JP2005217472A - Current limiter circuit for output transistor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は電力用半導体装置に関し、特に出力トランジスタ電流制御回路を有した装置に関する。 The present invention relates to a power semiconductor device, and more particularly to a device having an output transistor current control circuit.
電力用半導体装置は、入力回路、出力MOSトランジスタ、出力MOSトランジスタ制御回路等により形成される。電力用出力MOSトランジスタは、電流値が増えるほどそのエネルギー増加に伴い発熱するが、流れすぎると遂には出力MOSトランジスタ自身の熱的破壊に至ってしまう。それを防ぐために、出力MOSトランジスタ制御回路中に電流制限回路があり、出力MOSトランジスタの電流をモニターしてゲート電圧をコントロールすることにより出力電流を制限し、高エネルギー印加による出力MOSトランジスタの自己破壊を防止する役割を担っている。しかし、ドレイン−ソース間電圧が高ければ高いほど出力MOSトランジスタは高エネルギーがかかることになるため、ドレイン−ソース間電圧の上昇に伴い電流制限値を下げる必要がある。このようなドレイン−ソース間電圧に比例した電流制限回路が望まれている。 The power semiconductor device is formed by an input circuit, an output MOS transistor, an output MOS transistor control circuit, and the like. The power output MOS transistor generates heat as the current value increases, and the energy increases. However, if it flows too much, the output MOS transistor itself will eventually be thermally destroyed. To prevent this, there is a current limiting circuit in the output MOS transistor control circuit, which monitors the current of the output MOS transistor and controls the gate voltage to limit the output current, and self-destructs the output MOS transistor by applying high energy. Has a role to prevent. However, the higher the drain-source voltage is, the higher the energy is applied to the output MOS transistor. Therefore, it is necessary to lower the current limit value as the drain-source voltage increases. A current limiting circuit proportional to the drain-source voltage is desired.
図6および図7(図6と同一の構成部は同一の番号で示し、その説明は省略する)に示すように、第1の電源61と第2の電源62との間に、出力MOSトランジスタ64と負荷68が直列接続されて、Nchソースホロワ構成となっている。出力MOSトランジスタ64と負荷の接続点は出力端子69が接続されている。出力MOSトランジスタ64は,そのゲート端子に入力される制御信号63により、オン/オフ制御される。電流検出用MOSトランジスタ65は出力MOSトランジスタ64に対して一定比の大きさで作られ、その電流比により出力MOSトランジスタ64電流をモニターしている。そのソース−出力端子69間には制御用抵抗素子67またはドレイン−ゲート間ショートされた制御用MOSトランジスタ611が接続されている。ノードAと出力端子69の間には保護用MOSトランジスタ66が接続され、そのゲートは電流検出用MOSトランジスタ65のソースに接続されている。
As shown in FIGS. 6 and 7 (the same components as those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted), an output MOS transistor is provided between the
次に動作について説明する。このような構成の回路に対して、出力MOSトランジスタ64がオンしている時の動作に着目する。制御信号63は出力MOSトランジスタのオン抵抗を下げるため昇圧回路により第1の電源よりも高く設定されているため、ノードAが第1の電源61よりも高く、出力MOSトランジスタ64のドレイン−ソース間電圧が高い場合、出力MOSトランジスタ64のドレイン電流は大きくなる。この時このドレイン電流に比例した電流が電流検知用MOSトランジスタ65に流れ、図6の制御用抵抗素子67または図7の制御用MOSトランジスタ611のドレイン−ソース間にかかる電圧が保護用MOSトランジスタ66のゲート電圧となり電流が流れて、出力MOSトランジスタ64のゲート即ちノードAの電圧を下げる結果、電流制限回路として動作して、出力MOSトランジスタ64の電流を下げるよう機能する。上述した従来例と同様な先行技術が特許文献1に開示されている。
Next, the operation will be described. Attention is paid to the operation of the circuit having such a configuration when the
電力用出力MOSトランジスタの電流制御について、ドレイン−ソース間電圧が高くなればなるほど出力MOSトランジスタに生じるエネルギーも高くなり、ついにはそのエネルギーによる発熱で出力MOSトランジスタが自己破壊してしまう。そのため出力MOSトランジスタのゲート電位を下げて出力電流を制限する必要があるが、単に出力電流を下げるだけでは得られる出力電流が下がるため、電力用出力MOSトランジスタとして十分に機能しなくなる。 Regarding the current control of the power output MOS transistor, the higher the drain-source voltage, the higher the energy generated in the output MOS transistor, and the heat generated by the energy eventually causes the output MOS transistor to self-destruct. For this reason, it is necessary to limit the output current by lowering the gate potential of the output MOS transistor. However, since the output current obtained by simply lowering the output current is lowered, the output MOS transistor does not function sufficiently.
したがって、出力MOSトランジスタが破壊することなく最大限の出力電流を得られるように、出力MOSトランジスタのドレイン−ソース間電圧が低いときは電流制限値を高く、ドレイン−ソース間電圧が高いときは電流制限値を低く制御し、ドレイン−ソース間電圧に依存した電流制限回路が必要となっている。 Therefore, in order to obtain the maximum output current without destroying the output MOS transistor, the current limit value is high when the drain-source voltage of the output MOS transistor is low, and the current is high when the drain-source voltage is high. There is a need for a current limiting circuit that controls the limiting value low and depends on the drain-source voltage.
出力MOSトランジスタ64と電流検知用MOSトランジスタ65に流れる電流比は一定であると前述した。しかし厳密には、出力MOSトランジスタ64の電流の増加に伴い電流検知用MOSトランジスタ65のソース電圧が高くなるため、電流検知用MOSトランジスタ65電流のドレイン−ソース間電圧が出力MOSトランジスタ64のドレイン−ソース間電圧に対して小さくなっていく。すなわち、出力MOSトランジスタ64のドレイン−ソース間電圧が高くなればなるほど電流検出用MOSトランジスタ65に流れる電流が相対的に減少し、保護用MOSトランジスタ66に流れる電流が減少し、入力端子63の電位が上昇して、電流の制限量が少なくなる。さらに、出力MOSトランジスタの第1の電源61−出力端子電圧69に対する電流特性図は図8のようになる。したがって出力MOSトランジスタ64のドレイン―ソース間の両端に掛かる電圧の上昇に伴い、出力MOSトランジスタ64に掛かるエネルギーが高くなるため、制限電流が高くなると出力MOSトランジスタ64が破壊することになる。
As described above, the ratio of the current flowing through the
したがって、出力MOSトランジスタ64のドレイン−ソース間電圧が高くなればなるほど電流制限値を下げることが望まれる。これを改善するために段階制御等を用いた電流制限値波形を図9に示すが、回路規模が大きくなる上に電流制限値の波形がなめらかにできないという問題がある。
Therefore, it is desirable to lower the current limit value as the drain-source voltage of the
以上より、本発明の目的は、出力MOSトランジスタ64のドレイン−ソース間電圧の上昇に伴い、制限値を下げる電流制限回路を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a current limiting circuit that lowers the limit value as the drain-source voltage of the
本発明の出力トランジスタの電流制限回路は、出力トランジスタに流れる電流を電流検出用トランジスタでモニターし、このモニターされた電流に比例させ、且つ前記出力トランジスタのドレイン・ソース、またはコレクタ・エミッタ間電圧に依存させた電流をカレントミラー回路を介して保護用トランジスタの出力電流とし、この保護用トランジスタの出力を入力端子に接続した、ことを特徴とする。
また、前記出力トランジスタと負荷を直列接続し、且つこの出力トランジスタのゲートまたはベースを入力端子に接続して、前記出力トランジスタと前記負荷の接続点を出力端子に接続し、前記電流検出用トランジスタのゲートまたはベースとドレイン、またはコレクタをそれぞれ前記出力トランジスタと共通に接続し、前記電流検出用トランジスタのソース、またはエミッタと前記出力端子の間に制御用素子を接続し、この制御素子に発生する電圧または電流を、前記カレントミラー回路を介して前記出力トランジスタの前記入力端子と前記出力端子の間に接続された保護用トランジスタに流したことを特徴とする。
また、前記カレントミラー回路は第1の電源と出力端子の間に接続され、前記出力トランジスタのドレイン、またはコレクタは前記第1の電源に、ソースまたはエミッタは前記出力端子に接続されていることを特徴とする。
また、前記制御用素子が抵抗であることを特徴とする請求項2または3記載の出力トランジスタの電流制限回路。
また、前記制御用素子のドレイン・ゲート間がショートされたMOSトランジスタ、またはコレクタ・ベース間がショートされたバイポーラトランジスタであることを特徴とする。
また、第1のトランジスタと第2のトランジスタがカレントミラー構成をとり、前記第2のトランジスタのドレインと出力端子の間には第4のトランジスタが接続され、この第4のトランジスタと前記保護用トランジスタをカレントミラー構成とし、前記第1のトランジスタのドレインと出力端子間には第3のトランジスタが接続され、この第3のトランジスタのゲートには前記制御用素子にかかる電圧が印加される、ことを特徴とする。
また、第1のトランジスタと第2のトランジスタがカレントミラー構成をとり、前記第2のトランジスタのドレインと出力端子の間には第4のトランジスタが接続され、この第4のトランジスタと前記保護用トランジスタはカレントミラー構成とし、前記第1のトランジスタのドレインと出力端子間には第3のトランジスタが接続され、この第3のトランジスタのゲートには前記制御用素子のドレインとソース間にかかる電圧が印加され、前記第3のトランジスタと前記制御用素子をカレントミラー構成とした、ことを特徴とする。
The current limiting circuit of the output transistor according to the present invention monitors the current flowing through the output transistor with the current detection transistor, makes it proportional to the monitored current, and sets the drain-source or collector-emitter voltage of the output transistor. The dependent current is used as the output current of the protection transistor through a current mirror circuit, and the output of the protection transistor is connected to the input terminal.
Further, the output transistor and the load are connected in series, and the gate or base of the output transistor is connected to the input terminal, the connection point of the output transistor and the load is connected to the output terminal, and the current detection transistor A gate or base and drain or collector are connected in common with the output transistor, a control element is connected between the source or emitter of the current detection transistor and the output terminal, and a voltage generated in the control element Alternatively, a current is allowed to flow through a protection transistor connected between the input terminal and the output terminal of the output transistor via the current mirror circuit.
The current mirror circuit is connected between a first power supply and an output terminal, the drain or collector of the output transistor is connected to the first power supply, and the source or emitter is connected to the output terminal. Features.
4. A current limiting circuit for an output transistor according to
The control element may be a MOS transistor in which a drain and a gate are short-circuited or a bipolar transistor in which a collector and a base are short-circuited.
The first transistor and the second transistor have a current mirror configuration, and a fourth transistor is connected between the drain and the output terminal of the second transistor. The fourth transistor and the protection transistor And a third transistor is connected between the drain and the output terminal of the first transistor, and a voltage applied to the control element is applied to the gate of the third transistor. Features.
The first transistor and the second transistor have a current mirror configuration, and a fourth transistor is connected between the drain and the output terminal of the second transistor. The fourth transistor and the protection transistor Has a current mirror configuration, and a third transistor is connected between the drain and output terminal of the first transistor, and a voltage applied between the drain and source of the control element is applied to the gate of the third transistor. The third transistor and the control element have a current mirror configuration.
本発明によれば以下の効果がもたらされる。電流検出回路と保護トランジスタとの間にカレントミラー回路を挿入することにより、出力MOSトランジスタの熱破壊を防止した上で最大限の出力電流を得ることができる。 According to the present invention, the following effects are brought about. By inserting a current mirror circuit between the current detection circuit and the protection transistor, it is possible to obtain the maximum output current while preventing thermal breakdown of the output MOS transistor.
次に、本発明の第1の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図1および図2を参照すると、第1の電源1と第2の電源2との間に、出力MOSトランジスタ4と負荷8が直列接続されて、Nchソースホロワ構成となっている。出力MOSトランジスタ4と負荷8の接続点は出力端子9が接続されている。出力MOSトランジスタ4は,そのゲート端子に入力される第1の制御信号3により、オンとオフに制御される。電流検出用MOSトランジスタ5は出力MOSトランジスタ4に対して一定比の大きさで作られ、これらのトランジスタの電流比により出力MOSトランジスタ4の電流をモニターしている。そのソース−出力端子9間には制御用抵抗素子7または図2に示す構成の場合はドレイン−ゲート間ショートされた制御用MOSトランジスタ11が接続されている。ノードAと出力端子9の間には保護用MOSトランジスタ6が接続されている。
Next, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIGS. 1 and 2, an
つぎに、多段カレントミラー10の構成は、MOSトランジスタP2とP1がカレントミラー構成をとり、MOSトランジスタP2のドレイン−出力端子9間にはMOSトランジスタN2が接続されている。MOSトランジスタN2と保護用MOSトランジスタ6はカレントミラー構成をとっている。MOSトランジスタP1のドレイン−出力端子9間にはMOSトランジスタN1が接続され、MOSトランジスタN1のゲートには図1に示される制御用抵抗素子7、または図2に示される制御用MOSトランジスタ11のドレイン−ソース間にかかる電圧が印加される。また、図2の制御用MOSトランジスタ11の場合はカレントミラー構成になる。
Next, in the configuration of the multistage
本発明の部分についてのみ説明する。その他の動作については従来技術と同様である。従来回路構成と異なる点は、多段カレントミラー回路10の追加である。
Only the part of the present invention will be described. Other operations are the same as in the prior art. The difference from the conventional circuit configuration is the addition of the multistage
多段カレントミラー回路10について説明する。MOSトランジスタN1のゲートに電流検出回路である制御用抵抗素子7、または制御用MOSトランジスタ11の出力信号を入力するよう構成し、MOSトランジスタP1とMOSトランジスタP2でカレントミラー構成し、そのMOSトランジスタP2電流をMOSトランジスタN2と保護用MOSトランジスタ6でカレントミラー構成する。ここでMOSトランジスタP1とMOSトランジスタP2およびMOSトランジスタN1とMOSトランジスタN2は、チャネル長変調効果により、第1の電源1−出力端子9間、即ち出力MOSトランジスタ4のドレイン−ソース間電圧上昇に依存して流れる電流が増える。そのため保護用MOSトランジスタ6の電流も増え、出力MOSトランジスタ4のゲート電圧が下がり、出力MOSトランジスタ4の電流を低く制限して図4の波形aに示すような特性を持たせることができる。
The multistage
これは、電流検出用MOSトランジスタに流れるドレイン電流に対して、保護用MOSトランジスタに流れるドレイン電流が、カレントミラー回路を介することによって、出力MOSトランジスタのドレイン−ソース間電圧に依存して増幅されることを示している。また、カレントミラー回路は多段構成としなくとも同様の効果を得ることができる。 This is because the drain current flowing through the protection MOS transistor is amplified depending on the drain-source voltage of the output MOS transistor through the current mirror circuit, with respect to the drain current flowing through the current detection MOS transistor. It is shown that. The same effect can be obtained even if the current mirror circuit does not have a multi-stage configuration.
チャネル変調効果の波形は図5の波形dに示される。図5の波形cはMOSトランジスタの理想的なVD−ID特性であるが、実際にはチャネル変調効果により波形dのようにVdの増加に伴いIdが上昇していく。 The waveform of the channel modulation effect is shown in waveform d of FIG. A waveform c in FIG. 5 is an ideal VD-ID characteristic of the MOS transistor, but in reality, Id increases with an increase in Vd as in the waveform d due to the channel modulation effect.
図3のようにカレントミラーの段数を増やせば、第1の電源1−出力端子9間電圧依存性がより大きくなり、制限値がより低くなり図4の波形bに示すような特性となる。
If the number of stages of the current mirror is increased as shown in FIG. 3, the voltage dependency between the
また、以上の説明はMOSトランジスタで回路を構成した場合について述べたが、バイポーラトランジスタで同様の回路を構成することも可能であり、またMOSトランジスタと、バイポーラトランジスタを混在させる事も勿論可能である。 In the above description, the circuit is composed of MOS transistors. However, it is possible to construct a similar circuit using bipolar transistors. Of course, MOS transistors and bipolar transistors can be mixed. .
1,61 第1の電源
2,62 第2の電源
4,64 出力MOSトランジスタ
5,65 電流検出用MOSトランジスタ
6,66 保護用MOSトランジスタ
7,67 制御用抵抗素子
8,68 負荷
9,69 出力端子
10 多段カレントミラー
11 制御用MOSトランジスタ
P1,P2,P3,P4 MOSトランジスタ
N1,N2,N3,N4 MOSトランジスタ
DESCRIPTION OF
Claims (7)
The first transistor and the second transistor have a current mirror configuration, and a fourth transistor is connected between the drain or collector of the second transistor and the output terminal. The fourth transistor and the protection transistor Is a current mirror configuration, and a third transistor is connected between the drain or collector of the first transistor and the output terminal, and the gate or base of the third transistor is connected between the drain and source of the control element or 6. The output transistor current limiting circuit according to claim 2, wherein a voltage applied between a collector and an emitter is applied, and the third transistor and the control element have a current mirror configuration.
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