JP2005177101A - 不正基板検出方法とそのシステム、読取装置、及び遊技機 - Google Patents

Abstract

【課題】
基板に不正がないか容易かつ簡単に検査できる不正基板検出方法とそのシステム、読取装置、及び遊技機を提案し、中古品の安全で安価な流通を確保する。
【解決手段】
不正基板検出システムとして、１つの遊技機に備えた複数の基板と、データを記憶する記憶手段及び該データを外部に送信可能にする送信手段で構成して前記基板のそれぞれに個別に装着した複数の記憶ユニットと、各記憶ユニットに記憶の各データを読み取る読取手段及び該データ同士を比較出力する出力手段で構成する読取装置とを備えた。
【選択図】 図１０

Description

この発明は、例えばパチンコ機やパチスロ機等の遊技機に装着する基板に不正があったか否かを検出するような不正基板検出方法とそのシステム、読取装置、及び遊技機に関する。

従来、遊技場にはパチンコ機やパチスロ機等の多種多様の遊技機が設置されており、短いサイクルで頻繁に遊技機の入替が行われている。また、新しい遊技機を設置しても、人気等によりすぐに交換する場合もある。このような状況から、最近ではコストの安い中古の遊技機の流通が増加している。

しかし、中古品の流通においては、１部の基板を本物そっくりの不正基板に取替え、大当たりを容易に発生させることを可能にする等、見た目上は普通の遊技機であるが不正行為が可能な遊技機が流通することもあり得る。

このような不正基板としては、大当たりを容易に発生させる以外にも、電源の出力を短絡させれば大当たり等の設定が変更できる基板や、賞球信号を変更して通常より多く遊技玉を排出させる基板等が考えられる。

こういった不正基板を検査する方法としては、専用のＲＯＭチェッカーを使用する方法か、取扱い主任者による点検確認が存在するが、前記ＲＯＭチェッカーは国家公安委員会に指定された検査機関とメーカーにしかない。

また、ＲＯＭが搭載されている基板については、ＲＦ−ＩＤ記憶装置に格納したセキュリティーデータとＲＯＭ内の照合データと一致するか否かで検査する方法も提案されている（特許文献１参照）。

特開２０００−３４２８３１号公報

しかし、上述したような方法では、基板を検査するために検査できる場所が限定される問題や、検査可能な基板が限られる問題があり、さらに輸送費等も含めた検査費用がかかり検査期間もかかることとなっていた。

この発明は、上述の問題に鑑みて、基板に不正がないか容易かつ簡単に検査できる不正基板検出方法とそのシステム、読取装置、及び遊技機を提案し、中古品の安全で安価な流通を確保することを目的とする。

この発明は、１つの遊技機に備えられる複数の基板のそれぞれに、データを記憶する記憶手段と該データを外部に送信可能にする送信手段とを備えた記憶ユニットを個別に装着しておき、各記憶ユニットに記憶のデータを読取装置で読み取って比較し、比較結果から各基板の正当性を判定する不正基板検出方法、又は、１つの遊技機に備えた複数の基板と、データを記憶する記憶手段及び該データを外部に送信可能にする送信手段で構成して前記基板のそれぞれに個別に装着した複数の記憶ユニットと、各記憶ユニットに記憶の各データを読み取る読取手段及び該データ同士を比較出力する出力手段で構成する読取装置とを備えた不正基板検出システムであることを特徴とする。

前記遊技機は、パチンコ機又はパチスロ機等、利用者に遊技を許容する装置で構成することを含む。

前記基板は、遊技機の大当たりの確率制御等の制御動作を実行する主基板、各基板へ電力を供給する電源基板、主基板で実行する制御以外の制御（例えば電源制御等）を行う副基板、又は、賞球払出装置の払出制御を実行する賞球基板等、機能の異なる基板で構成することを含む。

前記記憶手段は、ＦＲＡＭ（Ferroelectric Random Access Memory）やＥＥＰＲＯＭ（Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory）といった不揮発性メモリ（半導体メモリ）等、データを記憶可能な手段で構成することを含む。なお、ＦＲＡＭのように部分的な書き換えができる不揮発性メモリが望ましい。

前記送信手段は、アンテナコイルによって無線でデータ送信を行う無線送信装置、又は、接触端子から有線でデータ送信を行う有線送信装置等、データを送信可能な手段で構成することを含む。

前記記憶ユニットは、ＲＦ−ＩＤタグ、又はＲＦ−ＩＤタグを有するＲＦ−ＩＤユニット等、前記記憶手段と前記送信手段を備えたユニットで構成することを含む。

前記読取手段は、アンテナコイルによって無線でデータ受信を行う無線受信装置、又は、接触端子から有線でデータ受信を行う有線受信装置等、データを受信可能な手段で構成することを含む。

前記比較出力は、データを比較した結果を出力する、あるいはデータを比較可能に出力することを含む。

前記出力手段は、データの比較結果を表示する、あるいはデータを比較可能に表示する液晶ディスプレイ等の表示装置、比較結果に基づいてビープ音等の音声を発音するスピーカ等の発音装置、又は、比較結果に基づいて点灯するＬＥＤ等の点灯装置等、前記比較出力が可能な装置で構成することを含む。

前記構成により、各記憶ユニットのデータを比較して、各基板が不正基板でないかどこでも簡単に検査することができる。

この発明の態様として、前記記憶ユニットに、時間を計測する計測手段と、前記データとして前記基板への通電時間を前記記憶手段に記憶させる制御手段とを備え、前記出力手段での比較出力の対象に、上記通電時間を設定することができる。

前記計測手段は、クロックとカウンタ等、時間を計測可能な装置で構成することを含む。

前記制御手段は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）又はＭＰＵ（Micro Processing Unit）等、制御処理を実行する手段で構成することを含む。

前記通電時間による比較は、各記憶ユニットに記憶した通電時間が同一であるか否か、あるいは近似であるか否かの比較等、各通電時間の関係の比較とすることを含む。

前記構成により、基板への通電時間に基づいて不正基板か否かを検査することが可能となる。

またこの発明の態様として、前記記憶ユニットの１つに、記憶手段に記憶する管理データとして同一遊技機内の他の基板に備えられた記憶ユニットの識別データを設定し、前記出力手段での比較出力の対象に、上記管理データと上記識別データとを設定することができる。

前記識別データは、各記憶ユニットに固有に割当てたユニークＩＤ、又は、記憶ユニットを装着した基板のユニークＩＤ等、記憶ユニットを識別可能なデータで構成することを含む。

前記管理データは、他の１つの記憶ユニットが固有に記憶した１つの識別データ、又は他の複数の記憶ユニットが固有にそれぞれ記憶した複数の識別データで構成することを含む。

前記構成により、識別データを管理データが一致するか比較して不正基板でないか検査することができる。

またこの発明は、前記不正基板検出方法又は前記不正基板検出システムで使用する読取装置とすることができる。
これにより、読取装置で手軽に不正基板か否かを検査することができる。

またこの発明は、前記不正基板検出方法又は前記不正基板検出システムで使用する記憶ユニットを複数の基板に装着した遊技機とすることができる。
これにより、不正基板がないか容易に検査できる遊技機を提供することができる。

この発明により、基板に不正がないか容易かつ簡単に検査できる不正基板検出方法とそのシステム、読取装置、及び遊技機を提案し、安全で安価な中古品の流通を確保することができる。

この発明の一実施形態を以下図面と共に説明する。
遊技場には、図１の斜視図に示すように遊技機２を複数並設している。図示する遊技機２はパチンコ機の例で示しているが、パチスロ機等の他の種類で構成することもできる。

ここで遊技機２について説明すると、パチンコ機による遊技は、利用者がまず遊技球を遊技球投入装置に投入し、操作装置を操作して遊技球射出装置で遊技球を射出して遊技する。射出された遊技球は、遊技面に設けられた釘で弾かれつつチャッカ装置に入ることで、制御装置の制御によって遊技表示装置のスロットが回転し、停止時に表示している数字や絵柄の揃い方に応じて遊技球が払い出される。

パチスロ機による遊技は、利用者が遊技メダルをメダル投入装置に投入し、操作装置のスタートボタンを押下すると、制御装置の制御によって、駆動装置がドラムを回転させる。

ドラムの回転は前記操作装置の回転停止ボタンにより、利用者が任意のタイミングで停止することができ、停止時に揃った絵柄や数字に応じて遊技メダルが払い出される。パチスロ機内に投入されている遊技メダル数は、表示装置によって常時表示されている。

ドラムが揃った場合の遊技メダルの払い出しは、上記表示装置で表示する遊技メダル数の増加によって行い、利用者にペイアウト（払い出し）ボタンが押下されたときに、全遊技メダルを払い出し口から実際に払い出す。

遊技機２がパチンコ機である場合の例で説明すると、図１に示すように、係員が鍵を開錠して遊技機２の正面に備えた片開きの遊技面扉３を開けると、該遊技面扉３の裏面に基板ユニット５を４つ装着している。

該基板ユニット５は、図２のシステム構成を示す一部断面図に示すように、基板７（７ａ〜７ｄ）の外周を透明の強化プラスチック６で囲繞して保護して形成している。

各基板７にはＲＦ−ＩＤユニット３０（３０ａ〜３０ｄ）をそれぞれ装着している。なお、１つの基板７に１つのＲＦ−ＩＤユニット３０を装着して１つの基板セットを構成しており、この基板セットを基板７の数（この実施形態では４つ）だけ備えている。

該ＲＦ−ＩＤユニット３０は、小型ユニット化した形状に形成しており、基板７に垂直に装着している。このように垂直に装着することにより、読取装置５０からコイル３５（後述の図４）に印加される電磁波を効率よく受信することができる。

このＲＦ−ＩＤユニット３０を備えた基板ユニット５と、該ＲＦ−ＩＤユニット３０と無線通信を行う読取装置５０とで、不正基板検出システム１を構成している。

なお、各基板ユニット５に備えている基板７は全て異なるものであり、基板ユニット５ａは主基板７ａを備え、基板ユニット５ｂは電源基板７ｂを備え、基板ユニット５ｃは副基板７ｃを備え、基板ユニット５ｄは賞球基板７ｄを備えている。

前記主基板７ａは、ＣＰＵ等の電子部品を配設した電装基板であり、大当たりの確率制御等の制御動作を実行する。
前記電源基板７ｂは、平滑コンデンサ等の電子部品を配設した電装基板であり、外部から供給される電力を適切な動作電力に変換し、各基板７へ電力を供給する。
前記副基板７ｃは、ＣＰＵ等の電子部品を配設した電装基板であり、主基板７ａで実行する制御以外の制御（例えば音声制御等）を行う。

前記賞球基板７ｄは、スイッチ素子等の電子部品を配設した電装基板であり、賞球払出装置の払出制御を実行する。

読取装置５０は、携帯して使用可能なようにハンディタイプの小型に形成している。

以上の構成により、遊技面扉３の施錠でＲＦ−ＩＤユニット３０に物理的に触れることを困難にしており、ＲＦ−ＩＤユニット３０のデータ改竄等を防止している。不正基板でないか判定する際には、遊技面扉３を開け、読取装置５０で検査することができる。

また、無線通信で通電時間を取得することができるため、接点不良がなく信頼性の高いデータを取得することができる。

また、基板７は、プリント基板上に電子部品が高密度に実装されて小型化され、短絡事故、感電防止、不正行為防止のため、ＲＦ−ＩＤユニット３０を含めて電子装置を底面開放のボックス状の透明カバー（強化プラスチック６）で保護している。

このように保護された基板７に対して、透明カバーの外から無線通信して通電時間を取得することができるため、基板７のセキュリティを保った上で検査を行うことができる。

次に、図３に示す回路図と共に、基板７の１つとして前記電源基板７ｂの回路構成について説明する。該電源基板７ｂは、次の各電子部品で構成する。

コネクタ２１は、交流２４ボルトの電源に接続するコネクタである。
スイッチ２２は、電源のＯＮ／ＯＦＦを切替えるスイッチである。
ヒューズ２３は、大きな電流が流れてきた場合に各電子部品を保護する。
フィルタ２４は、電源に含まれているノイズを除去する。

整流回路２５は、ダイオードブリッジによる全波整流回路である。
ダイオードＤ１，Ｄ２，Ｄ３は、電流を片方向のみ流す半導体部品である。
平滑コンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６は、直流電流を貯めて平滑にする。

ＤＣ／ＤＣコンバータ２６，２７は、直流電圧入力から異なる電圧の電源を作り出すコンバータであり、ＤＣ／ＤＣコンバータ２６はＤＣ１２Ｖの電源を、ＤＣ／ＤＣコンバータ２７はＤＣ５Ｖの電源を作り出す。
ＲＦ−ＩＤユニット３０は、電子部品である平滑コンデンサＣ１への通電時間を積算するユニットであり、詳細は後述する。

以上の回路により、電源基板７ｂは、前述した表示装置や駆動装置等、稼動電圧の異なる各装置に対して適切な電圧で直流若しくは脈流を供給することができる。

電源基板７ｂにはＲＦ−ＩＤユニット３０を接続しているため、電源基板７ｂの通電時間をＲＦ−ＩＤユニット３０に記憶することが可能となる。

なお、ＲＦ−ＩＤユニット３０は、電源基板７ｂ内で最も寿命が短く経時変化する部品である平滑コンデンサＣ１〜Ｃ６の１つ（Ｃ１）に対して取り付けているため、該平滑コンデンサＣ１への通電時間に基づく電源基板７ｂの寿命判別も可能となる。

次に、図４に示す回路ブロック図と共に、前記ＲＦ−ＩＤユニット３０の回路構成について説明する。
ＲＦ−ＩＤユニット３０は、前記電源基板７ｂの平滑コンデンサＣ１に通電するＶｃｃとＧＮＤにそれぞれ接続する接続端子３１を備えており、該接続端子３１からの回路に次の各構成要素を接続して構成する。なお、該ＲＦ−ＩＤユニット３０は、基板７のＶｃｃとＧＮＤに接続端子３１を接続しても良い。

電力切替回路３２は、ＲＦ−ＩＤユニット（通電時間計測装置）３０に電源基板７ｂからの電力が供給されているか否か、すなわちＶｃｃが規定電圧であるか否かを判断する。電源基板７ｂから電力が供給されている場合は、電源基板７ｂからの電力をＲＦ−ＩＤユニット３０内部に供給し、電源基板７ｂから電力が供給されていない場合は、コイル３５が受けた電磁波から電力変換回路３４で得た起電力を、ＲＦ−ＩＤユニット３０内部に供給できるように接続を切替える。

変調回路３３は、デジタルデータをアナログ信号に変調する。
電力変換回路３４は、コイル３５に印加された電磁波を電力に変換する。
コイル３５は、外部装置（後述する読取装置５０等）と電磁波による通信を行う。

復調回路３６は、アナログ信号をデジタルデータに復調する。
クロック３７は、通電時間を計測するための基準クロックを発生する。処理回路（ＣＰＵ）３９の動作用タイミングを決めるクロックとして、処理回路３９にクロックを供給する。なお、処理回路３９は、クロック３７とは別途のクロックで動かしても良い。

カウンタ３８は、クロック３７からのパルス数を数える。なお、この機能は処理回路３９で実現しても良い。この場合、クロック３７からの信号数を数える、あるいは、処理回路３９内部でソフトウェア（プログラム）により時間計測すると良い。

処理回路３９は、電力が電源基板７ｂもしくは、電子部品（電装部品）に供給されている場合には、不揮発性メモリ４０に格納されている通電時間を読み込み、ある一定時間通電状態が継続された後、読み込んだ通電時間に経過時間を加算し、その結果を不揮発性メモリに格納する。電磁波による外部からの通信があった場合は、電磁波に含まれている処理命令に従って動作する。
不揮発性メモリ４０は、処理回路３９での処理結果を格納する。また、処理回路３９の動作手順（プログラム）を格納している。

以上の構成により、ＲＦ−ＩＤユニット３０は、接続端子３１を接続した基板７の通電時間を測定し、所定間隔で累積した通電時間を不揮発性メモリ４０に蓄積しておくことができる。蓄積した通電時間は、電磁波による無線通信で外部装置に送信することができる。

また、不揮発性メモリ４０に通電時間を蓄積することで、ＲＦ−ＩＤユニット３０に対する電源供給がなくなった場合でもデータ消失を防止することができる。

また、遊技機２が解体されて電源基板７ｂが単体となった場合でも、ＲＦ−ＩＤユニット３０を電源基板７ｂに直接接続しており、さらにＲＦ−ＩＤユニット３０は読取装置５０から起電力が得られるため、問題なく通電時間を取得することができる。

また、ＲＦ−ＩＤユニット３０の処理回路３９は、電力切替回路３２によって電力変換回路３４が電力供給している場合のみ通電時間の送信処理を実行する構成となり、通電時間が不正に取得されることを防止できる。

なお、不揮発性メモリ４０内には、後述の読取装置５０により、基板７のシリアルナンバーを記憶させることもできる。

次に、図５に示すデータ格納イメージ図、および図６に示す処理フロー図と共に、ＲＦ−ＩＤユニット３０の処理回路３９の動作である通電時間蓄積処理について説明する。
不揮発性メモリ４０は、図５に示すように１〜Ｍまでの複数の区画（メモリ領域）に区分けされている。

各区画は、適宜のビット単位（例えば８ビットで１区画）で分けられており、最先のビット部分に近い区画から順に、通電時間を格納できるように構成している。

以上の構成により、各区画に通電時間を所定期間毎に順番に格納することが可能となり、所定期間毎に区画を書込み不可能にロックすることも可能となる。

次に、図６の処理フロー図と共に、ＲＦ−ＩＤユニット３０の通電時間蓄積処理について説明する。
電源基板７ｂに通電されて平滑コンデンサＣ１（図３）に通電されると、ＲＦ−ＩＤユニット３０にも通電されて処理を開始する。

処理回路３９は、不揮発性メモリ４０にアクセスして、通電時間蓄積プログラムを起動し、最新のメモリデータ（例えば１７時間）を読み込む（ステップｎ１）。

ここで、前記通電時間蓄積プログラムは、通電時間データの読込処理と書込処理、書込み区画の変更処理、書込み区画の変更前の区画に対するロック処理を処理回路３９に実行させるプログラムであり、不揮発性メモリ４０に格納している。

前記メモリデータの読み込み処理は、例えば不揮発性メモリ４０の内部にＮ＋６番目の区画までデータが格納されていたとすると、Ｎ＋６番目の区画に格納している通電時間データを読み込む。
なお、Ｎ番目の区画には１ヶ月目のデータ（例えば２０日×８時間＝１６０時間等）を格納しており、Ｎ＋６番目の区画は７ヶ月目のデータに該当する。

処理回路３９は、クロック３７及びカウンタ３８で計測している時間が所定時間（例えば１時間）となるまで待機した後（ステップｎ２）、読み込んだＮ＋６番目の区画への最初の書込みから、所定期間（例えば１ヶ月若しくは２０日等）が経過しているか確認する（ステップｎ３）。

所定期間が経過していた場合には、読み込んだ区画（この場合Ｎ＋６番目の区画）に書込みができないように、書込禁止処理を実行する。これと共に、新規区画である次の区画（この場合Ｎ＋７番目の区画）に経過時間を格納する（ステップｎ４）。

前記ステップｎ３で所定期間が経過していなかった場合には、読み込んだメモリデータ（この場合は１７時間）に経過時間（すなわち１時間）を加算した合計時間（すなわち１８時間）を上書きし（ステップｎ５）、ステップｎ１にリターンして一連の処理を繰り返す。

以上の動作により、積算している通電時間は定期的に書込み禁止区画となっていき、誤動作や不正処理によって、不揮発性メモリ４０に格納している通電時間が実際の値と大きく異なることを防止することができる。

すなわち、各区画に格納されている通電時間は、最小値及び最大値が決まっており（例えば所定期間が２０日であれば０時間以上４８０時間以下）、その範囲外の値であれば誤りか不正であることが判定できる。また、その範囲内で不正変更があったとしても、その影響は無視できる程度（例えば寿命が３年であるのに対して誤差２０日等）であり、書込み禁止区画については不正更新することもできない。

ＲＦ−ＩＤユニット３０は電源基板７ｂに直接取り付けており、遊技機２にセットした最には遊技面の裏側に位置するため、遊技面の蓋部を開けない限り外部からＲＦ−ＩＤユニット３０にアクセスすることはできない。

このようにして、電装基板の一種である電源基板７ｂの通電時間を安全に蓄積し、不正基板に替わっていないことを検出できる。また、後のリサイクル可否の判断も適切に行うことができる。

次に、図７に示す回路ブロック図と共に、読取装置５０の回路構成について説明する。
読取装置５０は、処理回路５４に次の各構成要素を接続して構成する。

コイル５１は、ＲＦ−ＩＤユニット３０と通信するアンテナ部分であり、ＲＦ−ＩＤユニット３０へのデータ送信だけでなく、ＲＦ−ＩＤユニット３０に対して電磁波により電力供給を行う役割も果たす。

変調回路５２は、処理回路５４で作成された送信データを変調し、コイル５１へ送信する。従って、前記コイル５１は、この変調された送信データをＲＦ−ＩＤユニット３０に送信する。

復調回路５３は、ＲＦ−ＩＤユニット３０からデータを受信する場合に、コイル５１で受信した信号を復調回路５３で復調し、処理回路５４へ送る。

処理回路５４は、ＲＦ−ＩＤユニット３０との通信処理を制御し、また不正基板か否かを判定する判定処理（後述）を実行する。

開始スイッチ５５は、係員の押下により前記判定処理の開始の入力を受け付ける。
終了スイッチ５６は、係員の押下により前記判定処理の終了の入力を受け付ける。

表示器５７は、液晶表示装置であり、操作の指示や判定結果を表示する。
ＲＯＭ５９は、前記処理回路５４で実行するプログラムや初期データを格納する。
ＲＡＭ６０は、一時的なデータの格納を実行する。

以上の構成により、ＲＦ−ＩＤタグ３０に電力供給を行い、該ＲＦ−ＩＤタグ３０と通信することができる。

次に、図８に示す処理フロー図と共に、蓄積した通電時間の送信処理について説明する。
読取装置５０から電磁波が印加されると、該電磁波をＲＦ−ＩＤユニット３０のコイル３５が受信し（ステップｓ１）、電力変換回路３４で電力に変換する（ステップｓ２）。

変換して得た電力によってＲＦ−ＩＤユニット３０の処理回路３９が起動し、コイル３５を介して受信した信号が規定に従ったデータ送信要求信号か否かを判定する（ステップｓ３）。

規定に従ったデータ送信要求信号であれば、処理回路３９は不揮発性メモリ４０の各区画から全ての通電時間を読出し、全通電時間とＲＦ−ＩＤユニット３０のシリアルナンバー（ＩＤ）とを、コイル３５を介して送信する（ステップｓ４）。

前記ステップｓ３で受信した信号が規定外であった場合には、応答を行わず処理を終了する（ステップｓ５）。

以上の動作により、電源基板７ｂに電力供給していなくても、ＲＦ−ＩＤユニットは読取装置５０からの電磁波の印加により電力変換回路３４で起電力を得、通電時間を読取装置５０に送信することができる。

次に、図９に示す処理フロー図と共に、読取装置５０の処理回路５４が実行する判定処理（検査処理）の動作について説明する。
係員によって開始スイッチ５５が押下されると（ステップｔ１）、読取装置５０はコイル５１によりＲＦ−ＩＤユニット３０から通電積算時間（蓄積した通電時間を積算した合計時間）の読み出しを実行する（ステップｔ２）。

このとき、アンチコリジョン処理（衝突回避処理）により、１つの遊技機２に備えた全ての基板７のＲＦ−ＩＤタグ３０から通電積算時間を読み出す。なお、通信距離を短く設定している場合には、基板７毎に読取装置５０を近づけて順番に読み出す処理を行っても良い。

読み出した通電積算時間は、ＲＡＭ６０に一次記憶する（ステップｔ３）。

終了スイッチ５６が押下されるまではステップｔ２に戻って処理を繰返し（ステップｔ４）、終了スイッチ５６が押下されると、各基板７の通電積算時間の最大値と最小値を抽出する（ステップｔ５）。

最大値−最小値を求めて通電時間差を算出し、該通電時間差が所定の基準値内におさまっているか確認する（ステップｔ６）。なお、前記通電時間差は、予め定めた固定値でもよく、また、最大値の通電積算時間に対応して変化する所定比率値でも良い。また、基板７の通電時間の平均値とそれぞれの基板の通電時間との通電時間差としても良い。

基準値内におさまっていなかった場合は、表示器５７に「ＥＲＲＯＲ」と表示（ステップｔ７）して処理を終了し、基準値内におさまっていた場合は、表示器５７に「ＯＫ」を表示する（ステップｔ８）。

以上の動作により、前記基板７の通電積算時間を取得し、不正基板に変えられていないか検査して、検査結果を表示することができる。

すなわち、図１０の説明図の（Ａ）に示すように、通常は各基板７の通電時間は全てほぼ同一となるはずである。通電時間がこのように全てほぼ同一であれば、検査結果として読取装置５０の表示器５７に判定ＯＫと表示する。

しかし、不正基板に交換された場合には、（Ｂ）に示すように一部の基板７の通電時間が一致せず、通電時間差が基準値より大きくなる。例えば図示の例では、通電時間差が１５２時間となり、基準値を例えば１０時間と設定していれば通電時間差が基準値を大幅に超過している。従って、通電時間がこのように一部でも異なれば、検査結果として読取装置５０の表示器５７に判定ＥＲＲＯＲと表示する。

読取装置５０の表示器５７には、それぞれの基板７の通電時間を表示しているため、判定ＥＲＲＯＲと表示した場合、係員はどの基板７が不正基板かを判定することができ、手早く簡単に検査することができる。

さらに、応答するのは予め定められたデータ送信要求信号を受信した場合に制限し、送信するデータもシリアルナンバーと通電時間に制限しているため、遊技機内のデータ流出や遊技機内のメモリ等、他の電子部品に不正アクセスされることを防止することができる。

また、通電時間を記憶していくため、基板７の寿命を判別することが可能となる。このため、基板７の耐用年数の残年数を把握し、有効にリサイクル利用することができ、遊技面を変更するマイナーチェンジや本体枠を変更するフルモデルチェンジ等、適宜入れ替えが行われるライフサイクルの短い遊技機のコストダウンを図ることができる。

また、電源基板７ｂは、他の電装基板（例えば遊技用基板等）に比べて温度上昇の割合が大きいが、この電源基板７ｂの平滑コンデンサＣ１の通電時間を取得することで、電装基板の中で最も寿命の短い電源基板７ｂの残り寿命を確実に知ることができる。

また、通電時間の計測対象を、仕様上の寿命に加えて周囲温度等を考慮して平滑コンデンサＣ１に決定していることで、電源基板７ｂに対して精度の高い寿命判定を行うことができる。

なお、読取装置５０で通電時間をＲＦ−ＩＤユニット３０から読み出す際には、通電時間が格納されている各区画の通電時間を受信して読取装置５０側で加算しているが、ＲＦ−ＩＤユニット３０の処理回路３９で加算処理した合計値を読取装置５０に送信する構成としても良い。

また、ＲＦ−ＩＤユニット３０の不揮発性メモリ４０には、通電時間を暗号化して記憶する構成としても良い。これにより、セキュリティを高めることができる。

また、コイル３５に替えて接点端子を備え、読取装置５０にもアンテナコイルに替えて接点端子を備えても良い。この場合、無線通信の変わりに接触通信を行い、ＲＦ−ＩＤユニット３０の動作電力を読取装置５０から付与する構成としても良い。

また、ＲＦ−ＩＤユニット３０は、無線通信を行うＲＦユニット、又は、集積回路（ＩＣ）を備えたＩＣユニットとして構成しても良い。

また、ＲＦ−ＩＤユニット３０のシリアルナンバーは、電源基板７ｂ等の基板７の種別（タイプ）を判別可能なルールをつけて構成しても良い。この場合、読取装置５０の不揮発性メモリ内に、基板７毎のシリアルナンバーと寿命時間を記録しておけば、受信したタグＩＤと通電時間から、電装基板のタイプに応じた寿命を割り出すことができる。

また、ＲＦ−ＩＤユニット３０には予め基板７の寿命時間を持たせ、通電時間を減算していく構成としても良い。この場合は、残寿命時間を読取装置５０で受信することができ、読取装置５０は電装基板のタイプにかかわらず同一処理で残寿命時間を取得することができる。

また、寿命をランプやブザーで報知する構成としても良い。この場合、残寿命期間に従って、例えば３／４以上の残寿命時間であればゆっくりとした点滅点灯又は断続音、１／２以上であれば少し早めの点滅点灯又は断続音、１／４以下であれば早い３回点滅点灯の繰り返し又は早い３回断続音の繰り返しとすると良い。さらに、不正を検出した場合には、連続点灯又は連続音とすると良い。

次に、第２の実施形態として、一部の基板７での故障発生等に対応した場合について説明する。

この場合、読取装置５０はＲＦ−ＩＤユニット３０内のデータを書換可能に構成する。すなわち、図７に示した処理回路５４は、ＲＦ−ＩＤユニット３０のデータ更新を行う更新コマンドを作成し、該更新コマンドを変調回路５２で変調してコイル５１から送信してデータ書換処理を実行する。

この書き換えのセキュリティを高めるため、図７に仮想線で示したように、読取装置５０には個人照合器５８を備える。該個人照合器５８は、図１１の斜視図に示すように、ログインＩＤ番号（人物識別情報）や暗証番号（認証情報）の入力を受け付ける入力キー５８ａで構成する。該入力キー５８ａは、０〜９のテンキーで形成する。

これにより、読取装置５０の操作を許可した者だけが使用できることとなり、セキュリティを高めることができる。なお、前記個人照合器５８は、磁気カードを読み込むカードリーダ、又は、指紋（バイオメトリクス情報）により個人認証を行う指紋照合器（バイオメトリクス認証装置）等、個人を照合できる他の装置で構成しても良い。

次に、図１２に示す読取装置５０の処理回路５４の動作を示す処理フロー図と共に、上述したＲＦ−ＩＤユニット３０のデータ書換処理について説明する。

まず、処理回路５４は係員に対して照合データの入力を要求し、前記入力キー５８ａでログインＩＤ番号と暗証番号の入力を受け付ける（ステップｕ１）。

処理回路５４は入力されたログインＩＤ番号と暗証番号から係員（作業者）が登録済み人物であるか否かを判定し（ステップｕ２）、登録済み人物であればＲＦ−ＩＤユニット３０のロック機能を解除する（ステップｕ３）。

このロック機能の解除は、ロック解除コマンドを処理回路５４が変調回路５２及びコイル５１を解してＲＦ−ＩＤユニット３０に送信して実行する。

処理回路５４は、データ更新コマンドを送信し、ＲＦ−ＩＤユニット３０の通電時間を０時間にクリアする（ステップｕ４）。

前記ステップｕ２で登録済み人物でなかった場合には、表示器５７に「ＥＲＲＯＲ」と表示して処理を終了する（ステップｕ５）。

他の構成及び動作については、前述した第１の実施形態と同一であるので、同一要素に同一符号を付してその詳細な説明を省略する。

以上の構成及び動作により、一部の基板７に故障等が発生して該基板７を交換した場合に、その遊技機２に備えた全ての基板７のＲＦ−ＩＤユニット３０に記憶している通電時間を０にクリアすることができる。従って、故障によって交換した基板７の通電積算時間が他の基板７の通電積算時間と異なって不正基板と判定してしまうことを防止することができる。

なお、通電時間を０にクリアすることに変えて、基板７の交換時点で通電積算時間の算出起点を変更する構成としても良い。

具体的には、基板７の交換時に処理回路５４に算出起点変更処理を実行させ、不揮発性メモリ４０の空いている区画で一番若い番号の区画に算出起点であることを示す算出起点データを書込むと良い。

これにより、実際の通電時間は保持したまま、不正基板の検出に利用する通電積算時間の起算点を一部の基板７の交換時に統一設定し、ＲＦ−ＩＤユニット３０で基板７の寿命判定と不正基板の検出とを可能にすることができる。

次に、第３の実施形態として、通電時間ではなく基板７のシリアルナンバーを比較して不正基板を検出する場合について説明する。

この場合、主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａには、図１３の説明図に示すように他の基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーを格納する。

すなわち、ＲＦ−ＩＤユニット３０（３０ａ〜３０ｄ）には、図中の（Ｃ）、（Ｄ）、（Ｅ）、（Ｆ）に示すように自己の装着された基板７のシリアルナンバーを格納しており、主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａには、（Ａ）に示すようにさらに他の基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーを格納している。

これにより、主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａで他の基板７ｂ〜７ｄを管理することを可能としている。

この第３の実施形態では、図１４の処理フロー図に示すように、読取装置５０で判定処理を実行する。

係員によって開始スイッチ５５が押下されると（ステップｗ１）、読取装置５０はコイル５１により主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａから他の基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーの読み出しを実行する（ステップｗ２）。
読み出したシリアルナンバーは、ＲＡＭ６０に一次記憶する（ステップｗ３）。

さらに、読取装置５０は他のＲＦ−ＩＤユニット３０ｂ〜３０ｄから各ＲＦ−ＩＤユニット３０ｂ〜３０ｄが備えられた基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーを読み出し（ステップｗ４）、該シリアルナンバーをＲＡＭ６０に一次記憶する（ステップｗ５）。

終了スイッチ５６が押下されるまではステップｗ４に戻って処理を繰返し（ステップｗ６）、終了スイッチ５６が押下されると、基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーが主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａに格納されていたシリアルナンバーと一致するか比較する（ステップｗ７）。

全てのシリアルナンバーが一致した場合には、表示器５７に「ＯＫ」を表示して不正基板が無いことを係員に通知し（ステップｗ８）、１つでもシリアルナンバーが不一致であった場合には表示器５７に「ＥＲＲＯＲ」を表示して不正基板があることを係員に通知する（ステップｗ９）。

他の構成及び動作については、前述した第１の実施形態と同一であるので、同一要素に同一符号を付してその詳細な説明を省略する。

以上の構成及び動作により、図１５の説明図に示すように、シリアルナンバーを比較して各基板７がいずれも正規の基板７であるか、それともいずれか１つ以上が不正基板となっているかを検査することが可能となる。

すなわち、正常であれば図中の（Ｇ）に示すように基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーが主基板７ａに格納しておいた各基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーと一致し、正常であると判定できる。

（Ｈ）に示すように、例えば副基板７ｃが不正基板に入れ替えられたような場合には、副基板７ｃのシリアルナンバーと、主基板７ａに格納している副基板７ｃのシリアルナンバーとが不一致となり、当初装着した副基板７ｃと異なることが判定できる。

なお、基板７の一部を故障等により取替えた場合には、主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａに記憶した他の基板７ｂ〜７ｄのシリアルナンバーを交換した基板７のシリアルナンバーに更新すればよい。

また、各ＲＦ−ＩＤユニット３０には、他の全ての基板７のシリアルナンバーを格納しても良い。この場合は、より強固にセキュリティを確保することができる。

また、比較に使用する情報を、前記シリアルナンバーに替えて、各基板７のシリアルナンバー、ロットナンバー、及びメーカー名等、基板７に関する複数の情報に設定しても良い。また、基板７の情報ではなく、各ＲＦ−ＩＤユニット３０のシリアルナンバー、ロットナンバー、又はメーカー名、あるいはこれらの複数の情報で構成しても良い。さらには、基板７の情報とＲＦ−ＩＤユニット３０の情報とを合わせて攻勢しても良い。このように複数の情報とすることで、セキュリティを高めることができる。

また、この第３の実施形態においては、図１６の説明図に示すように、主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０ａに更新の履歴データを記憶させるように構成しても良い。

この場合、初期状態では図中の（Ｉ）に示すように各基板７の変更回数をそれぞれ０回と記憶し、更新者の履歴も無しと記憶しておく。

故障等により例えば副基板７ｃを交換した場合、読取装置５０により主基板７ａのＲＦ−ＩＤユニット３０に記憶している履歴データを更新する。

更新内容は、（Ｊ）に示したように、変更履歴の副基板７ｃに対応する部分に新しい副基板７ｃのシリアルナンバーを上書きし、変更回数を１回と書き換える。更新者情報には、更新を行った係員のログインＩＤ番号を格納する。

これにより、不正基板と交換基板とを明確に識別することができ、また交換の履歴を残して各基板７の状態を明確に把握することが可能となる。

なお、この発明は、遊技機に装着の電子装置の所定部位に接続する接続手段と、時間を計測する計測手段と、情報を記憶する記憶手段と、前記電子装置に関する通電時間を前記計測手段で計測して該計測に基づく計測情報を前記記憶手段に格納する制御手段と、外部から要求を受け付ける受付手段と、該要求に基づいて上記計測情報を出力する出力手段とを備えた電子部品通電時間出力装置とすることができる。

前記電子装置は、電解コンデンサ（平滑用コンデンサ）やＤＣ／ＤＣコンバータ等の電子部品を装着した電装基板、又は上記電子部品等、電子的な装置で構成することを含む。

前記所定部位は、上記電子部品への電源線、その他の配線部とすることを含む。
前記接続手段は、上記所定部位に接続する接点端子等、電気的に接続する手段で構成することを含む。

前記通電時間は、電子装置内の１以上の電子部品に対する通電時間、あるいは電子装置全体に対する通電時間で構成することを含む。なお、該通電時間は、電子装置内で寿命が短い電子部品や通電時間が長い電子部品に対する通電時間とすることができ、特に寿命が短い電子部品を対象とすることが望ましい。

前記計測情報は、前記通電時間そのもの、あるいは、前記通電時間に対して既に記憶手段に格納している過去の通電時間を加算したもの、若しくは予め記憶手段に格納された寿命時間から前記通電時間を減算した残寿命時間、あるいはこれらの時間を後の処理（例えば外部機器での算出処理等）で判別可能な数値等、計測に基づく情報で構成することを含む。
前記受付手段は、データ受信を行う受信手段（若しくはデータを送受信する通信手段）で構成することを含む。なお、ボタン押下を受け付ける押下ボタンやスイッチＯＮを受け付けるスイッチ等の入力手段で構成しても良い。
前記信号は、データ送信を要求されるデータ信号、あるいは、コマンドを含んだコマンド信号で構成することを含む。

前記出力手段は、データ送信を行う送信手段（若しくはデータを送受信する通信手段）で構成することを含む。なお、ＬＥＤ等の発光体やディスプレイといった表示手段（若しくは表示ランプ）、又は、音声を出力するスピーカ等の発音手段で構成しても良い。

前記出力は、前記通信手段でのデータ送信とすることを含む。なお、該出力は、ＬＥＤ等の発光体を備えて該発光体を発光させる光出力、あるいは、スピーカ等の発音体を備えて該発音体を発音させる音声出力等で構成し、所定条件（例えばリサイクル不可能条件や短期リサイクル可能条件等）に合致したことを報知するように構成しても良い。

これにより、係員は発光体の点灯や発音等によって不正基板であるか否かを簡単に知ることができる。

この発明の態様として、前記電子装置を、電子部品を配設した電装基板とし、前記接続手段を、上記電子部品の電源線（電源ライン）に接続可能に構成することができる。
前記電装基板は、遊技機の電源用の電装基板等で構成することを含む。

前記電子部品は、電解コンデンサやＤＣ／ＤＣコンバータ等の電子的な部品で構成することを含む。なお、寿命が最も短い電子部品（例えば寿命が短い電解コンデンサ等）や、通電時間が最も長い電子部品等、最短寿命を計測するに適切な電子部品を対象とすることが望ましい。
前記電源線は、電子部品に電力を供給する配線で構成することを含む。

またこの発明の態様として、前記受付手段及び出力手段を、外部と通信を行う通信手段で形成することができる。
前記通信手段は、無線で通信可能な無線通信手段、あるいは、接続端子や接続インタフェース等、有線で通信可能な有線通信手段で構成することを含む。

上記無線通信手段は、電磁波を利用して無線通信するＲＦ−ＩＤタグのアンテナ若しくはコイルアンテナ、又は赤外線を利用して無線通信する赤外線通信装置等、無線通信を行う通信手段で構成することを含む。

なお、無線通信手段で構成する場合には、外部から印加された電磁波により起電力を得る電源手段を備えることが望ましい。また、有線通信手段で構成する場合には、外部から有線通信手段若しくは他の端子等を介して電力供給を受ける構成とするか、ボタン電池等の電源手段を備えていることが望ましい。

この発明の構成と、上述の実施形態との対応において、
この発明の基板は、実施形態の主基板７ａ、電源基板７ｂ、副基板７ｃ、及び賞球基板７ｄに対応し、
以下同様に、
記憶ユニットは、ＲＦ−ＩＤユニット３０に対応し、
管理データは、ＲＦ−ＩＤユニット３０ａに記憶したＲＦ−ＩＤユニット３０ｂ〜３０ｄのシリアルナンバーに対応し、
識別データは、ＲＦ−ＩＤユニット３０ｂ〜３０ｄのシリアルナンバーに対応し、
送信手段は、コイル３５に対応し、
計測手段は、クロック３７及びカウンタ３８に対応し、
制御手段は、処理回路３９に対応し、
記憶手段は、不揮発性メモリ４０に対応し、
読取手段は、コイル５１に対応し、
出力手段は、表示器５７に対応し、
データは、通電時間又はシリアルナンバーに対応するも、
この発明は、上述の実施形態の構成のみに限定されるものではなく、多くの実施の形態を得ることができる。

遊技機の設置状態を示す斜視図。 不正基板検出システムのシステム構成を示す斜視図一部断面図。 電源基板の回路ブロック図。 ＲＦ−ＩＤユニットの回路ブロック図。 不揮発性メモリ内のデータ格納のイメージ図。 通電時間蓄積処理の処理フロー図。 第２実施形態の読取装置の回路ブロック図。 蓄積した通電時間の送信処理の処理フロー図。 判定処理の処理フロー図。 検査状況の説明図。 個人照合器の斜視図。 データ書換処理の処理フロー図。 第３の実施形態の主基板のＲＦ−ＩＤユニットのデータ内容説明図。 判定処理の処理フロー図。 検査状況の説明図。 検査状況の説明図。

符号の説明

１…不正基板検出システム
２…遊技機
７…基板
７ａ…主基板
７ｂ…電源基板
７ｃ…副基板
７ｄ…賞球基板
３０…ＲＦ−ＩＤユニット
３５…コイル
３７…クロック
３８…カウンタ
３９…処理回路
４０…不揮発性メモリ
５０…読取装置
５１…コイル
５７…表示器

Claims (8)

1. １つの遊技機に備えられる複数の基板のそれぞれに、データを記憶する記憶手段と該データを外部に送信可能にする送信手段とを備えた記憶ユニットを個別に装着しておき、
   各記憶ユニットに記憶のデータを読取装置で読み取って比較し、
   比較結果から各基板の正当性を判定する
   不正基板検出方法。
2. 前記記憶ユニットに時間を計測する計測手段を備えて基板への通電時間を前記データとして前記記憶手段に記憶させ、
   前記比較に上記通電時間を使用する
   請求項１記載の不正基板検出方法。
3. 前記記憶ユニットの１つに、同一遊技機内の他の基板に備えられた各記憶ユニットの識別データを管理データとして記憶させ、
   前記比較に上記管理データと上記識別データとを使用する
   請求項１記載の不正基板検出方法。
4. １つの遊技機に備えた複数の基板と、
   データを記憶する記憶手段及び該データを外部に送信可能にする送信手段で構成して前記基板のそれぞれに個別に装着した複数の記憶ユニットと、
   各記憶ユニットに記憶の各データを読み取る読取手段及び該データ同士を比較出力する出力手段で構成する読取装置とを備えた
   不正基板検出システム。
5. 前記記憶ユニットに、時間を計測する計測手段と、前記データとして前記基板への通電時間を前記記憶手段に記憶させる制御手段とを備え、
   前記出力手段での比較出力の対象に、上記通電時間を設定した
   請求項４記載の不正基板検出システム。
6. 前記記憶ユニットの１つに、記憶手段に記憶する管理データとして同一遊技機内の他の基板に備えられた記憶ユニットの識別データを設定し、
   前記出力手段での比較出力の対象に、上記管理データと上記識別データとを設定した
   請求項４記載の不正基板検出システム。
7. 請求項１から６のいずれか１つに記載の不正基板検出方法又は不正基板検出システムで使用する
   読取装置。
8. 請求項１から６のいずれか１つに記載の不正基板検出方法又は不正基板検出システムで使用する記憶ユニットを複数の基板に装着した
   遊技機。
   

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