JP2005291985A - オフセット低減機能をもつtof距離センサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光電荷を発生するフォトダイオード(PD)と反転増幅器(AMP)の入力との間に、第3のMOSトランジスタスイッチ(3)を設け、スイッチ(3)がオフであるときの光電荷はフォトダイオード(PD)周辺の浮遊容量に蓄積する。スイッチ(3)の最初のオン期間(投射光の発光期間)には光電荷を第1のキャパシタ(C1)に、スイッチ(3)の次のオン期間(投射光の非発光期間)には光電荷を第2のキャパシタ(C2)に転送蓄積する。また、第1及び第2のMOSトランジスタスイッチ(1,2)のオフへの移行を緩やかに行うことにより、さらにオフセットが改善される。
【選択図】 図2
Description
R. Lange, P. Seitz, A. Biber, S. Lauxtermann, "Demodulation pixels in CCD and CMOS technologies for time-of-flight ranging", Proceedings of SPIE, Vol. 3965, pp. 177- 188, (2000) Ryohei Miyagawa, Takeo Kanade, " CCD-based range-finding sensor", IEEE Trans. Electron Devices, vol. 44, no. 10, pp.1648-1652, (1997)
非特許文献2記載の方式は、CCDの構造を利用し、パルス変調された変調光で発生した電荷を、2つのノードに交互に転送し、その配分比が、変調光の遅れ時間に依存することを利用する。これもCCDを利用するため、特殊な製造工程が必要となる。
改良点は、図1のセンサのスイッチで表現している部分をMOSトランジスタで構成する場合に生じる問題点を解決するものである。
φRで制御されるMOSトランジスタはキャパシタC1,C2及びフォトダイオード(PD)にたまった電荷を初期化するためのものである。
このようにして、φ0で制御されるスイッチをオフするタイミングによって、φ0が"1"である期間に入射した光による電荷はC1に、φ0が"0"である期間に入射した光による電荷はC2に取り込まれることになり、光飛行時間測定法(TOF法)による距離画像計測に必要な動作が行える。
以上は、φ1,φ2で制御されるスイッチにランプ状の電圧を加える例を示したが、その代わりに、φ1,φ2に加える制御パルスの電圧振幅を小さくして、電荷のインジェクション量を減らす方法なども考えられる。この場合、もしφ0で制御されるスイッチがなければ、スイッチのオン抵抗が高くなり、光パルスに対する応答性が悪くなり、距離分解能に影響を与えるが、φ0によって制御されるスイッチにより光パルスに対して高速に応答させることができる。
このソース側つまり、アンプの入力部側に入った電荷は、次にC2を接続したときに、C2に取り込まれる。これは、C2を接続した状態から切り離し、次にC1を接続したときにも同じことが起こる。もし、C1とC2を接続するMOSトランジスタに特性ばらつき(チャネル長、チャネル幅、しきい値電圧)がなければ、注入される電荷の量は同じであるため、影響が相殺される。しかし、特性ばらつきがあると、C1側とC2側に取り込まれる電荷量に差が生じ、オフセット電荷となって影響する。このオフセット電荷は、ランプ波形を用いてφ1,φ2を制御するスイッチをオフすることで、弱反転領域からの小さい電荷に対するばらつきとすることができるため、大きな低減効果が得られる。
なお、反転増幅器としては、図5に示すような回路が考えられる。図5(a)は、1段のカスコード接続を用いたソース接地カスコード増幅回路、図5(b)は、2段のカスコード接続を用いたソース接地カスコード増幅回路、図5(c)は、ソース接地アンプを用いてゲインを高くしたソース接地カスコード増幅回路である。バイアス電圧(Vbp1,Vbp2,Vbp3,Vbn1,Vbn2)には、すべてのトランジスタが定電流領域で動作するような電圧を与える。また、Vssには、基板(バルク)と同じ電圧、または基板よりも高い電圧に設定することも可能である。
2 第2のMOSトランジスタスイッチ
3 第3のMOSトランジスタスイッチ
PD フォトダイオード
AMP 反転増幅器
C1 第1のキャパシタ
C2 第2のキャパシタ
Claims (3)
- 光源からの光を断続的に対象物に投射し、その反射光の遅れ時間から距離を計測する距離センサにおいて、対象物からの反射光を電荷に変換するフォトダイオード(PD)と、該受光素子からの信号電荷が入力される反転増幅器(AMP)と、第1のキャパシタ(C1)および該第1のキャパシタに直列に接続される第1のMOSトランジスタスイッチ(1)からなる第1の直列回路と、第2のキャパシタ(C2)および該第2のキャパシタに直列に接続される第2のMOSトランジスタスイッチ(2)からなる第2の直列回路と、前記フォトダイオード(PD)と前記反転増幅器(AMP)の入力間に設けられる第3のMOSトランジスタスイッチ(3)と、前記第1、第2及び第3のMOSトランジスタスイッチの開閉を制御する制御手段(4)とを備え、前記第1の直列回路を前記反転増幅器(AMP)の出力と入力間に接続し、かつ、前記第2の直列回路を前記反転増幅器(AMP)の出力と入力間に接続して負帰還増幅器を構成し、対象物からの反射光の遅れ時間に依存する信号電荷を前記第1および第2のMOSトランジスタスイッチ(1,2)の開閉により、前記第1のキャパシタ(C1)および前記第2のキャパシタ(C2)に配分することにより、前記第1および第2のキャパシタ(C1,C2)に蓄積された電荷から距離情報を得るとともに、前記第3のMOSトランジスタスイッチ(3)によりオフセット電荷の影響を低減することを特徴とするオフセット低減機能をもつTOF距離センサ。
- 前記制御手段(4)は、前記第1及び第2のMOSトランジスタスイッチ(1,2)のゲートに対し、ランプ波形の制御信号を与えることにより、前記第1及び第2のMOSトランジスタスイッチ(1,2)を徐々にオフさせることで、オフセット電荷の除去を行うことを特徴とするオフセット低減機能をもつTOF距離センサ。
- 前記フォトダイオード(PD),反転増幅器(AMP),第1のキャパシタ(C1),第1のMOSトランジスタスイッチ(1),第2のキャパシタ(C2),第2のMOSトランジスタスイッチ(2)及び第3のMOSトランジスタスイッチ(3)からなる単位回路を1次元または2次元に配置してなり、画像情報を取得することを特徴とする請求項1または請求項2記載のオフセット低減機能をもつTOF距離センサ。
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Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5110519B2 (ja) * | 2005-08-30 | 2012-12-26 | 国立大学法人静岡大学 | 半導体測距素子及び固体撮像装置 |
| JP5110520B2 (ja) * | 2005-08-30 | 2012-12-26 | 国立大学法人静岡大学 | 半導体測距素子及び固体撮像装置 |
| JP2008089346A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Brainvision Inc | 固体撮像素子 |
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