JP2005128415A - 電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 電気光学材料に気泡が残留してしまったり、電気光学材料が封止材を乗り越えて外部に漏れ出ることを防止して、所望の電気光学特性を得る。
【解決手段】 加熱装置631の加熱動作を開始し、テーブル65上に載置される下基板10の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように設定した後に、液滴吐出ヘッド66から液晶を吐出、滴下して、シール材52で囲まれた所定位置に液晶50を配置する。液晶50に対して超音波発生装置633により超音波を照射して液晶50を拡散させる。収容空間内を略真空状態とし、各チャック部69,71に保持される各基板10,20の温度が互いに同等の所定温度となるようにして各加熱装置691,711の加熱動作を開始した後、各基板10、20を貼り合わせる。
【選択図】 図10
Description
本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置に関する。
従来、携帯電話等の電子機器におけるカラー画像表示部には、液晶表示装置等の電気光学装置が使用されており、例えば液晶表示装置は、一対の透明基板の間に液晶層が挟持されて構成されている。この液晶表示装置を形成する方法として、インクジェット等の液滴吐出装置やスピンコータを用いて基板上に液晶を塗布する方法が知られている(例えば、特許文献1、特許文献2、特許文献3参照)。これらの方法では、まず、一方の基板の表面周縁部に熱硬化性樹脂等からなるシール材を塗布する。次に、シール材によって周囲を囲まれる領域内に所定量の液晶を塗布する。そして、シール材を介して他方の基板を貼り合わせ、液晶表示装置を形成するようになっている。
ところで、例えば対角1m以上等の大型の基板上に液晶を塗布し、一対の基板同士を液晶層を介して貼り合わせる場合には、液晶層内に気泡が残留してしまったり、液晶がシール材を乗り越えて外部に漏れ出ることによってシール材による密封性が劣化してしまうという問題が生じる場合がある。
これらの問題に対し、例えばシール材の配置状態とほぼ相似形状に液晶を多点滴下することによって、一対の基板を貼り合わせて液晶を拡散させる際に液晶がシール材の内周部全体に均等に到達するように設定する方法(例えば、特許文献1参照)が知られている。
また、例えば液晶を溶媒に溶解させてなる溶液を基板上に塗布し、この後、溶媒を乾燥等によって除去する方法(例えば、特許文献2参照)が知られている。
また、例えば基板上に液晶を滴下した後に、一対の基板を液晶の透明点以上の温度に加熱した状態で貼り合わせる方法(例えば、特許文献3参照)が知られている。
特開昭63−179323号公報
特開平9−80438号公報
特開平9−5762号公報
ところで、例えば対角1m以上等の大型の基板上に液晶を塗布し、一対の基板同士を液晶層を介して貼り合わせる場合には、液晶層内に気泡が残留してしまったり、液晶がシール材を乗り越えて外部に漏れ出ることによってシール材による密封性が劣化してしまうという問題が生じる場合がある。
これらの問題に対し、例えばシール材の配置状態とほぼ相似形状に液晶を多点滴下することによって、一対の基板を貼り合わせて液晶を拡散させる際に液晶がシール材の内周部全体に均等に到達するように設定する方法(例えば、特許文献1参照)が知られている。
また、例えば液晶を溶媒に溶解させてなる溶液を基板上に塗布し、この後、溶媒を乾燥等によって除去する方法(例えば、特許文献2参照)が知られている。
また、例えば基板上に液晶を滴下した後に、一対の基板を液晶の透明点以上の温度に加熱した状態で貼り合わせる方法(例えば、特許文献3参照)が知られている。
しかしながら、上記従来技術において液晶を多点滴下する方法では、滴下位置や滴下量によって液晶層内に気泡が残留してしまったり、液晶がシール材を乗り越えて外部に漏れ出る場合があるという問題が生じる。
また、上記従来技術において液晶を溶媒に溶解させる方法では、液晶の拡散性を向上させることが出来るが、液晶中に溶媒に含まれる不純物が新たに混入してしまう虞がある。
また、上記従来技術において基板を液晶の透明点以上の温度に加熱する方法では、液晶中に含まれる不純物の濃度分布を均一化させる作用があるが、液晶を構成する多種の成分の蒸気圧が互いに異なるため、成分組成が変化してしまい、所望の電気光学特性を得ることが困難になるという問題が生じる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、電気光学材料に気泡が残留してしまったり、電気光学材料が封止材を乗り越えて外部に漏れ出ることを防止して、所望の電気光学特性を得ることが可能な電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置を提供することを目的とする。
また、上記従来技術において液晶を溶媒に溶解させる方法では、液晶の拡散性を向上させることが出来るが、液晶中に溶媒に含まれる不純物が新たに混入してしまう虞がある。
また、上記従来技術において基板を液晶の透明点以上の温度に加熱する方法では、液晶中に含まれる不純物の濃度分布を均一化させる作用があるが、液晶を構成する多種の成分の蒸気圧が互いに異なるため、成分組成が変化してしまい、所望の電気光学特性を得ることが困難になるという問題が生じる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、電気光学材料に気泡が残留してしまったり、電気光学材料が封止材を乗り越えて外部に漏れ出ることを防止して、所望の電気光学特性を得ることが可能な電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決して係る目的を達成するために、本発明の電気光学装置の製造方法は、一対の基板が封止材を介して対向配置されてなり、前記封止材により区画される領域に電気光学材料が封入されてなる電気光学装置の製造方法であって、少なくとも一方の前記基板の温度を所定温度に加熱する加熱工程と、前記電気光学材料を前記一方の基板上に供給する供給工程と、前記電気光学材料が供給された前記一方の基板に前記封止材を介して他方の前記基板を貼り合わせる貼合わせ工程とを含むことを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、所定温度以上に加熱された基板上に電気光学材料が供給されることから、基板上に供給された電気光学材料の粘度を低下させることができる。これにより、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、所望の電気光学性能を有する電気光学装置を製造することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法では、前記封止材は、閉じた環状に形成されてなることを特徴としている。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法では、前記加熱工程は、前記基板の温度が40〜100℃の範囲になるように前記基板を加熱制御することを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、電気光学材料の種類にかかわらずに電気光学材料を所望の粘度状態に設定することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法では、前記加熱工程は、前記供給工程の後で、且つ、前記貼合わせ工程の前に行われることを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、さらに、各基板の熱変形状態を同等の状態に設定することができ、一方の基板と他方の基板との貼り合わせ精度を向上させることができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法では、前記加熱工程は、前記基板の温度が40〜100℃の範囲になるように前記基板を加熱制御することを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、電気光学材料の種類にかかわらずに電気光学材料を所望の粘度状態に設定することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法では、前記加熱工程は、前記供給工程の後で、且つ、前記貼合わせ工程の前に行われることを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、さらに、各基板の熱変形状態を同等の状態に設定することができ、一方の基板と他方の基板との貼り合わせ精度を向上させることができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法は、前記貼合わせ工程の実行に先立って前記一対の前記基板の各温度を同等の温度に加熱制御する加熱制御工程を含むことを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、一方の基板と他方の基板とを貼り合わせるのに先立って各基板の温度を同等の温度に加熱制御しておくことにより、各基板の熱変形状態を同等の状態に設定することができる。これにより、一方の基板と他方の基板との貼り合わせ精度を向上させることができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法は、前記供給工程の前に、前記電気光学材料の温度を所定の温度に加熱する材料加熱工程を含み、前記供給工程において、前記材料加熱工程にて所定の温度に加熱された前記電気光学材料を一方の前記基板上に供給することを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、予め電気光学材料の粘度を低下させることができ、より一層、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法は、前記供給工程にて一方の前記基板上に供給された前記電気光学材料に物理力を作用させる物理作用工程を含み、前記物理力は、少なくとも超音波振動および風圧および遠心力の何れかひとつであること特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、物理力の作用によって電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造方法は、前記供給工程において、前記物理力の作用方向に応じて、前記封止材により区画された一方の前記基板上の所定領域の中心部からずれた位置に前記電気光学材料を供給することを特徴としている。
上記の電気光学装置の製造方法によれば、基板上に供給された電気光学材料に遠心力等の物理力を作用させる場合には、この物理力が電気光学材料に対して作用する方向に応じて、例えばこの作用方向に対する反対方向に向かい所定領域の中心部からずれた位置に電気光学材料を滴下する。これにより、物理力の作用によって電気光学材料が作用方向へ向かい拡散し、所定領域内において電気光学材料がほぼ均一に拡散するようになる。
また、本発明の電気光学装置の製造装置は、一対の基板が封止材を介して対向配置されてなり、前記封止材により区画される領域に電気光学材料が封入されてなる電気光学装置の製造装置であって、少なくとも一方の前記基板の温度を所定温度に加熱する加熱手段と、前記一方の基板上に前記電気光学材料を供給する供給手段と、前記電気光学材料が供給された前記一方の基板に前記封止材を介して他方の前記基板を貼り合わせる貼合わせ手段とを備えることを特徴としている。
上記構成の電気光学装置の製造装置によれば、所定温度以上に加熱された基板上に電気光学材料が供給されることから、基板上に供給された電気光学材料の粘度を低下させることができる。これにより、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、所望の電気光学性能を有する電気光学装置を製造することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造装置は、前記貼合わせ手段にて一方の基板と他方の基板とを貼り合わせるのに先立って前記一対の前記基板の各温度を同等の温度に加熱制御する加熱制御手段を備えることを特徴としている。
上記構成の電気光学装置の製造装置によれば、一方の基板と他方の基板とを貼り合わせるのに先立って各基板の温度を同等の温度に加熱制御しておくことにより、各基板の熱変形状態を同等の状態に設定することができる。これにより、一方の基板と他方の基板との貼り合わせ精度を向上させることができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造装置は、前記電気光学材料の温度を所定の温度に加熱する材料加熱手段を備え、前記供給手段は、前記材料加熱手段により所定の温度に加熱された前記電気光学材料を一方の前記基板上に供給することを特徴としている。
上記構成の電気光学装置の製造装置によれば、予め電気光学材料の粘度を低下させることができ、より一層、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造装置は、一方の前記基板上に供給された前記電気光学材料に物理力を作用させる物理作用手段を備え、前記物理力は、少なくとも超音波振動および風圧および遠心力の何れかひとつであること特徴としている。
上記構成の電気光学装置の製造装置によれば、物理力の作用によって電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができる。
さらに、本発明の電気光学装置の製造装置では、前記供給手段は、前記物理力の作用方向に応じて、前記封止材により区画された一方の前記基板上の所定領域の中心部からずれた位置に前記電気光学材料を供給することを特徴としている。
上記構成の電気光学装置の製造装置によれば、基板上に供給された電気光学材料に遠心力等の物理力を作用させる場合には、この物理力が電気光学材料に対して作用する方向に応じて、例えばこの作用方向に対する反対方向に向かい所定領域の中心部からずれた位置に電気光学材料を供給する。これにより、物理力の作用によって電気光学材料が作用方向へ向かい拡散し、所定領域内において電気光学材料がほぼ均一に拡散するようになる。
また、本発明の電気光学装置は、本発明の電気光学装置の製造方法により製造されたことを特徴としている。
上記構成の電気光学装置によれば、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、所望の電気光学性能を得ることができる。
また、本発明の電気光学装置は、本発明の電気光学装置の製造装置により製造されたことを特徴としている。
上記構成の電気光学装置によれば、基板上での電気光学材料の拡散性を向上させることができると共に、電気光学材料中に気泡が残留することを防止することができ、所望の電気光学性能を得ることができる。
また、本発明の電子機器は、本発明の電気光学装置を備えることを特徴としている。
上記構成の電子機器によれば、所望の電気光学性能を有する電気光学装置によって表示品質に優れた電子機器を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態に係る電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置及び電子機器について添付図面を参照しながら説明する。
まず、本発明の製造方法により製造される電気光学装置として、例えば液晶表示装置について説明する。
図1は、本発明に係る液晶表示装置について、各構成要素とともに示す対向基板側から見た平面図であり、図2は図1のH−H’線に沿う断面図である。図3は、液晶表示装置の画像表示領域においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図で、図4は、液晶表示装置の部分拡大断面図である。なお、以下の説明に用いた各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
まず、本発明の製造方法により製造される電気光学装置として、例えば液晶表示装置について説明する。
図1は、本発明に係る液晶表示装置について、各構成要素とともに示す対向基板側から見た平面図であり、図2は図1のH−H’線に沿う断面図である。図3は、液晶表示装置の画像表示領域においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図で、図4は、液晶表示装置の部分拡大断面図である。なお、以下の説明に用いた各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
図1及び図2において、本実施の形態の液晶表示装置(電気光学装置)100は、対をなすTFTアレイ基板10と対向基板20とが光硬化性の封止材であるシール材(封止材)52によって貼り合わされ、このシール材52によって区画された領域内に封入材としての液晶50が封入、保持されている。シール材52は、基板面内の領域において閉ざされた枠状に形成されてなり、液晶注入口を備えず、封止材にて封止された痕跡がない構成となっている。
シール材52の形成領域の内側の領域には、遮光性材料からなる周辺見切り53が形成されている。シール材52の外側の領域には、データ線駆動回路201及び実装端子202がTFTアレイ基板10の一辺に沿って形成されており、この一辺に隣接する2辺に沿って走査線駆動回路204が形成されている。TFTアレイ基板10の残る一辺には、画像表示領域の両側に設けられた走査線駆動回路204の間を接続するための複数の配線205が設けられている。また、対向基板20のコーナー部の少なくとも1箇所においては、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的導通をとるための基板間導通材206が配設されている。
なお、データ線駆動回路201及び走査線駆動回路204をTFTアレイ基板10の上に形成する代わりに、例えば、駆動用LSIが実装されたTAB(Tape Automated Bonding)基板とTFTアレイ基板10の周辺部に形成された端子群とを異方性導電膜を介して電気的及び機械的に接続するようにしてもよい。なお、液晶表示装置100においては、使用する液晶50の種類、すなわち、TN(Twisted Nematic)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。
また、液晶表示装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFTアレイ基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタをその保護膜とともに形成する。
また、液晶表示装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFTアレイ基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタをその保護膜とともに形成する。
このような構造を有する液晶表示装置100の画像表示領域においては、図3に示すように、複数の画素100aがマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素100aの各々には、画素スイッチング用のTFT30が形成されており、画素信号S1、S2、…、Snを供給するデータ線6aがTFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画素信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次で供給してもよく、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。また、TFT30のゲートには走査線3aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gmをこの順に線順次で印加するように構成されている。
画素電極9は、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけオン状態とすることにより、データ線6aから供給される画素信号S1、S2、…、Snを各画素に所定のタイミングで書き込む。このようにして画素電極9を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画素信号S1、S2、…、Snは、図2に示す対向基板20の対向電極21との間で一定期間保持される。なお、保持された画素信号S1、S2、…、Snがリークするのを防ぐために、画素電極9と対向電極21との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量60が付加されている。例えば、画素電極9の電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも3桁も長い時間だけ蓄積容量60により保持される。これにより、電荷の保持特性は改善され、コントラスト比の高い液晶表示装置100を実現することができる。
図4は液晶表示装置100の部分拡大断面図であって、ガラス基板10’を主体として構成されるTFTアレイ基板10上には、ITO(インジウム錫酸化物)を主体とする透明電極にて構成された画素電極9がマトリクス状に形成されており(図3参照)、これら各画素電極9に対して画素スイッチング用のTFT30(図3参照)がそれぞれ電気的に接続されている。また、画素電極9が形成された領域の縦横の境界に沿って、データ線6a、走査線3aおよび容量線3bが形成され、TFT30がデータ線6aおよび走査線3aに対して接続されている。すなわち、データ線6aは、コンタクトホール8を介してTFT30の高濃度ソース領域1aに電気的に接続され、画素電極9は、コンタクトホール15及びドレイン電極6bを介してTFT30の高濃度ドレイン領域に電気的に接続され
ている。なお、画素電極9の表層にはポリイミド主体として構成される膜に対してラビング処理を行った配向膜12が形成されている。
ている。なお、画素電極9の表層にはポリイミド主体として構成される膜に対してラビング処理を行った配向膜12が形成されている。
一方、対向基板20においては、対向基板側のガラス基板20’上であって、TFTアレイ基板10上の画素電極9の縦横の境界領域と対向する領域に、ブラックマトリクスまたはブラックストライプと称せられる遮光膜23が形成され、その上層側にはITO膜からなる対向電極21が形成されている。また、対向電極21の上層側には、ポリイミド膜からなる配向膜22が形成されている。そして、TFTアレイ基板10と対向基板20との間には、液晶50がシール材52(図1参照)により基板内に封入されている。
次に、液晶表示装置100の製造方法に含まれる複数の処理工程の中、シール材の形成から、液晶滴下、基板貼合わせ、シール材硬化に至る工程を行う電気光学装置の製造装置について説明する。
図5は、電気光学装置の製造装置61の概略構成図である。
本実施の形態に係る電気光学装置の製造装置61は、図5に示すように、基板の給材及び除材を行う基板給除部62と材料供給部63と基板貼り合わせ部64とを主体に構成されている。
図5は、電気光学装置の製造装置61の概略構成図である。
本実施の形態に係る電気光学装置の製造装置61は、図5に示すように、基板の給材及び除材を行う基板給除部62と材料供給部63と基板貼り合わせ部64とを主体に構成されている。
図6は、基板給除部62および材料供給部63の概略構成図である。なお、以下の説明では、基板の表面に沿う方向をX方向(例えば図6中、左右方向)及びY方向(例えば図6中、紙面と垂直な方向)とし、XY平面と直交する方向をZ方向として説明する。
材料供給部63は、図6に示すように、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向(Z軸と平行な軸周りの回転方向)に移動自在かつ中心軸P周りに回転可能なテーブル65と、テーブル65の上方に配設され液晶材料を吐出、滴下する液滴吐出ヘッド66と、液滴吐出ヘッド66の近傍に配設されシール材を塗布するシール材塗布部67と、テーブル65を所定温度に加熱するヒータ等を具備する加熱装置631と、テーブル65の表面近傍の温度を検出する温度センサ632と、超音波発生装置633と、テーブル65および液滴吐出ヘッド66およびシール材塗布部67および加熱装置631および超音波発生装置633の各動作を制御する制御部634とを主体に構成されている。
シール材塗布部67から塗布されるシール材には、略球形状のギャップ制御材が含まれており、ギャップ制御材の直径は基板のセルギャップと略同じ寸法(直径略3μm)に形成されている。
なお、液晶材料を滴下させるのに液滴吐出ヘッド66の他に、精密薬液吐出機(計量型ディスペンサ)など、滴下する液晶材料量を制御できるものであればどのような装置を用いてもよい。また、ギャップ制御材は略球形状に形成され、シール材に含まれるものに限られることなく、繊維形状に形成されシール材に含まれるものや、シール材に含まれず基板から柱状に突出して形成されたもの等さまざまなものを使用することができる。
なお、制御部634は、温度センサ632にて検出されるテーブル65の表面近傍の温度の検出値に基づき、テーブル65上に載置される基板の温度を算出し、この基板の温度に応じて、例えば基板の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして加熱装置631の加熱動作を制御する。
シール材塗布部67から塗布されるシール材には、略球形状のギャップ制御材が含まれており、ギャップ制御材の直径は基板のセルギャップと略同じ寸法(直径略3μm)に形成されている。
なお、液晶材料を滴下させるのに液滴吐出ヘッド66の他に、精密薬液吐出機(計量型ディスペンサ)など、滴下する液晶材料量を制御できるものであればどのような装置を用いてもよい。また、ギャップ制御材は略球形状に形成され、シール材に含まれるものに限られることなく、繊維形状に形成されシール材に含まれるものや、シール材に含まれず基板から柱状に突出して形成されたもの等さまざまなものを使用することができる。
なお、制御部634は、温度センサ632にて検出されるテーブル65の表面近傍の温度の検出値に基づき、テーブル65上に載置される基板の温度を算出し、この基板の温度に応じて、例えば基板の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして加熱装置631の加熱動作を制御する。
また、基板給除部62は、材料供給部63と基板貼り合わせ部64との間で基板を搬送するキャリアを主な構成要素としている。
なお、基板給除部62は、図6に示した構成の他に、搬送ロボットを用いたり、材料供給部63と基板貼り合わせ部64とを接続する搬送機能を有したユニットで構成されたりしてもよい。
なお、基板給除部62は、図6に示した構成の他に、搬送ロボットを用いたり、材料供給部63と基板貼り合わせ部64とを接続する搬送機能を有したユニットで構成されたりしてもよい。
図7は、基板貼り合わせ部64の概略構成図である。
基板貼り合わせ部64は、図7に示すように、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向に移動自在なテーブル68と、テーブル68上に設置された下チャック部69と、下チャック部69の上方に配置された真空チャンバ70と、真空チャンバ70内に下チャック部69と対向配置された上チャック部71と、上チャック部71をZ方向に移動自在に支持し、且つ下チャック部69に向けて加圧する下降機構72と、下チャック部69を所定温度に加熱するヒータ等を具備する下チャック部加熱装置691と、下チャック部69の表面近傍の温度を検出する温度センサ692と、上チャック部71を所定温度に加熱するヒータ等を具備する上チャック部加熱装置711と、上チャック部71の表面近傍の温度を検出する温度センサ712とを備えて概略構成されている。
真空チャンバ70には、覗き窓70aと排気部76とが設けられている。覗き窓70aの上方には、覗き窓70aを介して基板上のアライメントマークを拡大、観測する貼り合わせ用顕微鏡74が配置され、貼り合わせ用顕微鏡74には、拡大されたアライメントマークの画像を取り込むCCDカメラ(光学測定手段)81が備えられている。排気部76には、収容空間70b内の気体を排気(真空引き)するための真空ポンプ等の吸引装置78が接続されている。
基板貼り合わせ部64は、図7に示すように、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向に移動自在なテーブル68と、テーブル68上に設置された下チャック部69と、下チャック部69の上方に配置された真空チャンバ70と、真空チャンバ70内に下チャック部69と対向配置された上チャック部71と、上チャック部71をZ方向に移動自在に支持し、且つ下チャック部69に向けて加圧する下降機構72と、下チャック部69を所定温度に加熱するヒータ等を具備する下チャック部加熱装置691と、下チャック部69の表面近傍の温度を検出する温度センサ692と、上チャック部71を所定温度に加熱するヒータ等を具備する上チャック部加熱装置711と、上チャック部71の表面近傍の温度を検出する温度センサ712とを備えて概略構成されている。
真空チャンバ70には、覗き窓70aと排気部76とが設けられている。覗き窓70aの上方には、覗き窓70aを介して基板上のアライメントマークを拡大、観測する貼り合わせ用顕微鏡74が配置され、貼り合わせ用顕微鏡74には、拡大されたアライメントマークの画像を取り込むCCDカメラ(光学測定手段)81が備えられている。排気部76には、収容空間70b内の気体を排気(真空引き)するための真空ポンプ等の吸引装置78が接続されている。
また、真空チャンバ70には、シール材52を仮硬化させる紫外線を照射する水銀ランプ等のUVランプからファイバなどを経路として使用したUV照射ユニット82が備えられている。
なお、UV照射ユニット82は、シール材52の粘度を高める程度のエネルギーを供給できればよい。また、シール材52にエネルギーを与える手段は、UVランプに限られることなく、加熱・冷却装置や、可視光照射装置など、シール材52の性質によりさまざまな装置を用いることができる。
なお、UV照射ユニット82は、シール材52の粘度を高める程度のエネルギーを供給できればよい。また、シール材52にエネルギーを与える手段は、UVランプに限られることなく、加熱・冷却装置や、可視光照射装置など、シール材52の性質によりさまざまな装置を用いることができる。
さらに、基板貼り合わせ部64には、CCDカメラ81により取り込まれた画像を処理する画像処理部83と、画像処理部83により処理されたデータに基づいてテーブル68と下降機構72とを制御する制御部84が設けられている。
また、下チャック部69及び上チャック部71には、互いに対向する保持面69a、71aでそれぞれ基板を保持するための保持機構(図示せず)が備えられている。
なお、下チャック部69及び上チャック部71には、静電気力や粘着力を用いたチャック機構、または機械的に基板を保持する機械的保持機構など、略真空雰囲気においても基板を保持できる機構であればどのような機構が備えられていてもよい。
例えば、基板に石英ガラスを用いた場合、静電気力による保持方法を用いると保持力が弱く、基板の相対位置を十分な精度で調整することができない。その一方、接着力、分子間力、真空力、機械式保持等の保持方法であれば、石英ガラスでも十分な保持力を発揮することができるため、下チャック部69及び上チャック部71の保持機構に用いて好適である。
なお、制御部84は、各温度センサ692,712にて検出される各チャック部69,71の表面近傍の温度の検出値に基づき、各チャック部69,71に保持される各基板の温度を算出し、各基板の温度が互いに同等の所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして各加熱装置691,711の加熱動作を制御する。
また、下チャック部69及び上チャック部71には、互いに対向する保持面69a、71aでそれぞれ基板を保持するための保持機構(図示せず)が備えられている。
なお、下チャック部69及び上チャック部71には、静電気力や粘着力を用いたチャック機構、または機械的に基板を保持する機械的保持機構など、略真空雰囲気においても基板を保持できる機構であればどのような機構が備えられていてもよい。
例えば、基板に石英ガラスを用いた場合、静電気力による保持方法を用いると保持力が弱く、基板の相対位置を十分な精度で調整することができない。その一方、接着力、分子間力、真空力、機械式保持等の保持方法であれば、石英ガラスでも十分な保持力を発揮することができるため、下チャック部69及び上チャック部71の保持機構に用いて好適である。
なお、制御部84は、各温度センサ692,712にて検出される各チャック部69,71の表面近傍の温度の検出値に基づき、各チャック部69,71に保持される各基板の温度を算出し、各基板の温度が互いに同等の所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして各加熱装置691,711の加熱動作を制御する。
液滴吐出ヘッド66は、例えばピエゾ素子によって液室を圧縮してその圧力波で液体を吐出させるもので、一列又は複数列に配列された複数のノズル(ノズル孔)を有している。
この液滴吐出ヘッド66の構造の一例を説明すると、液滴吐出ヘッド66は、図8(a)に示すように例えばステンレス製のノズルプレート312と振動板313とを備え、両者を仕切部材(リザーバプレート)314を介して接合したものである。ノズルプレート312と振動板313との間には、仕切部材314によって複数の空間315と液溜まり316とが形成されている。各空間315と液溜まり316の内部は液晶材料で満たされており、各空間315と液溜まり316とは供給口317を介して連通したものとなっている。また、ノズルプレート312には、空間315から液晶材料を噴射するためのノズル318が形成されている。一方、振動板313には、液溜まり316に液晶材料を供給するための孔319が形成されている。
さらに、液滴吐出ヘッド66は、液溜まり316に満たされる液晶材料を所定温度に加熱するヒータ等を具備する加熱装置316aと、液晶材料の温度を検出する温度センサ316bと、制御部316cとを備え、制御部316cは、温度センサ316bにて検出される液晶材料の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして加熱装置316aの加熱動作を制御する。
この液滴吐出ヘッド66の構造の一例を説明すると、液滴吐出ヘッド66は、図8(a)に示すように例えばステンレス製のノズルプレート312と振動板313とを備え、両者を仕切部材(リザーバプレート)314を介して接合したものである。ノズルプレート312と振動板313との間には、仕切部材314によって複数の空間315と液溜まり316とが形成されている。各空間315と液溜まり316の内部は液晶材料で満たされており、各空間315と液溜まり316とは供給口317を介して連通したものとなっている。また、ノズルプレート312には、空間315から液晶材料を噴射するためのノズル318が形成されている。一方、振動板313には、液溜まり316に液晶材料を供給するための孔319が形成されている。
さらに、液滴吐出ヘッド66は、液溜まり316に満たされる液晶材料を所定温度に加熱するヒータ等を具備する加熱装置316aと、液晶材料の温度を検出する温度センサ316bと、制御部316cとを備え、制御部316cは、温度センサ316bにて検出される液晶材料の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして加熱装置316aの加熱動作を制御する。
また、振動板313の空間315に対向する面と反対側の面上には、図8(b)に示すように圧電素子(ピエゾ素子)320が接合されている。この圧電素子320は、一対の電極321の間に位置し、通電するとこれが外側に突出するようにして撓曲するよう構成されたものである。そして、このような構成のもとに圧電素子320が接合されている振動板313は、圧電素子320と一体になって同時に外側へ撓曲するようになっており、これによって空間315の容積が増大するようになっている。したがって、空間315内に増大した容積分に相当する液晶材料が、液溜まり316から供給口317を介して流入する。また、このような状態から圧電素子320への通電を解除すると、圧電素子320と振動板313はともに元の形状に戻る。したがって、空間315も元の容積に戻ること
から、空間315内部の液晶材料の圧力が上昇し、ノズル318から基板に向けて液晶材料の液滴322が吐出される。
なお、液滴吐出ヘッド66のインクジェット方式としては、前記の圧電素子320を用いたピエゾジェットタイプ以外の方式でもよく、例えば、エネルギー発生素子として電気熱変換体を用いた方式を採用してもよい。
から、空間315内部の液晶材料の圧力が上昇し、ノズル318から基板に向けて液晶材料の液滴322が吐出される。
なお、液滴吐出ヘッド66のインクジェット方式としては、前記の圧電素子320を用いたピエゾジェットタイプ以外の方式でもよく、例えば、エネルギー発生素子として電気熱変換体を用いた方式を採用してもよい。
続いて、上記の電気光学装置の製造装置61により液晶表示装置100を製造する手順について説明する。
まず、図4に示すように、ガラス基板10’上にTFT30を形成し、さらに画素電極9及び配向膜12等を形成してTFTアレイ基板10を得る一方、ガラス基板20’上に遮光膜23、対向電極21、配向膜22等を形成して対向基板20を得る。
なお、以下の説明においては、TFTアレイ基板10を下基板10と称し、対向基板20を上基板20と称して説明する。
まず、図4に示すように、ガラス基板10’上にTFT30を形成し、さらに画素電極9及び配向膜12等を形成してTFTアレイ基板10を得る一方、ガラス基板20’上に遮光膜23、対向電極21、配向膜22等を形成して対向基板20を得る。
なお、以下の説明においては、TFTアレイ基板10を下基板10と称し、対向基板20を上基板20と称して説明する。
対向電極等が形成された上基板20は基板給除部62により運搬され、図10(a)に示すように、上チャック部71に給材され、保持機構により上基板20は保持される。
TFT等が形成された下基板10は基板給除部62により運搬され、材料供給部63のテーブル65上に給材される(図6参照)。
ここで、例えば図9に示すステップS01において、加熱装置631の加熱動作を開始し、テーブル65上に載置される下基板10の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように設定する(第1工程)。
次に、ステップS02において、テーブル65を移動させつつ、下基板10上にシール材塗布部67からシール材が閉ざされた枠状(図1参照、符号52)に塗布される(第2工程)。
次に、ステップS03において、テーブル65を移動させつつ液滴吐出ヘッド66から液晶を吐出、滴下して、図10(b)に示すように、シール材52で囲まれた所定位置に液晶50を配置する(第3工程)。
次に、ステップS04において、液晶50に対して超音波発生装置633により超音波を照射して液晶50を拡散させる(第4工程)。
なお、図10(b)では、液晶50はシール材52で囲まれた領域の1ヶ所に滴下するように図示しているが、1ヶ所に滴下するものに限られることなく、複数ヶ所に滴下してもよい。
TFT等が形成された下基板10は基板給除部62により運搬され、材料供給部63のテーブル65上に給材される(図6参照)。
ここで、例えば図9に示すステップS01において、加熱装置631の加熱動作を開始し、テーブル65上に載置される下基板10の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように設定する(第1工程)。
次に、ステップS02において、テーブル65を移動させつつ、下基板10上にシール材塗布部67からシール材が閉ざされた枠状(図1参照、符号52)に塗布される(第2工程)。
次に、ステップS03において、テーブル65を移動させつつ液滴吐出ヘッド66から液晶を吐出、滴下して、図10(b)に示すように、シール材52で囲まれた所定位置に液晶50を配置する(第3工程)。
次に、ステップS04において、液晶50に対して超音波発生装置633により超音波を照射して液晶50を拡散させる(第4工程)。
なお、図10(b)では、液晶50はシール材52で囲まれた領域の1ヶ所に滴下するように図示しているが、1ヶ所に滴下するものに限られることなく、複数ヶ所に滴下してもよい。
次に、ステップS05において、液晶が滴下され、表面上において液晶が均一に拡散させられた下基板10は基板給除部62により運搬され、図10(c)に示すように、下チャック部69に給材され(なお、以下の説明では便宜上、液晶50及びシール材52の図示を省略する)、保持機構により保持される(第5工程)。
そして、ステップS06において、図11(d)に示すように、真空チャンバ70を下降させて下チャック部69に当接させ、収容空間70bを密封状態に閉塞する。収容空間70bが密封状態となったら、排気部76から負圧吸引して収容空間70b内を略真空状態(1.33Pa〜1.33×10−2Pa)とする(第6工程)。
このとき、各温度センサ692,712にて検出される各チャック部69,71の表面近傍の温度の検出値に基づき、各チャック部69,71に保持される各基板10,20の温度を算出し、各基板10,20の温度が互いに同等の所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして各加熱装置691,711の加熱動作を開始する(第7工程)。この場合、真空引きと加熱動作とを同時に実行することで、製造時間を短縮することができる。
そして、ステップS06において、図11(d)に示すように、真空チャンバ70を下降させて下チャック部69に当接させ、収容空間70bを密封状態に閉塞する。収容空間70bが密封状態となったら、排気部76から負圧吸引して収容空間70b内を略真空状態(1.33Pa〜1.33×10−2Pa)とする(第6工程)。
このとき、各温度センサ692,712にて検出される各チャック部69,71の表面近傍の温度の検出値に基づき、各チャック部69,71に保持される各基板10,20の温度を算出し、各基板10,20の温度が互いに同等の所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして各加熱装置691,711の加熱動作を開始する(第7工程)。この場合、真空引きと加熱動作とを同時に実行することで、製造時間を短縮することができる。
そして、ステップS07において、収容空間70b内が略真空状態となったら、図11(e)に示すように、上基板20と下基板10とに形成されたアライメントマーク(図示せず)を貼り合わせ用顕微鏡74、74を用いて拡大してCCDカメラ81に取り込む。CCDカメラ81に取り込まれたアライメントマークの画像データは、画像処理部83に入力され上基板20と下基板10との相対位置が検出される。制御部84は、画像処理部83により検出された相対位置に基づき、テーブル68を駆動して上基板20と下基板10との相対位置のズレが±10μm以内になるように粗位置決めする(第8工程)。
なお、上記収容空間70b内の真空引きと、基板10、20の粗位置決めとは、同時に併行して実施してもよいし、粗位置決めを先に実施して真空引きを後から実施してもよい。真空引きと粗位置決めとを同時に実施した場合は、製造時間を短縮することができる。
また、上チャック部71および上チャック部加熱装置711には、貼り合わせ用顕微鏡74及び覗き窓70aの直下の位置に貫通孔71bが形成されており、この貫通孔71bを介して各基板10、20のアライメントマークを検出することができる。
また、上チャック部71および上チャック部加熱装置711には、貼り合わせ用顕微鏡74及び覗き窓70aの直下の位置に貫通孔71bが形成されており、この貫通孔71bを介して各基板10、20のアライメントマークを検出することができる。
そして、ステップS08において、基板10、20が粗位置決めされたら、図11(f)に示すように、下降機構72により上チャック部71を下降(相対移動)させて対向する基板10、20を貼り合わせる(第9工程)。
そして、ステップS09において、さらに上チャック部71を下チャック部69に向けて下降させ、基板10、20に加圧してシール材52を押しつぶす(第10工程)。
そして、ステップS10において、基板10、20の貼り合わせが完了すると、UV照射ユニット82により紫外線を照射してシール材52を仮硬化させ、シール材の粘度を高める(第11工程)。
そして、ステップS09において、さらに上チャック部71を下チャック部69に向けて下降させ、基板10、20に加圧してシール材52を押しつぶす(第10工程)。
そして、ステップS10において、基板10、20の貼り合わせが完了すると、UV照射ユニット82により紫外線を照射してシール材52を仮硬化させ、シール材の粘度を高める(第11工程)。
なお、基板10、20を貼り合わせた後の加圧は、製造のプロセスおよびシール材52などの選択によっては実施しなくてもよい。また、UV照射ユニット82によるシール材52の仮硬化も同様にシール材52によっては実施しなくてもよい。
また、貼り合わせ後から後述する精密位置合わせまでの間に、ズレの発生が予想され、そのズレ量、方向が統計的に予想される場合には、ズレ発生後の基板10、20の位置関係が上述した範囲内に収まるように、あらかじめオフセットさせて粗位置決めしてもよい。
また、貼り合わせ後から後述する精密位置合わせまでの間に、ズレの発生が予想され、そのズレ量、方向が統計的に予想される場合には、ズレ発生後の基板10、20の位置関係が上述した範囲内に収まるように、あらかじめオフセットさせて粗位置決めしてもよい。
この後、ステップS11において、図12(g)に示すように、収容空間70b内に大気が導入され、略真空状態から大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気に調節する(第12工程)。
なお、収容空間70b内の圧力を大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気に調節する前に、上チャック部71の保持力を解除して、一度、上基板20を離し、再び上基板20を保持し直してもよいし、保持し直さずにそのまま大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気に調節してもよい。
また、大気圧の場合には、真空チャンバ70を開放して精密位置決めを行ってもよい。
そして、ステップS12において、収容空間70b内が大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気となったら、上基板20と下基板10とに形成されたアライメントマーク(図示せず)を貼り合わせ用顕微鏡74、74を用いて拡大してCCDカメラ81に取り込む。CCDカメラ81に取り込まれたアライメントマークの画像データは、画像処理部83に入力され上基板20と下基板10との相対位置が検出される。制御部84は、画像処理部83により検出された相対位置に基づき、テーブル68を駆動して上基板20と下基板10との相対位置のズレが±1μm以内になるように精密位置決めする(第13工程)。
なお、収容空間70b内の圧力を大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気に調節する前に、上チャック部71の保持力を解除して、一度、上基板20を離し、再び上基板20を保持し直してもよいし、保持し直さずにそのまま大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気に調節してもよい。
また、大気圧の場合には、真空チャンバ70を開放して精密位置決めを行ってもよい。
そして、ステップS12において、収容空間70b内が大気圧または大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気となったら、上基板20と下基板10とに形成されたアライメントマーク(図示せず)を貼り合わせ用顕微鏡74、74を用いて拡大してCCDカメラ81に取り込む。CCDカメラ81に取り込まれたアライメントマークの画像データは、画像処理部83に入力され上基板20と下基板10との相対位置が検出される。制御部84は、画像処理部83により検出された相対位置に基づき、テーブル68を駆動して上基板20と下基板10との相対位置のズレが±1μm以内になるように精密位置決めする(第13工程)。
そして、ステップS13において、基板10、20が精密位置決めされたら、加圧機構72により上チャック部71をさらに下降(相対移動)させて対向する基板10、20を加圧する。すると、シール材52はさらに押しつぶされ、シール材52に含まれるギャップ制御材52aが基板10、20に当接し、基板10、20の間隔が略3μm以下になるように調節される(第14工程)。
なお、加圧機構72による加圧方法は、一括して押圧力を加える加圧方法や、段階的に押圧力を上げる加圧方法、連続的に押圧力を上げる加圧方法、押圧してその押圧力を一時保持しその後押圧力を上げるS字加圧など、さまざまな加圧方法で加圧してもよい。
また、上チャック部71と下チャック部69とが上基板20と下基板10と接触して押圧する領域は、接触している面全体で押圧してもよいし、シール材52に含まれているギャップ制御材52aが配置されている領域のみに接触して押圧してもよい。ギャップ制御材52aが配置されている領域のみを押圧する方法では、ギャップ制御材52aが配置されていない領域を押圧しないので、基板10、20が撓んで基板のギャップが狭くなりすぎることを防ぐことができる。
なお、加圧機構72による加圧方法は、一括して押圧力を加える加圧方法や、段階的に押圧力を上げる加圧方法、連続的に押圧力を上げる加圧方法、押圧してその押圧力を一時保持しその後押圧力を上げるS字加圧など、さまざまな加圧方法で加圧してもよい。
また、上チャック部71と下チャック部69とが上基板20と下基板10と接触して押圧する領域は、接触している面全体で押圧してもよいし、シール材52に含まれているギャップ制御材52aが配置されている領域のみに接触して押圧してもよい。ギャップ制御材52aが配置されている領域のみを押圧する方法では、ギャップ制御材52aが配置されていない領域を押圧しないので、基板10、20が撓んで基板のギャップが狭くなりすぎることを防ぐことができる。
そして、ステップS14において、基板10、20のギャップが調節されると、UVランプ82により紫外線をシール材52に照射して硬化させ、基板10、20のギャップを保持させる(第15工程)。
なお、UVランプ82の照射は、加圧機構72の押圧力が所定圧力に到達した直後から照射したりするなど、さまざまなタイミングで照射を行ってもよい。
また、使用するシール材によっては、必要な接着力を得るために、シール材硬化の工程をさらに追加してもよい。
なお、UVランプ82の照射は、加圧機構72の押圧力が所定圧力に到達した直後から照射したりするなど、さまざまなタイミングで照射を行ってもよい。
また、使用するシール材によっては、必要な接着力を得るために、シール材硬化の工程をさらに追加してもよい。
そして、ステップS15において、シール材52の硬化が完了すると、上チャック部71と下チャック部69とによる保持を上下順次または同時に開放し、収容空間70b内が大気圧よりも圧力の低い所定の圧力雰囲気である場合には、収容空間70b内に大気が導入され、真空チャンバ70の収容空間70bが大気圧になると、図12(h)に示すように、真空チャンバ70を上昇させる。そして、下チャック部69に非保持状態で載置されている基板(この場合は基板10、20が貼り合わされた液晶表示装置100)を基板給除部62により除材する(第16工程)。これにより、一連の処理を終了する。
このようにして、液晶表示装置100の製造が完了する。
このようにして、液晶表示装置100の製造が完了する。
上記構成の電気光学装置の製造装置および上述した電気光学装置の製造方法によれば、液滴吐出ヘッド66により液晶材料が滴下される基板を所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように加熱する加熱装置631を備え、液晶材料の滴下に先立って基板の温度を所定温度に設定しておくことにより、基板上に滴下された液晶材料の粘度を低下させ、基板上における液晶材料の拡散性(つまり液晶材料の濡れ拡がり性)を向上させることができると共に、液晶材料中に気泡が残留することを防止することができる。ここで、基板の温度を、40〜100℃の所定温度に設定することにより、液晶材料の種類にかかわらずに液晶材料を所望の粘度状態に設定することができる。例えば下記表1には、種類の異なる3つの液晶材料(液晶A,B,C)の粘度状態に係るフロー粘度(mm2/sec)の温度依存性のデータを示した。
表1に示すように、液晶材料(液晶A,B,C)の温度が40〜100℃の所定温度となる状態において、各液晶材料(液晶A,B,C)がほぼ同等のフロー粘度(mm2/sec)を有することがわかる。しかも、液晶材料の温度が100℃を超える過剰な高温状態になることがないように制御されることから、加熱装置631での消費電力の増大を抑制することができると共に、加熱によって液晶材料の成分組成が変化してしまうことを防止することができ、所望の電気光学特性を容易に得ることができる。
さらに、超音波発生装置633を備え、基板上に滴下された液晶材料に超音波を照射することによって、より一層、基板上での液晶材料の拡散性を向上させることができると共に、液晶材料中に気泡が残留することを防止することができる。
さらに、超音波発生装置633を備え、基板上に滴下された液晶材料に超音波を照射することによって、より一層、基板上での液晶材料の拡散性を向上させることができると共に、液晶材料中に気泡が残留することを防止することができる。
また、液晶50及びシール材52を介して一対の下基板10および上基板20を貼り合わせる際に、各基板10,20を互いに同等の所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように加熱する各加熱装置691,711を備え、下基板10および上基板20の貼り合わせに先立って各基板10,20の温度を互いに同等の所定温度に設定しておくことにより、各基板10,20の熱変形状態を同等の状態に設定することができ、貼り合わせ精度を向上させることができる。
しかも、この場合、液晶50の温度が40〜100℃の所定温度となって、各基板10,20上における液晶50の拡散性(つまり液晶材料の濡れ拡がり性)が向上し、液晶50が所望の拡散状態、例えばシール材52によって周囲を囲まれた領域内にて液晶50がほぼ均一に濡れ拡がった状態で、下基板10および上基板20が貼り合わされることになり、液晶50がシール材52を乗り越えて外部に漏れ出ることを防止することができる。
しかも、この場合、液晶50の温度が40〜100℃の所定温度となって、各基板10,20上における液晶50の拡散性(つまり液晶材料の濡れ拡がり性)が向上し、液晶50が所望の拡散状態、例えばシール材52によって周囲を囲まれた領域内にて液晶50がほぼ均一に濡れ拡がった状態で、下基板10および上基板20が貼り合わされることになり、液晶50がシール材52を乗り越えて外部に漏れ出ることを防止することができる。
なお、上述した実施の形態においては、液滴吐出ヘッド66により液晶材料を滴下させる際に、液滴吐出ヘッド66に具備される加熱装置316aを作動させ、液晶材料の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるようにして設定してもよい。これにより、より一層、基板上での液晶材料の拡散性を向上させることができると共に、液晶材料中に気泡が残留することを防止することができる。
なお、上述した実施の形態においては、ステップS01〜ステップS15に示すように、下基板10の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように加熱制御(ステップS01)した後に、下基板10に液晶を滴下(ステップS03)して、下基板10と上基板20とを貼り合わせる(ステップS08)としたが、これに限定されず、例えば、下基板10に液晶を滴下した後に、下基板10の温度が所定温度(例えば、40〜100℃の所定温度)となるように加熱制御して、下基板10と上基板20とを貼り合わせてもよい。
なお、上述した実施の形態において、材料供給部63は超音波発生装置633を備えるとしたが、これに限定されず、超音波発生装置633に加えて、あるいは、超音波発生装置633に代わりに、所定ガスを基板上に滴下された液晶材料に吹き付けるエアカッター等の風圧発生装置を備えてもよい。
また、上述した実施の形態において、液滴吐出ヘッド66により液晶材料が基板上に滴下された後に、テーブル65を中心軸P周りに回転駆動させることで、基板上に滴下された液晶材料に遠心力を作用させ、この遠心力によって基板上での液晶材料の拡散性を向上させてもよい。なお、この場合、例えばシール材52で区画された複数の領域521,…,52n(nは任意の自然数)内に液晶50を滴下する際には、例えば図13(a)に示すように、各領域521,…,52n内の各中心位置から、テーブル65の中心軸Pに向かいずれた位置に液晶50を滴下し、この後、テーブル65を中心軸P周りに回転駆動させることで、例えば図13(b)に示すように、各領域521,…,52n内において液晶50に作用する遠心力によって液晶50がほぼ均一に拡散するようになる。
また、上述した実施の形態において、液滴吐出ヘッド66により液晶材料が基板上に滴下された後に、テーブル65を中心軸P周りに回転駆動させることで、基板上に滴下された液晶材料に遠心力を作用させ、この遠心力によって基板上での液晶材料の拡散性を向上させてもよい。なお、この場合、例えばシール材52で区画された複数の領域521,…,52n(nは任意の自然数)内に液晶50を滴下する際には、例えば図13(a)に示すように、各領域521,…,52n内の各中心位置から、テーブル65の中心軸Pに向かいずれた位置に液晶50を滴下し、この後、テーブル65を中心軸P周りに回転駆動させることで、例えば図13(b)に示すように、各領域521,…,52n内において液晶50に作用する遠心力によって液晶50がほぼ均一に拡散するようになる。
なお、上述した実施の形態においては、TFTアレイ基板10を下基板10とし、対向基板20を上基板20としたが、これに限定されず、例えば図13(a),(b)に示すような、シール材52で区画された複数の領域521,…,52n(nは任意の自然数)に液晶50が滴下されてなる大面積の基板、いわゆるマザーボードを下基板10とし、この下基板10と同等形状のマザーボードを上基板20とし、マザーボード同士を貼り合わせてもよい。
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記の実施の形態においては、液晶装置の製造方法に適応して説明したが、液晶装置の製造方法に限られることなく、エレクトロルミネッセンス装置の製造方法等、その他各種装置の製造方法に適応することができるものである。
また、上基板が対向基板で、下基板がTFTアレイ基板であってもよく、必要に応じて、工程間の基板給除部で上下基板を反転してもよい。
例えば、上記の実施の形態においては、液晶装置の製造方法に適応して説明したが、液晶装置の製造方法に限られることなく、エレクトロルミネッセンス装置の製造方法等、その他各種装置の製造方法に適応することができるものである。
また、上基板が対向基板で、下基板がTFTアレイ基板であってもよく、必要に応じて、工程間の基板給除部で上下基板を反転してもよい。
以下に、上述した実施の形態に係る液晶表示装置100を備えた電子機器の具体例について説明する。
図14は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図14において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は前記の液晶表示装置100からなる表示部を示している。この携帯電話にあっては、表示部1001が、表示品位に優れた液晶表示装置100からなっているので、表示特性に優れたものとなる。
なお、上述した実施の形態に係る液晶表示装置100は、携帯型情報処理装置や、腕時計型電子機器など、各種の電子機器における表示部として好適に用いることができる。
図14は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図14において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は前記の液晶表示装置100からなる表示部を示している。この携帯電話にあっては、表示部1001が、表示品位に優れた液晶表示装置100からなっているので、表示特性に優れたものとなる。
なお、上述した実施の形態に係る液晶表示装置100は、携帯型情報処理装置や、腕時計型電子機器など、各種の電子機器における表示部として好適に用いることができる。
10 下基板(基板)
20 上基板(基板)
52 シール材(封止材)
65 テーブル(物理作用手段)
66 液滴吐出ヘッド(供給手段)
72 下降機構(貼合わせ手段)
100 液晶表示装置(電気光学装置)
316a 加熱装置(材料加熱手段)
631 加熱装置(加熱手段)
691 下チャック部加熱装置(加熱制御手段)
711 上チャック部加熱装置(加熱制御手段)
633 超音波発生装置(物理作用手段)
20 上基板(基板)
52 シール材(封止材)
65 テーブル(物理作用手段)
66 液滴吐出ヘッド(供給手段)
72 下降機構(貼合わせ手段)
100 液晶表示装置(電気光学装置)
316a 加熱装置(材料加熱手段)
631 加熱装置(加熱手段)
691 下チャック部加熱装置(加熱制御手段)
711 上チャック部加熱装置(加熱制御手段)
633 超音波発生装置(物理作用手段)
Claims (10)
- 一対の基板が封止材を介して対向配置されてなり、前記封止材により区画される領域に電気光学材料が封入されてなる電気光学装置の製造方法であって、
少なくとも一方の前記基板の温度を所定温度に加熱する加熱工程と、
前記電気光学材料を前記一方の基板上に供給する供給工程と、
前記電気光学材料が供給された前記一方の基板に前記封止材を介して他方の前記基板を貼り合わせる貼合わせ工程と
を含むことを特徴とする電気光学装置の製造方法。 - 前記封止材は、閉じた環状に形成されてなることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記加熱工程は、前記基板の温度が40〜100℃の範囲になるように前記基板を加熱制御することを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記加熱工程は、前記供給工程の後で、且つ、前記貼合わせ工程の前に行われることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記貼合わせ工程の実行に先立って前記一対の前記基板の各温度を同等の温度に加熱制御する加熱制御工程を含むことを特徴とする請求項1から請求項4の何れかひとつに記載の電気光学装置の製造方法。
- 前記供給工程の前に、前記電気光学材料の温度を所定の温度に加熱する材料加熱工程を含み、
前記供給工程において、前記材料加熱工程にて所定の温度に加熱された前記電気光学材料を一方の前記基板上に供給することを特徴とする請求項1から請求項5の何れかひとつに記載の電気光学装置の製造方法。 - 前記供給工程にて一方の前記基板上に供給された前記電気光学材料に物理力を作用させる物理作用工程を含み、
前記物理力は、少なくとも超音波振動および風圧および遠心力の何れかひとつであること特徴とする請求項1から請求項6の何れかひとつに記載の電気光学装置の製造方法。 - 前記供給工程において、前記物理力の作用方向に応じて、前記封止材により区画された一方の前記基板上の所定領域の中心部からずれた位置に前記電気光学材料を供給することを特徴とする請求項7に記載の電気光学装置の製造方法。
- 一対の基板が封止材を介して対向配置されてなり、前記封止材により区画される領域に電気光学材料が封入されてなる電気光学装置の製造装置であって、
少なくとも一方の前記基板の温度を所定温度に加熱する加熱手段と、
前記一方の基板上に前記電気光学材料を供給する供給手段と、
前記電気光学材料が供給された前記一方の基板に前記封止材を介して他方の前記基板を貼り合わせる貼合わせ手段と
を備えることを特徴とする電気光学装置の製造装置。 - 請求項1から請求項8の何れかひとつに記載の電気光学装置の製造方法により製造されたことを特徴とする電気光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003366073A JP2005128415A (ja) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | 電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置及び電気光学装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007061783A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Seiko Epson Corp | 液状体の吐出装置および液状体の吐出方法、電気光学装置の製造装置および電気光学装置の製造方法 |
KR101186866B1 (ko) * | 2005-06-20 | 2012-10-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정적하장치 및 이를 이용한 액정표시소자 제조방법 |
WO2015010423A1 (zh) * | 2013-07-22 | 2015-01-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶滴下装置及液晶滴下方法 |
JP2015045883A (ja) * | 2014-11-26 | 2015-03-12 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 貼合ワークの製造装置及び貼合ワークの製造方法 |
-
2003
- 2003-10-27 JP JP2003366073A patent/JP2005128415A/ja not_active Withdrawn
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