JP2005122876A - 磁気記録媒体及び磁気記録装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】記録層22の凹凸パターンの凸部上及び凹部上に、記録層22の上面を含む平面に沿って上側軟磁性層24を一様に形成した。
【選択図】図1
Description
の端部近傍は形状的な変化と共に磁気的な変化を有するが、記録層22の凹凸パターンの凸部上及び凹部上に記録層22の上面を含む平面に沿って一様に上側軟磁性層24が形成されているので、記録要素22Aの端部近傍における磁気的な変化が緩和され、記録対象の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aにおいて周辺よりも相対的に記録磁界が強くなることが防止、又は著しく抑制される。従って、記録磁界は、情報を記録しようとする記録要素22Aの近傍で最も強く、当該記録要素22Aから離間するにつれて急激に、且つ、単調に弱まる分布となるため、隣接する記録要素22Aへの情報の誤った記録が防止又は著しく低減される。言い換えれば、それだけ記録要素22A間の距離を短縮しても情報の確実な記録が可能であり、面記録密度を向上させることができる。
上記第1実施形態のとおり、垂直記録型の磁気記録媒体12を備える磁気記録装置10のシミュレーションモデルを作成した。具体的には、以下のようにシミュレーションモデルの条件を設定した。
(記録要素22Aの径方向の並設ピッチ)
記録要素22Aの径方向の幅 :100nm
記録要素22A間の凹部の径方向の幅 :100nm
記録層22の膜厚 : 25nm
上側軟磁性層24の膜厚 : 5nm
上側軟磁性層24の飽和磁化量 : 1.4T
中間層20の膜厚 : 5nm
下側軟磁性層18の膜厚 :200nm
下側軟磁性層18の飽和磁化量 : 1.0T
磁気ヘッド14の記録磁極の幅 :100nm
磁気ヘッド14に加わる起磁力 :0.12AT
磁気ヘッド14の浮上高さ : 15nm
(磁気記録媒体12の上側軟磁性層24の表面に対する磁気ヘッド14の浮上高さ)
上記シミュレーション例1に対し、上側軟磁性層24を形成しないシミュレーションモデルを作成した。尚、磁気ヘッド14の浮上高さは、磁気記録媒体12の記録層22の表面に対して15nmとした。他の条件は上記シミュレーション例1と同様としてシミュレーションを実行したところ、図6中に符号Bを付した曲線で示されるような記録磁界の分布が得られた。
上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルに対し、中間層20の膜厚を20nmとし、更に上側軟磁性層24の飽和磁化量を、0.8、0.9、1.0、1.4、1.8、2.4Tとした6種類のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の中央近傍の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図7中に符号Aを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、一般的な垂直記録型のハードディスクにおける、媒体への記録に必要な媒体表面における記録磁界の大きさを図7中に符号S1を付した直線で示す。
上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルに加え、上側軟磁性層24の飽和磁化量を0.8T及び2.4Tの2種類設定し、上側軟磁性層24の膜厚を0.2〜5nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の中央近傍の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図9中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、シミュレーション例2と同様に一般的な垂直記録型のハードディスクにおける、媒体への記録に必要な媒体表面における記録磁界の大きさを図9中に符号S1を付した直線で示す。
上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルに対し、上側軟磁性層24の飽和磁化量を0.8T及び2.4Tに設定し、中間層20の膜厚を5〜20nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の中央近傍の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図12中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、シミュレーション例2と同様に一般的な垂直記録型のハードディスクにおける、媒体への記録に必要な媒体表面における記録磁界の大きさを図12中に符号S1を付した直線で示す。
上記シミュレーション例2と同様に、上記シミュレーション例1に対し、中間層20の膜厚を20nmとし、上側軟磁性層24の飽和磁化量を、0.8、0.9、1.0、1.4、1.8、2.4Tとした6種類のシミュレーションモデルを作成した。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aの端部近傍上の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図14中に符号Aを付した曲線で示されるような結果が得られた。
上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルに対し、上側軟磁性層24の飽和磁化量を0.8T又は2.4Tに設定し、上側軟磁性層24の膜厚を0.2〜5nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aの端部近傍上の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図15中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、上記シミュレーション例5と同様に、記録層22上に上側軟磁性層が存在しない磁気記録媒体における、磁気ヘッド14の直下の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aの端部近傍の記録磁界の大きさを図15中に符号S4を付した直線で示す。
上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルに対し、上側軟磁性層24の飽和磁化量を0.8T又は2.4Tに設定し、中間層20の膜厚を5〜20nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例1のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド14の直下の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aの端部近傍上の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図16中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、上記シミュレーション例5と同様に、記録層22上に上側軟磁性層が存在しない磁気記録媒体における、磁気ヘッド14の直下の記録要素22Aに隣接する他の記録要素22Aの端部近傍の記録磁界の大きさを図16中に符号S4を付した直線で示す。
上記第3実施形態のとおり、面内記録型の磁気記録媒体42を備える磁気記録装置40のシミュレーションモデルを作成した。具体的には、以下のようにシミュレーションモデルの条件を設定した。
(記録要素44Aの径方向の並設ピッチ)
記録要素44Aの径方向の幅 :100nm
記録要素44A間の凹部の径方向の幅 :100nm
記録層44の膜厚 : 25nm
上側軟磁性層24の膜厚 : 5nm
中間層20の膜厚 : 20nm
磁気ヘッド46の記録磁極の幅 :100nm
磁気ヘッド46に加わる起磁力 :0.2AT
磁気ヘッド46の浮上高さ : 15nm
(磁気記録媒体42の上側軟磁性層24の表面に対する磁気ヘッド46の浮上高さ)
上記シミュレーション例8のシミュレーションモデルのうち、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8T及び2.4Tである2種類のシミュレーションモデルに対し、上側軟磁性層24の膜厚を0.2〜5nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例8のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド46の直下の中央近傍の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図19中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、シミュレーション例8と同様に一般的な面内記録型のハードディスクにおける、媒体への記録に必要な媒体表面における記録磁界の大きさを図19中に符号S5を付した直線で示す。
上記シミュレーション例8のシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド46の直下の記録要素44Aに隣接する他の記録要素44Aの端部近傍上の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図22中に符号Aを付した曲線で示されるような結果が得られた。
上記シミュレーション例8のシミュレーションモデルに対し、上側軟磁性層24の飽和磁化量を0.8T又は2.4Tに設定し、上側軟磁性層24の膜厚を0.2〜5nmの範囲で変化させた複数のシミュレーションモデルを作成した。尚、他の条件は上記シミュレーション例8のシミュレーションモデルと同様とした。これらのシミュレーションモデルについてシミュレーションを実行し、磁気ヘッド46の直下の記録要素44Aに隣接する他の記録要素44Aの端部近傍上の媒体表面における記録磁界の大きさを算出したところ、図23中に符号A及び符号Bを付した曲線で示されるような結果が得られた。尚、符号Aを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が0.8Tの場合を示し、符号Bを付した曲線は、上側軟磁性層24の飽和磁化量が2.4Tの場合を示す。又、上記シミュレーション例10と同様に、記録層44上に上側軟磁性層が存在しない磁気記録媒体における、磁気ヘッド46の直下の記録要素44Aに隣接する他の記録要素44Aの端部近傍の記録磁界の大きさを図23中に符号S8を付した直線で示す。
12、32、42、52…磁気記録媒体
14、46…磁気ヘッド
16…基板
18…下側軟磁性層
20…中間層
22、44…記録層
22A、44A…記録要素
24…上側軟磁性層
26…非磁性体
Claims (7)
- 記録層が所定の凹凸パターンで形成された磁気記録媒体であって、
前記記録層の上面に軟磁性層が形成されたことを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項1において、
前記軟磁性層は、前記凹凸パターンの凸部上及び凹部上に前記記録層の上面を含む平面に沿って一様に形成されたことを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項1又は2において、
前記軟磁性層は、飽和磁化が0.8〜2.4Tの範囲で、厚さが0.2〜5nmであることを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記記録層は厚さ方向に磁化するように構成された垂直記録層であることを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項4において、
前記軟磁性層を上側軟磁性層として、前記記録層と、前記基板と、の間に下側軟磁性層が形成されたことを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項5において、
前記記録層と、前記下側軟磁性層と、の間に厚さが5〜20nmの非磁性の中間層が形成されたことを特徴とする磁気記録媒体。 - 請求項1乃至6のいずれかに記載の磁気記録媒体と、該磁気記録媒体に対し記録、再生を行うための磁気ヘッドと、を備えたことを特徴とする磁気記録装置。
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