JP2005099855A - アクティブマトリクス型液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 マトリクス状に配置された複数の信号配線7と走査配線2、その各交差点に対応して少なくとも一つ以上のスイッチング素子であるTFT11、TFT11に接続された櫛形状の画素電極8、画素電極8と咬合して形成された櫛形状の共通電極3を有するアレイ基板12と、アレイ基板12に対向して配置された対向基板3と、アレイ基板12と対向基板13とに挟持された液晶層を具備し、画素電極8が、信号配線7と同じ層に形成され、なおかつ信号配線7の膜厚より薄い構成にする。この簡易な構成によって、画素電極の近傍の非配向光抜けを防止し、またパネル外光の反射が抑えられ、コントラストの高い画像を得ることができる。
【選択図】 図1
Description
この図に示すように、複数の走査配線2および信号配線7が直交するように形成され、走査配線2と信号配線7の各交差点に対応してスイッチング素子であるTFT11が設けられる。隣接する2つの走査配線2と隣接する2つの信号配線7に囲まれる1画素において、複数、例えば2つの画素電極8が信号配線7に略平行に形成されている。信号配線7と画素電極8の間および隣接する画素電極8の間には、複数、例えば3つの共通電極3が櫛形状に形成され、かつ画素電極8と咬合している。蓄積容量部9は画素電極8の間で、かつ走査配線2の上部に形成されている。
ガラス基板1の上にアルミニウム(Al)を積層させ、フォトリソグラフィ法によって走査配線2と共通電極3を同時にパターン形成する。走査配線2と共通電極3の上にはTFTのゲート絶縁膜として働く窒化シリコン(SiNx)の第1絶縁体層4を積層させる。さらに第1絶縁体層4の上にTFTのスイッチ機能を司るアモルファスシリコン(α−Si)の半導体層5が積層されている。その後、TFTのチャンネル保護膜として窒化シリコン(SiNx)の第2絶縁体層6を積層、パターン形成する。そしてn+アモルファスシリコン(n+−α−Si)、チタン(Ti)、アルミニウム(Al)の3層を連続堆積させ、一括パターン形成を行い、信号配線7、画素電極8と蓄積容量部9を図のように形成した。ここでn+アモルファスシリコン(n+−α−Si)は半導体層5と信号配線7、画素電極8とのオーミックコンタクトをとるために、チタン(Ti)はアルミニウム(Al)がアモルファスシリコン(α−Si)の半導体層5に拡散するのを防止するために設けられた。さらにTFT保護膜として窒化シリコン(SiNx)の第3絶縁体層10を積層させる。
(実施の形態1)
図1(a)は本発明の(実施の形態1)におけるアレイ基板の画素部の平面構成を概略的に示し、図1(b)は図1(a)図の一点鎖線での液晶表示装置の断面構成の概略断面図を示す。
走査配線2としてアルミニウムを用いて、フォトリソグラフィ法によってガラス基板1の上に図のようにそれぞれ所定の間隔を隔てて、略平行にパターン形成されている。それと同時に、隣接する2つの走査配線2の間に互いに略平行な共通電極3がパターン形成されている。
(実施の形態2)
図2(a)は本発明の(実施の形態2)におけるアレイ基板の画素部の平面構成を概略的に示し、図2(b)は図2(a)図の一点鎖線での液晶表示装置の断面構成の概略断面図を示す。上記第1の実施の形態の場合と共通する部分についてはその説明を省略し、異なる部分について述べる。
2 走査配線
3 共通電極
4 第1絶縁体層
5 半導体層
6 第2絶縁体層
7 信号配線
8 画素電極
9 蓄積容量部
10 第3絶縁体層
11 TFT
12 アレイ基板
13 対向基板
14 液晶層
15 遮光膜
Claims (3)
- マトリクス状に配置された複数の信号配線と走査配線、その各交差点に対応して少なくとも一つ以上のスイッチング素子、前記スイッチング素子に接続された櫛形状の画素電極、前記画素電極と咬合して形成された櫛形状の共通電極を有するアレイ基板と、
前記アレイ基板に対向して配置された対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板とに挟持された液晶層
を具備し、
前記画素電極が、前記信号配線と同じ層に形成され、なおかつ前記信号配線の膜厚より薄いこと
を特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示装置。 - 画素電極と信号配線が異なる導電性材料で形成されること
を特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス型液晶表示装置。 - 画素電極の最表面がアルミニウムより反射率の小さい導電性材料で形成されるか、画素電極が透明導電性材料で形成されること
を特徴とする請求項1または請求項2記載のアクティブマトリクス型液晶表示装置。
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