JP2005108691A - プラズマディスプレ−パネル用誘電体及びその製造方法 - Google Patents
プラズマディスプレ−パネル用誘電体及びその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005108691A JP2005108691A JP2003341972A JP2003341972A JP2005108691A JP 2005108691 A JP2005108691 A JP 2005108691A JP 2003341972 A JP2003341972 A JP 2003341972A JP 2003341972 A JP2003341972 A JP 2003341972A JP 2005108691 A JP2005108691 A JP 2005108691A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- dielectric
- general formula
- carbon atoms
- plasma display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Silicon Polymers (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Abstract
【解決手段】 本発明によれば誘電体の組成がPbOを含有することなく150〜200℃の低い温度でも焼成が可能であり、コ−ティング方法を利用して液相から誘電体膜を容易に形成することができる。
Description
さで均一に膜を形成した後、500〜600℃の高温で焼成する方法が利用される。
(OR1)nSi-R2 m (n+m=4)---------- 一般式[1]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、R2は炭素数が1〜4個の直鎖又は側鎖アルキル基、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基であり、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。)(請求項2)や、前記有機ケイ素化合物が、下記一般式[2]で表示される化合物を酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経て形成された化合物であることを特徴とする請求項1記載の誘電体
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4)---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6個の炭素鎖であり、R3はビニル基、グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基であり、 nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。)(請求項3)や、記有機ケイ素化合物が、下記一般式[3]で表示される有機ハロゲンシランをシリコンアルコキシド又はアルキルエーテルと反応させて得られる化合物から選択されることを特徴とする請求項1記載の誘電体
R4SiCl3-------一般式[3]
(前記R4は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、ビニル基、グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基。)(請求項4)に関する。
(OR1)nSi-R2 m (n+m=4) ---------- 一般式[1]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、R2は炭素数が1〜4個の直鎖又は側鎖アルキル基、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。)(請求項5)や、下記一般式[2]で表示される化合物の群から選択された化合物を水とアルコ−ルの混合溶媒に溶解し、 酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経てプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6の個の炭素鎖であり、R3はビニル基、 グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基であり、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。)(請求項6)や、下記一般式[3]で表示される化合物の群から選択された有機ハロゲンシランをシリコンアルコキシド又はアルキルエーテルと反応させて得られるプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法。
R4SiCl3---------- 一般式[3]
(前記R4は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、 ビニル基、グリシドキシ基、 メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基。)(請求項7)や、金属クロリドを触媒とすることを特徴とする請求項7記載のプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法。(請求項8)や、下記一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンに置換された有機グル−プで架橋が可能な有機単量体を含む同種又は異種の化合物を自由ラジカル及び有機重合開始剤を添加して重合することを特徴とするプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の 直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6個の炭素鎖であり、R3はビニル基、メタアクリル基であり、nは1〜3の自然数、mは1〜3の間の定数。)(請求項9)や、有機重合開始剤は、アルミニウムアルコキシド、 ジルコニウムアルコキシド、チタンアルコキシド、1-メチルイミダゾール、イミダゾール系列、ボロントリフルオロ ジエチルエーテルレ−ト(Diethyl etherate)、ベンゾイルパーオキシド、 2,2'-アゾビスイソブチロニトリルの群から選択されることを特徴とする請求項9記載のプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法(請求項10)や、下記一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンで置換された有機グル−プで架橋が可能な有機単量体を含む同種又は異種の化合物を金属アルコキシド又はアミン基を利用して開環反応させて重合することを特徴とするプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法。
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の 直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6の炭素鎖であり、R3はグリシドキシ基であり、nは1〜3の自然数、mは1〜3の間の定数。)(請求項11)や、前記一般式[1]又は一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンで置換された有機グル−プが、修飾剤機能を遂行する作用基でメチル、フェニル、アミン、フェニルアルコキシから選択された少なくとも一つ以上を含むことを特徴とする請求項5又は6に記載の誘電体の製造方法(請求項12)や、請求項1記載の誘電体を公知のコ−ティング法を利用して誘電体膜を形成し、ここに熱又は紫外線によって焼成して製造されるプラズマディスプレ−パネル(請求項13)や、一般式 [1]、[2]、[3]で表示される化合物の中、少なくとも一つの化合物と水やアルコ−ルに分散されたケイ素酸化物粒子を添加して反応させる段階をさらに含むことを特徴とする請求項5乃至11のいずれか記載の誘電体の製造方法(請求項14)に関する。
(OR1)nSi-R2 m (n+m=4) -------------- 一般式[1]
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
R4SiCl3---------------------------- 一般式[3]
前記一般式[1]〜[3]でR1は炭素数が1〜10個のメチル、エチル、プロピル、ブチル等の直鎖又は側鎖アルキル基、或いはこれらのグループが加水分解された水素原子であり、R2は炭素数が1〜4個の直鎖又は側鎖アルキル基、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基を示す。nは1〜4の自然数、 mは0〜3 の間の定数を示す。
るため、120℃、80℃、40℃の温度で段階的にゆっくり最終誘電層膜を製造した。
下記表1にはエポキシ重合開始剤による誘電層の厚さと透過率を示した。誘電層の厚さは無機組成と有機組成の割合によって差異を見せ、膜厚の分布
は平均厚さに対して±1μmの範囲を有した。
誘電層の厚さは蒸発前には51μm、後には10μmに測定され、透過率は85%の値を有した。
キシシラン(PTMS)を誘電体製造のための前駆体として使用し、前記実施例1と同様の方法で最終膜を製造した。誘電層の厚さは蒸発前には41μm、後には8μmに測定され、透過率は88%の値を有した。
Claims (14)
- プラズマディスプレ−パネル用誘電体において、構造内にケイ素に結合された酸素原子又は架橋が可能な有機単量体で架橋された網目構造を有する有機ケイ素化合物を含むことを特徴とするプラズマディスプレーパネル用誘電体。
- 前記有機ケイ素化合物が、下記一般式[1]で表示される化合物を酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経て形成された化合物であることを特徴とする請求項1記載の誘電体。
(OR1)nSi-R2 m (n+m=4)---------- 一般式[1]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、R2は炭素数が1〜4個の直鎖又は側鎖アルキル基、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基であり、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。) - 前記有機ケイ素化合物が、下記一般式[2]で表示される化合物を酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経て形成された化合物であることを特徴とする請求項1記載の誘電体。
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4)---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6個の炭素鎖であり、R3はビニル基、グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基であり、 nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。) - 前記有機ケイ素化合物が、下記一般式[3]で表示される有機ハロゲンシランをシリコンアルコキシド又はアルキルエーテルと反応させて得られる化合物から選択されることを特徴とする請求項1記載の誘電体。
R4SiCl3-------一般式[3]
(前記R4は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、ビニル基、グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基。) - 下記一般式[1]で表示される化合物の群から選択された化合物を水とアルコ−ルの混合溶媒に溶解し、酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経てプラズマディスプレーパネル用誘電体を製造する方法。
(OR1)nSi-R2 m (n+m=4) ---------- 一般式[1]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、R2は炭素数が1〜4個の直鎖又は側鎖アルキル基、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。) - 下記一般式[2]で表示される化合物の群から選択された化合物を水とアルコ−ルの混合溶媒に溶解し、 酸又は塩基触媒の存在下で加水分解及び縮合反応を経てプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法。
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6の個の炭素鎖であり、R3はビニル基、 グリシドキシ基、メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基であり、nは1〜4の自然数、mは0〜3の間の定数。) - 下記一般式[3]で表示される化合物の群から選択された有機ハロゲンシランをシリコンアルコキシド又はアルキルエーテルと反応させて得られるプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法。
R4SiCl3---------- 一般式[3]
(前記R4は炭素数が1〜10個の直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子、フェニル基、フェニルアルコキシ基、アミン基、 ビニル基、グリシドキシ基、 メタアクリル基を含むか、炭素数が4〜8個の炭素鎖内にフッ素原子が置換された炭化水素基。) - 金属クロリドを触媒とすることを特徴とする請求項7記載のプラズマディスプレ−パネル用誘電体を製造する方法。
- 下記一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンに置換された有機グル−プで架橋が可能な有機単量体を含む同種又は異種の化合物を自由ラジカル及び有機重合開始剤を添加して重合することを特徴とするプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法。
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の 直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6個の炭素鎖であり、R3はビニル基、メタアクリル基であり、nは1〜3の自然数、mは1〜3の間の定数。) - 有機重合開始剤は、アルミニウムアルコキシド、 ジルコニウムアルコキシド、チタンアルコキシド、1-メチルイミダゾール、イミダゾール系列、ボロントリフルオロ ジエチルエーテルレ−ト(Diethyl etherate)、ベンゾイルパーオキシド、 2,2'-アゾビスイソブチロニトリルの群から選択されることを特徴とする請求項9記載のプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法。
- 下記一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンで置換された有機グル−プで架橋が可能な有機単量体を含む同種又は異種の化合物を金属アルコキシド又はアミン基を利用して開環反応させて重合することを特徴とするプラズマディスプレ−パネル用誘電体の製造方法。
(OR1)nSi-(X-R3)m (n+m=4) ---------- 一般式[2]
(前記R1は炭素数が1〜10個の 直鎖又は側鎖アルキル基、又は水素原子であり、Xは炭素数が3〜6の炭素鎖であり、R3はグリシドキシ基であり、nは1〜3の自然数、mは1〜3の間の定数。) - 前記一般式[1]又は一般式[2]で表示される化合物の中、シリコンで置換された有機グル−プが、修飾剤機能を遂行する作用基でメチル、フェニル、アミン、フェニルアルコキシから選択された少なくとも一つ以上を含むことを特徴とする請求項5又は6に記載の誘電体の製造方法。
- 請求項1記載の誘電体を公知のコ−ティング法を利用して誘電体膜を形成し、ここに熱又は紫外線によって焼成して製造されるプラズマディスプレ−パネル。
- 一般式 [1]、[2]、[3]で表示される化合物の中、少なくとも一つの化合物と水やアルコ−ルに分散されたケイ素酸化物粒子を添加して反応させる段階をさらに含むことを特徴とする請求項5乃至11のいずれか記載の誘電体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003341972A JP4246589B2 (ja) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | プラズマディスプレーパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003341972A JP4246589B2 (ja) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | プラズマディスプレーパネルの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005108691A true JP2005108691A (ja) | 2005-04-21 |
JP4246589B2 JP4246589B2 (ja) | 2009-04-02 |
Family
ID=34536400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003341972A Expired - Fee Related JP4246589B2 (ja) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | プラズマディスプレーパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4246589B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100758913B1 (ko) * | 2006-03-08 | 2007-09-17 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 및 그 제조방법 |
JP2008027862A (ja) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Sony Corp | 交流駆動型プラズマディスプレイパネル及び交流駆動型プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
JP2008130566A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Lg Electronics Inc | プラズマディスプレイパネル及びその製造方法、及びこれのための誘電体組成物 |
JP2008147053A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
WO2009099141A1 (ja) * | 2008-02-05 | 2009-08-13 | Jsr Corporation | フラットパネルディスプレイ部材形成材料 |
JP2010135084A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル及びその製造方法 |
US7755286B2 (en) | 2005-08-25 | 2010-07-13 | Panasonic Corporation | Glass film, process for production thereof, and optical electronic device |
JP2010267522A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
US7946898B2 (en) | 2008-05-12 | 2011-05-24 | Panasonic Corporation | Method for producing dielectric layer for plasma display panel |
JP2016047797A (ja) * | 2009-03-23 | 2016-04-07 | エスビーエー マテリアルズ インク | 新規な誘電体酸化物膜およびその製造方法 |
CN115279942A (zh) * | 2020-03-18 | 2022-11-01 | 安赛乐米塔尔公司 | 介电涂层 |
-
2003
- 2003-09-30 JP JP2003341972A patent/JP4246589B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7755286B2 (en) | 2005-08-25 | 2010-07-13 | Panasonic Corporation | Glass film, process for production thereof, and optical electronic device |
KR100758913B1 (ko) * | 2006-03-08 | 2007-09-17 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 및 그 제조방법 |
JP2008027862A (ja) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Sony Corp | 交流駆動型プラズマディスプレイパネル及び交流駆動型プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
JP2008130566A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Lg Electronics Inc | プラズマディスプレイパネル及びその製造方法、及びこれのための誘電体組成物 |
JP2008147053A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
JP4525672B2 (ja) * | 2006-12-12 | 2010-08-18 | パナソニック株式会社 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
WO2009099141A1 (ja) * | 2008-02-05 | 2009-08-13 | Jsr Corporation | フラットパネルディスプレイ部材形成材料 |
US7946898B2 (en) | 2008-05-12 | 2011-05-24 | Panasonic Corporation | Method for producing dielectric layer for plasma display panel |
US8330368B2 (en) | 2008-12-02 | 2012-12-11 | Panasonic Corporation | Plasma display panel and manufacturing method thereof |
JP2010135084A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル及びその製造方法 |
JP4663776B2 (ja) * | 2008-12-02 | 2011-04-06 | パナソニック株式会社 | プラズマディスプレイパネル及びその製造方法 |
JP2016047797A (ja) * | 2009-03-23 | 2016-04-07 | エスビーエー マテリアルズ インク | 新規な誘電体酸化物膜およびその製造方法 |
JP2010267522A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
CN115279942A (zh) * | 2020-03-18 | 2022-11-01 | 安赛乐米塔尔公司 | 介电涂层 |
CN115279942B (zh) * | 2020-03-18 | 2023-10-13 | 安赛乐米塔尔公司 | 介电涂层 |
US12000050B2 (en) | 2020-03-18 | 2024-06-04 | Arcelormittal | Dielectric coating |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4246589B2 (ja) | 2009-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1325415C (zh) | 用于等离子体显示器的电介质/间隔壁复合物及其制造方法 | |
CN1162461C (zh) | 聚有机硅倍半氧烷及其制备方法 | |
JP5964507B2 (ja) | 金属酸化物多孔質粒子、その製造方法、及びその用途 | |
JP4246589B2 (ja) | プラズマディスプレーパネルの製造方法 | |
KR101647537B1 (ko) | 규소계 액정 배향제, 액정 배향막 및 액정 표시 소자 | |
KR101419962B1 (ko) | 규소계 액정 배향제 및 액정 배향막 | |
KR101985547B1 (ko) | 전극 보호막 형성제 | |
JP6360836B2 (ja) | シロキサン化合物を含む反射防止コーティング組成物、それを用いて表面エネルギーが調節された反射防止フィルム | |
WO2011071269A2 (ko) | 태양전지 모듈용 글래스에 사용하기 위하여 광투과율을 증대시켜 주는 코팅액을 제조하는 방법과 이에 의하여 제조된 코팅액 조성물 | |
CN102627913A (zh) | 复合物及其制造方法 | |
JP2011088787A (ja) | 反射防止膜用組成物、反射防止膜、反射防止膜の製造方法、反射防止膜付き基材 | |
JP2005015310A (ja) | 多孔性シリカ膜、それを有する積層体 | |
JPWO2003087228A1 (ja) | ケイ素含有共重合ポリマー組成物、溶剤可溶性架橋ケイ素含有共重合ポリマー及びこれらの硬化物 | |
JP2014029531A (ja) | 光学フィルタ、その製造及び使用 | |
JP2008247700A (ja) | 撥水撥油防汚性反射防止膜およびその製造方法ならびにレンズ、ガラス板、ガラス、光学装置、太陽エネルギー利用装置およびディスプレイ | |
CN1417270A (zh) | 透明二氧化硅覆膜形成用涂覆溶液及透明二氧化硅覆膜的制造方法 | |
JP4159937B2 (ja) | ポリシラザン組成物 | |
KR101772549B1 (ko) | 고투명성 유기-무기 복합 코팅제 제조방법 | |
JP2011508712A (ja) | 封入触媒を使ったゾル−ゲル法 | |
KR100495566B1 (ko) | 플라즈마 디스플레이 패널용 유전체 및 그 제조방법 | |
CN103805057B (zh) | 白色涂料组合物及包含其所形成的涂层的装置 | |
JP2000351938A (ja) | 撥水膜被覆物品を製造する方法および撥水膜被覆用液組成物 | |
JP3065233B2 (ja) | オルガノポリシロキサン微粒子、その製造方法および液晶表示装置 | |
JP2003202960A (ja) | タッチパネル | |
KR20080089930A (ko) | 플라즈마 디스플레이 패널의 금속기판 조성물 및 이를이용한 플라즈마 디스플레이 패널과 그 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060912 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070319 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20070619 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20080617 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20080912 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080912 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Effective date: 20081126 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090106 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20090108 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120116 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130116 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 5 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140116 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |