JP2005256113A - Vacuum deposition apparatus - Google Patents
Vacuum deposition apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005256113A JP2005256113A JP2004070993A JP2004070993A JP2005256113A JP 2005256113 A JP2005256113 A JP 2005256113A JP 2004070993 A JP2004070993 A JP 2004070993A JP 2004070993 A JP2004070993 A JP 2004070993A JP 2005256113 A JP2005256113 A JP 2005256113A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hollow shaft
- evaporation source
- vacuum chamber
- vacuum
- evaporation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/564—Means for minimising impurities in the coating chamber such as dust, moisture, residual gases
Abstract
Description
本発明は、真空チャンバ内において蒸発源が移動できる構造の真空蒸着装置に関する。 The present invention relates to a vacuum deposition apparatus having a structure in which an evaporation source can move in a vacuum chamber.
真空蒸着装置は、真空チャンバの内部に被処理基板と蒸発源とを対向配置し、蒸発源からの蒸発物質を基板上に蒸着させ成膜している。従来では、蒸発源を真空チャンバ内に固定して成膜していたが、近年では、基板の大面積化、膜質の均質化等を理由として、蒸発源を基板に対して相対移動させながら成膜する方法も採用されている(例えば下記特許文献1参照)。
In the vacuum deposition apparatus, a substrate to be processed and an evaporation source are disposed opposite to each other in a vacuum chamber, and an evaporation substance from the evaporation source is deposited on the substrate to form a film. Conventionally, the evaporation source is fixed in a vacuum chamber to form a film. However, in recent years, the evaporation source is moved while moving relative to the substrate for reasons such as increasing the area of the substrate and homogenizing the film quality. A film forming method is also employed (for example, see
真空チャンバ内において蒸発源が移動できる構造の真空蒸着装置は、従来、例えばチェーンやスプロケット等、蒸発源の駆動に必要な機構を真空チャンバ内に配置し、蒸発源に対する電力供給ケーブル及び冷却水循環ホース等の接続は、真空チャンバの隔壁を介してチャンバ内部の蒸発源へ直接行うようにしていた。 Conventionally, a vacuum evaporation apparatus having a structure in which an evaporation source can move in a vacuum chamber has conventionally been provided with a mechanism necessary for driving the evaporation source, such as a chain or a sprocket, in the vacuum chamber, and a power supply cable and a cooling water circulation hose for the evaporation source. These connections were made directly to the evaporation source inside the chamber through the partition of the vacuum chamber.
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献を以下に示す。特許文献1には、基板の一端から他方の一端まで移動する蒸発源を複数備え、異種蒸着材料の多層膜を連続して形成する構造の真空蒸着装置が開示されている。また、特許文献2には、電子ビーム蒸着装置の蒸発源を円筒形状に形成し、当該円筒形状の蒸発源を長手方向に移動自在とすると共に、内部に冷却水を循環させる構成が開示されている。
Prior art documents related to the invention of this application are shown below.
しかしながら、真空チャンバ内において蒸発源が移動できる構造の従来の真空蒸着装置は、上述のように、蒸発源を移動させるのに必要な駆動機構が真空チャンバ内に配置されているので、当該駆動機構から生じるパーティクルでチャンバ内が汚染されるという問題がある。また、駆動機構をチャンバ内に配置しているので、チャンバ容積が増大し、複数の蒸発源を配置することも困難となる。 However, in the conventional vacuum evaporation apparatus having a structure in which the evaporation source can move in the vacuum chamber, as described above, the drive mechanism necessary for moving the evaporation source is arranged in the vacuum chamber. There is a problem that the inside of the chamber is contaminated with particles generated from the above. In addition, since the drive mechanism is disposed in the chamber, the chamber volume increases and it is difficult to dispose a plurality of evaporation sources.
更に、蒸発源に接続された電力ケーブルや冷却水導入管等を真空チャンバ内にそのまま入れる構成であったので、蒸発源の移動に伴ってこれらケーブル等を原因とするパーティクルの発生や、耐久性の問題もあった。 Furthermore, since the power cable connected to the evaporation source, the cooling water introduction pipe, and the like are put in the vacuum chamber as they are, the generation of particles caused by these cables and the durability of the evaporation source move. There was also a problem.
本発明は上述の問題に鑑みてなされ、チャンバ内におけるパーティクルの発生を低減でき、蒸発源の複数配置にも対応することができる蒸発源駆動機構を備えた真空蒸着装置を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a vacuum evaporation apparatus including an evaporation source driving mechanism that can reduce generation of particles in a chamber and can cope with a plurality of evaporation sources. To do.
以上の課題は、真空チャンバ内に、蒸着材料の蒸発源を備えた真空蒸着装置において、一端が閉塞し他端が開放された中空軸と、この中空軸の一端側を前記真空チャンバの内部に挿通し前記中空軸を軸方向に移動させる移動機構とを有し、前記蒸発源は、前記中空軸の一端側に取り付けられ、前記蒸発源に導入される電力及び冷却水が前記中空軸の内部を介して供給されると共に、前記移動機構は、前記真空チャンバの外部に設けられていることを特徴とする真空蒸着装置、によって解決される。 In the vacuum deposition apparatus provided with the evaporation source of the deposition material in the vacuum chamber, the above problem is that a hollow shaft whose one end is closed and the other end is opened, and one end side of this hollow shaft are placed inside the vacuum chamber. A moving mechanism that moves the hollow shaft in the axial direction, the evaporation source is attached to one end of the hollow shaft, and electric power and cooling water introduced into the evaporation source are inside the hollow shaft. And the moving mechanism is solved by a vacuum deposition apparatus provided outside the vacuum chamber.
本発明では、蒸発源の駆動機構が真空チャンバの外部に配置されているので、当該駆動機構を原因とするパーティクルの発生を回避できると共に、真空チャンバの容積の低減あるいは真空チャンバ内における蒸発源の複数配置にも容易に対応することが可能である。 In the present invention, since the evaporation source drive mechanism is arranged outside the vacuum chamber, generation of particles caused by the drive mechanism can be avoided, and the volume of the vacuum chamber can be reduced or the evaporation source in the vacuum chamber can be prevented. It is possible to easily cope with a plurality of arrangements.
更に、蒸発源に対する必要な電力及び冷却水の供給を、蒸発源を支持する中空軸の内部を介して行うようにしているので、これら電力及び冷却水の各供給系統からのパーティクル発生を抑えて、真空チャンバの汚染を効果的に低減することができる。 Furthermore, since the necessary power and cooling water are supplied to the evaporation source through the inside of the hollow shaft that supports the evaporation source, the generation of particles from each supply system of these electric power and cooling water is suppressed. The contamination of the vacuum chamber can be effectively reduced.
以上述べたように、本発明の真空蒸着装置によれば、蒸発源の駆動機構を真空チャンバの外部に配置すると共に、蒸発源に対する必要な電力及び冷却水の供給を、蒸発源を支持する中空軸の内部を介して行うようにしているので、真空チャンバ内部におけるパーティクル発生要因を低減できると共に、蒸発源の複数配置にも容易に対応することが可能である。 As described above, according to the vacuum vapor deposition apparatus of the present invention, the evaporation source drive mechanism is disposed outside the vacuum chamber, and the necessary power and cooling water supply to the evaporation source are provided in the hollow space that supports the evaporation source. Since it is performed through the inside of the shaft, it is possible to reduce the cause of particle generation inside the vacuum chamber and to easily deal with a plurality of evaporation sources.
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施の形態における真空蒸着装置の蒸発源駆動機構1の構成を示している。
FIG. 1 shows a configuration of an evaporation
この蒸発源駆動機構1は、成膜室2を区画する真空チャンバの隔壁3を貫通し、成膜室2内で蒸発源4を支持する中空軸5を備えている。この中空軸5は、成膜室2側の一端部5aが閉塞すると共に、真空チャンバ外方側の他端部5bが開放している。蒸発源4は、この中空軸5の一端部5a近傍に支持されている。なお、以下、中空軸5の一端部5aを「閉塞端」、他端部5bを「開放端」とそれぞれ表現する。
The evaporation
中空軸5は隔壁3の貫通孔3aに挿通され、この挿通部を介して中空軸5は軸方向へ移動自在とされると共に、この挿通部と中空軸5の開放端5bとの間にはベローズ6が設けられている。つまり、本実施の形態では、隔壁3と中空軸5との間の気密をベローズ6によって確保し、このベローズ6によって、中空軸5の挿通部における真空チャンバの内外の連通を遮断するようにしている。なお、中空軸5の内部は、その閉塞端5aが真空チャンバ内部に位置し、開放端5bが真空チャンバ外部に位置しているので、大気圧状態である。
The hollow shaft 5 is inserted into the through
蒸発源4は、蒸着材料を蒸発させる抵抗加熱源と、冷却水が循環するジャケット部を有しており、これら抵抗加熱源に供給する電力ケーブル及び冷却水の循環ホース等の供給系統7は、中空軸5の内部を介して、蒸発源4に接続されている。
The evaporation source 4 has a resistance heating source for evaporating the vapor deposition material and a jacket portion through which the cooling water circulates. A
なお、蒸発源4は上述の抵抗加熱方式に限らず、電子ビーム蒸発源等の他の形式の蒸発源を用いることも可能である。 The evaporation source 4 is not limited to the resistance heating method described above, and other types of evaporation sources such as an electron beam evaporation source can be used.
中空軸5の内部は、真空チャンバの外部(大気側)に開口する開放端5bに連通しており、上記電力ケーブル及び冷却水循環ホース等の供給系統7は、この中空軸5の開放端5bから挿通されている。上記供給系統7は、中空軸5の開放端5b側上部に取り付けられた支持板8に固定されている可撓性導出管9の内部を介して外部の電力源及び冷却水循環システムに接続されている。
The inside of the hollow shaft 5 communicates with an
蒸発源4は、成膜室2の内部において、中空軸5の軸方向に延在するガイドレール10に沿って移動自在とされている。中空軸5の閉塞端5a側には、このガイドレール10上を走行するガイドローラ11が取り付けられている。
The evaporation source 4 is movable along a
中空軸5をその軸方向に移動させる駆動源は、真空チャンバの外部に設けられている。 A drive source for moving the hollow shaft 5 in the axial direction is provided outside the vacuum chamber.
真空チャンバの隔壁3には、その外面側の中空軸5の直下方位置に、当該中空軸5の延在方向に沿ってスライドガイド12を支持するブラケット13が取り付けられている。中空軸5の開放端5b側には、このスライドガイド12上を走行するガイドブロック14が設けられており、ブラケット13の下面側に取り付けられた駆動部15の駆動により、図2に示すように、中空軸5をスライドガイド12に沿って移動自在としている。
A
駆動部15としては、サーボシリンダや電動サーボモータ、あるいはパルスモータを含むボールネジユニット等の精密送り機構で構成され、中空軸5の移動量及び移動位置が高精度に制御できるようにされている。
The
なお、これらスライドガイド12、ブラケット13、ガイドブロック14、駆動部15等により、本発明の「移動機構」が構成される。
The
以上のように構成される蒸発源駆動機構1を備えた真空蒸着装置は、成膜室2の内部において、蒸発源4と対向する位置に配置された被処理基板の成膜面に対し、所定の蒸着材料を成膜する。この場合、被処理基板の成膜面には、所定形状の開口パターンが形成されたマスクが重ね合わされていてもよい。
The vacuum vapor deposition apparatus provided with the evaporation
蒸発源駆動機構1は、図1に示す蒸発源4の待機位置から、駆動部15を駆動して中空軸5を成膜室2側へ移動させ、蒸発源4を図2に示す終端位置までの間を移動させる過程で被処理基板に対する成膜作用を行う。
The evaporation
ここで、蒸発源1が図1に示す待機位置に位置している場合には成膜処理が行えない、即ち、蒸発材料が成膜面に蒸着しない幾何学的位置に被処理基板を配置しておけば、シャッタ等の蒸着阻害機構を設けることなく、待機位置において蒸着材料の蒸発作用を行わせておくことが可能となり、これにより、蒸発源の移動と同時に所期の成膜処理を迅速に実行でき、生産性及び膜質の向上を図ることができる。
Here, when the
さて、本実施の形態においては、蒸発源4の駆動機構を真空チャンバの隔壁3の外方位置に配置しているので、当該駆動機構を原因とするダストあるいはパーティクルの発生を回避でき、これにより成膜室2のクリーン度を維持して高品質の成膜処理を行うことができる。
In the present embodiment, since the drive mechanism of the evaporation source 4 is disposed outside the
また、蒸発源駆動機構1が真空チャンバの外部に配置されているので、成膜室2の容積の大型化を回避でき、これにより真空チャンバの小型化を図ることができる。
In addition, since the evaporation
また、蒸発源駆動機構1を真空チャンバの外部に配置することによって、成膜室2の内部に複数の蒸発源4を配置することも可能となり、被処理基板に対する多層膜の形成にも十分に対応することができるようになる。
In addition, by disposing the evaporation
図3は、成膜室2内への複数の蒸発源4の配置例を示す平面図である。各蒸発源4A,4Bは、それぞれ上述と同様な構成を有する蒸発源駆動機構1A,1Bによって、成膜室2内を移動自在とされている。各蒸発源4A,4Bは、被処理基板の成膜面の同一領域をカバーできるように、同一の移動領域を共有できる形状に構成されている。これら各蒸発源4の移動形態は特に限定されず、同期して移動させたり、交互に移動させることができる。
FIG. 3 is a plan view showing an arrangement example of the plurality of evaporation sources 4 in the
また、本実施の形態によれば、成膜室2内の蒸発源4に対する必要な電力及び冷却水の供給を、蒸発源4を支持する中空軸5の内部を介して行っているので、真空チャンバの隔壁3に対して電力ケーブルや冷却水循環ホース等のための挿通機構を必要とすることはない。
Further, according to the present embodiment, the necessary power and cooling water are supplied to the evaporation source 4 in the
また、蒸発源4に対する必要な電力及び冷却水の供給系統7を中空軸5の内部に挿入配置しているので、蒸発源4の移動に伴うこれら供給系統7を安定に保持でき、これによりパーティクルの発生を防げると共に、供給系統7の耐久性向上をも図ることができる。
In addition, since the
以上、本発明の実施の形態について説明したが、勿論、本発明はこれに限定されることなく、本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。 The embodiment of the present invention has been described above. Of course, the present invention is not limited to this, and various modifications can be made based on the technical idea of the present invention.
例えば以上の実施の形態では、成膜室2に蒸発源4を複数配置する例として、真空チャンバの隔壁3の同一面にそれぞれ図1に示した蒸発源駆動機構を並べて配置する構成を説明したが、これに限らず、例えば真空チャンバの相対向する一対の隔壁に上記蒸発源駆動機構をそれぞれ配置する構成例も適用可能である。
For example, in the above embodiment, as an example in which a plurality of evaporation sources 4 are arranged in the
また、蒸発源4の配置数も2に限らず、更にその数を増大することも可能である。 Further, the number of the evaporation sources 4 is not limited to 2, and the number can be further increased.
1 蒸発源駆動機構
2 成膜室
3 真空チャンバの隔壁
4 蒸発源
5 中空軸
5a 中空軸の閉塞端
5b 中空軸の開放端
6 ベローズ
7 供給系統
10 ガイドレール
12 スライドガイド
15 駆動部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
一端が閉塞し他端が開放された中空軸と、この中空軸の一端側を前記真空チャンバの内部に挿通し前記中空軸を軸方向に移動させる移動機構とを有し、
前記蒸発源は、前記中空軸の一端側に取り付けられ、前記蒸発源に導入される電力及び冷却水が前記中空軸の内部を介して供給されると共に、前記移動機構は、前記真空チャンバの外部に設けられていることを特徴とする真空蒸着装置。 In a vacuum deposition apparatus provided with an evaporation source of a deposition material in a vacuum chamber,
A hollow shaft having one end closed and the other end opened, and a moving mechanism for inserting the one end side of the hollow shaft into the vacuum chamber and moving the hollow shaft in the axial direction;
The evaporation source is attached to one end of the hollow shaft, and electric power and cooling water introduced into the evaporation source are supplied through the inside of the hollow shaft, and the moving mechanism is disposed outside the vacuum chamber. A vacuum evaporation apparatus provided in the above.
The vacuum deposition apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the hollow shafts are arranged, and the evaporation sources are respectively attached to the plurality of hollow shafts.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004070993A JP4563698B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Vacuum deposition equipment |
PCT/JP2005/003174 WO2005087970A1 (en) | 2004-03-12 | 2005-02-25 | Vacuum deposition apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004070993A JP4563698B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Vacuum deposition equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005256113A true JP2005256113A (en) | 2005-09-22 |
JP4563698B2 JP4563698B2 (en) | 2010-10-13 |
Family
ID=34975607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004070993A Expired - Lifetime JP4563698B2 (en) | 2004-03-12 | 2004-03-12 | Vacuum deposition equipment |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4563698B2 (en) |
WO (1) | WO2005087970A1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010248584A (en) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Hitachi High-Technologies Corp | Vacuum vapor deposition device |
JP2012169168A (en) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Hitachi High-Technologies Corp | Crystal oscillation-type film thickness monitoring device and evaporation source device and thin film deposition system of el material using the same |
JP2013122923A (en) * | 2013-01-17 | 2013-06-20 | Hitachi High-Technologies Corp | Vacuum evaporation apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101824596B (en) * | 2010-03-30 | 2011-12-14 | 东莞宏威数码机械有限公司 | Automatic cooling type power supply device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000286327A (en) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Film-forming device |
JP2002348658A (en) * | 2001-05-23 | 2002-12-04 | Anelva Corp | Evaporation source, thin-film forming method and forming apparatus therewith |
JP2003160857A (en) * | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Vapor deposition apparatus, thin-film forming method and display device using them |
JP2003257644A (en) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | Method of manufacturing organic electroluminescence display device |
JP2004006282A (en) * | 2002-03-29 | 2004-01-08 | Sanyo Electric Co Ltd | Method for vapor deposition and for manufacturing display device |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004323876A (en) * | 2003-04-22 | 2004-11-18 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | Electron beam evaporation source |
-
2004
- 2004-03-12 JP JP2004070993A patent/JP4563698B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-02-25 WO PCT/JP2005/003174 patent/WO2005087970A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000286327A (en) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Film-forming device |
JP2002348658A (en) * | 2001-05-23 | 2002-12-04 | Anelva Corp | Evaporation source, thin-film forming method and forming apparatus therewith |
JP2003160857A (en) * | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Vapor deposition apparatus, thin-film forming method and display device using them |
JP2003257644A (en) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | Method of manufacturing organic electroluminescence display device |
JP2004006282A (en) * | 2002-03-29 | 2004-01-08 | Sanyo Electric Co Ltd | Method for vapor deposition and for manufacturing display device |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010248584A (en) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Hitachi High-Technologies Corp | Vacuum vapor deposition device |
JP2012169168A (en) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Hitachi High-Technologies Corp | Crystal oscillation-type film thickness monitoring device and evaporation source device and thin film deposition system of el material using the same |
JP2013122923A (en) * | 2013-01-17 | 2013-06-20 | Hitachi High-Technologies Corp | Vacuum evaporation apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005087970A1 (en) | 2005-09-22 |
JP4563698B2 (en) | 2010-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI604553B (en) | A processing apparatus for processing devices, particularly devices including organic materials therein, and method for transferring an evaporation source from a processing vacuum chamber to a maintenance vacuum chamber or from the maintenance vacuum cha | |
JP2006509914A (en) | 3D product manufacturing equipment | |
JP6224252B2 (en) | Target processing unit | |
JP4563698B2 (en) | Vacuum deposition equipment | |
TW201712921A (en) | Organic light-emitting display apparatus, organic layer deposition apparatus, and method of manufacturing the organic light-emitting display apparatus by using the organic layer deposition apparatus | |
JP2006299358A (en) | Vacuum film deposition apparatus, and vacuum film deposition method | |
JP6352436B2 (en) | Deposition equipment | |
JP4251857B2 (en) | Vacuum film forming apparatus and vacuum film forming method | |
JP2007504675A (en) | System and method for processing a substrate | |
JP4600025B2 (en) | Coating equipment | |
CN107658239B (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
TWI555863B (en) | Deposition method and deposition apparatus | |
JP2005317656A (en) | Vacuum processing device | |
WO2023032571A1 (en) | Substrate transfer apparatus | |
JP7278314B2 (en) | Facing target type sputtering apparatus and sputtering method | |
CN111893452B (en) | Blade preheating device and method for electron beam physical vapor deposition | |
KR102225958B1 (en) | A Substrate processing apparatus and method | |
JP2010135210A (en) | Plasma treatment device | |
JP2000031007A (en) | Stage apparatus and optical device using the same | |
JP2017025381A (en) | Transport device used in film deposition apparatus | |
JP6839513B2 (en) | Thin film forming device | |
JP3684456B2 (en) | Processing apparatus including a processing container having a linear motion mechanism | |
JP2024008279A (en) | Multi-charged particle beam irradiation device, multi-charged particle beam irradiation method and exchange method for blanking aperture array mounting substrate | |
JP2012233240A (en) | Vapor deposition source, organic el device manufacturing apparatus and operating method of organic el device manufacturing apparatus | |
JP6097973B2 (en) | Vacuum device with rotation introduction mechanism |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061211 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20071110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100413 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100610 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100727 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100729 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4563698 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |