JP2005135570A - 感知増幅器を具備する半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 CSLイネーブル信号に応答してデータをサンプリングするためのFRPを生成するFRP生成器と、FRP信号に応答してFRP信号のイネーブル区間内で多数のFRP1を生成するFRP1生成器と、メモリセルから出力されるデータ値を受信し、CSL信号に同期してデータ値を増幅し、FRP1のイネーブル信号に同期してデータ値をサンプリングする電圧入出力感知増幅器とを具備する。
【選択図】 図5
Description
また、判読時間と記録時間とが徐々に短くなることから正確なデータの判読と記録のための技術が必要とされている。
特に、半導体メモリ装置の場合、判読信号とサンプリング信号との間でデータ値の信号が所定範囲に増幅されるまでの絶対マージンが必要である。しかし、駆動用電源電圧の変動や温度の変化などにより、このような間隔が変化する場合がある。したがって、電圧変動及び温度変化の影響を考慮して十分な間隔を置く場合には、全体的な判読タイミングと記録タイミングとが長くなるという問題が生じる。
従来の一般的な入出力感知増幅器100は、電圧入出力感知増幅器(Voltage IO S/A)101、判読パルス(First Read Pulse;FRP)生成器102及び三状態ドライバ制御器103などを含む。
FRP生成器102は、外部クロックCLKの入力でデータをサンプリングするための FRPを生成し、FRPを電圧入出力感知増幅器101及び三状態ドライバ制御器103などに出力する。
このような従来の感知増幅器では、一度のサンプリング動作でデータ判読動作の成否を決定しうる絶対マージンが必要である。
カラム選択ライン(CSL)がイネーブルになれば、データ値SGIO及び/SGIOが増幅され始める。データ値がデータを充分に正確に読めるような所定大きさ(約100mV)になると、FRPがイネーブルされる。そして、このようなFRPに同期してデータが1回サンプリングされる。
図3を参照すれば、電源電圧VDDの増加により、CSLがイネーブルになるタイミングが小さくなる。すなわち、CSLは電源電圧VDDが1.6Vである時は9.033nsでイネーブルになり、電源電圧VDDが2.5Vである時は5.378nsでイネーブルになる。また、電源電圧VDDの増加により、FRPがイネーブルになるタイミングも小さくなる。すなわち、FRPは、電源電圧VDDが1.6Vである時は12.284nsでイネーブルになり、電源電圧VDDが2.5Vである時は7.221nsでイネーブルになる。
これと共に、電源電圧VDDが増加すれば、CSLとFRPとの間の遅延(マージン)も小さくなる。電源電圧VDDが1.6Vである時は、マージンがほぼ3.251nsになるが、電源電圧VDDが2.5Vに増加すると、マージンもほぼ1.843nsに小さくなる。
反対に、低い電圧を基準に絶対マージン特性を保証すれば、半導体装置は低い電圧では適切な速度でデータを誤りなしに判読する。しかし、高い電圧ではCSLとFRPとの間の十分な遅延が保証されない。したがって、データ判読時に誤りが発生しうる。
図4を参照すれば、低い電圧である時のCSLとFRPとの間の遅延401は、高い電圧である時のCSLとFRPとの間の遅延402より大きい。したがって、低い電圧を基準に絶対マージン特性を設定すれば、十分な遅延時間401を通じて低い電圧ではデータを判読するに十分な範囲403でデータ値SGIO及び/SGIOが増幅される。
しかし、高い電圧ではデータ値がデータを正確に判読するのに不十分な範囲404で増幅される。この場合、データ判読時に誤りが発生しうる。
したがって、回路長が短い部分を基準に絶対マージンを設定すれば、回路長が長い部分では不必要にデータ判読タイミングが長くなるという問題が発生する。また、回路長が長い部分を基準に絶対マージンを設定すれば、回路長が短い部分ではデータ判読時に誤りが発生しうるという問題点がある。
また、本発明が達成しようとする他の課題は、半導体装置の温度、電圧、回路長に無関係にデータを速く判読しうる感知増幅器を具備する半導体装置を提供することである。
一実施例で、前記第2判読パルス生成器は、半導体装置のカラムデコーダー領域または入出力感知増幅器領域にそれぞれ分散配置される。
さらに、データをサンプリングできる一つの感知増幅器を通じて一つのデータの判読に多数回データをサンプリングでき、これによりデータ判読時の誤りを防止することができる。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施例を説明することで、本発明を詳しく説明する。各図面に付された同一参照符号は同一部材を示す。
出力データバッファ507は、プルアップトランジスタ509及びプルダウントランジスタ510を含む。プルアップトランジスター509とプルダウントランジスタ510とは、プルアップデータPUとプルダウンデータPDとにそれぞれ応答し、出力データDOUTを電源電圧VDDまたはグラウンド電圧レベルに駆動する。
したがって、出力データバッファ507のプルアップトランジスタ509及びプルダウントランジスタ510が全てターンオフされ、出力データDOUTはハイインピダンス状態または三状態になる。
図6を参照すれば、FRP及びFRP1は、メモリセルで判読された小信号データSGIO及び/SGIOをサンプリングするための信号である。FRP1は、FRP信号に応答し、FRPのイネーブル区間内で二つ以上の小さな幅を有する多数のFRP1を生成する。FRP1は、FRPのイネーブル幅によって2回または3回以上のイネーブル区間を有し、その回数とイネーブルされるタイミングとイネーブルパルスとの間のタイミングとが多様に設定可能となる。
この場合、半導体装置の温度と製造工程でのトランジスタの寸法の差とにより発生するCSLとFRPとの間の間隔が変わっても、正確なデータの判読が可能になる。
FRP1生成器503は、FRP1のイネーブル幅を決める遅延回路D1、D3と、イネーブル区間の幅を決める遅延回路D2とを含む。
図7Bを参照すれば、FRP1は、FRPがイネーブルになる区間だけで生成される。すなわち、従来の技術でFRPに同期してデータがサンプリングされる区間だけでデータがサンプリングされる。本発明の一実施例であるFRP1生成器503を通じて生成されたFRP1は、二つの連続したパルス形態で現われる。図7Aに示す回路を通じて生成されたFRP1は、イネーブル区間はAになり、イネーブル区間の遅延時間はBになる。
なお、図8はFRPのイネーブル区間内で2個の判読パルスが生成される場合を仮定する。一番目のFRP1は電源電圧VDDの変化に従って破線で表示され、二番目のFRP1は電源電圧VDDの変化に従って点線で表示されている。FRP1もFRPと同じく電源電圧VDDの変化により、CSLとFRP1との間のタイミングがしだいに小さくなる。すなわち、CSLがイネーブルされ、メモリセルアレイから出力されたデータSGIO及び/SGIOが増幅されるタイミングが電源電圧VDDの増加によって小さくなる。
FRP1生成器503は、FRP生成器502が位置する場所の近傍に配置することができる。すなわち、FRP生成器502とFRP1生成器503とをペリー層、すなわちセルブロックとカラムデコーダ、感知増幅器が形成される領域以外の領域に形成することができる。また、FRP1生成器503を、カラムデコーダ領域または感知増幅器が多くのグループに分けられた各領域に分散配置させることができる。
図9Aに示すように、FRP1生成器を1ヶ所に形成するより、図9Bに示すように各領域に分散して配置する形態の方がFRP1の幅をより小さく形成することができる。これにより、さらに細密で正確なデータのサンプリングが可能になる。
501 電圧入出力感知増幅器
502 第1判読パルス(FRP)生成器
503 第2判読パルス(FRP1)生成器
504 送信回路
505 ラッチ回路
506 三状態ドライバ制御器
507 出力データバッファ
508 データ判断部
SGIO,/SGIO 小信号データ
IO,/IO データ
PU プルアップデータ
PD プルダウンデータ
DOUT データ出力信号
CLK 外部クロック
VDD 電源電圧
Claims (13)
- カラム選択ライン(CSL)イネーブル信号に応答してデータをサンプリングするための第1判読パルス信号を生成する第1判読パルス生成器と、
前記第1判読パルス信号に応答し、前記第1判読パルス信号のイネーブル区間内で多数の第2判読パルス信号を生成する第2判読パルス生成器と、
メモリセルから出力されるデータ値を受信し、CSL信号に同期して前記データ値を増幅し、前記第2判読パルス信号のイネーブル信号に同期して前記データ値をサンプリングする電圧入出力感知増幅器とを具備することを特徴とする半導体装置。 - 前記半導体装置は、
一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された多数の前記第2判読パルス信号に同期してデータが多数回サンプリングされる途中にサンプリングされたデータが変わる場合には、変わる前のデータを捨てて変わった後のデータをメモリセルに保存されたデータとして判断するデータ判断部をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記データ判断部は、
前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された多数の前記第2判読パルス信号に同期し、多数回サンプリングされたデータ値の頻度数の比較を通じてサンプリングされたデータ値の中で頻度数が大きい値をメモリセルのデータとして判断して出力することを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 前記第2判読パルス生成器は、
一つの第1判読パルスイネーブル区間内で2個のイネーブルパルスを有する前記第2判読パルス信号を生成する請求項1に記載の半導体装置。 - 前記電圧入出力感知増幅器は、
前記半導体装置の動作電圧範囲のほぼ中間の所定電圧が設定され、
前記所定電圧以下では、前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された前記第2判読パルス信号の中で一番目のパルスのイネーブル区間中のデータがサンプリングされ、
前記所定電圧以上では、前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された前記第2判読パルス信号の中で二番目のパルスのイネーブル区間中のデータがサンプリングされることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、
前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された2個の前記第2判読パルス信号の一番目の判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータと二番目の第2判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータとが相異なる場合には、二番目の判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータを半導体メモリセルのデータとして判断するデータ判断部をさらに具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。 - 前記第2判読パルス生成器は、半導体装置のカラムデコーダー領域または入出力感知増幅器領域にそれぞれ分散配置されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- CSLイネーブル信号に応答してデータをサンプリングするための第1判読パルス信号を生成する段階と、
前記第1判読パルス信号に応答して、前記第1判読パルス信号のイネーブル区間内で多数の第2判読パルス信号を生成する段階と、
メモリセルから出力されるデータ値を受信して、CSL信号に同期して前記データ値を増幅する段階と、
前記第1判読パルス信号がイネーブルになる区間中に生成される多数の前記第2判読パルス信号のイネーブル信号に同期してデータ値をサンプリングする段階と、
多数回サンプリングされたデータを比べて実際データ値を判断する段階とを含むことを特徴とする半導体装置のデータ判読方法。 - 前記データを判断する段階は、
前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された多数の前記第2判読パルス信号に同期して多数回データがサンプリングされる途中にサンプリングされたデータが変わる場合には、変わる前のデータを捨てて変わった後のデータをメモリセルに保存されたデータとして判断することを特徴とする請求項8に記載の半導体装置のデータ判読方法。 - 前記データを判断する段階は
前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された多数の前記第2判読パルス信号に同期して多数回サンプリングされたデータ値の頻度数の比較を通じてサンプリングされたデータ値の中で頻度数が大きい値をメモリセルのデータとして判断することを特徴とする請求項8に記載の半導体装置のデータ判読方法。 - 前記第2判読パルス信号を生成する段階は、
一つの第1判読パルスイネーブル区間内で2個の前記第2判読パルス信号を生成することを特徴とする請求項8に記載の半導体装置のデータ判読方法。 - 前記データ値をサンプリングする段階は、
前記半導体装置の動作電圧範囲のほぼ中間の所定電圧が設定され、
前記所定電圧以下では、前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された前記第2判読パルス信号の中で一番目のパルスのイネーブル区間中のデータがサンプリングされ、
前記所定電圧以上では、前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された前記第2判読パルス信号の中で二番目のパルスのイネーブル区間中のデータがサンプリングされることを特徴とする請求項11に記載の半導体装置のデータ判断方法。 - 前記データを判断する段階は、
前記一つの第1判読パルスイネーブル区間中に生成された2個の前記第2判読パルス信号の一番目の判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータと二番目の判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータとが相異なる場合には、二番目の判読パルスイネーブル区間中にサンプリングされたデータを半導体メモリセルのデータとして判断する請求項11に記載の半導体装置のデータ判断方法。
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