JP2005191233A - パワーモジュール - Google Patents

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克彦 西山
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靖 山田
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Abstract

【課題】パワーモジュールにおいてサージ電圧低減効果を図るための配線構造であって、比較的容量の大きいパワーモジュールにおいても有効に機能するものを提案する。
【解決手段】電極板27に実装された半導体素子28と、半導体素子28に給電するためのNバスバー30とPバスバー31が、層状に配置されたパワーモジュール11において、半導体素子28とNバスバー30・Pバスバー31とを接続する正極側配線導体35と負極側配線導体34とを対向配置し、正極側配線導体35と負極側配線導体34との間に誘電体29を介挿し、正極側配線導体35と誘電体29、及び、負極側配線導体34と誘電体を、それぞれ導電性を有する接着剤36にて接合した。
【選択図】図3

Description

本発明は、絶縁基板上に配置された電極板に実装された半導体素子と、この半導体素子実装面の上部に層状に形成されたバスバーとより成るパワーモジュールにおいて、電極と、半導体素子と、バスバーとの配線構造の改善に関する。
インバータ等に用いられるパワーモジュールにおいては、一方の半導体素子をターンオンさせるとともに他方の半導体素子をターンオフさせるスイッチング動作時に発生する電力損失を低減させるために、高速にスイッチング動作させる処置が採られている。その際、パワーモジュール内部には配線の寄生インダクタンスが存在するために、スイッチング動作時に電源電圧を超えるスパイク状の電圧(サージ電圧)が発生する。サージ電圧が大きくなると半導体素子が破壊されたりノイズの原因になることがあり、また、そのサージ電圧を低減させるためにスイッチング動作を緩慢にすると、スイッチング動作時の電力損失が大きくなり、電圧変換効率が低下したり、半導体素子の温度が上昇したりする不具合が生じる。
そこで、サージ電圧を低減させる技術として、汎用の小容量及び中容量のパワーモジュールでは、小容量のコンデンサ(スナバコンデンサ)を含むスナバ回路をパワーモジュールに付加して、スナバ回路にて回路のインダクタンスにより生じる電磁エネルギーを消費する構造が採用されている。
また、パワーモジュール内部の配線の寄生インダクタンスを低減させてサージ電圧を低減させる技術として、配線として機能する導体間に静電容量を形成するパワーモジュールの構造が提案されている。例えば、特許文献1に記載の技術は、平滑用コンデンサから半導体モジュールに接続される導体のインダクタンスを低減させるために、モジュールと平滑コンデンサとを接続する正極電源供給導体と負極電源供給導体との間に平板状で高誘電率材の間隔板としての誘電体セラミックスを装着したものである。
特開平6−225545号公報
サージ電圧を効果的に抑制するためには、主回路の接続導体の短縮化を図り、インダクタンスを低減するのが最も確実である。しかし、比較的容量の大きいパワーモジュールでは、構造的な制約からインダクタンスの低減には限界がある。
また、パワーモジュールの直流端子部に小容量のコンデンサを装着した場合は、一定のサージ電圧低減効果がみられるものの、パワーモジュール内の寄生インダクタンスの影響を低減できないために、コンデンサの静電容量を増加させてもある程度でサージ電圧低減効果が飽和してしまう。特に、比較的容量の大きいパワーモジュールでは、構造的にパワーモジュール内部の寄生インダクタンスが大きくなるため、比較的容量の小さいパワーモジュールと比較してその傾向が顕著である。さらに、通常コンデンサの内部にも寄生インダクタンスが存在するために、サージ電圧低減効果には限界がある。
一方、コンデンサをより有効に機能させるためには、スイッチング動作される半導体素子の近傍にコンデンサを装着することが好ましいが、半導体素子やコンデンサの発熱によるコンデンサの温度上昇に起因して、熱疲労による破壊が短期間のうちに生じ、特に、液体コンデンサでは蒸発による容量の低下も生じ、実用に耐えることができないという不具合がある。
コンデンサを構成する電極板と誘電体の熱膨張係数が異なるために、温度上昇により接合部に大きな応力が発生して、温度の上昇と下降を繰り返す冷熱サイクルにより熱疲労による破壊が接合部に生じる。これにより形成された空間が新たに静電容量となり、誘電体による静電容量に電気回路的に直列に接続されるために、誘電体による放電効果が極めて小さくなり、コンデンサ全体としての効果が低減してしまうのである。
上記課題を鑑み、本発明では、パワーモジュールにおいてサージ電圧低減効果を図るための配線構造であって、比較的容量の大きいパワーモジュールにおいても有効に機能するものを提案する。また、これに関し、よりサージ電圧低減効果を高めるための配線構造を提案する。
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
即ち、請求項1においては、電極板に実装された半導体素子と、半導体素子に給電するためのバスバーとが、層状に配置されたパワーモジュールにおいて、半導体素子とバスバーとを接続する正極側配線導体と負極側配線導体とを対向配置し、正極側配線導体と負極側配線導体との間に誘電体を介挿し、正極側配線導体と誘電体、及び、負極側配線導体と誘電体を、それぞれ導電性を有する接着剤にて接合するものである。
請求項2においては、前記誘電体を、誘電性を有するセラミックスを主成分する板状体とするものである。
請求項3においては、前記誘電体を、SrTiO3又はBaTiO3主成分とする材料で構成するものである。
請求項4においては、前記配線導体を、熱膨張係数が2ppm/K以上12ppm/K以下であって、導電性を有する材料で構成した薄板状体とするものである。
請求項5においては、前記配線導体を、Cu/Fe−Ni合金/Cuの三層クラッド材で構成するものである。
請求項6においては、前記接着剤を、ヤング率が10000kg/cm2以下であって、導電性を有する材料で構成するものである。
請求項7においては、前記接着剤を、Agの微粒子を主成分とする材料で構成するものである。
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
請求項1においては、負極側配線導体と正極側配線導体との間に介挿された誘電体により、静電容量が形成され、負極側配線導体と正極側配線導体とによるインダクタンスで発生したサージ電圧を誘電体にて放電させることができる。すなわち、負極側配線導体と正極側配線導体との間に誘電体にてコンデンサが形成され、パワーモジュールのスイッチング動作時に発生するサージ電圧を低減することができる。
また、半導体素子の近傍にコンデンサを形成することができるため、コンデンサとして効率よく作用することが期待される。
さらに、対向配置された負極側配線導体と正極側配線導体とは、電流が逆向きに流れることから、この電流により発生する互いに逆方向の磁界により磁束を打ち消し合う相互インダクタンスにより、寄生インダクタンスの低減を図ることができる。
請求項2においては、100℃以上の高温でも比誘電率が低下しにくいため、発熱源である半導体素子近傍に配置することができる。
請求項3においては、比誘電率が空気と比較して桁違いに大きく、100℃以上の高温でも比誘電率が低下せず、高電界でも比誘電率が低下しない材料であるため、コンデンサとして優れた効果を期待することができる。
請求項4においては、配線導体の構成材料として半導体素子及び誘電体の熱膨張係数に近いものを採用することで、発生する熱応力の低減を図ることができる。
請求項5においては、比較的低い熱膨張係数と良好な導電性を確保することができる。
請求項6においては、配線導体と誘電体との間に熱応力が発生し、これらが変形しても配線導体と誘電体との接合部において熱疲労による破壊の発生を抑制し、信頼性を確保することができる。
請求項7においては、接着剤に導電性を付加することができ、配線導体と誘電体とを電気的に接合することができる。
次に、発明の実施の形態を説明する。
図1は本発明の実施例に係るパワーモジュールの回路構成を示す図、図2は本発明の実施例に係るパワーモジュールの構成を示す平面図、図3は図2におけるX−X矢視断面図、図4は各相デバイス群を示す拡大図である。
まず、本発明の実施例に係るパワーモジュール11の回路の構成について説明する。
図1に示す如く、高電圧バッテリ15は、パワーモジュール11に給電しており、パワーモジュール11は三相交流モータ13に給電している。Nバスバー30とPバスバー31とには、それぞれ、高電圧バッテリ15より電力が入力されるN入力端子23・P入力端子22が備えられている。
パワーモジュール11を構成する回路は三相ブリッジ型のインバータ回路であって、高電圧バッテリ15の出力が、P入力端子22とN入力端子23よりパワーモジュール11へ入力され、電流を流す出力回路がU相・V相・W相の各相に対して備えられており、U相・V相・W相からなる三相交流電流が、U相出力端子18u・V相出力端子18v・W相出力端子18wの各出力端子よりモータ13に出力される。
U相・V相・W相の各相の出力回路(各相デバイス群32u・32v・32w)は、電力用半導体スイッチング素子である絶縁ゲート型バイボーラトランジスタ(以下に「IGBT19」と示す)と、該IGBT19に印加されるフライバック電圧からの素子耐圧保護と回生動作時の電流経路生成のためダイオード素子20とを並列に配置したものを、二組直列に配置して構成されている。
インバータモジュールでは、IGBT19をスイッチング動作させることによって、U相出力端子18u・V相出力端子18v・W相出力端子18wからU相・V相・W相の各単相電流が位相差をもって出力され、三相交流電流に変換される。IGBT19のスイッチング動作のタイミングは、図示せぬ外部コントロールユニット(ECU)により演算算出され、ゲート端子21よりIGBT19のゲート入力信号として入力・指示される。
次に、本発明の実施例に係るパワーモジュール11の具体的構成について説明する。
図2及び図3に示す如く、パワーモジュール11では、Nバスバー30と、Pバスバー31とが上下に略平行に配置されている。
Nバスバー30は平薄板状配線導体であり、N入力端子23が設けられるとともに、該Nバスバー30に形成された開口部30a・30a・30aには、U相デバイス群32u・V相デバイス群32v・W相デバイス群32wへ給電するための接続端子24・24・・・が形成されている。同様に、Pバスバー31は平薄板状配線導体であり、P入力端子22が設けられるとともに、該Pバスバー31に形成された開口部31a・31a・31aには、U相デバイス群32u・V相デバイス群32v・W相デバイス群32wへ給電するための接続端子25・25・・・が形成されている。
また、U相デバイス群32uの出力部であるU相出力端子18uが設けられたUバスバー33uと、V相デバイス群32vの出力部であるV相出力端子18vが設けられたVバスバー33vと、W相デバイス群32wの出力部であるW相出力端子18wが設けられたWバスバー33wとが、略同一平面上であって、Nバスバー30及びPバスバー31と略平行に配置されている。
U相デバイス群32u、V相デバイス群32v、W相デバイス群32wの各デバイス群は略同一の構成としている。ここでは、そのうち一つについて説明する。
図4にも示す如く、Nバスバー30及びPバスバー31と略平行に配設された絶縁基板26上に、電極板27が装着され、該電極板27に半導体素子28(IGBT19・ダイオード素子20等から構成されている)がはんだ37にて接合されている。
すなわち、半導体素子28を実装した電極板27と、Nバスバー30及びPバスバー31とが略平行に配置され、層を形成していることになる。
そして、半導体素子28の電極板27に接する面とは異なる面に起立状態にはんだ37にて接合された負極側配線導体34にて、半導体素子28とNバスバー30に設けられた接続端子24とが電気的に接続されている。
また、電極板27に起立状態にはんだ37にて接合された正極側配線導体35にて、電極板27とPバスバー31に設けられた接続端子25とが電気的に接続され、正極の直流電流が配線導体35を介して電極板27に給電されている。
前記負極側配線導体34と正極側配線導体35とは、略平行に配置され、これらの配線導体34・35間には、誘電体29が介挿され、各配線導体34・35と誘電体29とは導電性接着剤36にて接合されている。
すなわち、半導体素子28を実装した面とバスバー30・31とが層状構造になっているパワーモジュール11において、電極板27に実装された半導体素子28とバスバー30・31とを繋ぐために、直流側の負極側と正極側とにそれぞれ接続されている負極側配線導体34と正極側配線導体35とを対向させて形成し、これらの配線導体34・35の間に板状の誘電体29を挿入し、導電性接着剤36を用いて負極側配線導体34と誘電体29と負極側配線導体34とを物理的且つ電気的に接続したのである。
この負極側配線導体34と正極側配線導体35との間に介挿された誘電体29により、静電容量が形成され、負極側配線導体34と正極側配線導体35とによるインダクタンスで発生したサージ電圧を誘電体29にて放電させることができる。すなわち、負極側配線導体34と正極側配線導体35との間に誘電体29にてコンデンサが形成され、このコンデンサにより、電流の流れ得る経路は全ての半導体素子28に対して短くなり、回路インダクタンスを見かけ上小さくすることができるので、スイッチング動作時に発生するサージ電圧を低減することができるのである。
また、上述の如く形成されたコンデンサは、半導体素子28の近傍に配置されるためにコンデンサとして効率よく作用することが期待される。
さらに、負極側配線導体34と正極側配線導体35とは平行に対向された薄平板状体であり、負極側配線導体34と正極側配線導体35との間隔を狭くすることにより、これらの間で生じる寄生インダクタンスの低減が図られている。すなわち、対向配置された負極側配線導体34と正極側配線導体35とは、電流が逆向きに流れることから、この電流により発生する互いに逆方向の磁界により磁束を打ち消し合う相互インダクタンスにより、寄生インダクタンスの低減が図られているのである。
(誘電体29)
前記誘電体29は、誘電体セラミックスを主成分とする板状体である。
本実施例では、誘電体29はSrTiO3を主成分とするものを採用している。この場合の誘電体29の静電容量は約50nFである。
但し、誘電体29は、発熱源である半導体素子28の近傍に配置可能とすることを考慮して、100℃以上の高温でも比誘電率が低下せず、高電界でも比誘電率が低下しないものであれば、SrTiO3以外を主成分とする誘電体セラミックスを採用することができる。例えば、BaTiO3を主成分とする誘電体を採用することができる。なお、SrTiO3やBaTiO3は、空気と比較して比誘電率が桁違いに大きく、コンデンサ材料として優れている。
(負極側配線導体34・正極側配線導体35)
前記負極側配線導体34と正極側配線導体35は、低熱膨張係数の導電性材料にて構成された薄平板状体である。そして、負極側配線導体34と正極側配線導体35とは互いに所定の間隔をあけて略平行に対向するように配置されている。これらの配線導体34・35には、冷熱サイクルによる熱疲労破壊の抑制を図るため、材料特性上比較的低い熱膨張係数を有する誘電体29の熱膨張係数に近い熱膨張係数を有するものが採用されている。
本実施例では、負極側配線導体34・正極側配線導体35として、幅が約10mm、長さが約20mm、板厚は約0.5mmの薄板体であって、約0.1mmのCu板の間に約0.3mmのFe−Ni合金をサンドイッチ状に挟んで構成したCu/Fe−Ni合金(Invar)/Cu三層クラッド板を採用した。この場合の、負極側配線導体34・正極側配線導体35の熱膨張係数は約5ppm/Kである。
なお、三層クラッド板である負極側配線導体34・正極側配線導体35は、中央に配置されて基層として機能するFe−Ni合金層が厚くなると導電性が低下して電力損失を生じ、一方、薄くなると熱膨張係数が大きくなって熱疲労破壊する冷熱サイクルが短くなることから、低熱膨脹性と導電性の確保を両立させるため、Cu層:Fe−Ni合金層:Cu層の厚さの比は1:1:1以上であり1:5:1以下とするのが好ましい。
但し、負極側配線導体34・正極側配線導体35の構成及びその大きさは、本実施例に限定されるものではなく、熱膨張係数が2ppm/K以上12ppm/K以下であって、導電性を有するものであれば構わない。
また、対向配置された負極側配線導体34と正極側配線導体35との間隔は、0.1mm以上3.0mm以下が好ましい。
負極側配線導体34と正極側配線導体35の間隔が0.1mm以下であると誘電体29の絶縁破壊が生じるおそれがあり、負極側配線導体34と正極側配線導体35との間隔が3.0mm以上となれば静電容量が小さくなるためである。
なお、負極側配線導体34・正極側配線導体35は、半導体素子28との間の寄生インダクタンスをより小さくするために、半導体素子28上に直接接続されている。
(接着剤36)
前記接着剤36は、導電性を有し、負極側配線導体34と誘電体29の間と、正極側配線導体35と誘電体29の間とに充填され、各配線導体34・35と誘電体29との間の空間を埋める機能を果たしている。
接着剤36は、熱応力により容易に変形するものが好ましく、熱応力を緩和し、信頼性を確保するために、ヤング率が比較的低い材料が採用されている。冷熱サイクルによる熱疲労破壊にて、静電容量が低下しサージ電圧の低減効果が損なわれることを、防止するためである。
すなわち、負極側配線導体34・正極側配線導体35と誘電体29とが熱膨張係数差ができるだけ小さいものが採用されるとともに接着剤36が変形可能であれば、接合部に発生する熱応力が低減される。また、接合部に生じる熱応力によってこれらが変形しても、配線導体34・35と誘電体29とが略一体的に変形することができ、冷熱サイクルによる熱疲労破壊を防止することができ、信頼性を向上させることができるのである。
本実施例では、接着剤36として、Ag微粒子を主成分とし50wt%以上含有する接着剤が採用されている。この場合のヤング率は、約5000Kg/cm2である。但し、接着剤36は本実施例に限定されるものではなく、硬化した状態で導電性を有し、ヤング率が10000kg/cm2以下のものであれば構わない。
次に、上記実施例に係る構成のパワーモジュール11と、略同様の構成であって誘電体29を備えないパワーモジュールとの比較実験結果を参考として記載する。
パワーモジュールを、電源電圧300Vでインバータ動作させ、スイッチング動作時に発生するターンオフサージ電圧を測定したところ、誘電体29を備えないパワーモジュールでは680Vのターンオフサージ電圧が発生したが、本実施例に係るパワーモジュール11では、ターンオフサージ電圧を500Vに低減することができた。
また、同様にダイオード素子20のリカバリサージ電圧を測定したところ、誘電体29を備えないパワーモジュールでは780Vのリカバリサージ電圧が発生したが、本実施例に係るパワーモジュール11では、リカバリサージ電圧を410Vに低減することができた。
上記結果より、本実施例に係るパワーモジュール11では、誘電体29により付加された静電容量が、コンデンサとして有効に機能していることがわかる。また、誘電体29により負極側配線導体34と正極側配線導体35との間に形成されるコンデンサが、スイッチングする半導体素子28の極めて近傍に配置されているため、寄生インダクタンスが小さく、さらに、負極側配線導体34と正極側配線導体35とは、電流が逆向きに流れるとともに、間隔が相互インダクタンスの効果を生じさせるために十分に狭いため、負極側配線導体34と正極側配線導体35との間のインダクタンスが小さいことも、サージ電圧の低減効果を高めているものと推測される。
本発明の実施例に係るパワーモジュールの回路構成を示す図。 本発明の実施例に係るパワーモジュールの構成を示す平面図。 図2におけるX−X矢視断面図。 各相デバイス群を示す拡大図。
符号の説明
11 パワーモジュール
28 半導体素子
29 誘電体
30 Nバスバー
31 Pバスバー
32u U相デバイス群
32v V相デバイス群
32w W相デバイス群
33u Uバスバー
33v Vバスバー
33w Wバスバー
34 負極側配線導体
35 正極側配線導体
36 接着剤

Claims (7)

  1. 電極板に実装された半導体素子と、半導体素子に給電するためのバスバーとが、層状に配置されたパワーモジュールにおいて、
    半導体素子とバスバーとを接続する正極側配線導体と負極側配線導体とを対向配置し、正極側配線導体と負極側配線導体との間に誘電体を介挿し、正極側配線導体と誘電体、及び、負極側配線導体と誘電体を、それぞれ導電性を有する接着剤にて接合することを特徴とするパワーモジュール。
  2. 前記誘電体を、誘電性を有するセラミックスを主成分する板状体とする、
    請求項1に記載のパワーモジュール。
  3. 前記誘電体を、SrTiO3又はBaTiO3主成分とする材料で構成する、
    請求項1又は請求項2に記載のパワーモジュール。
  4. 前記配線導体を、熱膨張係数が2ppm/K以上12ppm/K以下であって、導電性を有する材料で構成した薄板状体とする、
    請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のパワーモジュール。
  5. 前記配線導体を、Cu/Fe−Ni合金/Cuの三層クラッド材で構成する、
    請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のパワーモジュール。
  6. 前記接着剤を、ヤング率が10000kg/cm2以下であって、導電性を有する材料で構成する、
    請求項1乃至請求項5のいずれかに記載のパワーモジュール。
  7. 前記接着剤を、Agの微粒子を主成分とする材料で構成する、
    請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のパワーモジュール。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008205380A (ja) * 2007-02-22 2008-09-04 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
JP2009071129A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Ihi Corp コンデンサ内蔵絶縁型半導体パワーモジュール
US7952856B2 (en) 2008-06-02 2011-05-31 Honda Motor Co., Ltd. Power control unit and hybrid vehicle comprising same
JP2013153010A (ja) * 2012-01-24 2013-08-08 Denso Corp 半導体モジュール及び半導体装置
DE102015213085A1 (de) * 2015-07-13 2016-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Leistungsmodul sowie Verfahren zum Herstellen eines Leistungsmoduls
JP2020047677A (ja) * 2018-09-14 2020-03-26 株式会社東芝 半導体装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008205380A (ja) * 2007-02-22 2008-09-04 Toyota Motor Corp 半導体モジュール
JP2009071129A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Ihi Corp コンデンサ内蔵絶縁型半導体パワーモジュール
US7952856B2 (en) 2008-06-02 2011-05-31 Honda Motor Co., Ltd. Power control unit and hybrid vehicle comprising same
JP2013153010A (ja) * 2012-01-24 2013-08-08 Denso Corp 半導体モジュール及び半導体装置
DE102015213085A1 (de) * 2015-07-13 2016-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Leistungsmodul sowie Verfahren zum Herstellen eines Leistungsmoduls
JP2020047677A (ja) * 2018-09-14 2020-03-26 株式会社東芝 半導体装置

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