JP2005109562A - 指数変換回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】 温度の変化および回路素子の寸法のバラツキがあっても、出力電流の指数変換特性に影響が表われない指数変換回路を提供する。
【解決手段】 電圧変換回路1Aにより、基準電圧Vref1、Vref2は、利得制御信号VGにより制御される利得に基づいて、差動出力電圧Vd1、Vd2に変換され、アクティブインピーダンスブリッジ2へ入力される。アクティブインピーダンスブリッジ2では、増幅器25によって生成されるVg3と指数変換特性の傾き制御電圧Vg4の比(Vg4/Vg3)によって平衡状態が保たれ、利得制御信号VGが定まる。利得制御信号VGで利得が制御される電圧変換回路1Bにより、基準電圧Vref1と制御電圧Vcが差動出力電圧Vd3に変換され、指数変換素子3に入力される。これにより、制御電圧Vcに対する指数変換素子3の出力電流IOUTの指数変換特性の傾きは、Vg4/Vg3に依存して決定される。
【選択図】 図1

Description

本発明は、入力電圧に対して指数関数的に変化する電流を出力する指数変換回路に関する。
近年、携帯電話機に代表される移動体通信の需要が拡大しており、それに伴い、周波数利用効率の高い通信方式が求められている。その通信方式の一つに符号分割多元接続(CDMA)方式がある。
このCDMA方式では、移動局における送信電力の細かな制御が要求されるため、IF(中間周波数)部に使用される可変利得アンプには、70dB以上の広範囲な利得(ゲイン)の制御が要求される。一般に、このような広範囲の利得制御を行うには、利得制御信号に対して、指数関数的に信号レベルを変化させることが必要とされる。また、その制御特性が温度に対して安定していることが望まれる。
一方、携帯電話機は小型、かつ軽量であることが求められるので、そこに使用する回路としては、種々の機能回路を集積した集積回路が適している。
そこで、本発明者らは、先に、弱反転領域のMOSトランジスタを用い、温度変動によって指数変換特性に影響を受けることのない指数変換回路およびこれを用いたCMOS型可変利得回路を提案した(特許文献1参照。)。
図4は、特許文献1に開示された指数変換回路を示す回路図である。
第1の電圧変換回路1Aは、入力された2つの基準電圧Vref1、Vref2を、利得制御信号VGにより決定される倍率に基づいて、差動出力電圧Vd1、Vd2に変換する。
MOSトランジスタ401は、弱反転領域で駆動され、差動出力電圧Vd1に対して指数関数的に変化するドレイン電流I1を生成し、MOSトランジスタ402は、弱反転領域で駆動され、差動出力電圧Vd2に対して指数関数的に変化するドレイン電流I2を生成する。
この出力電流I1と出力電流I2の比は、カレントミラー回路4を構成するMOSトランジスタ403と404のトランジスタ寸法比m:nになる。すなわち、出力電流I1と出力電流I2の比は、次の式で表わされる。
I2/I1=n/m ・・・ (1)
そのため、利得制御信号VGの値も、この比m:nに応じて変化する。
また、第2の電圧変換回路1Bは、入力された基準電圧Vref1と制御電圧Vcを、利得制御信号VGにより決定される倍率に基づいて、差動出力電圧Vd3に変換する。そして、弱反転領域で駆動されるMOSトランジスタ300は、差動出力電圧Vd3に対して指数関数的に変化する出力電流IOUTを生成する。したがって、出力電流IOUTは、制御電圧Vcの変化に対して指数関数的に変化する。
この出力電流IOUTと制御電圧Vcの関係を出力電流IOUTの対数をとって表わすと次の式となる。
ln(IOUT)=ln(I0)+{1/2・ln(n/m)/(Vref2−Vref1)}・(Vc−Vref1) ・・・ (2)
ここで、I0は、電圧変換回路1A、1Bに固有の定電流である。
式(2)に見るように、図4に示す指数変換回路は、出力電流IOUTに温度変動による影響が表れない回路となっている。
特開2002-92541号公報 (第13ページ、図5)
しかしながら、式(2)で表わされる出力電流特性は、その傾きが、カレントミラー回路4を構成するMOSトランジスタ403と404のトランジスタ寸法比m:nで決定されるため、製造時のバラツキなどによる寸法比のずれが生じると、制御電圧に対する出力電流の指数変換特性の傾きが、その影響を受ける可能性があった。
一例として、図5に、MOSトランジスタ403と404のトランジスタ寸法比m:nが所望の値から+10%および−10%変動したときの出力電流IOUT(対数)の制御電圧Vcに対する出力特性の変動の様子を示す。
図5に見るように、MOSトランジスタ403と404のトランジスタ寸法比m:nが変動すると、それに応じて、制御電圧に対する出力電流の指数変換特性の傾きが変動していることがわかる。
そこで、本発明の目的は、温度変動による指数変換特性の変動がなく、かつ、MOSトランジスタの寸法にバラツキがあっても、制御電圧に対する出力電流の指数変換特性の傾きに変動が生じない指数変換回路を提供することにある。
本発明の一態様によれば、第1および第2の基準電圧を入力として第1および第2の差動出力電圧に変換する、増幅度の制御が可能な第1の電圧変換回路と、前記第1の基準電圧と第1の制御入力電圧を入力として第3の差動出力電圧に変換する、増幅度の制御が可能な第2の電圧変換回路と、前記第3の差動出力電圧を入力とし、前記第3の差動出力電圧に対して指数関数的に変化する電流を出力する指数変換素子と、前記第1および第2の差動出力電圧が入力され、前記第1の電圧変換回路および前記第2の電圧変換回路に増幅度制御信号を出力する、第1乃至第4のトランスコンダクタンス素子により構成されるインピーダンスブリッジとを備え、前記第1のトランスコンダクタンス素子に、前記第1の差動出力電圧が入力され、前記第2のトランスコンダクタンス素子に、前記第2の差動出力電圧が入力され、前記第3のトランスコンダクタンス素子に、前記第1のトランスコンダクタンス素子と前記第2のトランスコンダクタンス素子の出力電流の差に応じた電圧が増幅器を介して入力され、前記第4のトランスコンダクタンス素子に、第2の制御電圧が入力されることを特徴とする指数変換回路が提供される。
本発明の指数変換回路によれば、制御電圧に対する出力電流の指数変換特性が、温度変動に対してのみならず、製造上のMOSトランジスタの寸法のバラツキに対しても変動することなく安定している。そのため、温度変動や素子の特性変動の影響が少ない可変利得増幅器を構成することが可能である。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施例に係る指数変換回路の構成を示すブロック図である。
本実施例において、第1の電圧変換回路1Aは、入力された2つの基準電圧Vref1、Vref2を、利得制御信号VGにより制御される利得に基づいて、差動出力電圧Vd1、Vd2に変換する差動増幅回路である。第2の電圧変換回路1Bは、入力された基準電圧Vref1と制御電圧Vcを、利得制御信号VGにより制御される利得に基づいて、差動出力電圧Vd3に変換する差動増幅回路である。また、指数変換素子3は、差動出力電圧Vd3に対して指数関数的に変化する出力電流IOUTを生成する。これにより、制御電圧Vcの変化に対して指数関数的に変化する出力電流IOUTが得られる。
第1の電圧変換回路1Aの差動出力電圧Vd1、Vd2は、アクティブインピーダンスブリッジ2へ入力され、第1および第2の電圧変換回路1A、1Bの利得制御信号VGが、アクティブインピーダンスブリッジ2から出力される。
アクティブインピーダンスブリッジ2は、4つのトランスコンダクタンス素子21、22、23、24および増幅器25から構成される。
トランスコンダクタンス素子21の入力電圧Vg1には差動出力電圧Vd1が入力され、トランスコンダクタンス素子22の入力電圧Vg2には差動出力電圧Vd2が入力される。なお、トランスコンダクタンス素子21の一端は接地端子に接続され、他端はトランスコンダクタンス素子23に接続される。同様に、トランスコンダクタンス素子22の一端は接地端子に接続され、他端はトランスコンダクタンス素子24に接続される。
一方、トランスコンダクタンス素子23の入力電圧Vg3には増幅器25の出力電圧が与えられ、トランスコンダクタンス素子24には指数変換特性の傾き制御電圧Vg4が入力される。トランスコンダクタンス素子23の一端はバイアス電源端子に接続され、他端はトランスコンダクタンス素子21に接続される。同様に、トランスコンダクタンス素子24の一端はバイアス電源端子に接続され、他端はトランスコンダクタンス素子22に接続される。
ここで、増幅器25には、トランスコンダクタンス素子21とトランスコンダクタンス素子23の接続端の電位およびトランスコンダクタンス素子22とトランスコンダクタンス素子24の接続端の電位が入力される。このトランスコンダクタンス素子21〜24のそれぞれのトランスコンダクタンスをgm1〜gm4とすると、増幅器25は、gm2/gm1=gm4/gm3なる平衡条件が成り立つように、トランスコンダクタンス素子23の入力電圧Vg3を生成する。
図2は、アクティブインピーダンスブリッジ2および指数変換素子3にMOSトランジスタを用いた本発明の実施例に係る指数変換回路の回路図である。
本実施例においては、弱反転領域で駆動されるMOSトランジスタ201、202、203、204がアクティブインピーダンスブリッジ2を構成し、それぞれ図1におけるトランスコンダクタンス素子21、22、23、24に相当する。また、弱反転領域で駆動されるMOSトランジスタ300が指数変換素子となる。
ここで、MOSトランジスタ201、202、203、204のそれぞれのトランスコンダクタンスをgm1、gm2、gm3、gm4、それぞれのゲート電圧をVg1、Vg2、Vg3、Vg4、それぞれのドレイン電流をI1、I2、I3、I4とする。
このとき、アクティブインピーダンスブリッジ2は、増幅器25によってMOSトランジスタ203へフィードバックをかけて、ブリッジの平衡条件gm2/gm1=gm4/gm3を保つようにVg3を生成する。その結果、ドレイン電流I1〜I4の間には、次の関係式が成り立つ。
I2/I1=I4/I3 ・・・ (3)
同様に、ゲート電圧Vg1〜Vg4の間には、次の関係式が成り立つ。
Vg2/Vg1=Vg4/Vg3 ・・・ (4)
したがって、図2の回路においては、電流比I2/I1をゲート電圧比に置き換えることができる。
そこで、式(2)のn/mの項をゲート電圧比Vg4/Vg3で置き換えると、図2の回路における出力電流IOUTと制御電圧Vcの関係を表わす式は次のようになる。
ln(IOUT)=ln(I0)+{1/2・ln(Vg4/Vg3)/(Vref2−Vref1)}・(Vc−Vref1) ・・・ (5)
式(5)が示すように、出力電流の指数変換特性の傾きが、ゲート電圧比Vg4/Vg3により決定されており、出力電流の変化の傾きがMOSトランジスタの寸法のバラツキの影響を受けない形となっている。また、本式においても、出力電流IOUTには、温度変動による影響が表れない。
図3は、図2の回路において、制御電圧Vcに対する出力電流IOUT(対数)をシミュレーションしてプロットしたグラフである。ここで、MOSトランジスタ204のゲート電圧Vg4は、出力電流の変化の傾きが図5のグラフと同じになるように調整している。また、MOSトランジスタの寸法のバラツキの影響を見るために、出力電流特性の傾きを決定するMOSトランジスタ203と204の寸法比を+10%および−10%変動させたときのシミュレーション結果も併せてプロットしている。
図3に見られるように、図2の回路においては、MOSトランジスタの寸法にバラツキがあっても、制御電圧Vcに対する出力電流IOUTの指数変換特性の傾きに変動が生じることがなく、安定している。
本発明の実施例に係る指数変換回路の構成を示すブロック図。 本発明の実施例に係る指数変換回路の回路図。 本発明の実施例に係る指数変換回路の出力電流特性図。 従来の指数変換回路の回路図。 従来の指数変換回路の出力電流特性図。
符号の説明
1A、1B 電圧変換回路
2 アクティブインピーダンスブリッジ
3 指数変換素子
4 カレントミラー回路
21、22、23、24 トランスコンダクタンス素子
25 増幅器
201、202、203、204、
300、
401、402、403、404 MOSトランジスタ

Claims (5)

  1. 第1および第2の基準電圧を入力として第1および第2の差動出力電圧に変換する、増幅度の制御が可能な第1の電圧変換回路と、
    前記第1の基準電圧と第1の制御入力電圧を入力として第3の差動出力電圧に変換する、増幅度の制御が可能な第2の電圧変換回路と、
    前記第3の差動出力電圧を入力とし、前記第3の差動出力電圧に対して指数関数的に変化する電流を出力する指数変換素子と、
    前記第1および第2の差動出力電圧が入力され、前記第1の電圧変換回路および前記第2の電圧変換回路に増幅度制御信号を出力する、第1乃至第4のトランスコンダクタンス素子により構成されるインピーダンスブリッジとを備え、
    前記第1のトランスコンダクタンス素子に、前記第1の差動出力電圧が入力され、前記第2のトランスコンダクタンス素子に、前記第2の差動出力電圧が入力され、前記第3のトランスコンダクタンス素子に、前記第1のトランスコンダクタンス素子と前記第2のトランスコンダクタンス素子の出力電流の差に応じた電圧が増幅器を介して入力され、前記第4のトランスコンダクタンス素子に、第2の制御電圧が入力されることを特徴とする指数変換回路。
  2. 前記第1乃至第4のトランスコンダクタンス素子のそれぞれのトランスコンダクタンスgm1、gm2、gm3およびgm4の間に、gm2/gm1=gm4/gm3なる平衡条件が成り立つことを特徴とする請求項1に記載の指数変換回路。
  3. 前記第2の制御電圧が指数変換特性の傾きを決定することを特徴とする請求項1または2に記載の指数変換回路。
  4. 前記指数変換素子が、弱反転領域で動作するMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の指数変換回路。
  5. 前記第1乃至第4のトランスコンダクタンス素子のそれぞれが、弱反転領域で動作するMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の指数変換回路。
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