JP2005109523A - Pod cleaning and drying equipment for semiconductor wafer and the like - Google Patents

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JP2005109523A JP2004376136A JP2004376136A JP2005109523A JP 2005109523 A JP2005109523 A JP 2005109523A JP 2004376136 A JP2004376136 A JP 2004376136A JP 2004376136 A JP2004376136 A JP 2004376136A JP 2005109523 A JP2005109523 A JP 2005109523A
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pod
cleaning
lid
main body
drying
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Japanese (ja)
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Shinsaku Miyamoto
晋作 宮本
Nobuo Sotoike
信雄 外池
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TAKESHIBA ELECTRIC Co Ltd
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TAKESHIBA ELECTRIC Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a robot which sequentially carries a pod body part and a pod lid part from the vicinity of an equipment body into a cleaning chamber of the equipment body, and after cleaning and drying, carries the pod body part and the pod lid part to the vicinity of the equipment body in the reverse order and assembles them in their former states, since a robot is not equipped in conventional pod cleaning and drying equipment for semiconductor wafers and the like. <P>SOLUTION: Pod cleaning and drying equipment for semiconductor wafers and the like, is constituted by providing a pod-placing part 2 in the vicinity of pod-cleaning and drying equipment body 1, and a robot 3 which, before cleaning, takes and separates the pod body part and the pod lid part from a pod 50 placed in the pod placing part 2 and carries and makes them engage into the cleaning chamber of the equipment body 1, and after cleaning and drying, sequentially takes the pod lid part and the pod body part from the lid body of the cleaning chamber in reverse and carries them to the pod-placing part 2, attaches the pod body to part the pod lid part and assembles the pod 50. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置に関する。   The present invention relates to a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like.

従来、半導体ウエハ等は、ポッド本体部とポッド蓋部とからなるポッドに収容して搬送しており、その洗浄装置としては、特開平11−340311に記載のように、前記ポッドをポッド本体部とポッド蓋部に分離して、それぞれ洗浄する洗浄装置が知られている。 Conventionally, a semiconductor wafer or the like is accommodated and transported in a pod composed of a pod main body and a pod lid, and as the cleaning device, the pod is a pod main body as described in JP-A-11-340311. There is known a cleaning device that separates into a pod lid and cleans them separately.

この従来装置は、前記ポッド本体部を収容し洗浄するための洗浄室を密閉するための蓋体に、前記ポッド蓋部の内面のみが露出するように一体に取り付けて洗浄するように構成してある。 This conventional apparatus is configured to be integrally attached to a lid for sealing a cleaning chamber for storing and cleaning the pod main body so that only an inner surface of the pod lid is exposed and cleaned. is there.

従来装置においては、ポッド本体部は洗浄室内で全体を洗浄しているのに対し、前記ポッド蓋部は前記ポッド内部に露出する部分のみが前記洗浄室内に露出して洗浄されていたため、ポッド蓋部の全体を洗浄することができない課題があった。 In the conventional apparatus, the pod main body portion is cleaned entirely in the cleaning chamber, whereas the pod lid portion is cleaned by exposing only the portion exposed inside the pod to the cleaning chamber. There was a problem that the entire part could not be cleaned.

また、従来の洗浄液又はドライエアを噴出するノズルを設けた回転式の洗浄体では回転連結部の構造を有するため、前記ノズルから高圧の洗浄液又はドライエアを噴出することが困難であった。
また、従来の前記洗浄装置は前記ポッド蓋部と前記ポッド本体部を固定して洗浄するため、全体を満遍なく確実に洗浄し乾燥するには前記洗浄ノズルを多方向に設ける必要があり、これにより前記ノズルの構造が複雑化する課題があった。
In addition, since a conventional rotary cleaning body provided with a nozzle for ejecting cleaning liquid or dry air has a structure of a rotation connecting portion, it is difficult to eject high-pressure cleaning liquid or dry air from the nozzle.
In addition, since the conventional cleaning device fixes and cleans the pod lid and the pod main body, it is necessary to provide the cleaning nozzles in multiple directions in order to reliably clean and dry the whole. There has been a problem that the structure of the nozzle is complicated.

また、乾燥時においては、前記洗浄室に負圧をかける吸引手段がないため、前記ポッドを乾燥させるのに時間がかかる課題があった。
また、従来の前記ノズルから噴出する洗浄液では洗浄力が弱く完全に洗浄できるまでに時間がかかる課題があった。
Further, since there is no suction means for applying a negative pressure to the cleaning chamber during drying, there is a problem that it takes time to dry the pod.
In addition, the conventional cleaning liquid ejected from the nozzle has a problem that it takes a long time until the cleaning power is weak and complete cleaning is possible.

そこで、本発明は、請求項1に記載のように、ポッドをポッド本体部とポッド蓋部に分離した状態で洗浄し乾燥するための洗浄液とドライエアを噴出するノズルを備えた半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置であって、前記ポッド本体部を収納して洗浄する洗浄室を前記ポッド蓋部を収納して洗浄する洗浄室蓋体により密閉して洗浄し乾燥するようになした半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。 Accordingly, the present invention provides a pod such as a semiconductor wafer provided with a cleaning liquid for cleaning and drying in a state where the pod is separated into a pod main body part and a pod cover part and a nozzle for ejecting dry air. A cleaning / drying apparatus, wherein a cleaning chamber for storing and cleaning the pod main body is sealed with a cleaning chamber lid for storing and cleaning the pod lid, and is cleaned and dried. A pod cleaning and drying apparatus is provided.

本発明によれば、従来は、洗浄時にポッド蓋部を洗浄室外に配置していたため、ポッド蓋部の全体を洗浄することができなかったが、本装置では、前記洗浄室内に前記ポッド蓋部を収納しているから、前記ポッド蓋部全体を前記ノズルにより満遍なく洗浄し乾燥することができる。
また前記洗浄室蓋体で前記洗浄室を密閉していることにより内部に収納した前記ポッド本体部と前記ポッド蓋部を確実に洗浄し乾燥することができる。
According to the present invention, since the pod lid portion was conventionally disposed outside the cleaning chamber during cleaning, the entire pod lid portion could not be cleaned. Therefore, the entire pod lid portion can be evenly washed and dried by the nozzle.
Further, since the cleaning chamber is hermetically sealed with the cleaning chamber lid, the pod main body portion and the pod lid portion housed therein can be reliably cleaned and dried.

また、本発明は、請求項2に記載のように、請求項1に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室の底部に前記ポッド本体部を係止する回転台を回転自在に設け、前記洗浄室の側面には前記ポッド本体部の外側に洗浄液又はドライエアを噴出するノズルを備えた外側洗浄体を固定して設けてあり、また、前記洗浄室の中心部には前記ポッド本体部の内側に前記ノズルを備えた内側洗浄体を前記回転台の支軸と一体に固定して設け、洗浄時に前記回転台の回転により、前記ポッド本体部を回転させながら前記外側洗浄体と前記内側洗浄体により洗浄液で洗浄しドライエアで乾燥するようになした半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。 According to a second aspect of the present invention, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to the first aspect, a turntable for locking the pod main body to the bottom of the cleaning chamber is rotatable. And an outer cleaning body having a nozzle for ejecting cleaning liquid or dry air is fixed to the outside of the pod main body on the side surface of the cleaning chamber, and the pod is disposed at the center of the cleaning chamber. An inner cleaning body provided with the nozzle inside the main body is fixed integrally with the support shaft of the turntable, and the outer cleaning body is rotated while rotating the pod main body by the rotation of the turntable during cleaning. The present invention provides a pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like which is cleaned with a cleaning liquid by the inner cleaning body and dried with dry air.

本発明によれば、前記回転台の回転により前記回転台に載置した前記ポッド本体部を回転させることで、前記内側洗浄体及び前記外側洗浄体を一定方向に固定的に設けるだけで前記ポッド本体部の内側面に満遍なく洗浄液を吹きつけ洗浄し、ドライエアを吹きつけ乾燥することができる。
また、前記内側洗浄体が固定されているため、回転式の洗浄体に比べ、回転連結部のない構造で洗浄液又はドライエアを前記ノズルから確実に噴出することができる。
According to the present invention, the pod main body mounted on the turntable is rotated by the rotation of the turntable, so that the inner cleaning body and the outer cleaning body are fixedly provided in a fixed direction. Cleaning can be performed by spraying the cleaning liquid evenly on the inner surface of the main body, and drying can be performed by blowing dry air.
In addition, since the inner cleaning body is fixed, the cleaning liquid or dry air can be reliably ejected from the nozzle with a structure having no rotation connecting portion as compared with the rotary cleaning body.

また、本発明は、請求項3に記載のように、請求項1又は2に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室蓋体が洗浄室の上部に密着する筒状蓋部と該洗浄室蓋体の上端側に位置して設けた上蓋部とからなり、前記筒状蓋部にはノズルを上下両向きに設けると共に、前記上蓋部には回転板を回転自在に設け、該回転板に前記ポッド蓋部を着脱自在に係止する係止部を設け、洗浄時に前記回転板の回転により、前記係止部に係止した前記ポッド蓋部を回転させながら前記ノズルにより洗浄液で洗浄しドライエアで乾燥するようになした半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
本発明によれば、前記回転板の回転によりポッド蓋部が回転するから、従来のノズルを回転して洗浄する方法に比べ、ノズルの回転構造を不要にすることができる。
Further, according to the present invention, as described in claim 3, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to claim 1 or 2, the cylindrical lid portion in which the cleaning chamber lid is in close contact with the upper portion of the cleaning chamber And an upper lid portion provided on the upper end side of the cleaning chamber lid body, the nozzle provided on the cylindrical lid portion in both the upper and lower directions, and a rotating plate provided rotatably on the upper lid portion, The rotating plate is provided with a locking portion for detachably locking the pod lid, and the cleaning liquid is washed by the nozzle while rotating the pod lid locked to the locking portion by rotation of the rotating plate during cleaning. And a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers, etc., which is cleaned with dry air and dried with dry air.
According to the present invention, since the pod lid is rotated by the rotation of the rotating plate, the nozzle rotating structure can be made unnecessary as compared with the conventional method of rotating and cleaning the nozzle.

また、本発明は、請求項4に記載のように、請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室の底部にドライエア又は洗浄液を吸引して負圧をかけるための吸引手段が設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
本発明によれば、前記吸引手段で洗浄室に弱い負圧をかけることで洗浄と乾燥を効果的に行うことができる。
また、本発明は、請求項5に記載のように、請求項4に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記吸引手段にドライエアとドライエアに含まれる洗浄液を分離して排出するサイクロン装置を設けてなる構成を半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like according to any one of the first to third aspects, the dry air or the cleaning liquid is sucked into the bottom of the cleaning chamber. A pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like provided with a suction means for applying pressure is provided.
According to the present invention, cleaning and drying can be effectively performed by applying a weak negative pressure to the cleaning chamber with the suction means.
Further, according to the present invention, as described in claim 5, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to claim 4, a cyclone apparatus that separates and discharges the cleaning liquid contained in the dry air and the dry air to the suction means A pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like is provided.

本発明によれば、前記吸引手段により同時に吸引されたドライエアと洗浄液を前記サイクロン装置により排気と排水に分離することができる。
また、本発明は、請求項6に記載のように、請求項1乃至5のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、洗浄液の供給源に超音波装置を設け、前記ノズルから噴出する洗浄液に超音波を付与するようになした半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
本発明によれば、超音波を洗浄液に付与する前記超音波装置を供給源に一箇所設けるだけで多数の前記ノズルから超音波を付与した洗浄液を噴出させることができる。
According to the present invention, the dry air and the cleaning liquid sucked simultaneously by the suction means can be separated into exhaust and waste water by the cyclone device.
According to a sixth aspect of the present invention, in the pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like according to any one of the first to fifth aspects, an ultrasonic device is provided as a cleaning liquid supply source, Provided is a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like, which applies ultrasonic waves to the cleaning liquid to be ejected.
According to the present invention, the cleaning liquid to which ultrasonic waves are applied can be ejected from a large number of the nozzles only by providing the ultrasonic device for applying ultrasonic waves to the cleaning liquid at one place in the supply source.

また、本発明は、請求項7に記載のように、請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室及び前記洗浄室蓋体内部の水蒸気を吸引するための水蒸気吸引手段を前記筒状蓋部に設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
本発明によれば、洗浄後に前記洗浄室と前記洗浄室蓋体内部の水蒸気を吸引することによって、前記洗浄室と前記洗浄室蓋体内部の湿気を排除し、負圧を付与することにより前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部を迅速に乾燥させることができる。
また、本発明は、請求項8に記載のように、請求項3乃至7のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ポッド蓋部を係止した前記回転板の回転速度を制御する手段を設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
Further, according to the present invention, as described in claim 7, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to any one of claims 1 to 6, the water vapor inside the cleaning chamber and the cleaning chamber lid is sucked. The present invention provides a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers, etc., in which a water vapor suction means is provided on the cylindrical lid.
According to the present invention, after the cleaning, the water inside the cleaning chamber and the cleaning chamber lid is sucked, thereby eliminating the moisture inside the cleaning chamber and the cleaning chamber lid, and applying the negative pressure The pod lid or the pod main body can be quickly dried.
Further, according to the present invention, as described in claim 8, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to any one of claims 3 to 7, the rotational speed of the rotating plate that locks the pod lid portion. The present invention provides a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like provided with means for controlling the above.

本発明によれば、洗浄時には前記ポッド蓋部を低速回転に維持し前記ポッド蓋部を満遍なく確実に洗浄することができ、また乾燥時には前記ポッド蓋部を急速に高速回転させ、前記ポッド蓋部に付着した水分を遠心力で飛ばした後に高速回転を低速回転へ移行し前記ポッド蓋部を乾燥させることができる。
また、本発明は、請求項9に記載のように、請求項1乃至8のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、装置本体の近傍に、ポッド載置部を設け、載置されたポッドのポッド蓋部を着脱自在に係止すると共に、洗浄前において前記ポッド載置部のポッドからポッド本体部を把持して分離し装置本体の洗浄室内に搬送し係止させ、次いでポッド載置部から前記ポッド蓋部を把持して装置本体の洗浄室蓋体に搬送し係止させる一方、洗浄乾燥後において洗浄室蓋体からポッド蓋部を把持して分離しポッド載置部に搬送し、次いで洗浄室からポッド本体部を把持してポッド載置部に搬送し、ポッド蓋部にポッド本体部を装着してポッドを組立てるロボットを設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
According to the present invention, at the time of cleaning, the pod lid can be maintained at a low speed to wash the pod lid evenly and reliably, and at the time of drying, the pod lid can be rapidly rotated at a high speed. After the water adhering to the surface is blown away by centrifugal force, the high speed rotation can be shifted to the low speed rotation to dry the pod lid.
Further, according to a ninth aspect of the present invention, in the pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like according to any one of the first to eighth aspects, a pod mounting portion is provided in the vicinity of the apparatus main body. The pod lid portion of the placed pod is detachably locked, and the pod main body portion is gripped and separated from the pod of the pod mounting portion before cleaning, transported into the cleaning chamber of the apparatus main body, and then locked. The pod lid is gripped from the pod mounting portion and transported and locked to the cleaning chamber lid of the apparatus main body, while the pod lid is gripped and separated from the cleaning chamber lid after cleaning and drying. Pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers, etc., which is equipped with a robot for gripping the pod main body from the cleaning chamber and transporting it to the pod mounting section and mounting the pod main body on the pod lid to assemble the pod Providing That.

本発明によれば、ロボットによって、ポッド載置部で前記ポッドの分離又は組立作業を行うことができると共に、装置本体の洗浄室及び洗浄室蓋体にポッド本体部及びポッド蓋部を搬送し着脱することができる。
また、本発明は、請求項10に記載のように、請求項9に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室に前記ポッド本体部を収納する際に前記洗浄室に前記ロボットのロボットアームが入る拡張部を設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
According to the present invention, the robot can separate or assemble the pod at the pod mounting portion, and transport the pod main body and the pod lid to the cleaning chamber and the cleaning chamber lid of the main body of the apparatus. can do.
Further, according to the present invention, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to claim 9, when the pod main body is stored in the cleaning chamber, the robot is placed in the cleaning chamber. The present invention provides a pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like provided with an extended portion for receiving the robot arm.

本発明によれば、前記洗浄室に前記ロボットアームが入る前記拡張部を設けることで、前記ロボットが前記ポッド本体部の側面を把持した状態で前記洗浄室に搬送しても前記洗浄室と接触せずに搬送し収納することができる。
また、本発明は、請求項11に記載のように、請求項3乃至10のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記回転板に前記ポッド蓋部を着脱自在に係止するための吸着部を設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置を提供するものである。
なお、ポッド蓋部を係止する回転板は、静止位置が一定になるように制御され、事前に設定してある取付位置でポッド蓋部を狂いなくロボットにより取り付けられるように制御されている。
According to the present invention, by providing the extension portion into which the robot arm enters the cleaning chamber, even if the robot is transported to the cleaning chamber while holding the side surface of the pod main body, it contacts the cleaning chamber. It can be conveyed and stored without
Further, according to the present invention, as described in claim 11, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to any one of claims 3 to 10, the pod lid portion is detachably locked to the rotating plate. The present invention provides a pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like, which is provided with an adsorbing section for the purpose.
Note that the rotating plate that locks the pod lid is controlled so that the stationary position is constant, and is controlled so that the pod lid can be attached by the robot without any deviation at a preset attachment position.

以上の通り、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項1に記載のように、ポッドをポッド本体部とポッド蓋部に分離した状態で洗浄し乾燥するための洗浄液とドライエアを噴出するノズルを備えた半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置であって、前記ポッド本体部を収納して洗浄する洗浄室を前記ポッド蓋部を収納して洗浄する洗浄室蓋体により密閉して洗浄し乾燥するようになした構成を有することにより、従来は、洗浄時にポッド蓋部を洗浄室外に配置していたため、ポッド蓋部の全体を洗浄することができなかったが、本装置では、前記洗浄室内に前記ポッド蓋部を収納しているから、前記ポッド蓋部全体を前記ノズルにより満遍なく洗浄し乾燥することができる効果がある。 As described above, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 1, the cleaning liquid for cleaning and drying in a state where the pod is separated into the pod main body and the pod lid. And a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like having nozzles for ejecting dry air, wherein a cleaning chamber for storing and cleaning the pod main body is sealed by a cleaning chamber lid for storing and cleaning the pod lid In the past, since the pod lid was placed outside the washing chamber during washing, the entire pod lid could not be washed. Then, since the pod lid portion is housed in the cleaning chamber, the entire pod lid portion can be uniformly washed and dried by the nozzle.

また前記洗浄室蓋体で前記洗浄室を密閉していることにより内部に収納した前記ポッド本体部と前記ポッド蓋部を確実に洗浄し乾燥することができる効果がある。
また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項2に記載のように、請求項1に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室の底部に前記ポッド本体部を係止する回転台を回転自在に設け、前記洗浄室の側面には前記ポッド本体部の外側に洗浄液又はドライエアを噴出するノズルを備えた外側洗浄体を固定して設けてあり、また、前記洗浄室の中心部には前記ポッド本体部の内側に前記ノズルを備えた内側洗浄体を前記回転台の支軸と一体に固定して設け、洗浄時に前記回転台の回転により、前記ポッド本体部を回転させながら前記外側洗浄体と前記内側洗浄体により洗浄液で洗浄しドライエアで乾燥するようになした構成を有することにより、前記回転台の回転により前記回転台に載置した前記ポッド本体部を回転させることで、前記内側洗浄体及び前記外側洗浄体を一定方向に固定的に設けるだけで前記ポッド本体部の内側面に満遍なく洗浄液を吹きつけ洗浄し、ドライエアを吹きつけ乾燥することができる効果がある。
Further, since the cleaning chamber is hermetically sealed with the cleaning chamber lid, the pod main body and the pod lid housed therein can be reliably cleaned and dried.
According to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 2, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to claim 1, the bottom of the cleaning chamber is A turntable for locking the pod main body is rotatably provided, and an outer cleaning body provided with a nozzle for ejecting cleaning liquid or dry air is fixed to the side surface of the cleaning chamber on the outer side of the pod main body, Further, an inner cleaning body provided with the nozzle inside the pod main body is fixed to the central portion of the cleaning chamber so as to be integrated with a support shaft of the rotating table, and by rotating the rotating table during cleaning, By rotating the pod main body, the outer cleaning body and the inner cleaning body are washed with a cleaning liquid and dried with dry air. By rotating the pod body, the cleaning solution is sprayed evenly on the inner surface of the pod body simply by fixedly providing the inner cleaning body and the outer cleaning body in a fixed direction, and drying is performed by blowing dry air. There is an effect that can be done.

また、前記内側洗浄体が固定されているため、回転式の洗浄体に比べ、回転連結部のない構造で洗浄液又はドライエアを前記ノズルから確実に噴出することができる効果がある。
また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項3に記載のように、請求項1又は2に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室蓋体が洗浄室の上部に密着する筒状蓋部と該洗浄室蓋体の上端側に位置して設けた上蓋部とからなり、前記筒状蓋部にはノズルを上下両向きに設けると共に、前記上蓋部には回転板を回転自在に設け、該回転板に前記ポッド蓋部を着脱自在に係止する係止部を設け、洗浄時に前記回転板の回転により、前記係止部に係止した前記ポッド蓋部を回転させながら前記ノズルにより洗浄液で洗浄しドライエアで乾燥するようになした構成を有することにより、前記回転板の回転によりポッド蓋部が回転するから、従来のノズルを回転して洗浄する方法に比べ、ノズルの回転構造を不要にすることができる効果がある。
Further, since the inner cleaning body is fixed, there is an effect that the cleaning liquid or the dry air can be reliably ejected from the nozzle with a structure having no rotation connecting portion as compared with the rotary cleaning body.
Moreover, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 3, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to claim 1, the cleaning chamber lid body Comprises a cylindrical lid portion that is in close contact with the upper portion of the cleaning chamber, and an upper lid portion that is provided on the upper end side of the cleaning chamber lid body, and the cylindrical lid portion is provided with nozzles in both upward and downward directions, and A rotating plate is rotatably provided on the upper lid portion, and a locking portion for detachably locking the pod lid portion is provided on the rotating plate, and locked to the locking portion by rotation of the rotating plate during cleaning. Since the pod lid is rotated by the rotation of the rotating plate, the conventional nozzle is rotated by having a configuration in which the pod lid is rotated with the cleaning liquid and dried with dry air while rotating the pod lid. Compared to the cleaning method, the nozzle Rolling structure there is an effect that can be dispensed with.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項4に記載のように、請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室の底部にドライエア又は洗浄液を吸引して負圧をかけるための吸引手段が設けてなる構成を有することにより、前記吸引手段で洗浄室に弱い負圧をかけることで洗浄と乾燥を効果的に行うことができる効果がある。
また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項5に記載のように、請求項4に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記吸引手段にドライエアと洗浄液を分離して排出するサイクロン装置を設けてなる構成を有することにより、前記吸引手段により同時に吸引されたドライエアと洗浄液を前記サイクロン装置により排気と排水に分離することができる効果がある。
Moreover, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 4, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to any one of claims 1 to 3, By having a configuration in which a suction means for sucking dry air or cleaning liquid and applying a negative pressure to the bottom of the chamber is provided, cleaning and drying can be effectively performed by applying a weak negative pressure to the cleaning chamber by the suction means. There are effects that can be performed.
According to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 5, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to claim 4, the suction means includes dry air and cleaning liquid. By providing a cyclone device that separates and discharges the air, there is an effect that the dry air and the cleaning liquid sucked simultaneously by the suction means can be separated into exhaust and waste water by the cyclone device.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項6に記載のように、請求項1乃至5のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、洗浄液の供給源に超音波装置を設け、前記ノズルから噴出する洗浄液に超音波を付与するようになした構成を有することにより、超音波を洗浄液に付与する前記超音波装置を供給源に一箇所設けるだけで多数の前記ノズルから超音波を付与した洗浄液を噴出させることができる効果がある。
また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項7に記載のように、請求項1乃至6のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室及び前記洗浄室蓋体内部の水蒸気を吸引するための水蒸気吸引手段を前記筒状蓋部に設けてなる構成を有することにより、洗浄後に前記洗浄室と前記洗浄室蓋体内部の水蒸気を吸引することによって、前記洗浄室と前記洗浄室蓋体内部の湿気を排除し、負圧を付与することにより前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部を迅速に乾燥させることができる効果がある。
According to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 6, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to any one of claims 1 to 5, By providing an ultrasonic device in the supply source and applying the ultrasonic wave to the cleaning liquid ejected from the nozzle, the ultrasonic device for applying the ultrasonic wave to the cleaning liquid is only provided in one place in the supply source. Thus, there is an effect that the cleaning liquid provided with ultrasonic waves can be ejected from a large number of the nozzles.
Moreover, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 7, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to any one of claims 1 to 6, By having a configuration in which the cylindrical lid portion is provided with a water vapor suction means for sucking water vapor inside the chamber and the cleaning chamber lid body, the water vapor inside the cleaning chamber and the cleaning chamber lid body is sucked after the cleaning. By doing so, there is an effect that moisture in the cleaning chamber and the cleaning chamber lid can be eliminated and the pod lid or the pod main body can be quickly dried by applying a negative pressure.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項8に記載のように、請求項3乃至7のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ポッド蓋部を係止した前記回転板の回転速度を制御する手段を設けてなる構成を有することにより、洗浄時には前記ポッド蓋部を低速回転に維持し前記ポッド蓋部を満遍なく確実に洗浄することができ、また乾燥時には前記ポッド蓋部を急速に高速回転させ、前記ポッド蓋部に付着した水分を遠心力で飛ばした後に高速回転を低速回転へ移行し前記ポッド蓋部を乾燥させることができる効果がある。 According to the pod cleaning and drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 8, the pod cleaning and drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to any one of claims 3 to 7, By having means for controlling the rotation speed of the rotating plate that locks the lid, it is possible to maintain the pod lid at a low speed during cleaning and to clean the pod lid evenly and reliably. In addition, when drying, the pod lid can be rapidly rotated at a high speed, and the water attached to the pod lid can be swept away by centrifugal force. There is.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項9に記載のように、請求項1乃至8のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、装置本体の近傍に、ポッド載置部を設け、載置されたポッドのポッド蓋部を着脱自在に係止すると共に、洗浄前において前記ポッド載置部のポッドからポッド本体部を把持して分離し装置本体の洗浄室内に搬送し係止させ、次いでポッド載置部から前記ポッド蓋部を把持して装置本体の洗浄室蓋体に搬送し係止させる一方、洗浄乾燥後において洗浄室蓋体からポッド蓋部を把持して分離しポッド載置部に搬送し、次いで洗浄室からポッド本体部を把持してポッド載置部に搬送し、ポッド蓋部にポッド本体部を装着してポッドを組立てるロボットを設けてなる構成を有することにより、ロボットによって、ポッド載置部で前記ポッドの分離又は組立作業を行うことができると共に、装置本体の洗浄室及び洗浄室蓋体にポッド本体部及びポッド蓋部を搬送し着脱することができる効果がある。 In addition, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 9, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to any one of claims 1 to 8, A pod mounting portion is provided in the vicinity of the pod so that the pod lid portion of the mounted pod is detachably locked, and the pod main body portion is grasped and separated from the pod of the pod mounting portion before cleaning. It is transported and locked in the cleaning chamber of the main body, and then the pod lid is gripped from the pod mounting section and transported to the cleaning chamber lid of the main body of the apparatus, and is locked from the cleaning chamber lid after cleaning and drying. A robot that grips and separates the lid and transports it to the pod mounting unit, then grips the pod body from the cleaning chamber and transports it to the pod mounting unit, and attaches the pod body to the pod lid and assembles the pod Configuration with By having the pod, the pod can be separated or assembled by the robot by the robot, and the pod body and the pod lid can be transferred to and removed from the cleaning chamber and the cleaning chamber lid of the apparatus body. There is an effect that can.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項10に記載のように、請求項9に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室に前記ポッド本体部を収納する際に前記洗浄室に前記ロボットのロボットアームが入る拡張部を設けてなる構成を有することにより、前記洗浄室に前記ロボットアームが入る前記拡張部を設けることで、前記ロボットが前記ポッド本体部の側面を把持した状態で前記洗浄室に搬送しても前記洗浄室と接触せずに搬送し収納することができる効果がある。 According to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 10, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to claim 9, the pod main body is placed in the cleaning chamber. By providing the extension portion into which the robot arm of the robot enters the cleaning chamber when storing the portion, the extension portion into which the robot arm enters the cleaning chamber is provided, so that the robot Even if the side surface of the pod main body is gripped and transported to the cleaning chamber, it can be transported and stored without contacting the cleaning chamber.

また、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置によれば、請求項11に記載のように、請求項3乃至10のいずれかに記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記回転板に前記ポッド蓋部を着脱自在に係止するための吸着部を設けてなる構成を有することにより、前記ポッド蓋部を自在に着脱することができると共に、前記回転板が傾斜している場合でも前記ポッド蓋部を固定させることができる効果がある。 Moreover, according to the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, as described in claim 11, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers according to claim 3, the rotation In the case where the pod cover part can be freely attached / detached and the rotating plate is inclined by having a configuration in which a suction part for detachably locking the pod cover part to the plate is provided. However, there is an effect that the pod lid can be fixed.

以下図示する実施例により、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置の実施の形態を説明する。
本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置1は、図1又は図2は示すように、ポッド洗浄乾燥システム10に含まれて設けてあり、その周囲に半導体ウエハ等のポッド50を収納するストッカー4と、ポッド50の分離又は組立作業を行うためのポッド載置部2と、ポッド50の分離、組立又は搬送作業を行うロボット3等が設けてある。94は操作状況を表示し操作するためシステム10の隅角部に角度調整自在に設けた操作パネルである。
Embodiments of a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention will be described below with reference to the illustrated examples.
As shown in FIG. 1 or FIG. 2, the pod cleaning / drying apparatus 1 for semiconductor wafers and the like according to the present invention is included in a pod cleaning / drying system 10 and accommodates a pod 50 such as a semiconductor wafer around it. A stocker 4, a pod placement unit 2 for performing separation or assembly work of the pod 50, a robot 3 for performing separation, assembly, or conveyance work of the pod 50 are provided. An operation panel 94 is provided at a corner portion of the system 10 so that the angle can be adjusted in order to display and operate the operation status.

ポッド50は、図3に記載のように、ポッド本体部52とポッド蓋部51からなり、図5又は図6に示すように、ポッド洗浄乾燥装置1は、ポッド本体部52を収納して洗浄する洗浄室8と、ポッド蓋部51を収納して洗浄する洗浄室蓋体9とからなる。
洗浄室8は、図6に記載のように、支持脚部83により固定して設けてあり、図3に示した実施例の場合、洗浄室8の底部中央を貫通して固定支軸20を設けてあり、この固定支軸20に軸受部85、86によって回転台13の回転軸部32を回転自在に支持してある。
As shown in FIG. 3, the pod 50 includes a pod main body 52 and a pod lid 51. As shown in FIG. 5 or 6, the pod cleaning / drying apparatus 1 stores and cleans the pod main body 52. And a cleaning chamber lid 9 for storing and cleaning the pod lid 51.
As shown in FIG. 6, the cleaning chamber 8 is fixed by a support leg 83, and in the case of the embodiment shown in FIG. 3, the fixed support shaft 20 passes through the center of the bottom of the cleaning chamber 8. The rotating shaft portion 32 of the turntable 13 is rotatably supported on the fixed support shaft 20 by bearing portions 85 and 86.

また、回転軸部32の外周部は、洗浄室8の底部に一体に設けた軸受部材33により軸受されている。
回転軸部32には軸受部材33の下部に位置してプーリー30が設けてあり、側方に設けたモータ26の駆動軸28のプーリー29との間に設けたタイミングベルト31により回転駆動するように構成してある。モータ26は固定支軸20の側方に位置して洗浄室8の底部の下面に位置して設けたステータ27に一体に固定してあり、固定支軸20と平行に上方に向かって設けた前記駆動軸28にプーリー29が設けてある。
Further, the outer peripheral portion of the rotating shaft portion 32 is supported by a bearing member 33 provided integrally with the bottom portion of the cleaning chamber 8.
The rotary shaft portion 32 is provided with a pulley 30 located below the bearing member 33 and is driven to rotate by a timing belt 31 provided between the pulley 29 of the drive shaft 28 of the motor 26 provided on the side. It is configured. The motor 26 is integrally fixed to a stator 27 that is located on the side of the fixed support shaft 20 and located on the bottom surface of the bottom of the cleaning chamber 8, and is provided upward in parallel with the fixed support shaft 20. A pulley 29 is provided on the drive shaft 28.

回転台13は、モータ26により回転速度を制御されて回転し、回転軸部32の回転静止位置を検出制御する原点センサ25により、予め設定した原点にて静止するように制御され、事前に設定されているロボットの取り付け位置で確実にポッド本体部52を取り付けることができるように構成してある。
回転台13には、図4に記載のように、4方に伸びた保持部84が設けてあって、その先端に位置して設けた4つの係止部24によって開口部を下にしたポッド本体部52の開口部の隅角部を着脱自在に係止することができるように構成してある。
The turntable 13 is controlled to rotate at a rotational speed by a motor 26, and is controlled to be stationary at a preset origin by an origin sensor 25 that detects and controls the rotational stationary position of the rotary shaft 32, and is set in advance. The pod main body 52 can be securely attached at the attachment position of the robot.
As shown in FIG. 4, the turntable 13 is provided with a holding portion 84 extending in four directions, and a pod whose opening portion is lowered by four locking portions 24 provided at the tip of the holding portion 84. The corner part of the opening part of the main-body part 52 is comprised so that it can detachably latch.

固定支軸20の上部には、ポッド本体部52の内側を洗浄し乾燥させるべく、ノズル16を上方向に備えた内側洗浄体18と、ノズル17を横向きに備えた内側洗浄体19を180度の角度間隔でそれぞれ2ヶ所に設けてある。固定支軸20の中心部には中空管80が貫通して設けてあり、図10に示した実施例の場合、本装置の外部に設けた供給源と中空管80を管81により連結してあり、供給源から中空管80を経由して内側洗浄体18、19にそれぞれ洗浄液又はドライエアが送られるように構成してある。 In the upper part of the fixed support shaft 20, an inner cleaning body 18 having the nozzle 16 upward and an inner cleaning body 19 having the nozzle 17 sideways are 180 degrees in order to clean and dry the inside of the pod main body 52. Are provided at two locations at angular intervals of. A hollow tube 80 is provided through the center of the fixed support shaft 20, and in the case of the embodiment shown in FIG. 10, a supply source provided outside the apparatus and the hollow tube 80 are connected by a tube 81. The cleaning liquid or dry air is sent from the supply source to the inner cleaning bodies 18 and 19 via the hollow tube 80, respectively.

また、洗浄室8の内側面には、ポッド本体部52の外側を洗浄し乾燥させるべく、ノズル14を内向きに備えた外側洗浄体15を洗浄室8の底部87に6ヶ所立設してあり、図10に示した実施例の場合、本装置の外部に設けた供給源と外側洗浄体15を管82により連結して、ノズル14に洗浄液又はドライエアが送られるように構成してある。
図10に示した通り、管75、81、82は洗浄液管88とドライエア管89とをそれぞれ切り替えて連結するように構成してあり、洗浄液管88は供給源から管75、81、82にそれぞれ洗浄液を送ることができ、ドライエア管89は供給源から管75、81、82にそれぞれドライエアを送ることができるように構成してある。
Further, on the inner surface of the cleaning chamber 8, six outer cleaning bodies 15 having nozzles 14 facing inward are provided on the bottom 87 of the cleaning chamber 8 so as to clean and dry the outside of the pod main body 52. In the embodiment shown in FIG. 10, a supply source provided outside the apparatus and the outer cleaning body 15 are connected by a pipe 82 so that cleaning liquid or dry air is sent to the nozzle 14.
As shown in FIG. 10, the pipes 75, 81, and 82 are configured to switch and connect the cleaning liquid pipe 88 and the dry air pipe 89, respectively. The cleaning liquid pipe 88 is connected to the pipes 75, 81, and 82 from the supply source, respectively. The cleaning liquid can be sent, and the dry air pipe 89 is configured to send dry air from the supply source to the pipes 75, 81, and 82.

ポッド本体部52を洗浄する場合には、モータ26の駆動回転により、係止部24により回転台13に逆さに係止したポッド本体部52をゆっくり回転させながら、ノズル14、16、17、21から洗浄液を噴出してポッド本体部52の内外周面全体に吹き付けて洗浄することができる一方、乾燥時には、切り替えて、前記ノズル14、16、17、21からドライエアを噴出してポッド本体部52を確実に乾燥させることもできるように構成してある。 When cleaning the pod main body 52, the nozzles 14, 16, 17, and 21 are rotated while the pod main body 52 that is locked to the rotary table 13 by the locking portion 24 is rotated slowly by driving rotation of the motor 26. The cleaning liquid can be jetted from the entire inner and outer peripheral surface of the pod main body 52 to be cleaned. On the other hand, at the time of drying, switching is performed, and dry air is jetted from the nozzles 14, 16, 17, 21 to pod main body 52. Is configured to be surely dried.

また、洗浄室8の底部87には、図4に記載のように、排気排水口7を設けてあり、図1又は図2に示すように、排水は配水管93から排気は排気管65から排出されると共に、排気管65からの排気中に含まれている水分は、後述する吸引手段により吸引する際に分離するように構成してある。
排気排水口7の吸引手段は、図12に記載のように、本装置の外部に吸引ポンプ66を設けてあると共に、ポンプ66の手前にサイクロン装置60を設けてあり、そのサイクロン装置60の吸引口61と前記排気排水口7を前記排気管65により連結し、吸引ポンプ66により吸引口61から洗浄乾燥装置1内のドライエア又は混在する洗浄液をサイクロン装置60を介して吸引する際に分離することができるように構成してある。また、洗浄乾燥装置1の内部に弱い負圧をかけて排水と乾燥を促進することができるように構成してある。
Further, as shown in FIG. 4, an exhaust drainage port 7 is provided at the bottom 87 of the cleaning chamber 8, and as shown in FIG. 1 or 2, drainage is from a water distribution pipe 93 and exhaust is from an exhaust pipe 65. In addition to being discharged, the moisture contained in the exhaust from the exhaust pipe 65 is configured to be separated when suctioned by a suction means described later.
As shown in FIG. 12, a suction pump 66 is provided outside the present apparatus, and a cyclone device 60 is provided in front of the pump 66 as shown in FIG. The port 61 and the exhaust drain port 7 are connected by the exhaust pipe 65, and the suction pump 66 separates the dry air in the cleaning / drying device 1 or the mixed cleaning liquid from the suction port 61 when the suction air is sucked through the cyclone device 60. It is configured to be able to. Moreover, it is comprised so that a drainage and drying can be accelerated | stimulated by applying a weak negative pressure inside the washing-drying apparatus 1. FIG.

67はサイクロン装置60の制御部であり、サイクロン部62では、吸引に伴って洗浄液とドライエアを回転させ、そのとき生じる遠心力により両者を遠心分離することができ、分離されたドライエアを上部の排気口63から排出し、洗浄液はサイクロン部62の下部に設けた排水タンク90に一時的に貯められて、逆止弁92付きの排水管64から排水することができるように構成してある。91はポンプ66の下部に設けたドレインである。 Reference numeral 67 denotes a control unit of the cyclone device 60. In the cyclone unit 62, the cleaning liquid and the dry air can be rotated along with the suction, and both can be centrifuged by the centrifugal force generated at that time. The cleaning liquid discharged from the port 63 is temporarily stored in a drain tank 90 provided at the lower part of the cyclone section 62 and can be drained from a drain pipe 64 with a check valve 92. Reference numeral 91 denotes a drain provided at the lower portion of the pump 66.

次に、洗浄室蓋体9は、洗浄室8の上部に密着する筒状蓋部6と、筒状蓋部6の上端側に密着する上蓋部5とからなり、筒状蓋部6は洗浄室8に対してヒンジ37を中心に回動自在で、上蓋部5は筒状蓋部6に対してヒンジ36を中心に回動自在に設けてある。
洗浄室8の外側面には、図5、6に示す実施例の場合、筒状蓋部6と上蓋部5を自動で開閉するためエアシリンダ34、35それぞれを略垂直に設けてあり、エアシリンダ34の伸縮軸38は、上蓋部5をヒンジ36を中心に開閉する操作片部76に設けた開閉用ヒンジ40に連結してあると共に、エアシリンダ35の伸縮軸39は、筒状蓋部6をヒンジ37を中心に開閉する操作片部77に設けた開閉用ヒンジ41に連結してある。
Next, the cleaning chamber lid body 9 includes a cylindrical lid portion 6 that is in close contact with the upper portion of the cleaning chamber 8 and an upper lid portion 5 that is in close contact with the upper end side of the cylindrical lid portion 6. The upper lid 5 is provided so as to be rotatable about the hinge 36 with respect to the cylindrical lid 6.
In the case of the embodiment shown in FIGS. 5 and 6, air cylinders 34 and 35 are provided on the outer surface of the cleaning chamber 8 substantially vertically to automatically open and close the cylindrical lid portion 6 and the upper lid portion 5. The telescopic shaft 38 of the cylinder 34 is connected to the opening / closing hinge 40 provided on the operation piece portion 76 that opens and closes the upper lid 5 around the hinge 36, and the telescopic shaft 39 of the air cylinder 35 is connected to the cylindrical lid portion. 6 is connected to an opening / closing hinge 41 provided on an operation piece 77 that opens and closes around a hinge 37.

従って、エアシリンダ34の伸縮軸38の伸縮により上蓋部5が開閉し、エアシリンダ35の伸縮軸39の伸縮により筒状蓋部6が開閉する。この際の上蓋部5の開いた状態の位置を図5の5bに、閉じた状態の位置を図5の5aに示し、また、筒状蓋部6の開いた状態の位置を図6の6bに、閉じた状態の位置を図6の6aに示してある。
なお、エアシリンダ34、35は、上蓋部5及び筒状蓋体6の円滑なヒンジ回転が可能なように、それぞれ洗浄室8の外側面に設けた支軸68、69により揺動可能に支持して設けてある。
Accordingly, the upper lid portion 5 opens and closes due to the expansion and contraction of the telescopic shaft 38 of the air cylinder 34, and the cylindrical lid portion 6 opens and closes due to the expansion and contraction of the telescopic shaft 39 of the air cylinder 35. 5b in FIG. 5 shows the position of the upper lid 5 in the open state, 5a in FIG. 5 shows the position in the closed state, and 6b in FIG. 6 shows the position of the cylindrical lid 6 in the opened state. 6a in FIG. 6 shows the closed position.
The air cylinders 34 and 35 are swingably supported by support shafts 68 and 69 provided on the outer surface of the cleaning chamber 8 so that the upper lid 5 and the cylindrical lid 6 can be smoothly rotated. It is provided.

上蓋部5には、図8に示した実施例の場合、中央部を貫通して回転駆動軸44を設けてあり、この回転駆動軸44の下端と一体に回転板22を設けてある。48は回転駆動軸44を回転自在に支持するため上蓋部5の下面に一体に固定した軸受部材である。
回転駆動軸44の上部には、上蓋部5の上面に位置してプーリー45が設けてあり、モータ42の駆動軸43のプーリー46との間に設けたタイミングベルト47により回転駆動するように構成してある。モータ42は回転駆動軸44の側方に位置して上蓋部5の上面に設けた支持台78に一体に固定してあり、回転駆動軸44と平行に下方に向かって設けた前記駆動軸43に前記プーリー46が設けてある。
In the case of the embodiment shown in FIG. 8, the upper lid portion 5 is provided with a rotation drive shaft 44 penetrating the center portion, and the rotation plate 22 is provided integrally with the lower end of the rotation drive shaft 44. A bearing member 48 is integrally fixed to the lower surface of the upper lid portion 5 in order to rotatably support the rotation drive shaft 44.
A pulley 45 is provided above the rotation drive shaft 44 on the upper surface of the upper lid 5, and is configured to be driven to rotate by a timing belt 47 provided between the drive shaft 43 of the motor 42 and the pulley 46. It is. The motor 42 is integrally fixed to a support base 78 provided on the upper surface of the upper cover 5 and located on the side of the rotation drive shaft 44, and the drive shaft 43 provided downward in parallel with the rotation drive shaft 44. The pulley 46 is provided.

回転板22はモータ42により回転速度を制御されて回転し、回転駆動軸44の回転静止位置を検出制御する原点センサ79により、予め設定した原点の静止位置に静止するように制御され、回転板22が予め設定した静止位置に確実に静止することにより、事前に設定されている取付位置でポッド蓋部51を狂いなくロボットにより取り付け取り外し制御するように構成してある。
また、回転板22には、図9に記載のように、ポッド蓋部51を着脱自在に係止する6個の係止部23と4個の吸着部49を所定間隔で配設してあり、係止部23はポッド蓋部51を外側から把持するように係止し、吸着部49は後述する吸引手段によりポッド蓋部51を吸着して係止するように構成してある。
The rotating plate 22 is rotated at a rotational speed controlled by a motor 42, and is controlled to stop at a preset stationary position by an origin sensor 79 that detects and controls the rotational stationary position of the rotational drive shaft 44. The pod lid 51 is configured to be attached / removed by the robot without any error at the preset attachment position by reliably stopping at the preset stationary position 22.
Further, as shown in FIG. 9, the rotary plate 22 is provided with six locking portions 23 and four suction portions 49 for detachably locking the pod lid portion 51 at predetermined intervals. The locking portion 23 is locked to grip the pod lid portion 51 from the outside, and the suction portion 49 is configured to suck and lock the pod lid portion 51 by suction means described later.

なお、係止部23は、ポッド蓋部51を外側から把持するように係止することにより急速回転時に遠心力で外れないように保持することができ、吸着部49は、ポッド蓋部51の天板部を吸着して係止部23間にポッド蓋部51を確実に保持することができる。
実施例の場合、吸着部49の吸引手段は、図8に記載のように、回転駆動軸44の中心に設けた中空管部71と本装置の外部に設けた吸引チューブ73を回転駆動軸44の上端に位置して固定的に設けたロータリージョイント72により連結してあると共に、中空管部71の下端部から放射状に配設した分岐部分74とエアチューブ70により吸着部49に連結してあり、回転板22の回転中においても吸引チューブ73によって吸着部49に吸引力が作用するように構成してある。
In addition, the latching | locking part 23 can hold | maintain so that it may not remove | deviate with a centrifugal force at the time of rapid rotation by latching so that the pod cover part 51 may be grasped from the outside, The top plate portion can be adsorbed and the pod lid portion 51 can be reliably held between the locking portions 23.
In the case of the embodiment, as shown in FIG. 8, the suction means of the suction portion 49 includes a hollow tube portion 71 provided at the center of the rotation drive shaft 44 and a suction tube 73 provided outside the apparatus as the rotation drive shaft. 44 is connected by a fixed rotary joint 72 located at the upper end of 44, and is connected to the adsorbing portion 49 by a branch portion 74 and an air tube 70 that are arranged radially from the lower end of the hollow tube portion 71. Further, the suction force is applied to the suction portion 49 by the suction tube 73 even during rotation of the rotating plate 22.

次に、回転板22を内部に収容すべき筒状蓋部6には、図3に記載のように、洗浄室8との境界に位置して上方のポッド蓋部51と下方のポッド本体部52を洗浄し、また、乾燥させるノズル21をそれぞれ上下向きに備えたノズル部材54を一体に設けてある。
実施例の場合、ノズル21はポッド蓋部51とポッド本体部52が回転するから上下それぞれに中心付近を含めて一半径方向に一列に設けてあるが、適宜な角度間隔で複数箇所に設けることは勿論である。
Next, as shown in FIG. 3, the cylindrical lid portion 6 in which the rotating plate 22 is to be accommodated is located at the boundary with the cleaning chamber 8, and the upper pod lid portion 51 and the lower pod body portion. Nozzle members 54 each provided with a nozzle 21 for cleaning and drying 52 are vertically provided.
In the case of the embodiment, the nozzles 21 are provided in a line in one radial direction including the vicinity of the center in the upper and lower directions because the pod lid part 51 and the pod main body part 52 rotate. Of course.

図10に示した実施例の場合、前記ノズル部材54には、本装置の外部に設けた供給源と管75により連結してあり、供給源からノズル部材54に洗浄液又はドライエアが送られるように構成してある。
ポッド蓋部51の洗浄時には、モータ42の駆動回転により、係止部23と吸着部49により回転板22に係止したポッド蓋部51を回転させ、ノズル21から洗浄液を噴出し、ポッド蓋部51の全面に吹き付けて洗浄することができ、乾燥時には、先ず、洗浄直後にポッド蓋部51を瞬時に高速回転させて洗浄時に付着した洗浄液を遠心力で吹き飛ばしてから、回転を低速にしてノズル21からドライエアを噴出してポッド蓋部51を確実に乾燥させることもできるように構成してある。
In the case of the embodiment shown in FIG. 10, the nozzle member 54 is connected to a supply source provided outside the apparatus by a pipe 75 so that cleaning liquid or dry air is sent from the supply source to the nozzle member 54. It is configured.
At the time of cleaning the pod lid 51, the driving rotation of the motor 42 rotates the pod lid 51 locked to the rotating plate 22 by the locking portion 23 and the suction portion 49, and the cleaning liquid is ejected from the nozzle 21, The nozzle 51 can be cleaned by spraying the entire surface of the nozzle 51. At the time of drying, first, immediately after cleaning, the pod lid 51 is rotated at a high speed instantaneously to blow off the cleaning liquid adhering at the time of cleaning by centrifugal force, and then the nozzle is rotated at a low speed. The pod lid 51 can be surely dried by ejecting dry air from 21.

また、筒状蓋部6には、図6に記載のように、吸引口55を設けてあり、洗浄又は乾燥時に洗浄乾燥装置1内の水蒸気を後述する吸引手段により吸引するように構成してある。
吸引口55の吸引手段は、図11に示す実施例の場合、本装置の外部に設けたエジェクタ56からなり、その吸引口部59と吸引口55をチューブ等により連結し、エジェクタ56の入り口57から排出口58の方向に高圧空気を流すことで、吸引口55から洗浄乾燥装置1内部に充満した水蒸気を外部に排出することができ、洗浄乾燥装置1の内部に弱い負圧をかけて乾燥を促進することができるように構成してある。
Further, as shown in FIG. 6, the cylindrical lid 6 is provided with a suction port 55, and is configured so that water vapor in the cleaning / drying apparatus 1 is sucked by a suction means described later during cleaning or drying. is there.
In the case of the embodiment shown in FIG. 11, the suction means of the suction port 55 is composed of an ejector 56 provided outside the apparatus. The suction port portion 59 and the suction port 55 are connected by a tube or the like, and the inlet 57 of the ejector 56 is connected. By flowing high-pressure air in the direction from the discharge port 58 to the discharge port 58, the water vapor filled in the cleaning / drying device 1 can be discharged to the outside from the suction port 55, and drying is performed by applying a weak negative pressure to the inside of the cleaning / drying device 1. It is configured so that it can be promoted.

また、洗浄室蓋体9内部及び洗浄室8には、それぞれの内部を暖めるヒータ手段を設けてあり、洗浄又は乾燥時に洗浄乾燥装置1内部を適当な温度に加熱してポッド蓋部51とポッド本体部52の洗浄又は乾燥を促進させることができるように構成してある。
また、洗浄乾燥装置1の近傍には、前記ノズル14、16、17、21のそれぞれから噴出するドライエアの温度を調整する加熱手段を設けてあり、乾燥時にノズル14、16、17、21から噴出するドライエアを適当な温度に加熱してポッド蓋部51とポッド本体部52に吹きつけ乾燥を促進させることができるように構成してある。
Further, the cleaning chamber lid 9 and the cleaning chamber 8 are provided with heater means for heating the interior of the cleaning chamber lid 9 and the cleaning / drying apparatus 1 inside by heating to an appropriate temperature during cleaning or drying. The main body 52 is configured to facilitate cleaning or drying.
In addition, heating means for adjusting the temperature of the dry air ejected from each of the nozzles 14, 16, 17, and 21 is provided in the vicinity of the cleaning and drying apparatus 1, and ejected from the nozzles 14, 16, 17, and 21 during drying. The dry air to be heated is heated to an appropriate temperature and sprayed onto the pod lid portion 51 and the pod main body portion 52 to promote drying.

また、洗浄乾燥装置1の近傍には、純水等からなる洗浄液の供給源に洗浄時に使用する純水等の洗浄液を暖める手段を設けてあると共に、薬液を注入する手段を設けてあり、洗浄時にノズル14、16、17、21からポッド蓋部51とポッド本体部52に吹きつけることで効果的に洗浄することができるように構成してある。
また、図10に記載のように、洗浄液管88には超音波装置53を設けてあり、ノズル14、16、17、21のそれぞれから噴出する洗浄液に超音波を付与し、ポッド蓋部51とポッド本体部52に吹きつけることで効果的に洗浄することができるように構成してある。
Further, in the vicinity of the cleaning / drying apparatus 1, a cleaning liquid supply source made of pure water or the like is provided with a means for warming a cleaning liquid such as pure water used at the time of cleaning, and a means for injecting a chemical solution is provided. The nozzles 14, 16, 17, 21 are sometimes sprayed from the nozzles 14, 16, 17, 21 to the pod lid 51 and the pod body 52 so that the cleaning can be effectively performed.
As shown in FIG. 10, the cleaning liquid pipe 88 is provided with an ultrasonic device 53, which applies ultrasonic waves to the cleaning liquid ejected from each of the nozzles 14, 16, 17, and 21, By being sprayed onto the pod main body 52, it can be effectively cleaned.

頭書のように、本発明に係る半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置1は、図1又は図2は示すように、ポッド洗浄乾燥システム10に含まれて設けてあり、その周囲にポッド50を収納するストッカー4と、ポッド50をポッド本体部52とポッド蓋部51に分離又は組立作業を行うためのポッド載置部2と、ポッド50の分離、組立又は搬送作業を行うロボット3等が設けてある。
上記実施例の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、ロボット3によりストッカー4からポッド載置部2にポッド50を搬送し、ポッド載置部2にポッド蓋部51が下になるようにポッド本体部52をロボットアーム12で把持して載置し、ポッド載置部2でポッド蓋部51を着脱自在に係止し、ロボット3によりポッド本体部52のみを把持して持ち上げて、本発明装置本体に搬送する。
As shown in the introduction, the pod cleaning / drying apparatus 1 for semiconductor wafers and the like according to the present invention is included in the pod cleaning / drying system 10 as shown in FIG. A stocker 4, a pod mounting unit 2 for separating or assembling the pod 50 into a pod main body 52 and a pod lid 51, a robot 3 for separating, assembling or conveying the pod 50, and the like. is there.
In the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like of the above-described embodiment, the pod 50 is transported from the stocker 4 to the pod mounting unit 2 by the robot 3 so that the pod lid 51 is on the pod mounting unit 2. The unit 52 is gripped and placed by the robot arm 12, the pod lid unit 51 is detachably locked by the pod placement unit 2, and only the pod main body 52 is gripped and lifted by the robot 3, and the apparatus of the present invention is provided. Transport to the main body.

次に、エアシリンダ34、35により、上蓋部5と筒状蓋部6を開き、ポッド本体部52を収納できる状態し、ロボット3により把持したポッド本体部52を洗浄室8の回転台13に係止する。このとき、図2に示すように、洗浄室8の側部に設けた拡張部11により、ロボット3のロボットアーム12が洗浄室8に接触することなくポッド本体部52を回転台13に設けた係止部24に係止することができる。
次に、前記ポッド載置部2に係止したポッド蓋部51をロボット3により把持し、洗浄室蓋体9の回転板22に搬送し、回転板22に設けた係止部23と吸着部49によりポッド蓋部51を回転板22に係止する。ここで、エアシリンダ34、35により、筒状蓋部6と上蓋部5を順次に閉じ、洗浄乾燥装置1内にポッド蓋部51とポッド本体部52を密閉状態で収納する。
Next, the upper lid 5 and the cylindrical lid 6 are opened by the air cylinders 34 and 35 so that the pod main body 52 can be stored. The pod main body 52 gripped by the robot 3 is placed on the turntable 13 of the cleaning chamber 8. Lock. At this time, as shown in FIG. 2, the pod main body 52 is provided on the turntable 13 without the robot arm 12 of the robot 3 coming into contact with the cleaning chamber 8 by the extension 11 provided on the side of the cleaning chamber 8. It can be locked to the locking portion 24.
Next, the pod lid 51 locked to the pod mounting portion 2 is gripped by the robot 3 and transferred to the rotating plate 22 of the cleaning chamber lid 9, and the locking portion 23 provided on the rotating plate 22 and the suction portion The pod lid 51 is locked to the rotary plate 22 by 49. Here, the cylindrical lid portion 6 and the upper lid portion 5 are sequentially closed by the air cylinders 34 and 35, and the pod lid portion 51 and the pod main body portion 52 are accommodated in the cleaning / drying apparatus 1 in a sealed state.

次いで、洗浄室8及び洗浄室蓋体9でポッド蓋部51及びポッド本体部52を洗浄液で洗浄し、ドライエアで乾燥させた後、再度エアシリンダ34、35により上蓋部5と筒状蓋部6を開き、上蓋部5の回転板22に係止されたポッド蓋部51をロボットアーム12により把持して取り外し、ポッド載置部2に搬送し係止し、次に、洗浄室8内の回転台13に係止されたポッド本体部52をロボットアーム12により把持して取り外し、ポッド載置部2に搬送し先のポッド蓋部51と重ねて係合させ、ポッド50を組立てることができ、組立てたポッド50をロボット3により把持してストッカー4に搬送し、洗浄、乾燥工程が完了する。 Next, the pod lid 51 and the pod main body 52 are washed with the washing liquid by the washing chamber 8 and the washing chamber lid 9 and dried with dry air, and then the upper lid 5 and the cylindrical lid 6 are again recharged by the air cylinders 34 and 35. , The pod lid 51 locked to the rotating plate 22 of the upper lid 5 is grasped and removed by the robot arm 12, transported and locked to the pod placement unit 2, and then rotated in the cleaning chamber 8. The pod main body 52 locked to the base 13 can be grasped and removed by the robot arm 12, transported to the pod mounting portion 2 and overlapped with the previous pod lid portion 51 to assemble the pod 50, The assembled pod 50 is gripped by the robot 3 and transferred to the stocker 4 to complete the cleaning and drying processes.

なお、本発明おいては、上記実施例の記載から理解されるように、次のような実施の形態を列挙することができる。
本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、洗浄液の供給源に洗浄時に使用する洗浄液を暖める手段を設けてなる構成を有することにより、洗浄時において使用する洗浄液を暖めることで前記ポッド内の洗浄効果を向上させることができる。
また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、洗浄液の供給源に洗浄液に薬液を注入する手段を設けてなる構成を有することにより、洗浄時において使用する洗浄液に薬液を注入することで前記ポッド内の洗浄効果を向上させることができる。
In the present invention, as will be understood from the description of the above examples, the following embodiments can be listed.
In the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like of the present invention, the cleaning liquid supply source is provided with a means for warming the cleaning liquid used at the time of cleaning. The cleaning effect can be improved.
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like of the present invention, by providing the cleaning liquid supply means with means for injecting the chemical into the cleaning liquid, the chemical liquid can be injected into the cleaning liquid to be used during cleaning. The cleaning effect in the pod can be improved.

また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ノズルから噴出する洗浄液に超音波を付与する手段を設けてなる構成を有することにより、前記ポッド内の洗浄効果を向上させることができる。
また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、水蒸気の吸引手段を有するエジェクタを前記洗浄室外部に設けてなる構成を有することにより、簡単な構造を有するエジェクタにより洗浄室内に比較的弱い負圧をかけることができる。
Moreover, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, the cleaning effect in the pod can be improved by providing a means for applying ultrasonic waves to the cleaning liquid ejected from the nozzle. .
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, an ejector having a water vapor suction means is provided outside the cleaning chamber, so that the cleaning chamber is relatively weak due to the ejector having a simple structure. Negative pressure can be applied.

また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ノズルからドライエアを噴出し前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部を乾燥させるようになした構成を有することにより、前記ノズルからドライエアを噴出することで、洗浄時に前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部に付着した水分を吹き飛ばし、前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部を乾燥させることができる。
また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ノズルから噴出するドライエアの温度を調整する手段を設けてなる構成を有することにより、前記ノズルから温度を調整した気体を前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部に吹き付けることで、前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部に付着した水分の乾燥を促進することができる。
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, the dry air is ejected from the nozzle by having a configuration in which the dry air is ejected from the nozzle and the pod lid or the pod main body is dried. By doing so, the moisture adhering to the pod lid part or the pod main body part at the time of washing can be blown off, and the pod lid part or the pod main body part can be dried.
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, the pod lid portion is configured to provide a means for adjusting the temperature of the dry air ejected from the nozzle so that the temperature of the pod lid is adjusted from the nozzle. Or it can accelerate | stimulate drying of the water | moisture content adhering to the said pod cover part or the said pod main-body part by spraying on the said pod main-body part.

また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室蓋体内部及び前記洗浄室に内部を暖める手段を設けてなる構成を有することにより、洗浄及び乾燥工程において、前記洗浄室蓋体内部及び前記洗浄室内部を暖めることで、前記ポッド蓋部又は前記ポッド本体部の洗浄と乾燥を促進することができる。
また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、装置本体の近傍に前記ポッドの分離又は組立作業を行うポッド載置部を設けると共に、分離、組立又は搬送作業を行うロボットを設けてなる構成を有することにより、分離又は組立作業を一箇所の前記ポッド載置部でロボットにより自動的に行える効果がある。
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, the cleaning chamber lid is provided in the cleaning chamber lid and in the cleaning chamber by providing means for heating the interior of the cleaning chamber lid. By warming the inside of the body and the inside of the cleaning chamber, cleaning and drying of the pod lid or the pod main body can be promoted.
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers and the like according to the present invention, a pod mounting portion for separating or assembling the pod is provided in the vicinity of the apparatus main body, and a robot for separating, assembling or transporting is provided. By having the configuration, there is an effect that the separation or assembling work can be automatically performed by the robot at one pod placement portion.

また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ポッド載置部に前記ポッド蓋部を吸着して係止する吸着部を設けてなる構成を有することにより、前記ポッドを前記ポッド蓋部と前記ポッド本体部に分離する際に、前記ロボットが前記ポッド本体部を把持し前記ポッド載置部に載置して、前記ポッド蓋部を前記吸着部に固定した状態で、再度持ち上げると前記ポッド蓋部と前記ポッド本体部を容易に分離することができる。
また、本発明の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記ロボットの近傍に前記ポッドを収納したストッカーを設け、前記ロボットにより前記ストッカーから前記ポッド載置部に搬送するようになした構成を有することにより、前記ストッカーに前記ポッドを載置することで、前記ロボットに前記ポッドを円滑に受け渡すことができ、前記ポッド載置部に自動的に搬送することができる。
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to the present invention, the pod mounting portion is provided with an adsorption portion for adsorbing and locking the pod lid portion, so that the pod is attached to the pod lid. And when the robot is lifted again in a state where the robot grips the pod main body and places it on the pod placement portion and the pod lid portion is fixed to the suction portion. The pod lid and the pod main body can be easily separated.
Further, in the pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to the present invention, a stocker storing the pod is provided in the vicinity of the robot, and the robot is transported from the stocker to the pod placement unit by the robot. Thus, by placing the pod on the stocker, the pod can be smoothly delivered to the robot, and can be automatically conveyed to the pod placement unit.

本発明装置の一実施例の使用態様を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the usage condition of one Example of this invention apparatus. その実施例の使用態様を示す概略側面図。The schematic side view which shows the usage condition of the Example. 本発明装置の一実施例の一部縦断概略正面図。The partial longitudinal section schematic front view of one Example of this invention apparatus. その実施例の概略平面図。The schematic plan view of the Example. 本発明装置の一実施例の全体の一使用態様を示す概略正面図。The schematic front view which shows one usage condition of the whole one Example of this invention apparatus. その実施例の概略側面図。The schematic side view of the Example. その実施例の要部の概略正面図。The schematic front view of the principal part of the Example. その実施例の他の要部の概略正面図。The schematic front view of the other principal part of the Example. その実施例の他の要部の概略平面図。The schematic plan view of the other principal part of the Example. 本発明装置の一実施例の概略配管説明図。The schematic piping explanatory drawing of one Example of this invention apparatus. その実施例の要部の概略説明図。The schematic explanatory drawing of the principal part of the Example. その実施例の他の要部の概略説明図。The schematic explanatory drawing of the other principal part of the Example.

符号の説明Explanation of symbols

1 ポッド洗浄乾燥装置
2 ポッド載置部
3 ロボット
4 ストッカー
5 上蓋部
6 筒状蓋部
7 排気排水口
8 洗浄室
9 洗浄室蓋体
10 ポッド洗浄乾燥装置
11 拡張部
12 ロボットアーム
13 回転台
14 ノズル
15 外側洗浄体
16 ノズル
17 ノズル
18 内側洗浄体
19 内側洗浄体
20 固定支軸
21 ノズル
22 回転板
23 係止部
24 係止部
25 原点センサ
26 モータ
27 ステータ
28 駆動軸
29 プーリー
30 プーリー
31 タイミングベルト
32 回転軸部
33 軸受部材
34 エアシリンダ
35 エアシリンダ
36 ヒンジ
37 ヒンジ
38 伸縮軸
39 伸縮軸
40 開閉用ヒンジ
41 開閉用ヒンジ
42 モータ
43 駆動軸
44 回転駆動軸
45 プーリー
46 プーリー
47 タイミングベルト
48 軸受部材
49 吸着部
50 ポッド
51 ポッド蓋部
52 ポッド本体部
53 超音波装置
54 ノズル部材
55 吸引口
56 エジェクタ
57 入り口
58 排出口
59 吸引口部
60 サイクロン装置
61 吸引口
62 サイクロン部
63 排気口
64 排水口
65 排気管
66 ポンプ
67 制御部
68 支軸
69 支軸
70 エアチューブ
71 中空管部
72 ロータリージョイント
73 吸引チューブ
74 分岐部分
75 管
76 操作片部
77 操作片部
78 支持台
79 原点センサ
80 中空管
81 管
82 管
83 支持脚部
84 保持部
85 軸受部
86 軸受部
87 底部
88 洗浄液管
89 ドライエア管
90 排水タンク
91 ドレイン
92 逆止弁
93 排水管
94 操作パネル

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pod washing | cleaning drying apparatus 2 Pod mounting part 3 Robot 4 Stocker 5 Upper cover part 6 Cylindrical cover part 7 Exhaust drain outlet 8 Cleaning chamber 9 Cleaning room cover body 10 Pod washing drying apparatus 11 Expansion part 12 Robot arm 13 Turntable 14 Nozzle 15 Outer cleaning body 16 Nozzle 17 Nozzle 18 Inner cleaning body 19 Inner cleaning body 20 Fixed support shaft 21 Nozzle 22 Rotating plate 23 Locking portion 24 Locking portion 25 Origin sensor 26 Motor 27 Stator 28 Drive shaft 29 Pulley 30 Pulley 31 Timing belt 32 Rotating shaft portion 33 Bearing member 34 Air cylinder 35 Air cylinder 36 Hinge 37 Hinge 38 Telescopic shaft 39 Telescopic shaft 40 Opening / closing hinge 41 Opening / closing hinge 42 Motor 43 Drive shaft 44 Rotation drive shaft 45 Pulley 46 Pulley 47 Timing belt 48 Bearing member 49 Adsorption part 50 Pod 51 Pod lid part 2 Pod body 53 Ultrasonic device 54 Nozzle member 55 Suction port 56 Ejector 57 Entrance 58 Ejection port 59 Suction port 60 Cyclone device 61 Suction port 62 Cyclone unit 63 Exhaust port 64 Drain port 65 Exhaust pipe 66 Pump 67 Control unit 68 Support Shaft 69 Support shaft 70 Air tube 71 Hollow tube portion 72 Rotary joint 73 Suction tube 74 Branch portion 75 Tube 76 Operation piece portion 77 Operation piece portion 78 Support base 79 Origin sensor 80 Hollow tube 81 Tube 82 Tube 83 Support leg portion 84 Holding section 85 Bearing section 86 Bearing section 87 Bottom section 88 Washing liquid pipe 89 Dry air pipe 90 Drain tank 91 Drain 92 Check valve 93 Drain pipe 94 Operation panel

Claims (3)

ポッドをポッド本体部とポッド蓋部に分離した状態で洗浄し乾燥するための洗浄液とドライエアを噴出するノズルを備えた半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置であって、前記ポッド本体部を収納して洗浄する洗浄室を前記ポッド蓋部を収納して洗浄する洗浄室蓋体により密閉して洗浄し乾燥するようになした半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、ポッド洗浄乾燥装置の装置本体の近傍に、ポッド載置部を設け、載置されたポッドのポッド蓋部を着脱自在に係止すると共に、洗浄前において前記ポッド載置部のポッドからポッド本体部を把持して分離し装置本体の洗浄室内に搬送し係止させ、次いでポッド載置部から前記ポッド蓋部を把持して装置本体の上蓋部に搬送し係止させる一方、洗浄乾燥後において上蓋部からポッド蓋部を把持して分離しポッド載置部に搬送し、次いで洗浄室からポッド本体部を把持してポッド載置部に搬送し、ポッド蓋部にポッド本体部を装着してポッドを組立てるロボットを設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置。 A pod cleaning / drying device for a semiconductor wafer or the like having a cleaning liquid for cleaning and drying a pod in a state where the pod is separated into a pod main body and a pod lid, and a nozzle for ejecting dry air. In a pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers, etc., which is hermetically sealed with a cleaning chamber lid that cleans and cleans the cleaning chamber containing the pod lid, in the vicinity of the main body of the pod cleaning / drying apparatus The pod mounting portion is provided, the pod lid portion of the placed pod is detachably locked, and the pod main body portion is gripped and separated from the pod of the pod mounting portion before cleaning. It is transported and locked in the cleaning chamber, and then grips the pod lid from the pod mounting portion and transports and locks it to the upper lid of the main body of the apparatus, while the pod lid from the upper lid after cleaning and drying. Hold and separate and transport to the pod placement unit, then grip the pod body from the cleaning chamber and transport to the pod placement unit, and install a robot that assembles the pod by attaching the pod body to the pod lid Pod cleaning and drying equipment for semiconductor wafers. 請求項1に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、前記洗浄室に前記ポッド本体部を収納する際に前記洗浄室に前記ロボットのロボットアームが入る拡張部を設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置。 The pod cleaning / drying apparatus for a semiconductor wafer or the like according to claim 1, wherein when the pod main body is stored in the cleaning chamber, an extension portion into which the robot arm of the robot enters the cleaning chamber is provided. Pod washing and drying equipment. 請求項1又は2に記載の半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置において、装置本体の上蓋部にポッド蓋部を係止し回転させながら洗浄し乾燥するように回転自在な回転板を設け、該回転板に前記ポッド蓋部を着脱自在に係止するための吸着部を設けてなる半導体ウエハ等のポッド洗浄乾燥装置。

3. A pod cleaning / drying apparatus for semiconductor wafers or the like according to claim 1 or 2, wherein a rotatable rotating plate is provided on the upper cover of the apparatus main body so as to be cleaned and dried while the pod cover is locked and rotated. A pod cleaning / drying device for a semiconductor wafer or the like, which is provided with a suction portion for detachably locking the pod lid to a plate.

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