JP2005201900A - 測定プローブのコンディションの判定方法及び判定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】前記測定プローブは、1つまたは複数のシステム段を備えたプロセス・システムのプロセス容器8に組み込まれ、公知のCIP洗浄プロセスないしSIP滅菌プロセスに従って、取付位置から取外されることなく時間的に間隔をおいて洗浄がなされる。本発明によれば、測定プローブ1a、1b、…の温度または測定プローブの周囲に存在する流体6の温度を、測定プローブ1a、1b、…の内部または外部に装備した測定センサ7、17によって測定し、そして、測定プローブ1a、1b、…の供用開始時点から継続的に測定した温度の記録に基づいて、測定プローブ1a、1b、…のコンディションを判定するようにしている。この方法においては、更に、CIP洗浄プロセス及びSIP滅菌プロセスの実行状況が適正であるか否かをモニタすることもできる。
【選択図】図1
Description
上に非特許文献3として提示した Jochen Endress, "Non-stop in Action", Pharma + Food(2002年1月刊)の第36頁に開示されているように、ある測定プローブに対してCIP洗浄プロセスを何回まで実行可能かという許容回数は、一般的に、測定プローブごとに異なる。更に、CIP洗浄プロセスないしSIP滅菌プロセスは、1つのプロセス・システムの全域で実行されるとは限らない。また、CIP洗浄プロセスないしSIP滅菌プロセスを実行する際の温度が、1つのプロセスの各部分ごとに異なることもあり、その場合には、各部分ごとに損耗状態の過酷さが異なることになる。更には、プロセス・システムのある1つのシステム段に対して、種類の異なる洗浄プロセスが、時刻を異ならせて実行されることもあり得る。例えば、CIP洗浄プロセスをn回実行するごとに、SIP滅菌プロセスを1回実行するようにしていることもある。このように、1つのプロセス・システムにおいて、CIP洗浄プロセス及びSIP滅菌プロセスをはじめとする様々なプロセスが実行され、しかも、それらプロセスの様々な実行の形態の全てを考慮しなければならないことから、1つのプロセス・システムの全体の中で使用されている数多くの測定プローブを管理する作業は、多大の手間及びコストを要するものとなっている。また、CIP洗浄プロセス及びSIP滅菌プロセスの合計実行回数を表しただけの情報は、プロセス・システムに使用されている多数の測定プローブのコンディションを明確に示したものとはなり得ない。
a)当該スレショルド値に対応した損耗負荷の存在を記録するか、または、
b)当該スレショルド値に対応した損耗負荷の存在を記録すると共に、それまでの全ての損耗負荷の累積値を算出するか、または、
c)当該スレショルド値に対応した損耗負荷の大きさを記録すると共に、それまでの全ての損耗負荷の累積値を算出し、その算出した累積値を、許容寿命の損耗負荷に対応した最大値と比較して、損耗負荷残存許容量である残存寿命の値を算出する。
図1に、本発明に係る方法に従って動作するプロセス・システムを示した。このプロセス・システムは、1つまたは複数のプロセス段を含んで成るものであって、図中に示したプロセス容器8は、処理対象の流体であるプロセス流体6を収容したタンク81を備えている。タンク81によって、1つのプロセス段が構成されており、このタンク81は、接続管82を介して、次段のシステム段を構成している構成要素に接続されている(これに関しては、例えば、前掲の非特許文献1に記載されている発酵段などを参照されたい)。プロセス流体6の様々な特性を、複数の測定プローブ1a、1b、1cによって測定するようにしており、それら測定プローブ1a、1b、1cは、集中プロセス制御を行うプロセス制御コンピュータ5に接続されている。測定プローブ1a、1b、1cとコンピュータ5との間の接続は、有線接続方式及び/または無線接続方式の接続路91、92、93と、測定信号コンバータ2a、2bと、機器結合器3と、バス・システム4とで構成されている。測定プローブ1a、1b、1cは、測定プローブを防護しつつプロセス流体に接触させて装着するための、防護装着構造83を介してプロセス容器8に装着することが好ましく、これについては、前掲の非特許文献1にも記載されており、また、前掲の非特許文献4("The InFit(登録商標)CIP Series: Sanitary Design For The Most Exacting Requirements", a company publication of Mettler-Toledo GmbH, CH-8902 Urdorf, Article Number 52 400 526(1999年5月刊))にも記載されている。非特許文献4には更に、その種の防護装着構造に装着することのできる、測定プローブ、単管型pH測定チェーン、酸素濃度センサ、導電率測定セル、並びに濁度センサが記載されている。更にそれらばかりでなく、CO2濃度センサをはじめとするその他のセンサを適用することも可能である。
11 内管
111 ガラス薄膜
12 外管
121 ダイアフラム
13 内部緩衝液
14 外部緩衝液
15 参照電極エレメント
16 導体エレメント
17 温度センサ
18 メモリ・モジュール
2a、2b 測定信号コンバータないし測定信号トランスミッタ
218 メモリ・モジュール18への接続路
3 機器接続用コネクタ
4 バス・システム
5 集中制御用のプロセス制御コンピュータ
6 流体
7 外部温度センサ
77 圧力センサ
8 プロセス容器
81 タンク
82 パイプ
83 防護装着構造
91 測定プローブ1a、1b、…の接続路
92 外部温度センサの接続路
93 無線通信路
100 オペレーティング・ソフトウェア・プログラム
Claims (11)
- プロセス容器(8;81、82)に組み込まれており、公知のCIP洗浄プロセスないしSIP滅菌プロセスに従って、取付位置から取外されることなく時間的に間隔をおいて洗浄がなされる、少なくとも1本の測定プローブ(1a;1b;…)のコンディションを判定する方法において、
前記測定プローブ(1a;1b;…)の温度(TS/M)または前記測定プローブの周囲に存在する流体(6)の温度(TS/M)を、前記測定プローブ(1a;1b;…)の内部または前記プロセス容器(8;81、82)の内部に装備した測定センサ(17)によって測定し、前記測定プローブ(1a;1b;…)を装備した時点から継続的に測定した前記温度(TS/M)の記録に基づいて、前記測定プローブ(1a;1b;…)のコンディションを判定することを特徴とする方法。 - 前記温度(TS/M)を少なくとも1つのスレショルド値(thCIP;thSIP)と比較し、前記温度(TS/M)がある1つのスレショルド値を超えたときに、
a)当該スレショルド値(thCIP;thSIP)に対応した損耗負荷の大きさを記録するか、または、
b)当該スレショルド値(thCIP;thSIP)に対応した損耗負荷の大きさを記録すると共に、それまでの全ての損耗負荷の累積値(INTLT)を算出するか、または、
c)当該スレショルド値(thCIP;thSIP)に対応した損耗負荷の大きさを記録すると共に、それまでの全ての損耗負荷の累積値(INTLT)を算出し、その算出した累積値(INTLT)を、損耗負荷の累積値の許容限度値である最大値(MAXLT)と比較して、損耗負荷残存許容量である残存寿命(RLT)の値を算出する、
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記測定プローブ(1a;1b;…)の損耗負荷残存許容量である前記残存寿命(RLT)の値を、当該スレショルド値(thCIP;thSIP)に対応した所定の減少分だけ減じるようにし、該所定の減少分は、例えばCIP洗浄プロセス、またはSIP滅菌プロセス、または製造プロセスなどの、前記プロセス・システムにより実行されるプロセスの種別ごとに定められていることを特徴とする請求項2記載の方法。
- 前記測定プローブ(1a;1b;…)がそれまでに被った全ての損耗負荷の累積値(INTLT)を算出する際に、
a)記録されている前記温度(TS/M)を、全期間に亘って積分するか、または、
b)記録されている前記温度(TS/M)を、前記温度(TS/M)がある1つのスレショルド値(thCIP;thSIP)を超えた時点から積分するか、または、
c)記録されている前記温度(TS/M)を、前記温度(TS/M)が夫々のスレショルド値(thCIP;thSIP)を超えている期間(t5−t2)、(t12−t7)、(t15−514)において積分するようにし、
前記累積値(INTLT)が前記最大値(MAXLT)を超えたときに、前記測定プローブ(1a;1b;…)のコンディションを報知するか、または、前記累積値(INTLT)が前記最大値(MAXLT)を超えたことを報知する、
ことを特徴とする請求項1、2、又は3記載の方法。 - 例えば損耗負荷の残存許容量である前記残存寿命(RLT)、前記損耗負荷累積値(INTLT)、特性損耗パラメータ、前記最大値(MAXLT)、及び/または識別データなどの、前記測定プローブ(1a;1b;…)の管理及び/または動作に関するデータを、前記測定プローブ(1a;1b;…)の内部に備えたメモリ・モジュール(18)に、または、前記測定プローブ(1a;1b;…)の外部に設けた固定データ記録媒体または持ち運び可能なデータ記録媒体に、格納することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項記載の方法。
- 前記温度(TS/M)がある1つのスレショルド値(thCIP;thSIP)を超えたならば、当該スレショルド値(thCIP;thSIP)に対応したプロセス(CIP;SIP)の実行状況を、プロセス制御デバイス(2、5)がモニタすることを特徴とする請求項2乃至5の何れか1項記載の方法。
- 前記温度(TS/M)がある1つのスレショルド値(thCIP;thSIP)を超えたならば、当該プロセス(CIP;SIP)が適正に実行されるならその時間内に前記温度(TS/M)が当該スレショルド値(thCIP;thSIP)以下に低下するはずのない時間(tCIP、tSIP)を設定し、その設定した時間(tCIP、tSIP)内に前記温度(TS/M)が当該スレショルド値以下に低下したならば、エラー・メッセージ(ECIP;ESIP)を発することを特徴とする請求項6記載の方法。
- 請求項1乃至7の何れか1項記載の方法を実行するための測定プローブ(1a;1b;…)において、
該測定プローブ(1a;1b;…)は、例えば流体(6)の導電率、pH値、濁度、酸素濃度、ないしはCO2濃度などを測定するための測定プローブであり、
該測定プローブ(1a;1b;…)は、例えば前記残存寿命(RLT)、前記積分値(INTLT)、前記損耗パラメータ、前記最大値(MAXLT)、及び/または識別データなどの、該測定プローブ(1a;1b;…)の動作ないしモニタに必要なデータを記憶させるメモリ・モジュール(18)を備えていることを特徴とする測定プローブ(1a;1b;…)。 - 請求項1乃至7の何れか1項記載の方法を実行するためのプロセス・システムであり、該プロセス・システムは、プロセス容器(8;81、82)と、例えば請求項8に記載した測定プローブのような少なくとも1本の測定プローブ(1a;1b;…)とを備えており、前記測定プローブは、前記プロセス容器(8;81、82)に組み込まれており、前記測定プローブは、公知のCIP洗浄プロセスないしSIP滅菌プロセスに従って、取付位置から取外されることなく時間的に間隔をおいて洗浄ないし滅菌がなされるようにしてあり、該プロセス・システムは、少なくとも1つの測定及び/または制御デバイス(7、17、2a、5)を備えており、前記測定及び/または制御デバイスは、前記測定プローブ(1a;1b;…)の温度(TS/M)または前記測定プローブの周囲に存在する流体(6)の温度(TS/M)を測定すると共に、前記測定プローブ(1a;1b;…)の供用期間中に継続的に前記温度(TS/M)を記録し、前記測定プローブ(1a;1b;…)のコンディションを判定するように動作するものである、プロセス・システムにおいて、
プロセス制御コンピュータ(5)及び/または測定信号コンバータ(2a;…)に少なくとも1つのオペレーティング・プログラム(100)がインストールされており、前記プロセス制御コンピュータ(5)及び/または前記測定信号コンバータ(2a;…)が、無線通信方式または有線通信方式によって、前記測定プローブ(1a;1b;…)に接続され、及び/または、前記測定プローブ(1a;1b;…)の内部または外部に配設された温度センサ(7;17)ないし圧力センサ(77)に接続されていることを特徴とするプロセス・システム。 - 前記温度(TS/M)を測定する測定センサ(17;7)が、前記測定プローブ(1a;1b;…)の内部または前記プロセス容器(8;81、82)の内部に配設されており、また場合によっては、前記測定プローブ(1a;1b;…)を装着するための装着構造として機能し、装着した測定プローブを防護する、測定プローブ防護構造の内部に配設されていることを特徴とする請求項9記載のプロセス・システム。
- 前記測定プローブ(1a;1b;…)に、メモリ・モジュール(18)及び/または測定信号コンバータ(2)が一体に組み込まれていることを特徴とする請求項9又は10記載のプロセス・システム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005201900A true JP2005201900A (ja) | 2005-07-28 |
Family
ID=34560224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004370610A Pending JP2005201900A (ja) | 2003-12-23 | 2004-12-22 | 測定プローブのコンディションの判定方法及び判定装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7290434B2 (ja) |
EP (1) | EP1550861B1 (ja) |
JP (1) | JP2005201900A (ja) |
CN (1) | CN1637412B (ja) |
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EP1550861A1 (de) | 2005-07-06 |
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A977 | Report on retrieval |
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