JP2005278274A - Gate drive circuit in power converter - Google Patents
Gate drive circuit in power converter Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005278274A JP2005278274A JP2004086328A JP2004086328A JP2005278274A JP 2005278274 A JP2005278274 A JP 2005278274A JP 2004086328 A JP2004086328 A JP 2004086328A JP 2004086328 A JP2004086328 A JP 2004086328A JP 2005278274 A JP2005278274 A JP 2005278274A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- time
- switching element
- value
- power converter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
Abstract
Description
この発明は、電力変換器を構成するIGBTなどの電圧駆動形半導体スイッチング素子のゲート駆動回路に関し、特にノイズ及び損失を低減するためゲート駆動条件を切り換えることのできるものに関するものである。 The present invention relates to a gate drive circuit of a voltage-driven semiconductor switching element such as an IGBT that constitutes a power converter, and more particularly to a circuit that can switch a gate drive condition in order to reduce noise and loss.
従来のIGBT等、電圧駆動形スイッチングデバイスのゲート駆動回路では、コレクタ電流の時間微分相当値を検出する検出手段と、ゲート・エミッタ間容量を変更する操作手段とを設け、スイッチングデバイスのターンオン時に、前記検出手段の出力が所定値以上になったときは、前記操作手段によりゲート・エミッタ間容量を一定時間だけ大きくする、あるいはゲート抵抗値を一定時間だけ大きくしてコレクタ電流の微分値を低下させていた。これにより、IGBTのターンオン時に回路の配線インダクタンスに発生するサージ電圧を抑制してスナバ回路を不要にし、低ノイズ化を図っていた(例えば、特許文献1参照)。 In a gate drive circuit of a voltage-driven switching device such as a conventional IGBT, a detection means for detecting a time differential equivalent value of a collector current and an operation means for changing a gate-emitter capacitance are provided, and when the switching device is turned on, When the output of the detection means exceeds a predetermined value, the gate-emitter capacitance is increased by a certain time by the operation means, or the gate resistance value is increased by a certain time to reduce the collector current differential value. It was. As a result, the surge voltage generated in the wiring inductance of the circuit when the IGBT is turned on is suppressed to eliminate the need for a snubber circuit and to reduce noise (for example, see Patent Document 1).
従来の電圧駆動形スイッチングデバイスのゲート駆動回路は、以上のように構成されているので、ターンオン時にコレクタ電流の微分値(di/dt)が所定値以上になったことを検出し、操作回路にてゲート駆動条件を切り換えてコレクタ電流の微分値を低下させ、EMI(Electromagnetic Interference)ノイズを低減していた。しかしながら、コレクタ電流の微分値(di/dt)が所定値以上になったことを検出してから操作回路にてゲート駆動条件を切り換え操作するため、検出段階での遅れ時間および操作段階での遅れ時間によりゲート駆動条件が実際に切り換え完了するのが遅れ、EMIノイズを充分低減できないことがあった。また、スイッチングに要する時間は短く、特に電流が小さい場合はコレクタ電流の上昇時間はより短くなるため適切なタイミングで安定してゲート駆動条件を切り換えることが困難であった。 Since the gate drive circuit of the conventional voltage-driven switching device is configured as described above, it detects that the differential value (di / dt) of the collector current is greater than or equal to a predetermined value at turn-on, and Thus, the gate drive conditions are switched to reduce the differential value of the collector current, thereby reducing EMI (Electromagnetic Interference) noise. However, since it is detected that the differential value (di / dt) of the collector current has exceeded a predetermined value and the gate drive conditions are switched by the operation circuit, the delay time at the detection stage and the delay at the operation stage Depending on the time, the gate drive conditions are actually delayed in completion, and EMI noise may not be sufficiently reduced. In addition, the time required for switching is short, and in particular when the current is small, the rise time of the collector current is shorter, so it is difficult to stably switch the gate drive conditions at an appropriate timing.
さらに、従来のゲート駆動回路では、操作回路にてゲート駆動条件を一定時間だけ切り換えるものであるため、コレクタ電流が最大値となる時点で元のゲート駆動条件に戻らずそれ以降のコレクタ・エミッタ間電圧の立ち下がりにおいて、ゲート・エミッタ間容量が大きい、あるいはゲート抵抗値が大きい駆動条件のままとなる場合があり、スイッチング損失が増大するという問題点もあった。 Furthermore, in the conventional gate drive circuit, the gate drive condition is switched for a certain period of time by the operation circuit. Therefore, when the collector current reaches the maximum value, the original gate drive condition is not restored and the subsequent collector-emitter When the voltage falls, the gate-emitter capacitance may be large or the driving condition may have a large gate resistance value, which causes a problem that switching loss increases.
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、電圧駆動形半導体スイッチング素子のターンオン時に、スイッチング損失を不要に増大させることなくEMIノイズを低減できるようにゲート駆動条件を切り換えることのできるゲート駆動回路を得ることを目的とするものである。 The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and it is possible to reduce the EMI noise without unnecessarily increasing the switching loss when the voltage-driven semiconductor switching element is turned on. An object of the present invention is to obtain a gate drive circuit capable of switching between the two.
この発明に係る電力変換器におけるゲート駆動回路は、電力変換器を構成する電圧駆動形半導体スイッチング素子のゲート駆動回路であって、上記スイッチング素子のターンオン時に、ゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くする操作手段を備え、予め設定された所定のゲート駆動条件にて上記スイッチング素子のターンオンを開始し、上記スイッチング素子のコレクタ電流の立ち上がり後の所定のタイミングで上記操作手段により該ゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くすることを特徴とする電力変換器におけるゲート駆動回路。 A gate drive circuit in a power converter according to the present invention is a gate drive circuit for a voltage-driven semiconductor switching element constituting the power converter, and an operation for sharpening a gate drive condition for a predetermined time when the switching element is turned on. Means for starting the turn-on of the switching element under a predetermined gate drive condition set in advance, and the gate drive condition is set for a predetermined time by the operation means at a predetermined timing after the rise of the collector current of the switching element. A gate driving circuit in a power converter characterized by sharpening.
この発明に係る電力変換器におけるゲート駆動回路によると、予め設定された所定のゲート駆動条件にて上記スイッチング素子のターンオンを開始するため、EMIノイズを充分低減できるゲート駆動条件に予め設定しておけば、ターンオン時のEMIノイズが確実に低減でき、また、所定のタイミングでゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くする操作手段を備えたため、スイッチング損失も低減できる。 According to the gate drive circuit of the power converter according to the present invention, since the switching element starts to turn on under a predetermined gate drive condition set in advance, the gate drive condition that can sufficiently reduce the EMI noise should be set in advance. For example, the EMI noise at the turn-on can be surely reduced, and the switching means can be reduced because the operation means for sharpening the gate drive condition for a predetermined time at a predetermined timing is provided.
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図1はこの発明の実施の形態1による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図であり、図2はこのゲート駆動回路を用いたときのIGBTのターンオン時における各出力波形図である。
図に示すように、電圧駆動形半導体スイッチング素子として電流センス端子を備えた絶縁ゲート形バイポーラトランジスタ1(以下、IGBT1と称す)に逆並列にダイオード2が接続され、抵抗3は上記IGBT1のコレクタ電流ICに相当する信号を検出する。
ゲート駆動信号発生部7にIGBT1をオンするためのゲートオン指令SAが入力されると、ゲート駆動信号がIGBT1のゲート端子(G)に入力され、図2に示すように、時刻tAにて、IGBT1のコレクタ端子(C)及びエミッタ端子(E)の間の電圧VCEが立ち下がり、同時にIGBT1を流れるコレクタ電流ICは立ち上がる。
複数の半導体素子でインバータ回路等を構成する場合では、図示しないダイオードが上記IGBT1と直列に接続されるため、該ダイオードが逆回復動作(リカバリ動作)を伴いICはピークを持つ波形となる。
Embodiment 1 FIG.
Hereinafter, a gate drive circuit in the power converter according to the first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a gate drive circuit in a power converter according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is an output waveform diagram when the IGBT is turned on when this gate drive circuit is used.
As shown in the figure, a
When a gate-on command SA for turning on the IGBT 1 is input to the gate
In the case of an inverter circuit and the like in a plurality of semiconductor elements, since the diode (not shown) is connected in series with the IGBT 1, I C the diode with a reverse recovery operation (recovery operation) has a waveform having a peak.
検出されたコレクタ電流ICから、コレクタ電流の微分値検出手段としての微分回路4は時間微分値(dIC/dt)を出力し、ゼロクロス検出手段としてのゼロクロスコンパレータ5は微分回路4の出力を入力として、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロスを検出してワンショットマルチバイブレータ6への動作信号を出力する。図2に示すように、ICが立ち上がる時刻tAにてICの微分値(dIC/dt)は正の信号として検出され、その後ダイオードのリカバリ動作に伴い、時刻tBにてICは立ち下がる。このとき(dIC/dt)はゼロクロスしてゼロクロスコンパレータ5が動作し、ワンショットマルチバイブレータ6は動作信号の入力により操作信号(手段)となるゲート条件切換信号SBを所定の時間(時刻tDまで)発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
From the detected collector current I C , the differentiation circuit 4 as the collector current differential value detection means outputs the time differential value (dI C / dt), and the zero
この実施の形態1では、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロスを検出するタイミング(時刻tB)で、ゲート抵抗を小さくしてゲート駆動条件を所定の時間だけ鋭くする。このため、時刻tB以降のVCEが立ち下がる期間でのスイッチング損失(VCE×IC)の増加を抑制できる。ここで、ゲート抵抗の定常値は、ターンオン時のEMIノイズが低減できる十分な高さとし、可変ゲート抵抗8の抵抗値が該定常値に予め設定された状態でターンオンが開始されるものとする。このため、スイッチング損失を増加させることなく確実にEMIノイズを低減できる。
In the first embodiment, at the timing (time tB) when the zero crossing of the time differential value of the collector current is detected, the gate resistance is decreased and the gate driving condition is sharpened for a predetermined time. For this reason, it is possible to suppress an increase in switching loss (V CE × I C ) during a period in which V CE falls after time tB. Here, it is assumed that the steady value of the gate resistance is high enough to reduce the EMI noise at the time of turn-on, and the turn-on is started in a state where the resistance value of the
このため、図示しない冷却手段の簡略化が図れると共に、EMIノイズを低減するためのフィルタを簡略化、あるいは省略することができ、IGBTを含む電力変換装置を低コストで実現できるという効果がある。
また、ゲート駆動条件の切換は、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロス検出に基づいているため、ゼロ点以外の値で検出する場合に比して検出が容易で確実である。
なお、図2に示すEMIノイズは、時刻tB以降のものを示しているが、それ以前のコレクタ電流の上昇期間にゲート抵抗を高く設定していることで低減されるものである。
For this reason, the cooling means (not shown) can be simplified, and a filter for reducing EMI noise can be simplified or omitted, and there is an effect that a power converter including an IGBT can be realized at low cost.
Further, since the switching of the gate driving condition is based on the zero cross detection of the time differential value of the collector current, the detection is easier and more reliable as compared with the case of detecting with a value other than the zero point.
In addition, although the EMI noise shown in FIG. 2 has shown the thing after the time tB, it is reduced by setting gate resistance high during the rise period of the collector current before that.
上記実施の形態では、ゲート駆動条件の切り換えに可変ゲート抵抗8を用いたが、図3にゲート抵抗を変える具体的な構成の例を示す。ゲートオン信号SAによりゲート電源64からスイッチ63を介してIGBT1のゲートGを充電する。またゲート条件切換信号SBを受けてスイッチ62をオンオフすることで、第2のゲート抵抗61が切り離された定常状態から、所定時間、第1のゲート抵抗60と第2のゲート抵抗61とが並列に接続された状態とし、ゲートGを充電するゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くする。
In the above embodiment, the
また、ゲート駆動条件の切り換えは、図4に示すようにゲート電源電圧の切り換えによるものでも良く、同様の効果を有する。
図4に示すように、第1のゲート電源71は第2のゲート電源72よりも小さい電圧値に設定されてダイオード70が接続されている。ゲートオン信号SAにより第1のゲート電源71あるいは第2のゲート電源72からスイッチ74を介してIGBT1のゲートGを充電する。またゲート条件切換信号SBを受けてスイッチ73がオンオフすることにより、第1のゲート電源71あるいは第2のゲート電源72のいずれかの電圧が選択される。この場合、第1のゲート電源71が選択された定常状態から、所定時間、ゲート電源電圧の大きな第2のゲート電源72を選択して、ゲートGを充電するゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くする。
Further, the switching of the gate driving conditions may be performed by switching the gate power supply voltage as shown in FIG. 4 and has the same effect.
As shown in FIG. 4, the first
さらに、ゲート駆動条件の切り換えは、図5に示すようにゲート(G)エミッタ(E)間にコンデンサ80を並列に接続するか切り離すことによっても良く、同様の効果を有する。
図5に示すように、ゲートオン信号SAによりゲート電源64からスイッチ63を介してIGBT1のゲートGを充電する。またゲート条件切換信号SBを受けてスイッチ81をオンオフすることで、ゲート・エミッタ間にコンデンサ80が並列に接続された定常状態から、所定時間、コンデンサ80の切り離しを行い、ゲートGを充電するゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くする。このようにゲート・エミッタ間の容量を所定時間小さくすることによってもゲート駆動条件を所定時間だけ鋭くすることができる。
Further, the switching of the gate driving conditions may be achieved by connecting or disconnecting the
As shown in FIG. 5, the gate G of the IGBT 1 is charged from the
実施の形態2.
次に、この発明の実施の形態2による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図6はこの発明の実施の形態2による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図である。
図6に示すように、電流センス端子を持たないIGBT1aを用い、コレクタ電流の微分値検出手段としてサーチコイル9を用いる。なお、2および5〜8については図1で示した上記実施の形態1の場合と同様である。
サーチコイル9は、IGBT1aのエミッタ端子あるいはコレクタ端子に接続されてコレクタ電流ICが流れる配線の近傍に配設され、非接触でコレクタ電流ICの微分波形を検出する。このように、サーチコイル9によりコレクタ電流の時間微分値(dIC/dt)を出力することができる。
Next, a gate drive circuit in a power converter according to
As shown in FIG. 6, an IGBT 1a having no current sense terminal is used, and a
この後、上記実施の形態1と同様に、ゼロクロスコンパレータ5はサーチコイル9の出力を入力として、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロスを検出してワンショットマルチバイブレータ6への動作信号を出力し、ワンショットマルチバイブレータ6はゲート条件切換信号SBを所定の時間(時刻tDまで)発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
Thereafter, as in the first embodiment, the zero
この実施の形態2においても、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロスを検出するタイミング(時刻tB)で、ゲート抵抗を小さくしてゲート駆動条件を所定の時間だけ鋭くする。このため、時刻tB以降のVCEが立ち下がる期間でのスイッチング損失(VCE×IC)の増加を抑制できる。また、ゲート抵抗の定常値は、ターンオン時のEMIノイズが低減できる十分な高さで予め設定され、可変ゲート抵抗8の抵抗値が該定常値に設定された状態でターンオンが開始されるため、上記実施の形態1と同様にスイッチング損失を増加させることなく確実にEMIノイズを低減できる。また、ゲート駆動条件の切換は、コレクタ電流の時間微分値のゼロクロス検出に基づいているため、ゼロ点以外の値で検出する場合に比して検出が容易で確実である。
Also in the second embodiment, at the timing (time tB) at which the zero crossing of the time differential value of the collector current is detected, the gate resistance is decreased and the gate driving condition is sharpened for a predetermined time. For this reason, it is possible to suppress an increase in switching loss (V CE × I C ) during a period in which V CE falls after time tB. Further, the steady value of the gate resistance is set in advance at a sufficiently high level to reduce the EMI noise at the time of turn-on, and the turn-on is started in a state where the resistance value of the
またサーチコイル9によりコレクタ電流の微分波形を得るため、微分波形を得るための時間遅れがなく、時間遅れのないゼロクロス検出ができ、信頼性の高い検出が行えると共に、検出回路の簡略化が図れる。
また電流センス端子を持たないIGBT1aについても広く適用できるという効果がある。
さらに、上記実施の形態1と同様に、ゲート駆動条件の切り換えは、図4に示すようにゲート電源電圧の切り換えによるものでも、また、図5に示すようにゲート・エミッタ間の容量を切り換えるものであっても良く、同様の効果が得られる。
Further, since a differential waveform of the collector current is obtained by the
Further, there is an effect that it can be widely applied to the IGBT 1a having no current sense terminal.
Further, as in the first embodiment, the gate drive condition can be switched by switching the gate power supply voltage as shown in FIG. 4, or by switching the gate-emitter capacitance as shown in FIG. The same effect can be obtained.
実施の形態3.
次に、この発明の実施の形態3による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図7はこの発明の実施の形態2による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図である。
図7に示すように、ダイオード22、24が逆並列接続されたIGBT21、23をハーフブリッジ回路に適用したものである。ダイオード22もしくは24がリカバリ動作を行う場合は、コレクタ電流に相当する電流がハーフブリッジ回路のP側直流母線27、N側直流母線32を必ず流れるため、サーチコイル28、33をP側直流母線27、N側流母線32の近傍に配設する。ゼロクロスコンパレータ26、31、ワンショットマルチバイブレータ25、30、ゲート可変抵抗29、34は、上記実施の形態1、2のゼロクロスコンパレータ5、ワンショットマルチバイブレータ6、ゲート可変抵抗8と同様であり、同様に動作する。
Next, a gate drive circuit in a power converter according to
As shown in FIG. 7,
この実施の形態では、上記実施の形態2と同様の効果が得られると共に、サーチコイル28、33をP側直流母線27、N側流母線32の近傍に配設することにより、サーチコイル28、33をIGBT21、23直近の空間余裕のない位置に設置する必要がなく、容易に設置できる。また、1つのサーチコイルで複数のIGBTの電流検出も可能になり、部品点数を低減できる効果もある。
In this embodiment, the same effects as those of the second embodiment can be obtained, and the search coils 28 and 33 are disposed in the vicinity of the P-
実施の形態4.
次に、この発明の実施の形態4による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図8はこの発明の実施の形態4による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図であり、図9はこのゲート駆動回路を用いたIGBT1のターンオン時における各出力波形図である。
上記実施の形態1では、ゼロクロスコンパレータ5はコレクタ電流の時間微分値(dIC/dt)のゼロクロスを検出してワンショットマルチバイブレータ6への動作信号を出力したが、この実施の形態では、レベルコンパレータ10を配設し、微分回路4からのコレクタ電流の時間微分値(dIC/dt)のレベルが所定値xを超えるとレベルコンパレータ10はワンショットマルチバイブレータ11への動作信号を出力する。ワンショットマルチバイブレータ11は動作信号の入力によりゲート条件切換信号SBを所定の時間発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
Embodiment 4 FIG.
Next, a gate drive circuit in a power converter according to Embodiment 4 of the present invention will be described. FIG. 8 is a diagram showing the configuration of the gate drive circuit in the power converter according to the fourth embodiment of the present invention, and FIG. 9 is each output waveform diagram when the IGBT 1 using this gate drive circuit is turned on.
In the first embodiment, the zero
図9に示すように、ICが立ち上がる時刻tAにてICの微分値(dIC/dt)は正の信号として検出され、その後ダイオードのリカバリ動作に伴い、時刻tBにてICは立ち下がる。レベルコンパレータ10は、時刻tB以前の時刻tEにて、時間微分値(dIC/dt)のレベルが所定値xを超えることを検出し、ワンショットマルチバイブレータ11への動作信号を出力する。
図に示すように、時刻tEにて時間微分値(dIC/dt)のレベルが所定値xを超えてからワンショットマルチバイブレータ6によりゲート条件切換信号SBが発生されるまでと、さらに可変ゲート抵抗8の抵抗値が実際に切り換えられるまでと、それぞれ時間遅れが発生し、これにより時刻tEからTの時間遅れを有して可変ゲート抵抗8の抵抗値の切り換えが完了する。
As shown in FIG. 9, the differential value of I C At time tA where I C rises (dI C / dt) is detected as a positive signal, then along with the recovery operation of the diode, I C stood at time tB Go down. The
As shown in the figure, the variable gate is further changed from when the level of the time differential value (dI C / dt) exceeds the predetermined value x at time tE until the gate condition switching signal SB is generated by the one-
ところで、ゲート抵抗値の切り換え等ゲート駆動条件の切り換え動作は、望ましくはリカバリ動作の終了する時刻tBにて完了し、これにより時刻tB以降での不要なスイッチング損失を低減する。さらに、時刻tB、あるいは時刻tB以前で(dIC/dt)が最大値となる時点から時刻tBまでの間にゲート駆動条件を切り換えると、時刻tB以降に切り換えた場合より発生するEMIノイズの大きさが小さくなるものである。
この実施の形態では、上述したように、ゲート駆動条件の切り換えタイミングの基となる検出を、時刻tB以前の時刻tEにて時間微分値(dIC/dt)のレベルが所定値xを超えることで行っているため、所定値xを適した値に設定することで、上述した時間遅れのある場合でも、時刻tBまでにゲート駆動条件の切り換えを完了させることができる。このため、時刻tB以降での不要なスイッチング損失を低減させると共に、EMIノイズを低減することができる。
なおこの実施の形態では所定値xを超えることを検出することを述べたが一旦上昇した(dIC/dt)が減少して所定値x未満となることを検出しても良く、同様の効果が得られる。
By the way, the switching operation of the gate driving conditions such as switching of the gate resistance value is preferably completed at the time tB when the recovery operation ends, thereby reducing unnecessary switching loss after the time tB. Furthermore, if the gate drive condition is switched from time tB or before time tB until (dI C / dt) reaches the maximum value until time tB, the amount of EMI noise generated is greater than when switching after time tB. The size becomes smaller.
In this embodiment, as described above, the level of the time differential value (dI C / dt) exceeds the predetermined value x at the time tE before the time tB, as the basis of the switching timing of the gate drive conditions. Therefore, by setting the predetermined value x to an appropriate value, the switching of the gate driving condition can be completed by time tB even when there is a time delay as described above. For this reason, unnecessary switching loss after time tB can be reduced and EMI noise can be reduced.
In this embodiment, the detection of exceeding the predetermined value x has been described. However, it may be detected that the increased (dI C / dt) decreases to become less than the predetermined value x, and the same effect is obtained. Is obtained.
なお、この実施の形態においても、上記実施の形態2で用いたサーチコイル9を用いてコレクタ電流の時間微分値を検出しても良く、同様の効果が得られる。
Also in this embodiment, the time differential value of the collector current may be detected using the
実施の形態5.
次に、この発明の実施の形態5による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図10はこの発明の実施の形態5による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図であり、図11はこのゲート駆動回路を用いたIGBT1aのターンオン時における各出力波形図である。
上記実施の形態2では、サーチコイル9によりコレクタ電流の時間微分値(dIC/dt)を出力し、この(dIC/dt)のゼロクロスをゼロクロスコンパレータ5で検出してワンショットマルチバイブレータ6へ動作信号を出力したが、この実施の形態では、2階微分値検出手段としての第1のサーチコイル40と第2のサーチコイル42とにより、コレクタ電流の時間2階微分相当値を検出する。
Next, a gate drive circuit in a power converter according to
In the second embodiment, the time differential value (dI C / dt) of the collector current is output by the
図10に示すように、第1の微分値検出手段である第1のサーチコイル40を、IGBT1aのエミッタ端子あるいはコレクタ端子に接続されてコレクタ電流が流れる配線の近傍に配設し、この第1のサーチコイル40は抵抗41を接続して終端し、抵抗41の近傍に第2の微分値検出手段である第2のサーチコイル42を配設する。第1のサーチコイル40の出力はコレクタ電流の時間微分値(dIC/dt)であり、第2のサーチコイル42の出力は、第1のサーチコイル40の出力時間微分値、即ち、コレクタ電流の2階時間微分値(d2IC/dt2)となる。
この後、ゼロクロス検出手段としてのゼロクロスコンパレータ5aは第2のサーチコイル42の出力を入力として、コレクタ電流の2階時間微分値のゼロクロスを検出してワンショットマルチバイブレータ6への動作信号を出力し、ワンショットマルチバイブレータ6はゲート条件切換信号SBを所定の時間発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
As shown in FIG. 10, a
Thereafter, the zero-cross comparator 5a as the zero-cross detecting means receives the output of the
図11に示すように、第2のサーチコイル42の出力である(d2IC/dt2)は、時刻tFにおいて(dIC/dt)が極大値となるときゼロクロスするため、時刻tBの(dIC/dt)のゼロクロス時点よりも早くゼロクロス点を迎える。このため、ゲート駆動条件の切り換え完了までに多少時間遅れのある場合でも、時刻tB以降での不要なスイッチング損失を低減させると共に、EMIノイズを低減することができる。なお、図11では時間遅れのない場合を示している。
また、コレクタ電流の2階時間微分値がゼロクロスするタイミングである時刻tFから時刻tBまでの時間は、電流の大きさによって大きく変化しないため、安定した切り換え動作が得られる。また、ゼロクロス検出を用いているため検出が容易で確実である。
また2個のサーチコイル40、42によりコレクタ電流の2階時間微分値を得るため、コレクタ電流の2階時間微分値を検出するための時間遅れがなく、時間遅れのないゼロクロス検出ができ、信頼性の高い検出が行えると共に、検出回路の簡略化が図れる。
As shown in FIG. 11, the output of the second search coil 42 (d 2 I C / dt 2 ) crosses zero when (d I C / dt) reaches a maximum value at time tF, and therefore at time tB. The zero cross point is reached earlier than the (dI C / dt) zero cross point. For this reason, even if there is a slight time delay until the completion of switching of the gate drive conditions, unnecessary switching loss after time tB can be reduced and EMI noise can be reduced. FIG. 11 shows a case where there is no time delay.
In addition, since the time from the time tF to the time tB, which is the timing at which the second-order time differential value of the collector current crosses zero, does not change greatly depending on the magnitude of the current, a stable switching operation can be obtained. In addition, since zero cross detection is used, detection is easy and reliable.
In addition, since the second-order time differential value of the collector current is obtained by the two
実施の形態6.
次に、この発明の実施の形態6による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図12はこの発明の実施の形態6による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図であり、図13はこのゲート駆動回路を用いたIGBTのターンオン時における各出力波形図である。
図12に示すように、ダイオード22、24が逆並列接続されたIGBT21、23をハーフブリッジ回路に適用したものである。IGBT21がターンオンするとき負荷電流IAが矢印方向に流れていれば、IGBT23に逆並列接続されたダイオード24がリカバリ動作する。ダイオード24に直列に配置された抵抗51はダイオード24に流れる電流IFに相当する信号を検出する。ゼロクロス検出手段としてのゼロクロスコンパレータ5bは電流IFに相当する信号のゼロクロスを検出してワンショットマルチバイブレータ6への動作信号を出力し、ワンショットマルチバイブレータ6はゲート条件切換信号SBを所定の時間発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
Next, a gate drive circuit in a power converter according to
As shown in FIG. 12,
図13に示すように、IGBT21がターンオンするとき、IGBT23に逆並列接続されたダイオード24を流れる電流IFは、リカバリ動作することにより、コレクタ電流ICが極大値となる時刻tBよりも早い時刻tGにてゼロクロス点を迎える。このため、ゲート駆動条件の切り換えを完了までに多少時間遅れのある場合でも、時刻tB以降での不要なスイッチング損失を低減させると共に、EMIノイズを低減することができる。なお、図13では時間遅れのない場合を示している。
As shown in FIG. 13, when the IGBT21 is turned on, the current I F flowing through the antiparallel
また、ダイオード24を流れる電流IFがゼロクロスするタイミングである時刻tGから時刻tBまでの時間は、負荷電流IAの大きさが変化しても大きく変化しないため、安定した切り換え動作が得られる。また、ゼロクロス検出を用いているため検出が容易で確実である。
また図12では省略したが、IGBT21側に逆並列接続されたダイオード22に直列に抵抗を配置することで、他方のIGBT23がターンオンする場合に対応した検出手段を設置できる。
The time from the time tG current I F flowing through the
Although omitted in FIG. 12, a detecting means corresponding to the case where the
実施の形態7.
次に、この発明の実施の形態7による電力変換器におけるゲート駆動回路を説明する。図14はこの発明の実施の形態7による電力変換器におけるゲート駆動回路の構成を示す図であり、図15はこのゲート駆動回路を用いたIGBTのターンオン時における各出力波形図である。
上記実施の形態6では、ダイオード24に流れる電流IFのゼロクロスを検出したが、この実施の形態では、レベルコンパレータ10aを配設して、ダイオード24に流れる電流IFのレベルが低下し所定値y未満になるときを検出し、ワンショットマルチバイブレータ11へ動作信号を出力する。ワンショットマルチバイブレータ11は動作信号の入力によりゲート条件切換信号SBを所定の時間発生し、その間、ゲート端子に接続される可変ゲート抵抗8の抵抗値が小さくなるように切り換える。
Next, a gate drive circuit in a power converter according to a seventh embodiment of the present invention will be described. 14 is a diagram showing a configuration of a gate drive circuit in a power converter according to a seventh embodiment of the present invention, and FIG. 15 is an output waveform diagram at the time of turn-on of an IGBT using this gate drive circuit.
In the sixth embodiment, has been detected a zero crossing of the current I F flowing through the
図15に示すように、IGBT21がターンオンするとき、IGBT23に逆並列接続されたダイオード24を流れる電流IFは、リカバリ動作することにより、コレクタ電流ICが極大値となる時刻tBよりも早い時刻tGにてゼロクロス点を迎えるが、このゼロクロス時点よりも早い時刻tHにて所定値y未満になる。このため、時刻tHを検出することでゲート駆動条件の切り換え完了までの時間遅れが大きくなっても、時刻tB、あるいは時刻tB以前で(dIC/dt)が最大値となる時点から時刻tBまでの間にゲート駆動条件を切り換えることができ、時刻tB以降での不要なスイッチング損失を低減させると共に、EMIノイズを低減することができる。なお、図15では時間遅れのない場合を示している。
As shown in FIG. 15, when the IGBT21 is turned on, the current I F flowing through the antiparallel
さらに所定値yが負荷電流IA未満であれば、時刻tHから時刻tBまでの時間は、負荷電流IAの大きさが変化しても大きく変化しないため、安定した切り換え動作が得られる。所定値yが負荷電流IA以上であればゲート抵抗は切り替わらず大きいままであるが、このときEMIノイズは低減でき、負荷電流IAが十分小さいためスイッチング損失も小さく問題ない。 Furthermore, if the predetermined value y is less than the load current IA, the time from time tH to time tB does not change greatly even if the magnitude of the load current IA changes, so a stable switching operation can be obtained. If the predetermined value y is equal to or greater than the load current IA, the gate resistance remains high without switching, but at this time, the EMI noise can be reduced, and the load current IA is sufficiently small, so there is no problem with a small switching loss.
1,1a 電圧駆動形半導体スイッチング素子としてのIGBT、2 ダイオード、
3 抵抗、4 微分値検出手段としての微分回路、
5,5a,5b ゼロクロス検出手段としてのゼロクロスコンパレータ、
6 ワンショットマルチバイブレータ、7 ゲート駆動信号発生部、
8 可変ゲート抵抗、9 微分値検出手段としてのサーチコイル、
10,10a レベルコンパレータ、11 ワンショットマルチバイブレータ、
21,23 電圧駆動形半導体スイッチング素子としてのIGBT、
22,24 ダイオード、
26,31 ゼロクロス検出手段としてのゼロクロスコンパレータ、
27,32 直流母線、28,33 微分値検出手段としてのサーチコイル、
29,34 可変ゲート抵抗、
40 第1の微分値検出手段としての第1のサーチコイル、
42 第2の微分値検出手段としての第2のサーチコイル、51 抵抗、
60 第1のゲート抵抗、61 第2のゲート抵抗、62 スイッチ、
71 第1のゲート電源、72 第2のゲート電源、73 スイッチ、
80 コンデンサ、81 スイッチ、SA ゲートオン信号、
SB ゲート条件切換信号。
1, 1a IGBT as voltage-driven semiconductor switching element, 2 diode,
3 resistance, differentiation circuit as differential value detection means,
5, 5a, 5b Zero-cross comparator as zero-cross detection means,
6 One-shot multivibrator, 7 Gate drive signal generator,
8 variable gate resistance, 9 search coil as differential value detection means,
10, 10a level comparator, 11 one-shot multivibrator,
21, 23 IGBT as a voltage-driven semiconductor switching element,
22, 24 diodes,
26, 31 Zero cross comparator as zero cross detection means,
27, 32 DC bus, 28, 33 Search coil as differential value detection means,
29, 34 Variable gate resistance,
40. First search coil as first differential value detecting means,
42 Second search coil as second differential value detection means, 51 resistance,
60 first gate resistance, 61 second gate resistance, 62 switch,
71 first gate power source, 72 second gate power source, 73 switch,
80 capacitors, 81 switches, SA gate on signal,
SB Gate condition switching signal.
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004086328A JP4437685B2 (en) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | Gate drive circuit in power converter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004086328A JP4437685B2 (en) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | Gate drive circuit in power converter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005278274A true JP2005278274A (en) | 2005-10-06 |
JP4437685B2 JP4437685B2 (en) | 2010-03-24 |
Family
ID=35177354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004086328A Expired - Fee Related JP4437685B2 (en) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | Gate drive circuit in power converter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4437685B2 (en) |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007221876A (en) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | Power converter |
JP2008054280A (en) * | 2006-07-27 | 2008-03-06 | Toyota Central R&D Labs Inc | Driving circuit for transistor |
JP2008301559A (en) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Fuji Electric Systems Co Ltd | Gate drive device of voltage drive type semiconductor element |
JP2009055654A (en) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Denso Corp | Driver of power switching element and power conversion system |
JP2010045780A (en) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Infineon Technologies Ag | Switch |
JP2011061896A (en) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Toyota Motor Corp | Motor drive controller |
JP2012039458A (en) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Honda Motor Co Ltd | Device and method of driving semiconductor element |
JP2012039460A (en) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Honda Motor Co Ltd | Device and method of driving semiconductor element |
US8749278B2 (en) | 2010-08-09 | 2014-06-10 | Honda Motor Co., Ltd. | Semiconductor device driving unit and method |
DE102013219167A1 (en) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Method and device for switching on or off an electronic component |
US8878573B2 (en) | 2011-05-25 | 2014-11-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Voltage controlled switching element gate drive circuit |
JP2014230410A (en) * | 2013-05-23 | 2014-12-08 | 国立大学法人九州工業大学 | Gate control device of semiconductor element for electric power |
JP2015061406A (en) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 三菱電機株式会社 | Power module |
EP3021486A1 (en) * | 2014-11-17 | 2016-05-18 | General Electric Company | System and method for driving a power switch |
DE102009046255B4 (en) | 2008-10-30 | 2018-10-11 | Infineon Technologies Austria Ag | A driving method for a semiconductor switch and circuit arrangement for driving a gate of a switching transistor |
JP2020061675A (en) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | 矢崎総業株式会社 | Switching circuit |
WO2020144951A1 (en) * | 2019-01-10 | 2020-07-16 | 富士電機株式会社 | Gate drive device, switching device |
KR20200097426A (en) * | 2019-02-08 | 2020-08-19 | 엘지전자 주식회사 | Power converting apparatus |
JP2022017042A (en) * | 2020-07-13 | 2022-01-25 | 日立Astemo株式会社 | Motor controller and method for motor control |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109838819B (en) * | 2017-11-24 | 2021-03-19 | 佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司 | Electromagnetic cooking appliance and control method and control device thereof |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06291631A (en) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Hitachi Ltd | Method and circuit for driving voltage driven element |
JPH0947015A (en) * | 1995-05-23 | 1997-02-14 | Fuji Electric Co Ltd | Drive circuit for self-extinguishing semiconductor element |
JPH10127045A (en) * | 1996-10-17 | 1998-05-15 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driving circuit for power converter |
JPH10150764A (en) * | 1996-09-20 | 1998-06-02 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driving circuit in power converter |
JPH1169778A (en) * | 1997-08-21 | 1999-03-09 | Fuji Electric Co Ltd | Gate drive circuit in power converter |
JP2000083371A (en) * | 1998-09-02 | 2000-03-21 | Fuji Electric Co Ltd | Gate drive circuit in power converter |
JP2001119926A (en) * | 1999-08-10 | 2001-04-27 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driver of voltage-drive type semiconductor element |
-
2004
- 2004-03-24 JP JP2004086328A patent/JP4437685B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06291631A (en) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Hitachi Ltd | Method and circuit for driving voltage driven element |
JPH0947015A (en) * | 1995-05-23 | 1997-02-14 | Fuji Electric Co Ltd | Drive circuit for self-extinguishing semiconductor element |
JPH10150764A (en) * | 1996-09-20 | 1998-06-02 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driving circuit in power converter |
JPH10127045A (en) * | 1996-10-17 | 1998-05-15 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driving circuit for power converter |
JPH1169778A (en) * | 1997-08-21 | 1999-03-09 | Fuji Electric Co Ltd | Gate drive circuit in power converter |
JP2000083371A (en) * | 1998-09-02 | 2000-03-21 | Fuji Electric Co Ltd | Gate drive circuit in power converter |
JP2001119926A (en) * | 1999-08-10 | 2001-04-27 | Fuji Electric Co Ltd | Gate driver of voltage-drive type semiconductor element |
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007221876A (en) * | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | Power converter |
JP2008054280A (en) * | 2006-07-27 | 2008-03-06 | Toyota Central R&D Labs Inc | Driving circuit for transistor |
JP2008301559A (en) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Fuji Electric Systems Co Ltd | Gate drive device of voltage drive type semiconductor element |
JP2009055654A (en) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Denso Corp | Driver of power switching element and power conversion system |
JP2010045780A (en) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Infineon Technologies Ag | Switch |
DE102009046255B4 (en) | 2008-10-30 | 2018-10-11 | Infineon Technologies Austria Ag | A driving method for a semiconductor switch and circuit arrangement for driving a gate of a switching transistor |
JP2011061896A (en) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Toyota Motor Corp | Motor drive controller |
US8749278B2 (en) | 2010-08-09 | 2014-06-10 | Honda Motor Co., Ltd. | Semiconductor device driving unit and method |
JP2012039460A (en) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Honda Motor Co Ltd | Device and method of driving semiconductor element |
JP2012039458A (en) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Honda Motor Co Ltd | Device and method of driving semiconductor element |
US8878573B2 (en) | 2011-05-25 | 2014-11-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Voltage controlled switching element gate drive circuit |
US8994414B2 (en) | 2011-05-25 | 2015-03-31 | Fuji Electric Co., Ltd. | Voltage controlled switching element gate drive circuit |
US9112502B2 (en) | 2011-05-25 | 2015-08-18 | Fuji Electric Co., Ltd. | Voltage controlled switching element gate drive circuit |
US9225326B2 (en) | 2011-05-25 | 2015-12-29 | Fuji Electric Co., Ltd. | Voltage controlled switching element gate drive circuit |
DE102013219167B4 (en) | 2013-04-26 | 2017-03-02 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Two methods, apparatus and use thereof, each for turning on or off an electronic device |
DE102013219167A1 (en) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Method and device for switching on or off an electronic component |
US11929742B2 (en) | 2013-04-26 | 2024-03-12 | Vitesco Technologies Germany Gmbh | Method and device for switching an electronic component on or off |
JP2014230410A (en) * | 2013-05-23 | 2014-12-08 | 国立大学法人九州工業大学 | Gate control device of semiconductor element for electric power |
JP2015061406A (en) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 三菱電機株式会社 | Power module |
EP3021486A1 (en) * | 2014-11-17 | 2016-05-18 | General Electric Company | System and method for driving a power switch |
US9425786B2 (en) | 2014-11-17 | 2016-08-23 | General Electric Company | System and method for driving a power switch |
JP2016105684A (en) * | 2014-11-17 | 2016-06-09 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | System and method for driving power switch |
JP2020061675A (en) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | 矢崎総業株式会社 | Switching circuit |
WO2020144951A1 (en) * | 2019-01-10 | 2020-07-16 | 富士電機株式会社 | Gate drive device, switching device |
CN112534694A (en) * | 2019-01-10 | 2021-03-19 | 富士电机株式会社 | Gate driving device and switching device |
JPWO2020144951A1 (en) * | 2019-01-10 | 2021-09-09 | 富士電機株式会社 | Gate drive device, switching device |
US11196336B2 (en) | 2019-01-10 | 2021-12-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Gate drive apparatus and switching apparatus |
JP7040644B2 (en) | 2019-01-10 | 2022-03-23 | 富士電機株式会社 | Gate drive device, switching device |
KR20200097426A (en) * | 2019-02-08 | 2020-08-19 | 엘지전자 주식회사 | Power converting apparatus |
KR102612830B1 (en) * | 2019-02-08 | 2023-12-11 | 엘지마그나 이파워트레인 주식회사 | Power converting apparatus |
JP2022017042A (en) * | 2020-07-13 | 2022-01-25 | 日立Astemo株式会社 | Motor controller and method for motor control |
JP7421435B2 (en) | 2020-07-13 | 2024-01-24 | 日立Astemo株式会社 | Motor control device and motor control method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4437685B2 (en) | 2010-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4437685B2 (en) | Gate drive circuit in power converter | |
JP5141049B2 (en) | Gate voltage control circuit and gate voltage control method | |
JP5585732B2 (en) | Gate drive device | |
JP5801001B2 (en) | Drive protection circuit, semiconductor module and automobile | |
JP4935266B2 (en) | Voltage-driven semiconductor element driving method and gate driving circuit | |
US8841870B2 (en) | Driver for switching element and control system for rotary machine using the same | |
JP4770304B2 (en) | Semiconductor device gate drive circuit | |
CN107769529B (en) | Soft-off circuit of power device | |
JP2016073052A (en) | Switching controller | |
JP2019110431A (en) | Semiconductor device and power module | |
JP2009054639A (en) | Power converting device | |
JP2009159259A (en) | Switching device | |
JP4506276B2 (en) | Drive circuit for self-extinguishing semiconductor device | |
JP5298557B2 (en) | Voltage-driven semiconductor device gate drive device | |
JP2007267560A (en) | Invertor equipped with through-current controller | |
JP7341163B2 (en) | Power semiconductor device drive circuit and power semiconductor module using the same | |
JP2006324794A (en) | Driver for voltage-driven semiconductor element | |
JP2010259313A (en) | Power conversion system | |
JP5169416B2 (en) | Power conversion circuit drive circuit and power conversion system | |
JP6622405B2 (en) | Inverter drive | |
JP5251553B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2010045925A (en) | Inverter and inverter apparatus | |
JP4570580B2 (en) | Induction heating cooker | |
JP6025145B2 (en) | Inverter control device | |
JP2009124781A (en) | Gate drive for voltage-driven semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061031 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090901 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091027 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091222 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091224 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130115 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130115 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |