JP2005201740A - 物品検査装置及び物品検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 自由落下中の物品のような高速で移動する物品の正常／異常を正確に判定することができる物品検査装置及び物品検査方法を提供する。
【解決手段】 ＬＰＦ（ローパスフィルタ）２６とＡ／Ｄ変換部４との間に包絡線検波部３を備え、まず、物品が磁界を通過することによる磁束の変化に応じて検出コイル２２に生じた誘導電圧の位相検波を行ない、次に、位相検波の結果をＬＰＦ２６に入力し、ＬＰＦ２６からの出力を包絡線検波部３に入力して包絡線検波し、包絡線検波部３からの出力をＡ／Ｄ変換部４に入力してデジタル信号に変換し、変換されたデジタル信号に基づいて物品の検査を行なう。
【選択図】 図１

Description

本発明は、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化で物品の磁界通過を検出し、検出結果に基づいて物品を検査する電磁誘導式の物品検査装置及び物品検査方法に関する。

電磁誘導式の物品検査装置は、交流磁界中に物品を置くか通過させるかし、交流磁界中の物品による磁束の変化に基づいて物品の検査を行なうことによって、物品の異常部分、物品に混入した金属、物品表面の傷、形状又は材質が異常な物品等を検知する（特許文献１〜３参照）。以下では、例えば、物品を搬送する物品搬送システムに対して物品検査装置を設け、物品が磁界を通過することによる磁束の変化に基づいて物品を検査する物品検査装置に関して説明する。

図１２は、従来の物品検査装置の構成を示すブロック図である。励磁コイル２１は、励磁部２３によって所定の周波数（以下、励磁周波数という）の高周波電圧を印加されて磁界を発生させる。検出コイル２２は、検査すべき物品（以下、ワークという）が励磁コイル２１によって発生した磁界を通過することによる磁束の変化に応じた誘導電圧を生じ、検出部２４は、検出コイル２２に生じた誘導電圧に対応するアナログ信号（図中、検出信号）を出力する。検出コイル２２は、例えば、励磁コイル２１の内側に配置され、各ワークは、検出コイル２２の内側を通過する。

位相検波部２５は、検出部２４が出力した検出信号を用い、励磁部２３の交流電圧に対応するアナログ信号（図中、交流電圧信号）に同期して位相検波を行なう。ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２６は、位相検波部２５が出力するアナログ信号の内、低周波数成分を通過させる。

励磁部２３、検出部２４、位相検波部２５、及びＬＰＦ２６は、磁束の変化による検出コイル２２のインピーダンス変化を検出するインピーダンス検出部２である。インピーダンス検出部２の検出信号、即ちＬＰＦ２６が出力するアナログ信号は直流電圧であり、励磁周波数の２倍の周波数を有するリップルが含まれている。Ａ／Ｄ変換部４は、ＬＰＦ２６が出力するアナログ信号を多値のデジタル信号に変換し、検査部１００は、Ａ／Ｄ変換部４が出力するデジタル信号に基づいてワークの検査を行なう。

図１３は、従来の物品検査装置が備えるインピーダンス検出部２の検出信号の時間変化を模式的に示す特性図である。図中、横軸は時間［ｔ］であり、縦軸は電圧［Ｖ］である。

従来、物品検査装置を用いてワークを検査する場合、例えば金属部品の材質、形状、欠陥の有無等、ワークの正常／異常を検査するとき、励磁コイル２１が発生させた磁界を、複数のワークが１個ずつ通過するか、複数のワークが連続的に、一定速度、一定間隔で通過するかして各ワークが検査されていた。図１３（ａ）は、１個ずつ通過する場合の検出信号の時間変化を示し、図１３（ｂ），（ｃ）は、連続的に通過する場合の検出信号の時間変化を示している。ただし、図１３（ｂ）は、一のワークと他のワークとの間の空隙（以下、隙間部分という）が十分に小さいときを示し、図１３（ｃ）は、隙間部分が比較的大きいときを示している。

図中、「ワーク通過」と記載した範囲は、ワークが磁界内を通過している状態を示し、「ＳＰ」と記載した範囲は、隙間部分が磁界内を通過している状態を示している。また、インピーダンス検出部２の検出信号は、ワークの中央部が検出コイル２２の中央部を通過するときがピーク値となる。

図１３（ａ）に示すように、磁界をワークが１個ずつ通過するとき、一のワークが磁界を通過することによる磁束の変化に、他のワークが磁界を通過することによる磁束の変化が影響を及ぼすこと（以下、他のワークによる影響という）が防止され、この結果、他のワークによる影響でワークの検査精度が低下することが防止される。このとき、検査部１００は、Ａ／Ｄ変換部４が出力するデジタル信号の一定周期毎のピーク値を求め、求めたピーク値が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれるか否かを判定し、判定結果に基づいて異常なワークを検知する。

一方、磁界をワークが連続的に通過するとき、他のワークによる影響、及び一のワークが磁界を通過することによる磁束の変化に、隙間部分が磁界を通過することによる磁束の変化が影響を及ぼすこと（以下、隙間部分による影響という）がある。

このため、図１３（ｂ）に示すように、隙間部分が十分に小さく、隙間部分による影響が無視できる場合、検査部１００は、Ａ／Ｄ変換部４が出力するデジタル信号の一定周期毎の平均値を求め、求めた平均値が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれるか否かを判定し、判定結果に基づいて正常／異常なワークを検知する。また、図１３（ｃ）に示すように、隙間部分が比較的大きく、隙間部分による影響が無視できない場合、検査部１００は、Ａ／Ｄ変換部４が出力するデジタル信号の一定周期毎のピーク値を求め、求めたピーク値が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれるか否かを判定し、判定結果に基づいて異常なワークを検知する。

以上のように、磁界をワークが連続的に通過する場合でも、一定周期毎の平均値又はピーク値を用いることにより、検査部１００にて他のワーク又は隙間部分の影響が排除され、このため検査精度の低下が防止される。
特開平６−２０１６５３号公報 特開昭６０−７８３７８号公報 特開昭５９−１３８９４６号公報

しかしながら、複数のワークに１個ずつ磁界を通過させる場合、ワークの搬送及び検査が非効率的になるという問題があった。

また、複数のワークに一定速度、一定間隔で磁界を通過させることは困難であり、更に、一定速度、一定間隔で通過させる場合でも、各ワークの磁界通過方向の長さ（以下、ワーク長さという）が異なるときは、隙間部分同士の間隔が異なる。更にまた、各ワークが移動と停止とを繰り返す場合のように、各ワークの磁界通過速度が変化することもある。このため、一定周期毎の平均値又はピーク値を求める従来の検査部１００では、磁界通過速度、ワーク長さ、ワーク間隔、又は隙間部分同士の間隔の差異、変化等に起因する磁束の変化への影響を排除できない。この結果、各ワークの検査精度が低下することがあるという問題があった。

隙間部分による影響を排除するために、隙間部分による影響が少ない所定位置に対応してＡ／Ｄ変換部４が出力するデジタル信号に基づきワークの検査を行なうことが考えられる。このような所定位置は、例えば、各ワークの磁界通過方向の中央部である。

しかしながらこの場合、特に各ワーク長さが異なるとき、所定位置に合わせてＡ／Ｄ変換部４からデジタル信号を出力させる位置合わせが必要になる。位置合わせを行なう場合、例えば、ワークの所定位置が検出コイル２２内の軸方向中央部に到達した時点でＡ／Ｄ変換部４からデジタル信号を出力させたり、ワークを停止させ、検出コイル２２の所定位置をワークの所定位置に合わせて、位置を合わせた時点でＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号を用いたりする。このため物品検査装置の構成が複雑化し、物品検査作業が繁雑になるという問題があった。

以上のようなことから、各ワークの磁界通過速度、ワーク間隔、又は隙間部分同士の間隔の差異、変化等を、簡易な構成で、又は検査部１００における演算処理にて排除できる物品検査装置が望まれている。

また、従来、ワークの磁界通過速度は低速であり、このため磁界通過時間は長く、検出信号の変化は遅い。この結果、従来の物品検査装置は、インピーダンス検出部２の検出信号を低速で処理する安価なＡ／Ｄ変換部４及び検査部１００で物品検査処理を行なっていた。一方、ワークの磁界通過速度が、例えば自由落下時のような高速である場合、磁界通過時間が短くなり、検出信号の変化が速くなる。この場合、従来の物品検査装置を用いるとき、Ａ／Ｄ変換部４及び検査部１００の代わりに、インピーダンス検出部２の検出信号を高速で処理できるような高い変換／演算能力を有する高価なＡ／Ｄ変換部及び検査部を備える必要があった。

更に、リップルの振幅が大きい場合は、正常なワークの出力振幅と異常なワークの出力振幅とが重なり、正常なワークに対応するピーク値の下限値〜上限値の範囲に、異常なワークに対応するピーク値の値が含まれることがある。このとき、正常なワークと異常なワークとを区別する上限値及び／又は下限値が設定できなくなることがあった。また、リップルの振幅が大きい場合は、上限値及び下限値を設定した場合でも、上限値又は下限値と異常なワークに対応する検出信号との差が小さいことがあり、このため、微小な雑音の混入によって検査部１００が正常／異常を誤判定し、検査精度が低下することがあった。

リップルの振幅を小さくするために、ＬＰＦ２６の時定数を大きくすることが考えられる。しかしながらこの場合、特にワークが高速で磁界を通過するとき、検出信号が高速で変化するため、正常なワークに対応する検出信号と異常なワークに対応する検出信号との微小な差異を求めることができず、検査部１００が正常／異常を誤判定し、検査精度が低下することがあった。

本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、物品検出手段とＡ／Ｄ変換手段との間に包絡線検波手段を備えることにより、ワークが高速で磁界を通過する場合でも高性能のＡ／Ｄ変換部手段及び検査手段を備える必要がなく、また、リップルに影響されることなく高精度でワークを検査できる物品検査装置及び物品検査方法を提供することを目的とする。

本発明の他の目的は、相前後するデジタル信号の差、又は移動中信号が与えられたか否かに基づいて、最大信号又はピーク信号を求めるための複数のデジタル信号を得ることにより、簡易な構成で、又は検出手段における演算処理にて、他のワーク、又は各ワークの磁界通過速度、ワーク長さ、ワーク間隔、隙間部分同士の間隔の差異、変化等の影響を排除でき、検査精度を向上できる物品検査装置を提供することにある。

第１発明に係る物品検査装置は、磁束の変化で検査対象物品の通過を検出し、検出結果に基づいて物品を検査する物品検査装置において、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を出力する物品検出手段と、該物品検出手段から出力されたアナログ信号を包絡線検波する包絡線検波手段と、該包絡線検波手段から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号に基づいて前記物品の検査を行なう検査手段とを備えることを特徴とする。

第２発明に係る物品検査装置は、前記物品が移動中であることを示す移動中信号を前記検査手段に与える手段を備え、前記検査手段は、少なくとも前記移動中信号が与えられた時点の直後から前記移動中信号が与えられなくなった時点の直前までの間に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力された複数のデジタル信号に基づいて、前記磁束のピークを示すピーク信号を求めるピーク信号演算手段と、該ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号を用いて前記物品の正常／異常を判定する異常判定手段とを備えることを特徴とする。

第３発明に係る物品検査装置は、前記ピーク信号演算手段は、前記複数のデジタル信号の内、最大信号及び最小信号を求める演算手段と、該演算手段にて求めた最大信号が、前記複数のデジタル信号の最初の信号であるか最後の信号であるか否かを判定する信号判定手段と、前記演算手段にて求めた最大信号が前記最初の信号である場合、前記演算手段にて求めた最小信号以降に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする手段と、前記演算手段にて求めた最大信号が前記最後の信号である場合、前記演算手段にて求めた最小信号以前に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする手段と、前記演算手段にて求めた最大信号が前記最初の信号及び前記最後の信号の何れでもない場合、前記最大信号をピーク信号とする手段とを備えることを特徴とする。

第４発明に係る物品検査装置は、前記異常判定手段は、前記ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号及び第１閾値の差の絶対値を求める手段と、該手段にて求めた絶対値が第２閾値以上であるか否かを判定する第１比較手段と、該第１比較手段にて前記絶対値が前記第２閾値以上であると判定した場合、前記物品は異常であると判定する手段と、前記第１比較手段にて前記絶対値が前記第２閾値未満であると判定した場合、前記物品は正常であると判定する手段とを備えることを特徴とする。

第５発明に係る物品検査装置は、前記検査手段は、前記Ａ／Ｄ変換手段から出力された相前後するデジタル信号の差の絶対値を求める絶対値演算手段と、該絶対値演算手段にて求めた絶対値が第３閾値以上であるか否かを判定する第２比較手段と、該第２比較手段にて前記絶対値が前記第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号の内、最大信号を求める最大信号演算手段と、該最大信号演算手段にて求めた最大信号を用いて前記物品の正常／異常を判定する異常判定手段とを備えることを特徴とする。

第６発明に係る物品検査装置は、前記異常判定手段は、前記ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号及び第４閾値の差の絶対値を求める手段と、該手段にて求めた絶対値が第５閾値以上であるか否かを判定する第３比較手段と、該第３比較手段にて前記絶対値が前記第５閾値以上であると判定した場合、前記物品は異常であると判定する手段と、前記第３比較手段にて前記絶対値が前記第５閾値未満であると判定した場合、前記複数のデジタル信号の最初の信号及び最後の信号の差の絶対値を求める手段と、該手段にて求めた絶対値が第６閾値以上であるか否かを判定する第４比較手段と、該第４比較手段にて前記絶対値が前記第６閾値以上であると判定したとき、前記物品は異常であると判定する手段と、該第４比較手段にて前記絶対値が前記第６閾値未満であると判定したとき、前記物品は正常であると判定する手段とを備えることを特徴とする。

第７発明に係る物品検査装置は、前記物品検出手段は、第１コイルと、該第１コイルに交流電圧を印加して磁界を発生させる励磁部と、磁束の変化に応じた誘導電圧を生じる第２コイルと、該第２コイルに生じた誘導電圧を用いた位相検波を行なう位相検波部と、該位相検波部が出力するアナログ信号の内、所定の周波数成分を通過させるフィルタとを備えることを特徴とする。

第８発明に係る物品検査方法は、第１発明乃至第７発明の何れかに係る物品検査装置を用いて、磁界を通過する物品を検査する物品検査方法であって、前記物品検出手段は、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を前記包絡線検波手段へ出力し、該包絡線検波手段は、入力されたアナログ信号を包絡線検波して前記Ａ／Ｄ変換手段へ出力し、前記Ａ／Ｄ変換手段は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換して前記検査手段へ出力し、該検査手段は、入力されたデジタル信号に基づいて前記物品の検査を行なうことを特徴とする。

第１発明及び第８発明にあっては、例えば、物品が搬送される搬送ルートの中途に、物品検査装置を設けておく。物品検査装置が備える物品検出手段は、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を包絡線検波手段へ出力し、包絡線検波手段は、入力されたアナログ信号を包絡線検波してＡ／Ｄ変換手段へ出力する。

物品検出手段から出力されるアナログ信号にはリップルが含まれているが、包絡線検波手段がリップルの振幅を低減するため、包絡線検波手段から出力されるアナログ信号はリップルの振幅が低減されている。また、包絡線検波手段は、包絡線検波手段の時定数を適切な値に設定することによって、リップルのピーク包絡線に遅れなしで追従するため応答性が高い。

また、Ａ／Ｄ変換手段は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換して検査手段へ出力し、検査手段は、入力されたデジタル信号に基づいて物品の検査を行なう。つまり、物品検出手段、包絡線検波手段、及びＡ／Ｄ変換手段は、磁束の変化で検査対象物品の通過を検出し、検出結果であるデジタル信号に基づいて、検査手段が物品を検査する。

第２発明にあっては、例えば、物品が移動及び停止を交互に繰り返しつつ搬送される搬送ルートの中途に、物品検査装置を設けておく。物品が停止している場合、物品検出手段、包絡線検波手段、及びＡ／Ｄ変換手段が出力するアナログ信号又はデジタル信号に変化が生じない。このため、検査手段は、少なくとも移動中信号が与えられた時点の直後から移動中信号が与えられなくなった時点の直前までの間に、即ち物品が移動開始した直後から物品が停止する直前までの間にＡ／Ｄ変換手段から出力された複数のデジタル信号に基づいてピーク信号を求め、求めたピーク信号を用いて、例えば金属部品の材質、形状、欠陥の有無等、物品の正常／異常を判定する。

第３発明にあっては、物品の特性が最も強く現われるデジタル信号として、磁束のピークを示すピーク信号を求める。検査手段は、第２発明に係る物品検査装置にて用いた複数のデジタル信号の内、最大信号及び最小信号を求め、求めた最大信号が、複数のデジタル信号の最初の信号であるか最後の信号であるか否かを判定する。次に、検査手段は、求めた最大信号が最初の信号である場合、求めた最小信号以降にＡ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする。また、検査手段は、求めた最大信号が最後の信号である場合、求めた最小信号以前にＡ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする。更にまた、検査手段は、求めた最大信号が最初の信号でも最後の信号でもない場合、求めた最大信号をピーク信号とする。

第４発明にあっては、検出手段が、ピーク信号及び第１閾値の差の絶対値を第２閾値と比較することによって、ピーク信号が所定の下限値〜上限値の範囲以内に含まれているか否かを判定し、含まれていない場合、物品は異常であると判定し、含まれている場合、物品は正常であると判定する。

第５発明にあっては、例えば、物品が移動及び停止を交互に繰り返しつつ搬送される搬送ルートの中途に、物品検査装置を設けておく。検査手段は、Ａ／Ｄ変換手段から出力された相前後するデジタル信号の差の絶対値を求め、求めた絶対値が第３閾値以上であるか否かを判定する。更に、検査手段は、求めた絶対値が第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号の内、最大信号を求め、求めた最大信号を用いて物品の正常／異常を判定する。

物品が停止している場合、物品検出手段、包絡線検波手段、及びＡ／Ｄ変換手段が出力するアナログ信号又はデジタル信号に変化が生じないため、求めた絶対値は第３閾値未満となる。つまり、求めた絶対値が第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号は、少なくとも、物品が移動開始した直後から物品が停止する直前までの間にＡ／Ｄ変換手段から出力された複数のデジタル信号である。

第６発明にあっては、検出手段が、最大信号及び第４閾値の差の絶対値を第５閾値と比較することによって、最大信号が所定の下限値〜上限値の範囲以内に含まれているか否かを判定し、含まれていない場合、物品は異常であると判定し、含まれている場合、第５発明に係る物品検査装置にて用いた複数のデジタル信号の内、最初の信号及び最後の信号を用いて、更に物品の正常／異常判定を行なう。この場合、最初の信号及び最後の信号の差の絶対値を第６閾値と比較することによって、最初の信号及び最後の信号の差が所定の範囲以内に含まれているか否かを判定し、含まれていない場合、物品は異常であると判定し、含まれている場合、物品は正常であると判定する。

第７発明にあっては、まず、励磁部が第１コイルに交流電圧を印加して磁界を発生させる。次に、第２コイルが、第１コイルが発生させた磁界を、検査すべき物品が通過することによる磁束の変化に応じた誘導電圧を生じる。更に、位相検波部が、第２コイルに生じた誘導電圧を用いた位相検波を行ない、最後に、フィルタが、位相検波部が出力するアナログ信号の内、所定の周波数成分を通過させる。以上のような構成によって、物品検出手段は、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を出力する。

第１発明の物品検査装置及び第８発明の物品検査方法によれば、従来の物品検査装置と同様に物品検出手段、Ａ／Ｄ変換手段、及び検査手段を備え、更に、物品検出手段とＡ／Ｄ変換手段との間に包絡線検波手段を備える。即ち、本発明の物品検査装置は、従来の物品検査装置に包絡線検波手段が追加された簡易な構成である。包絡線検波手段は、応答性が速く、物品検出手段が出力するアナログ信号のリップルの振幅を低減することができる。

包絡線検波手段がリップルの振幅を低減することによって、例えば物品検出手段を構成しているＬＰＦの時定数を大きくする必要がない。更に、例えば物品の正常／異常判定に用いる閾値を、容易に、かつ適切に設定することができるようになる。この結果、不適切な閾値に基づく誤判定、微小な雑音による誤判定等を防止することができ、物品の検査精度を向上することができる。

また、包絡線検波手段の応答性の速さによって、物品検査装置の検査処理能力を向上することができ、また、物品の移動速度が高速である場合も、物品検出手段が出力する検出信号の高速変化に追随することができるため、物品の検査精度を向上することができる。

更に、包絡線検波手段にて、リップルの振幅の低減及び検出信号の高速変化に対処するため、Ａ／Ｄ変換手段及び／又は検査手段にてリップルの振幅の低減及び検出信号の高速変化に対処する必要がない。このため、Ａ／Ｄ変換手段、検査手段を高性能のＡ／Ｄ変換器、ＰＬＣ等で構成する必要がなく、安価なＡ／Ｄ変換器、ＰＬＣ等で構成することができる。

更にまた、物品に磁界を通過させる場合に、複数の物品に１個ずつ磁界を通過させる必要がない。このため、物品の搬送及び検査が効率的になる。また、複数の物品に、一定速度、一定間隔で、しかも物品間の隙間部分を一定間隔にして、磁界を連続的に通過させる必要がない。このため、検査すべき物品の移動様態、物品の長さ等が制限されることがない。更に、物品の移動様態、物品の長さ等の差異又は変更に起因する磁束の変化への影響を排除するために、物品検査装置に、例えば物品と検出コイルの位置合わせを行なう機能を備えておく必要がない。

また、第２発明の物品検査装置によれば、少なくとも移動中信号が与えられた時点の直後から移動中信号が与えられなくなった時点の直前までの間にＡ／Ｄ変換手段から出力された複数のデジタル信号に基づいてピーク信号を求め、求めたピーク信号を用いて物品の正常／異常を判定する。このため、物品検出手段、Ａ／Ｄ変換手段、包絡線検波手段及び検査手段を備える物品検査装置に、物品が移動中であることを示す移動中信号を検査手段に与える手段を追加した簡易な構成で、各物品の長さ、磁界通過速度、物品間隔、又は隙間部分同士の間隔の差異、変化等の影響を排除することができる。

更に、第３発明の物品検査装置によれば、物品の移動様態、物品の長さ等の差異又は変更によって、一定周期毎のデジタル信号に基づいてピーク信号を求めることができない場合であっても、第２発明に係る物品検査装置にて用いた複数のデジタル信号に基づいてピーク信号を求めることができる。

更にまた、第４発明の物品検査装置によれば、ピーク信号が所定の下限値〜上限値の範囲以内に含まれているか否かを判定することによって、物品の正常／異常を判定することができるため、検査手段における判定処理が簡易である。

また、第５発明の物品検査装置によれば、Ａ／Ｄ変換手段から出力された相前後するデジタル信号の差の絶対値を求め、求めた絶対値が第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号の内の最大信号を求め、求めた最大信号を用いて物品の正常／異常を判定する。このため、物品検出手段、Ａ／Ｄ変換手段、包絡線検波手段及び検査手段を備える物品検査装置に、新たな手段を追加することなく、各物品の長さ、磁界通過速度、物品間隔、又は隙間部分同士の間隔の差異、変化等の影響を、検出手段における演算処理にて排除することができる。

更に、最大信号は複数のデジタル信号を用いて容易に求めることができる。一方、ピーク信号は最大信号よりも求めることが困難である。このため、検査手段が行なう演算は、ピーク信号を求める場合に行なう演算よりも簡易であり、検査手段は高速で演算を行なうことができる。また、高度な演算を行なう必要がないため、検査手段の性能を高性能にする必要がない。

更にまた、第６発明の物品検査装置によれば、最大信号が所定の下限値〜上限値の範囲以内に含まれているか否か、及び第５発明に係る物品検査装置にて用いた複数のデジタル信号における最初の信号及び最後の信号の差が所定の範囲以内に含まれているか否かを判定することによって、物品の正常／異常を判定することができるため、ピーク信号を用いず最大信号を用いて物品の正常／異常を判定する場合であっても、検査精度の低下を防止することができる。

また、第７発明の物品検査装置によれば、第１コイル、第２コイル、励磁部、位相検波部、及びフィルタを備える周知の物品検出手段を用いて物品検査装置を簡易に構成することができる等、本発明は優れた効果を奏する。

以下、本発明を、その実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。本実施の形態においては、金属部品であるワークを自由落下させることによってワークを移動させ、ワークに対して作業を行なう間は全てのワークの移動を一時停止させ、作業の終了後にワークの移動を再開させる物品搬送システムに対して物品検査装置を設け、金属部品の材質、形状、欠陥の有無等、ワークの正常／異常を判定する場合を例示するが、これに限るものではない。

実施の形態 １．
図１は、本発明の実施の形態１に係る物品検査装置６の構成を示すブロック図であり、図２は、物品検査装置６を備える物品搬送システムの構成を示す説明図である。

本実施の形態の物品搬送システムは、図２に示すように、各ワークＷ（検査対象物品）を自由落下させることによって下方向（図中白抜矢符方向）へ高速に移動させ、ワークＷに対する作業時に一旦停止させる構成である。このような物品搬送システムにおいては、複数のワークＷ，Ｗ，…が垂直方向に並置され、最下部のワークＷは略水平方向（図中矢符方向）へ移動することによってワークＷ，Ｗ，…の列から排出される。この場合、残りのワークＷ，Ｗ，…が自由落下し、これらの内、移動方向先頭のワークＷが最下部に到達したときにワークＷ，Ｗ，…の移動が一旦停止する。ワークＷに対する作業は、ワークＷ，Ｗ，…の停止時に行なわれ、作業終了後に、再び最下部のワークＷがワークＷ，Ｗ，…の列から排出される。

物品検査装置６は、磁界を生じる励磁コイル２１（第１コイル）及び磁束の変化に応じた誘導電圧を生じる検出コイル２２（第２コイル）を備え、励磁コイル２１及び検出コイル２２は、各コイル２１，２２の軸方向を垂直方向にして、垂直方向の略同じ位置に、励磁コイル２１を外側にして同心円状に配置されている。

励磁コイル２１は、励磁部２３によって交流電圧を印加され、交流磁界を生じる。また、ワークＷ，Ｗ，…の列は、検出コイル２２の内側を通過することによって励磁コイル２１が発生させた交流磁界を通過する。検出コイル２２は、励磁コイル２１が発生させた交流磁界中をワークＷ，Ｗ，…が通過することによる磁束の変化に応じた誘導電圧を生じる。生じた誘導電圧は、検出部２４に入力される。

各ワークＷは、例えば、図示しないケース内に固定されており、他のワークＷ又は物品搬送システム、物品検査装置６の各部等に当接したり、落下中に向きが変化したりすることを防止されている。

物品検査装置６は、励磁コイル２１及び検出コイル２２の他、図１に示すように、励磁コイル２１と検出コイル２２とに接続されたインピーダンス検出部２、インピーダンス検出部２に接続された包絡線検波部３、包絡線検波部３に接続されたＡ／Ｄ変換部４、及びＡ／Ｄ変換部４に接続された検査部１を備え、更に、検査部１に接続された表示部７を備える。

インピーダンス検出部２は、検出コイル２２のインピーダンス変化を検出することによって磁束の変化を検出するために、励磁コイル２１に接続された励磁部２３、検出コイル２２に接続された検出部２４、励磁部２３と検出部２４とに接続された位相検波部２５、及び位相検波部２５に接続されたＬＰＦ２６（フィルタ）を備え、ＬＰＦ２６が包絡線検波部３に接続されている。

励磁部２３は、励磁周波数の高周波電圧を励磁コイル２１に印加して交流磁界を発生させ、また、励磁コイル２１に印加される高周波電圧に対応するアナログ信号を交流電圧信号として位相検波部２５へ出力する。検出部２４は、検出コイル２２から入力された誘導電圧に対応するアナログ信号を検出信号として位相検波部２５へ出力する。

励磁部２３から交流電圧信号を、検出部２４から検出信号を、夫々入力された位相検波部２５は、交流電圧信号に同期して検出信号を位相検波し、位相検波の結果であるアナログ信号をＬＰＦ２６へ出力する。即ち、位相検波部２５は検出コイル２２に生じた誘導電圧を用いた位相検波を行なう。ワークＷ，Ｗ，…同士の形状、材質等の差異、特に正常なワークＷと異常なワークＷとの差異は、直流成分に出現するため、ＬＰＦ２６は入力されたアナログ信号の内、雑音成分である高周波成分を除去し、低周波数成分を通過させる。

以上のような励磁コイル２１、検出コイル２２、及びインピーダンス検出部２は、ワークＷが磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を出力する物品検出手段として機能する。

インピーダンス検出部２の検出信号、即ちＬＰＦ２６が出力するアナログ信号は直流電圧（以下、検出電圧という）であり、検出電圧には励磁周波数の２倍の周波数を有するリップルが含まれている。包絡線検波部３は、ＬＰＦ２６から出力されたアナログ信号を包絡線検波する包絡線検波手段であり、検出電圧に含まれるリップルのピーク包絡線に追従すべく、ダイオード３１、コンデンサ３２及び抵抗器３３を備える。

包絡線検波部３に検出電圧が入力された場合、入力された検出電圧が、以前に入力された検出電圧よりも高いとき、ダイオード３１を介してコンデンサ３２に時定数“０”で充電される。このため、リップルの最大電圧がコンデンサ３２に充電される。また、包絡線検波部３に入力された検出電圧が、コンデンサ３２に充電された検出電圧よりも低いとき、コンデンサ３２の電荷は抵抗器３３を介して時定数ＣＲで放電される。このような包絡線検波部３における時定数ＣＲは、包絡線検波部３の応答性を低下させない程度に予め設定される。この結果、包絡線検波部３は、各ワークＷの移動速度が高速であっても、検出電圧の高速な変化に追従し、更に、リップルの振幅を低減させる。

ここで、応答性を低下させないための時定数ＣＲの求め方を説明する。各ワークＷが磁界を通過する場合、検出電圧は、ワークＷの中央部が検出コイル２２の中央部を通過するときにピーク電圧となる。このため、一のワークＷのピーク電圧がコンデンサ３２に充電された後、遅くとも次のワークＷのピーク電圧がコンデンサ３２に充電されるまでに、充電されたピーク電圧を放電しておく必要がある。以上のことから時定数ＣＲは、各ワークＷの長さをａ、自由落下時間をＴとし、重力加速度ｇを用いて、Ｔ＝√（２ａ／ｇ）を目安に、リップルの振幅の大きさとの兼合いで、２Ｔ以下に設定する。

Ａ／Ｄ変換部４は、包絡線検波部３から出力されたアナログ信号を多値のデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段であり、サンプリング信号が入力された場合に、変換したデジタル信号を検査部１へ出力する。Ａ／Ｄ変換部４は、Ａ／Ｄ変換能力が低速で安価なＡ／Ｄ変換器で構成される。このようなＡ／Ｄ変換器は、例えば、励磁周波数が１ｋＨｚの場合、Ａ／Ｄ変換時間がｍｓオーダーの積分型である。

このように、物品検査装置６はＬＰＦ２６とＡ／Ｄ変換部４との間に包絡線検波部３を介在しているが、仮に、包絡線検波部３を備えない場合、又はＡ／Ｄ変換部４と検査部１との間に包絡線検波部３を介在した場合、Ａ／Ｄ変換部４に直接的に、リップルを含み、更に高速で変化するインピーダンス検出部２の検出信号が入力されるため、Ａ／Ｄ変換部４を、励磁周波数の４倍以上のＡ／Ｄ変換器のような高速で高価なＡ／Ｄ変換器で構成する必要がある。このようなＡ／Ｄ変換器は、例えば、励磁周波数が１ｋＨｚの場合、Ａ／Ｄ変換時間が２５０μｓ以下の逐次比較型である。また、Ａ／Ｄ変換部４にて、検出電圧の移動平均を求めるようなリップル低減化処理が必要になる。

一方、Ａ／Ｄ変換部４の前に包絡線検波部３を備える場合、包絡線検波部３にてリップルの振幅が低減されているため、Ａ／Ｄ変換部４にてリップル低減化処理を行なう必要がない。また、検出信号の変化速度が包絡線検波部３にて緩和されているため、Ａ／Ｄ変換部４にて検出信号を高速で処理する必要がない。つまり、ＬＰＦ２６とＡ／Ｄ変換部４との間に包絡線検波部３を介在することによって、高性能のＡ／Ｄ変換部４を備える必要がなく、物品検査装置６が安価に構成される。

検査部１は、例えばＰＬＣ（Programmable Logic Controller ）を用いてなる検査手段であり、後述する物品検査処理の手順（図６及び図７）に従い、Ａ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号に基づいて各ワークＷの検査を行なう。検査部１は、Ａ／Ｄ変換部４へ、Ａ／Ｄ変換部４からデジタル信号を得るためのサンプリング信号を一定の時間間隔で出力する。また、検査部１は、入力されたデジタル信号を記憶する記憶部１ａを内蔵する。更に、検査部１には、物品検査処理にて用いる第１〜第４の閾値が予め設定されている。

表示部７は、ランプ、モニタ等で構成され、検査部１によって各ワークＷの検査結果を入力され、入力された検査結果に基づきランプの点灯／消灯、モニタでの表示等を行なうことによって、物品検査装置６のユーザに対し、異常なワークＷの有無を報知する。

以上のような物品検査装置６を用いてワークＷ，Ｗ，…を検査する場合、励磁部２３の発振により励磁コイル２１にて磁界発生中に、各ワークＷに磁界を通過させ、検出コイル２２に生じた誘導電圧を検出部２４にて検出信号となし、位相検波部２５にて、励磁部２３から出力された交流電圧信号に基づき検出信号を位相検波し、位相検波したアナログ信号をＬＰＦ２６にて低周波のアナログ信号となす。

このアナログ信号は、ワークＷが磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号であり、包絡線検波部３へ出力され、包絡線検波部３は、入力されたアナログ信号を包絡線検波してＡ／Ｄ変換部４へ出力し、Ａ／Ｄ変換部４は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換して検査部１へ出力する。このようにして、磁束の変化でワークＷの通過を検出する。検査部１は、入力されたデジタル信号、即ち磁束の変化でワークＷの通過を検出した検出結果に基づいて、ワークＷの検査を行なう。

以下では、ワークＷの符号Ｗには、垂直方向下側のワークＷから上側のワークＷへ順に１，２，３の添字を設け、また、ワークＷ₁ ，Ｗ₂ ，…に対応するデジタル信号、ワークＷの磁界通過によって変化する磁束のピークを示すピーク信号等の符号Ｖにも同一の添字を設ける。更にまた、ワークＷの順番を明示する必要がない場合は、添字を省略する。

図３は、検出コイル２２に対するワークＷの停止位置を示す説明図である。また、図４及び図５は、包絡線検波部３が出力するアナログ信号の時間変化を示す特性図であり、横軸は時間［ｔ］であり、縦軸は電圧［Ｖ］である。図３中、ＳＰはワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分であり、また、図４及び図５中、符号Ｗが示す時間帯は各ワークＷが磁界を通過している時間帯を示し、符号ＳＰが示す時間帯は、ワークＷ，Ｗの隙間部分ＳＰが磁界を通過している時間帯を示している。

各ワークＷの移動中は、磁束の変化によってインピーダンス検出部２の検出信号が変化し、各ワークＷの停止中は、検出信号は一定となる。このため、図４及び図５から、特性曲線が上に凸状／凹状の曲線である時間帯には各ワークＷが移動していることがわかり、特性曲線が水平線である時間帯には各ワークＷが停止していることがわかる。

図３（ａ）は、ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２中央で停止した場合を示し、図４（ａ）の特性図に対応する。隙間部分ＳＰが検出コイル２２中央で停止するため、各ワークＷは、ワークＷの垂直方向先端から終端までが一気に検出コイル２２内を通過する。この結果、特性曲線は、水平線に挟まれた略左右対称の凸状になり、凸状曲線部分の最大値に対応するデジタル信号がピーク信号Ｖ_pである。

このことから、ピーク信号Ｖ_p は、停止していた各ワークＷが移動を開始した時点、即ち検出信号の変化が始まる時点から、移動していた各ワークＷが停止した時点、即ち検出信号の変化が終わる時点までの間に、Ａ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の内の最大信号であることがわかる。以下では、各ワークＷが移動を開始した時点に対応するデジタル信号を初期信号Ｖ_sといい、移動していた各ワークＷが停止した時点に対応するデジタル信号を終期信号Ｖ_e という。

図３（ｂ）は、ワークＷ₁ の中央部が検出コイル２２内中央部に到達した時点で停止した（ワークＷが検出コイル２２中央で停止した）場合を示し、図４（ｂ）の特性図に対応する。ワークＷ₁が検出コイル２２中央で停止するため、ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰの垂直方向先端から終端までが一気に検出コイル２２内を通過する。この結果、特性曲線は、水平線に挟まれた略左右対称の凹状になる。このため、図４（ｂ）には、図４（ａ）のピーク信号Ｖ_pに相当する曲線のピークが存在しない。

図３（ｃ）は、ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内中央部に到達する前にワークＷ₁ ，Ｗ₂が停止した（ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内上部で停止した）場合を示し、図５（ａ）の特性図に対応する。ワークＷ₁，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内上部で停止した後、各ワークＷが移動を開始し、ワークＷ₁ ，Ｗ₂の隙間部分ＳＰ、次いでワークＷ₂ の中央部が検出コイル２２内中央部を通過してから、ワークＷ₃ の中央部が検出コイル２２内中央部を通過する前に、ワークＷ₂，Ｗ₃ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内上部で停止する。この結果、特性曲線は、水平線に挟まれて、凹部の後に凸部が続く形状になり、凸状曲線部分の最大値が検出信号のピーク信号Ｖ_pに対応する。

図５（ａ）からわかるように、隙間部分ＳＰが検出コイル２２内上部で停止する場合のピーク信号Ｖ_p は、停止していた各ワークＷが移動を開始した時点から停止した時点までの間にＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の内の最大信号であるとは限らない。つまり、最大信号がピーク信号Ｖ_pであるか、最大値が初期信号Ｖ_s であるかの何れかである。

図３（ｄ）は、ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内中央部を通過してからワークＷ₁ ，Ｗ₂が停止した（ワークＷ₁ ，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内下部で停止した）場合を示し、図５（ｂ）の特性図に対応する。ワークＷ₁，Ｗ₂ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内下部で停止した後、各ワークＷが移動を開始し、ワークＷ₂ の中央部、次いでワークＷ₂，Ｗ₃ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内中央部を通過してから、ワークＷ₃ の中央部が検出コイル２２内中央部を通過する前に、ワークＷ₂，Ｗ₃ の隙間部分ＳＰが検出コイル２２内下部で停止する。この結果、特性曲線は、水平線に挟まれて、凸部の後に凹部が続く形状になり、凸状曲線部分の最大値が検出信号のピーク信号Ｖ_pに対応する。

図５（ｂ）からわかるように、隙間部分ＳＰが検出コイル２２内下部で停止する場合のピーク信号Ｖ_p は、停止していた各ワークＷが移動を開始した時点から停止した時点までの間にＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の内の最大信号であるとは限らない。つまり、最大信号がピーク信号Ｖ_pであるか、最大信号が終期信号Ｖ_e であるかの何れかである。

以上のことから、検査部１がピーク信号Ｖ_p を求める演算は、Ａ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の内の最大信号を求める演算より煩雑であることがわかる。このため、本実施の形態の検査部１では、ピーク信号Ｖ_pではなく最大信号を求め、求めた最大値を用いてワークＷの検査を行なう。以下では、初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_e を含む初期信号Ｖ_sから終期信号Ｖ_e までのデジタル信号を、初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号という。

図６は、検査部１による物品検査処理の手順を示すフローチャートである。搬送システムによってワークＷ，Ｗ，…の搬送が開始される前、即ちワークＷ，Ｗ，…が停止している場合に、検査部１は、予めサンプリング信号をＡ／Ｄ変換部４へ出力し、Ａ／Ｄ変換部４から入力されたデジタル信号を記憶部１ａに記憶しておく。ワークＷ，Ｗ，…の移動は、検査部１によるサンプリング信号の出力以降に開始される。

検査部１は、サンプリング信号をＡ／Ｄ変換部４へ出力する（Ｓ１１）。サンプリング信号の出力は、例えば、前回のサンプリング信号の出力後、所定時間の計時を行ない、所定時間が経過した場合に今回のサンプリング信号を出力する。即ち、検査部１によるサンプリング信号の出力は、一定の時間間隔で継続的に行なわれる。Ａ／Ｄ変換部４は、検査部１からサンプリング信号が入力される都度、包絡線検波部３から入力されたアナログ信号をＡ／Ｄ変換してなるデジタル信号を検査部１へ出力する。

検査部１は、Ｓ１１の処理後にＡ／Ｄ変換部４から入力されたデジタル信号（以下、今回のデジタル信号という）と、前回のデジタル信号との差の絶対値を求める（Ｓ１２）。前回のデジタル信号とは、検査部１によるＳ１１の実行が１回目である場合、Ｓ１１の実行前に予め記憶部１ａに記憶しておいたデジタル信号であり、Ｓ１１の実行がｎ（ｎは２以上の自然数）回目以降である場合、ｎ−１回目のＳ１１実行後にＡ／Ｄ変換部４から入力され、後述するＳ１５、Ｓ１６、Ｓ１８又はＳ１９にて記憶部１ａに記憶したデジタル信号である。

Ｓ１２にて、今回のデジタル信号と前回のデジタル信号との差の絶対値を求めた後、検査部１は、記憶部１ａに初期信号Ｖ_s が記憶されているか否かを判定する（Ｓ１３）。初期信号Ｖ_sの記憶は後述するＳ１６で実行されるため、Ｓ１３の実行が１回目、又は後述するＳ１９の処理完了後の初回目である場合、Ｓ１３は必ずＮＯとなる。

Ｓ１３にて、記憶部１ａに初期信号Ｖ_s が記憶されていないと判定した場合（Ｓ１３でＮＯ）、検査部１は、Ｓ１２で求めた絶対値が、検査部１に設定されている第１の閾値（第３閾値）以上であるか否かを判定する（Ｓ１４）。第１の閾値は、今回のデジタル信号と前回のデジタル信号とが略等しいか否かを判定するための閾値であり、第１の閾値としては、適宜の微小な正数を用いる。Ｓ１２で求めた絶対値が第１の閾値未満である場合、今回のデジタル信号と前回のデジタル信号とにはほとんど差がないことがわかる。このため、Ｓ１２で求めた絶対値＜第１の閾値であると判定した場合（Ｓ１４でＮＯ）、検査部１は、今回のデジタル信号を記憶部１ａに記憶し（Ｓ１５）、処理をＳ１１へ戻す。

Ｓ１５にて記憶部１ａに記憶されるデジタル信号は、インピーダンス検出部２の検出信号に変化がなく検出信号が一定である場合、即ち各ワークＷが停止している場合に対応する。なお、Ｓ１１へ戻る前に、記憶部１ａに記憶されている前回のデジタル信号を削除しても良い。この場合、Ｓ１５以降の処理で利用されないデジタル信号を記憶部１ａに記憶することが防止される。

Ｓ１４にて、Ｓ１２で求めた絶対値≧第１の閾値であると判定した場合（Ｓ１４でＹＥＳ）、検査部１は、前回のデジタル信号を初期信号Ｖ_s として記憶部１ａに記憶し、更に今回のデジタル信号を記憶部１ａに記憶し（Ｓ１６）、処理をＳ１１へ戻す。Ｓ１６にて記憶部１ａに記憶される初期信号Ｖs は、インピーダンス検出部２の検出信号に変化が生じる直前、即ち各ワークＷが移動を開始する直前に対応する。また、Ｓ１６にて記憶部１ａに記憶されるデジタル信号は、インピーダンス検出部２の検出信号に変化が生じた場合、即ち各ワークＷが移動を開始した場合に対応する。また、Ｓ１６の処理の完了以降Ｓ１９の処理完了まで、Ｓ１３は必ずＹＥＳとなる。

Ｓ１３にて、記憶部１ａに初期信号Ｖ_s が記憶されていると判定した場合（Ｓ１３でＹＥＳ）、検査部１は、Ｓ１２で求めた絶対値が第１の閾値以上であるか否かを判定し（Ｓ１７）、Ｓ１２で求めた絶対値≧第１の閾値であると判定した場合（Ｓ１７でＹＥＳ）、今回のデジタル信号を記憶部１ａに記憶し（Ｓ１８）、処理をＳ１１へ戻す。Ｓ１８にて記憶部１ａに記憶されるデジタル信号は、インピーダンス検出部２の検出信号が変化している場合、即ち各ワークＷが移動している場合に対応する。

Ｓ１７にて、Ｓ１２で求めた絶対値＜第３閾値であると判定した場合（Ｓ１７でＮＯ）、検査部１は、今回のデジタル信号を終期信号Ｖ_e として記憶部１ａに記憶する（Ｓ１９）。Ｓ１９にて記憶される終期信号Ｖ_eは、インピーダンス検出部２の検出信号に変化がなくなり検出信号が一定になった場合、即ち各ワークＷが停止した直後に対応する。

ワークＷ，Ｗ，…の移動開始時点〜移動終了時点に対応するデジタル信号を得ることは困難であるため、本実施の形態では、ワークＷ，Ｗ，…の移動開始直前〜移動終了直後に対応するデジタル信号を初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号として用いている。なお、ワークＷ，Ｗ，…の移動開始直後〜移動終了直前に対応するデジタル信号を初期信号Ｖ_s〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号として用いる構成でも良い。

Ｓ１９の処理の完了後、即ち各ワークＷが停止した場合に、検査部１は、異常判定処理のサブルーチン（図７参照）を呼び出して実行する（Ｓ２１）。Ｓ２１の処理の完了後、検査部１は、Ｓ１９で記憶した終期信号Ｖ_e を前回のデジタル信号となし、更に、Ｓ１６で記憶した初期信号Ｖ_sを消去してから、処理をＳ１１へ戻す。なお、検査部１は、他の不要なデジタル信号を消去しても良いし、外部の記憶手段へ出力してこれに記憶させても良い。

図７は、検査部１による異常判定処理手順のサブルーチンを示すフローチャートである。検査部１は、まず、初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号の内、最大信号を求める（Ｓ３１）。次に、Ｓ３１で求めた最大信号と、検査部１に設定されている第２の閾値（第４閾値）との差の絶対値を求め（Ｓ３２）、Ｓ３２で求めた絶対値が、検査部１に設定されている第３の閾値（第５閾値）以上であるか否かを判定する（Ｓ３３）。

第２の閾値及び第３の閾値は、Ｓ３１で求めた最大信号が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれるか否かを判定し、判定結果に基づいて異常なワークＷを検知するための閾値である。第２の閾値は、例えば正常なワークＷ，Ｗ，…における最大信号の平均値であり、第２の閾値±第３の閾値の閾値の範囲が所定の下限値〜上限値の範囲である。

Ｓ３２で求めた絶対値が第３の閾値以上である場合、Ｓ３１で求めた最大信号は所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれていない。このため、Ｓ３３にて、Ｓ３２で求めた絶対値≧第３の閾値であると判定した場合（Ｓ３３でＹＥＳ）、検査部１は、異常なワークＷを検知したと判定する（Ｓ３４）。

従来の物品検査装置は、ピーク信号が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれている場合、ワークＷが正常であると判定する。一方、本実施の形態における物品検査装置６は、最大信号を用いており、最大信号はピーク信号Ｖ_p ではない（初期信号Ｖ_s 又は終期信号Ｖ_eである）ことがある。このため、最大信号が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれている場合、即ちＳ３２で求めた絶対値が第３の閾値未満でも、Ｓ１４及びＳ１７にてＳ１２で求めた絶対値が第１の閾値以上であると判定した複数のデジタル信号における最初の信号及び最後の信号、即ち初期信号Ｖ_s及び終期信号Ｖ_e を用いて、再び正常／異常の判定を行ない、ワークＷの検査精度の低下を防止する。

Ｓ３３にて、Ｓ３２で求めた絶対値＜第３の閾値であると判定した場合（Ｓ３３でＮＯ）、初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_e の差の絶対値を求め（Ｓ３５）、Ｓ３５で求めた絶対値が、検査部１に設定されている第４の閾値（第６閾値）以上であるか否かを判定する（Ｓ３６）。初期信号Ｖ_sと終期信号Ｖ_e とは等しいことが望ましいため、第４の閾値は、正常なワークＷにおける初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_eの差の絶対値の最大限度値である。

Ｓ３６で求めた絶対値≧第４の閾値であると判定したとき（Ｓ３６でＹＥＳ）、検査部１は、検査部１は、異常なワークＷを検知したと判定する（Ｓ３７）。また、Ｓ３６で求めた絶対値＜第４の閾値であると判定したとき（Ｓ３６でＮＯ）、検査部１は、正常なワークＷであると判定する（Ｓ３８）。Ｓ３７又はＳ３８の処理完了後、検査部１は異常判定処理を終了する。

以上のような物品検査処理におけるＳ１２の処理は、Ａ／Ｄ変換部４から出力された相前後するデジタル信号の差の絶対値を求める絶対値演算手段として機能し、Ｓ１４及びＳ１７の処理は、Ｓ１２で求めた絶対値が第１の閾値以上であるか否かを判定する第２比較手段として機能する。また、Ｓ１６、Ｓ１８、Ｓ１９、及びＳ３１の処理は、Ｓ１４又はＳ１７にてＳ１２で求めた絶対値が第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号の内、最大信号を求める最大信号演算手段として機能し、Ｓ３２〜Ｓ３８の処理は、最大信号演算手段にて求めた最大信号を用いてワークＷの正常／異常を判定する異常判定手段として機能する。

物品検査装置６で用いられる第１〜第４の閾値は、例えば、正常であることがわかっている複数のワークＷ，Ｗ，…夫々に対応する初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号を物品検査装置６にて求め、求めたデジタル信号に基づいて、ユーザが適宜の値を設定する。物品検査装置６における初期信号Ｖ_s〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号は、包絡線検波部３にて、ワークＷ，Ｗ，…の高速移動による検出電圧の高速な変化に追従し、更に、リップルの振幅を低減されたアナログ信号に基づいているため、求めたデジタル信号を用いることによって、適切な第１〜第４の閾値が設定可能である。ここで設定した第１〜第４の閾値は、ワークＷ，Ｗ，…夫々に対する物品検査処理の実行中は固定しても良いし、新たな値に変更しても良い。

第１〜第４の閾値を変更する場合、ワークＷが正常であると判定する毎に、正常であると判定したワークＷに対応する初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号に基づいて、検査部１が新たな第１〜第４の閾値を設定する。第１〜第４の閾値を固定する場合は閾値演算処理による検査部１の負担が低減し、変更する場合は、例えば周囲温度変化によって検出信号の振幅に変化が生じたときでも、温度に起因する検査精度の悪化が抑制される。

以上のような物品検査装置６は、複数のワークＷ，Ｗ，…を、一定速度、一定間隔に保つことなく、高速で連続的に搬送しながら物品検査処理を行なうため、ワークＷ，Ｗ，…の搬送及び検査が簡易で効率的である。また、各ワークＷの長さが異なる場合であっても、隙間部分ＳＰを一定間隔に保つ必要がないため、検査精度の低下が防止されている。

また、ワークＷ，Ｗ，…の磁界通過速度、ワーク間隔、又は隙間部分ＳＰ同士の間隔の差異、変化等に起因する磁束の変化への影響は、検査部１が、初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号を求め、求めたデジタル信号に基づいてワークＷの正常／異常を判定することによって排除している。このため、物品検査装置６には、例えば検出コイル２２とワークＷとの位置合わせを行なう手段が不要である。この結果、物品検査装置６の構成が簡易となり、物品検査作業が簡便になる。

更に、包絡線検波部３を備えているため、リップルの振幅を低減するためにＬＰＦ２６の時定数を大きくする必要がない。この結果、正常なワークＷに対応する検出信号と異常なワークＷに対応する検出信号との微小な差異がインピーダンス検出部２の検出信号に反映され、検査精度の低下が防止されている。

本実施の形態における物品検査装置６の構成は、特許文献１の図２，図３に開示されている制御装置８と比較した場合、物品検査装置６の励磁部２３、検出部２４、位相検波部２５、ＬＰＦ２６、Ａ／Ｄ変換部４、及び検査部１が、制御装置８の駆動部２５、前置増幅回路４０、位相検出回路４１、ローパスフィルタ回路４３、Ａ／Ｄ変換回路４４、及びデジタル処理部３０に対応する。しかしながら物品検査装置６は、ＬＰＦ２６とＡ／Ｄ変換部４との間に包絡線検波部３を介在させることによって、ワークＷの移動速度が高速であっても、検出電圧の高速な変化に追従し、更に、リップルの振幅を低減している。また、検査部１と特許文献１のデジタル処理部３０の構成及び物品の正常／異常を判定する手段が異なる。

なお、励磁コイルを備えず検出コイルのみを備え、検出コイルに交流電圧を印加する構成であっても良い。この場合、検出コイルが生成する磁界をワークが通過することによる磁束の変化に応じて検出コイルのインピーダンスが変化する。このような構成における物品検出手段は、検出コイルと、検出コイルに交流電圧を印加して磁界を発生させる励磁部と、検出コイルのインピーダンス変化を用いた位相検波を行なう位相検波部と、位相検波部が出力するアナログ信号の内、低周波数成分を通過させるＬＰＦとを備える。

また、初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e を１サイクルとし、各１サイクルの波形と、正常なワークＷに関する波形又は正常であると前回判定したワークＷに関する波形とをパターンマッチングで比較し、比較結果に基づいて物品検査を行なっても良い。更に、検出コイル２２に対してワークＷが移動する構成ではなく、ワークＷに対して検出コイル２２が移動する構成であっても良い。

実施の形態 ２．
図８は、本発明の実施の形態２に係る物品検査装置６の構成を示すブロック図であり、図９は、物品検査装置６を備える物品搬送システムの構成を示す説明図である。本実施の形態の物品検査装置６は、実施の形態１の物品検査装置６と異なり、ワーク検出部５を備える。また、検査部１には、物品検査処理にて用いる第５の閾値及び第６の閾値が予め設定されている。第５〜第６の閾値は、実施の形態１の第２〜第３の閾値と同様にして求められている。その他、実施の形態１に対応する部分には同一符号を付してそれらの説明を省略する。

ワーク検出部５は、各ワークＷが移動中であるか否かを検出し、各ワークＷが移動中である場合に、移動中信号を検査部１へ出力し、停止中である場合に移動中信号の出力を停止する。ワーク検出部５は、例えばワークＷ，Ｗ，…の列の近傍に配置された光電センサを用いてなり、光電センサに対応する位置に一のワークＷ又は隙間部分ＳＰが存在することを所定時間以上継続して検出している場合は各ワークＷが停止しているため、移動中信号の出力を停止し、それ以外は各ワークＷが移動しているため、移動中信号を出力する。

このようなワーク検出部５は、ワークＷが移動中であることを示す移動中信号を検査部１に与える手段として機能する。また、ワーク検出部５に限らず、ワークＷの移動開始から停止までの間、移動中信号を継続して検査部１へ入力する構成であれば良い。例えば、最下部のワークＷの排出直後から、次のワークＷが最下部に到達するまで移動中信号を出力する信号出力部を備える構成でも良い。

本実施の形態の検査部１では、実施の形態１とは異なり最大信号ではなくピーク信号Ｖ_p を求め、求めたピーク信号Ｖ_p を用いてワークＷの検査を行なう。ただし、図４（ｂ）に示すようなワークＷが検出コイル２２中央で停止する場合には、図４（ａ）のピーク信号Ｖ_pに相当する曲線のピークが存在しない。このため、ワークＷが検出コイル２２中央で停止する場合は、初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_eの内の大きい方をピーク信号Ｖ_p とする。

図４及び図５から、検査部１がピーク信号Ｖ_p を求めるためには、Ａ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の中から初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_eを求め、初期信号Ｖ_s 、終期信号Ｖ_e 、及び初期信号Ｖ_s の出力直後から終期信号Ｖ_eの出力直前までの間にＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号の内の最大値を求め、求めた最大値と、初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_eとの大小関係に基づいてピーク信号Ｖ_p を求める必要があることがわかる。検査部１によるピーク信号Ｖ_p の算出手順は、後述する図１１にて説明する。

図１０は、検査部１による物品検査処理の手順を示すフローチャートである。検査部１は、ワーク検出部５から移動中信号が入力されたか否かを判定し（Ｓ７１）、移動中信号が入力されていない場合（Ｓ７１でＮＯ）、移動中信号が入力されるまで待機する。移動中信号が入力された場合（Ｓ７１でＹＥＳ）、検査部１は、サンプリング信号をＡ／Ｄ変換部４へ出力し（Ｓ７２）、Ｓ７２の処理後にＡ／Ｄ変換部４から入力されたデジタル信号を初期信号Ｖ_s として記憶部１ａに記憶する（Ｓ７３）。

検査部１は、更にサンプリング信号をＡ／Ｄ変換部４へ出力し（Ｓ７４）、また、ワーク検出部５から入力されていた移動中信号が入力されなくなったか否か、即ち移動中信号の入力が終了したか否かを判定する（Ｓ７５）。Ｓ７５にて、移動中信号の入力中であると判定した場合（Ｓ７５でＮＯ）、検査部１は、Ｓ７４の処理後にＡ／Ｄ変換部４から入力されたデジタル信号を記憶部１ａに記憶して（Ｓ７６）、処理をＳ７４へ戻す。検査部１によるサンプリング信号の出力は、一定の時間間隔で継続的に行なわれる。

また、Ｓ７５にて、移動中信号の入力が終了したと判定した場合（Ｓ７５でＹＥＳ）、検査部１は、Ｓ７４の処理後にＡ／Ｄ変換部４から入力されたデジタル信号を終期信号Ｖ_e として記憶部１ａに記憶する（Ｓ７７）。Ｓ７７の処理完了後、検査部１は、初期信号Ｖ_s〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号を用いてピーク信号Ｖ_p を求めるピーク信号演算処理のサブルーチンを呼び出して実行する（Ｓ８０）。

次に、検査部１は、Ｓ８０で求めたピーク信号Ｖ_p と、検査部１に設定されている第５の閾値（第１閾値）との差の絶対値を求め（Ｓ８１）、Ｓ８１で求めた絶対値が、検査部１に設定されている第６の閾値（第２閾値）以上であるか否かを判定する（Ｓ８２）。Ｓ８２にて、Ｓ８１で求めた絶対値≧第６の閾値であると判定した場合（Ｓ８２でＹＥＳ）、検査部１は、異常なワークＷを検知したと判定する（Ｓ８３）。また、Ｓ８２にて、Ｓ８１で求めた絶対値＜第６の閾値であると判定した場合（Ｓ８２でＮＯ）、検査部１は、正常なワークＷであると判定する（Ｓ８４）。Ｓ８３又はＳ８４の処理完了後、検査部１は、処理をＳ７１へ戻す。この場合、検査部１は、Ｓ７６で記憶したデジタル信号を消去しても良いし、外部の記憶手段へ出力してこれに記憶させても良い。

Ｓ７３、Ｓ７６、及びＳ７７にて記憶部１ａに記憶される初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号は、各ワークＷが移動を開始した直後〜移動を終了する直前のデジタル信号に対応する。検査部１は、移動中信号の入力中のみ、サンプリング信号の出力及びデジタル信号の記憶（Ｓ７２〜Ｓ７７）を行ない、ワークＷの正常／異常判定（Ｓ８０〜Ｓ８４）は、ワークＷ，Ｗ，…停止中に実行され、完了する。つまり、検査部１が各ワークＷの移動開始〜終了を、デジタル信号の演算によって判定する必要がない。

また、本実施の形態の物品検査装置６は、従来の物品検査装置と同様に、ピーク信号Ｖ_p が所定の下限値〜上限値の範囲内に含まれている場合、ワークＷが正常であると判定している。このため、ワークＷの正常／異常判定が簡易である。本実施の形態の物品検査装置６を用いて更に検査精度を向上する場合、ワークＷ，Ｗの停止位置と検出コイル２２との位置関係が図３（ａ）に示すような位置関係になるようワークＷと検出コイル２２の位置合わせを行なうことが望ましい。

以上のような物品検査装置６におけるＳ７１〜Ｓ７７、及びＳ８０の処理は、少なくとも移動中信号が与えられた時点の直後から移動中信号が与えられなくなった時点の直前までの間にＡ／Ｄ変換部４から出力された複数のデジタル信号に基づいてピーク信号Ｖ_p を求めるピーク信号演算手段として機能し、Ｓ８１〜Ｓ８４の処理は、Ｓ８０で求めたピーク信号Ｖ_pを用いてワークＷの正常／異常を判定する異常判定手段として機能する。

図１１は、検査部１によるピーク信号演算処理手順のサブルーチンを示すフローチャートである。まず、検査部１は、初期信号Ｖ_s 〜終期信号Ｖ_e のデジタル信号の内、最大信号及び最小信号を求める（Ｓ５１）。次に、Ｓ５１で求めた最大信号が、初期信号Ｖ_sであるか終期信号Ｖ_e であるか否かを判定する（Ｓ５２）。

図４（ｂ）の初期信号Ｖ_s2〜終期信号Ｖ_e2のデジタル信号、又は図５（ａ）の初期信号Ｖ_s3〜終期信号Ｖ_e3のデジタル信号に基づく場合、Ｓ５１で求まる最大信号は初期信号Ｖ_s である。Ｓ５１で求めた最大信号＝初期信号Ｖ_s である場合（Ｓ５２で初期）、Ｓ５１で求めた最小信号以降にＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号、即ちＳ５１で求めた最小信号以降に記憶部１ａに記憶されたデジタル信号の内、最大信号を求め（Ｓ５３）、Ｓ５３で求めた最大信号をピーク信号Ｖ_pとなして（Ｓ５５）、ピーク信号演算処理のサブルーチンを終了し、メインルーチンのＳ８１を実行する。

図５（ｂ）の初期信号Ｖ_s2〜終期信号Ｖ_e2のデジタル信号に基づく場合、Ｓ５１で求まる最大信号は終期信号Ｖ_e である。Ｓ５１で求めた最大信号＝終期信号Ｖ_e である場合（Ｓ５２で終期）、Ｓ５１で求めた最小信号以前にＡ／Ｄ変換部４から出力されたデジタル信号、即ちＳ５１で求めた最小信号以前に記憶部１ａに記憶されたデジタル信号の内、最大信号を求め（Ｓ５４）、Ｓ５５にて、Ｓ５４で求めた最大信号をピーク信号Ｖ_pとなして、ピーク信号演算処理のサブルーチンを終了し、メインルーチンのＳ８１を実行する。

図４（ａ）の初期信号Ｖ_s1〜終期信号Ｖ_e1のデジタル信号、及び初期信号Ｖ_s2〜終期信号Ｖ_e2のデジタル信号、図５（ａ）の初期信号Ｖ_s2〜終期信号Ｖ_e2のデジタル信号、並びに図５（ｂ）の初期信号Ｖ_s1〜終期信号Ｖ_e1のデジタル信号に基づく場合、Ｓ５１で求まる最大信号は初期信号Ｖ_s でも終期信号Ｖ_e でもない。Ｓ５１で求めた最大信号が初期信号Ｖ_s 及び終期信号Ｖ_eの何れでもない場合（Ｓ５２でＮＯ）、Ｓ５５にて、Ｓ５１で求めた最大信号をピーク信号Ｖ_p となして、ピーク信号演算処理のサブルーチンを終了し、メインルーチンのＳ８１を実行する。

図４（ｂ）の初期信号Ｖ_s1〜終期信号Ｖ_e1のデジタル信号に基づく場合、初期信号Ｖ_s1＝終期信号Ｖ_e1＝Ｓ５１で求まる最大信号である。このため、Ｓ５３及びＳ５５、又はＳ５４及びＳ５５の処理の後、初期信号Ｖ_s1又は終期信号Ｖ_e1をピーク信号Ｖ_p となす。

なお、図４（ｂ）の初期信号Ｖ_s1〜終期信号Ｖ_e1のデジタル信号又は初期信号Ｖ_s2〜終期信号Ｖ_e2のデジタル信号に基づく場合、ピーク信号Ｖ_p となした初期信号Ｖ_s 又は終期信号Ｖ_e がワークＷ₁ 及びワークＷ₂（ワークＷ₂ 及びワークＷ₃ ）の何れに対応しているかが不明確になる可能性がある。このため、Ｓ５１で求めた最大信号、初期信号Ｖ_s及び終期信号Ｖ_e の何れをピーク信号Ｖ_p となしたかを記憶部１ａに記憶することによってワークＷとの対応を明確にしておき、検査部１から表示部７へ出力される検査結果にワークＷとの対応を含ませておくことが望ましい。

本発明の実施の形態１に係る物品検査装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置を備える物品搬送システムの構成を示す説明図である。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置が備える検出コイルに対するワークの停止位置を示す説明図である。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置が備える包絡線検波部が出力するアナログ信号の時間変化を示す特性図である。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置が備える包絡線検波部が出力するアナログ信号の時間変化を示す特性図である。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置の検査部による物品検査処理の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態１に係る物品検査装置の検査部による異常判定処理手順のサブルーチンを示すフローチャートである。 本発明の実施の形態２に係る物品検査装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態２に係る物品検査装置を備える物品搬送システムの構成を示す説明図である。 本発明の実施の形態２に係る物品検査装置の検査部による物品検査処理の手順を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態２に係る物品検査装置の検査部によるピーク信号演算処理手順のサブルーチンを示すフローチャートである。 従来の物品検査装置の構成を示すブロック図である。 従来の物品検査装置が備えるインピーダンス検出部の検出信号の時間変化を模式的に示す特性図である。

符号の説明

１ 検査部（検査手段）
２ インピーダンス検出部（物品検出手段）
２１ 励磁コイル（物品検出手段，第１コイル）
２２ 検出コイル（物品検出手段，第２コイル）
２３ 励磁部
２５ 位相検波部
２６ ＬＰＦ（フィルタ）
３ 包絡線検波部（包絡線検波手段）
４ Ａ／Ｄ変換部（Ａ／Ｄ変換手段）
５ ワーク検出部
６ 物品検査装置
Ｗ ワーク（検査対象物品，物品）

Claims (8)

1. 磁束の変化で検査対象物品の通過を検出し、検出結果に基づいて物品を検査する物品検査装置において、
   検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を出力する物品検出手段と、
   該物品検出手段から出力されたアナログ信号を包絡線検波する包絡線検波手段と、
   該包絡線検波手段から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、
   該Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号に基づいて前記物品の検査を行なう検査手段と
   を備えることを特徴とする物品検査装置。
2. 前記物品が移動中であることを示す移動中信号を前記検査手段に与える手段を備え、
   前記検査手段は、
   少なくとも前記移動中信号が与えられた時点の直後から前記移動中信号が与えられなくなった時点の直前までの間に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力された複数のデジタル信号に基づいて、前記磁束のピークを示すピーク信号を求めるピーク信号演算手段と、
   該ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号を用いて前記物品の正常／異常を判定する異常判定手段と
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の物品検査装置。
3. 前記ピーク信号演算手段は、
   前記複数のデジタル信号の内、最大信号及び最小信号を求める演算手段と、
   該演算手段にて求めた最大信号が、前記複数のデジタル信号の最初の信号であるか最後の信号であるか否かを判定する信号判定手段と、
   前記演算手段にて求めた最大信号が前記最初の信号である場合、前記演算手段にて求めた最小信号以降に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする手段と、
   前記演算手段にて求めた最大信号が前記最後の信号である場合、前記演算手段にて求めた最小信号以前に前記Ａ／Ｄ変換手段から出力されたデジタル信号の内、最大信号をピーク信号とする手段と、
   前記演算手段にて求めた最大信号が前記最初の信号及び前記最後の信号の何れでもない場合、前記最大信号をピーク信号とする手段と
   を備えることを特徴とする請求項２に記載の物品検査装置。
4. 前記異常判定手段は、
   前記ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号及び第１閾値の差の絶対値を求める手段と、
   該手段にて求めた絶対値が第２閾値以上であるか否かを判定する第１比較手段と、
   該第１比較手段にて前記絶対値が前記第２閾値以上であると判定した場合、前記物品は異常であると判定する手段と、
   前記第１比較手段にて前記絶対値が前記第２閾値未満であると判定した場合、前記物品は正常であると判定する手段と
   を備えることを特徴とする請求項２又は３に記載の物品検査装置。
5. 前記検査手段は、
   前記Ａ／Ｄ変換手段から出力された相前後するデジタル信号の差の絶対値を求める絶対値演算手段と、
   該絶対値演算手段にて求めた絶対値が第３閾値以上であるか否かを判定する第２比較手段と、
   該第２比較手段にて前記絶対値が前記第３閾値以上であると判定した複数のデジタル信号の内、最大信号を求める最大信号演算手段と、
   該ピーク信号演算手段にて求めたピーク信号を用いて前記物品の正常／異常を判定する異常判定手段と
   を備えることを特徴とする請求項１に記載の物品検査装置。
6. 前記異常判定手段は、
   前記最大信号演算手段にて求めた最大信号及び第４閾値の差の絶対値を求める手段と、
   該手段にて求めた絶対値が第５閾値以上であるか否かを判定する第３比較手段と、
   該第３比較手段にて前記絶対値が前記第５閾値以上であると判定した場合、前記物品は異常であると判定する手段と、
   前記第３比較手段にて前記絶対値が前記第５閾値未満であると判定した場合、前記複数のデジタル信号の最初の信号及び最後の信号の差の絶対値を求める手段と、
   該手段にて求めた絶対値が第６閾値以上であるか否かを判定する第４比較手段と、
   該第４比較手段にて前記絶対値が前記第６閾値以上であると判定したとき、前記物品は異常であると判定する手段と、
   該第４比較手段にて前記絶対値が前記第６閾値未満であると判定したとき、前記物品は正常であると判定する手段と
   を備えることを特徴とする請求項５に記載の物品検査装置。
7. 前記物品検出手段は、
   第１コイルと、
   該第１コイルに交流電圧を印加して磁界を発生させる励磁部と、
   磁束の変化に応じた誘導電圧を生じる第２コイルと、
   該第２コイルに生じた誘導電圧を用いた位相検波を行なう位相検波部と、
   該位相検波部が出力するアナログ信号の内、所定の周波数成分を通過させるフィルタと
   を備えることを特徴とする請求項１乃至６の何れかに記載の物品検査装置。
8. 請求項１乃至７の何れかに記載の物品検査装置を用いて、磁界を通過する物品を検査する物品検査方法であって、
   前記物品検出手段は、検査すべき物品が磁界を通過することによる磁束の変化を示すアナログ信号を前記包絡線検波手段へ出力し、
   該包絡線検波手段は、入力されたアナログ信号を包絡線検波して前記Ａ／Ｄ変換手段へ出力し、
   前記Ａ／Ｄ変換手段は、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換して前記検査手段へ出力し、
   該検査手段は、入力されたデジタル信号に基づいて前記物品の検査を行なうことを特徴とする物品検査方法。

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