JP2005183021A - エネルギーアナライザ - Google Patents

エネルギーアナライザ Download PDF

Info

Publication number
JP2005183021A
JP2005183021A JP2003417880A JP2003417880A JP2005183021A JP 2005183021 A JP2005183021 A JP 2005183021A JP 2003417880 A JP2003417880 A JP 2003417880A JP 2003417880 A JP2003417880 A JP 2003417880A JP 2005183021 A JP2005183021 A JP 2005183021A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
energy
electron beam
pole
optical axis
energy analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003417880A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsushige Tsuno
勝重 津野
Tetsuo Oikawa
哲夫 及川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2003417880A priority Critical patent/JP2005183021A/ja
Publication of JP2005183021A publication Critical patent/JP2005183021A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 収差補正を少数の多極子によって実現する。
【解決手段】 電子顕微鏡の鏡筒内に設置され、所定のエネルギーを有する電子線の成分を選択して透過させるエネルギーアナライザであって、光軸L0に沿って入射される電子線をエネルギーに応じて光軸L0に垂直な所定の分散方向に分散させる磁場を印加する第1乃至第4のマグネット31〜34と、出射窓面36における光軸L0上にあって、光軸L0及び分散方向に垂直な方向に所定幅の間隙を有し、前記分散された電子線の内、所定の成分を透過させるスリットと、光軸L0上にあって、第4のマグネット34とスリットの間に設置され、前記分散された電子線の分散方向の収差を抑制する12極子38と、を有する。
【選択図】 図2

Description

本発明は、電子顕微鏡の鏡筒内に配置して用いるエネルギーアナライザに関する。
従来、電子線を用いて、エネルギーについて分光した像を観察する電子分光結像法(energy spectroscopic imaging;ESI)が知られている。また、同じく電子線を用いてエネルギーを損失したスペクトルを観察する電子エネルギー損失分光法(electron energy loss spectroscopy;EELS)が知られている。
これらエネルギー分光結像法と電子エネルギー損失分光法は、電子顕微鏡の鏡筒内に設置する例えばΩフィルタ等のインコラム型のエネルギーフィルタを、所望のエネルギーを有する電子線の成分を選択的に透過させるエネルギーアナライザとして使用することによって実現することができる。この場合、エネルギー損失分光法のためのエネルギー分解能を確保するとともに、エネルギー分光結像法の性能を確保することが必要となる。
これまで、エネルギー分光結像法のためのエネルギーアナライザとして、出射窓面における収差を低減するため、マグネットの形状を最適化したエネルギーアナライザが利用されてきた。このようなエネルギーアナライザは、3乃至4個のセクター型マグネットを用い、エネルギーアナライザの中心対称面についての対称性を利用して電子分光結像法(ESI)の像観察時の収差を必要充分な程度までキャンセルすると共に、マグネットの寸法、それぞれのマグネットの距離等を最適化することによって、スリットを置く出射窓面における収差を減らし、エネルギー分解能を高めようとしたものである(例えば、特許文献1及び2を参照)。
また、エネルギー分光結像法のためのエネルギーアナライザとしては、前記マグネットの形状を最適化したエネルギーアナライザよりさらに収差を小さくすることを目的として、収差補正のための多極子を備えるエネルギーアナライザが利用されてきた。このようなエネルギーアナライザには、多極子を1個備えるものと、複数備えるものがある。
収差補正のための多極子を1個備えるエネルギーアナライザは、その対称面に1個の6極子を用いるものが代表的である(例えば、特許文献3を参照。)。このエネルギーアナライザは、全ての幾何収差を補正することはできないが、最も影響の大きい収差を低減する働きがあると考えられている。しかしながら、収差補正が行われていないエネルギーアナライザと比べて十分な性能が得られるとはいえなかった。
収差補正のための多極子を複数備えるエネルギーアナライザとしては、4対(8個)の6極子と中心面上の1個の6極子からなる9個の6極子を備えるものが提案されている(例えば、特許文献4及び5を参照。)。このエネルギーアナライザは、全ての2次幾何収差を補正することができ、各成分はほぼ独立に補正が可能であると考えられている。なお、この補正をWフィルタに適用した場合、マグネットの数は6個に増え、11個の補正子が設けられる(例えば、特許文献6を参照。)。
これら収差補正のための多極子を備えるエネルギーアナライザにおいては、最も代表的な収差であるAγγγは、エネルギーアナライザの中心面上の1個の多極子によって補正される。また、収差補正のための多極子を複数備えるエネルギーアナライザにおいては、同じく最も代表的な収差であるBγδδは、エネルギーアナライザの前後の1対によって補正される。
このような補正は、Ωフィルタ等のインコラム型のエネルギーフィルタの内、フォーカス特性が、分散面(XY)で3回、これと直交する面内(YZ)でも3回のいわゆるA型フィルタでのみ可能といわれている。この収差補正の可否は、フォーカス特性を2回のみに留めることによって収差の低減を図ったB型フィルタに対してA型フィルタの有する利点であるとされている(例えば、非特許文献1を参照。)。
一方、結像のためのエネルギーアナライザを電子顕微鏡とともに使用する場合には、種種の倍率の像や、種種のカメラ長の電子回折像を観察する必要がある。これらに対応するため、通常は、エネルギーアナライザの前に対物レンズを含めて4段の結像レンズ系が必要であると考えられている。
この結像レンズ系を3段で構成するため、エネルギーアナライザのスリット面(出射窓面)と像面の間の距離L1を倍率に応じて変える方法が提案されている。しかしながら、エネルギーアナライザの形状は特定の距離L1に足して最適化されて設計されている。このため、距離L1を変えた場合、倍率やカメラ長の自由度は向上するものの、最適化されていない距離L1を使用する倍率などでは観察される像にひずみを含む恐れがある。
このひずみを取り除くため、エネルギーアナライザの前後に多極子レンズを置くことが提案されている(例えば、特許文献7を参照。)。しかしながら、この多極子はスリット面上の収差に関係したものではない。また、この多極子は、距離L1を変化させることと常に一緒に使用されるべきもので、特定の距離L1に対して形状が最適化されたエネルギーアナライザに対しては無益なものである。
米国特許第6097028号公報 米国特許第6307205号公報 特開昭62−6653号公報 特開平7−37536号公報 特開平7−94299号公報 特開2001−243910号公報 特開2002−8574号公報 ルードビッヒ・ライマー(Ludwig Reimer)編、「エネルギー・フィルタリング透過型電子顕微鏡(energy-filtering transmission electron microscopy)」、シュプリンガー(Springer)、1995年、43〜149ページ、ヘラルト・ローゼ(Herald Rose)及びディーター・クラール(Dieter Krahl)、「エネルギーフィルタの電子光学(Electron Optics of Imaging Energy Filters)」
本発明は、少数の多極子によってエネルギー分解能を高めるエネルギーアナライザを提供することを目的とする。
前述の課題を解決するために、本発明に係るエネルギーアナライザは、電子顕微鏡の鏡筒内に設置され、電子線をそのエネルギーに応じて分散させるエネルギーアナライザにおいて、光軸に沿って入射する電子線をエネルギーに応じて前記光軸に垂直な所定の分散方向に分散させるエネルギー分散手段と、前記光軸上にあって、前記エネルギー分散手段の後段に設置され、前記エネルギー分散手段によって分散された電子線の前記分散方向の収差を抑制する12極子と、を有する。
前記エネルギー分散手段における電子線の軌道が対称となる、前記光軸に垂直な対称面について、前記12極子と対称な位置に前記12極子と対称になるように設置された他の12極子を有することが好ましい。
前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記光軸及び前記分散方向に垂直な方向に、前記電子線の収差を増加させることが好ましい。
前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準として、前記光軸について電子線の進行方向に反時計回りに順に各極をS,N,N,S,S,N,N,S,S,N,N,S極に励磁し、6極子として使用することが好ましい。
前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準にして、前記光軸について電子線の進行方向に反時計回りに順に各極をN,N,S,S,N,N,S,S,N,N,S,N極に重畳して励磁し、前記6極子による磁場を補正することが好ましい。
前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準として、前記光軸について前記分散方向を基準として45°の方向にある4極を反時計回りに順にN,S,N,S極に重畳して励磁し、4極子として使用することが好ましい。
前記4極に隣接する8極は、該4極の半分に重畳して励磁することが好ましい。
前記エネルギー分散手段において、前記電子線は、前記分散方向に奇数回収束し、前記分散方向に垂直な前記光軸を含む面内で偶数回収束することが好ましい。
前記スリットを前記光軸方向に移動する機構を有することが好ましい。
前記12極子及び/又は前記他の12極子は、ラウンドレンズ成分又は偏向場成分を生成することが好ましい。
本発明に係るエネルギーアナライザは、電子顕微鏡の鏡筒内に設置され、電子線をそのエネルギーに応じて分散させるエネルギーアナライザにおいて、光軸に沿って入射する電子線をエネルギーに応じて前記光軸に垂直な所定の分散方向に分散させるエネルギー分散手段と、前記光軸上にあって、前記エネルギー分散手段の後段に設置され、前記エネルギー分散手段によって分散された電子線の前記分散方向の収差を抑制する6極子及び4極子と、を有することが好ましい。
前記エネルギー分散手段における電子線の軌道が対称となる、前記光軸に垂直な対称面について、前記6極子と対称な位置に前記6極子と対称になるように設置された他の6極子と、前記4極子と対称な位置に前記4極子と対称になるように設置された他の4極子と、を有することが好ましい。
本発明は、次の(1)乃至(4)の点について考慮したものである。
(1)エネルギーアナライザの2次収差は出射窓面においてのみ問題となる。この点は上で述べたローゼらの方法(非特許文献1を参照。)でも同じである。
(2)出射窓面(この面にスリットが置かれるので以下スリット面という。)における収差は必ずしも零にすることが求められているわけではない。分散方向におけるビームの幅が小さいことが求められているだけである。分散方向及び光軸に直交する方向(スリットの間隙の延びる方向)にビームが伸びている方がむしろ有利な場合もある。
(3)収差を式で表したときの収差係数のそれぞれを独立に小さくすることが求められているわけではなく、最終的にスリット面上でのビームの幅だけが問題である。
(4)エネルギーアナライザを設計する際のシミュレーションの精度や、実際に製作したエネルギーアナライザの計算条件との違いなどから、電子線のフォーカス位置が必ずしもスリット位置と一致しない場合がある。ところが、励磁の強さを変えてフォーカスを変化させると、ビームの回転半径が変化し、ビームは偏向を受けて光軸上に正しく出てこなくなる。そこで、光軸をずらすことなくフォーカス位置を変えて、スリット上でビームが最も細く収束するように調整したい。
これら(1)乃至(4)の観点から、光軸に沿って、前記エネルギー分散手段の前後に、前記エネルギー分散手段の対称面について対称となるように1対の12極子を挿入するようにしたものである。
本発明に係るエネルギーアナライザは、収差補正を少数の多極子によって実現するものである。そして、本発明は、アナライザの収差によって増大したエネルギー分散方向のビーム幅を少数の多極子によって縮小させ、エネルギー分散方向に直交する方向に伸びた断面形状を持つビームを形成することによって、エネルギー分解能を高めるものである。
以下、本発明に係るエネルギーアナライザの実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本実施の形態のエネルギーアナライザを有する透過型電子顕微鏡の構造を示す図である。
この透過型電子顕微鏡10は、光軸L0に沿って電子線の進行方向に、電子線を発生する電子線源となるカソード11と、カソード11が発生した電子線を加速する加速段12と、加速段12で加速された電子線を収束して試料に照射するコンデンサレンズ13と、試料を保持する試料ホルダ14と、試料に照射された電子線を集光する対物レンズ15と、対物レンズ15から出射された電子線を収束する中間レンズ16と、中間レンズ16によって収束された電子線について所定のエネルギー成分のみを透過させるエネルギーアナライザ17と、エネルギーアナライザ17から出射された電子線を収束して投射する投射レンズ18と、蛍光板に投射した電子線像を観察する観察室19と、電子線像を観察するCCDカメラ等を設置するカメラ室20と、を有している。
図2は、エネルギーアナライザの構成を示す図である。
このエネルギーアナライザ17は、電子線の軌跡に沿って進行方向に、第1のマグネット31、第2のマグネット32、第3のマグネット33、及び第4のマグネット34を有している。これらのマグネット31〜34は、光軸に沿ってL0に沿って入射した電子線が、光軸L0に垂直な中心対称面S0について対称にΩ形状の軌跡を描くように、所定の磁場を印加している。これらのマグネット31〜34の印加する磁場によって、電子線は、Ω形状の軌跡を含む面内においてエネルギーに応じて分散する。このように、マグネット31〜34は、エネルギー分散手段としての役割を果たしている。
このエネルギーアナライザ17は、電子線の光軸L0上で入射窓面35と第1のマグネット31間に第1の12極子37を有している。また、同じく光軸L0上で第4のマグネット34と出射窓面36間に第2の12極子38を有している。これらの12極子37,38は、同一の構造を有し、中心対称面S0について対称な位置に配置される。
これらの12極子37,38は、必要な磁場の大きさが低くてすむのでそれぞれ入射瞳面39及び出射瞳面40に近いほど望ましい。しかし、第1及び第4のマグネット31,34の端面に向き合って磁性体のミラープレートが配置されるので、これらの12極子37,38はそれぞれさらに入射窓面35及び出射窓面36寄りに配置せざるを得ない。
さらに、このエネルギーアナライザ17は、出射窓面36の光軸L0上において、光軸L0及びこのエネルギーアナライザ17によるエネルギー分散方向と直交する方向に所定幅の間隙を有するスリットを有している。このスリットは、第1乃至第4のマグネット31〜34の印加する磁場によってエネルギー分散された電子線から所望の成分を選択して透過させる。
図中には、磁場の分布を示す等ポテンシャル線が示されている。この磁場は、第1乃至第4のマグネット31〜34と第1及び第2の12極子37,38が発生している。
図3は、12極子の構造を示す断面図である。
この図は、第1又は第2の12極子37,38を光軸L0に垂直な面で切断した断面の一部を電子線の進行方向に示す。すなわち、電子線は、紙面表側から裏側に進むものとする。以下でも同様とする。
図には矩形の断面を示すが、実際の12極子は12回対称な形状を有している。図中には、12極子37,38が発生する磁場の分布を示す等ポテンシャル線も示されている。
12極子37,38は、光軸L0について12回の回転対称な位置に第1乃至第12の磁極P1〜P12を有している。これらの磁極P1〜P12は、前記分散方向を基準として、電子線の進行方向に半時計回りに順序付けするものとする。
これらの磁極P1〜P12は、光軸L0に沿って進む電子線に対して所定の磁場を印加する。この12極子37,38の作用については、さらに後述する。
図4は、電子顕微鏡の使用の形態について説明する図である。
本実施の透過型電子顕微鏡10は、微鏡像の観察のみならず、電子分光結像法(energy spectroscopic imaging;ESI)、電子分光回折法(energy spectroscopic diffraction;ESD)、及び電子エネルギー損失分光法(electron energy loss spectroscopy;EELS)の観察に用いることができる。これに応じて、エネルギーアナライザ17の入射窓面35、出射窓面36及び検出器54の検出面55において、顕微鏡像と回折像の何れかを形成するように設定する。
図4(a)は、電子分光結像法(ESI)によって試料を観察する場合を示す。
この場合、試料ホルダ14の支持する試料51に照射された電子線は、対物レンズ15によって収束され、第1の中間回折像52及び第1の中間顕微鏡像53を形成する。電子線は、さらに中間レンズ16によって収束され、光軸L0に沿ってエネルギーアナライザ17に入射される。
エネルギーアナライザ17において、入射窓面35には第2の中間回折像を形成され、電子線はこの第2の中間回折像でクロスオーバしてエネルギーアナライザ17に入射する。エネルギーアナライザ17に入射した電子線は、入射瞳面39に第2の中間顕微鏡像を形成し、出射瞳面40に第3の中間顕微鏡像を形成し、出射窓面36に第3の中間回折像を形成する。出射窓面36に設置されたスリットによって、所定のエネルギーを有する電子線の成分が選択される。スリットを透過した電子線は、エネルギーアナライザ17から光軸L0に沿って出射される。
エネルギーアナライザ17から出射された電子線は、投射レンズ18によって検出器54に投射され、この検出器54の検出面55に顕微鏡像を形成する。
図4(b)は、電子分光回折法(ESD)によって観察する場合を示す。
この場合、エネルギーアナライザ17の入射窓面35には、第2の中間顕微鏡像が形成される。電子線はこの第2の中間顕微鏡像でクロスオーバしてエネルギーアナライザ17に入射する。エネルギーアナライザ17に入射した電子線は、入射瞳面39に第2の中間回折像を形成し、出射瞳面40に第3の中間回折像を形成し、出射窓面36に第3の中間顕微鏡像を形成する。エネルギーアナライザ17から出射された電子線は、検出器54の検出面55に回折像を形成する。
図4(c)は、電子エネルギー損失分光法(EELS)によって観察する場合を示す。
この場合、エネルギーアナライザ17の入射窓面35には、第2の中間回折像が形成される。エネルギーアナライザ17に入射した電子線は、入射瞳面39に第2の中間顕微鏡像を形成し、出射瞳面40に第3の中間顕微鏡像を形成し、出射窓面36に第3の中間回折像を形成する。エネルギーアナライザ17から出射された電子線は、検出器54の検出面55に回折像を形成する。
〔第1の実施の形態〕
第1の実施の形態は、第1及び第2の12極子37,38を励磁して電子線に6極子場を印加することにより収差を低減するものである。
図5は、12極子に与える電流の配分例を示す図である。
第1及び第2の12極子37,38の第1極P1、第4極P4、第5極P5、第8極P8、第9極P9、及び第12極P12には、各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)として−NI3を与える。同じく第2極P2、第3極P3、第6極P6、第7極P7、第10極P10、及び第11極P11には、各極のコイルの巻き数と電流の積としてNI3を与える。
図中には、第1乃至第12極P1〜P12が発生する磁場の分布を示す等ポテンシャル線が示されている。
図6は、参考例として12極子を用いない場合の電子線の形状を示す図である。
本実施の形態では、電子線の形状とは、スリットが設置されるエネルギーアナライザ17の出射窓36付近において、光軸L0に垂直な平面で切断した電子線の形状をいうものとする。
また、本実施の形態では、スリットを設置する位置又は電子線の形状を観察する位置は、エネルギーアナライザ17の中心対称面S0を基準として光軸L0沿いに電子線の進行方向に測った距離Zで指定するものとする。
図6(a)は、エネルギーアナライザ17の中心対称面S0から電子線の進行方向に距離Z=120mmにおける電子線の形状を示す。
図中には、電子線の形状が2つ描かれているが、これらはエネルギーが2eV異なる電子線に対応している。電子線の各形状においては、内側から外側に順に、このエネルギーアナライザ17に入射角0.04°、0.08°、0.12°、0.16°、0.2°で入射した電子線のビーム形状がそれぞれ示されている。以下でも同様とする。
図6(b)は、中心対称面S0から距離Z=122mmにおける電子線の形状を示す。同様に、図6(c)及び図6(d)は、中心対称面S0からそれぞれ距離Z=123mm及び125mmにおける電子線の形状を示す。
この図6に示した参考例では、電子線の形状は図6(c)の距離Z=123mmにおいて最も小さくなる。この距離において、電子線は2eVの分解能を有する。
図6(d)の距離Z=125mmにおいては、最も外側の入射角0.2°の電子線に対しては、2eVの分解能は得られない。しかし、これより小さい入射角を有する電子線に対しては2eVの分解能が得られることもある。
図7は、12極子に与える電流と電子線の形状の関係を示す図である。
図7(a)は、第1及び第2の12極子37,38に電流を与えない場合に、中心対称面S0から距離Z=125mmにおける電子線の形状を示す。これは、前記図6(d)と同じ条件である。
図7(b)及び図7(c)は、12極子37,38にそれぞれNI3=20AT及び50ATの電流を与えた場合に距離Z=125mmにおける電子線の形状を示す図である。
電子線の形状は、12極子37,38に電流を与えない場合には図7(a)に示すようなハート型であった。電子線の形状は、NI3=20ATを与える場合には図7(b)に示すように丸く変化している。
これによって、12極子37,38によって電子線に6極子場を印加することにより、収差が補正されていることがわかる。図7(b)に示すNI3=20ATの場合には、2eVの分解能が達成されている。
電子線の形状は、12極子37,38を励磁しない場合には図7(a)に示したようにハート型であったが、12極子37,38に与える電流を増してNI3=50ATとした場合には図7(c)に示すようにハート型の図形の尖った方向が逆転している。したがって、反対符号の収差が増大していることがわかる。
いずれにしても、12極子37,38に電流を与え、電子線に6極子場を印加することによって収差が補正され、エネルギー分解能が向上するようになった。
〔第2の実施の形態〕
第2の実施の形態は、第1の実施の形態の6極子場を光軸L0の周りに回転調整するものである。
図8は、図5で12極子に与えた電流に重畳する電流を示す図である。
第1及び第2の12極子37,39の第1極P1、第2極P2、第5極P5、第6極P6、第9極P9、第10極P10には、各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)として−NI3を与える。また、第3極P3、第4極P4、第7極P7、第8極P8、第11極P11、第12極P12には、各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)としてNI3を与える。
なお、この第2の実施の形態において重畳するNI3の大きさは、第1の実施の形態で図5で示したNI3に対して、6極子場を回転調整する量に応じて大きさを調整するものとする。6極子場を回転調整しない場合は、重畳するNI3は零となり、これは前記第1の実施の形態の場合と同じである。
このように、図5に示した12極子37,38の励磁に対して光軸L0の周りに一個ずれて励磁するような電流成分を図5に示した成分に重畳する。これによって、図5に示した電流によって12極子37,38に発生する6極子場を光軸L0の周りに回転することができる。
第1及び第2の12極子37,38は、加工や組立などの精度の制約により、エネルギーアナライザ17に対して光軸L0周りにずれる可能性がある。このような場合、12極子37,38によって電子線の収差を十分に低減できない恐れがある。しかし、図8に示した電流を図5に示した電流に重畳し、12極子37,38の発生する6極子場を光軸L0の回りに回転することで、このような光軸周りのずれを補正することができる。
〔第3の実施の形態〕
第3の実施の形態は、スリットを光軸L0方向に移動する移動機構を備えるものである。
第1及び第2の12極子37,38に電流を与えない参考例を示した図6においては、電子線の形状は、中心対称面S0からの距離Z=122mmにおいて最も細くなっていた。第1及び第2の12極子37,38に電流を与えて6極子場を発生した場合について、同様に電子線の形状について検討する。
図9は、12極子に電流を与えた場合の電子線の形状を示す図である。
ここでは、6極子場を励磁する電流を20AT、4極子場を励磁する電流を2.5AT、双極子場を励磁する電流を131.88ATとして、第1及び第2の12極子37,38に与えている。
図9(a)は中心対称面S0からの距離Z=122mm、図9(b)は距離Z=123mm、図9(c)は距離Z=124mm、図9(d)は距離Z=125mmにおける電子線の形状をそれぞれ示す。
ここでは、図9(c)に示すように距離Z=124mmの場合に電子線の形状が最も細くなっている。この位置にスリットを設けると、電子線の分解能として0.2eVを確保することができる。
第3の実施の形態では、電子線の分解能が大きく位置にスリットを移動するように、スリットを光軸L0方向に移動する移動機構を設ける。このような移動機構により、電子線が細くなる位置にスリットを移動することにより、このエネルギーアナライザ17のエネルギー分解能を向上させることができる。
〔第4の実施の形態〕
第4の実施の形態は、第1及び第2の12極子37,38がさらに4極子場を発生するものである。
図10は、4極子場を発生させるために12極子に与える電流を示す図である。
図10(a)は、12極子に4極子場を発生させる第1の例を示す。
この場合、第1及び第2の12極子37,38の第2極P2及び第8の極P8に各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)が−NI2になるように電流を与え、第5極P5及び第11極P11に各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)がNI2になるように電流を与える。
この第1の例は、4極子場を励磁するための最も簡単な方法であり、前記分散方向を基準として光軸L0について45°方向の4つの極P2,P5,P8,P11を励磁する。
図10(b)は、12極子に4極子場を発生させる第2の例を示す。
この場合、第1及び第2の12極子37,38に、各極のコイルの巻き数と電流の積(AT)として、第1極P1に−NI2/2、第2極P2に−NI2、第3極P3に−NI2/2、第4極P4にNI2/2、第5極P5にNI2、第6極P6にNI2/2、第7極P7に−NI2/2、第8極P8に−NI2、第9極P9に−NI2/2、第10極P10にNI2/2、第11極P11にNI2、第12極にNI2/2を設定する。
この第2の例は、12極P1〜P12の全てを用い、より高次の項を含まずに4極子成分を純粋に印加できるが、前記第1の例に比べて電源の数が増加する。
図11は、4極子場が電子ビームに与える影響を示す図である。
この図においては、4極子成分Q=2.5,5.0,7.5ATと変化させているが、6極子成分H=20ATと2極子成分D=131.88ATは固定している。また、これらのそれぞれの場合について、中心対称面S0からの距離Z=123,124,125mmに変化させている。
4極子場Q=2.5ATの場合には、電子線の形状は、4極子成分を含まない6極子成分による場合のように縦長である。4極子場Q=5ATでは、中心対称面S0からの距離Z=123,124mmの場合では電子線は丸い形状を有し、距離Z=125mmではほぼ点状である。4極子場Q=7.5ATでは、電子線の形状は横長に変化している。
この図11において、4極子場Qを変化させたときに電子線の形状が縦長から横長に変化することから分かるように、6極子場によって2次収差が補正され、非点収差が残っていることが分かる。したがって、4極子場Q=2.5ATの場合に前記距離を変化させた場合を示す前記図9において、中心対称面S0からの距離Z=125mmを越えると、電子線の形状は横長になることになる。
図11において、4極子場Q=5.0ATの場合、中心対称面S0からの距離Z=125mmにおいては、非点収差が補正されて電子ビームは点状になっている。本実施の形態では、この位置にスリットが設けることによって、最も高いエネルギー分解能を確保することができる。ただし、この分解能は、電子線のエネルギー分散方向への分解能が問題となるので、電子線の形状が縦長の場合に比べて特に向上することはない。
なお、非点成分は、エネルギーアナライザ17で選択した特定のエネルギー成分による像(以下、エネルギーフィルタ像という。)においても残るので、このように非点収差を補正することは、エネルギーフィルタ像を電子エネルギー損失分光法によるスペクトルとともに取得する場合に有利である。
〔第5の実施の形態〕
第5の実施の形態は、2次元検出器によって電子線を検出する場合にダイナミックレンジを確保するため、電子線をエネルギー分散方向と直交する方向に延びた形状とするものである。
図12は、電子線をエネルギー分散方向と直交する方向に延びた形状とするために12極子に与える電流を示す図である。
図12(a)は、6極子場にラウンドレンズ成分を重畳した第1の例を示す。
この場合、図5に示したように6極子場として20ATを与え、これに対して2ATのラウンド成分を重畳する。具体的には、各磁極のコイルの巻き線と電流の積(AT)として、第1極P1に−18、第2極P2に22、第3極P3に22、第4極P4に−18、第5極P5に−18、第6極P6に22、第7極P7に22、第8極P8に−18、第9極P9に−18、第10極P10に22、第11極P11に22、第12極P12に−18を与える。
図12(b)は、6極子場に偏極子成分を重畳した第2の例を示す。
この場合、図5に示したように6極子場として20ATを与え、これに対して2ATの偏極子成分を重畳する。具体的には、各磁極のコイルの巻き線と電流の積(AT)として、第1極P1に−18、第2極P2に22、第3極P3に22、第4極P4に−22、第5極P5に−22、第6極P6に18、第7極P7に18、第8極P8に−22、第9極P9に−22、第10極P10に22、第11極P11に22、第12極P12に−18を与える。
電子エネルギー損失分光法(EELS)によるスペクトルは、損失のない電子線の強度が非常に強く、損失を受けた電子線の強度は極端に小さい。このように強度が極端に異なる両方の電子線を同時に検出器に取り込むためには検出器のダイナミックレンジを十分に確保することが必要になる。
2次元検出器としてCCDカメラを用いる場合、CCDの一つ一つの素子が大きくなるほどダイナミックレンジも大きくなる。ここで、各素子を大きくした場合には素子の数が少なくなりチャンネル数が減少する。チャンネル数を多くするために素子を分割すると、一個の素子が小さくなり、ダイナミックレンジが減少する。
これを解決する方法は、2次元検出器が設けられる光軸L0に垂直な面上において、2次元検出器で取り込む電子線のエネルギー分散方向をX方向としたとき、これと直交するY方向の素子をより多く利用することである。同じ強度の電子線を取り込むのにより多くの数の素子を用いることができれば、ダイナミックレンジを大きくしたと同様の効果が得られる。そのためには、スリット面上にできるビームをY方向に伸びた形とすることである。
このためにはエネルギーアナライザ17を出た後の電子線のフォーカス位置で変化させて、電子線が出射窓面36上でY方向に最も伸びた形とすればよい。同様に、スリットを用いて選択した所定のエネルギー成分でエネルギーフィルタ像を観察する場合にも、分解能を向上させるためにスリット上に最も小さく絞られた電子線のみ当てることが望ましい。
図13は、6極子場にラウンドレンズ成分を重畳することによってえられた電子線の形状を示す図である。
電子線は、フォーカス位置となる前記距離Z=125mmにおいて、図中縦方向となる前記Y方向に延びた形状になっている。なお、6極子場に偏極子成分を重畳することによっても、同様にY方向に延びた電子線の形状を得ることができる。
以上説明したように、本実施の形態においては、Ωフィルタなどを用いたエネルギーアナライザのマグネットと出射窓面の間に12極子を少なくとも1個挿入することによって、電子線が出射窓面に形成する収差図形の形状を調整することができる。すなわち、この12極子によって、2次収差の補正、非点収差の補正、フォーカス位置の調整と偏向の調整をそれぞれ達成することができる。
これらの機能を組み合わせることによって、出射窓面における電子線の形状を最小にしてエネルギーフィルタ像の観察の際にエネルギー分解能を向上させることができる。また、電子エネルギー損失法(EELS)によるスペクトルの取得にあたり、エネルギー分解能を高くすると共に、検出器の分散方向と直交方向にビームを広げて検出の際のダイナミックレンジを広げることができる。
また、エネルギーアナライザの中心対称面について前記12極子と対称な位置に12極子を挿入することによって、エネルギーフィルタ像の収差をキャンセルすることができる。
このような12極子を用いることにより、ラウンド成分、偏向成分、4極子成分、6極子成分の全てを作り出すことができる。また、これらの成分がエネルギーアナライザの向きとずれた場合にも補正することができる。
このような性質を有する本実施の形態のエネルギーアナライザは、電子結像分光法(ESI)によるエネルギーフィルタ像の観察に用いるばかりでなく、電子エネルギー損失分光法(EELS)によるスペクトルを観察する場合に、ESIとしての性能を犠性にすることなく、EELSのために高いエネルギー分解能を確保することができる。
なお、本実施の形態のエネルギーアナライザは、電子結像分光法(ESI)の機能は持たず、電子エネルギー損失分光法のみに用いる装置にも適用することができる。
本実施の形態のエネルギーアナライザを有する透過型電子顕微鏡の構造を示す図である。 エネルギーアナライザの構成を示す図である。 12極子の構造を示す断面図である。 電子顕微鏡の使用の形態について説明する図である。 12極子に与える電流の配分例を示す図である。 参考例として12極子を用いない場合の電子線の形状を示す図である。 12極子に与える電流と電子線の形状の関係を示す図である。 図5で12極子に与えた電流に重畳する電流を示す図である。 12極子に電流を与えた場合の電子線の形状を示す図である。 4極子場を発生させるために12極子に与える電流を示す図である。 4極子場が電子ビームに与える影響を示す図である。 電子線をエネルギー分散方向と直交する方向に延びた形状とするために12極子に与える電流を示す図である。 6極子場にラウンドレンズ成分を重畳することによってえられた電子線の形状を示す図である。
符号の説明
11 電子線源
12 加速段
13 コンデンサレンズ
14 試料ホルダ
15 対物レンズ
16 中間レンズ
17 エネルギーアナライザ
18 投射レンズ
19 観察室
20 カメラ室

Claims (12)

  1. 電子顕微鏡の鏡筒内に設置され、電子線をそのエネルギーに応じて分散させるエネルギーアナライザにおいて、
    光軸に沿って入射する電子線をエネルギーに応じて前記光軸に垂直な所定の分散方向に分散させるエネルギー分散手段と、
    前記光軸上にあって、前記エネルギー分散手段の後段に設置され、前記エネルギー分散手段によって分散された電子線の前記分散方向の収差を抑制する12極子と、
    を有することを特徴とするエネルギーアナライザ。
  2. 前記エネルギー分散手段における電子線の軌道が対称となる、前記光軸に垂直な対称面について、前記12極子と対称な位置に前記12極子と対称になるように設置された他の12極子を有することを特徴とする請求項1記載のエネルギーアナライザ。
  3. 前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記光軸及び前記分散方向に垂直な方向に、前記電子線の収差を増加させることを特徴とする請求項1又は2記載のエネルギーアナライザ。
  4. 前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準として、前記光軸について電子線の進行方向に反時計回りに順に各極をS,N,N,S,S,N,N,S,S,N,N,S極に励磁し、6極子として使用することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のエネルギーアナライザ。
  5. 前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準にして、前記光軸について電子線の進行方向に反時計回りに順に各極をN,N,S,S,N,N,S,S,N,N,S,N極に重畳して励磁し、前記6極子による磁場を補正することを特徴とする請求項4に記載のエネルギーアナライザ。
  6. 前記12極子及び/又は前記他の12極子は、前記分散方向を基準として、前記光軸について前記分散方向を基準として45°の方向にある4極を反時計回りに順にN,S,N,S極に重畳して励磁し、4極子として使用することを特徴とする請求項4又は5記載のエネルギーアナライザ。
  7. 前記4極に隣接する8極は、該4極の半分に重畳して励磁することを特徴とする請求項6記載のエネルギーアナライザ。
  8. 前記エネルギー分散手段において、前記電子線は、前記分散方向に奇数回収束し、前記分散方向に垂直な前記光軸を含む面内で偶数回収束することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のエネルギーアナライザ。
  9. 前記スリットを前記光軸方向に移動する機構を有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載のエネルギーアナライザ。
  10. 前記12極子及び/又は前記他の12極子は、ラウンドレンズ成分又は偏向場成分を生成することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のエネルギーアナライザ。
  11. 電子顕微鏡の鏡筒内に設置され、電子線をそのエネルギーに応じて分散させるエネルギーアナライザにおいて、
    光軸に沿って入射する電子線をエネルギーに応じて前記光軸に垂直な所定の分散方向に分散させるエネルギー分散手段と、
    前記光軸上にあって、前記エネルギー分散手段の後段に設置され、前記エネルギー分散手段によって分散された電子線の前記分散方向の収差を抑制する6極子及び4極子と、
    を有することを特徴とするエネルギーアナライザ。
  12. 前記エネルギー分散手段における電子線の軌道が対称となる、前記光軸に垂直な対称面について、前記6極子と対称な位置に前記6極子と対称になるように設置された他の6極子と、前記4極子と対称な位置に前記4極子と対称になるように設置された他の4極子と、を有することを特徴とする請求項11記載のエネルギーアナライザ。
JP2003417880A 2003-12-16 2003-12-16 エネルギーアナライザ Withdrawn JP2005183021A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003417880A JP2005183021A (ja) 2003-12-16 2003-12-16 エネルギーアナライザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003417880A JP2005183021A (ja) 2003-12-16 2003-12-16 エネルギーアナライザ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005183021A true JP2005183021A (ja) 2005-07-07

Family

ID=34780244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003417880A Withdrawn JP2005183021A (ja) 2003-12-16 2003-12-16 エネルギーアナライザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005183021A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010080136A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Jeol Ltd 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010080136A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Jeol Ltd 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6554288B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP4368381B2 (ja) 荷電粒子ビーム系用の荷電粒子ビームエネルギー幅低減系
US8841630B2 (en) Corrector for axial aberrations of a particle-optical lens
US9349565B2 (en) Multipole lens, aberration corrector, and electron microscope
JPH05205687A (ja) 鏡補正器を有する、荷電素粒子ビーム用結像系
US9978561B2 (en) Post column filter with enhanced energy range
JP4204902B2 (ja) 収差補正装置を備えた荷電粒子ビーム装置
EP1895564B1 (en) Electron beam system for aberration correction
JP4781211B2 (ja) 電子線装置及びこれを用いたパターン評価方法
US20180301314A1 (en) Energy Filter and Charged Particle Beam System
US7361897B2 (en) Imaging apparatus for high probe currents
JP4343951B2 (ja) 荷電粒子ビーム系用の単段式荷電粒子ビームエネルギー幅低減系
JP2005183021A (ja) エネルギーアナライザ
JP2006278069A (ja) ウィーンフィルタ型エネルギーアナライザ及び放出電子顕微鏡
JP2006147520A (ja) 収差補正装置及び電子顕微鏡
US10559448B2 (en) Transmission charged particle microscope with improved EELS/EFTEM module
JP6808772B2 (ja) エネルギーフィルタおよび荷電粒子線装置
JP5666227B2 (ja) 色収差補正ビーム偏向器、色収差補正ビーム分離器、荷電粒子デバイス、色収差補正ビーム偏向器を動作させる方法、及び色収差補正ビーム分離器を動作させる方法
EP2674959A1 (en) Charged-particle apparatus equipped with improved Wien-type Cc corrector
JP4607558B2 (ja) 荷電粒子光学装置及び収差補正方法
JP2005302438A (ja) 電子顕微鏡
JP2007242490A (ja) 荷電粒子線光学系用の収差補正光学装置及び光学系
JP2005078899A (ja) 電子顕微鏡及びエネルギーフィルタ

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070306