JP2005235681A - チップ型サージアブソーバ及びその製造方法 - Google Patents

チップ型サージアブソーバ及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 マイクロギャップの深さ,幅を高精度かつ容易に設定することができるとともに、放電開始電圧が安定したチップ型サージアブソーバ及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】 第1の貫通孔2aを有する第1の絶縁素体2と、中間貫通孔3aを有する中間絶縁板3と、第2の貫通孔4aを有する第2の絶縁素体4とがこの順に前記各貫通孔2a,3a,4aを連通状態にして接合され、連通状態の前記各貫通孔2a,3a,4aで構成された貫通孔の両端部が、封止電極5で封止され、第1の貫通孔2及び第2の貫通孔4の内周面のみに、封止電極5に接続された導電性皮膜6が被着されている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、サージから種々の電子機器等を保護し、事故を未然に防ぐために使用されるチップ型サージアブソーバ及びその製造方法に関するものである。
サージアブソーバは、電話機やモデム等の電子機器が通信線と接続する部分、或いはCRT駆動回路など、雷サージや静電気等の異常電圧による電撃を受け易い部分に接続され、外部から浸入する異常電圧によって電子機器が破壊されるのを防ぐために使用されている。
このようなサージアブソーバは様々なものが知られているが、その一つとしてガラス等からなる絶縁性の管体と、一対の封止電極とを備えたものが知られている。管体は円筒形状に形成され、その内周面には導電性皮膜が被着されている。この導電性皮膜には、管体の長手方向略中央部で導電性皮膜を軸方向に分割するようにマイクロギャップが形成されている。一対の封止電極は、管体の両端部に封着されて導電性皮膜に電気的に接続されている。また、管体内には、不活性ガスが封入されている。
このサージアブソーバにおいては、異常電圧(サージ電圧)が一対の封止電極に印加されると、マイクロギャップでグロー放電がトリガされる。この放電は、導電性皮膜に沿って管体の両端部に達し、最終的に対向する一対の封止電極間でアーク放電が発生する。これによりサージ電圧は、サージアブソーバに吸収され電子機器等が保護される。
ここで、管体と一対の封止電極との間には、接触をよくするためにはんだ等を介在させている場合が多く、この場合、サージ電流(放電電流)が流れるとフラックスやはんだが分解し、これらが管体内に飛散することがある。この飛散した一部がマイクロギャップ内に堆積すると、マイクロギャップの絶縁性が劣化し、サージアブソーバの寿命に悪影響を及ぼすので、マイクロギャップの深さや幅は任意に設定できることが好ましい。
ここで、前述のようなサージアブソーバの製造方法としては、管体全体に導電性皮膜を被着させた後、これをカーボンヒータ内に入れて全体を加熱させ、管体の両端部に封止電極をそれぞれ溶着させる。この際、同時に管体内に不活性ガスを導入して封入させる。その後、管体の外周面の導電性皮膜を除去し、管体の外側からレーザを照射させ、管体の内周面の導電性皮膜をカットしてマイクロギャップを形成することによりサージアブソーバを得ている(例えば特許文献1参照)。
特開平07−022152号公報(段落番号0008−0015段落,第1図,第2図)
ところで、前記従来のサージアブソーバの製造方法においては、管体の外側からレーザを照射させ、管体の内周面の導電性皮膜をカットしてマイクロギャップを形成していた。従って、マイクロギャップの深さを、導電性皮膜の厚さより大きくすることができず、このマイクロギャップの深さを深く形成することが困難であるという問題があった。また、レーザによる照射によりマイクロギャップを形成することから、この幅を広くかつ高精度に形成することが困難であるという問題があり、さらに、同様の理由により、このマイクロギャップを挟んで対向する導電性皮膜の端面は、微視的に見ると鋸歯状となるので、この皮膜間の放電開始電圧が安定しないという問題があった。
この発明は、このような事情を考慮してなされたもので、マイクロギャップの深さ,幅を高精度かつ容易に設定することができるとともに、放電開始電圧が安定したチップ型サージアブソーバ及びその製造方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決して、このような目的を達成するために、本発明は以下の手段を提案している。
本発明のチップ型サージアブソーバは、第1の貫通孔を有する第1の絶縁素体と、中間貫通孔を有する中間絶縁板と、第2の貫通孔を有する第2の絶縁素体とがこの順に前記各貫通孔を連通状態にして接合され、連通状態の前記各貫通孔で構成された貫通孔の両端部が、封止電極で封止され、前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔の内周面のみに、前記封止電極に接続された導電性皮膜が被着されていることを特徴とする。
このチップ型サージアブソーバでは、前記中間絶縁板に形成された中間貫通孔をいわゆるマイクロギャップとすることができるので、このマイクロギャップの深さの設定は前記中間貫通孔の径を設定し、幅の設定は前記中間絶縁板の厚さを設定することにより行うことができる。すなわち、マイクロギャップの深さ及び幅の設定を容易かつ高精度に行うことができるようになる。
また、前記第1,第2の貫通孔の内周面に被着された導電性皮膜の外表面のうち、前記マイクロギャップを挟んで対向する端面を容易に平滑面とすることができるので、放電開始電圧を確実に安定させることができる。
また、本発明のチップ型サージアブソーバは、請求項1記載のチップ型サージアブソーバにおいて、前記中間貫通孔、前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔が、それぞれ同軸上に形成され、前記中間貫通孔が、前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔よりも内径が大きいことを特徴とする。
このチップ型サージアブソーバでは、前記第1,第2の貫通孔がそれぞれ同軸上に形成され、前記中間貫通孔が前記第1,第2の貫通孔よりも内径が大きいので、深さの深いマイクロギャップを容易に得ることができる。従って、このチップ型サージアブソーバにサージ電流が流れ、封止電極と前記第1,第2の絶縁素体との間に介在してあるフラックス等が分解しこれらが飛散して、この飛散した一部がマイクロギャップ内に堆積した場合においても、このマイクロギャップの絶縁性劣化や、このサージアブソーバの短命化を確実に抑制することができる。
また、本発明のチップ型サージアブソーバの製造方法は、導電性皮膜が内周面に形成された複数の第1の貫通孔を有する第1の絶縁基板と、複数の中間貫通孔を有する中間絶縁基板と、導電性皮膜が内周面に形成された複数の第2の貫通孔を有する第2の絶縁基板とをこの順に前記各貫通孔を連通状態にして接合させ積層板とする接合工程と、前記積層板を格子状に切断してチップ体とする切断工程と、前記連通状態の前記各貫通孔で形成された貫通孔の両端部を封止電極で封止してこれら封止電極と前記導電性皮膜とを接続させる封止工程とを備えていることを特徴とする。
また、本発明のチップ型サージアブソーバの製造方法は、請求項3記載のチップ型サージアブソーバの製造方法において、前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、表面にそれぞれ格子状の第1のスクライブライン及び第2のスクライブラインが形成され、前記切断工程は、前記第1,第2のスクライブラインに沿って切断することを特徴とする。
また、本発明のチップ型サージアブソーバの製造方法は、請求項4記載のチップ型サージアブソーバの製造方法において、前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、格子状の前記第1,第2のスクライブラインがそれぞれ形成されたセラミックス用の第1,第2のグリーンシートに、前記第1,第2の貫通孔をそれぞれ形成するグリーンシート形成工程と、これら第1,第2のグリーンシートを焼成する焼成工程と、焼成後に前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔の内周面に導電性皮膜を形成する皮膜形成工程とを経て製造されることを特徴とする。
これらのチップ型サージアブソーバの製造方法では、深さ及び幅が高精度とされたマイクロギャップを容易に形成することができ、マイクロギャップの絶縁性劣化や、このサージアブソーバの短命化を抑制できるチップ型サージアブソーバを容易にかつ低コストで形成することができる。
また、前記第1,第2の貫通孔の内周面に被着された導電性皮膜の表面のうち、前記マイクロギャップを挟んで対向する端面を容易に平滑面とすることができるので、この導電性皮膜間の放電開始電圧が安定したチップ型サージアブソーバを確実にかつ低コストで形成することができる。
さらに、前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、表面にそれぞれ格子状の第1のスクライブライン及び第2のスクライブラインが形成され、前記切断工程は、前記第1,第2のスクライブラインに沿って切断するので、この切断を容易かつ高精度に行うことができるようになる。
本発明に係るチップ型サージアブソーバ及びその製造方法によれば、深さ及び幅が高精度とされたマイクロギャップを容易に形成することができ、マイクロギャップの絶縁性劣化や、このサージアブソーバの短命化を抑制できるチップ型サージアブソーバを提供することができる。
また、前記第1,第2の貫通孔の内周面に被着された導電性皮膜の外表面のうち、前記マイクロギャップを挟んで対向する端面を容易に平滑面とすることができるので、放電開始電圧を確実に安定させることができる。
以下、本発明に係るチップ型サージアブソーバ及びその製造方法の一実施形態を、図1,図2を参照しながら説明する。
図1に示すチップ型サージアブソーバ1は、第1の貫通孔2aを有する第1の絶縁素体2と、中間貫通孔3aを有する中間絶縁板3と、第2の貫通孔4aを有する第2の絶縁素体4とがこの順に、前記各貫通孔2a,3a,4aを連通状態にして接合されている。本実施形態においては、前記各貫通孔2a,3a,4aがそれぞれ同軸上に形成され、中間貫通孔3aは、第1の貫通孔2a及び第2の貫通孔4aよりも内径が大きく形成されている。
そして、この連通状態の前記各貫通孔2a,3a,4aで構成された貫通孔の両端部が、Ag、Ag−Cu、Ag−In系等からなるろう材15を介して、封止電極5で封止され、第1の貫通孔2a及び第2の貫通孔4aの内周面のみに、封止電極5に接続された導電性皮膜6が被着されている。ここで、第1,第2の絶縁素体2,4及び中間絶縁板3は、例えば、Al等からなるセラミックス材料により形成されている。また、第1,第2の絶縁素体2,4は、厚さ(前記連通方向の大きさ)が例えば0.5mm以上1.5mm以下で形成され、中間絶縁板3は、厚さが例えば30μm以上50μm以下で形成されている。
以上の構成において、このチップ型サージアブソーバ1は、第1,第2の貫通孔2a,4aの内周面に被着された導電性皮膜6が、前記各貫通孔2a,3a,4aの連通方向略中央部でこの皮膜6が分割されるように、マイクロギャップ8を有する構成となっている。すなわち、マイクロギャップ8は、その深さが、中間貫通孔3aの内周面と導電性皮膜6の表面との距離により設定され、その幅が、中間絶縁板3の厚さにより設定されるようになっている。
封止電極5は、Fe−Ni42%合金により、二段円柱状に形成され、大径部5aと小径部5bとを備えている。大径部5aは、その外径が第1,第2の絶縁素体2,4の外径と略同一の大きさに形成され、小径部5bは、その外径が、内周面に導電性皮膜6を備えた第1,第2の貫通孔2a,4aの内径と略同等若しくは若干小径に形成され、小径部5bの外周面と導電性皮膜6の表面とは接続した状態となっている。ここで、小径部5bと導電性皮膜6と中間貫通孔3aとで密閉された内部空間9には、アルゴンガス、ネオンガス、窒素ガス等の混合ガスが封入されている。
そして、このチップ型サージアブソーバ1は、封止電極5を介して例えば、電話機、ファクシミリ、モデム等の通信機器の通信回路に接続される。
このように構成されたサージアブソーバ1において、雷や静電気等により異常電圧(サージ電圧)が発生した場合には、サージ電圧は封止電極5に印加される。印加された電圧は、導電性皮膜6を通じてマイクロギャップ8に達し、強い電界集中を生じさせて沿面放電(グロー放電)を起こさせる。この放電は、導電性皮膜6に沿って第1,第2の絶縁素体2,4の封止電極5が形成されている側の端部に達し、最終的に対向する一対の封止電極5間でアーク放電を発生させる。これによりチップ型サージアブソーバ1は、サージ電圧を吸収することができ、回路を保護することができる。
次に、以上のように構成されたチップ型サージアブソーバ1の製造方法について図2,図3に従い説明する。
まず、格子状の第1,第2のスクライブラインL1,L2がそれぞれ形成されたセラミックス用の第1,第2のグリーンシートにおける、第1,第2のスクライブラインL1,L2により画成された各格子内の略中央部に、第1,第2の貫通孔2a,4aをそれぞれ形成する。そして、これら第1,第2のグリーンシートを焼成した後、第1の貫通孔2a及び第2の貫通孔4aの内周面に化学的気相成長法(CVD法)、無電解メッキ法等の成膜方法によりMo−Mn層、Mo−W層等の導電性皮膜6を形成し、第1,第2の絶縁基板20,21を形成する。
また、セラミックス材料からなる中間絶縁基板22の表面に、所定の間隙を介して複数の中間貫通孔3aを形成する。この際、中間貫通孔3aは、前述したように、第1,第2の貫通孔2a,4aの内径より大径に形成し、かつ、第1,第2の貫通孔2a,4aの配設ピッチと同一のピッチで形成する。
そして、図2,図3に示すように、第1の絶縁基板20と、中間絶縁基板22と、第2の絶縁基板21とがこの順に、前記各貫通孔2a,3a,4aを連通状態に、具体的には、互いが同軸上に配設されるように、図示しないろう材を介して接合し、積層板23を形成する。
次に、積層板23を第1,第2のスクライブラインL1,L2に沿って格子状に切断してチップ体24を形成した後、このチップ体24の表裏面に、第1,第2の貫通孔2a,4aを回避し、かつ、導電性皮膜6の端面のうち少なくとも一部と接するように、ろう材15を載置する。そして、これらのろう材15の表面に、図1に示すように封止電極5を載置し、前記連通状態の前記各貫通孔2a,3a,4aで形成された貫通孔の両端部を封止電極5で封止してこれら封止電極5と導電性皮膜6とを接続させる。この状態で、これらを図示しないカーボンヒータ内に入れて全体を加熱させ、チップ体24の表裏面に封止電極5を各々溶着させる。この際、同時に封止電極5と導電性皮膜6と中間貫通孔3aとにより画成された内部空間9内にアルゴンガス、ネオンガス、窒素ガス等の混合ガスを導入してこれらを封入させ、チップ型サージアブソーバ1が形成される。
以上説明したように、本実施形態によるチップ型サージアブソーバ及びその製造方法によれば、第1,第2の絶縁素体2,4に各々、第1,第2の貫通孔2a,4aが形成されるとともに、この内周面に導電性皮膜6が形成され、かつ、中間絶縁板3に中間貫通孔3aが形成され、前記各貫通孔2a,3a,4aが連通状態となるように、第1の絶縁素体2と中間絶縁板3と第2の絶縁素体4とがこの順に積層接合されているので、中間貫通孔3aをマイクロギャップ8とすることができる。従って、マイクロギャップ8は、その深さの設定を中間貫通孔3aの内径を設定することにより行い、幅の設定を中間絶縁板3の厚さを設定することにより行うことができる。これにより、マイクロギャップ8の深さ及び幅の設定を容易かつ高精度に行うことができる。
また、マイクロギャップ8を形成するに際し、導電性皮膜6をレーザにより切断加工することを要さないので、このマイクロギャップ8を挟んで対向する導電性皮膜6の端面を容易に平滑面とすることができる。従って、この導電性皮膜6間の放電開始電圧を確実に安定させることができる。
さらに、中間貫通孔3aが第1,第2の貫通孔2a,4aより大径に形成され、かつ、これらは互いが同軸上に配設されているので、深さの深いマイクロギャップ8を容易に形成することができる。従って、このチップ型サージアブソーバ1にサージ電流が流れ、封止電極5と第1,第2の絶縁素体2,4との間に介在してあるフラックス等が分解してこれらが飛散し、この飛散した一部がマイクロギャップ8内に堆積しても、このマイクロギャップ8の絶縁性劣化や、このサージアブソーバ1の短命化を確実に抑制することができる。
なお、本発明の技術的範囲は前記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
深さ及び幅が高精度とされたマイクロギャップを容易に形成することができ、マイクロギャップの絶縁性劣化や、このサージアブソーバの短命化を抑制できるチップ型サージアブソーバを提供することができる。
また、前記第1,第2の貫通孔の内周面に被着された導電性皮膜の外表面のうち、前記マイクロギャップを挟んで対向する端面を容易に平滑面とすることができるので、放電開始電圧を確実に安定させることができる。
本発明に係る一実施形態において、チップ型サージアブソーバを示す側面断面図である。 本発明に係る一実施形態において、積層体を示す平面図である。 図2に示す積層体のX−X線矢視断面図である。
符号の説明
1 チップ型サージアブソーバ
2 第1の絶縁素体
2a 第1の貫通孔
3 中間絶縁板
3a 中間貫通孔
4 第2の絶縁素体
4a 第2の貫通孔
5 封止電極
6 導電性皮膜
8 マイクロギャップ
20 第1の絶縁基板
21 第2の絶縁基板
22 中間絶縁基板
23 積層体
24 チップ体
L1 第1のスクライブライン
L2 第2のスクライブライン

Claims (5)

  1. 第1の貫通孔を有する第1の絶縁素体と、中間貫通孔を有する中間絶縁板と、第2の貫通孔を有する第2の絶縁素体とがこの順に前記各貫通孔を連通状態にして接合され、
    連通状態の前記各貫通孔で構成された貫通孔の両端部が、封止電極で封止され、
    前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔の内周面のみに、前記封止電極に接続された導電性皮膜が被着されていることを特徴とするチップ型サージアブソーバ。
  2. 請求項1記載のチップ型サージアブソーバにおいて、
    前記中間貫通孔、前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔が、それぞれ同軸上に形成され、
    前記中間貫通孔が、前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔よりも内径が大きいことを特徴とするチップ型サージアブソーバ。
  3. 導電性皮膜が内周面に形成された複数の第1の貫通孔を有する第1の絶縁基板と、複数の中間貫通孔を有する中間絶縁基板と、導電性皮膜が内周面に形成された複数の第2の貫通孔を有する第2の絶縁基板とをこの順に前記各貫通孔を連通状態にして接合させ積層板とする接合工程と、
    前記積層板を格子状に切断してチップ体とする切断工程と、
    前記連通状態の前記各貫通孔で形成された貫通孔の両端部を封止電極で封止してこれら封止電極と前記導電性皮膜とを接続させる封止工程とを備えていることを特徴とするチップ型サージアブソーバの製造方法。
  4. 請求項3記載のチップ型サージアブソーバの製造方法において、
    前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、表面にそれぞれ格子状の第1のスクライブライン及び第2のスクライブラインが形成され、
    前記切断工程は、前記第1,第2のスクライブラインに沿って切断することを特徴とするチップ型サージアブソーバの製造方法。
  5. 請求項4記載のチップ型サージアブソーバの製造方法において、
    前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、
    格子状の前記第1,第2のスクライブラインがそれぞれ形成されたセラミックス用の第1,第2のグリーンシートに、前記第1,第2の貫通孔をそれぞれ形成するグリーンシート形成工程と、
    これら第1,第2のグリーンシートを焼成する焼成工程と、
    焼成後に前記第1の貫通孔及び前記第2の貫通孔の内周面に導電性皮膜を形成する皮膜形成工程とを経て製造されることを特徴とするチップ型サージアブソーバの製造方法。

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150120461A (ko) * 2013-02-22 2015-10-27 본스인코오포레이티드 평탄한 가스 방전관에 관련한 장치 및 방법

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150120461A (ko) * 2013-02-22 2015-10-27 본스인코오포레이티드 평탄한 가스 방전관에 관련한 장치 및 방법
JP2016515282A (ja) * 2013-02-22 2016-05-26 ボーンズ、インコーポレイテッド 平坦なガス放電管に関するデバイスおよび方法
EP2959495A4 (en) * 2013-02-22 2017-02-22 Bourns Incorporated Devices and methods related to flat gas discharge tubes
CN107507756A (zh) * 2013-02-22 2017-12-22 伯恩斯公司 与气体放电管相关的器件和方法
CN107507756B (zh) * 2013-02-22 2020-06-05 伯恩斯公司 与气体放电管相关的器件和方法
EP3703203A1 (en) * 2013-02-22 2020-09-02 Bourns Incorporated Flat gas discharge tube device and method of fabricating thereof
KR102258953B1 (ko) * 2013-02-22 2021-06-03 본스인코오포레이티드 평탄한 가스 방전관에 관련한 장치 및 방법

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