JP2005275095A - 光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも一つのレーザー光源と、少なくとも一つの波長変換素子とを備え、前記レーザー光源が発生した光の波長を前記波長変換素子により変換してコヒーレント光を出力する光源装置において、前記波長変換素子のうち少なくとも一つを、周期的分極反転構造が形成されたフッ化ストロンチウムアルミニウム(SrAlF5)単結晶からなる波長変換素子とする。
【選択図】図1
Description
SrAlF5単結晶は非線形光学結晶であり、C軸方向に自発分極を有する強誘電性結晶でもある。したがって、LiNbO3やLiTaO3と同様に電界印加による自発分極の反転が可能であり、常誘電体である水晶の場合と比較して、容易に周期的分極反転構造を実現できるという利点がある。結晶中に所定の周期で分極反転構造を形成すれば、非線形光学特性によって発生した第二高調波や和周波の位相を擬似的に整合させることができ、高効率で波長変換を行うことができるのである。
通常、非線形光学結晶の長さはコヒーレンス長よりも十分に長い。そこで結晶長を有効に使って変換効率を向上させるため、二通りの方法が考案されている。第一の方法は、結晶の複屈折性を利用して、nω=n2ωとなるように光の入射方向と偏光方向を調整する方法である。また第二の方法は、コヒーレンス長ごとに結晶の分極方向を周期的に反転させ、第二高調波の位相を反転させるという方法である。この方法を擬似位相整合法(QPM、Quasi-Phase Matching)と呼び、この方法を適用した非線形光学結晶を擬似位相整合結晶(QPM結晶)または擬似位相整合素子と呼ぶ。
擬似位相整合素子に形成する分極反転構造の周期数は、素子の大きさによって上限が決定される。素子中の光路長が長いほど変換効率は大きくなるので、素子はできるだけ大きく、分極反転構造の周期数も光路に沿ってできるだけ多く形成することが望ましい。
図11(a)はこのような分極反転構造が形成された、擬似位相整合により第二高調波を発生する波長変換素子の概略図である。波長変換素子は略直方体の単結晶からなり、(2)式で与えられる周期dで分極反転構造が形成されている。波長変換素子の一方の端面から、周期的分極反転構造の境界面に垂直に周波数ωの光を入力すれば、他方の端面から周波数2ωの第2高調波が出力され、波長変換素子として機能する。このとき光の入射面または出射面となる結晶端面には光学研磨を施し、さらに透過する光の波長に対応した反射防止膜を形成すれば、波長変換素子としての効率を高めることができる。
図11(b)はこのような分極反転構造が形成された、擬似位相整合により和周波を発生する波長変換素子の概略図である。波長変換素子は略直方体の単結晶からなり、(4)式で与えられる周期d'で分極反転構造が形成されている。波長変換素子の一方の端面から、周期的分極反転構造の境界面に垂直に周波数ω1(波長λ1)の光と周波数ω2(波長λ2)の光を入力すれば、他方の端面から周波数ω3(波長λ3、ω3=ω1+ω2)の光が出力され、波長変換素子として機能する。このとき光の入射面または出射面となる結晶端面には光学研磨を施し、さらに透過する光の波長に対応した反射防止膜を形成すれば波長変換素子としての効率を高めることができる。
請求項4に記載の光源装置は、請求項3に記載の特徴に加え、出力するコヒーレント光の波長がArFエキシマレーザーと同じ193nmであることを特徴とする。
請求項6に記載の半導体露光装置は、請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えたことを特徴とする。
請求項8に記載のレーザー干渉計装置は、請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えたことを特徴とする。
図1は、本発明の第1の実施形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第2の実施形態]
図2は、本発明の第2の実施の形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第3の実施形態]
図3は、本発明の第3の実施の形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。本実施形態は、第2の実施形態のチタンサファイアレーザーをパルス発振させたものである。
[第4の実施形態]
図4は、本発明の第4の実施形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。本実施形態は、第3の実施形態のチタンサファイアレーザーをフラッシュランプ励起のアレキサンドライトレーザー(Be2Al2O4)に置き換えたものである。
本実施形態においても、SrAlF5による擬似位相整合素子のみで、最終段の第二高調波発生を行うことができ、その場合、ビーム品質が高く高効率な波長193nmの光への波長変換が期待できる。また、従来の非線形光学結晶によるものに比べて、光損傷のしきい値が大きく、安価となる。
[第5の実施形態]
図5は、本発明の第5の実施形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第6の実施形態]
図6は、本発明の第6の実施形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第7の実施形態]
図7は、本発明の第7の実施形態である、Nd:YAGレーザー4倍波励起を用いて波長157nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第8の実施形態]
本実施形態は、半導体露光装置であって、従来のArFエキシマレーザー光源の代わりに、本発明の第1、第3、第4の実施形態として説明したパルス発振の193nm光源を露光用光源として搭載したものである。また、前記第2、第5、第6の実施形態である連続発振の193nm光源は、レンズまたはウェハアライメント用の光源として用いることができる。
[第9の実施形態]
本実施形態は、半導体露光装置であって、従来のF2レーザー光源の代わりに、本発明の第7の実施形態として説明したパルス発振の157nm光源を露光用光源として搭載したものである。
[第10の実施形態]
レーザー治療装置、特に視力矯正手術はArFエキシマレーザーを光源として用いていた。しかし、1パルスのパルスエネルギーが大きすぎ、かつパルス時間幅が大きくて露光量の微妙なコントロールがし難いという欠点があった。また、手術室内にフッ素を含むレーザーガスを導入する必要があり、安全性や設備の保守点検の面で問題があった。
[第11の実施形態]
本実施形態は、電子産業におけるプリント基板の穴あけや機械加工などを行うレーザー加工装置の光源として、本発明の第1、第3、第4の実施形態であるパルス発振の193nm光源装置、又は前記第7の実施形態であるパルス発振の157nm光源装置を用いたものである。
[第12の実施形態]
本実施形態は、レーザー干渉計の光源として、第2、第5、第6の実施形態に示した連続発振の193nm光源装置を用いたものである。本発明に係る光源装置が発生するコヒーレント光は、ArFエキシマレーザーよりもコヒーレンス長がはるかに長いため、レーザ干渉計の光源に応用でき、測距装置やArFエキシマレーザー用光学素子の波面収差測定用干渉計などの装置が実現できる。本実施形態のレーザー干渉計装置は、ArFエキシマレーザーを光源として用いた装置にくらべ、ガスが不要であり、かつ小型、低コストの装置を実現できる。
[第13の実施形態]
本実施形態は、第2、第5、第6の実施形態に示した連続発振の193nm光源装置を、共焦点型のレーザー顕微鏡に組み込んだものである。本実施形態のレーザー顕微鏡装置は、半導体ウェハーの検査、特に従来のArFエキシマステッパーで露光したウェハーの検査に用いることもでき、光源としてArFエキシマレーザーを用いたレーザー顕微鏡にくらべ、ガスが不要であり、かつ小型、低コストの装置を実現できる。
[第14の実施形態]
本実施形態は、第2、第5、第6の実施形態に示した連続発振の193nm光源装置をDVD(Digital Versatile Disk)のマスタリング装置の光源として組み込んだものである。この場合、第11の実施の形態と同様に、集光特性が良く、かつガスが不要で、小型、低コストの装置を実現できる。
[第15の実施形態]
本実施形態は、第2、第5、第6の実施形態に示した連続発振の193nm光源装置を、光メモリ用の光源として用いたものである。本実施形態によれば、従来にない短波長の光メモリを構成できる。また、光源としてArFエキシマレーザーを用いたものにくらべ、ガスが不要であり、かつ小型、低コストの装置を実現できる。
[第16の実施形態]
本実施形態は、第1から第6の実施形態である連続発振の193nm光源装置または前記第7の実施形態であるパルス発振の157nm光源装置を、光造形装置用の光源として用いたものである。この場合、ArFエキシマレーザーを用いたものにくらべ、ガスが不要であり、かつ小型、低コストの光造形装置を実現できる。
[第17の実施形態]
第17〜第19の実施形態においては、最終段ではなく、その手前の波長変換においてSrAlF5擬似位相整合素子を利用する実施形態を示す。この構成の特徴と効果は、最終段の手前までは全てN.C.P.M.(non-critical位相整合)可能な光学系を実現することで、全ての光学素子が一直線上に配置できるシンプルな光学系が実現できることにある。これまでは、波長1554nmの8倍波として193nmを発生させるための光学系は、途中N.C.P.M.が不可能な波長変換素子が入るため、ミラー等で光線を分岐して2列以上の光学系にする必要であり、構成が複雑になるとともに調整が困難であった。しかし、たとえ193nmを発生する最終段にSrAlF5擬似位相整合素子を使わなくても、最終段の手前までは全てN.C.P.M.が可能な光学系が作り出せれば、シンプルな構成で調整が容易な光学系が実現できる。また、193nmの位相整合が要求される最終段に比べ、その手前の波長変換は、素子の周期構造に要求される周期が長くて済むことから、技術的に実現が容易になる。
図12において1200は、DFB構造を持ちパルス変調されたInGaAsP系半導体レーザである。このレーザは波長1554nmで発振するように不図示の温度調節機構によって温度コントロールされている。
[第18の実施形態]
図13は、本発明の第18の実施形態である波長193nmの光源装置を示す概略構成図である。図13において1300〜1308までの構成(基本波レーザーの構成)は前記第1および第17の実施形態と同じである。
[第19の実施形態]
図14は、本発明の第19の実施形態である波長193nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
エルビウムドープファイバー中で増幅された光は、光ファイバー端面またはコネクタ端面1407より出射光1408として空間に出射され、レンズ1409によって非線形光学結晶LBO1410に入射される。非線形光学結晶LBO1410では、第二高調波(772nm)が発生する。このLBO1410は、タイプ1のnon-critical位相整合をするように、結晶方位θ=90°、φ=0°でカットされ、結晶温度は約117℃に保たれている。非線形光学結晶1410は、LBO以外にSrAlF5、Li:NbO3、Li:TaO3、KTP(KTiOPO4)による擬似位相整合素子で置き換えてもよい。前記いずれの場合も、Walk-Off効果がなく、高効率でビーム品質の良い第二高調波発生が可能である。
[第20の実施形態]
第20〜第23の実施形態では、波長266 nm、213nm、177nm、257nmのコヒーレント光を出力する光源装置の例を示す。この構成の特徴と効果は、最終段まで全てN.C.P.M.(non-critical位相整合)可能な光学系を実現することで、全ての光学素子が一直線上に配置できるシンプルな光学系が実現できることともに、最終的にWalk-Off効果がなく、高効率でビーム品質の良い光を発生することができる。
図15において1500は、Nd:YAGレーザ(波長1064nm)である。Nd:YAGレーザの波長1064nmの光は出射光1501として空間に出射され、レンズ1502によって非線形光学結晶LBO1503に入射される。非線形光学結晶LBO1503では、第二高調波(波長532nm)が発生する。このLBO1503は、タイプ1のnon-critical位相整合をするように、結晶方位θ=90°、φ=90°でカットされ、結晶温度は約149℃に保たれている。非線形光学結晶1503は、LBO以外に、非線形光学結晶K:NbO3で置き換えても良い。この場合、タイプ1のnon-critical位相整合をするように、結晶方位θ=0°、φ=0°でカットされ、結晶温度は約208℃に保たれている。これらの非線形光学結晶以外にSrAlF5、Li:NbO3、Li:TaO3、KTP(KTiOPO4)による擬似位相整合素子で置き換えてもよい。前記いずれの場合も、Walk-Off効果がなく、高効率でビーム品質の良い第二高調波発生が可能である。
[第21の実施形態]
図16は、本発明の第21の実施形態である波長213nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第22の実施形態]
図17は、本発明の第22の実施形態である波長177nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
[第23の実施形態]
図18は、本発明の第23の実施形態である波長257nmのコヒーレント光を出力する光源装置を示す概略構成図である。
Claims (9)
- 少なくとも一つのレーザー光源と、少なくとも一つの波長変換素子とを備え、前記レーザー光源が発生した光の波長を前記波長変換素子により変換して出力する光源装置であって、前記波長変換素子のうち少なくとも一つが、周期的分極反転構造が形成されたフッ化ストロンチウムアルミニウム(SrAlF5)単結晶からなる波長変換素子である、コヒーレント光を出力する光源装置。
- 前記フッ化ストロンチウムアルミニウム(SrAlF5)単結晶からなる波長変換素子が第二高調波または和周波を発生する請求項1に記載の光源装置。
- 出力するコヒーレント光の波長が200nm以下である請求項1または請求項2のいずれか一項に記載の光源装置。
- 出力するコヒーレント光の波長が193nmである請求項3に記載の光源装置。
- 出力するコヒーレント光の波長が157nmである請求項3に記載の光源装置。
- 請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えた半導体露光装置。
- 請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えたレーザー治療装置。
- 請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えたレーザー干渉計装置。
- 請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光源装置を備えたレーザー顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004089635A JP2005275095A (ja) | 2004-03-25 | 2004-03-25 | 光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004089635A JP2005275095A (ja) | 2004-03-25 | 2004-03-25 | 光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005275095A true JP2005275095A (ja) | 2005-10-06 |
Family
ID=35174829
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004089635A Pending JP2005275095A (ja) | 2004-03-25 | 2004-03-25 | 光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005275095A (ja) |
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2004
- 2004-03-25 JP JP2004089635A patent/JP2005275095A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070105 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080620 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20081125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091222 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100810 |