JP2005072357A - 露光装置および液晶マスク - Google Patents

露光装置および液晶マスク Download PDF

Info

Publication number
JP2005072357A
JP2005072357A JP2003301585A JP2003301585A JP2005072357A JP 2005072357 A JP2005072357 A JP 2005072357A JP 2003301585 A JP2003301585 A JP 2003301585A JP 2003301585 A JP2003301585 A JP 2003301585A JP 2005072357 A JP2005072357 A JP 2005072357A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
exposure
crystal shutter
mask
row
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003301585A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Irikura
英明 入倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003301585A priority Critical patent/JP2005072357A/ja
Publication of JP2005072357A publication Critical patent/JP2005072357A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

【課題】 低コストで、均一に露光可能な液晶マスクおよびその液晶マスクを用いた露光
装置を提供する。
【解決手段】 本発明の露光装置は、各々駆動電圧に応じて透過状態または遮断状態とな
る複数の液晶シャッタからなる液晶シャッタ列を有する液晶マスクと、被加工物の表面に
形成すべき露光パターンを示す露光データを記憶する記憶手段と、単位露光領域を一列に
並べた複数のストライプ状の露光対象領域に被加工物の表面を区分し、液晶シャッタ列を
介した各露光対象領域への露光が順次行われるように液晶マスクと被加工物との相対的な
位置関係を変化させる駆動手段と、露光パターンに基づいて複数の露光対象領域の各々を
構成する各単位露光領域の露光状態を表す画素信号列を発生し、各露光対象領域への露光
が行われるときに、露光対象領域に対応する画素信号列に基づき各液晶シャッタに対する
駆動電圧を発生する液晶シャッタ制御手段とを有する。
【選択図】 図8

Description

本発明はフォトレジストを選択的に露光するための液晶マスクおよびその液晶マスクを
使用した露光装置に関する。
一般に、IC、LSI等の半導体集積回路、あるいは液晶装置の製造工程において、各
種薄膜材料にパターニングする工程としてリソグラフィ工程がある。リソグラフィ工程と
は、フォトレジストと呼ばれる感光性樹脂を半導体ウエハに塗布し、このフォトレジスト
に、光透過領域と光遮断領域とを有するマスクを介して光を照射することにより、フォト
レジストを選択的に露光する工程である。例えばネガ型のフォトレジストを用いた場合、
光が照射された箇所だけ残してウエハ上からフォトレジストが除去される。この後、残っ
たフォトレジストをマスクとして使用し、例えば金属配線パターンや拡散層パターンの形
成など、ウエハ上に回路パターンを形成するための処理が行われる。
ところで、近年の半導体集積回路は、多くの工程を経て製造されるため、1つの半導体
集積回路の作製には多数のマスクが必要である。また、特に開発段階では回路の改良、再
設計(改版)が頻繁に行われることが多く、回路改版のたびに多数のマスクを作製する必
要があり、時間的、コスト的に開発者の負担が大きかった。
この問題を解決するため、液晶マスクを用いた技術が提案されている。図14は従来技
術で用いられる液晶マスクの構造を示す図である。図14に示されるように、液晶マスク
は、複数の液晶シャッタがマトリクス状に配列された構造を有している。各液晶シャッタ
は、TFT(Thin Film Transistor)等のアクティブ素子と、液晶
に電圧を印加するための透明電極、およびx軸方向、y軸方向に配線された信号線から構
成されている。
このような液晶マスク技術によれば、各液晶シャッタに与える駆動電圧を切り換えるこ
とにより、物理的に1枚のマスクのみで、露光パターンの異なった複数のマスクを実現す
ることができる。
しかし、従来技術には次のような問題があった。図15は従来技術の液晶マスクによる
露光の様子を示した模式図である。図中10は光源を、900は露光パターンを、930
は液晶マスクを、910はフォトレジストを、950はウエハを示す。図中下段は、光の
照射強度の場所依存性を示す図である。図中の上段部に示されるように、図15は、ある
連続する5つの液晶シャッタ(画素)に対し、黒、白、白、白、黒(「白」は露光する画
素を、「黒」は露光しない画素を意味する)のパターンを描画する様子を示したものであ
る。通常、液晶パネルの信号線は、各液晶シャッタ間に縦横両方向に配線されているため
、1ショット全面を露光するパターンの場合、縦横両方向に網目状に照射強度の弱い領域
が発生していた(以下、この照射強度の弱い領域を「デッドゾーン」と呼ぶ)。
以上で述べたデッドゾーン発生の問題を解決するため、例えば特許文献1に記載されて
いるように、制御不可能領域を無くすために透明電極を縦横それぞれ2層づつ計4層重ね
合わせた液晶パネルをマスクとして用いる技術が提案されている。
特開平6−301190号公報
しかし、特許文献1に記載の技術では、透明電極を4層重ね合わせるという複雑な構造
が採用されているため製造が難しく、製造コストが高い、信頼性が低いといった問題があ
った。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、低コストで、より均一に露光可能な
液晶マスクおよびその液晶マスクを用いた露光装置、ならびに露光方法を提供することを
目的とする。
以上の問題を解決するため、本発明は、露光処理の対象である被加工物を保持する保持
手段と、被加工物の露光を行うための光を出力する光源と、各々駆動電圧に応じて透過状
態または遮断状態となる複数の液晶シャッタからなる液晶シャッタ列を有し、光源から被
加工物に至る光の経路上に設けられた液晶マスクと、被加工物の表面に形成すべき露光パ
ターンを示す露光データを記憶する記憶手段と、各々単位露光領域を一列に並べた複数の
ストライプ状の露光対象領域に前記被加工物の表面を区分し、前記液晶シャッタ列を介し
た各露光対象領域への露光が順次行われるように、液晶マスクと被加工物との相対的な位
置関係を変化させる駆動手段と、露光データによって示される露光パターンに基づいて、
複数の露光対象領域の各々を構成する各単位露光領域の露光状態を表す画素信号列を発生
し、各露光対象領域への露光が行われるときに、画素信号列のうち当該露光対象領域に対
応する画素信号列に基づき、液晶シャッタ列における各液晶シャッタに対する駆動電圧を
発生する液晶シャッタ制御手段とを有する露光装置を提供する。
ここで、液晶マスクは、液晶シャッタ列を複数有し、各液晶シャッタ列は、各々におけ
る隣接した2つの液晶シャッタの間に他の液晶シャッタ列の1つの液晶シャッタが位置す
るように並列配置され、1つの露光対象領域に対する露光において、駆動手段は、複数の
液晶シャッタ列の各々を介した当該露光対象領域への露光が順次行われるように、複数の
液晶シャッタ列を横切る方向に前記液晶マスクまたは前記被加工物を移動させ、液晶シャ
ッタ制御手段は、当該露光対象領域への露光に使用される液晶シャッタ列を構成する各液
晶シャッタに対する駆動電圧を、画素信号列における当該露光対象領域に対応した画素信
号列のうち当該液晶シャッタ列を介した露光の対象となる単位露光領域に対応した画素信
号列に基づいて発生する構成としてもよい。
さらに、複数の液晶シャッタ列の各々は、1つの露光対象領域内において当該液晶シャ
ッタ列を介して露光される領域と他の液晶シャッタ列を介して露光される領域とがオーバ
ーラップするように構成されていてもよい。
さらに、液晶マスクは、2枚の透明な基板と、これらの基板間に封止された液晶とを有
し、前記液晶マスクにおける各液晶シャッタは、前記2枚の基板のうちの一方に配置され
、駆動電圧が印加される透明な画素電極とを有する構成としてもよい。
さらに、液晶マスクは、液晶シャッタ列の側方に、各液晶シャッタに駆動電圧を供給す
るための配線を有し、各液晶シャッタは、各々の間に配線を挟むことなく密に配列されて
いる構成としてもよい。
本発明により、低コストで作製できる液晶マスクを使用する露光装置を実現することが
できる。また、デッドゾーンの発生を抑制あるいは完全に排除した露光装置を実現できる
また、本発明は、光源から被加工物に至る光の経路上に配置され、光源からの光による
被加工物の各領域の露光を選択的に制限する液晶マスクを提供する。ここで、液晶マスク
は、光の経路を横断するように配置される2枚の透明な基板と、2枚の基板間に封止され
た液晶と、2枚の基板のうちの一方に線状をなすように複数配置され、各々駆動電圧が印
加されることにより、液晶における各々に対向した領域を透過状態または遮断状態とする
複数の画素電極とを有し、駆動電圧を複数の画素電極に供給するための配線が複数の画素
電極からなる列の側方に形成され、各画素電極は、各々の間に配線を挟むことなく密に配
列される。
また、本発明は、光源から被加工物に至る光の経路上に配置され、光源からの光による
前記被加工物の各領域の露光を選択的に制限する液晶マスクを提供する。ここで、液晶マ
スクは、光の経路を横断するように配置される2枚の透明な基板と、2枚の基板間に封止
された液晶とを有し、2枚の基板のうちの一方には、各々駆動電圧が印加されることによ
り、液晶における各々に対向した領域を透過状態または遮断状態とする複数の画素電極か
らなる画素電極列が形成され、各画素電極列は、各々における隣接した2つの画素電極の
間に他の画素電極列の1つの画素電極が位置するように並列配置される。
ここで、複数の画素電極列の各々における各画素電極は、当該画素電極列における複数
の画素電極の並び方向において、他の1つの画素電極列における1または2の画素電極と
オーバーラップする領域を有するように構成されてもよい。
本発明によれば、低コストで作製できる液晶マスク、およびその液晶マスクを使用する
露光装置を実現することができる。また、デッドゾーンの発生を抑制あるいは完全に排除
した露光装置および露光方法を実現できる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。な
お、図面間で共通する要素には同一の参照番号を付している。
[A.第1実施形態]
本発明の第1実施形態に係わる液晶マスクは、液晶シャッタをy軸方向に1列に配置し
た構造を有している。この液晶マスクをx軸方向に走査しながら露光することにより、ウ
エハ上に平面パターンを露光することができる。
図1は、本実施形態における露光装置の光学系の構成を示す概略図である。図1におい
て、ステージ60は、この露光装置の処理対象であるウエハ50を保持する手段である。
ウエハ50は、表面にフォトレジストが塗布された状態で、ステージ60に載置される。
ステージ60には、このようにして載置されるウエハ50を動かないように固定する真空
チャック等の手段が設けられている。また、図示は省略したが、露光装置には、ステージ
60を水平面内のx軸方向に駆動する機構および水平面内においてx軸と直交するy軸方
向に駆動する機構が設けられている。さらに露光装置には、ステージ60を水平面内にお
いて回転駆動する機構が設けられている。
光源10、コンデンサレンズ20、液晶マスク500、投影レンズ40およびマスク駆
動部70は、ステージ60に保持されたウエハ50上のフォトレジストに回路パターンを
転写する手段を構成している。以下、これらの各要素について説明する。
まず、光源10はフォトレジストを露光するための光源であり、要求される解像度やパ
ワー(照度)に応じて、波長436nmのg線、波長405nmのh線、波長365nm
のi線、KrFエキシマレーザ、X線などの光源が使用される。コンデンサレンズ20は
光源10から照射された光を平行光にするためのレンズである。
液晶マスク500は、コンデンサレンズ20を通過した平行光を選択的に透過させ、ウ
エハ50に塗布されたフォトレジストに回路パターンを焼き付けるためのマスクである。
マスク駆動部70は液晶マスク500をx軸方向に水平移動させるための駆動機構である
。なお、液晶マスク500およびマスク駆動部70の構成は後で詳細に述べる。
投影レンズ40は液晶マスク500を通過した光をウエハ50に縮小投影するためのレ
ンズである。これにより、マスクのパターンは1/5に縮小されてウエハ50上に転写さ
れる。なお、マスクの縮小率は1/5に限られず、他の倍率でもよい。また、図1では説
明を簡単にするためコンデンサレンズ20および投影レンズ40はそれぞれ1枚のレンズ
として描かれているが、それぞれ複数枚のレンズで構成されていてもよい。
図2は、本実施形態における液晶マスク500の構成を示す図である。図2に示される
ように、液晶マスク500は、y軸方向に一列に配列されたm個の液晶シャッタ31を有
する。各液晶シャッタ31は、ノーマリーブラックモードの液晶シャッタであり、所定レ
ベルの駆動電圧が印加されることにより光を透過する状態(開状態)になるが、印加され
る駆動電圧が0Vまたは極めて低い状態では光を透過(閉状態)しない。また、液晶マス
ク500の液晶シャッタ31以外の部分は金属の膜で被覆されており、光を透過できない
ようになっている。すなわち、液晶マスク500は、所定レベルの駆動電圧が印加された
液晶シャッタ31のみが選択的に光を透過するように構成されている。
図2に示されるように、本実施形態においては液晶シャッタ31をy軸方向に一列に配
置したため、各液晶シャッタ31間に信号線を配線する必要がなく、各液晶シャッタ31
間の間隔を最小限に狭めることができる。
図3は、本実施形態における液晶マスク500において1個の液晶シャッタ31を構成
している部分の断面図である。同図に示すように、液晶マスク500は、一定間隔を隔て
て対向した2枚の透明な基板270および280を有しており、これらの基板間には液晶
260が封止されている。基板280の両面のうち基板270と対向している面には、透
明な画素電極250が設けられている。図3には、1個の液晶シャッタ31を構成するた
めの1個の画素電極250しか示されていないが、実際にはm個の液晶シャッタ31を構
成するためのm個の画素電極250が列をなして基板280上に形成されている。基板2
70には、これらの各画素電極250と対向する透明な共通電極290が設けられている
。この共通電極290には、ある共通電位(例えば0Vとする)が与えられる。基板28
0上において、各画素電極250の近傍にはTFT210が各々設けられている。各画素
電極250には、各々のために設けられたTFT210を介して、駆動電圧が供給される
。ここで、ある画素電極250に印加される駆動電圧が所定レベル以上である場合、この
画素電極250と共通電極290との間にある液晶260は、光を透過する状態になるが
、印加される駆動電圧が0Vまたは極めて低い状態(通常状態)では光を透過しない。
図4は、本実施形態における露光装置の電気系の構成を示すブロック図である。図4に
おいて、データ入力部310は、被加工物であるウエハ50上のフォトレジストに形成す
べき露光パターンを示す露光データを入力するための手段である。露光データメモリ32
0は、データ入力部310によって入力された露光データを記憶するメモリである。デー
タ変換部330は、露光データに対応した露光パターンを形成するのに必要な各液晶シャ
ッタ31の開閉制御情報である画素信号行列を生成する手段である。画素信号メモリ34
0は、データ変換部330によって生成された画素信号行列を記憶するメモリである。
ここで、露光データと画素信号列の関係について説明する。本実施形態においては、概
ね次のような手順でウエハ50上のフォトレジストの露光が行われる。すなわち、ウエハ
50は例えば22mm角程度の領域に分割される(以下、各領域を「ショット」と呼ぶ)
。回路設計者は、CADを用いて、フォトレジスト上の1ショット分の領域に形成すべき
露光パターンを示す露光データを作成する。通常、製品として出荷されるICチップは1
ショットの面積よりも小さいチップ面積を有しているので、設計者はICチップをショッ
ト内に敷き詰めた状態での露光パターンを作成し、この製品の露光データとする。露光デ
ータは、半導体プロセスの複数の工程のそれぞれに対応した複数の層構造を有しており、
公知技術においては、各層につき1ショット分の露光パターンに対応した光透過領域を有
するマスクを1枚作製する必要があった。公知技術においては、このマスクを使用して1
ショット露光すると、ウエハを1ショット分上下あるいは左右に移動し、次のショットを
露光するという工程を繰り返し、ウエハ1枚全面に露光パターンを形成する。
図5において、符号800は、このような露光処理における露光パターンの一例を示し
ている。露光データは、このような露光パターンを囲む輪郭線を示す情報(例えば輪郭線
上の各頂点のxy座標値)の集合体である。本実施形態では、フォトレジストの全領域が
、図5において破線によって示すように、複数のストライプ状の露光対象領域701に区
画されている。そして、各露光対象領域701は、複数の単位露光領域に区画されている
。これらの単位露光領域は、液晶マスク500における各液晶シャッタ31を介して露光
される露光領域の最小単位である。図5では、図面が煩雑になるのを防ぐため、ある露光
対象領域701−kについてのみ単位単位露光領域が破線で示されている。画素信号行列
は、フォトレジスト上の各単位露光領域が露光データによって示される露光パターンの内
側(“1”)にあるか外側(“0”)にあるか、すなわち、各単位露光領域の露光を行う
べきか否かを単位露光領域毎に指定するビット列である。図5には、ある露光対象領域7
01−kについて、これに対応して発生される画素信号が示されている。
図4において、液晶シャッタ制御部350は、画素信号メモリ340に記憶された画素
信号行列に基づいて液晶マスク500上の各液晶シャッタ31の開閉制御を行う手段であ
る。さらに詳述すると、液晶シャッタ制御部350は、フォトレジスト上の各露光対象領
域を順次選択し、選択した露光対象領域に対する露光が可能となるようにするための液晶
マスク500の移動指令をマスク駆動制御部360に送る。そして、液晶シャッタ制御部
350は、その露光対象領域に対応した画素信号列を画素信号メモリ340から読み出し
、これを含む露光指令を液晶マスク500に送る。マスク駆動制御部360は、液晶シャ
ッタ制御部350からの移動指令に従い、マスク駆動部70による液晶マスク500の移
動の制御を行う手段である。
液晶マスク500上には、液晶シャッタ制御部350からの露光指令に従い、各液晶シ
ャッタ31の開閉制御を行うシャッタ駆動回路380が設けられている。図6は、このシ
ャッタ駆動回路380の構成と各構成要素の基板280上でのレイアウトを示す図である
。なお、この図では、本実施形態における各液晶シャッタ31の開閉制御の理解を容易に
するため、シャッタ駆動回路380の各構成要素とともに各液晶シャッタ31の画素電極
250が図示されている。
図6に示すように、m個の画素電極250には、m個のTFT210のドレイン電極D
が各々接続されている。信号供給回路381は、露光指令を受け取ると、この露光指令中
に含まれる画素信号列をシフトクロックCKとともに出力し、その後、書き込みパルスW
を出力する回路である。m個のフリップフロップ382は、シフトクロックCKに同期し
て画素信号列を順次シフトするm段のシフトレジスタを構成している。このシフトレジス
タの各段の出力信号はm個のバッファ383によって適正なレベルの駆動電圧とされ、m
個のTFT210のソース電極Sに各々印加される。信号供給回路381から出力される
書き込みパルスWは、m個のTFT210のゲート電極Gに与えられる。この書き込みパ
ルスWがゲート電極Gに印加されている間、各TFT210は、オン状態となり、m個の
バッファ383から出力される駆動電圧は、各TFT210を介してm個の画素電極25
0に各々印加される。
次に、図10に示すタイムチャートに従い、本実施形態における露光装置100の動作
について説明する。説明の便宜上、各液晶シャッタ31の形状は、1辺の長さがaの正方
形であるとする。なお、液晶シャッタ31の形状は正方形に限られない。また、以下の説
明では、既に1ショット分の露光データが入力され、かつ、この露光データに対応した画
素信号行列が生成され、画素信号メモリ340に既に格納されているものとする。
まず、第j列の露光対象領域を露光するにあたり、液晶シャッタ制御部350は、x座
標値が次式で表される値となる位置に液晶マスク500を移動させるための移動指令をマ
スク駆動制御部360に送る。
(数1)
x=(j−1)a
次に、液晶シャッタ制御部350は、第j列の露光対象領域に対応した画素信号列を画
素信号メモリ340から読み出し、これを含む露光指令をシャッタ駆動回路380に送る
。シャッタ駆動回路380における信号供給回路381は、露光指令を受け取り、この露
光指令に含まれる画素信号列をシフトクロックCKとともに出力し、m段のシフトレジス
タの各段に書き込む。
次に、信号供給回路381は、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込みパル
スWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジスタの
各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧がm個のTFT210を介し
てm個の液晶シャッタ31の画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露
光が行われる。
続いて第j+1列の露光対象領域への露光が、以上述べた第j列の露光と同様に行われ
る。これを第1列から第n列まで繰り返し実行することにより、m行n列の画素信号行列
に対応した1ショット分の露光パターンが、ウエハ50のフォトレジスタ上に形成される
第1のショットの露光が終了すると、露光装置100は、ステージ60を前後あるいは
左右に移動し、第2のショットの露光に移る。
以上の動作をウエハ50上の全ショットに対して繰り返し行うことにより、ウエハ50
上に所望の回路パターンを露光することができる。こうしてウエハ上に所望の回路パター
ンを露光した後、例えばエッチングなどの工程を施しウエハ50上にパターンを形成して
いく。その次の露光工程では、1層上の露光データを指定し、露光データメモリ320内
の露光データを入れ替えることにより、別のパターンを露光することができる。
以上で説明したように本発明の第1実施形態によれば、y軸方向に1列に配置した液晶
シャッタをx軸方向に走査することにより、y軸方向のデッドゾーンの発生を抑えること
ができる。また、各液晶シャッタ間に信号線を配線しない構造を採用したため、液晶マス
ク500上のスリットの幅は、画素電極250間の間隔まで狭めることができる。本実施
形態においては、マスクのパターンをウエハ50上に1/5に縮小投射するので、ウエハ
50上のデッドゾーンの幅は、画素電極250間の間隔の1/5程度にまで狭めることが
できる。
[B.第2実施形態]
本実施形態の液晶マスクは、第1実施形態の液晶パネルにおいてはy軸に平行に1列に
配置されていたm個の液晶シャッタ31を、露光対象領域の奇数番目の単位露光領域に対
応する液晶シャッタから構成される液晶シャッタ列Aと、露光対象領域の偶数番目の単位
露光領域に対応する液晶シャッタから構成される液晶シャッタ列Bの2列に分けて並列配
置した構造を有している。この液晶マスクをx軸方向に走査しながら露光することにより
、x軸、y軸両方向のデッドゾーンの発生を完全に抑制できる。
本実施形態における露光装置は、第1実施形態の液晶マスク500を液晶マスク500
Bで置換したものである。液晶マスク500B以外は基本的に第1実施形態と同一の構成
を有している。また、液晶マスク500Bの構成要素についても、第1実施形態の液晶マ
スク500と同一の要素には同一の参照番号を付している。
図8は、本実施形態に係わる液晶マスク500Bの外観図である。図8に示されるよう
に、m個の液晶シャッタ31は、奇数行、偶数行に分かれて2列(液晶シャッタ列A、液
晶シャッタ列B)に配置されている。各列の液晶シャッタ31は、等間隔でy軸方向に1
列に配置される。また、一方の列のある液晶シャッタ31は、他方の列の前後の液晶シャ
ッタ31とy座標がオーバーラップするオーバーラップ部を有する。すなわち、各列にお
いて、液晶シャッタ31間のy軸方向の間隔lは、次式で示される関係を満たすように
設計されている。
(数2)
=a−b
ここで、aは液晶シャッタ31の短辺の長さであり、bはオーバーラップ部の長さであ
る。なお、オーバーラップ部を設けたため、本実施形態における液晶シャッタ31は、正
方形ではなくy軸方向に長い長方形の形状を有している。図8に示されるように、液晶シ
ャッタの長辺の長さはa+bである。
このようにオーバーラップ部を設ける設計としたため、ウエハ上のオーバラップ部に対
応する部分は、2つの対応する画素電極により2重に露光されるため、デッドゾーンの発
生を排除できる。
図9は、本実施形態におけるシャッタ駆動回路380Aの構成を示す図である。図9に
示されるように、m個の画素電極250には、m個のTFT210のドレイン電極Dが各
々接続されている。信号供給回路381Aは、露光指令を受け取ると、この露光指令中に
含まれる画素信号列をシフトクロックCKとともに出力し、その後、書き込みパルスWを
出力する回路である。m個のフリップフロップ382Aは、シフトクロックCKに同期し
て画素信号列を順次シフトするm段のシフトレジスタを構成している。このシフトレジス
タの各段の出力信号はm個のAND回路384Aの一方の入力端に入力される。液晶シャ
ッタ列Aに対応するAND回路384Aの他方の入力端には、液晶シャッタ列A/液晶シ
ャッタ列Bを選択する液晶シャッタ列選択信号を反転した信号が入力される。液晶シャッ
タ列Bに対応するAND回路384Aの他方の入力端には、液晶シャッタ列選択信号が入
力される。液晶シャッタ列選択信号がLレベルの場合にはインバータ385Aにより液晶
シャッタ列Aの画素電極250に対応したAND回路384AにHレベルの信号が入力さ
れ、液晶シャッタ列Bの画素電極250に対応したAND回路384AにはLレベルの信
号が入力される。これにより、液晶シャッタ列A/液晶シャッタ列Bの一方に対してのみ
、画素信号に対応した駆動電圧がTFT210のソース電極Sに各々印加される。選択さ
れない液晶シャッタ列に対しては、0Vの電圧が印加される。信号供給回路381から出
力される書き込みパルスWは、m個のTFT210のゲート電極Gに与えられる。この書
き込みパルスWがゲート電極Gに印加されている間、各TFT210は、オン状態となり
、m個のAND回路384Aから出力される駆動電圧は、各TFT210を介してm個の
画素電極250に各々印加される。
次に、図10に示すタイムチャートに従い、本実施形態における露光装置100の動作
について説明する。以下の説明では、既に1ショット分の露光データが入力され、かつ、
この露光データに対応した画素信号行列が生成され、画素信号メモリ340に既に格納さ
れているものとする。
まず、第j列の露光対象領域を露光するにあたり、液晶シャッタ制御部350は、x座
標値が数1で表される値となる位置に液晶マスク500Bを移動させるための移動指令を
マスク駆動制御部360に送る。
次に、液晶シャッタ制御部350は、第j列の露光対象領域に対応した画素信号列を画
素信号メモリ340から読み出し、これを含む露光指令をシャッタ駆動回路380に送る
。シャッタ駆動回路380Aにおける信号供給回路381Aは、露光指令を受け取り、こ
の露光指令に含まれる画素信号列をシフトクロックCKとともに出力し、m段のシフトレ
ジスタの各段に書き込む。また、Lレベルの液晶シャッタ列選択信号を出力する。
次に、信号供給回路381Aは、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込みパ
ルスWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジスタ
の各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧が、液晶シャッタ列選択信
号によって選択された液晶シャッタ列AのTFT210を介してm個の液晶シャッタ31
の画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露光が行われる。
次に、液晶シャッタ制御部350は、液晶シャッタ列Bのx座標値xが数1で表され
る値になるまで液晶マスク500Bを移動する信号を、マスク駆動部70に出力する。
次に、信号供給回路381Aは、Hレベルの液晶シャッタ列選択信号を出力する。この
状態で信号供給回路381Aは、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込みパル
スWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジスタの
各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧が、液晶シャッタ列選択信号
によって選択された液晶シャッタ列BのTFT210を介してm個の液晶シャッタ31の
画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露光が行われる。これで第j列
の液晶シャッタ列Bの露光が完了する。すなわち、第j列の露光対象領域の露光が完了す
る。
続いて第j+1列が、以上で述べた第j列の露光と同様に行われる。これを第1列から
第n列まで繰り返し実行することにより、m行n列のマトリクス状の露光パターンを露光
することができる。
以上で説明したように、本発明の第2実施形態によれば、デッドゾーンの発生を排除し
た露光装置が実現できる。また、本実施形態の液晶マスクにおいては、各液晶シャッタ(
画素)は十分な間隔をもって配置されるため、画素電極250の形成領域を十分に確保す
ることができ、液晶マスクの製造が容易になる。すなわち液晶マスクの製造が低コストで
できるようになる。さらに、液晶シャッタの間隔が従来技術と比較して格段に広くなるた
め、TFT等のアクティブ素子もより大きなものを使用できるようになり、より信頼性の
高い液晶マスクを作製することが可能となる。
[C.第3実施形態]
本実施形態の液晶マスクは、液晶シャッタを、露光対象領域の3k−2番目(k:自然
数)の単位露光領域に対応する液晶シャッタから構成される液晶シャッタ列Aと、露光対
象領域の3k−1番目の単位露光領域に対応する液晶シャッタから構成される液晶シャッ
タ列Bと、露光対象領域の3k番目の単位露光領域に対応する液晶シャッタから構成され
る液晶シャッタ列Cとの3列に配置した構造を有している。この液晶マスクをx軸方向に
走査しながら露光することにより、デッドゾーンの発生を完全に抑制できる。
本実施形態における露光装置は、第1実施形態の液晶マスク500を液晶マスク500
Cで置換したものである。液晶マスク500C以外は第1実施形態と同一であるので説明
を省略する。また、液晶マスク500Cの構成要素についても、第1実施形態の液晶マス
ク500と同一の要素には同一の参照番号を付している。
液晶マスク500C上には、液晶シャッタ制御部350からの露光指令に従い、各液晶
シャッタ31の開閉制御を行うシャッタ駆動回路380Bが設けられている。図11は、
このシャッタ駆動回路380Bの構成と各構成要素の基板280上でのレイアウトを示す
図である。なお、この図では、本実施形態における各液晶シャッタ31の開閉制御の理解
を容易にするため、シャッタ駆動回路380Bの各構成要素とともに各液晶シャッタ31
の画素電極250が図示されている。
本実施形態においても、液晶シャッタ31間のy軸方向の間隔lは、数2で示される
関係を満たすように設計されている。また、各液晶シャッタ列間の間隔lは別の所定の
値に設計されている。第2実施形態と同様lについては特に制限はないが、配線に十分
広い領域を確保する必要がある。
以下、第2実施形態と同様に、液晶シャッタ列A、液晶シャッタ列B、液晶シャッタ列
Cそれぞれの画素電極の左辺の位置をもって液晶シャッタ列A、液晶シャッタ列B、液晶
シャッタ列Cのx座標x、x、xと定義する。
図11に示されるシャッタ駆動回路380Bが第2実施形態のシャッタ駆動回路380
Aと異なる点は、液晶シャッタ列A、液晶シャッタ列B、液晶シャッタ列Cのそれぞれに
対応したシャッタ列選択信号線を3本有している点である。Hレベルのシャッタ列選択信
号SL1が印加されている間は、液晶シャッタ列Aに対応するTFT210のソース電極
Sに駆動電圧が印加される。同様に、Hレベルのシャッタ列選択信号SL2が印加されて
いる間は液晶シャッタ列Bに対応するTFT210のソース電極Sに、Hレベルのシャッ
タ列選択信号SL3が印加されている間は液晶シャッタ列Cに対応するTFT210のソ
ース電極Sに、それぞれ駆動電圧が印加される。信号供給回路381Bから出力される書
き込みパルスWは、m個のTFT210のゲート電極Gに与えられる。この書き込みパル
スWがゲート電極Gに印加されている間、各TFT210は、オン状態となり、m個のA
ND回路384Bから出力される駆動電圧は、各TFT210を介してm個の画素電極2
50に各々印加される。
次に、図12に示すタイムチャートに従い、本実施形態における露光装置100の動作
について説明する。以下の説明では、既に1ショット分の露光データが入力され、かつ、
この露光データに対応した画素信号行列が生成され、画素信号メモリ340に既に格納さ
れているものとする。
まず、第j列の露光対象領域を露光するにあたり、液晶シャッタ制御部350は、液晶
シャッタ列Aのx座標値xが数1で表される値となる位置に液晶マスク500Cを移動
させるための移動指令をマスク駆動制御部360に送る。
次に、液晶シャッタ制御部350は、第j列の露光対象領域に対応した画素信号列を画
素信号メモリ340から読み出し、これを含む露光指令をシャッタ駆動回路380Bに送
る。シャッタ駆動回路380Bにおける信号供給回路381Bは、露光指令を受け取り、
この露光指令に含まれる画素信号列をシフトクロックCKとともに出力し、m段のシフト
レジスタの各段に書き込む。また、Hレベルの液晶シャッタ列選択信号SL1を出力する
次に、信号供給回路381Bは、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込みパ
ルスWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジスタ
の各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧が、液晶シャッタ列選択信
号によって選択された液晶シャッタ列AのTFT210を介してm個の液晶シャッタ31
の画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露光が行われる。これで露光
対象領域の3k−2番目(k:自然数)の単位露光領域が露光される。
次に、液晶シャッタ制御部350は、液晶シャッタ列Bのx座標値xが数1で表され
る値になるまで液晶マスク500Cを移動する信号を、マスク駆動部70に出力する。
次に、信号供給回路381Bは、Hレベルの液晶シャッタ列選択信号SL2を出力する
。この状態で信号供給回路381Bは、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込
みパルスWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジ
スタの各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧が、液晶シャッタ列選
択信号によって選択された液晶シャッタ列BのTFT210を介してm個の液晶シャッタ
31の画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露光が行われる。これで
露光対象領域の3k−1番目(k:自然数)の単位露光領域が露光される。
次に、液晶シャッタ制御部350は、液晶シャッタ列Cのx座標値xが数1で表され
る値になるまで液晶マスク500Cを移動する信号を、マスク駆動部70に出力する。
次に、信号供給回路381Bは、Hレベルの液晶シャッタ列選択信号SL3を出力する
。この状態で信号供給回路381Bは、露光時間tに相当するパルス幅を有する書き込
みパルスWをm個のTFT210のゲート電極Gに供給する。この間、m段のシフトレジ
スタの各段から出力されているm個の画素信号に対応した駆動電圧が、液晶シャッタ列選
択信号によって選択された液晶シャッタ列CのTFT210を介してm個の液晶シャッタ
31の画素電極250に印加され、各液晶シャッタ31を介した露光が行われる。これで
露光対象領域の3k番目(k:自然数)の単位露光領域が露光される。すなわち、第j列
の露光対象領域の露光が完了する。
続いて第j+1列の露光対象領域への露光が、以上述べた第j列の露光と同様に行われ
る。これを第1列から第n列まで繰り返し実行することにより、m行n列の画素信号行列
に対応した1ショット分の露光パターンが、ウエハ50のフォトレジスト上に形成される
[D.第4実施形態]
前述の第1〜第3実施形態においては、ウエハを約22mm角の領域であるショットに
区分し、1ショット露光してはステージ60を1ショット分移動し次のショットを露光す
るということを繰り返す、いわゆるステップ・アンド・リピート方式で露光を行う態様に
ついて説明した。これに対し本実施形態においては、ウエハをショットに区分せず、液晶
マスクの幅に相当する幅を有する帯状の領域を順次露光していく。詳細には以下の通りで
ある。
本実施形態の液晶マスク500Dは、第1実施形態と同様に液晶シャッタを1列に配置
した構造を有している。液晶マスク500Dの液晶シャッタ列は、光源10から適正な照
射強度が得られる範囲で最大の長さを有している。すなわち、第1実施形態の液晶マスク
500の液晶シャッタ列はショットの1辺の長さ(約22mm)を露光可能な程度の長さ
を有していればよいが、本実施形態において液晶マスク500Dでは、光学系その他の構
成要素の許す限り最大の長さwmaxを有するように液晶シャッタが配置されている。な
お、以下の説明では1列に配置された液晶シャッタ列を有する液晶マスクを用いた露光装
置、露光方法について説明するが、液晶シャッタは第2実施形態あるいは第3実施形態で
説明したように、2列以上に配置されていてもよい。
本実施形態の液晶マスク500Dは、第1実施形態の液晶マスク500の液晶シャッタ
制御部350と同一の液晶シャッタ制御部を有しており、第1実施形態で説明した動作と
同様に動作する。
また、本実施形態における露光装置100には、露光データを生成するためのコンピュ
ータ400が接続されている。
以下、本実施形態においては、ある半導体チップを量産する場合を考える。すなわち、
ある大きさのチップに対応する露光パターンをウエハ50の全面に敷き詰めて露光する場
合について説明する。
本実施形態において、1チップは幅wchip、長さlchipの大きさを有している
とする。各チップは後工程でウエハ50からチップを1つずつ切り出すための隙間(いわ
ゆるスクライブライン)を間に挟んで密に配置されている。また、スクライブラインの幅
はdscrであるとする。
露光の説明に先立ち、まず、本実施形態における露光データについて説明する。本実施
形態における露光対象領域の長さwexpは、以下の数3を満たす最大のnchipを用
いて、数4で表される。
(数3)
chip(Wchip+dscr)≦wmax
(数4)
exp=nchip(Wchip+dscr
数4から分かるように、本実施形態における露光対象領域は、スクライブラインの幅を
確保してチップをnchip個y軸方向に並べたパターンに対応している。このチップ列
をx軸方向に繰り返し配置したパターンが露光パターンとなる。ここで、液晶シャッタ列
の端からwmax−wexpの長さに対応する部分は、露光対象領域外なので常に閉状態
となるような露光データが生成される。液晶シャッタは、こうして用意された露光データ
を使用して、第1実施形態と同様の方法で駆動される。
図13は本実施形態における露光方法を説明する模式図である。図13において(1)
〜(6)の各図は、露光の様子を時系列的に示した模式図である。図13においてウエハ
50内に描かれた四角形は1つのチップを表している。なお図13では図面が複雑になる
のを防ぐため、チップサイズおよびスクライブライン幅を誇張して大きく描いている。本
実施形態において、ウエハ50は、正方形のショットではなく図13に示されるようにx
軸方向に伸びる幅wexpの帯状の領域に分割される。まず、露光装置100は、最上部
の帯状領域を露光可能な位置にウエハ50が位置するように、ステージ60を駆動する。
マスク駆動制御部360は、この最上部の帯状領域を図13において左から右に1露光対
象領域ずつ順に露光するようにマスク駆動部70を制御する。
最上部の帯状領域の露光が完了すると、露光装置100は、ステージ60をy軸方向に
露光対象領域の長さwexpだけ移動し、第2の帯状領域を露光可能な位置にステージ6
0を移動させる。続いてマスク駆動制御部は、第2の帯状領域を図13の右から左に1露
光対象領域ずつ順に露光するようにマスク駆動部70を制御する。
以上の動作を繰り返すことにより帯状領域を1列ずつ露光すれば、ウエハ50の全面に
パターンを露光することができる。
本実施形態の露光装置によれば、液晶マスク500Dの液晶シャッタ列は、光源10か
ら適正な照射強度が得られる範囲で最大の長さを有しており、ショット単位ではなくチッ
プ単位で露光対象領域の大きさを規定しているため、効率的に露光を行うことができる。
また、特に開発段階における場合など、1枚のウエハ上に回路パターンの異なるチップ
を複数種類形成したい場合には、帯状領域ごとに露光するパターンを変更してもよい。シ
ョット単位の露光で複数種類のチップを形成する場合には、1ショットの狭い領域内に異
なる種類のチップが形成され、回路の分別が不便であったが、こうすることにより例えば
ウエハの上半分には回路Aを、下半分には回路Bをというように大きな領域で回路を分別
して形成することが可能になる。
なお、本実施形態においては、x軸方向の走査はマスク駆動部70が液晶マスク500
Dを移動することにより、y軸方向の移動はステージ60を移動することにより露光を行
ったが、露光装置にマスク駆動部を設けず、ステージ60の駆動機構によりx軸の走査お
よびy軸の移動をおこなう態様としてもよい。
また、液晶マスク500Dがスクライブラインに対応する領域を描画するとき、すなわ
ち、1露光対象領域すべて液晶シャッタを閉状態とするデータがある程度連続する場合に
、スクライブラインに対応する領域ではステージ60を早送りするようにステージ60の
駆動を制御してもよい。スクライブラインのような、回路部分ではない無効領域を早送り
することによりウエハ1枚の露光時間を短縮できる。
[E.変形例]
本発明による液晶マスクの構成は前述の態様に限られず、次のような変形が可能である
液晶マスクは、単一の液晶シャッタから構成されてもよい。この場合、マスク駆動部7
0は、液晶マスクを2次元的(x軸、y軸方向)に水平移動させることができる構成であ
る必要がある。本変形例の液晶マスクを用いた露光装置を使用した場合、m行n列の画素
信号行列に対応した1ショット分の露光パターンを1ドットづつ露光することになる。
本発明における露光装置の光学系の構成を示す概略図である。 本発明の第1実施形態における液晶マスクの構造を示す図である。 本発明における液晶シャッタの構造を示す断面図である。 本発明の第1実施形態における露光装置の電気系の構成を示すブロック図である。 露光処理における露光パターンの一例を示す図である。 本発明の第1実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の回路図である。 本発明の第1実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の信号波形を示すタイミングチャートである。 本発明の第2実施形態における液晶マスクの構造を示す図である。 本発明の第2実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の回路図である。 本発明の第2実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の信号波形を示すタイミングチャートである。 本発明の第3実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の回路図である。 本発明の第3実施形態における液晶マスクのシャッタ駆動回路の信号波形を示すタイミングチャートである。 本発明の第4実施形態における露光方法を説明する概略図である。 従来技術で用いられる液晶マスクの構造を示す図である。 従来技術の液晶マスクによる露光の様子を示した模式図である。
符号の説明
10…光源、20…コンデンサレンズ、31…液晶シャッタ、32…信号入力部、33…
駆動回路、40…投影レンズ、50…ウエハ、60…ステージ、70…マスク駆動部、3
60…マスク駆動制御部、100…露光装置、210…TFT、250…画素電極、26
0…液晶層、270…共通電極、280…TFTアレイ基板、290…液晶制御部、31
0…データ入力部、320…露光データメモリ、330…データ変換部、340…画素信
号メモリ、350…液晶シャッタ制御部、500…液晶マスク

Claims (8)

  1. 露光処理の対象である被加工物を保持する保持手段と、
    前記被加工物の露光を行うための光を出力する光源と、
    各々駆動電圧に応じて透過状態または遮断状態となる複数の液晶シャッタからなる液晶
    シャッタ列を有し、前記光源から前記被加工物に至る光の経路上に設けられた液晶マスク
    と、
    前記被加工物の表面に形成すべき露光パターンを示す露光データを記憶する記憶手段と

    各々単位露光領域を一列に並べた複数のストライプ状の露光対象領域に前記被加工物の
    表面を区分し、前記液晶シャッタ列を介した各露光対象領域への露光が順次行われるよう
    に、前記液晶マスクと前記被加工物との相対的な位置関係を変化させる駆動手段と、
    前記露光データによって示される露光パターンに基づいて、前記複数の露光対象領域の
    各々を構成する各単位露光領域の露光状態を表す画素信号列を発生し、前記各露光対象領
    域への露光が行われるときに、前記画素信号列のうち当該露光対象領域に対応する画素信
    号列に基づき、前記液晶シャッタ列における各液晶シャッタに対する駆動電圧を発生する
    液晶シャッタ制御手段と
    を有する露光装置。
  2. 前記液晶マスクは、前記液晶シャッタ列を複数有し、各液晶シャッタ列は、各々におけ
    る隣接した2つの液晶シャッタの間に他の液晶シャッタ列の1つの液晶シャッタが位置す
    るように並列配置され、
    1つの露光対象領域に対する露光において、
    前記駆動手段は、前記複数の液晶シャッタ列の各々を介した当該露光対象領域への露光
    が順次行われるように、前記複数の液晶シャッタ列を横切る方向に前記液晶マスクまたは
    前記被加工物を移動させ、
    前記液晶シャッタ制御手段は、当該露光対象領域への露光に使用される液晶シャッタ列
    を構成する各液晶シャッタに対する駆動電圧を、前記画素信号列における当該露光対象領
    域に対応した画素信号列のうち当該液晶シャッタ列を介した露光の対象となる単位露光領
    域に対応した画素信号列に基づいて発生する
    ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
  3. 前記複数の液晶シャッタ列の各々は、1つの露光対象領域内において当該液晶シャッタ
    列を介して露光される領域と他の液晶シャッタ列を介して露光される領域とがオーバーラ
    ップするように構成されていることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
  4. 前記液晶マスクは、2枚の透明な基板と、これらの基板間に封止された液晶とを有し、
    前記液晶マスクにおける各液晶シャッタは、前記2枚の基板のうちの一方に配置され、前
    記駆動電圧が印加される透明な画素電極とを有する請求項1〜3のいずれか1の請求項に
    記載の露光装置。
  5. 前記液晶マスクは、前記液晶シャッタ列の側方に、各液晶シャッタに駆動電圧を供給す
    るための配線を有し、各液晶シャッタは、各々の間に配線を挟むことなく密に配列されて
    いる請求項1に記載の露光装置。
  6. 光源から被加工物に至る光の経路上に配置され、前記光源からの光による前記被加工物
    の各領域の露光を選択的に制限する液晶マスクにおいて、
    前記光の経路を横断するように配置される2枚の透明な基板と、
    前記2枚の基板間に封止された液晶と、
    前記2枚の基板のうちの一方に線状をなすように複数配置され、各々駆動電圧が印加さ
    れることにより、前記液晶における各々に対向した領域を透過状態または遮断状態とする
    複数の画素電極とを有し、
    前記駆動電圧を前記複数の画素電極に供給するための配線が前記複数の画素電極からな
    る列の側方に形成され、前記各画素電極は、各々の間に配線を挟むことなく密に配列され
    た液晶マスク。
  7. 光源から被加工物に至る光の経路上に配置され、前記光源からの光による前記被加工物
    の各領域の露光を選択的に制限する液晶マスクにおいて、
    前記光の経路を横断するように配置される2枚の透明な基板と、
    前記2枚の基板間に封止された液晶とを有し、
    前記2枚の基板のうちの一方には、各々駆動電圧が印加されることにより、前記液晶に
    おける各々に対向した領域を透過状態または遮断状態とする複数の画素電極からなる画素
    電極列が形成され、各画素電極列は、各々における隣接した2つの画素電極の間に他の画
    素電極列の1つの画素電極が位置するように並列配置されてなる液晶マスク。
  8. 前記複数の画素電極列の各々における各画素電極は、当該画素電極列における複数の画
    素電極の並び方向において、他の1つの画素電極列における1または2の画素電極とオー
    バーラップする領域を有する請求項7に記載の液晶マスク。
JP2003301585A 2003-08-26 2003-08-26 露光装置および液晶マスク Withdrawn JP2005072357A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003301585A JP2005072357A (ja) 2003-08-26 2003-08-26 露光装置および液晶マスク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003301585A JP2005072357A (ja) 2003-08-26 2003-08-26 露光装置および液晶マスク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005072357A true JP2005072357A (ja) 2005-03-17

Family

ID=34406162

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003301585A Withdrawn JP2005072357A (ja) 2003-08-26 2003-08-26 露光装置および液晶マスク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005072357A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286332A (ja) * 2004-03-26 2005-10-13 Agilent Technol Inc 高アスペクト比空間光変調器のための角度を伴うストロボライン
KR20230050979A (ko) * 2021-10-08 2023-04-17 한국기계연구원 액정 셔터 어레이를 포함하는 디지털 노광장치 및 이를 이용한 노광방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286332A (ja) * 2004-03-26 2005-10-13 Agilent Technol Inc 高アスペクト比空間光変調器のための角度を伴うストロボライン
KR20230050979A (ko) * 2021-10-08 2023-04-17 한국기계연구원 액정 셔터 어레이를 포함하는 디지털 노광장치 및 이를 이용한 노광방법
KR102665879B1 (ko) * 2021-10-08 2024-05-14 한국기계연구원 액정 셔터 어레이를 포함하는 디지털 노광장치 및 이를 이용한 노광방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5397949B2 (ja) セル投影粒子ビームリソグラフィのためのステンシル設計および方法
US9645502B2 (en) Lithographic apparatus, programmable patterning device and lithographic method
JP4277138B2 (ja) リソグラフィ装置及び装置製造方法
JP4114184B2 (ja) 多重露光描画装置および多重露光描画方法
JP2004514280A (ja) スムーズなデジタル成分を作成するためのデジタルフォトリソグラフィーシステム
JP2006148123A (ja) リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2003050469A (ja) 多重露光描画装置および多重露光式描画方法
JP2003015309A (ja) 多重露光描画方法及び多重露光描画装置
JP4324645B2 (ja) 多重露光描画装置および多重露光描画方法
US7262832B2 (en) Exposure apparatus and exposure method for performing high-speed and efficient direct exposure
US7158210B2 (en) Projection exposure apparatus
JP7563497B2 (ja) 露光装置
KR101653213B1 (ko) 디지털 노광 방법 및 이를 수행하기 위한 디지털 노광 장치
US20090098471A1 (en) Mask for sequential lateral solidification laser crystallization
US8072580B2 (en) Maskless exposure apparatus and method of manufacturing substrate for display using the same
JP2005072357A (ja) 露光装置および液晶マスク
KR102027290B1 (ko) 마스크리스 노광장치
JP2001110719A (ja) 露光方法
JP2008210850A (ja) 設計装置、直描露光装置及びそれらを用いた直描露光システム
JP2006303541A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JP2006319369A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JP2003057834A (ja) 多重露光描画装置および多重露光描画方法
US9746780B2 (en) Maskless exposure device, maskless exposure method and display substrate manufactured by the maskless exposure device and the maskless exposure method
JP2002229180A (ja) 半導体装置製造用のレチクル及び半導体装置の製造方法
JP2007109740A (ja) 露光装置及び露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20061107