JP2005049186A - 走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 走査型トンネル顕微鏡の探針10において、探針10はタングステン等の金属で形成され、探針10の先端表面12は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針10の先端表面12の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ13が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針10とその製造方法である。
【選択図】 図2
Description
11 探針先端部
12 探針表面
13 カーボンナノチューブ
20 探針研磨装置
30 探針炭化装置
40 カーボンナノチューブ生成装置
Claims (10)
- 走査型トンネル顕微鏡の探針において、
該探針は金属で形成され、上記探針の先端にカーボンナノチューブを成長させたことを特徴とする走査型トンネル顕微鏡の探針。 - 上記探針の先端表面はバッファー層を有し、
該バッファー層から上記カーボンナノチューブを成長させた請求項1記載の走査型トンネル顕微鏡の探針。 - 上記バッファー層は炭化コーティング膜である請求項2記載の走査型トンネル顕微鏡の探針。
- 上記探針の金属はタングステンであり、上記炭化コーティング膜は炭化タングステン膜である請求項3記載の走査型トンネル顕微鏡の探針。
- 走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法において、
金属製の該探針の先端を研磨する工程と、
研磨された上記探針の先端表面にカーボンナノチューブを成長させる工程とを有する走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。 - 走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法において、
金属製の該探針の先端を研磨する工程と、
研磨された上記探針の先端表面にバッファー層を形成する工程と、
上記探針のバッファー層に上記カーボンナノチューブを成長させる工程とを有する走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。 - 上記バッファー層を形成する工程は、炭化コーティング膜を形成する工程である請求項6記載の走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。
- 上記探針を研磨する工程は、水酸化ナトリウムによる電解研磨であり、
上記炭化コーティング膜を形成する工程は、プロパンガスを熱分解して炭化反応を行う工程であり、
上記カーボンナノチューブを延設する工程は、プロパンガスの存在下でアーク放電を行い、上記カーボンナノチューブを生成する工程である請求項7記載の走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。 - 上記探針の先端表面に炭化コーティング膜を形成する工程は、プロパンガスを窒素(N2)雰囲気中で800℃以上で熱分解させるものである請求項7または8記載の走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。
- 上記カーボンナノチューブを成長させる工程は、上記探針の先端表面に上記バッファー層を形成した後、上記探針に金属触媒を付着してアーク放電中にプロパンガスを流入させる工程である請求項6乃至請求項10のいずれかに記載の走査型トンネル顕微鏡の探針の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003280672A JP2005049186A (ja) | 2003-07-28 | 2003-07-28 | 走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2005049186A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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