JP2005300529A - センサ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光源からの光を計測対象物体表面に照射する投光手段と、計測対象物体表面の照射位置を異なる角度から撮影して画像情報を電気信号に変換して取得する撮影手段と、撮影手段によって得られる電気信号を演算し計測対象物体の特徴を判定する演算処理手段と、撮像素子から得られた電気信号をライン毎に演算を行う前に、ライン同士で加算処理もしくは平均処理を行う加算・平均処理手段とを具備する。
【選択図】図10
Description
2 センサヘッド部
3 中継コネクタ
4 DINレール
5 計測対象物体
10 外殻ケース
11 外部接続コード
12 USBコネクタ
13 RS-232Cコネクタ
14 操作部蓋
15 表示部
16 信号処理部間コネクタ蓋
17 センサヘッド部接続用コネクタ
20 センサヘッド本体部
21 ケーブル
27 信号処理部接続用コネクタ
101 制御部
102 記憶部
102a EEPROM
102b 画像メモリ
103 表示部
103a 液晶表示部
103b 表示灯LED
104 通信部
105 外部機器との通信部
106 キー入力部
107 外部入力部
108 出力部
109 電源部
201 制御部
202 投光部
203 受光部
204 表示灯LED
205 記憶部
206 通信部
L 水平走査ライン
L1 スリット光
L2 スリット光の反射光
LM スリット光の照射光像
I 計測対象物体の照射光像
N ノイズ
TH しきい値
Claims (16)
- 光源からの光をスリット光に整形して計測対象物体表面に所定角度で照射する投光手段と、
計測対象物体表面のスリット光照射位置をスリット光の照射角度とは異なる角度から撮像素子により撮影して光切断面の断面輪郭線像を含む画像情報を電気信号に変換して取得し、出力する撮影手段と、
撮影手段によって出力された電気信号を取得し、演算することで計測対象物体との距離、計測対象物体の変位、計測対象物体の形状等の計測対象物体の特徴を判定する演算処理手段と、を具備するセンサ装置において、
撮像素子から得られた画像情報における同時刻ライン毎の電気信号に対して演算を行う前に、前記電気信号に変換された画像情報におけるライン同士で加算処理もしくは平均処理を行う加算・平均処理手段を具備することを特徴とするセンサ装置。 - 演算処理手段は、撮像手段によって出力された電気信号を取得して記憶し、
加算・平均処理手段は、当該記憶された画像情報の電気信号を用いて、同時刻ライン毎の電気信号に対して演算を行う前に、着目しているラインに対して予め定めた位置関係を有する複数のラインを加算する処理もしくは当該複数のラインを含めて平均化する処理を行うことを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。 - 光源からの光を集光して計測対象物体表面に所定角度で照射する投光手段と、
計測対象物体表面の光の照射位置をスリット光の照射角度とは異なる角度から撮像素子により撮影して光の像を含む画像情報を電気信号に変換して取得し、出力する撮影手段と、
撮影手段によって出力された電気信号を取得し、演算することで計測対象物体との距離、計測対象物体の変位、計測対象物体の形状等の計測対象物体の特徴を判定する演算処理手段と、を具備するセンサ装置において、
撮像素子から得られた画像情報の撮影時刻毎の電気信号を、演算処理手段を行う前に、異なる時刻に撮影された電気信号について、当該得られた画像の対応する各画素同士で加算処理もしくは平均処理を行う加算・平均処理手段を具備することを特徴とするセンサ装置。 - 演算処理手段は、撮影手段によって撮影された画像情報の電気信号を繰り返し取得するとともに、最新の画像情報の電気信号と、当該最新の画像情報よりも前に取得した画像情報であって最新の画像を取得した時刻に対して予め定めた時刻関係を有する画像情報の電気信号を少なくとも保持し、
加算・平均処理手段は、当該保持されている複数の撮影時刻毎の画像情報の電気信号に基づいて、画像情報上で対応する画素ごとに、予め定めた時刻の関係を有する画像情報について加算処理もしくは平均処理を、最新の画像情報を取得するたびに実行することを特徴とする請求項3に記載のセンサ装置。 - 光源からの光をスリット光に整形して計測対象物体表面に所定角度で照射する投光手段と、
計測対象物体表面のスリット光照射位置をスリット光の照射角度とは異なる角度から撮像素子により撮影して光切断面の断面輪郭線像を含む画像情報を電気信号に変換して取得し、出力する撮影手段と、
撮影手段によって出力された電気信号を取得し、演算することで計測対象物体との距離、計測対象物体の変位、計測対象物体の形状等の計測対象物体の特徴を判定する演算処理手段と、を具備するセンサ装置において、
撮像素子から得られた画像情報の撮影時刻毎の電気信号を、演算処理手段を行う前に、異なる時刻に撮影された電気信号について、当該得られた画像の対応する各画素同士で加算処理もしくは平均処理を行う加算・平均処理手段を具備することを特徴とするセンサ装置。 - 加算・平均処理手段において、対象となるライン数の設定入力を、ボタン等の設定入力手段からなる操作部において行うことを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、対象となる異時刻での計測データ数の設定入力を、ボタン等の設定入力手段からなる操作部において行うことを特徴とする請求項3に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、対象となる計測データの時間範囲の設定入力を、ボタン等の設定入力手段からなる操作部において行うことを特徴とする請求項3に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、各種設定の入力手段が、外部入力線から入力可能な手段であることを特徴とする請求項6乃至8に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、各種設定の入力手段が、通信手段により他の機器にて入力可能な手段であることを特徴とする請求項6乃至8に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、各種設定の入力手段が、通信手段により隣接するコントローラから入力可能な手段であることを特徴とする請求項6乃至8に記載のセンサ装置。
- 加算・平均処理手段において、ライン同士で加算処理を行うときには、当該加算処理された受光信号のピーク値を出力することを特徴とする請求項1乃至11のセンサ装置。
- 演算処理手段は、撮影手段によって出力された電気信号をデジタル信号として取得することを特徴とする請求項1又は3に記載のセンサ装置。
- CMOS・CCD撮像素子から得られた画像情報もしくはその画像情報の演算結果をセンサ内部にメモリする手段を有することを特徴とする請求項1又は3に記載のセンサ装置。
- CMOS・CCD撮像素子から得られた画像情報もしくはその画像情報の演算結果をセンサに着脱可能なメモリ機能に保存する手段を有することを特徴とする請求項1又は3に記載のセンサ装置。
- CMOS・CCD撮像素子から得られた画像情報もしくはその画像情報の演算結果をセンサ外部へ通信によって伝達する手段を有することを特徴とする請求項1又は3に記載のセンサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005071634A JP2005300529A (ja) | 2004-03-15 | 2005-03-14 | センサ装置 |
Applications Claiming Priority (2)
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---|---|---|---|
JP2004073144 | 2004-03-15 | ||
JP2005071634A JP2005300529A (ja) | 2004-03-15 | 2005-03-14 | センサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005300529A true JP2005300529A (ja) | 2005-10-27 |
Family
ID=35332199
Family Applications (1)
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JP2005071634A Pending JP2005300529A (ja) | 2004-03-15 | 2005-03-14 | センサ装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2005300529A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020184567A1 (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | オムロン株式会社 | 画像検査装置及び画像検査方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6375605A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Fujitsu Ltd | 実装部品検査装置 |
JP2000097630A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-04-07 | Omron Corp | 光式センサ |
-
2005
- 2005-03-14 JP JP2005071634A patent/JP2005300529A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2020184567A1 (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | オムロン株式会社 | 画像検査装置及び画像検査方法 |
JP2020148664A (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | オムロン株式会社 | 画像検査装置及び画像検査方法 |
JP7164836B2 (ja) | 2019-03-14 | 2022-11-02 | オムロン株式会社 | 画像検査装置及び画像検査方法 |
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