JP2005243006A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の半導体装置は、複数のユニット及び制御回路を含む中央処理回路、アンテナ、電源回路及びクロック発生回路を有する。制御回路は、アンテナによる電源供給の情報を含む電源供給信号、又は複数のユニットの各々から供給されるイベント信号により求めた負荷信号に基づき、複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源を停止する第1の制御信号、複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源電位を変える第2の制御信号、複数のユニットから選択された一つ又は複数に対するクロック信号の供給を停止する第3の制御信号から選択された一つ又は複数を、電源回路とクロック発生回路の一方又は両方に出力する。
【選択図】 図1
Description
日経エレクトロニクス 2000.3.13 164頁
(実施の形態1)
つまり、アンテナ18による電力供給レベルが高いと、抵抗素子603による電圧降下が小さく、V1〜V3は全てVrefより高い電位となり(1、1、1)が出力される。一方、アンテナ18による電力供給レベルが低いと、抵抗素子603による電圧降下が大きく、V1〜V3は全てVrefより低い電位となり(0、0、0)が出力される。
(実施の形態2)
1つは、メモリブロックXが待機モードにあり、データの読み出し/書き込みができる状態ではないという情報を含む信号を、アクセスしてきた回路(代表的にはCPU)に伝達する方法である。具体的には、メモリブロックXと、アクセスする可能性がある回路の間に、専用の制御信号線を設ける。そして、待機モードのメモリブロックXに、アクセスしてきた場合、まず、専用の制御信号をアサートし、アクセスしてきた相手に割り込みをかけて待機させる。並行して、アクセスのあったメモリブロックXを通常モードに復帰させ、準備ができたら割り込みを解除する。
Claims (20)
- 複数のユニット及び制御回路を含む中央処理回路、アンテナ、電源回路及びクロック発生回路を有し、
前記制御回路は、前記アンテナによる電源供給の情報を含む電源供給信号に基づき、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源を停止する第1の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源電位を変える第2の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に対するクロック信号の供給を停止する第3の制御信号から選択された一つ又は複数を、前記電源回路と前記クロック発生回路の一方又は両方に出力することを特徴とする半導体装置。 - 複数のユニット及び制御回路を含む中央処理回路、アンテナ、電源回路、クロック発生回路、前記複数のユニットと前記電源回路の間に設けられた第1のスイッチ及び前記複数のユニットと前記クロック発生回路との間に設けられた第2のスイッチを有し、
前記制御回路は、前記アンテナによる電源供給の情報を含む電源供給信号に基づき、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源を停止する第1の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源電位を変える第2の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に対するクロック信号の供給を停止する第3の制御信号から選択された一つ又は複数を、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチの一方又は両方に出力することを特徴とする半導体装置。 - 複数のユニット及び制御回路を含む中央処理回路、アンテナ、電源回路及びクロック発生回路を有し、
前記制御回路は、前記複数のユニットの各々から供給されるイベント信号により求めた負荷信号に基づき、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源を停止する第1の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源電位を変える第2の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に対するクロック信号の供給を停止する第3の制御信号から選択された一つ又は複数を、前記電源回路と前記クロック発生回路の一方又は両方に出力することを特徴とする半導体装置。 - 複数のユニット及び制御回路を含む中央処理回路、アンテナ、電源回路、クロック発生回路、前記複数のユニットと前記電源回路の間に設けられた第1のスイッチ及び前記複数のユニットと前記クロック発生回路との間に設けられた第2のスイッチを有し、
前記制御回路は、前記複数のユニットの各々から供給されるイベント信号により求めた負荷信号に基づき、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源を停止する第1の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に供給する電源電位を変える第2の制御信号、前記複数のユニットから選択された一つ又は複数に対するクロック信号の供給を停止する第3の制御信号から選択された一つ又は複数を、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチの一方又は両方に出力することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
ガラス基板を有し、
前記複数のユニット及び前記制御回路は、前記ガラス基板上に設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
フレキシブル基板を有し、
前記複数のユニット及び前記制御回路は、前記フレキシブル基板上に設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
前記複数のユニットは、バスインターフェイス、データキャッシュ、命令デコーダ、リザベーションステーション、命令キャッシュ、整数演算ユニット、浮動小数点ユニット、ブランチユニット、ロード/ストアユニット及び汎用レジスタから選択された複数であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、
前記複数のユニットは、パイプラインユニット、周辺メモリコントローラ及び周辺バスコントローラから選択された複数であることを特徴とする半導体装置。 - 複数のメモリブロック、制御回路及び電源回路を有し、
前記複数のメモリブロックの各々は、ビット線とワード線が絶縁体を介して交差する領域に記憶素子を含むメモリセルを複数有するメモリセルアレイと、前記ワード線に接続するロウデコーダとを有し、
前記制御回路は、前記複数のメモリブロックの動作情報を含む動作信号に基づき、前記メモリセルアレイに供給する電源電位を変える第1の制御信号と、前記ロウデコーダに供給する電源電位を停止する第2の制御信号の一方又は両方を、前記電源回路に出力することを特徴とする半導体装置。 - 複数のメモリブロック、制御回路、電源回路及び前記複数のメモリブロックと前記電源回路の間に設けられたスイッチを有し、
前記複数のメモリブロックの各々は、ビット線とワード線が絶縁体を介して交差する領域に記憶素子を含むメモリセルを複数有するメモリセルアレイと、前記ワード線に接続するロウデコーダとを有し、
前記制御回路は、前記複数のメモリブロックの動作情報を含む動作信号に基づき、前記メモリセルアレイに供給する電源電位を変える第1の制御信号と、前記ロウデコーダに供給する電源電位を停止する第2の制御信号の一方又は両方を、前記スイッチに出力することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記動作信号を出力する中央処理回路を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記動作信号を出力する専用回路を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
ガラス基板を有し、
前記複数のメモリブロック及び前記制御回路は、前記ガラス基板上に設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
フレキシブル基板を有し、
前記複数のメモリブロック及び前記制御回路は、前記フレキシブル基板上に設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記複数のメモリブロックの各々が含む複数のメモリセルであって、同じ列に設けられた前記複数のメモリセルは、同じビット線に接続することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記複数のメモリブロックの各々が含む複数のメモリセルは、同じカラムデコーダに接続することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記複数のメモリブロックの各々は、互いに独立して動作するカラムデコーダを有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記ビット線は、前記複数のメモリブロックの各々で独立して設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記ワード線は、前記複数のメモリブロックの各々で独立して設けられることを特徴とする半導体装置。 - 請求項9又は請求項10において、
前記複数のメモリブロックの各々は、DRAM(Dynamic Random Access Memory)又はSRAM(Static Random Access Memory)、FeRAM(Ferroelectric Random Access Memory)、マスクROM(Read Only Memory)、PROM(Programmable Read Only Memory)、EPROM(Electrically Programmable Read Only Memory)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)又はフラッシュメモリであることを特徴とする半導体装置。
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JPH11296627A (ja) * | 1998-04-14 | 1999-10-29 | Mitsubishi Electric Corp | 非接触カード,非接触カードのリーダライタ及び非接触カードの制御方法 |
JP2001189347A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-07-10 | Seiko Epson Corp | 半導体装置及びその製造方法、並びに電子装置 |
JP2002182807A (ja) * | 2000-12-13 | 2002-06-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プロセッサの電力制御装置 |
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