JP4188283B2

JP4188283B2 - 金属検出機

Info

Publication number: JP4188283B2
Application number: JP2004168802A
Authority: JP
Inventors: 隆次野崎; 聡三谷
Original assignee: アンリツ産機システム株式会社
Priority date: 2004-06-07
Filing date: 2004-06-07
Publication date: 2008-11-26
Anticipated expiration: 2024-06-07
Also published as: JP2005345435A

Description

本発明は、物品を搬送して物品に混入している金属の異物（以下、金属異物という。）を検出する検査（以下、混入検査という。）を行う金属検出機に関する。

従来、食料品、衣類等の物品中に混入した金属異物を検出する混入検査を行うために、金属検出機が用いられている。金属検出機では、混入検査の対象の物品（以下、被検査体という。）が搬送コンベアによって搬送されて交流磁界中を通過し、通過の際に受信コイルと交差する磁束の変化により誘起される電圧の変化（以下、誘起電圧信号という。）を検出することによって混入検査が行われる。

ここで、上記の金属異物を含まない被検査体（以下、「被検査体の標準試料」という。）であっても、交流磁界中を通過する際に、被検査体の標準試料に応じた誘起電圧信号が検出されることが知られている。そのため、被検査体の標準試料に対する誘起電圧信号と、金属異物が混入した被検査体に対する誘起電圧信号との相違を明確に検出できる必要がある。

係る相違を明確にするために、金属検出機には直交検波等の技術が用いられ、検出条件を適切に設定してから金属検出機を混入検査に使用するようになっている。ここで、「検出条件」とは、金属検出機の動作を決める各条件のうちの混入検査を行うための１以上の条件をいい、混入検査の判定基準を含むものである。上記の検出条件としては、誘起電圧信号を増幅するためのプリアンプの必要性、発生させる磁界の強度、検波用の移相量、測定周波数、Ｓ／Ｎの設定値等があげられる。

係る検出条件の設定には被検査体の標準試料が用いられ、被検査体の標準試料を搬送機に搬送させて検出条件を設定するための測定と、この測定の結果の判定（以下、測定判定処理という。）とを繰り返すことにより、検出条件の設定を行っている。以下に、検出条件を構成する条件を、いくつかのグループに分けて、検出条件の設定について図６を用いて説明する。ここで、上記の各グループは、同一の搬送で上記の測定判定処理を行うことができる条件の集合であり、第１群の条件から第Ｎ群の条件までのＮ個のグループに分けられるものとする。

まず、１回目の搬送により、例えば上記のプリアンプの必要性等に関する第１群の条件の測定判定処理を行い（Ｓ４３０_１）、順次、第（Ｎ−１）群までの条件の測定判定処理を行い、次いで第Ｎ回目の搬送により、例えば上記のＳ／Ｎの設定値等に関する第Ｎ群の条件の測定判定処理を行い（Ｓ４３０_Ｎ）、その後、周波数を変えて（Ｓ４３１、Ｓ４３２）、上記のステップＳ４３０_１〜Ｓ４３０_Ｎまでのステップでの処理を繰り返し、全ての周波数について、検出条件を構成する各条件の測定判定処理を行い、最適と判定された条件の組合せを検出条件として設定している（Ｓ４３３）。
実開平１−７８９７８号公報

しかし、このような従来の金属検出機では、検査環境の変化や検査対象のわずかな変化等により検出条件の再設定を行う場合に、変更する必要のない検出条件についてまで上記の処理を行う必要があったため、検出条件を構成する条件のグループの数に、変更する必要のない検出条件（例えば周波数）の個数をかけた数分、検出条件の設定のために被検査体の標準試料を搬送コンベアに運ぶという作業を余分に行う必要があり、きわめて煩雑で時間がかかるという問題があった。

本発明はこのような問題を解決するためになされたもので、検出条件の再設定を容易にし、検出条件の再設定の際に生じる煩雑さを緩和し、再設定時間を短くできる金属検出機を提供するものである。

以上の点を考慮して、請求項１に係る発明は、被検査体を搬送して前記被検査体に混入している金属異物を検出する混入検査を行う金属検出機であって、前記金属検出機の動作モードを指定する動作モード指定信号を含む、前記金属検出機の操作のための操作信号を入力させる操作部と、前記操作部を介して前記動作モード指定信号が入力されたとき、入力された前記動作モード指定信号によって指定される前記動作モードで前記金属検出機が動作するように制御および信号処理を行う制御部と、前記制御部が行う制御の下に所定の情報を表示する表示部とを備え、前記金属検出機の動作モードは、前記金属検出機の動作を決める各条件のうちの前記混入検査を行うための１以上の条件からなる検出条件の設定を前記被検査物の標準試料を用いて行う設定モードと、前記混入検査を行う検査モードとを有し、前記設定モードは、さらに、前記標準試料を用いて所定の搬送回数で新規に前記検出条件の設定を行う新規設定モードと、既に設定されている前記検出条件のうち同一の搬送で処理できる検出条件の集合として予めグループ分けされた条件を前記標準試料を用いて前記所定の搬送回数より少ない搬送回数で設定し直し、新たな検出条件として設定を行う再設定モードとを有し、前記制御部は、前記設定モードで設定された前記検出条件を識別情報に対応させて記憶するメモリを有し、前記操作部を介して前記新規設定モードを指定する前記動作モード指定信号が入力されたとき、前記検出条件を構成する全ての条件について前記設定のための制御および信号処理を行い、前記操作部を介して前記再設定モードを指定する前記動作モード指定信号が入力されたとき、前記検出条件のうちの予め決められた一部の条件について前記設定のための制御および信号処理を行う構成を有している。

この構成により、制御部が、操作部を介して再設定モードを指定する動作モード指定信号が入力されたとき、検出条件のうちの予め決められた一部の条件について設定のための制御および信号処理を行うため、検出条件の再設定を容易にし、検出条件の再設定の際に生じる煩雑さを緩和し、再設定時間を短くできる金属検出機を実現することができる。

また、請求項２に係る発明は、請求項１において、前記制御部が、前記再設定モードで既に設定されている前記検出条件のうちの一部の条件を設定し直したとき、前記検出条件のうちの設定し直した条件の変化を前記表示部に表示させる構成を有している。

この構成により、請求項１の効果に加え、制御部が、再設定モードで既に設定されている検出条件のうちの一部の条件を設定し直したとき、検出条件のうちの設定し直した条件の変化を表示部に表示させるため、ユーザが設定条件の変化または安定性を認識することが可能な金属検出機を実現することができる。

本発明は、制御部が、操作部を介して再設定モードを指定する動作モード指定信号が入力されたとき、検出条件のうちの予め決められた一部の条件について設定のための制御および信号処理を行うため、検出条件の再設定を容易にし、検出条件の再設定の際に生じる煩雑さを緩和し、再設定時間を短くできるという効果を有する金属検出機を提供することができるものである。

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る金属検出機のブロック構成を概念的に示す説明図である。本発明の実施の形態に係る金属検出機１は、被検査体１３を搬送する搬送コンベア１１０、搬送コンベア１１０を駆動するコンベア駆動部１２０、および、被検査体１３の混入検査を行う信号検出情報処理設定部２００によって構成される。

ここで、上記の「混入検査」とは「物品に混入している金属の異物を検出する検査」をいい、「被検査体」とは「混入検査の対象の物品」をいい、「被検査体に混入した金属の異物」を「金属異物」といい、「金属異物が混入していない被検査体」を「被検査体の標準試料」といい、搬送コンベア１１０の符号１１を付した部分を「第１の端」といい、搬送コンベア１１０の符号１２を付した部分を「第２の端」というものとする。また、矢印１４は後述する検出条件等の設定や混入検査等を行う際の搬送方向を示し、被検査体１３の標準試料は、第１の端１１近傍に乗せられ、搬送方向１４に搬送され、信号検出情報処理設定部２００を通過し第２の端１２側に搬送されるようになっている。

図２は、本発明の実施の形態に係る金属検出機１を構成する信号検出情報処理設定部２００のブロック構成を示す図である。図２において、信号検出情報処理設定部２００は、被検査体１３が信号検出情報処理設定部２００に進入するタイミングを検出する進入センサ２０１と、被検査体１３が信号検出情報処理設定部２００近傍の検出領域を通過する際の磁界変化を検出する磁界変化検出部２１０と、金属検出機１を操作するための操作部２３０と、金属検出機１の操作情報、混入検査の結果、動作の情報等の所定の情報を表示する表示部２４０と、磁界変化検出部２１０および表示部２４０の制御、ならびに、磁界変化検出部２１０からの出力信号の処理等の所定の信号処理を行う制御部２２０とによって構成される。ここで、「検出領域」とは「搬送コンベア１１０の搬送路１５における一部の領域であって、金属検出機１が発生させた磁界が存在し、被検査体１３を通過させて磁界変化を検出するための領域」をいう。

ここで、進入センサ２０１は、第１の端１１から見たときの信号検出情報処理設定部２００の入り口近傍の所定の位置を監視するように設けられている。以下、進入センサ２０１が監視する位置をセンサ監視位置という。進入センサ２０１は、例えば、光線を出射する光源と、光源が出射する光線を受光する受光器とを有し、光源が光線を出射している間に受光器がこの光線を受光できなくなったことを検出して物品の進入を検出する、所謂、投受光器等によって構成されるのでもよい。

進入センサ２０１は、被検査体１３がセンサ監視位置に進入したことを検出した際、進入検出信号を生成して出力するようになっている。上記の投受光器の例では、進入検出信号は、光線を受信できない間に受光器が出力する信号に対応する。なお、上記の検出領域への被検査体１３の進入を、後述する同期検波によって得られる信号Ｘ、Ｙの振幅変化に基づいて検知でき、これによって、進入センサ２０１が本発明において果たす機能と類似の機能を実現できるため、進入センサ２０１を省略する構成とすることもできる。以下では、検出領域への被検査体１３の進入の検出を、進入センサ２０１を用いて行うものとして説明を行う。

磁界変化検出部２１０は、所定周波数の交流信号Ｄを発生する信号発生器２１１と、信号発生器２１１が発生した交流信号Ｄに応じた交流磁界Ｅを発生させる送信コイル２１２と、自己と交差する磁束を検出する受信コイル２１３ａ、２１３ｂと、同期検波を行うための、移相器２１４ａ、２１４ｂ、ミキサ２１５ａ、２１５ｂ、帯域フィルタ（ＢａｎｄＰａｓｓＦｉｌｔｅｒ、以下。ＢＰＦという。）２１６ａ、２１６ｂと、アナログ信号をデジタル信号（デジタルの数値）に変換するためのアナログデジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器という。）２１７ａ、２１７ｂとによって構成される。

磁界変化検出部２１０は、このように構成されることによって、搬送コンベア１１０の搬送路１５における検出領域に交流磁界Ｅを発生させ、被検査体１３が交流磁界中を通過するときの磁界変化を検出するようになっている。

送信コイル２１２は、信号発生器２１１が発生させた交流信号Ｄを入力信号とし、交流信号Ｄに応じた交流磁界Ｅを被検査体１３が搬送される搬送路１５の検出領域に発生させる。受信コイル２１３ａ、２１３ｂは、送信コイル２１２が発生した交流磁界Ｅと交流磁界Ｅ中を通過する被検査体１３の磁気的性質とに応じた磁束を検出し、被検査体１３の通過による磁束の変化に応じた信号を出力する。

受信コイル２１３ａ、２１３ｂは、交流磁界Ｅをそれぞれ等量受ける位置で且つ被検査体１３の搬送方向に沿って並び、互いに差動接続されている。したがって、図２において、２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂの出力端子間には、例えば、不図示の作動入力の増幅器が接続されている。また、中間タップを有する抵抗器等の平衡をとるための不図示の部品または機器が設けられ、金属検出機１の搬送路上に物品がないときに出力電圧がゼロとなるようになっているものとする。

以下では、差動接続された受信コイル２１３ａ、２１３ｂから上記のように出力される電気信号を差動信号という。なお、本発明の実施の形態では、２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂが差動接続されている場合について説明するが、２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂに生起される信号をアナログ減算器で減算処理するように磁界変化検出部２１０を構成するのでもよい。

なお、送信コイル２１２と２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂは、互いの相対位置が変化しないように、例えば、搬送路１５を囲むような共通の枠体に固定されている。また、送信コイル２１２と受信コイル２１３ａ、２１３ｂの配置には、搬送路１５を挟んで送信コイル２１２と２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂとを対向させる場合、搬送路１５を囲むように巻かれた送信コイル２１２の前後にそれぞれ受信コイル２１３ａ、２１３ｂを同軸状に配置する場合、および、搬送路１５の上面または下面に送信コイル２１２と受信コイル２１３ａ、２１３ｂを同一平面状に配置する場合とがある。

受信コイル２１３ａ、２１３ｂは交流磁界Ｅを等量受ける位置で差動接続されているため、被検査体１３や混入金属による交流磁界Ｅへの影響がないときには、受信コイル２１３ａ、２１３ｂから出力される差動信号Ｒの振幅は、ゼロとなる。これは、２つの受信コイル２１３ａ、２１３ｂに生起される信号の振幅が等しく、位相が反転していることによるものである。

同期検波は、差動接続された受信コイル２１３ａ、２１３ｂから出力される差動信号Ｒと、信号発生器２１１が発生させた交流信号Ｄとを用いて行われる。以下では、同期検波を所謂直交検波とし、直交検波は、交流信号Ｄを移相する移相器２１４ａと、移相器２１４ａの出力信号Ｌと差動信号Ｒとを混合するミキサ２１５ａと、ミキサ２１５ａの出力から被検査体１３の搬送速度に対応した低周波成分を抽出するＢＰＦ２１６ａと、移相器２１４ａの出力信号Ｌの位相を９０度移相する移相器２１４ｂと、差動信号Ｒと移相器２１４ｂの出力信号Ｌ'とを混合するミキサ２１５ｂと、ミキサ２１５ｂの出力から被検査体１３の搬送速度に応じた低周波成分を抽出するＢＰＦ２１６ｂとによって行われる。

直交検波を行ってＢＰＦ２１６ａ、２１６ｂから出力される信号Ｘ、Ｙは、Ａ／Ｄ変換器２１７ａ、２１７ｂによってそれぞれデジタル値に変換され、制御部２２０に入力される。以下では、Ａ／Ｄ変換器２１７ａ、２１７ｂからの出力信号を、ぞれぞれ、出力信号Ｄｘ、Ｄｙという。出力信号Ｘ、Ｙ（同様に、出力信号Ｄｘ、Ｄｙ）は、被検査体が交流磁界中を通過することによって磁界変化検出部２１０が検出した磁界変化量の情報を含んでいる。

操作部２３０は、例えば、所定のキーが配列されたタッチパネル等によって構成され、金属検出機１を動作させるために必要な被検査体１３の寸法等のパラメータ、および、設定モード、検査モード等の動作モード等の入力、動作開始の入力、所定のデータの表示の指示の入力等を行うことができるようになっている。操作部２３０は、また、所定のポインティングデバイスを有するのでもよい。

図３は、本発明の実施の形態に係る制御部２２０のブロック構成を示す図である。制御部２２０は、所定の信号が入力される入力インタフェース２２５と、金属検出機１の機能を実現するための所定の情報処理や制御を行うＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）２２２と、ＣＰＵ２２２を立ち上げるためのＯＳ（ＯｐｅｒａｔｉｎｇＳｙｓｔｅｍ）やその他のプログラムおよび制御用のパラメータ等を記憶するＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）２２１と、ＣＰＵ２２２が動作に用いるＯＳやアプリケーションの実行コードやデータ等を記憶するＲＡＭ（ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ）２２３と、アプリケーションソフトや所定のデータを不揮発かつ書替可能に記憶するＥＥＰＲＯＭ（ＥｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙＥｒａｓａｂｌｅＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＲＯＭ）２２４と、所定の信号を出力する出力インタフェース２２６とを含むように構成されている。

ここで、入力インタフェース２２５には、操作部２３０を介して入力された信号（以下、操作信号という。）、進入センサ２０１からの進入検出信号、Ａ／Ｄ変換器２１７ａ、２１７ｂからの出力信号Ｄｘ、Ｄｙ等が入力される。ただし、その他の信号が入力されることを排除するものではなく、磁界変化検出部２１０および表示部２４０を制御する際に必要とする検出信号が入力されるのでもよい。また、アナログ信号が入力される場合には、デジタル信号に変換する構成手段を有するのでもよい。

また、出力インタフェース２２６は、ＣＰＵ２２２の制御の下、磁界変化検出部２１０および表示部２４０の制御信号が、それぞれ、磁界変化検出部２１０および表示部２４０に出力され、表示部２４０に表示させる情報等が表示部２４０に出力される。ただし、出力インタフェース２２６が出力する信号は、デジタル信号のみに限定されるものではなく、必要に応じてアナログ信号を含むものとする。この場合、出力インタフェース２２６は、デジタル信号をアナログ信号に変換する構成手段を有するものとする。

ＣＰＵ２２２は、操作部２３０を介して動作モードを指定する信号（以下、動作モード指定信号という。）が入力されたとき、動作モード指定信号によって指定された動作モードを実現するために、磁界変化検出部２１０および表示部２４０の制御、ならびに、磁界変化検出部２１０からの出力信号の処理等の所定の信号処理を行うようになっている。

ＣＰＵ２２２は、設定モードを動作モードとして指定する動作モード指定信号が操作部２３０を介して入力されたとき、金属検出機１の動作を決める各条件のうちの混入検査を行うための１以上の条件である検出条件を設定するための制御および信号処理を行う。ここで、検出条件には、混入金属の有無を判断する際の判断基準が含まれる。設定された検出条件は、所定の識別情報と共にＥＥＰＲＯＭ２２４に記憶される。なお、上記では、不揮発に記憶するメモリをＥＥＰＲＯＭとしたが、必ずしもＥＥＰＲＯＭに限定されるものではなく、その他の不揮発メモリでよい。

ここで、設定された検出条件と共に記憶される識別情報は、例えば、商品名等の商品を識別する情報（以下、商品識別情報という。）であってもよい。また、上記の商品識別情報に、年月日、季節、測定場所、その他の商品名を識別する情報以外の情報を付加し、同一の商品について複数の検出条件を設定できるようにするのでもよい。これにより、過去に設定された検出条件は、ＥＥＰＲＯＭ２２４に記憶されることになる。

以下では、商品識別情報に、年月日、季節、測定場所、その他の商品名を識別する情報以外の情報を付加して得られる上記の情報を、拡張商品識別情報という。被検査体１３についての検出条件が既に設定されている場合、ＣＰＵ２２２は、共通の商品識別情報を含む拡張商品識別情報を表示部２４０に表示させ、表示された拡張商品識別情報のうちの選択されたものと対応する検出条件をＥＥＰＲＯＭ２２４から読み出し、表示部２４０に表示させるように動作する。

また、ＣＰＵ２２２は、検査モードを動作モードとして指定する動作モード指定信号が操作部２３０を介して入力されたとき、設定モードで設定された検出条件の下で混入検査を行うための制御および信号処理を行う。ＣＰＵ２２２は、係る条件下で、進入センサ２０１から進入検出信号が出力されると、Ａ／Ｄ変換器２１７ａ、２１７ｂからの出力信号Ｄｘ、Ｄｙを取り込み、取り込んだ信号Ｄｘ、Ｄｙが示すデータに基づいて、被検査体１３に金属が混入しているか否かの判定を行うようになっている。具体的には、取り込んだ信号Ｄｘ、Ｄｙが示すデータと予め設定されているしきい値とを比較することによって、被検査体１３に金属が混入しているか否かを判定する。

操作部２３０を介して検査モードが指定されたときには、ＣＰＵ２２２は、被検査体１３の金属の混入検査のための制御動作および判定を行い、判定結果等を表示器２４０に出力して表示させるようになっている。上記の判定で被検査体１３に金属が混入しているとされたときは、混入している金属の大きさが表示されるようになっている。

なお、上記の検出条件の具体例としては、被検査体１３の長さおよび搬送速度、信号発生器２１１が出力する交流信号Ｄの周波数、移相器２１４ａの検波位相（移送量）、金属異物の有無を判定するためのしきい値等があげられる。ここで、被検査体１３の長さや搬送速度は、磁界変化検出部２１０からの出力信号Ｄｘ、Ｄｙの取り込みタイミングの間隔や取り込み時間、磁界変化検出部２１０を構成するＢＰＦ２１６ａ、２１６ｂの帯域等を決定するためのパラメータであり、交流信号Ｄの周波数は、検出しようとする金属の種類や被検査体１３自身（包装材を含む）の材質に応じて選択されるパラメータである。

また、移相器２１４ａの検波位相は、混入する金属に対する感度を決定するためのパラメータである。また、判定のしきい値は、被検査体１３に金属が混入しているか否かを判定するためのものである。なお、図２では、検波位相の設定処理のために必要な信号線のみを記載しているが、実際には、信号発生器２１１が出力する交流信号Ｄの周波数や検波部２６のＢＰＦ２１６ａ、２１６ｂの帯域等を制御できるようになっている。

以下、制御部２２０が設定モードで行う動作について図面を用いて説明する。本発明の金属検出機１は、上記の設定モードとしては、さらに、新規に検出条件の設定を行う新規設定モードと、既に設定されている検出条件のうちの一部の条件を設定し直し、新たな検出条件として設定を行う再設定モードとを有するものである。

再設定モードは、例えば、特定の商品名の商品について既に検出条件が設定されているが、検出環境が変化した場合や、類似の商品について混入検査を行う場合等の、全く新たに検出条件を設定するほどではないが過去に設定された検出条件をそのまま設定して混入検査を行うことが適切でない場合等に、指定される。

図４は、制御部２２０が設定モードで行う動作について説明するための説明図である。まず、操作部２３０を介して設定モードを指定する動作モード指定信号が入力されたか否かを判断し（Ｓ４１１）、入力されていないと判断したときは、入力されるまで上記の処理を繰り返す。

ステップＳ４１１で設定モードを指定する入力がなされたと判断したとき、新規設定モード、再設定モード等のユーザが選択できる設定モードの種類等を表示部２４０に表示させる（Ｓ４１２）。図５（ａ）は、表示部２４０に表示させる設定モードの種類等の表示例を示す図である。図５（ａ）に、ユーザがカーソルを「２再設定」に合わせ、「再設定モード」を選択したときの例を示す。

ステップＳ４１２で表示部２４０にユーザが選択できる設定モードの種類等を表示させたら、ユーザが再設定モードを指定したか否かを判断し（Ｓ４１３）、再設定モードが指定されたと判断したときは、後述する再設定処理を行い（Ｓ４２０）、新規設定モードが指定されたと判断したときは、新規設定処理を行い（Ｓ４３０）、それぞれのステップでの処理が終了したら、設定の処理は終了する。

以下、図５（ｂ）を用いて、再設定モードで行う再設定処理について説明する。ここで、混入検査用の周波数は、一般に、検出環境の変化や、被検査体１３のわずかな変化で設定を変えることを要しないことが知られている。また、粗調に該当する条件についても、同様である。そのため、以下では、周波数の変更や、粗調に該当する条件についての設定のための処理を再設定処理から省くものとする。

また、設定モードでは、検出条件を構成する条件のうちの再設定を行う条件を、いくつかのグループに分けて、再設定のための処理を行うものとする。ここで、上記の各グループは、同一の搬送で後述の測定判定処理を行うことができる条件の集合であり、再設定モードでは、第ｉ_１群の条件から第ｉ_ｎ群の条件までのｎ個のグループに分けられるものとする。また、再設定モードでは、搬送コンベア１１０は搬送方向１４に搬送動作を開始しているものとする。

まず、１回目の搬送により第ｉ_１群の条件の測定判定処理を行い（Ｓ４２０_１）、順次、第ｉ_{（ｎ−１）}群までの条件の測定判定処理を行い、次いで第ｎ回目の搬送により、第ｉ_ｎ群の条件の測定判定処理を行う（Ｓ４２０_ｎ）。ここで、測定判定処理とは、被検査体１３の標準試料を搬送コンベア１１０に搬送させる各搬送で、検出条件を設定するための測定とこの測定の結果の判定を行う処理をいう。

Ｓ４２０_１〜Ｓ４２０_ｎまでのステップで第ｉ_１群の条件〜第ｉ_ｎ群の条件までの測定判定処理が完了したら、既に設定されている検出条件を構成する第ｉ_１群の条件〜第ｉ_ｎ群の条件の内容を、これらの測定判定処理における判定で好適と判定された結果に変更し、新たな識別情報と共に再設定する（Ｓ４２１）。ステップＳ４２１で検出条件の再設定を行ったら、再設定された検出条件と既に設定されている検出条件との変化を算出して表示部２４０に表示させる（Ｓ４２２）。

なお、既に設定されている検出条件が複数ある場合は、それらの拡張商品識別情報を表示部２４０に表示させ、ユーザが選択した拡張商品識別情報に対応する検出条件との変動量を算出して表示させるのでも、同一の商品識別情報を有する拡張商品識別情報に対応する検出条件であって直前に設定された検出条件との変動量を表示させるのでもよい。

次に、新規設定モードでの新規設定処理について、図６を用いて説明する。図６は、新規設定モードで行う新規設定処理の一例を示す説明図である。ここで、新規設定処理の対象の第１群の条件から第Ｎ群の条件からなるグループの数Ｎは、再設定処理の対象のグループの数ｎより大きい。新規設定処理の対象の条件は、再設定処理の対象の条件を全て含むからである。

新規設定処理では、１回目の搬送により第１群の条件の測定判定処理を行い（Ｓ４３０_１）、順次、第（Ｎ−１）群までの条件の測定判定処理を行い、次いで第Ｎ回目の搬送により第Ｎ群の条件の測定判定処理を行い（Ｓ４３０_Ｎ）、全ての周波数についての測定判定処理が完了したか否かを判断し（Ｓ４３１）、全ての周波数についての測定判定処理が完了してなければ周波数を変えて（Ｓ４３２）、上記のステップＳ４３０_１〜Ｓ４３０_Ｎまでのステップでの処理を繰り返し、全ての周波数について上記の条件の測定判定処理を行い、全ての周波数についての測定判定処理が完了したら最適と判定された条件の組合せを検出条件を設定する（Ｓ４３３）。

以上説明したように、本発明の実施の形態に係る金属検出機は、制御部が、操作部を介して再設定モードを指定する動作モード指定信号が入力されたとき、検出条件のうちの予め決められた一部の条件について設定のための制御および信号処理を行うため、検出条件の再設定を容易にし、検出条件の再設定の際に生じる煩雑さを緩和し、再設定時間を短くできる。

また、制御部が、再設定モードで既に設定されている検出条件のうちの一部の条件を設定し直したとき、検出条件のうちの設定し直した条件の変化を表示部に表示させるため、ユーザが設定条件の変化または安定性を認識することができる。

なお、上記では、設定モードで検出条件を構成する条件をグループ分けした例について説明したが、本発明は、グループ分けして設定を行う金属検出機に限定されるものではなく、グループ分けされたものと個別の条件が混在する場合や、全てが個別の条件に分かれている場合についても同様に適用できる。

本発明に係る金属検出機は、検出条件の再設定を容易にし、検出条件の再設定の際に生じる煩雑さを緩和し、再設定時間を短くできるという効果が有用な金属検出機等の用途にも適用できる。

本発明の実施の形態に係る金属検出機のブロック構成を概念的に示す説明図本発明の実施の形態に係る金属検出機を構成する信号検出情報処理設定部のブロック構成を示す図本発明の実施の形態に係る制御部のブロック構成を示す図本発明の実施の形態に係る制御部が設定モードで行う動作について説明するための説明図設定モードの種類等の表示例、および、再設定モードで行う再設定処理の一例を示す説明図新規設定モードで行う新規設定処理の一例を示す説明図

符号の説明

１金属検出機
１１搬送コンベアの第１の端
１２搬送コンベアの第２の端
１３被検査体
１４搬送方向
１５搬送路
１１０搬送コンベア
１２０コンベア駆動部
２００信号検出情報処理設定部
２０１進入センサ
２１０磁界変化検出部
２１１信号発生器
２１２送信コイル
２１３ａ、２１３ｂ受信コイル
２１４ａ、２１４ｂ移相器
２１５ａ、２１５ｂミキサ
２１６ａ、２１６ｂ帯域フィルタ
２１７ａ、２１７ｂアナログデジタル変換器
２２０制御部
２３０操作部
２４０表示部
Ｄ信号発生器が発生する交流信号
Ｅ送信コイルが発生させる交流磁界
Ｌ、Ｌ' 移相器の出力信号
Ｒ受信コイルから出力される差動信号
Ｘ、ＹＢＰＦから出力される信号
Ｄｘ、Ｄｙアナログデジタル変換器から出力される信号

Claims

被検査体（１３）を搬送して前記被検査体に混入している金属異物を検出する混入検査を行う金属検出機（１）であって、
前記金属検出機の動作モードを指定する動作モード指定信号を含む、前記金属検出機の操作のための操作信号を入力させる操作部（２３０）と、
前記操作部を介して前記動作モード指定信号が入力されたとき、入力された前記動作モード指定信号によって指定される前記動作モードで前記金属検出機が動作するように制御および信号処理を行う制御部（２２０）と、
前記制御部が行う制御の下に所定の情報を表示する表示部（２４０）とを備え、
前記金属検出機の動作モードは、前記金属検出機の動作を決める各条件のうちの前記混入検査を行うための１以上の条件からなる検出条件の設定を前記被検査物の標準試料を用いて行う設定モードと、前記混入検査を行う検査モードとを有し、
前記設定モードは、さらに、前記標準試料を用いて所定の搬送回数で新規に前記検出条件の設定を行う新規設定モードと、既に設定されている前記検出条件のうち同一の搬送で処理できる検出条件の集合として予めグループ分けされた条件を前記標準試料を用いて前記所定の搬送回数より少ない搬送回数で設定し直し、新たな検出条件として設定を行う再設定モードとを有し、
前記制御部は、前記設定モードで設定された前記検出条件を識別情報に対応させて記憶するメモリを有し、前記操作部を介して前記新規設定モードを指定する前記動作モード指定信号が入力されたとき、前記検出条件を構成する全ての条件について前記設定のための制御および信号処理を行い、前記操作部を介して前記再設定モードを指定する前記動作モード指定信号が入力されたとき、前記検出条件のうちの予め決められた一部の条件について前記設定のための制御および信号処理を行うことを特徴とする金属検出機。
前記制御部は、前記再設定モードで既に設定されている前記検出条件のうちの一部の条件を設定し直したとき、前記検出条件のうちの設定し直した条件の変化を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１に記載の金属検出機。