JP2005228738A - 誘導結合プラズマ処理装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】磁場強度の均一化を向上させ得、しかも角形の磁場を形成させて角形の大形基板にも対応できる誘導結合プラズマ処理装置を提供しようとするものである。
【解決手段】真空チャンバーと、真空チャンバーの外側に設けられた磁場形成部材3aと、磁場形成部材3aに高周波電力を供給する高周波電源1と、高周波電源1と磁場形成部材3aとに接続された配線の途中に設けられた整合器2とを備えた誘導結合プラズマ処理装置であって、前記磁場形成部材3aが、概略長方形の巻回部10をその短辺方向に複数並べた線状導電部を有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、例えば半導体集積回路装置、液晶表示装置および有機EL表示装置の製造に用いる誘導結合プラズマ処理装置に関する。
上述した半導体集積回路装置、液晶表示装置および有機EL表示装置の製造において、基板上への薄膜の生成、基板上の薄膜のエッチングが行われる。薄膜の生成に用いる材料ガスおよびエッチングに用いるエッチングガスを活性化させる手段として、誘導結合によって高周波電力をチャンバー内に投入しプラズマを発生させる誘導結合プラズマ処理装置が用いられる(特許文献1、2、3、4、5、6及び非特許文献1参照)。
この誘導結合プラズマ処理装置としては、図15、図18、図21および図24に示すように、基板4が内部にセットされる真空チャンバー6の上部外側に設けられた磁場形成部材3d〜3gと、磁場形成部材3d〜3gに高周波電力を供給する高周波電源1と、高周波電源1と磁場形成部材3d〜3gとに接続された配線の途中に設けられた整合器2とを備える。なお、図15は特許文献3と4の場合における誘導結合プラズマ処理装置の要部で、図18は特許文献6の場合における誘導結合プラズマ処理装置の要部で、図21は特許文献5の場合における誘導結合プラズマ処理装置の要部で、図24は特許文献2の場合における誘導結合プラズマ処理装置の要部である。
特開昭61−119036 低温プラズマ電磁界制御機構 特開平11−509031 誘導結合プラズマ源用低インダクタンス大面積コイル 特開2000−058297 プラズマ処理システム 特開2001−257198 プラズマ処理方法 特開2002−176038 プラズマ処理装置 特開2003−273087 エッチング方法及び装置 プラズマエレクトロニクス 菅井 秀郎 編著 オーム社出版局
ところで、上記プラズマは高密度であること、基板の面内で均一であることが必要であるが、近年の基板の大形化に伴い、基板の面内における均一性を確保することが難しくなっている。このことを、以下に詳述する。
非特許文献1におけるプラズマエレクトロニクスの118〜119ページに記載されているように、誘導結合プラズマ装置においては、高周波電源側の磁場形成部材によるインダクタンスとチャンバー内のプラズマのインダクタンスとが誘導結合して電源から電力がプラズマに投入されるため、高周波電源側の磁場形成部材のインダクタンス、つまり磁場強度の分布がプラズマの均一性に影響する。
そこで、プラズマの均一性確保を目的として、上記引用文献2〜6のように磁場形成部材の形状に工夫を施している。
特許文献3及び4においては、図15および図16に示すように、渦巻き形の磁場形成部材3dを用いるようにしている。
図17に、この場合における磁場の強度分布を示す。なお、図17において、横軸のXと縦軸のYとは水平面上における相互に直交する方向の距離(mm)であり、また、図中の白色部分が磁場強度が0である部分で、黒色部分が磁場強度の高い部分であり、同じ磁場強度となる領域を等高線により表している。更に、図17中の上部には、白色〜黒色に段階的に変化する色濃度と磁場強度(0〜H)との関係を併せて表している。磁場形成部材には高周波電圧が印加されるので、中央部の黒色部分における磁場は正の磁場強度と負の磁場強度との間の範囲を高周波電力の周波数で変動する。一方、白色部分は磁場強度が0であり、磁場の変動はない。磁場強度の分布を示す以下の図20、図23および図4においても同じように、白色部分は磁場強度が0であり、黒色部分が磁場強度の高い部分を表している。
図17に示すように、磁場の強度分布は、中央の磁場強度が高い、同心円状の等高線をもつ円形磁場であり、明らかに周辺部には磁場形成部材3dによる磁場の影響が表れずに、プラズマの生成は行われず、中央部にて生成されたプラズマが拡散する。
特許文献6においては、図18および図19に示すように、卍形の磁場形成部材3eを用いるようにしている。しかし、この場合における磁場の強度分布も、図20に示すように、中央の磁場強度が高く、卍状の等高線をもつ卍形であり、周辺部には磁場形成部材3eによる磁場の影響が表れずに、プラズマの生成は行われず、中央部にて生成されたプラズマが拡散する。
特許文献5においては、図21および図22に示すように、同一方向に巻回した4つの渦巻きコイルを有する磁場形成部材3fを用いるようにしている。しかし、この場合の磁場の強度分布は、図23に示すように、図17に示した円形磁場が角形の四隅に位置するように存在し、4つの円形磁場で挟まれた中央部分は磁場強度が0であり、プラズマの生成は行われない。
特許文献2においては、図24及び図25に示すように、隣合うもの同士の巻回方向を逆にした4つの渦巻きコイルを有する磁場形成部材3gを用いるようにしている。
図26は、この場合の磁場の強度分布を示す。図中の白色部分と黒色部分とは互いの方向は逆であるが磁場強度の高い部分で、中間の灰色部分は磁場強度が0の部分であり、同じ磁場強度となる領域を等高線により表している。また、図の上部には、黒色〜灰色〜白色に段階的に変化する色濃度と磁場強度(H〜0〜−H)との関係を併せて表している。
磁場形成部材には高周波電圧が印加されるので、黒色部分及び白色部分における磁場は正の磁場強度と負の磁場強度との間の範囲を高周波電力の周波数で変動する。一方、灰色部分は磁場強度が0であり、磁場の変動はない。このことは、以下の磁場強度の分布を示す図7および図14において同じであり、白色部分及び黒色部分は磁場強度の高い部分で、灰色部分は磁場強度が0の部分である。
図26に示すように、磁場の強度分布は、4つのピークが角形の四隅に位置するように存在しており、4つのピークにおいてのみプラズマが生成される。それ以外の部位では磁場強度が0であり、プラズマの生成は行われない。
上述した特許文献2〜6のいずれの磁場形成部材3d〜3gにおいても、磁場強度は不均一になっており、磁場強度のピークが複数ある場合も、そのピークは離れている。そのため、角形の大形基板に対し高い面内均一性を確保することが困難であった。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、磁場強度の均一化を向上させ得、しかも角形の磁場を形成させて角形の大形基板にも対応できる誘導結合プラズマ処理装置を提供しようとするものである。
請求項1の発明は、真空チャンバーと、前記真空チャンバーの外側に設けられた磁場形成部材と、前記磁場形成部材に高周波電力を供給する高周波電源と、前記高周波電源と前記磁場形成部材とに接続された配線の途中に設けられた整合器とを備えた誘導結合プラズマ処理装置であって、前記磁場形成部材が、概略長方形の巻回部をその短辺方向に複数並べた線状導電部を有することを特徴とする。
請求項2の発明は、前記巻回部のうち隣合う巻回部どうしが、発生する磁場の方向を逆にしていることを特徴とする。
請求項3の発明は、真空チャンバーと、前記真空チャンバーの外側に設けられた磁場形成部材と、前記磁場形成部材に高周波電力を供給する高周波電源と、前記高周波電源と前記磁場形成部材とに接続された配線の途中に設けられた整合器とを備えた誘導結合プラズマ処理装置であって、前記磁場形成部材が、葛折り状の線状導電部を有することを特徴とする。
請求項1及び2の発明による場合には、磁場形成部材が概略長方形の巻回部をその短辺方向に複数並べた線状導電部を有するので、磁場の分布が概ね均一になり、またピークとピークとが近接しかつ磁場が角形になるので、角形の大形基板にも対応できる高い面内均一性が発揮できる。
特に、請求項2のように、隣合う巻回部どうしが発生する磁場の方向を逆にすることで、発生する磁束も反対の方向をもったものになり、その結果、合算して得られる全体の磁束も小さくなり、磁束の時間変化によって磁場形成部材に誘導される電圧も低くなる。
請求項3の発明による場合には、磁場形成部材が葛折り状の線状導電部を有するので、磁場の分布が概ね均一になり、またピークとピークとが近接しかつ磁場が角形になるので、角形の大形基板にも対応できる高い面内均一性が発揮できる。
以下に、本発明を具体的に説明する。
(第1実施形態)
図1は本発明の第1実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置を模式的に示す正面図であり、図2は第1実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図である。なお、図1及び図2において、図15、図18、図21及び図24と同一部分には同一番号を付している。
この誘導結合プラズマ処理装置は、真空チャンバー6と、前記真空チャンバー6の上部外側に設けられた磁場形成部材3aと、前記磁場形成部材3aに高周波電力を供給する高周波電源1と、前記高周波電源1と前記磁場形成部材3aとに接続された配線の途中に設けられた整合器2とを備える。
真空チャンバー6内には、基板4がセットされる基板支持板5が設けられ、ガス導入系7から処理用ガスが導入され、所望条件が満足されるとプラズマ9が発生する。また、真空チャンバー6内は、排気ポンプ8により排気される。
前記磁場形成部材3aは、図2及び図3(平面図)に示すように、概略長方形(但し一部分断)をした巻回部10をその短辺方向に複数配置した線状導電部を有し、各巻回部10は整合器2に対して並列接続され、かつ各巻回部10の左辺下側に同じ方向、図示例では反時計回りに電流が供給される構成となっていて、各巻回部10が発生する磁束が同一方向となる。
図4は、磁場形成部材3aにより得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。なお、この図4における横軸のX方向は、巻回部10の短辺方向である。
この図4に示すように、この第1実施形態の磁場形成部材3aによる場合には、磁場の分布が概ね均一になる。また、ピークとピークとが近接しかつ磁場が角形になるので、角形の大形基板にも対応できる高い面内均一性を発揮することが可能となる。
(第2実施形態)
図5は第2実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図であり、図6はその誘導結合プラズマ処理装置を構成する磁場形成部材の平面図である。なお、図5において図1と同一部分には同一番号を付している。
この第2実施形態における磁場形成部材3bは、第1実施形態のものと同様に、概略長方形(但し一部分断)をした巻回部11をその短辺方向に複数配置した線状導電部を有し、各巻回部11は整合器2に対して並列接続されているものの、第1実施形態のものとは反対に、隣り合う巻回部11どうしに逆方向回りに電流が供給される構成となっている。
図7は、磁場形成部材3bにより得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。なお、この図7における横軸のX方向は、巻回部11の短辺方向である。
この図7に示すように、この第2実施形態の磁場形成部材3bによる場合には、磁場の分布が概ね均一になり、またピークとピークとが近接しかつ磁場が角形になるので、角形の大形基板にも対応できる高い面内均一性を発揮することが可能であることに加え、以下の効果が得られる。即ち、隣合う巻回部11が発生する磁場の方向が逆になっているので、発生する磁束も反対の方向をもったものになり、その結果として、合算して得られる全体の磁束も小さくなり、磁束の時間変化によって磁場形成部材3bに誘導される電圧も低くなる。
なお、上述した第1、第2実施形態では磁場形成部材3a、3bの巻回部10、11を共に一重に形成しているが、本発明はこれに限らず、二重または三重以上としてもよいことは勿論である。図8は隣合う巻回部に同じ方向回り(図では左回り)に電流が流れて隣合う巻回部が発生する磁場の方向が同一である巻回部10を二重にした磁場形成部材の一例を示し、図9は隣合う巻回部に相互に反対方向回りに電流が流れて隣合う巻回部が発生する磁場の方向が逆である巻回部11を二重にした磁場形成部材の一例を示す。
また、上述した第1、第2実施形態では各巻回部が整合器に対して並列接続された構成としているが、本発明はこれに限らず、各巻回部が整合器に対して直列接続された構成としてもよい。この場合において、第1実施形態のように隣合う巻回部が発生する磁場の方向を同一にするときは、図10に示すように隣合う巻回部10に同じ方向回り(図では左回り)に電流が流れるように巻回部10を直列接続した磁場形成部材とすればよく、第2実施形態のように隣合う巻回部が発生する磁場の方向を逆にするときは、図11に示すように隣合う巻回部11に相互に反対方向回りに電流が流れるように巻回部11を直列接続した磁場形成部材とすればよい。
(第3実施形態)
図12は第3実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図であり、図13はその誘導結合プラズマ処理装置を構成する磁場形成部材の平面図である。なお、図12において図1と同一部分には同一番号を付している。
この磁場形成部材3cは、葛折り状の線状導電部を有するものであり、その一端側に整合器2から電流が供給されるようになっている。
図14は、磁場形成部材3cにより得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。この図に示すように、この第3実施形態の磁場形成部材3cによる場合には、磁場の分布が概ね均一になり、またピークとピークとが近接しかつ磁場が角形になるので、角形の大形基板にも対応できる高い面内均一性を発揮することが可能となる。
なお、図13に示す磁場形成部材3cは、直線部12を平行とせずに隣合う曲折部13が接近した状態にしているが、概ね均一な磁場の分布を確保できる条件下で、隣合う曲折部13の間の距離を変えるようにしてもよい。
また、上述した第1〜第3実施形態における線状導電部としては、導電線や、絶縁板の片面または両面に形成した導電膜を用いることができる。絶縁板の両面に形成した導電膜は、導電の仕方によっては、その絶縁板を貫通するように形成した接続部で接続させることもある。
本発明の第1実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置を模式的に示す正面図である。 図1の誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図である。 図1の誘導結合プラズマ処理装置を構成する磁場形成部材の平面図である。 図3の磁場形成部材により得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 本発明の第2実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図である。 図5の誘導結合プラズマ処理装置を構成する磁場形成部材の平面図である。 図6の磁場形成部材により得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 本発明に適用可能な他の磁場形成部材の例を示す模式図である。 本発明に適用可能な更に他の磁場形成部材の例を示す模式図である。 本発明に適用可能な更に他の磁場形成部材の例を示す模式図である。 本発明に適用可能な更に他の磁場形成部材の例を示す模式図である。 本発明の第3実施形態に係る誘導結合プラズマ処理装置の要部を示す斜視図である。 図12の誘導結合プラズマ処理装置を構成する磁場形成部材の平面図である。 図13の磁場形成部材により得られる磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 渦巻き形コイルを用いた従来のプラズマ処理装置の要部を表す斜視図である。 図15の渦巻き形コイルの平面図である。 図16の渦巻き形コイルによる場合の磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 卍形の渦巻き形コイルを用いた従来のプラズマ処理装置の要部を表す斜視図である。 図18の卍形の渦巻き形コイルの平面図である。 図19の卍形の渦巻き形コイルによる場合の磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 4つの渦巻き形コイルを用いた従来のプラズマ処理装置の要部を表す斜視図である。 図21の4つの渦巻き形コイルの平面図である。 図22の4つの渦巻き形コイルによる場合の磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。 隣合うコイルの巻方向が逆になるよう4つの渦巻き形コイルを用いた従来のプラズマ処理装置の要部を表す斜視図である。 図24の4つの渦巻き形コイルの平面図である。 図25の4つの渦巻き形コイルによる場合の磁場強度の計算結果を等高線で表した図である。
符号の説明
1 高周波電源
2 整合器
3a、3b、3c 磁場形成部材
4 基板
5 基板支持板
6 チャンバー
9 プラズマ
10、11 巻回部

Claims (3)

  1. 真空チャンバーと、前記真空チャンバーの外側に設けられた磁場形成部材と、前記磁場形成部材に高周波電力を供給する高周波電源と、前記高周波電源と前記磁場形成部材とに接続された配線の途中に設けられた整合器とを備えた誘導結合プラズマ処理装置であって、
    前記磁場形成部材が、概略長方形の巻回部をその短辺方向に複数並べた線状導電部を有することを特徴とする誘導結合プラズマ処理装置。
  2. 前記巻回部のうち隣合う巻回部どうしが、発生する磁場の方向を逆にしていることを特徴とする請求項1に記載の誘導結合プラズマ処理装置。
  3. 真空チャンバーと、前記真空チャンバーの外側に設けられた磁場形成部材と、前記磁場形成部材に高周波電力を供給する高周波電源と、前記高周波電源と前記磁場形成部材とに接続された配線の途中に設けられた整合器とを備えた誘導結合プラズマ処理装置であって、
    前記磁場形成部材が、葛折り状の線状導電部を有することを特徴とする誘導結合プラズマ処理装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101989524B (zh) * 2009-08-03 2012-09-05 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 一种阻抗匹配器及等离子体处理设备

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6457600A (en) * 1987-08-27 1989-03-03 Mitsubishi Electric Corp Plasma generating device
JPH0773996A (ja) * 1993-07-05 1995-03-17 Alcatel Cit 付着またはエッチングプロセスのためのプラズマ反応器
WO1996018208A1 (en) * 1994-12-06 1996-06-13 Lam Research Corporation Plasma processor for large workpieces
JPH08319587A (ja) * 1995-05-24 1996-12-03 Nec Kyushu Ltd プラズマエッチング装置
JPH10149896A (ja) * 1996-11-19 1998-06-02 Kokusai Electric Co Ltd プラズマ処理装置
JP2000355771A (ja) * 1999-06-14 2000-12-26 Canon Inc 堆積膜形成方法および堆積膜形成装置
JP2001271169A (ja) * 2000-03-27 2001-10-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フォーク型電極を有するプラズマ化学蒸着装置
WO2001088221A1 (fr) * 2000-05-17 2001-11-22 Ishikawajima-Harima Heavy Industries Co., Ltd. Appareil de depot chimique en phase vapeur (cvd) au plasma et procede associe
JP2003109798A (ja) * 2001-09-27 2003-04-11 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 放電装置、プラズマ処理方法および太陽電池

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6457600A (en) * 1987-08-27 1989-03-03 Mitsubishi Electric Corp Plasma generating device
JPH0773996A (ja) * 1993-07-05 1995-03-17 Alcatel Cit 付着またはエッチングプロセスのためのプラズマ反応器
WO1996018208A1 (en) * 1994-12-06 1996-06-13 Lam Research Corporation Plasma processor for large workpieces
JP2001511945A (ja) * 1994-12-06 2001-08-14 ラム リサーチ コーポレーション 大形加工物用のプラズマ加工機
JPH08319587A (ja) * 1995-05-24 1996-12-03 Nec Kyushu Ltd プラズマエッチング装置
JPH10149896A (ja) * 1996-11-19 1998-06-02 Kokusai Electric Co Ltd プラズマ処理装置
JP2000355771A (ja) * 1999-06-14 2000-12-26 Canon Inc 堆積膜形成方法および堆積膜形成装置
JP2001271169A (ja) * 2000-03-27 2001-10-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フォーク型電極を有するプラズマ化学蒸着装置
WO2001088221A1 (fr) * 2000-05-17 2001-11-22 Ishikawajima-Harima Heavy Industries Co., Ltd. Appareil de depot chimique en phase vapeur (cvd) au plasma et procede associe
JP2003109798A (ja) * 2001-09-27 2003-04-11 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 放電装置、プラズマ処理方法および太陽電池

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101989524B (zh) * 2009-08-03 2012-09-05 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 一种阻抗匹配器及等离子体处理设备

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