端子電極51、52、53が設けられる。
端子電極51は図1の入力端子(共通端子)1となり、端子電極52は図1の第1の入出力端子2となり、端子電極53は図1の第2の入出力端子3となる。 また、積層板20bの周縁部近傍の適宜の位置には、複数の接地電極54と、これら接地電極54に接続された、広い面積の接地導体55が設けられ、そして、接地導体55にはビアホール33b、29bが接続導体(図示せず)を介して接続される。
FIG. 5 shows a pattern of the lower surface of the second
The
以上の構成によって、ストリップ線路21とストリップ線路22は、ビアホール23a、23bと引き出し線路41とビアホール42とを介して端子電極51に接続され、また、電極28はビアホール29a、29bと引き出し線路43とビアホール44bとを介して端子電極52に接続される。
また、ストリップ線路26はビアホール27a、27bを介して接地導体55に接続され、更に、電極32はビアホール33a、33bを介して接地導体55に接続され、更に又、ストリップ線路30はビアホール31a、31bと引き出し線路45とビアホール46bとを介して端子電極53に接続される。
With the above configuration, the
The
そして、積層板20bの下面に設けられた端子電極51、52、53と接地電極54、及び接地導体55は、蒸着法やスパッタ等の薄膜技術、或いは印刷や塗布等の厚膜技術によって形成され、薄膜によって形成される場合は、銀やアルミ等が使用されると共に、厚膜によって形成される場合は、銀ペーストや銀ーパラジュウムペースト等が使用される。
The
1:入力端子(共通端子)
2:第1の入出力端子
3:第2の入出力端子
4:第1の低域トラップ回路
5:第2の低域トラップ回路
6:ハイパスフィルタ
7:第1の高域トラップ
8:第2の高域トラップ回路
9:ローパスフィルタ
4a〜9a:インダクタンス素子
4b〜9b:容量素子
10:ハイパスフィルタ部
11:ローパスフィルタ部
20:回路基板(多層基板)
20a:1層目の積層板
20b:2層目の積層板
21、22、24、25、26、30:ストリップ線路
23、27、29、31、33、42、44、46:ビアホール
41、43、45:引き出し線路
51〜54:端子電極
1: Input terminal (common terminal)
2: first input / output terminal 3: second input / output terminal 4: first low-frequency trap circuit 5: second low-frequency trap circuit 6: high-pass filter 7: first high-frequency trap 8: second 9: Low-
20a: Laminated board of the
Claims (4)
4. The diplexer according to claim 1, wherein the inductance element and the capacitive element are formed of a thin film or a thick film.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004112876A JP2005303419A (en) | 2004-04-07 | 2004-04-07 | Diplexer |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2004112876A JP2005303419A (en) | 2004-04-07 | 2004-04-07 | Diplexer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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JP2004112876A Withdrawn JP2005303419A (en) | 2004-04-07 | 2004-04-07 | Diplexer |
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Country | Link |
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-
2004
- 2004-04-07 JP JP2004112876A patent/JP2005303419A/en not_active Withdrawn
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