JP2005300892A - 光学装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 光反射部材の前面に設けた光透過部材での反射光が外乱となることを防止できる光学装置を提供する。
【解決手段】 光反射面となるヨーク1dを有するマイクロミラー(光反射部材)1の前面に、保護用の光透過板(光透過部材)2が設けられており、レーザ光源11からのレーザ光が光透過板2を介してマイクロミラー1で反射され、その反射光は光透過板2を介して感光体12を走査する。マイクロミラー1の入射光軸及び反射光軸で決定される第1平面と、光透過板2の入射光軸及び反射光軸で決定される第2平面とが非平行である。レーザ光源11からのレーザ光の光透過板2における反射光Cは、感光体12に照射されない。
【選択図】 図1
【解決手段】 光反射面となるヨーク1dを有するマイクロミラー(光反射部材)1の前面に、保護用の光透過板(光透過部材)2が設けられており、レーザ光源11からのレーザ光が光透過板2を介してマイクロミラー1で反射され、その反射光は光透過板2を介して感光体12を走査する。マイクロミラー1の入射光軸及び反射光軸で決定される第1平面と、光透過板2の入射光軸及び反射光軸で決定される第2平面とが非平行である。レーザ光源11からのレーザ光の光透過板2における反射光Cは、感光体12に照射されない。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光を反射する光学部材の前面に保護用の光透過部材を設けた構成をなす光学装置に関するものである。
複写機,プリンタ等におけるレーザ光走査機構として、従来からポリゴンミラーまたはガルバノミラーを用いることが一般的である。ポリゴンミラー,ガルバノミラーは慣性が大きいために、ジッタ等の機械的な非同期信号をモータの質量バランスの調整で解消しなければならず、装置の大型化が避けられないという問題がある。
そこで、装置の小型化を図ることを目的とし、レーザ光走査機構として、これらのポリゴンミラー,ガルバノミラーに代えて、小型に構成されたミラーであるマイクロミラー(微小揺動ミラー素子)を使用するレーザプリンタの開発が進んでいる。半導体製造プロセス等における技術を応用して種々の機械要素の小型化を実現するMEMS(Micro Electro Mechanical System)技術により、光を反射する機械要素としてミラーの小型化を図ったものがマイクロミラーであり、このマイクロミラーは、静電力にて駆動され、その揺動角によって光の反射経路を変更するため、レーザ光走査機構としては好適である。
このようなレーザ光走査機構にあっては、外界からの影響を少なくしてその長寿命化を図るために、また、空気抵抗を受けずに揺動できるように、マイクロミラーを、入射用/出射用の光透過板を設けた真空容器内に収納しておくことが一般的である(例えば、特許文献1及び2参照)。図3は、従来のレーザ光走査機構の構成を示す図である。
図3において、33は基台であり、基台33には、0.01MPa以下の真空状態に保った内部にマイクロミラー31を収納している真空容器34が設けられている。シリコン基板31a上にヒンジ台31b,31cを形成し、更にヒンジ台31b,31cの上にヨーク31dを揺動可能に支持するヒンジ31e,31fを延設して、マイクロミラー31は構成されている。また、マイクロミラー31の前面側の真空容器34には、例えばガラス板からなら光透過板32が気密的に設けられている。揺動中心位置におけるマイクロミラー31のヨーク31d表面(光反射面)と光透過板32の表面(光透過面)とは平行となっている。
このような構成のレーザ光走査機構にあっては、図示しないレーザ光源から発せられたレーザ光を、光透過板32を透過して揺動するマイクロミラー31(ヨーク31d)で反射させ、その反射光を光透過板32を透過して図示しない感光体に照射させることにより、レーザ光の走査を行っている。
特開平6−180428号公報
特開平11−305159号公報
図4(a),(b)は、上述した従来のレーザ光走査機構におけるレーザ光の光路を示す図であり、図4において、41はレーザ光を発するレーザ光源、42はレーザ光が走査される感光体であり、また、図3と同一部分には同じ番号を付している。レーザ光源41からのレーザ光の一部は、光透過板32で反射する。ここで、マイクロミラー31の光反射面と光透過板32の光透過面とが平行であるため、マイクロミラー31及び光透過板32へ同じ入射角度で入ってきたレーザ光は、同じ方向に反射していく。この結果、光透過板32での反射光(図4での一点鎖線A)が感光体42に照射されることになり、この光透過板32での反射光がノイズとなる。よって、光透過板32での反射光の影響が避けられないという問題がある。
このような問題を解決するために、光透過板32の表面に無反射コーティング処理を施して反射光の影響を低減させることが考えられるが、光透過板32での光反射を完全になくすことはできず、反射光の影響は残存する。
また、図5(a),(b)に示すように、光透過板32の光透過面を角度θだけ傾けて、光透過板32での反射光(図5での一点鎖線B)を感光体42の長手方向の設置域外に進ませて感光体42に照射されないようにすることが考えられる。しかしながら、レーザ光走査機構の小型化に伴って、マイクロミラー31と光透過板32との距離が近くなった場合、マイクロミラー31の反射光軸と光透過板32の反射光軸とが近づくため、マイクロミラー31の入射光軸及び反射光軸で決定される平面と光透過板32の入射光軸及び反射光軸で決定される平面とが平行である図5の構成では、光透過板32の傾斜角θをマイクロミラー31の最大揺動角にする必要があり、光透過板32がマイクロミラー31に接触してしまうという問題がある。
なお、上述したような問題は、マイクロミラーを用いたレーザ光走査機構に限るものではなく、ポリゴンミラー,ガルバノミラーを用いたレーザ光走査機構でも同様であり、一般的に光反射部材を保護する目的でその光入射側前面に光透過部材を設ける構成とした各種の光学装置に共通の問題である。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、光透過部材での反射光が外乱となることを防止できる光学装置を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、小型の構成であっても、光透過部材での反射光の影響を受けることなく簡便にレーザ光走査を行える光学装置を提供することにある。
本発明の請求項1に係る光学装置は、入射光を反射する第1光学部材と、該第1光学部材の光入射側に設けられて前記第1光学部材を保護するための透光性の第2光学部材とを備える光学装置において、前記第1光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面と、前記第2光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面とが非平行であることを特徴とする。
本発明の請求項2に係る光学装置は、請求項1において、前記第1光学部材は揺動するように構成されていることを特徴とする。
本発明の請求項3に係る光学装置は、請求項1または2において、前記第2光学部材が取り付けられているケーシングを備えており、前記第1光学部材を前記ケーシング内に収納してあることを特徴とする。
本発明にあっては、入射光を反射する第1光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される第1平面と、第1光学部材の光入射側に設けられた保護用の第2光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される第2平面とが平行でないようにして、第2光学部材での反射光の影響を受けないようにする。
図1(a),(b)は、本発明の光学装置(レーザ光走査機構)におけるレーザ光の光路を示す図であり、図1において、1は光反射面となるヨーク1dを有する第1光学部材としてのマイクロミラー、2はマイクロミラー1の前面に設けられた第2光学部材としての光透過板、11はレーザ光を発するレーザ光源、12はレーザ光が走査される感光体である。
本発明にあっては、前記第1平面及び第2平面が非平行になるように光透過板2の光透過面をマイクロミラー1の光反射面に対して傾斜させて(傾斜角α)、光透過板2での反射光(図1での一点鎖線C)を感光体12の径方向の設置域外に進ませて、その反射光が感光体12に照射されないようにする。このようにした場合、通常サイズである感光体12については光透過板2の傾斜角αを2°程度とするだけで、光透過板2での反射光が感光体12に照射されない。よって、図5に示す例のように光透過板の傾斜角を大きくする必要がなく、マイクロミラー1と光透過板2とを接近させても両者が接触する虞はなく、装置の小型化に支障がない。
また、本発明にあっては、光透過板等の第2光学部材を取り付けたケーシング内にマイクロミラー等の第1光学部材を収納しており、第1光学部材は外界の影響を受けることがなく、性能劣化が抑制される。
本発明の光学装置では、入射光を反射する第1光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面と、第1光学部材の光入射側に設けられた保護用の第2光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面とが平行でないようにしたので、第1光学部材と第2光学部材とを接近させる装置の小型化に支障なく、第2光学部材での反射光の影響を除去することができる。
また、本発明の光学装置では、第2光学部材を取り付けたケーシング内に第1光学部材を収納するようにしたので、第1光学部材に対する外界の影響を抑止して、第1光学部材を長期間にわたって安定的に使用することができる。
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。図2は、本発明に係る光学装置としてのレーザ光走査機構の構成を示す図である。
図2において、3は基台であり、基台3には、内部を0.01MPa以下の真空状態に保った例えばアルミニウムに代表される金属またはセラミックまたは樹脂製のケーシングとしての真空容器4が設けられている。真空容器4内には、マイクロミラー1が収納されている。マイクロミラー1は、シリコンの異方性エッチングを用いた微細加工技術によって作製されたものであり、シリコン基板1aの上には、ヒンジ台1b,1cが形成され、更にヒンジ台1b,1cの上にヨーク1dを揺動可能に支持するヒンジ1e,1fが延設されている。
また、マイクロミラー1の前面側(光入射側)の真空容器4には、例えばガラス板またはポリカーボネイトに代表される光透過性樹脂からなら光透過板2が気密的に設けられている。本例では、マイクロミラー1の入射光軸及び反射光軸で決定される第1平面と、光透過板2の入射光軸及び反射光軸で決定される第2平面とが平行でないようにしてある。マイクロミラー1が揺動し、その反射光軸は一定の動きで変化していくが、この場合に入射光軸及び変化していく反射光軸で決定されるすべての第1平面に対して、光透過板2の入射光軸及び反射光軸で決定される第2平面が平行にならないようにする。
このような構成のレーザ光走査機構にあっては、レーザ光源11(図1参照)から発せられたレーザ光を、光透過板2を透過して揺動するマイクロミラー1(ヨーク1d)で反射させ、その反射光を光透過板2を透過して感光体12(図1参照)に照射させることにより、感光体12に対するレーザ光の走査を行っている。
ここで、光透過板2では、レーザ光源11からのレーザ光の全てが透過するのではなく、その一部は反射する。マイクロミラー1が揺動している間に、第1平面に対して第2平面が常に非平行となっているため、この反射光は、第1平面外を進む。具体的に図1の例では、光透過板2での反射光が感光体12の上方を進む。よって、光透過板2での反射光が感光体12に照射されることはない。この結果、光透過板2での反射光は外乱とならず、レーザ光走査機構(光学装置)の安定動作を実現できる。
マイクロミラー1は真空容器4内に収納されているため、マイクロミラー1は揺動時に空気抵抗を受けないのでエネルギ損失がない。また、マイクロミラー1が外気に晒されないので、ヨーク1dの鏡面が酸化されることがなくて性能劣化は見られず、長寿命化を図れる。
なお、上述した例では、光を反射する第1光学部材として周期的に揺動するマイクロミラーを使用したレーザ光走査機構について説明したが、例えば、ポリゴンミラー,ガルバノミラーを使用したレーザ光走査機構にも本発明を適用できる。また、固定した反射ミラーでの反射光をセンサに入射させ、そのセンサへの入射特性に基づいてある種の物理量を検知するようなセンサシステムでも、反射ミラーの前面に保護用の光透過部材を設ける構成では本発明を適用できる。また、光はレーザ光に限定されるものではない。即ち、光反射部材の前面に光透過部材を設けるようにした全ての光学装置に対して、本発明を適用することが可能である。
1 マイクロミラー(第1光学部材)
2 光透過板(第2光学部材)
3 基台
4 真空容器(ケーシング)
11 レーザ光源
12 感光体
2 光透過板(第2光学部材)
3 基台
4 真空容器(ケーシング)
11 レーザ光源
12 感光体
Claims (3)
- 入射光を反射する第1光学部材と、該第1光学部材の光入射側に設けられて前記第1光学部材を保護するための透光性の第2光学部材とを備える光学装置において、前記第1光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面と、前記第2光学部材の入射光軸及び反射光軸で決定される平面とが非平行であることを特徴とする光学装置。
- 前記第1光学部材は揺動するように構成されていることを特徴とする請求項1記載の光学装置。
- 前記第2光学部材が取り付けられているケーシングを備えており、前記第1光学部材を前記ケーシング内に収納してあることを特徴とする請求項1または2記載の光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004116744A JP2005300892A (ja) | 2004-04-12 | 2004-04-12 | 光学装置 |
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JP2005300892A true JP2005300892A (ja) | 2005-10-27 |
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JP2004116744A Pending JP2005300892A (ja) | 2004-04-12 | 2004-04-12 | 光学装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100652810B1 (ko) | 2005-12-30 | 2006-12-04 | 삼성전자주식회사 | 미러 패키지 및 그 제작방법 |
KR100707179B1 (ko) | 2005-02-07 | 2007-04-13 | 삼성전자주식회사 | 광스캐너 패키지 및 그 제조방법 |
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JPH01195406A (ja) * | 1988-01-30 | 1989-08-07 | Konica Corp | 光ビーム偏向器 |
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2004
- 2004-04-12 JP JP2004116744A patent/JP2005300892A/ja active Pending
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