JP2005055438A5 - - Google Patents

Claims (5)

1. DUTを測定する方法であって、
   少なくとも二つの計測ポートを有するベクトル回路網分析器を提供するステップと、
   各計測ポートにおいて高反射路較正基準の反射特性を計測するステップと、
   線路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   局部終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記少なくとも二つの計測ポートに関する誤差係数を計算するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記較正基準に帰すことができるシフトされた電気長を計算するステップと、
   前記ＤＵＴを前記計測ポートに接続するステップと、
   前記計測ポートにおいてＳパラメータを計測するステップと、
   前記誤差係数に基いて前記Ｓパラメータの系統誤差を補正して、補正されたＳパラメータ行列を生成するステップと、
   前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素に関して基準面をシフトして、計測基準面と一致させるステップ
   を含み、
   前記間接対間のシフトされた電気長が、負荷整合の誤差係数項及び信号源整合の誤差係数項を用いて計算され、
   

   

   
   であり、Ｓ_{２１＿ｔｈｒｕ＿ｎｍ}は、Ｓ_{１２＿ｔｈｒｕ＿ｎｍ}に等しく、Ｓ_{２１＿ｔｈｒｕ＿ｎｍ}の２つの解の偏角は、直線路に適合され、零に最も近いｙ切片を有する解が正しい解であり、得られた前記正しい解の偏角は電気的遅延であることからなる、方法。
2. DUTを測定する方法であって、
   少なくとも二つの計測ポートを有するベクトル回路網分析器を提供するステップと、
   各計測ポートにおいて高反射路較正基準の反射特性を計測するステップと、
   線路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   局部終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記少なくとも二つの計測ポートに関する誤差係数を計算するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記較正基準に帰すことができるシフトされた電気長を計算するステップと、
   前記ＤＵＴを前記計測ポートに接続するステップと、
   前記計測ポートにおいてＳパラメータを計測するステップと、
   前記誤差係数に基いて前記Ｓパラメータの系統誤差を補正して、補正されたＳパラメータ行列を生成するステップと、
   前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素に関して基準面をシフトして、計測基準面と一致させるステップと、
   前記計測ポートの間接対に関する信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップ
   を含み、
   前記計算するステップが、さらに、前記直接対と間接対の各々に関して、異なるそれぞれのシフトされた電気長を計算するステップを含み、
   近接対間の前記シフトされた電気長が、それぞれの近傍対計測ポートを共通して有する前記直接対と前記間接対間のシフトされた電気長を平均することによって決定されることからなる、方法。
3. DUTを測定する方法であって、
   少なくとも二つの計測ポートを有するベクトル回路網分析器を提供するステップと、
   各計測ポートにおいて高反射路較正基準の反射特性を計測するステップと、
   線路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   局部終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記少なくとも二つの計測ポートに関する誤差係数を計算するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記較正基準に帰すことができるシフトされた電気長を計算するステップと、
   前記ＤＵＴを前記計測ポートに接続するステップと、
   前記計測ポートにおいてＳパラメータを計測するステップと、
   前記誤差係数に基いて前記Ｓパラメータの系統誤差を補正して、補正されたＳパラメータ行列を生成するステップと、
   前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素に関して基準面をシフトして、計測基準面と一致させるステップと、
   高反射路較正基準のタイプを決定するステップであって、前記高反射路較正基準の特性を計算するステップ、該特性に関する二つの存在しうる解の偏角を直線路に適合させるステップ、及び、直流における零位相に最も近い解を識別するステップを含むステップ
   を含む、方法。
4. DUTを測定する方法であって、
   三つ以上の計測ポートを有するベクトル回路網分析器を提供するステップと、
   各計測ポートにおいて高反射路較正基準の反射特性を計測するステップと、
   前記計測ポートの直接対に関して、線路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   前記計測ポートの間接対に関して、信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   前記間接対に関して、局部終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記少なくとも二つの計測ポートに関する誤差係数を計算するステップと、
   直接対と間接対の各々に関して、上記計測ステップの結果に基づいて、前記較正基準に帰すことができるシフトされた電気長を計算するステップと、
   前記ＤＵＴを前記計測ポートに接続するステップと、
   前記計測ポートにおいてＳパラメータを計測するステップと、
   前記誤差係数に基いて前記Ｓパラメータの系統誤差を補正して、補正されたＳパラメータ行列を生成するステップと、
   前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素に関して基準面をシフトして、計測基準面と一致させるステップ
   を含み、
   前記一致させるステップが、前記シフトされた電気長のそれぞれにしたがってそれぞれのＳパラメータの偏角を変更するステップを含み、該変更するステップが、前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素を、
   Ｓ_ｄｕｔ＝｜ρ｜ｅ^{−ｊ（θｏ＋δθ（ｆ））}
   にしたがって調整するステップを含み、ここで、δθは、周波数の関数として前記電気長から計算されることからなる、方法。
5. DUTを測定する方法であって、
   少なくとも二つの計測ポートを有するベクトル回路網分析器を提供するステップと、
   各計測ポートにおいて高反射路較正基準の反射特性を計測するステップと、
   線路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   信号源終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   局部終端直通路較正基準の順方向と逆方向の反射特性及び伝送特性を計測するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記少なくとも二つの計測ポートに関する誤差係数を計算するステップと、
   上記計測ステップの結果に基づいて、前記高反射路較正基準の特性を計算し、該特性の偏角を直線路に適合させ、及び、前記直線路の勾配を用いてシフトされた電気長を計算することによって、前記前記較正基準に帰すことができるシフトされた電気長を計算するステップと、
   前記ＤＵＴを前記計測ポートに接続するステップと、
   前記計測ポートにおいてＳパラメータを計測するステップと、
   前記誤差係数に基いて前記Ｓパラメータの系統誤差を補正して、補正されたＳパラメータ行列を生成するステップと、
   前記補正されたＳパラメータ行列のそれぞれの要素に関して基準面をシフトして、計測基準面と一致させるステップ
   を含む、方法。