JP2005283344A - Icタグを用いた分析システム及びオートサンプラ - Google Patents

Icタグを用いた分析システム及びオートサンプラ Download PDF

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Abstract

【課題】
分析装置又は構成部品をその環境に影響されずに認識し、それぞれ個別の情報を容易に入手できるようにする。
【解決手段】
受信部16をメンテナンスしようする分析装置のRFID14a,14bに近づける。受信部16はRFID14a,14bからそれぞれの装置の識別情報を読み出し、PC17がサーバ10に送信する。サーバ10はデータベース12からそれらの識別情報に対応した装置管理情報を読み出し、PC17はモニタに表示する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、高速液体クロマトグラフなどの分析装置やオートサンプラに関し、特にそれらの管理や認識に関する。
高速液体クロマトグラフなどの分析装置は、その分析動作や結果が常時正常な状態を保つために定期的にメンテナンスを行なう必要がある。そのために、メンテナンス情報を台帳やデータベースに記録しておき、メンテナンスを行なうに際にその情報を読み出して参照している。そのような情報を参照するために、分析装置のシリアル番号などが利用されるが、シリアル番号などの装置情報は通常操作時には使用しないため、装置の背面などに付与されていることが多い。
分析装置の部品、例えば光源ランプなどは消耗品であるため、測定データの信頼性を保つためには所定の時間を使用したら交換する必要がある。
また、オートサンプラでは複数の試料容器をサンプルラックに収容してオートサンプラに設置し、ノズルにより試料容器から試料を吸入して分析装置の分析流路に注入している。その際、サンプルラックをオートサンプラに装着するとその形状からサンプルラックが識別され、そのサンプルラックに収容される試料容器の配置パターン(以下、ラックパターンという。)が表示されるので、その表示されたラックパターンに基づいてサンプラックに試料容器を装填しながら試料の注入条件を設定している。
サンプルラックにはバーコードを付与し、そのバーコードを読み取ってサンプルラックを識別することも行なわれている。
液体クロマトグラフを使用して分析を行なう場合は、同様のシステムを複数使用して作業を行なうことがよくある。この場合には、装置のメンテナンスを行なうのにそれぞれの装置のシリアル番号を探し、その番号を台帳やデータベースなどから検索して過去のメンテナンス情報を取り出さなければならず、メンテナンスを行なうのに手間がかかってしまう。
オートサンプラでサンプルラックをその形状から認識するには、サンプルラックをオートサンプラ内部の正しい位置に装着しないと認識することができないため、サンプラックに試料容器を装填しながら試料の入条件を設定することもできなくなる。
サンプルラックや装置、部品にバーコードを添付して識別する場合、液体クロマトグラフなどの分析装置では有機溶媒を使用することが多く、それらの有機溶媒の多くは物を溶解させてしまうことがよくある。バーコードは印刷物であるため、印刷されたインクやそれをガードするフィルムなどが溶解されると、バーコードを読み取ることができず、サンプルラックや装置、部品の識別を行なうことができなくなってしまう。
また、形状は物の酸化や溶解による変形により、時間とともに正しく形状認識ができなくなる場合がある。
これらの不具合を防ぐには、特殊な加工や処理が必要となり、コスト面から実用性は低かった。
そこで本発明は、オートサンプラに設置されるサンプルラックのラックパターン、分析装置又は構成部品をその環境に影響されずに認識し、それぞれ個別の情報を容易に入手できるようにすることを目的とするものである。
本発明の分析システムの第1の局面は、識別情報を記憶した非接触型ICタグが取り付けられた分析装置と、前記非接触型ICタグから識別情報を読み取る読取り部と、前記識別情報に対応する分析装置管理情報を記憶した記憶装置と、前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からその分析装置の管理情報を読み出し、表示部に表示する制御部とを備えている。
前記管理情報は、例えばその分析装置のメンテナンスに関する情報を含んでいる。
本発明の分析システムの第2の局面は、分析装置を構成する部品に取り付けられ、該部品の識別情報を記憶した非接触型ICタグの情報を読み取る読取り部と、前記識別情報に対応する部品管理情報を記憶した記憶装置と、前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からその部品の管理情報を読み出し、表示部に表示する制御部とを備えている。
前記管理情報は、例えば、部品の価格、納期、製造元、製造時期、異常時の点検手順、修理手順、部品の異常により発生するトラブル情報及びその対処方法のうちの少なくとも1つを含んでいる。
本発明のオートサンプラは、サンプルラックに収容されている試料容器内の試料をノズルより吸入して分析装置の分析流路に注入するものであり、サンプルラックに取り付けられ、そのサンプルラックの識別情報を記憶した非接触型ICタグの情報を読み取る読取り部と、前記識別情報に対応するサンプルラックの試料容器配置パターンを記憶した記憶装置と、前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からそのサンプルラックの試料容器配置パターンを読み出し、表示部に表示する制御部とを備えている。
本発明のオートサンプラにおける制御部は、読取り部が読み取った識別情報をもとにして、次の動作の少なくとも1つを実行するものとすることができる。
(1)オペレータのログイン認証。
(2)分析メソッド及びサンプル注入シーケンスの自動読出し並びにそれらの自動起動。
(3)分析装置の動作開始条件及び動作終了条件の自動読出し並びにそれらの自動起動。
(4)ログインしたオペレータが独自に組み込んでいるソフトウエアの自動起動。
非接触型ICタグの一例はRFID(Radio Frequency Identification)である。
RFIDの特徴としては以下の点を挙げることができる。
1.情報交信の媒体として、電波又は電磁波を用いる。
2.非接触でデータの読出し、さらには書換えもできる。
3.タグの形状に様々な種類があり、小型化しやすく、小さな取付けスペースにも対応できる。
4.耐環境性に優れ、水、油、薬品等の汚れや、外乱光による影響を受けない。
本発明では、RFIDのような電波や電磁波を情報交信の媒体として用いた非接触型のICタグを使用するので、バーコードのように有機溶媒などによって溶解されるなどの影響を受けることがない。
本発明の分析システムでは、装置や装置の部品に関する識別情報を記憶する非接触型のICタグを取り付けたので、メンテナンス時の過去のメンテナンス情報の参照が容易になり、また、装置や部品の管理状況を容易に把握することができるようになるので、メンテナンスの手間を短縮することができる。
本発明のオートランプラでは、サンプルラックに非接触型ICタグを取り付け、その非接触型ICタグから読み取った識別情報に基づいてラックパターンを認識させるので、サンプルラックをオートランプラに設置するだけでラックパターンを正しく表示させることができ、サンプルラックに試料びんを装填しながら分析条件を設定するのが容易になる。
[実施例1]
以下に本発明を適用した分析システムを説明する。この実施例では、2つの分析装置がネットワークで接続されており、分析装置として液体クロマトグラフを用いている。
図1は液体クロマトグラフの分析システムの構成を概略的に示したブロック図である。
2つの分析装置1−1,1−2が設けられている。分析装置1−1はPC(パーソナルコンピュータ)8aと接続されており、PC8aは分析装置1−1に分析開始/終了の指令や分析条件を送信し、また、分析装置1−1で得た分析データを受信してその解析処理を行なう。分析装置1−1にはその装置固有の識別情報を記憶した非接触型ICタグとしてのRFIDタグ14aが取り付けられている。
分析装置1−2はPC8bと接続されており、PC8bは分析装置1−2に分析開始/終了の指令や分析条件を送信し、また、分析装置1−2で得た分析データを受信してその解析処理を行なう。分析装置1−2にはその装置固有の識別情報を記憶したRFIDタグ14bが取り付けられている。
PC8aとPC8bはネットワークを通じてサーバ10に接続されている。サーバ10はデータベース12と接続されており、データベース12に蓄積されている情報を読み出したり、データベース12に新たな情報を書き込んだりすることができるようになっている。データベース12にはRFIDタグ14a,14bに記憶されている識別情報に対応したそれぞれの分析装置の管理情報を記憶している。装置管理情報はそれぞれの分析装置のメンテナンス方法や過去のメンテナンスに関する情報である。
16はRFIDタグ14a,14bの識別情報を読み取る読取り部としての受信部であり制御部としてのPC17に接続されており、PC17はネットワークを通じてサーバ10に接続されている。PC17は受信部16が読み取った識別情報をもとにしてデータベース12からその分析装置の管理情報を読み出し、表示部に表示する。
オペレータはモニタに表示されたメンテナンス情報に従って分析装置1−1,1−2のメンテナンスを行なう。オペレータはメンテナンス経験が少なくてもモニタに表示された情報や指示に従ってメンテナンスを行なうことができるので、経験や知識の差によらない均一なメンテナンスを行なうことができる。
図2は同実施例のメンテナンス時の動作を示す図である。
メンテナンスを開始するときは、まず受信部16をメンテナンスしようする分析装置のRFID14a,14bに近づける。受信部16はRFID14a,14bからそれぞれの装置の識別情報を読み出し、PC17がサーバ10に送信する。サーバ10はデータベース12からそれらの識別情報に対応した装置管理情報を読み出し、PC17はモニタに表示する。オペレータはモニタに表示された装置管理情報を確認し、その内容に従ってメンテナンス作業を行なうことができる。
メンテナンスした内容を再度データベース12に登録しておくことで、次回のメンテナンス時に参照することができる。
図1に示されているネットワークをインターネットに接続し、インターネットを介して外部のサーバにあるデータベースを参照するようにしてもよい。
[実施例2]
図3は本発明を適用した分析システムの他の実施例の構成を示すブロック図である。
試料の注入から分離分析を自動で行なう高速液体クロマトグラフでは、検出器の香華研ランプ、カラムなどの部品がある。この実施例では、それらの部品を部品1、部品2、部品3とするが、実際には部品の数量は3個とは限らず、いくらあってもよい。
分析装置1−1、1−2では、RFIDタグ5a、5b、5c、7a、7b、7cがそれぞれの部品2a、2b、2c、3a、3b、3cに取りつけられている。これらのRFIDタグ5a、5b、5c、7a、7b、7cにはそれぞれの部品の識別情報が記憶されている。
装置制御部6a,6bはそれぞれPC8a,8bに接続されており、分析部11a,11bの分析動作を制御してその測定データをそれぞれのPC8a,8bに送る。PC8a,8bは、分析部11a,11bで得た分析データの解析処理を行なってモニタに表示させる。
PC8aとPC8bはネットワークを通じてサーバ10に接続されている。サーバ10はデータベース12と接続されており、データベース12に蓄積されている情報を読み出したり、データベース12に新たな情報を書き込んだりすることができるようになっている。データベース12にはRFIDタグ5a、5b、5c、7a、7b、7cに記憶されている識別情報に対応したそれぞれの部品の管理情報を記憶している。その管理情報は、部品の価格、納期、製造元、製造時期、異常時の点検手順、修理手順、部品の異常により発生するトラブル情報及びその対処方法などである。
4はRFIDタグ5a、5b、5c、7a、7b、7cの識別情報を読み取る読取り部としての受信部であり、制御部としてのPC7に接続されており、PC7はネットワークを通じてサーバ10に接続されている。PC7は受信部4が読み取った識別情報をもとにしてデータベース12からその部品の管理情報を読み出し、表示部に表示する。
上記のように装置内部の部品を個別に認識して、それぞれの価格、納期、製造元及び製造時期などをモニタに表示させることで、装置のメンテナンスに必要な情報を容易に参照できるようになり、知識や経験の差に影響されずにメンテナンスを行なうことができ、部品交換が必要な場合はすぐに発注することができる。
以下に同実施例の動作を説明する。
図4はこの実施例の動作を示すフローチャート図である。
PC7は受信部4によりそれぞれの部品に取り付けられたRFIDタグから識別情報を読み取って出してサーバ10に送り、サーバ10はその識別情報に対応したメンテナンス情報をデータベース12より読み出し、PC7に送信する。データベース12から読み出すメンテナンス情報は、それぞれの部品の価格、納期、製造元、製造時期、異常時の点検手順、修理手順、発生するトラブルに関する情報、その対処方法などであり、これらの情報はPC7のモニタに表示される。オペレータはモニタに表示された部品のメンテナンス情報を確認し、必要があれば発注し、故障などの不具合があればモニタに表示される修理手順を見ながら修理することができる。
図3に示されているネットワークをインターネットに接続し、インターネットを介して外部のサーバにあるデータベースを参照するようにしてもよい。
このように、分析装置自体やその部品に有機溶媒による影響を受けないRFIDのような非接触型ICタグを取り付け、そのRFIDタグに個別の識別情報を持たせるようにしたので、分析装置やその部品のメンテナンスに関する情報を容易に参照でき、作業者の知識や経験によらないで均一にメンテナンス作業を行なうことができる。
また、ネットワークをインターネットに接続するようにすれば、分析装置とその部品の管理情報を直接製造元に送信して表示させることも可能であり、部品交換が必要な際には即時発注することも可能となる。
製造元で装置や部品の管理情報をデータベース化することで、外部からインターネット通信などでこれらの情報を参照できるようにしてもよい。
[実施例3]
図5は本発明におけるオートサンプラの一実施例の構成を概略的に示す図である。
このオートサンプラは、試料容器24から試料の吸入を行なうサンプリングニードル(ノズル)20は水平方向と垂直方向に移動が可能であり、その動作は制御部28により制御される。試料容器24はサンプルラック22に収容された状態でこのオートサンプラにセットされる。サンプルラック22には試料容器24を収容するための位置(設置位置)が複数用意されており、これらの設置位置にはサンプルラック22の種類によっていくつかの配置パターン(ラックパターン)が存在する。
サンプルラック22の側面には、サンプルラックの識別情報を記憶したRFID25が取りつけられている。26はRFID25に記憶されている識別情報を読み取る読取り部としての受信部であり、制御部28は受信部26がRFID25から読み取った識別情報に対応したラックパターン情報を保持している。制御部28はさらに、識別情報に対応した次のようなプログラムを保持しておいてもよい。(1)オペレータのログイン認証、(2)分析メソッド及びサンプル注入シーケンスの自動読出し並びにそれらの自動起動、(3)分析装置の動作開始条件及び動作終了条件の自動読出し並びにそれらの自動起動、(4)ログインしたオペレータが独自に組み込んでいるソフトウエアの自動起動など。
図6はこの実施例のオートサンプラの動作を説明するフローチャート図である。
サンプルラック22を装置の所定の位置にセットすると、受信部26がRFID25の識別情報を読み取り、制御部28がその識別情報に対して登録されているラックパターンを表示する。オペレータはそのラックパターンに従ってサンプルラックに試料びんをセットし、分析条件を入力する。
また、その識別情報に従った上のようなプログラムが保持されている場合には、それらのプログラムに従って自動的に操作が開始される。
本発明は液体クロマトグラフなどの分析装置やその部品のメンテナンスに利用できるほか、オートサンプラに適用すればサンプルラックのラックパターンを確実に認識することができる。
本発明を適用した分析システムの一実施例の構成を概略的に示すブロック図である。 同実施例の動作を示すフローチャート図である。 本発明を適用した分析システムの他の実施例の構成を示すブロック図である。 同実施例の動作を示すフローチャート図である。 本発明を適用したオートサンプラの一実施例の構成を概略的に示す図である。 同実施例の動作を示すフローチャート図である。
符号の説明
1−1,1−2 分析装置
2a,2b,2c,3a,3b,3c 部品
4,16,26 読取り部の受信部
5a,5b,5c,7a,7b,7c,14a,14b,25 RFIDタグ
6a,6b,28 装置制御部
7,8a,8b,17 パーソナルコンピュータ
10 サーバ
12 データベース
20 サンプリングニードル
22 サンプルラック
24 試料容器

Claims (6)

  1. 識別情報を記憶した非接触型ICタグが取り付けられた分析装置と、
    前記非接触型ICタグから識別情報を読み取る読取り部と、
    前記識別情報に対応する分析装置管理情報を記憶した記憶装置と、
    前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からその分析装置の管理情報を読み出し、表示部に表示する制御部と、を備えたことを特徴とする分析システム。
  2. 前記管理情報は、その分析装置のメンテナンスに関する情報を含む請求項1に記載の分析システム。
  3. 分析装置を構成する部品に取り付けられ、該部品の識別情報を記憶した非接触型ICタグの情報を読み取る読取り部と、
    前記識別情報に対応する部品管理情報を記憶した記憶装置と、
    前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からその部品の管理情報を読み出し、表示部に表示する制御部と、を備えたことを特徴とする分析システム。
  4. 前記管理情報は、部品の価格、納期、製造元、製造時期、異常時の点検手順、修理手順、部品の異常により発生するトラブル情報及びその対処方法のうちの少なくとも1つを含む請求項3に記載の分析システム。
  5. サンプルラックに収容されている試料容器内の試料をノズルより吸入して分析装置の分析流路に注入するオートサンプラにおいて、
    前記サンプルラックに取り付けられ、該サンプルラックの識別情報を記憶した非接触型ICタグの情報を読み取る読取り部と、
    前記識別情報に対応するサンプルラックの試料容器配置パターンを記憶した記憶装置と、
    前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして前記記憶装置からそのサンプルラックの試料容器配置パターンを読み出し、表示部に表示する制御部と、を備えたことを特徴とするオートサンプラ。
  6. 前記制御部は、前記読取り部が読み取った識別情報をもとにして、次の動作の少なくとも1つを実行する請求項5に記載のオートサンプラ。
    (1)オペレータのログイン認証。
    (2)分析メソッド及びサンプル注入シーケンスの自動読出し並びにそれらの自動起動。
    (3)分析装置の動作開始条件及び動作終了条件の自動読出し並びにそれらの自動起動。
    (4)ログインしたオペレータが独自に組み込んでいるソフトウエアの自動起動。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271334A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Sysmex Corp 情報提供システム及び分析装置
JP2009180607A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 Olympus Corp 自動分析装置
WO2011013310A1 (ja) 2009-07-29 2011-02-03 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2011185949A (ja) * 2011-06-11 2011-09-22 Sysmex Corp 情報提供システム及び分析装置
US20110232372A1 (en) * 2010-03-25 2011-09-29 Sysmex Corporation Sample analyzer and reagent information obtaining method
JP2013142652A (ja) * 2012-01-12 2013-07-22 Shimadzu Corp 分析装置ユニット構築システム
JP2013541718A (ja) * 2010-10-29 2013-11-14 サーモ・フィッシャー・サイエンティフィック・オイ サンプルの準備および分析のための自動化されたシステム
JP2014506329A (ja) * 2011-01-06 2014-03-13 エピスタム リミテッド サーモサイクリングの方法およびシステム
WO2015177857A1 (ja) * 2014-05-20 2015-11-26 株式会社島津製作所 試料導入システム
WO2016084462A1 (ja) * 2014-11-25 2016-06-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN113176347A (zh) * 2020-01-27 2021-07-27 株式会社岛津制作所 分析系统

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271334A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Sysmex Corp 情報提供システム及び分析装置
JP2009180607A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 Olympus Corp 自動分析装置
WO2011013310A1 (ja) 2009-07-29 2011-02-03 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2011027658A (ja) * 2009-07-29 2011-02-10 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
US20110232372A1 (en) * 2010-03-25 2011-09-29 Sysmex Corporation Sample analyzer and reagent information obtaining method
US10062955B2 (en) * 2010-03-25 2018-08-28 Sysmex Corporation Sample analyzer and reagent information obtaining method
US10739321B2 (en) 2010-10-29 2020-08-11 Thermo Fisher Scientific Oy Automated system for sample preparation and analysis
US10557835B2 (en) 2010-10-29 2020-02-11 Thermo Fisher Scientific Oy Automated system for sample preparation and analysis
JP2013541718A (ja) * 2010-10-29 2013-11-14 サーモ・フィッシャー・サイエンティフィック・オイ サンプルの準備および分析のための自動化されたシステム
US10088460B2 (en) 2010-10-29 2018-10-02 Thermo Fisher Scientific Oy Automated system for sample preparation and analysis
JP2014506329A (ja) * 2011-01-06 2014-03-13 エピスタム リミテッド サーモサイクリングの方法およびシステム
JP2011185949A (ja) * 2011-06-11 2011-09-22 Sysmex Corp 情報提供システム及び分析装置
JP2013142652A (ja) * 2012-01-12 2013-07-22 Shimadzu Corp 分析装置ユニット構築システム
JPWO2015177857A1 (ja) * 2014-05-20 2017-04-20 株式会社島津製作所 試料導入システム
WO2015177857A1 (ja) * 2014-05-20 2015-11-26 株式会社島津製作所 試料導入システム
WO2016084462A1 (ja) * 2014-11-25 2016-06-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US10466261B2 (en) 2014-11-25 2019-11-05 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis device
JPWO2016084462A1 (ja) * 2014-11-25 2017-08-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN113176347A (zh) * 2020-01-27 2021-07-27 株式会社岛津制作所 分析系统
US11892434B2 (en) 2020-01-27 2024-02-06 Shimadzu Corporation Analyzing system

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