JP2005048277A - Electrolytic copper foil with carrier foil, and manufacturing method therefor - Google Patents

Electrolytic copper foil with carrier foil, and manufacturing method therefor Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrolytic copper foil with a carrier foil, which imparts an improved boring property with a laser of low energy to a copper-clad laminate, and contains a little amount of elements different from copper, which places few loads on the environment. <P>SOLUTION: The peelable type of an electrolytic copper foil with the carrier foil comprises the first roughened layer 3 made of the first fine copper grains 4 formed on one side of the carrier foil 2, an organic layer 5 formed on the first roughened layer 3, a bulky copper layer 6 formed on the organic layer 5 through an electrolytic process, the second roughened layer 7 made of the second fine copper grains 8 on the bulky copper layer 6 as needed, and a surface-treated layer such as a rust-prevention layer. In the electrolytic copper foil 1 with the carrier foil, the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 in the above electrolytic copper foil are embedded in the bulky copper layer 6 together with the organic layer 5, so that when the carrier foil 2 is peeled off, all or one of the first fine copper grains 4 are also ripped and peeled while leaving the rest on the surface of the bulky copper layer 6 side in a bonding state.The manufacturing method therefor is also provided. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本件出願に係る発明は、ピーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔及びそのキャリア箔付電解銅箔の製造方法に関する。特に、当該キャリア箔付電解銅箔を用いて銅張積層板を製造し、キャリア箔を引き剥がした後に露出した電解銅箔層に対する炭酸ガスレーザーを用いての穴明け加工が容易となるものを提供するのである。   The invention according to the present application relates to a peelable type electrolytic copper foil with a carrier foil and a method for producing the electrolytic copper foil with a carrier foil. In particular, a copper-clad laminate is manufactured using the electrolytic copper foil with carrier foil, and the electrolytic copper foil layer exposed after peeling the carrier foil is easily punched using a carbon dioxide laser. It provides.

本件発明者等は、キャリア箔付電解銅箔の層構成として捉えたときに、特許文献1に開示した同様の構成を持つ製品が、本件発明と同様の炭酸ガスレーザーを用いた穴明け加工で非常に優れた効果を発揮することを広く提唱してきた。   The present inventors, when viewed as a layer configuration of the electrolytic copper foil with a carrier foil, has a product having the same configuration disclosed in Patent Document 1 by drilling using a carbon dioxide laser similar to the present invention. It has been widely advocated to have very good effects.

このときの特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔も、その断面を図示するとすれば、図1に示す本件発明にかかるキャリア箔付電解銅箔と同様の層構成を示すことになる。即ち、「キャリア箔の片面に微細銅粒(本件明細書で言う「第1微細銅粒」に相当。)による粗化処理層を備え、当該粗化処理層の上に有機層を備え、当該有機層上に電解法で形成したバルク銅層を備え、当該バルク銅層上に微細銅粒(本件明細書で言う「第2微細銅粒」に相当。)による粗化処理層を備え、更に、必要に応じた防錆処理等の表面処理層を備えたピーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔」であるのである。   If the cross section of the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 1 at this time is illustrated, the same layer configuration as the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention shown in FIG. That is, “provided with a roughened layer made of fine copper particles (corresponding to“ first fine copper particles ”in the present specification) on one side of the carrier foil, with an organic layer on the roughened layer, A bulk copper layer formed by an electrolytic method is provided on the organic layer, and a roughening treatment layer by fine copper grains (corresponding to “second fine copper grains” in the present specification) is provided on the bulk copper layer. This is a peelable type electrolytic copper foil with a carrier foil provided with a surface treatment layer such as a rust prevention treatment as required.

そして、この特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔の果たす機能は、キャリア箔をバルク銅層から引き剥がしたときに、キャリア箔とバルク銅層との間にある粗化処理層を構成する微細銅粒がバルク銅層側に殆ど残留することなく、キャリア箔側に付着し、キャリア箔と共に除去されるものとなっていたのである。従って、このときバルク銅層の剥離面は第1微細銅粒の凹凸形状がレプリカ状に転写したものとなっていた。   And the function which the electrolytic copper foil with a carrier foil disclosed in this Patent Document 1 constitutes a roughened layer between the carrier foil and the bulk copper layer when the carrier foil is peeled off from the bulk copper layer. The fine copper particles to be adhered to the carrier foil side hardly remained on the bulk copper layer side and were removed together with the carrier foil. Therefore, at this time, the peeled surface of the bulk copper layer was obtained by transferring the uneven shape of the first fine copper grains in a replica shape.

確かに、特許文献2、特許文献3に開示されているように、多くの文献が銅箔表面に一定の粗さがあれば、レーザー光の吸収効率が上がり、炭酸ガスレーザーを用いての穴明け加工が容易となることを示唆している。この示唆のとおり、特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔も、良好な炭酸ガスレーザーによる穴明け加工性の確保には大きな効果を発揮してきたのである。   Certainly, as disclosed in Patent Document 2 and Patent Document 3, if many documents have a certain roughness on the surface of the copper foil, the absorption efficiency of the laser beam is increased, and the hole using the carbon dioxide laser is increased. This suggests that the finishing process is easy. As this suggestion, the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 1 has also exerted a great effect in securing good drilling workability with a carbon dioxide laser.

特開2001−62955号公報JP 2001-62955 A 特願2000−143325号Japanese Patent Application No. 2000-143325 特表2002−540609号公報Special Table 2002-540609

しかしながら、特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔は、第1微細銅粒のレプリカ形状をバルク銅層に転写させたものであるため、第1微細銅粒の形状、密度、転写レベル等の要因に左右されやすく、炭酸ガスレーザーによる加工レベルが変動しやすく、穴の真円度にバラツキが生じやすく品質安定性に欠ける場合があったのである。   However, since the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 1 is obtained by transferring the replica shape of the first fine copper particles to the bulk copper layer, the shape, density, transfer level, etc. of the first fine copper particles In other words, the processing level by the carbon dioxide laser tends to fluctuate, and the roundness of the hole tends to vary, resulting in poor quality stability.

また、近年の高密度配線化の流れを受け、炭酸ガスレーザーを用いてビアホール等の形状を低エネルギーで加工でき、しかも、銅張積層板に形成するビアホールの穴形状の真円度のバラツキの制御に関し、従来を超えるレベルでの要求が高まってきた。しかも、銅張積層板は、通常エッチングにて回路形成が行われるため、エッチング排水に銅以外の元素を含ませず、銅成分の回収を楽に行い、環境負荷の少ない廃水処理が求められてきた。従って、銅箔に対しても極力異種元素を排除した製品が望まれてきたのである。   In addition, in response to the recent trend toward high-density wiring, the shape of via holes and the like can be processed with low energy using a carbon dioxide laser, and the variation in roundness of the shape of the via holes formed in the copper-clad laminate is also reduced. With respect to control, demands at a level exceeding conventional levels have increased. Moreover, since the copper-clad laminate is usually formed by etching, the etching wastewater does not contain any elements other than copper, and the copper component can be easily recovered, and wastewater treatment with less environmental impact has been demanded. . Therefore, products that exclude foreign elements as much as possible have been desired for copper foil.

そこで、鋭意研究の結果、本件発明者等は、特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔と同様の層構成を持つものであるが、キャリア箔を引き剥がしたときの剥離機構が全く異なるものに想到し、特許文献1に開示のキャリア箔付電解銅箔を遙かに超える安定した低エネルギー加工性能を備えるものとしたのである。以下に、本件発明に係る「キャリア箔付電解銅箔」と「そのキャリア箔付電解銅箔の製造方法」とに分け説明することとする。   Thus, as a result of earnest research, the present inventors have the same layer structure as the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 1, but the peeling mechanism when the carrier foil is peeled off is completely different. As a result, a stable low energy processing performance far exceeding the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 1 is provided. Hereinafter, the description will be divided into “an electrolytic copper foil with a carrier foil” and “a method for producing the electrolytic copper foil with a carrier foil” according to the present invention.

<キャリア箔付電解銅箔>
本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の基本的層構成を言い表せば、「キャリア箔の片面に第1微細銅粒による第1粗化処理層を備え、当該第1粗化処理の上に有機層を備え、当該有機層上に電解法で形成したバルク銅層を備え、当該バルク銅層上に必要に応じて第2粗化処理層、防錆処理等の表面処理層、防錆処理等の表面処理層を備えたピーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔」である。このキャリア箔付電解銅箔とは、キャリア箔と電解銅箔とが、あたかも貼り合わされた如き状態の製品のことである。一例として、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の断面層構成を模式的に示したのが図1の断面模式図である。図1から見て取れる層構成から言えば、上述した特許文献1に開示の発明と何ら違いはないと言える。ところが、キャリア箔を引き剥がす時の剥離機構が全く異なるものなのである。なお、本件明細書では、キャリア箔を除去した状態のものを電解銅箔若しくは電解銅箔層と称することとする。なお、本件発明の説明に用いる図面には、例示的に第2粗化処理層を記載した状態のものを用いている。
<Electrolytic copper foil with carrier foil>
The basic layer configuration of the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention can be expressed as follows: “A first roughening treatment layer comprising first fine copper grains is provided on one surface of the carrier foil, and an organic layer is formed on the first roughening treatment. A bulk copper layer formed by an electrolytic method on the organic layer, a second roughening treatment layer, a surface treatment layer such as a rust prevention treatment, a rust prevention treatment, etc., if necessary, on the bulk copper layer "Peelable type electrolytic copper foil with carrier foil" having a surface treatment layer. This electrolytic copper foil with a carrier foil is a product as if the carrier foil and the electrolytic copper foil were bonded together. As an example, the cross-sectional schematic diagram of FIG. 1 schematically shows the cross-sectional layer configuration of the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention. In terms of the layer structure that can be seen from FIG. 1, it can be said that there is no difference from the invention disclosed in Patent Document 1 described above. However, the peeling mechanism when the carrier foil is peeled off is completely different. In the present specification, the state in which the carrier foil is removed is referred to as an electrolytic copper foil or an electrolytic copper foil layer. In addition, the thing used in the state which described the 2nd roughening process layer is used for drawing used for description of this invention.

本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の場合、図2に模式的に示したように、第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒は有機層と共にバルク銅層に埋設しており、キャリア箔とバルク銅層とを引き剥がす際に、当該第1微細銅粒の全部若しくは一部が引きちぎられ、バルク銅層側の表面に残留付着するようになるのである。このキャリア箔を引き剥がしたときの状態は、2つのモードに分類して考えられるのである。   In the case of the electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention, as schematically shown in FIG. 2, the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are embedded in the bulk copper layer together with the organic layer. When the carrier foil and the bulk copper layer are peeled off, all or a part of the first fine copper grains are torn off, and the residual copper adheres to the surface on the bulk copper layer side. The state when the carrier foil is peeled off can be considered by classifying into two modes.

その一つのモードは、図2(a)に示したように、キャリア箔を引き剥がしたときに第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4が引きちぎられ、その第1微細銅粒の断片9と有機層5の一部である残留有機層10とがキャリア箔2側の表面に残留する場合である。もう一つのモードは、図2(b)に模式的に示したように、キャリア箔を引き剥がしたときに第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4が引きちぎられることなく、その第1微細銅粒4の全部がバルク銅層6の表面側に残留し、キャリア箔2の表面には殆ど残らない場合である。いずれの剥離モードを達成する場合でも、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4は、その形状が非常に重要なものとなり、従来の略球形の微細銅粒では本件発明の剥離機構は達成し難い。そこで、本件発明では、第1微細銅粒3の形状は、略紡錘形状若しくは樹枝状をしており、当該第1微細銅粒のキャリア箔と接する側が極力細い形状になっていることが好ましいのである。キャリア箔2と第1粗化処理層3との接合強度を軽く制御して、電解銅箔層から引き剥がすときにバルク銅層6側に第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4が残留するようにするためである。   In one mode, as shown in FIG. 2A, when the carrier foil is peeled off, the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 are torn off, and the first fine copper This is a case where the grain fragments 9 and the residual organic layer 10 which is a part of the organic layer 5 remain on the surface of the carrier foil 2. As schematically shown in FIG. 2B, the other mode is that the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 are not torn off when the carrier foil is peeled off. This is a case where all of the first fine copper grains 4 remain on the surface side of the bulk copper layer 6 and hardly remain on the surface of the carrier foil 2. Regardless of which peeling mode is achieved, the shape of the first fine copper particles 4 constituting the first roughening treatment layer 3 is very important, and the conventional substantially spherical fine copper particles have the shape of the present invention. The peeling mechanism is difficult to achieve. Therefore, in the present invention, the shape of the first fine copper particles 3 is substantially a spindle shape or a dendritic shape, and it is preferable that the side of the first fine copper particles in contact with the carrier foil is as thin as possible. is there. The first fine copper constituting the first roughening treatment layer 3 on the bulk copper layer 6 side when lightly controlling the bonding strength between the carrier foil 2 and the first roughening treatment layer 3 and peeling off from the electrolytic copper foil layer This is because the grains 4 remain.

ここで言うキャリア箔は、アルミ箔、銅箔等の金属箔、及び導電性を有する有機フィルム等である。導電性を要求するのは、キャリア箔自体をカソード分極して、その表面に第1微細銅粒を付着形成する製造方法を採用するためである。このキャリア箔の厚さは特に限定はないが、キャリア箔が存在することで、バルク銅層を非常に薄いものとすることが可能であり、特にバルク銅層が9μm以下の場合に非常に有用である。   Carrier foil said here is metal foil, such as aluminum foil and copper foil, and the organic film etc. which have electroconductivity. The reason why the electrical conductivity is required is to adopt a manufacturing method in which the carrier foil itself is cathodically polarized and the first fine copper particles are deposited on the surface thereof. The thickness of the carrier foil is not particularly limited, but the presence of the carrier foil makes it possible to make the bulk copper layer very thin, and is particularly useful when the bulk copper layer is 9 μm or less. It is.

第1粗化処理層3の上に位置する有機層5は、その位置関係から明らかなように専ら剥離層としての機能を果たすものではない。図1の模式断面図から理解できるように、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4の隙間を通じ、有機層5の一部がキャリア箔の表面と接触していると考えるのが妥当であり、部分的には剥離層としての役割を果たしている。そして同時に、当該有機層5は、次に述べるような作用を果たしているのである。即ち、当該有機層5は、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4と一緒にバルク銅層6の表面中に埋設されるものである。そして、有機層5がバルク銅層6中に埋設された状態で熱間プレス加工を受けた後にはボイド形状を形成しているとも考えられ、成分的且つ物理的形状に起因してレーザー光により供給される熱の拡散伝導を阻害し熱集中を起こさせることになり、炭酸ガスレーザーによるレーザー加工性を向上させる役割を果たすように作用していると考えられるのである。   The organic layer 5 located on the 1st roughening process layer 3 does not fulfill | perform the function as a peeling layer exclusively so that the positional relationship may become clear. As can be understood from the schematic cross-sectional view of FIG. 1, it is considered that a part of the organic layer 5 is in contact with the surface of the carrier foil through the gap between the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3. This is reasonable and partly serves as a release layer. At the same time, the organic layer 5 functions as described below. That is, the organic layer 5 is embedded in the surface of the bulk copper layer 6 together with the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3. And it is also considered that the void shape is formed after the organic layer 5 is hot-pressed in the state where it is embedded in the bulk copper layer 6, and due to the component and physical shape, the laser beam is used. It is thought that it acts to improve the laser workability by the carbon dioxide gas laser because it inhibits the diffusion conduction of the supplied heat and causes heat concentration.

この有機層5を形成する有機剤には、窒素含有有機化合物、硫黄含有有機化合物及びカルボン酸の中から選択される1種又は2種以上からなるものを用いることが好ましい。また、この有機層5は、有機剤と銅粒子とが混合した状態のものを用いることも好ましいのである。このような有機剤と銅粒子とが混合した状態は、有機層の形成にある特定の方法を採用することによって得られるものであり、有機層としての厚さを大きくすることができ、レーザー穴明け加工性を更に向上させるための補助的な役割をより効果的に果たすものとなるのである。   As the organic agent that forms the organic layer 5, it is preferable to use one or two or more selected from nitrogen-containing organic compounds, sulfur-containing organic compounds, and carboxylic acids. It is also preferable to use the organic layer 5 in a state where an organic agent and copper particles are mixed. The state in which the organic agent and the copper particles are mixed is obtained by adopting a specific method in the formation of the organic layer, and the thickness of the organic layer can be increased. The auxiliary role for further improving the dawn workability is more effectively fulfilled.

より具体的に当該有機剤を例示すれば、窒素含有有機化合物には置換基を有するトリアゾール化合物である1,2,3−ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、N’,N’−ビス(ベンゾトリアゾリルメチル)ユリア、1H−1,2,4−トリアゾール及び3−アミノ−1H−1,2,4−トリアゾール等を用いることが好ましい。また、硫黄含有有機化合物には、メルカプトベンゾチアゾール、チオシアヌル酸及び2−ベンズイミダゾールチオール等を用いることが好ましい。更に、カルボン酸は、特にモノカルボン酸を用いることが好ましく、中でもオレイン酸、リノール酸及びリノレイン酸等を用いることが好ましい。しかしながら、後述する製造方法を採用するにあたっては、カルボキシベンゾトリアゾールを用いることが工程の安定性の観点から最も好ましいのである。   More specific examples of the organic agent include nitrogen-containing organic compounds such as 1,2,3-benzotriazole, carboxybenzotriazole, N ′, N′-bis (benzotriazolyl), which are triazole compounds having a substituent. Rumethyl) urea, 1H-1,2,4-triazole, 3-amino-1H-1,2,4-triazole and the like are preferably used. As the sulfur-containing organic compound, it is preferable to use mercaptobenzothiazole, thiocyanuric acid, 2-benzimidazolethiol, or the like. Further, as the carboxylic acid, it is particularly preferable to use a monocarboxylic acid, and it is particularly preferable to use oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, or the like. However, in adopting the production method described later, it is most preferable to use carboxybenzotriazole from the viewpoint of process stability.

そして、電解で製造するバルク銅層6は、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4及び有機層5を完全に被覆して、当該第1微細銅粒4を包み込むように形成しなければならないのである。このようにすることで、当該第1微細銅粒4がアンカー状にバルク銅層6に食い込んだ状態になり、キャリア箔2を引き剥がした際に、当該第1微細銅粒4及び有機層5がバルク銅層6の表面側に残留しやすくなるのである。図3に第1微細銅粒4がバルク銅層6に食い込んだ様子を断面から捉えた走査型イオン顕微鏡像を示している。この図3で黒点を伴う結晶粒が、略紡錘状に成長した第1微細銅粒4であり、バルク銅層6にしっかりと食い込んでいるのが見て取れるのである。   The bulk copper layer 6 produced by electrolysis completely covers the first fine copper grains 4 and the organic layer 5 constituting the first roughening treatment layer 3 so as to enclose the first fine copper grains 4. It must be formed. By doing in this way, when the said 1st fine copper grain 4 will be in the state which digged into the bulk copper layer 6 in the shape of an anchor, and peeled off the carrier foil 2, the said 1st fine copper grain 4 and the organic layer 5 Tends to remain on the surface side of the bulk copper layer 6. FIG. 3 shows a scanning ion microscope image in which the state in which the first fine copper grains 4 have digged into the bulk copper layer 6 is captured from a cross section. It can be seen that the crystal grains with black dots in FIG. 3 are the first fine copper grains 4 grown substantially in a spindle shape, and are firmly biting into the bulk copper layer 6.

バルク銅層6の表面には、更に第2微細銅粒8による第2粗化処理層7を備えている。但し、この第2粗化処理層7は常に必要なものではなく、必要に応じて形成されるものである。この第2粗化処理層7を構成する第2微細銅粒8は、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4とは異なり、略球形の微細銅粒を採用しても構わないのである。第2粗化処理層7を構成する第2微細銅粒8は、キャリア箔付電解銅箔1を熱間プレス加工して樹脂基材と張り合わせ、アンカー効果を利用して、樹脂基材との良好な密着性を確保するためのものである。従って、微細銅粒の粒径が適度に大きく、十分な硬度をもち変形しないものであるほど、接着強度を高く保つことができるのである。   On the surface of the bulk copper layer 6, a second roughening treatment layer 7 made of second fine copper grains 8 is further provided. However, this 2nd roughening process layer 7 is not always required, and is formed as needed. Unlike the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3, the second fine copper grains 8 constituting the second roughening treatment layer 7 may employ substantially spherical fine copper grains. It doesn't matter. The second fine copper grains 8 constituting the second roughening treatment layer 7 are hot-pressed on the electrolytic copper foil 1 with a carrier foil and bonded to the resin base material. This is to ensure good adhesion. Accordingly, the adhesive strength can be kept higher as the fine copper particles have a reasonably large particle size and have sufficient hardness and are not deformed.

更に、第2粗化処理層8の上には、必要に応じた防錆処理等の表面処理層を備えることも可能である。本件明細書における表面処理層とは、基材樹脂との接着性を向上させるためのシランカップリング剤処理、銅箔としての長期保存性を確保するためのベンゾトリアゾール、イミダゾール等による有機防錆、亜鉛、真鍮等の亜鉛合金等を用いた無機防錆等の銅箔の防錆に一般的に応用される手法を含む概念として記載している。また、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔1の使用方法によれば、このような表面処理は不必要な場合もあり、必要に応じて施されるものでもある。なお、各図面中では、この表面処理層の記載は省略している。   Furthermore, it is possible to provide a surface treatment layer such as a rust prevention treatment on the second roughening treatment layer 8 as necessary. The surface treatment layer in the present specification is a silane coupling agent treatment for improving the adhesion with the base resin, an organic rust prevention by benzotriazole, imidazole or the like for ensuring long-term storage as a copper foil, It is described as a concept including a technique generally applied to rust prevention of copper foil such as inorganic rust prevention using zinc alloy such as zinc and brass. Moreover, according to the usage method of the electrolytic copper foil 1 with carrier foil which concerns on this invention, such a surface treatment may be unnecessary and it is also given as needed. In each drawing, the description of the surface treatment layer is omitted.

以上に述べてきたキャリア箔付電解銅箔1は、その第2粗化処理層7の位置する面を熱間プレス加工して樹脂基材と張り合わせ、キャリア箔2を引き剥がすことになる。このようにしてキャリア箔2を引き剥がすと、電解銅箔層側の引き剥がし面には第1粗化処理層3を構成した第1微細銅粒4が露出していることになる。この第1微細銅粒4が、キャリア箔の引き剥がしで引きちぎられている場合には、更に細かな破断表面が露出することになるのである。この引き剥がし面を観察したのが図4である。図4(a)には上方から平面的に見た走査型イオン顕微鏡像を示し、図4(b)には試料を45°傾けて観察した走査型電子顕微鏡像を示している。この図から明らかなように、引き剥がし面は大きな凹凸を持つものではなく、極めて微細な凹凸を持つものである。   The above-described electrolytic copper foil with carrier foil 1 has a surface on which the second roughening treatment layer 7 is located, which is hot-pressed and bonded to a resin base material, and the carrier foil 2 is peeled off. When the carrier foil 2 is peeled in this way, the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 are exposed on the peeled surface on the electrolytic copper foil layer side. When the first fine copper particles 4 are torn off by peeling off the carrier foil, a finer fracture surface is exposed. FIG. 4 shows the peeled surface observed. FIG. 4 (a) shows a scanning ion microscope image viewed in plan from above, and FIG. 4 (b) shows a scanning electron microscope image observed by tilting the sample by 45 °. As is apparent from this figure, the peeled surface does not have large unevenness, but has extremely fine unevenness.

更に、本件発明者等が鋭意研究した結果、より一層のレーザー穴明け加工性を確保するためには、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4を、炭素含有量の高い銅(以上及び以下において「高炭素含有銅」と称している。)で構成することが望ましいことが分かってきた。通常の微細銅粒を形成する銅は99.99wt%以上の純度を有する所謂純銅で構成されるのであり、そこに含まれる炭素量は0.005wt%前後である。これに対し、当該第1微細銅粒4を炭素含有量が0.03wt%〜0.40wt%である高炭素含有銅で構成するのである。このように銅中の含有炭素量を高めることで、銅の熱伝導率を小さくするのである。純銅の熱伝導率は700℃において354W・m−1・K−1という熱の良導体であるが、本件発明に係る有機物を含有することで炭素含有量が0.03〜0.40wt%である高炭素含有銅の熱伝導度は、100〜180W・m−1・K−1程度となり、熱伝導率が低下する。 Furthermore, as a result of intensive studies by the present inventors, in order to secure further laser drilling workability, the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 are made to have a high carbon content. It has been found desirable to be composed of copper (referred to above and below as “high carbon containing copper”). Copper forming normal fine copper grains is composed of so-called pure copper having a purity of 99.99 wt% or more, and the amount of carbon contained therein is about 0.005 wt%. On the other hand, the said 1st fine copper grain 4 is comprised with the high carbon content copper whose carbon content is 0.03 wt%-0.40 wt%. Thus, by increasing the carbon content in copper, the thermal conductivity of copper is reduced. Although the thermal conductivity of pure copper is a good conductor of heat of 354 W · m −1 · K −1 at 700 ° C., the carbon content is 0.03 to 0.40 wt% by containing the organic matter according to the present invention. The thermal conductivity of the high carbon-containing copper is about 100 to 180 W · m −1 · K −1 and the thermal conductivity is lowered.

即ち、高炭素含有銅は、純銅の熱伝導率の約1/2〜1/3の速度でしか熱を伝達しない。従って、レーザー光が高炭素含有銅で構成した第1微細銅粒4に照射されると、純銅のよりも熱の拡散速度が遅くなり、レーザー光による熱エネルギーの供給効果が高く、その照射部位に熱エネルギーが集中することになり、レーザーの照射部位が容易に銅の沸点に達するものと考えられる。そして、その高炭素含有銅で構成した第1微細銅粒4に蓄積された熱エネルギーが、バルク銅層に伝達され、連続したレーザー光照射による熱エネルギーの供給と併せて容易に銅の溶解温度を越えた温度上昇が連続的に起こり、レーザー光による電解銅箔層の除去が容易に行えるものと考えられるのである。   That is, high carbon content copper transfers heat only at a rate of about 1/2 to 1/3 of the thermal conductivity of pure copper. Therefore, when the laser beam is irradiated onto the first fine copper grains 4 made of high carbon-containing copper, the diffusion rate of heat is slower than that of pure copper, and the effect of supplying thermal energy by the laser beam is high. It is considered that the thermal energy concentrates on the surface, and the laser irradiation site easily reaches the boiling point of copper. Then, the thermal energy accumulated in the first fine copper grains 4 composed of the high carbon content copper is transferred to the bulk copper layer, and is easily dissolved together with the supply of thermal energy by continuous laser light irradiation. It is considered that the temperature rise exceeding the temperature continuously occurs, and the electrolytic copper foil layer can be easily removed by laser light.

また、異種元素を含まないという点においては、欠点になるとも考えられるが、有機層5とバルク銅層6との間にニッケル、コバルト又はこれらの合金の0.001μm〜0.2μm厚さの薄膜層を設けることも非常に有効である。このようなニッケル、コバルト又はこれらのニッケル基合金やコバルト基合金は、レーザー光の吸収効率が高い元素として知られている。この薄膜層の厚さが0.001μm未満の場合には、レーザー穴明け加工性を向上させる効果を得ることが出来ず、一方薄膜層の厚さが0.2μmを超えても飛躍的に大きなレーザー穴明け性の向上効果は得られないのである。なお、図面中において、この薄膜層を表示することは行っていない。極めて薄く表示することが困難であり、本件発明において必須の要素ではないからである。   Moreover, although it is thought that it becomes a fault in the point that a different element is not included, between 0.001 micrometer-0.2 micrometer thickness of nickel, cobalt, or these alloys between the organic layer 5 and the bulk copper layer 6 Providing a thin film layer is also very effective. Such nickel, cobalt, or these nickel-based alloys and cobalt-based alloys are known as elements having high laser light absorption efficiency. When the thickness of the thin film layer is less than 0.001 μm, it is not possible to obtain the effect of improving the laser drilling workability. On the other hand, even if the thickness of the thin film layer exceeds 0.2 μm, the thickness is dramatically increased. The effect of improving the laser drillability cannot be obtained. In the drawing, the thin film layer is not displayed. This is because it is difficult to display extremely thin and is not an essential element in the present invention.

以上の説明では炭酸ガスレーザーを用いた場合を想定して説明してきたが、銅張積層板をレーザー加工する際に用いるレーザーの種類に特に制限はなくレーザーの種類は問わないものである。但し、短波長側にいくほど、その吸収率が向上し、より効果が向上するものと考えられる。また、レーザーの照射条件は、基材材質、厚さ等を考慮し、適宜最適条件を選択して使用すればよい。   In the above description, the case where a carbon dioxide laser is used has been described. However, the type of laser used when laser processing a copper clad laminate is not particularly limited, and the type of laser is not limited. However, it is considered that the absorptance is improved as the wavelength is shorter, and the effect is further improved. The laser irradiation conditions may be selected and used as appropriate in consideration of the base material, thickness, and the like.

<キャリア箔付電解銅箔の製造方法>
本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の製造方法は、少なくとも以下のa.〜e.に示す各工程を備えたことを特徴とするものである。従って、図5及び図6に示す基本フローに従って、工程の順を追って説明することとする。
<Method for producing electrolytic copper foil with carrier foil>
The method for producing an electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention comprises at least the following a. ~ E. It is characterized by comprising the steps shown in FIG. Therefore, the order of the steps will be described in accordance with the basic flow shown in FIGS.

工程a. 工程a.は、キャリア箔の表面を清浄化する清浄化工程である。この清浄化工程では、所謂酸洗、アルカリ脱脂等を意味するものである。従って、キャリア箔に付いた油脂成分を完全に除去する脱脂処理及び金属箔を用いた場合の表面酸化被膜除去を目的に行うものである。酸洗溶液やアルカリ脱脂溶液にキャリア箔を通過させることで、キャリア箔の清浄化を図り、以下の工程での均一電着等を確保するのである。例えば、酸洗処理には塩酸系溶液、硫酸系溶液、硫酸−過酸化水素系溶液等種々の溶液を用いることが可能で、特に限定する必要性はない。図5に工程a.を図示しているが、キャリア箔自体に特段の物理的変化はないのである。 Step a. Step a. Is a cleaning process for cleaning the surface of the carrier foil. In this cleaning step, so-called pickling, alkali degreasing, and the like are meant. Accordingly, the purpose is to remove the fat and oil components attached to the carrier foil and to remove the surface oxide film when the metal foil is used. By passing the carrier foil through the pickling solution or the alkaline degreasing solution, the carrier foil is cleaned and uniform electrodeposition in the following steps is ensured. For example, various solutions such as a hydrochloric acid solution, a sulfuric acid solution, and a sulfuric acid-hydrogen peroxide solution can be used for the pickling treatment, and there is no particular limitation. In FIG. However, there is no particular physical change in the carrier foil itself.

工程b. 工程b.は、清浄化の終了したキャリア箔2を硫酸銅系電解液中でカソード分極し、片面に第1微細銅粒4を付着形成し、第1粗化処理層3を形成する第1粗化工程である。この様子を模式的に示したのが、図5の工程b.である。この第1粗化処理工程では、電解条件にヤケメッキの条件が採用される。従って、ヤケメッキ条件を作り出しやすいよう、低い濃度の銅電解液を用いることになる。このヤケメッキ条件は、第1微細銅粒4の粒形状が略紡錘状若しくは樹枝状となるよう、生産ラインの特質を考慮して定められるものである。例えば、硫酸銅系溶液を用いるのであれば、銅濃度が1〜20g/l、硫酸濃度が50〜200g/lのものを用い、液温15〜40℃、電流密度10〜50A/dmの条件とする等である。 Step b. Step b. Is a first roughening step of cathodic polarization of the cleaned carrier foil 2 in a copper sulfate electrolyte, depositing and forming the first fine copper grains 4 on one side, and forming the first roughening treatment layer 3 It is. This is schematically shown by step b. In FIG. It is. In the first roughening treatment step, the condition of burnt plating is adopted as the electrolysis condition. Therefore, a low-concentration copper electrolyte is used so as to easily create the burnt plating condition. The burn plating conditions are determined in consideration of the characteristics of the production line so that the first fine copper grains 4 have a substantially spindle shape or dendritic shape. For example, if a copper sulfate solution is used, a copper concentration of 1 to 20 g / l, a sulfuric acid concentration of 50 to 200 g / l, a liquid temperature of 15 to 40 ° C., and a current density of 10 to 50 A / dm 2 are used. And so on.

しかしながら、第1微細銅粒4の形状を効率よく略紡錘状若しくは樹枝状とするためには、銅濃度1g/l〜20g/l、硫酸濃度50〜200g/l、塩素濃度200ppm以下の硫酸銅溶液に9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール及びヒ素のいずれか一種若しくは二種以上を組み合わせて添加した溶液を用いることが最も好ましいのである。このときの9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール及びヒ素のいずれか一種若しくは二種以上を組み合わせたときの添加量は、採用する電流密度等の操業条件を考慮して定めるべきものであり、特に限定を要するものではないと考える。   However, in order to efficiently make the shape of the first fine copper grains 4 into a substantially spindle shape or dendritic shape, copper sulfate having a copper concentration of 1 g / l to 20 g / l, a sulfuric acid concentration of 50 to 200 g / l, and a chlorine concentration of 200 ppm or less. It is most preferable to use a solution in which any one or a combination of 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole and arsenic is added to the solution. At this time, the amount added when any one or two or more of 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole and arsenic is combined should be determined in consideration of operating conditions such as current density to be employed, and is particularly limited. I don't think it is necessary.

塩素濃度は、200ppm以下でなければ、第1微細銅粒4の形状制御効果は得られない。塩素は、第1微細銅粒4の粒径状が縦方向に成長することを助長する作用を果たしている。そして、適正な塩素濃度でなければ異常成長をきたすことになるのである。即ち、塩素濃度が200ppmを超えると第1微細銅粒の粉粒自体が粉状化して粉落ちしやすくなるのである。また、この塩素濃度は、9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール等の添加剤の添加量との関係で定めるべきものであり、操業条件に応じた最適量を採用すればよいのである。従って、塩素濃度を「200ppm以下」と規定しているように、塩素濃度が「0ppm」の場合であっても、添加剤である9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール、ヒ素の濃度制御で、良好な略紡錘状若しくは樹枝状の第1微細銅粒4が得られるのである。   If the chlorine concentration is not 200 ppm or less, the shape control effect of the first fine copper grains 4 cannot be obtained. Chlorine serves to promote the growth of the grain size of the first fine copper grains 4 in the vertical direction. If the chlorine concentration is not appropriate, abnormal growth will occur. That is, when the chlorine concentration exceeds 200 ppm, the first fine copper particles themselves are pulverized and easily fall off. The chlorine concentration should be determined in relation to the amount of additive such as 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole, etc., and an optimum amount according to the operating conditions may be adopted. Therefore, even when the chlorine concentration is “0 ppm” as defined as “200 ppm or less”, the concentration control of 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole, and arsenic as additives is good. Thus, first spindle-shaped or dendritic first fine copper grains 4 are obtained.

そして、この第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4を高炭素銅組成とするには、種々の有機剤を電解液中に添加することによる。例えば、本件発明の9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール等を添加剤として用いることでも可能である。しかしながら、炭素含有量の安定した高炭素銅組成を達成するためには、膠、ゼラチン、コラーゲンペプチドのいずれか一種又は二種以上を100ppm〜3000ppm含有する硫酸銅溶液を用いて、ヤケメッキ条件で電解することが好ましいのである。即ち、100ppm以上の膠等の濃度範囲を採用することで、高炭素含有銅中の炭素含有濃度を0.05wt%とすることが出来るのである。高炭素含有銅層中の炭素含有量が0.05wt%を超えなければ、レーザー穴明け性の改善に寄与しないからである。一方、炭素含有量の上限は、0.40wt%である。これ以上の炭素含有量としてもレーザー穴明け性が更に改善することはないからである。   And in order to make the 1st fine copper grain 4 which comprises this 1st roughening process layer 3 into a high carbon copper composition, it is by adding various organic agents in electrolyte solution. For example, it is possible to use 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole, or the like of the present invention as an additive. However, in order to achieve a high carbon copper composition with a stable carbon content, electrolysis is performed under the condition of burnt plating using a copper sulfate solution containing 100 ppm to 3000 ppm of one or more of glue, gelatin, and collagen peptide. It is preferable to do. That is, by adopting a concentration range such as glue of 100 ppm or more, the carbon content concentration in the high carbon content copper can be 0.05 wt%. This is because if the carbon content in the high carbon-containing copper layer does not exceed 0.05 wt%, it does not contribute to the improvement of laser drillability. On the other hand, the upper limit of the carbon content is 0.40 wt%. This is because even if the carbon content is higher than this, the laser drillability is not further improved.

また、いったん付着した第1微細銅粒4の脱落を防止するため、被せメッキ工程を付加的に設けることも好ましい。被せメッキを行うことで、第1微細銅粒4の粉落ちを防止し、しかもレーザー穴明け性が向上する傾向にあるのである。被せメッキとは、キャリア箔の表面に析出付着させた第1微細銅粒4の脱落を防止するために、平滑メッキ条件で第1微細銅粒4を被覆するように薄い銅層を均一析出させるものである。従って、被せメッキ工程を設ける場合には、銅の平滑メッキ条件が採用されることになる。この平滑メッキ条件は、特に限定されるものではなく、生産ラインの特質を考慮して定められるものである。例えば、硫酸銅系溶液を用いるのであれば、濃度が銅50〜80g/l、硫酸50〜150g/l、液温40〜80℃、電流密度10〜50A/dmの条件とする等である。 In order to prevent the first fine copper grains 4 once attached from falling off, it is also preferable to additionally provide a covering plating step. By performing the covering plating, the first fine copper particles 4 are prevented from falling off, and the laser drilling property tends to be improved. Cover plating is to uniformly deposit a thin copper layer so as to cover the first fine copper particles 4 under smooth plating conditions in order to prevent the first fine copper particles 4 deposited and adhered to the surface of the carrier foil from falling off. Is. Therefore, when a covering plating process is provided, smooth copper plating conditions are adopted. The smooth plating conditions are not particularly limited and are determined in consideration of the characteristics of the production line. For example, if a copper sulfate-based solution is used, the conditions are copper 50 to 80 g / l, sulfuric acid 50 to 150 g / l, liquid temperature 40 to 80 ° C., and current density 10 to 50 A / dm 2. .

工程c. 工程c.は、当該第1粗化処理層3の表面に有機層5を形成する有機層形成工程であり、この様子を模式的に示したのが図5の工程c.である。有機層5の形成は、i)槽内を有機剤を含んだ溶液で満たし、この中に第1粗化処理層3を形成したキャリア箔2を浸漬する方法、ii)有機層5を形成する第1粗化処理層3の上に有機剤を含んだ溶液をシャワーリング若しくは滴下する方法、iii)槽内で第1粗化処理層3を形成したキャリア箔2をアノード分極して有機剤を電着させる方法等を採用することができる。以上に述べた方法を採用する場合には、溶液中の有機剤の濃度等に特段の限定はない。 Step c. Step c. Is an organic layer forming step of forming the organic layer 5 on the surface of the first roughening treatment layer 3, and this state is schematically shown in the step c. It is. The organic layer 5 is formed by: i) filling the tank with a solution containing an organic agent, and immersing the carrier foil 2 in which the first roughening layer 3 is formed therein; ii) forming the organic layer 5 A method of showering or dripping a solution containing an organic agent on the first roughening treatment layer 3, iii) anodic polarization of the carrier foil 2 on which the first roughening treatment layer 3 is formed in a tank, A method of electrodeposition can be employed. When the method described above is employed, there is no particular limitation on the concentration of the organic agent in the solution.

但し、有機層5を、有機剤と金属粒子とが混合した状態のものとする場合には、次のような方法を採用することが好ましい。即ち、酸洗溶液中に吸着させる有機剤を混合させた溶液を用いるのである。酸洗溶液を用いることで、キャリア箔の溶解を伴わない状態で有機剤を吸着させる場合に比べて、キャリア箔上への有機剤の沈殿速度を向上させ、同時に吸着の均一性を向上させるのである。かかる場合の有機層5は、キャリア箔2を構成する金属が溶出した金属イオンの存在する酸洗溶液中で形成するものであるから、酸洗溶液中の金属イオンが有機剤と反応して錯体形成を行うため、その有機被膜中に金属イオンがインクルードされ、金属粒子状になり存在するのである。この状態は、透過型電子顕微鏡を用いて観察することが可能である。   However, when the organic layer 5 is in a state where the organic agent and the metal particles are mixed, it is preferable to employ the following method. That is, a solution in which an organic agent to be adsorbed in the pickling solution is mixed is used. By using the pickling solution, compared with the case where the organic agent is adsorbed without dissolution of the carrier foil, the rate of precipitation of the organic agent on the carrier foil is improved, and at the same time the adsorption uniformity is improved. is there. In this case, the organic layer 5 is formed in a pickling solution in which metal ions from which the metal constituting the carrier foil 2 is eluted exist, so that the metal ions in the pickling solution react with the organic agent to form a complex. In order to perform the formation, metal ions are included in the organic coating, and are present in the form of metal particles. This state can be observed using a transmission electron microscope.

ここで用いる酸洗溶液は、キャリア箔2の種類により若干その組成が異なる物であり、キャリア箔の種類、酸洗時間に応じて変動させればよいものであるが、酸性溶液の内、硫酸溶液を用いることが好ましい。このことに対応して、キャリア箔2は、硫酸溶液で酸洗処理の可能な銅及び銅合金等の金属箔、銅及び銅合金等の金属被覆層を持つ樹脂フィルム等を必然的に用いることになる。   The pickling solution used here has a slightly different composition depending on the type of the carrier foil 2 and may be varied depending on the type of the carrier foil and the pickling time. It is preferable to use a solution. Correspondingly, the carrier foil 2 inevitably uses a metal foil such as copper and copper alloy that can be pickled with a sulfuric acid solution, a resin film having a metal coating layer such as copper and copper alloy, and the like. become.

そして、この酸洗溶液中に有機剤を添加する際には、有機剤の濃度が50ppm〜2000ppmの範囲となるように添加する事が好ましい。50ppm未満の濃度の場合には、有機剤の吸着速度が遅くなり、しかも、形成される酸洗吸着有機被膜の厚さが不均一に成りやすい傾向にあるようである。これに対し、上限値である2000ppmという濃度は、この濃度を超えても現実には有機剤を溶解させることは可能である。しかしながら、溶液の品質安定性及び実質操業における経済性を考慮すると、過剰な溶解量を採用する必要は無いためである。   And when adding an organic agent in this pickling solution, it is preferable to add so that the density | concentration of an organic agent may become the range of 50 ppm-2000 ppm. When the concentration is less than 50 ppm, the adsorption rate of the organic agent is slow, and the thickness of the formed pickled adsorption organic coating tends to be uneven. On the other hand, the concentration of 2000 ppm, which is the upper limit, can actually dissolve the organic agent even if this concentration is exceeded. However, it is because it is not necessary to employ an excessive amount of dissolution in consideration of the quality stability of the solution and the economic efficiency in actual operation.

また、このときの酸洗溶液の温度は、酸洗処理速度と酸洗吸着有機被膜の形成処理との速度を考慮して、適宜選択すればよいものであるため、特に限定はない。但し、このときには、酸洗溶液中に有機剤を併存させるため、液温を上げる場合には、用いる有機剤の種類に応じて、有機剤の分解の起こらない温度を選択しなければならない点に留意を要するものとなる。   In addition, the temperature of the pickling solution at this time is not particularly limited because it can be appropriately selected in consideration of the speed of the pickling treatment and the speed of the pickling adsorption organic coating forming process. However, at this time, since the organic agent coexists in the pickling solution, when raising the liquid temperature, it is necessary to select a temperature at which the organic agent does not decompose depending on the type of the organic agent used. It needs to be noted.

かかる場合の有機剤は、窒素含有有機化合物の内、置換基を有するトリアゾール化合物である1,2,3−ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、N’,N’−ビス(ベンゾトリアゾリルメチル)ユリア、1H−1,2,4−トリアゾール及び3−アミノ−1H−1,2,4−トリアゾール等が酸溶液中での安定性が高く好ましいものとなる。   In this case, the organic agent is 1,2,3-benzotriazole, carboxybenzotriazole, N ′, N′-bis (benzotriazolylmethyl) urea, which is a triazole compound having a substituent among nitrogen-containing organic compounds. 1H-1,2,4-triazole, 3-amino-1H-1,2,4-triazole and the like are preferable because of high stability in an acid solution.

ここで、有機層5とバルク銅層6との間にニッケル、コバルト又はこれらの合金の0.001μm〜0.2μm厚さの薄膜層を設ける場合の付加的工程に関しても言及しておくこととする。この薄膜層は、有機層の形成の完了したキャリア箔に、ニッケル、コバルト等の平滑短時間メッキを行うことで形成するものである。メッキ方法は、無電解メッキでも電解メッキでも構わないものである。電解メッキを採用する場合には、次のような条件を用いることが可能である。   Here, it should be mentioned also about an additional process in the case where a thin film layer having a thickness of 0.001 μm to 0.2 μm made of nickel, cobalt, or an alloy thereof is provided between the organic layer 5 and the bulk copper layer 6. To do. This thin film layer is formed by performing smooth short-time plating of nickel, cobalt or the like on the carrier foil in which the organic layer has been formed. The plating method may be electroless plating or electrolytic plating. When employing electrolytic plating, the following conditions can be used.

ニッケルの薄膜層を形成する場合は、ニッケルメッキ液として用いられる溶液を広く使用することが可能である。例えば、i)硫酸ニッケルを用いニッケル濃度が5〜30g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度0.3〜10A/dmの条件、ii)硫酸ニッケルを用いニッケル濃度が5〜30g/l、ピロリン酸カリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH8〜11、電流密度0.3〜10A/dmの条件、iii)硫酸ニッケルを用いニッケル濃度が10〜70g/l、ホウ酸20〜60g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度1〜50A/dmの条件、その他一般のワット浴の条件とする等である。 When a nickel thin film layer is formed, a solution used as a nickel plating solution can be widely used. For example, i) nickel sulfate is used and the nickel concentration is 5 to 30 g / l, the liquid temperature is 20 to 50 ° C., the pH is 2 to 4, the current density is 0.3 to 10 A / dm 2 , and the nickel concentration is nickel sulfate. 5 to 30 g / l, potassium pyrophosphate 50 to 500 g / l, liquid temperature 20 to 50 ° C., pH 8 to 11, current density 0.3 to 10 A / dm 2 , iii) nickel concentration of 10 to 10 using nickel sulfate 70 g / l, boric acid 20 to 60 g / l, liquid temperature 20 to 50 ° C., pH 2 to 4, current density 1 to 50 A / dm 2 , and other general Watt bath conditions.

コバルトの薄膜層を形成する場合は、コバルトメッキ液として用いられる溶液を使用することが可能である。例えば、i)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が5〜30g/l、クエン酸三ナトリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度0.3〜10A/dmの条件、ii)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が5〜30g/l、ピロリン酸カリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH8〜11、電流密度0.3〜10A/dmの条件、iii)硫酸コバルトを用いコバルト濃度が10〜70g/l、ホウ酸20〜60g/l、液温20〜50℃、pH2〜4、電流密度1〜50A/dmの条件とする等である。 When a cobalt thin film layer is formed, a solution used as a cobalt plating solution can be used. For example, i) Conditions using cobalt sulfate and a cobalt concentration of 5-30 g / l, trisodium citrate 50-500 g / l, liquid temperature 20-50 ° C., pH 2-4, current density 0.3-10 A / dm 2 Ii) Using cobalt sulfate, the cobalt concentration is 5-30 g / l, potassium pyrophosphate 50-500 g / l, liquid temperature 20-50 ° C., pH 8-11, current density 0.3-10 A / dm 2 , iii ) Using cobalt sulfate, the cobalt concentration is 10 to 70 g / l, boric acid 20 to 60 g / l, liquid temperature 20 to 50 ° C., pH 2 to 4 and current density 1 to 50 A / dm 2 .

ニッケル−亜鉛合金の薄膜層を形成する場合は、例えば、硫酸ニッケルを用いニッケル濃度が1〜2.5g/l、ピロリン酸亜鉛を用いて亜鉛濃度が0.1〜1g/l、ピロリン酸カリウム50〜500g/l、液温20〜50℃、pH8〜11、電流密度0.3〜10A/dmの条件等である。 In the case of forming a nickel-zinc alloy thin film layer, for example, nickel sulfate is used and the nickel concentration is 1 to 2.5 g / l, and zinc pyrophosphate is used and the zinc concentration is 0.1 to 1 g / l. The conditions are 50 to 500 g / l, the liquid temperature is 20 to 50 ° C., the pH is 8 to 11, and the current density is 0.3 to 10 A / dm 2 .

ニッケル−コバルト合金の薄膜層を形成する場合は、例えば、硫酸コバルト80〜180g/l、硫酸ニッケル80〜120g/l、ホウ酸20〜40g/l、塩化カリウム10〜15g/l、リン酸2水素ナトリウム0.1〜15g/l、液温30〜50℃、pH3.5〜4.5、電流密度1〜10A/dmの条件等である。 When forming a nickel-cobalt alloy thin film layer, for example, cobalt sulfate 80-180 g / l, nickel sulfate 80-120 g / l, boric acid 20-40 g / l, potassium chloride 10-15 g / l, phosphoric acid 2 The conditions are sodium hydride 0.1 to 15 g / l, liquid temperature 30 to 50 ° C., pH 3.5 to 4.5, and current density 1 to 10 A / dm 2 .

また、ニッケルの場合、リン酸系溶液を用いることで、ニッケル−リン合金メッキとすることも可能である。この場合、硫酸ニッケル120〜180g/l、塩化ニッケル35〜55g/l、HPO30〜50g/l、HPO20〜40g/l、液温70〜95℃、pH0.5〜1.5、電流密度5〜50A/dmの条件等である。 In the case of nickel, nickel-phosphorus alloy plating can be obtained by using a phosphoric acid solution. In this case, nickel sulfate 120-180 g / l, nickel chloride 35-55 g / l, H 3 PO 4 30-50 g / l, H 3 PO 3 20-40 g / l, liquid temperature 70-95 ° C., pH 0.5- The conditions are 1.5, the current density is 5 to 50 A / dm 2 , and the like.

工程d. 工程d.は、有機層5の表面に銅電解液を用いて電解反応によりバルク銅層6を形成するバルク銅層形成工程である。この様子を模式的に示したのが、図6の工程d.である。このバルク銅層6は、硫酸銅系溶液、ピロ燐酸銅系溶液等の銅イオン供給源として使用可能な溶液を用て形成されるものであり、溶液組成には特段の限定はない。例えば、硫酸銅系溶液であれば、濃度が銅30〜100g/l、硫酸50〜200g/l、液温30〜80℃、電流密度1〜100A/dmの条件、ピロ燐酸銅系溶液であれば、濃度が銅10〜50g/l、ピロ燐酸カリウム100〜700g/l、液温30〜60℃、pH8〜12、電流密度1〜10A/dmの条件とする等である。ここでは、当該溶液中で、有機層5(又は前記薄膜層)の形成が終了したキャリア箔をカソード分極することで、バルク銅層6を形成する銅成分を有機層5(又は前記薄膜層)上に均一且つ平滑に電析させるのである。 Step d. Step d. Is a bulk copper layer forming step in which a bulk copper layer 6 is formed on the surface of the organic layer 5 by an electrolytic reaction using a copper electrolyte. This is schematically shown by step d. In FIG. It is. The bulk copper layer 6 is formed using a solution that can be used as a copper ion supply source such as a copper sulfate-based solution or a copper pyrophosphate-based solution, and the solution composition is not particularly limited. For example, in the case of a copper sulfate-based solution, the concentration is copper 30-100 g / l, sulfuric acid 50-200 g / l, liquid temperature 30-80 ° C., current density 1-100 A / dm 2 , copper pyrophosphate-based solution. If present, the conditions are such that the concentration is copper 10-50 g / l, potassium pyrophosphate 100-700 g / l, liquid temperature 30-60 ° C., pH 8-12, current density 1-10 A / dm 2 . Here, the copper component forming the bulk copper layer 6 is converted to the organic layer 5 (or the thin film layer) by cathodic polarization of the carrier foil in which the formation of the organic layer 5 (or the thin film layer) is completed in the solution. It deposits uniformly and smoothly on the top.

このバルク銅層6の形成には、銅の平滑メッキ条件を適用する。この平滑メッキ条件に厳密な制限を設ける必要はない。ところが、平滑メッキの初期析出厚さ0.3μm〜2μm相当を低電流密度で精密電解し、生産性を考慮してその後電流密度を上昇させバルク銅層6を所定厚さとすることが、第1微細銅粒4を包み込むようにバルク銅層6成長させるという観点から好ましいのである。ここで、平滑メッキの初期析出厚さ0.3μm未満で低電流電解を終了すると、キャリア箔を引き剥がしたときの第1微細銅粒4のバルク銅層6表面への残留安定性を向上させることができないのである。これに対し、低電流電解による平滑メッキの初期析出厚さを2.0μmも行えば、第1微細銅粒4をバルク銅層6が包み込む状態となるのが通常である。即ち、第1微細銅粒4を包み込むまで行えば目的を達成するのであるから、工業的生産性を考慮して、その後電流密度を上昇させ電解する手法を採用することが好ましいのである。   For the formation of the bulk copper layer 6, smooth copper plating conditions are applied. There is no need to place strict restrictions on the smooth plating conditions. However, the initial deposition thickness of 0.3 μm to 2 μm of smooth plating is precisely electrolyzed at a low current density, and then the current density is increased in consideration of productivity to make the bulk copper layer 6 have a predetermined thickness. This is preferable from the viewpoint of growing the bulk copper layer 6 so as to enclose the fine copper grains 4. Here, when the low current electrolysis is completed with an initial deposition thickness of less than 0.3 μm of the smooth plating, the residual stability of the first fine copper grains 4 on the surface of the bulk copper layer 6 when the carrier foil is peeled off is improved. It cannot be done. On the other hand, if the initial deposition thickness of smooth plating by low current electrolysis is 2.0 μm, the bulk copper layer 6 usually wraps around the first fine copper grains 4. That is, if the first fine copper particles 4 are encased, the purpose is achieved. Therefore, it is preferable to adopt a technique of increasing the current density and performing electrolysis in consideration of industrial productivity.

ここで、単に「低電流密度」、「高電流密度」というように称しているのは、電解に用いる溶液の種類、銅濃度等により平滑メッキ条件が異なるため、抽象的な表現を採用せざるを得ないためである。しかしながら、本件発明者等の研究によれば、溶液の組成、種類に応じて定まる平滑メッキ可能な限界電流密度の1/3以下の電流密度を低電流密度、当該限界電流密度の1/3を超える電流密度を高電流密度と考えればよいとの結果が得られている。例えば、上記硫酸銅溶液を用いた電解の場合には、低電流密度とは1〜3A/dm 、高電流密度とは4〜10A/dmの範囲と捉えられる。また、ここで言う析出厚さは、平面にメッキしたと仮定したときの換算重量から算出した見かけ上の換算厚さである。 Here, the term “low current density” or “high current density” simply refers to the smooth plating conditions depending on the type of solution used for electrolysis, the copper concentration, etc., so abstract expressions must be adopted. It is for not getting. However, according to the study by the present inventors, a current density that is 1/3 or less of the limit current density that can be smooth-plated, which is determined according to the composition and type of the solution, is a low current density, and 1/3 of the limit current density is It has been obtained that the current density exceeding the high current density may be considered. For example, in the case of electrolysis using the above-described copper sulfate solution, the low current density is regarded as a range of 1 to 3 A / dm 2 , and the high current density is regarded as a range of 4 to 10 A / dm 2 . Moreover, the precipitation thickness said here is the apparent conversion thickness calculated from the conversion weight when it assumes that it plated on the plane.

工程e. 工程e.は、必要に応じて行われる工程であることを、最初に明記しておく。この工程e.では、上述の工程の終了したキャリア箔2を、硫酸銅系電解液中でカソード分極し、バルク銅層6の表面に第2微細銅粒8を付着形成し第2粗化処理層7を形成する第2粗化工程である。この様子を模式的に示したのが、図6の工程e.である。上述したようにこの第2粗化処理層7を構成する第2微細銅粒8は、第1粗化処理層3を構成する第1微細銅粒4とは異なり、略球形の微細銅粒を採用しても構わないのであり、微細銅粒の粒径が適度に大きく、十分な硬度をもち変形抵抗が大きく、粉落ちしないものであるほど、接着強度を高く保つことができるのである。 Step e. Step e. First, it is clearly stated that the process is performed as necessary. This step e. Then, the carrier foil 2 that has been subjected to the above-described steps is cathodic polarized in a copper sulfate electrolyte, and the second fine copper grains 8 are formed on the surface of the bulk copper layer 6 to form the second roughened layer 7. This is the second roughening step. This is shown schematically in step e. It is. As described above, the second fine copper grains 8 constituting the second roughening treatment layer 7 are different from the first fine copper grains 4 constituting the first roughening treatment layer 3 in the form of substantially spherical fine copper grains. Adhesion strength can be kept high as the fine copper particles have a reasonably large particle size, sufficient hardness, large deformation resistance, and no powder falling off.

従って、工程b.で述べたと同様のヤケメッキの条件が採用される。しかしながら、基材樹脂との接着性を高めるための、粒径が適度に大きく、十分な硬度をもち変形しない第2微細銅粒を得るため、電解液中にα−ナフトキノリン、デキストリン、ニカワ、チオ尿素等の添加剤を加えた硫酸銅溶液を用いることも可能である。例えば、硫酸銅系溶液を用いるのであれば、銅濃度が5〜20g/l、硫酸濃度が50〜200g/l、その他必要に応じた添加剤(α−ナフトキノリン、デキストリン、ニカワ、チオ尿素等)を用い、液温15〜40℃、電流密度10〜50A/dmの条件とする等である。そして、この第2粗化処理層に対しては、通常、工程b.で述べたと同様の被せメッキ処理を施すこととなるのである。 Thus, step b. The same discoloration conditions as described above are used. However, α-naphthoquinoline, dextrin, glue, thiol in the electrolyte solution is obtained in order to obtain second fine copper particles having a moderately large particle size and sufficient hardness to improve adhesion to the base resin. It is also possible to use a copper sulfate solution to which an additive such as urea is added. For example, if a copper sulfate-based solution is used, the copper concentration is 5 to 20 g / l, the sulfuric acid concentration is 50 to 200 g / l, and other additives as necessary (α-naphthoquinoline, dextrin, glue, thiourea, etc.) , And the liquid temperature is 15 to 40 ° C. and the current density is 10 to 50 A / dm 2 . And normally with respect to this 2nd roughening process layer, process b. Thus, the same plating process as described above is performed.

以上の工程を経ると一般的には、第2粗化処理工程の後に、第2粗化処理層7の表面に必要に応じて防錆処理を施す防錆処理工程があり、水洗してシランカップリング剤を吸着させ、乾燥処理することで安定化させるシランカップリング処理工程とが施され製品としてのキャリア箔付電解銅箔1となるのである。   After the above steps, generally, after the second roughening treatment step, there is a rust prevention treatment step for applying a rust prevention treatment to the surface of the second roughening treatment layer 7 as necessary. A silane coupling treatment step is performed in which the coupling agent is adsorbed and stabilized by a drying treatment, whereby the electrolytic copper foil 1 with a carrier foil as a product is obtained.

<キャリア箔付電解銅箔の製造方法>
以上に述べてきた本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔を用いて得られる銅張積層板とは、通常の銅箔の代わりに本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔を用いたものであり、その製造方法及び銅張積層板の層構造が特に異なるものではない。しかしながら、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔を銅箔の代わりに用いて、プリプレグや内層回路基板等に張り合わせる熱間プレス加工を受けると、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔のキャリア箔の片面に設ける第1粗化処理層とバルク銅層との間に位置する有機層がボイド形状を備えるのである。この熱間プレス加工を受けた後の有機層5がボイド状となったのを捉えたのが、図7に示す二次電子線像による断面観察図である。この図7中にボイド形状11に見える代表的箇所に矢印を付している。
<Method for producing electrolytic copper foil with carrier foil>
The copper-clad laminate obtained using the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention described above is obtained by using the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention instead of a normal copper foil. The manufacturing method and the layer structure of the copper clad laminate are not particularly different. However, when the electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention is used instead of the copper foil and subjected to hot press bonding to a prepreg or an inner layer circuit board, the carrier of the electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention The organic layer located between the first roughening treatment layer and the bulk copper layer provided on one side of the foil has a void shape. The cross-sectional observation by the secondary electron beam image shown in FIG. 7 captures that the organic layer 5 after being subjected to this hot press processing has become a void. In FIG. 7, an arrow is attached to a representative portion that looks like the void shape 11.

このような二次電子線像においてボイド形状11に観察できる箇所が、現実に空洞になっているのか、加熱により有機層の分解等が起こり有機物が球状化しているのかの判別が現段階で確実には出来ていない。参考までに、オージェ電子分析法による分析では、ボイドの集中している領域とボイドの存在しない領域との炭素スペクトルのシグナル強度を対比すると、ボイドの集中している部位から有機物の存在を暗示するように炭素スペクトルのシグナルが高く検出される。   In such a secondary electron beam image, it can be determined at this stage whether the portion that can be observed as the void shape 11 is actually a cavity or whether the organic layer is decomposed by heating and the organic matter is spheroidized. Is not done. For reference, in the analysis by the Auger electron analysis method, comparing the signal intensity of the carbon spectrum between the area where the void is concentrated and the area where the void is not present implies the presence of the organic substance from the area where the void is concentrated. Thus, the signal of the carbon spectrum is detected high.

以上に述べてきたように、有機層にボイド形状が確認される銅張積層板は、キャリア箔の除去を行い、レーザー光による加工を行うと、極めて良好なレーザー加工性能を示すのである。   As described above, the copper clad laminate in which the void shape is confirmed in the organic layer exhibits extremely good laser processing performance when the carrier foil is removed and processing is performed with laser light.

本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔は、キャリア箔を引き剥がした後の、銅箔層表面に残留する第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒の形状が非常に緻密で均一な凹凸を備え、当該表面近傍に有機層がボイド形状を伴って残留することで熱伝導性を阻害して熱拡散を起こし難くしていることから、従来にないほどの低エネルギー加工が容易で、安定したレーザー穴明け加工性能を備えるものとなる。   In the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention, the shape of the first fine copper grains constituting the first roughening treatment layer remaining on the surface of the copper foil layer after peeling off the carrier foil is very dense and uniform. Since the organic layer remains in the vicinity of the surface with a void shape, it is difficult to cause thermal diffusion by inhibiting thermal conductivity, making low-energy processing unprecedented and easy. , With stable laser drilling performance.

また、第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒を高炭素銅とすることで更にレーザー加工性能を高めることが可能となるのである。このような銅箔層表面は、良好なエッチングレジストとの密着性の確保と、露光ぼけを防止して良好な露光状態の確保に寄与するものである。従って、エッチングレジストとの密着性が向上すれば、銅箔とエッチングレジストとの接合界面に対するエッチング液の侵入を防止でき、良好なアスペクト比を持つ回路断面の形成が可能となり、インピーダンスコントロール等を考慮した微細回路の形成が容易になる。また、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の製造方法は、当該キャリア箔付電解銅箔の生産効率を高め、安価で高品質の製品の市場への安定供給を可能とするのである。   Moreover, it becomes possible to further improve laser processing performance by making the 1st fine copper grain which comprises a 1st roughening process layer into high carbon copper. Such a copper foil layer surface contributes to ensuring good adhesion with an etching resist and ensuring good exposure by preventing exposure blur. Therefore, if the adhesion with the etching resist is improved, the intrusion of the etching solution into the bonding interface between the copper foil and the etching resist can be prevented, and a circuit cross section having a good aspect ratio can be formed. This makes it easy to form a fine circuit. Moreover, the manufacturing method of the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention increases the production efficiency of the electrolytic copper foil with carrier foil, and enables stable supply to the market of inexpensive and high-quality products.

以下、本件発明を実施するための最良の形態を実施例を通じて説明する。以下では、本件発明の優位性を理解してもらうために、実施例と比較例とを示すこととする。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described through examples. Hereinafter, examples and comparative examples will be shown in order to understand the superiority of the present invention.

ここでは、キャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される未処理箔(粗化処理及び表面処理を行っていない電解銅箔)を用い、その光沢面側へ3μm厚の電解銅箔層を形成したのである。光沢面とは、以下のようにして必然的に電解銅箔に形成されるものである。電解銅箔の製造装置は、ドラム形状をした回転陰極と、その回転陰極の形状に沿って対向配置する不溶性陽極との間に、硫酸銅溶液を流し、電解反応を利用して銅を回転陰極のドラム表面に析出させ、この析出した銅は箔状態となり、回転陰極から連続して引き剥がして巻き取るものである。この未処理箔の回転陰極と接触した状態から引き剥がされた面は、鏡面仕上げされた回転陰極表面の形状が転写したものとなり、光沢を持ち滑らかな面であるためこれを光沢面と称する。これに対し、析出サイドであった方の析離箔の表面形状は、析出する銅の結晶成長速度が結晶面ごとに異なるため、山形の凹凸形状を示すものとなり、これを粗面と称する。   Here, untreated foil (electrolytic copper foil not subjected to roughening treatment and surface treatment) classified as grade 3 having a thickness of 35 μm is used as the carrier foil, and an electrolytic copper foil layer having a thickness of 3 μm is formed on the glossy surface side. It was. The glossy surface is inevitably formed on the electrolytic copper foil as follows. An electrolytic copper foil manufacturing apparatus is a method in which a copper sulfate solution is passed between a drum-shaped rotating cathode and an insoluble anode facing the rotating cathode, and copper is rotated using an electrolytic reaction. The copper deposited on the surface of the drum is in the form of a foil, which is continuously peeled off from the rotating cathode and wound up. The surface of the untreated foil peeled off from the state in contact with the rotating cathode is a transfer of the mirror-finished surface shape of the rotating cathode, and is a glossy and smooth surface. On the other hand, the surface shape of the separating / separating foil, which was the precipitation side, shows a mountain-shaped uneven shape because the crystal growth rate of the deposited copper differs for each crystal surface, and this is called a rough surface.

工程a. キャリア箔は、濃度150g/l、液温30℃の希硫酸溶液に30秒間浸席漬して、キャリア箔に付いた油脂成分及び余分な表面酸化被膜の除去を行い、水洗した。 Step a. The carrier foil was immersed in a dilute sulfuric acid solution having a concentration of 150 g / l and a liquid temperature of 30 ° C. for 30 seconds to remove oil components and excess surface oxide film attached to the carrier foil and washed with water.

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、9−フェニルアクリジン濃度150ppm、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の微細銅粒を付着形成した。そして、この微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行い第1粗化処理層を形成した。この被せメッキは、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温40℃、電流密度10A/dmの平滑メッキ条件で5秒間電解することにより、紡錘状の第1微細銅粒とし、水洗した。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is put in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a 9-phenylacridine concentration of 150 ppm, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of a density of 15 A / dm 2 and an electrolysis time of 15 seconds. And the 1st roughening process layer was formed by carrying out the covering plating in order to prevent this fine copper grain from falling off. This covering plating is a copper sulfate solution, which is electrolyzed for 5 seconds under smooth plating conditions with a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, a liquid temperature of 40 ° C., and a current density of 10 A / dm 2. The first fine copper particles were washed with water.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、濃度3.5g/lのCBTAを含む、液温40℃、硫酸を用いてpH5に調製した水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成した。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil for 30 seconds in an aqueous solution containing CBTA having a concentration of 3.5 g / l and adjusted to pH 5 using sulfuric acid with a liquid temperature of 40 ° C.

工程d. 有機層の形成がなされると、続いて、その有機層上にバルク銅層の形成を行った。バルク銅形成は、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温40℃の硫酸銅溶液を用いて、この溶液中でキャリア箔をカソード分極して電流密度5A/dmの平滑メッキ条件で30秒間電解し、その後電流密度20A/dmの平滑メッキ条件で38秒間電解することにより行った。 Step d. When the organic layer was formed, a bulk copper layer was subsequently formed on the organic layer. Bulk copper formation is performed by using a copper sulfate solution having a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C., and cathodic polarization of the carrier foil in this solution to achieve a smooth current density of 5 A / dm 2 . The electrolysis was performed for 30 seconds under plating conditions, and then for 38 seconds under smooth plating conditions with a current density of 20 A / dm 2 .

工程e. バルク銅層の形成が終了すると、次にはバルク銅層の表面に第2微細銅粒を付着形成し第2粗化処理層の形成を行った。この第2粗化処理層の形成は、バルク銅層の上に第2微細銅粒を析出付着させ、更に、この第2微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行うものとした。 Step e. When the formation of the bulk copper layer was completed, next, the second fine copper grains were adhered and formed on the surface of the bulk copper layer to form the second roughening treatment layer. In the formation of the second roughening treatment layer, the second fine copper particles were deposited on the bulk copper layer, and further, covering plating was performed to prevent the second fine copper particles from falling off.

バルク銅層の上に第2微細銅粒を析出付着させる際には、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が13.7g/l、液温30℃、電流密度30A/dmのヤケメッキ条件で5秒間電解することにより行った。 When depositing and adhering the second fine copper particles on the bulk copper layer, it is a copper sulfate solution having a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 13.7 g / l, a liquid temperature of 30 ° C., and a current density of 30 A. Electrolysis was performed for 5 seconds under the condition of / dm 2 burnt plating.

そして、第2微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキは、前述のバルク銅層の形成に用いたと同様の硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温48℃、電流密度20A/dmの平滑メッキ条件で10秒間電解することによりおこなった。 The overlay plating for preventing the second fine copper particles from falling off is a copper sulfate solution similar to that used for forming the bulk copper layer described above, and has a sulfuric acid concentration of 70 g / l and a copper concentration of 64 g / l. This was carried out by electrolysis for 10 seconds under smooth plating conditions with a liquid temperature of 48 ° C. and a current density of 20 A / dm 2 .

工程f. 更に、防錆処理として、防錆元素に亜鉛を用いて防錆処理を行った。ここでは、硫酸亜鉛浴を用い、亜鉛濃度が20g/l、液温40℃、電流密度15A/dmの条件を採用した。 Step f. Further, as a rust prevention treatment, rust prevention treatment was performed using zinc as a rust prevention element. Here, a zinc sulfate bath was used, and a zinc concentration of 20 g / l, a liquid temperature of 40 ° C., and a current density of 15 A / dm 2 were adopted.

防錆処理が終了すると、最終的には水洗し、電熱器により雰囲気温度180℃に加熱された炉内で20秒かけて乾燥し、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。   When the rust prevention treatment was completed, it was finally washed with water and dried for 20 seconds in a furnace heated to an atmospheric temperature of 180 ° C. by an electric heater to obtain a finished electrolytic copper foil with carrier foil.

レーザー加工性評価 上述のようにして得られたキャリア箔付電解銅箔1の防錆処理を施した電解銅箔の表面に70μm厚の樹脂層を形成し、樹脂付のキャリア箔付電解銅箔とした。そして、この樹脂付のキャリア箔付電解銅箔を内層回路を両面に形成したコア材のそれぞれの面に配し、熱間プレス加工することで4層の銅張積層板を製造した。そして、キャリア箔を引き剥がして電解銅箔面を露出させ、炭酸ガスレーザーを用いてバイアホールの形成を行った。その結果、真円度が0.94〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Evaluation of Laser Workability A 70 μm-thick resin layer is formed on the surface of the electrolytic copper foil subjected to rust prevention of the electrolytic copper foil 1 with carrier foil obtained as described above, and the electrolytic copper foil with carrier foil with resin is formed. It was. Then, this resin-coated electrolytic copper foil with carrier foil was placed on each surface of the core material having the inner layer circuit formed on both sides, and hot-pressed to produce a four-layer copper-clad laminate. Then, the carrier foil was peeled off to expose the electrolytic copper foil surface, and a via hole was formed using a carbon dioxide laser. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.94 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

なお、本件明細書における炭酸ガスレーザーによる加工性の評価において、容易に加工できるか否かに関しては加工エネルギーを対比することが非常に重要であると考えられる。しかしながら、現実のプリント配線板では、最適と思われるレーザー加工条件も製品ごとに異なるため、加工エネルギーの対比は行わずに、加工エネルギーと同程度に重要な加工穴の真円度を持って加工穴の仕上がり性を評価とした。本件明細書における、炭酸ガスレーザー加工条件は、加工エネルギー20mJとなるパルスエネルギーを採用した。その他、レーザー照射条件は、周波数2000Hz、マスク径7.0mm、パルス幅23μsec.、オフセット0.0、レーザー光径140μmという条件を基本として、各銅張積層板に最適の条件を定め125μmの加工径の穴を400穴形成することを予定して行ったものである。従って、本件発明者等は判断基準として、加工後の穴径が115〜135μmとなった範囲で、加工が良好に行われたものと判断し、真円度のバラツキを求めたのである。   In addition, in the evaluation of the workability by the carbon dioxide laser in this specification, it is considered that it is very important to compare the processing energy as to whether or not it can be easily processed. However, in actual printed wiring boards, the laser processing conditions that are considered to be optimal differ from product to product, so that processing energy is not compared, and processing is performed with the roundness of processing holes as important as processing energy. The finish of the hole was evaluated. In this specification, the carbon dioxide laser processing conditions employ pulse energy with a processing energy of 20 mJ. Other laser irradiation conditions were a frequency of 2000 Hz, a mask diameter of 7.0 mm, and a pulse width of 23 μsec. Based on the conditions of an offset of 0.0 and a laser beam diameter of 140 μm, optimum conditions were determined for each copper-clad laminate, and 400 holes with a processing diameter of 125 μm were planned to be formed. Therefore, the inventors of the present invention determined that the processing was performed well within the range in which the hole diameter after processing was 115 to 135 μm, and determined the roundness variation.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, step c. We will only explain

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.95〜0.98の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.95 to 0.98. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、9−フェニルアクリジン濃度150ppm、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例1で行った第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is put in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a 9-phenylacridine concentration of 150 ppm, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of a density of 15 A / dm 2 and an electrolysis time of 15 seconds. That is, the covering plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 1 is omitted.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程b.及び工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, the step b. And step c. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、9−フェニルアクリジン濃度150ppm、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例1で行った第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is put in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a 9-phenylacridine concentration of 150 ppm, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of a density of 15 A / dm 2 and an electrolysis time of 15 seconds. That is, the covering plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 1 is omitted.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、カルボキシベンゾトリアゾール濃度75ppm、塩素濃度10ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の微細銅粒を付着形成した。そして、この微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行い第1粗化処理層を形成した。この被せメッキは、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温40℃、電流密度10A/dmの平滑メッキ条件で5秒間電解することにより紡錘状の第1微細銅粒とし、水洗した。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a carboxybenzotriazole concentration of 75 ppm, a chlorine concentration of 10 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic fine copper grains were deposited and formed on one surface of the carrier foil under the conditions of 15 A / dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. And the 1st roughening process layer was formed by carrying out the covering plating in order to prevent this fine copper grain from falling off. This covering plating is a copper sulfate solution, and is formed into a spindle shape by electrolysis for 5 seconds under smooth plating conditions of a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, a liquid temperature of 40 ° C., and a current density of 10 A / dm 2. The first fine copper particles were washed with water.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.92〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.92 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例5をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 5 is employ | adopted. Therefore, step c. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、カルボキシベンゾトリアゾール濃度75ppm、塩素濃度0ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度20A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の微細銅粒を付着形成した。そして、この微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行い第1粗化処理層を形成した。この被せメッキは、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温40℃、電流密度10A/dmの平滑メッキ条件で5秒間電解することにより紡錘状の第1微細銅粒とし、水洗した。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a carboxybenzotriazole concentration of 75 ppm, a chlorine concentration of 0 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of 20 A / dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. And the 1st roughening process layer was formed by carrying out the covering plating in order to prevent this fine copper grain from falling off. This covering plating is a copper sulfate solution, and is formed into a spindle shape by electrolysis for 5 seconds under smooth plating conditions of a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, a liquid temperature of 40 ° C., and a current density of 10 A / dm 2. The first fine copper particles were washed with water.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例5をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 5 is employ | adopted. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、カルボキシベンゾトリアゾール濃度75ppm、塩素濃度10ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例5の第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a carboxybenzotriazole concentration of 75 ppm, a chlorine concentration of 10 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one surface of the carrier foil under the conditions of 15 A / dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. That is, the cover plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 5 is omitted.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.92〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.92 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例5をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.及び工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 5 is employ | adopted. Therefore, the step b. And step c. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、カルボキシベンゾトリアゾール濃度75ppm、塩素濃度0ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度20A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例5で行った第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a carboxybenzotriazole concentration of 75 ppm, a chlorine concentration of 0 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of 20 A / dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. That is, the covering plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 5 is omitted.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.92〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.92 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、膠濃度1000ppm、塩素濃度10ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の微細銅粒を付着形成した。そして、この微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行い第1粗化処理層を形成した。この被せメッキは、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温40℃、電流密度10A/dmの平滑メッキ条件で5秒間電解することにより行い紡錘状の第1微細銅粒とし、水洗した。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a glue concentration of 1000 ppm, a chlorine concentration of 10 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. And the 1st roughening process layer was formed by carrying out the covering plating in order to prevent this fine copper grain from falling off. This covering plating is a copper sulfate solution, and is performed by electrolysis for 5 seconds under smooth plating conditions of a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, a liquid temperature of 40 ° C., and a current density of 10 A / dm 2. The first fine copper particles were washed with water.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例9をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 9 is employ | adopted. Therefore, step c. We will only explain

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.98の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.98. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例9をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 9 is employ | adopted. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、膠濃度1000ppm、塩素濃度10ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例9の第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a glue concentration of 1000 ppm, a chlorine concentration of 10 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. That is, the cover plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 9 was omitted.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.92〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.92 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例9をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.及び工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 9 is employ | adopted. Therefore, the step b. And step c. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、膠濃度1000ppm、塩素濃度10ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例9で行った第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a glue concentration of 1000 ppm, a chlorine concentration of 10 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C. Dendritic first fine copper grains were deposited on one side of the carrier foil under the conditions of dm 2 and electrolysis time of 15 seconds. That is, the covering plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 9 is omitted.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.93〜0.97の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.93 to 0.97. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の微細銅粒を付着形成した。そして、この微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを行い第1粗化処理層を形成した。この被せメッキは、硫酸銅溶液であって、硫酸濃度が70g/l、銅濃度が64g/l、液温48℃、電流密度20A/dmの平滑メッキ条件で5秒間電解することにより紡錘状の第1微細銅粒とし、水洗した。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C., and is cathode-polarized to have a current density of 15 A / dm 2 , Dendritic fine copper grains were deposited and formed on one surface of the carrier foil under the condition of time 15 seconds. And the 1st roughening process layer was formed by carrying out the covering plating in order to prevent this fine copper grain from falling off. This overplating is a copper sulfate solution, which has a spindle shape by electrolysis for 5 seconds under smooth plating conditions with a sulfuric acid concentration of 70 g / l, a copper concentration of 64 g / l, a liquid temperature of 48 ° C., and a current density of 20 A / dm 2. The first fine copper particles were washed with water.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.92〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.92 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例13をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 13 is employ | adopted. Therefore, step c. We will only explain

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.91〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.91 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例13をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 13 is employ | adopted. Therefore, the step b. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例13の第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C., and is cathode-polarized to have a current density of 15 A / dm 2 , electrolysis Dendritic first fine copper grains were adhered and formed on one surface of the carrier foil under the condition of time 15 seconds. That is, the cover plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 13 was omitted.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.91〜0.95の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.91 to 0.95. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、実施例1と同様にキャリア箔に35μm厚のグレード3に分類される粗化処理及び防錆処理を行っていない電解銅箔を用いた。以下、各工程の順序に従って説明を行うべきであるが、基本的には実施例1に記載したフローと同様である。また、実施例13をベースにした製造フローを採用しているとも言える。そこで、実施例1と異なる工程b.及び工程c.に関してのみ説明することとする。   In this example, as in Example 1, an electrolytic copper foil that was not subjected to roughening treatment and rust prevention treatment classified as grade 3 having a thickness of 35 μm was used for the carrier foil. Hereinafter, the description should be made according to the order of the steps, but the flow is basically the same as that described in the first embodiment. Moreover, it can be said that the manufacturing flow based on Example 13 is employ | adopted. Therefore, the step b. And step c. We will only explain

工程b. 酸洗処理の終了したキャリア箔は、銅濃度7.0g/l、硫酸濃度100g/l、塩素濃度50ppm、液温25℃の溶液中に入れ、カソード分極して電流密度15A/dm、電解時間15秒の条件で、キャリア箔の片面上に樹枝状の第1微細銅粒を付着形成した。即ち、実施例13で行った第1微細銅粒の脱落を防止するための被せメッキを省略したのである。 Step b. After the pickling treatment, the carrier foil is placed in a solution having a copper concentration of 7.0 g / l, a sulfuric acid concentration of 100 g / l, a chlorine concentration of 50 ppm, and a liquid temperature of 25 ° C., and is cathode-polarized to have a current density of 15 A / dm 2 , Dendritic first fine copper grains were adhered and formed on one surface of the carrier foil under the condition of time 15 seconds. That is, the covering plating for preventing the first fine copper particles from falling off in Example 13 was omitted.

工程c. 第1粗化処理層を形成したキャリア箔は、その表面に有機層を形成することになる。このときの有機層は、カルボキシベンゾトリアゾール濃度が1000ppmであり、硫酸濃度が150g/l、銅濃度が10g/l、液温40℃の水溶液中にキャリア箔を30秒浸漬して形成したのである。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. The carrier foil on which the first roughening treatment layer is formed forms an organic layer on the surface thereof. The organic layer at this time was formed by immersing the carrier foil in an aqueous solution having a carboxybenzotriazole concentration of 1000 ppm, a sulfuric acid concentration of 150 g / l, a copper concentration of 10 g / l, and a liquid temperature of 40 ° C. for 30 seconds. . Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.91〜0.96の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.91 to 0.96. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

本実施例においては、基本的に実施例2と同様の製造フローを採用しているが、工程c.の有機層を形成した後であって、工程d.でバルク銅層を形成する前に、付加的な工程として有機層の表面にニッケルの薄膜層を形成した点が異なるのである。そこで、重複した記載を避けるため、実施例2にはない付加的な工程である薄膜層の形成に関してのみ、説明することとする。   In the present embodiment, the same manufacturing flow as in the second embodiment is basically employed, but the process c. After forming the organic layer of step d. In this case, a nickel thin film layer is formed on the surface of the organic layer as an additional step before forming the bulk copper layer. Therefore, in order to avoid redundant description, only the formation of a thin film layer, which is an additional step not in Example 2, will be described.

工程c.で有機層を形成した面に、ニッケルメッキ液として硫酸ニッケルを用い、ニッケル濃度が60g/l、ホウ酸濃度が30g/l、液温30℃、pH3、電流密度5A/dmの条件を採用し、薄膜層を形成した。以下、実施例1と同様の工程により、完成したキャリア箔付電解銅箔を得たのである。 Step c. Using nickel sulfate as the nickel plating solution on the surface on which the organic layer was formed with the conditions of nickel concentration 60 g / l, boric acid concentration 30 g / l, liquid temperature 30 ° C., pH 3, and current density 5 A / dm 2 Then, a thin film layer was formed. Hereinafter, the completed electrolytic copper foil with carrier foil was obtained by the same process as in Example 1.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。その結果、真円度が0.96〜0.99の範囲に入るバラツキの少ない美麗なバイアホールが形成できた。また、キャリア箔を引き剥がした電解銅箔表面には第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒が引きちぎられたと思われる状態で存在し、キャリア箔にも当該第1微細銅粒が引きちぎられた残りが残留していた。なお、この熱間プレス加工を受けた後の有機層5は図7に示す二次電子線像に確認できるようなボイド状となっていた。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, it was possible to form a beautiful via hole with little variation in the roundness range of 0.96 to 0.99. Further, the surface of the electrolytic copper foil from which the carrier foil has been peeled is present in a state where the first fine copper particles constituting the first roughening treatment layer are considered to be torn off, and the first fine copper particles are also present on the carrier foil. The torn residue remained. In addition, the organic layer 5 after receiving the hot press processing was in a void shape that can be confirmed in the secondary electron beam image shown in FIG.

比較例1Comparative Example 1

本比較例においては、実施例1と同様の工程を採用し、工程b.を省略して通常のキャリア箔付電解銅箔を製造した。従って、各工程に関する詳細な説明は、重複した記載を避けるため省略する。このキャリア箔付銅箔の場合は、有機層そのものが、キャリア箔を引き剥がすときの剥離層として機能するものである。このようにして得られたキャリア箔付電解銅箔を用いて、以下の評価を行った。   In this comparative example, the same process as in Example 1 is adopted, and the process b. The electrolytic copper foil with a normal carrier foil was manufactured by omitting. Therefore, detailed description regarding each step is omitted to avoid redundant description. In the case of this copper foil with carrier foil, the organic layer itself functions as a release layer when the carrier foil is peeled off. The following evaluation was performed using the electrolytic copper foil with a carrier foil thus obtained.

レーザー加工性評価 そして、実施例1と同様の方法でレーザー加工性の評価を行った。すると、20mJという加工エネルギーでは全くバイアホールの穴形状を形成することは出来ず、30mJの加工エネルギーでも僅かに加工できるだけであった。したがって、真円度の観測は全く出来なかった。また、この比較例2にかかるキャリア箔付銅箔の場合、銅張積層板に加工して、キャリア箔を引き剥がすと、有機層が剥離層として機能し、第1粗化処理層が存在しないため、電解銅箔層の表面は完全な光沢面となっている。 Laser Workability Evaluation And laser workability was evaluated in the same manner as in Example 1. Then, the via hole shape could not be formed at all with a processing energy of 20 mJ, and could only be slightly processed with a processing energy of 30 mJ. Therefore, the roundness could not be observed at all. In the case of the copper foil with carrier foil according to Comparative Example 2, when the copper foil is processed into a copper foil and the carrier foil is peeled off, the organic layer functions as a release layer, and the first roughening treatment layer does not exist. Therefore, the surface of the electrolytic copper foil layer is a completely glossy surface.

本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔は、従来に無いほど安定したレーザー穴明け加工性能及び良好なエッチングレジストとの密着性を備えるものであるため、微細配線回路を備えるプリント配線板の加工コストを削減することが可能となり、市場に安価で高品質な製品供給を可能とすることになる。また、本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の製造方法は、工程安定性が非常に高く、品質バラツキの少ない当該キャリア箔付電解銅箔の生産を可能とするのである。従って、プリント配線板の基本材料としての高品質のキャリア箔付電解銅箔の市場への安定供給を可能とするのである。   The electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention has a stable laser drilling performance and good adhesion to an etching resist as never before, so the processing cost of a printed wiring board with a fine wiring circuit This makes it possible to supply inexpensive and high-quality products to the market. In addition, the method for producing an electrolytic copper foil with a carrier foil according to the present invention enables the production of the electrolytic copper foil with a carrier foil having very high process stability and little quality variation. Therefore, stable supply to the market of high-quality electrolytic copper foil with a carrier foil as a basic material of a printed wiring board is enabled.

本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の層構成を表す模式断面図。The schematic cross section showing the layer constitution of the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention. 本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔のキャリア箔を引き剥がしたときの代表的剥離状態を表す模式断面図。The schematic cross section showing the typical peeling state when the carrier foil of the electrolytic copper foil with carrier foil according to the present invention is peeled off. バルク銅層に第1微細銅粒が食い込んだ状態を断面から見た走査型イオン顕微鏡像。The scanning ion microscope image which looked at the state which the 1st fine copper grain digged into the bulk copper layer from the section. キャリア箔を引き剥がした後のバルク銅層の表面の走査型イオン顕微鏡像及び走査型電子顕微鏡による45°斜め方向からの観察像。The scanning ion microscope image of the surface of the bulk copper layer after peeling off carrier foil, and the observation image from the 45 degrees diagonal direction by a scanning electron microscope. 本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の基本的製造フローを表す模式図。The schematic diagram showing the basic manufacturing flow of the electrolytic copper foil with carrier foil which concerns on this invention. 本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔の基本的製造フローを表す模式図。The schematic diagram showing the basic manufacturing flow of the electrolytic copper foil with carrier foil which concerns on this invention. 本件発明に係るキャリア箔付電解銅箔を用いて熱間プレス加工した後の有機層に発生したボイド形状の二次電子線像による観察。The observation by the secondary electron beam image of the void shape which generate | occur | produced in the organic layer after hot-pressing using the electrolytic copper foil with a carrier foil which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 キャリア箔付電解銅箔
2 キャリア箔
3 第1粗化処理層
4 第1微細銅粒
5 有機層
6 バルク銅層
7 第2粗化処理層
8 第2微細銅粒
9 第1微細銅粒の断片
10 残留有機層
11 ボイド形状
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electrolytic copper foil with carrier foil 2 Carrier foil 3 1st roughening process layer 4 1st fine copper grain 5 Organic layer 6 Bulk copper layer 7 2nd roughening process layer 8 2nd fine copper grain 9 First fine copper grain of Fragment 10 Residual organic layer 11 Void shape

Claims (12)

キャリア箔の片面に第1微細銅粒による第1粗化処理層を備え、当該第1粗化処理の上に有機層を備え、当該有機層上に電解法で形成したバルク銅層を備え、当該バルク銅層上に、必要に応じて第2粗化処理層、防錆処理等の表面処理層を備えたピーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔において、
第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒は有機層と共にバルク銅層に埋設しており、キャリア箔とバルク銅層とを引き剥がす際に、当該第1微細銅粒の全部若しくは一部が引きちぎられ、バルク銅層側の表面に残留付着するようになることを特徴としたキャリア箔付電解銅箔。
Provided with a first roughening treatment layer with first fine copper grains on one side of the carrier foil, with an organic layer on the first roughening treatment, with a bulk copper layer formed by electrolytic method on the organic layer, In the electrolytic copper foil with a peelable type carrier foil provided with a surface treatment layer such as a second roughening treatment layer and a rust prevention treatment on the bulk copper layer, if necessary,
The first fine copper grains constituting the first roughened layer are embedded in the bulk copper layer together with the organic layer. When the carrier foil and the bulk copper layer are peeled off, all or one of the first fine copper grains is removed. Electrolytic copper foil with carrier foil, characterized in that the portion is torn off and remains attached to the surface on the bulk copper layer side.
前記有機層と前記バルク銅層との間に、ニッケル、コバルト、若しくはこれらの合金のいずれかで構成した薄膜金属層を備えた請求項1に記載のキャリア箔付電解銅箔。 2. The electrolytic copper foil with a carrier foil according to claim 1, further comprising a thin film metal layer made of nickel, cobalt, or an alloy thereof between the organic layer and the bulk copper layer. 第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒は、略紡錘形状若しくは樹枝状をしたものである請求項1又は請求項2のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔。 3. The electrolytic copper foil with carrier foil according to claim 1, wherein the first fine copper grains constituting the first roughening treatment layer are substantially spindle-shaped or dendritic. 第1粗化処理層を構成する第1微細銅粒は高炭素含有銅である請求項1〜請求項3のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔。 The electrolytic copper foil with a carrier foil according to any one of claims 1 to 3, wherein the first fine copper grains constituting the first roughening treatment layer are high carbon-containing copper. キャリア箔は銅箔である請求項1〜請求項4のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔。 The carrier foil is a copper foil. The electrolytic copper foil with a carrier foil according to any one of claims 1 to 4. 有機層は、有機剤と銅粒子とが混合したものである請求項1〜請求項5のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔。 The electrolytic copper foil with carrier foil according to any one of claims 1 to 5, wherein the organic layer is a mixture of an organic agent and copper particles. 請求項1〜請求項6のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔の製造方法であって、少なくとも以下の示すa.〜e.に示す各工程を備えたことを特徴としたキャリア箔付電解銅箔の製造方法。
a.キャリア箔の表面を清浄化する清浄化工程。
b.キャリア箔を硫酸銅系電解液中でカソード分極し、片面に第1微細銅粒を付着形成し、第1粗化処理層を形成する第1粗化工程。
c.当該第1粗化処理層の表面に有機層を形成する有機層形成工程。
d.有機層の表面に銅電解液を用いて電解反応によりバルク銅層を形成するバルク銅層形成工程。
e.上述の工程の終了したキャリア箔を、必要に応じて硫酸銅系電解液中でカソード分極し、バルク銅層の表面に第2微細銅粒を付着形成し第2粗化処理層を形成しする第2粗化工程
It is a manufacturing method of the electrolytic copper foil with a carrier foil in any one of Claims 1-6, Comprising: At least the following a. ~ E. A method for producing an electrolytic copper foil with a carrier foil, comprising the steps shown in FIG.
a. A cleaning process to clean the surface of the carrier foil.
b. A first roughening step in which the carrier foil is cathode-polarized in a copper sulfate-based electrolyte, and first fine copper particles are adhered and formed on one surface to form a first roughening treatment layer.
c. An organic layer forming step of forming an organic layer on the surface of the first roughening treatment layer.
d. A bulk copper layer forming step of forming a bulk copper layer by an electrolytic reaction using a copper electrolyte on the surface of the organic layer.
e. The carrier foil that has been subjected to the above-described process is cathodically polarized in a copper sulfate-based electrolyte as necessary, and second fine copper particles are formed on the surface of the bulk copper layer to form a second roughened layer. Second roughening process
工程b.の第1粗化工程で使用する硫酸銅系溶液は、銅濃度1g/l〜20g/lの硫酸銅溶液であって、200ppm以下の塩素を含み、9−フェニルアクリジン、カルボキシベンゾトリアゾール、膠、ヒ素のいずれか一種若しくは二種以上を組み合わせて添加したものである請求項7に記載のキャリア箔付電解銅箔の製造方法。 Step b. The copper sulfate-based solution used in the first roughening step is a copper sulfate solution having a copper concentration of 1 g / l to 20 g / l, containing 200 ppm or less of chlorine, 9-phenylacridine, carboxybenzotriazole, glue, The method for producing an electrolytic copper foil with a carrier foil according to claim 7, wherein any one or a combination of two or more arsenic is added. 工程c.の有機層形成工程での有機層の形成は、カルボキシルベンゾトリアゾールを50ppm〜2000ppm、銅濃度1g/l〜20g/l、硫酸50g/l〜200g/lとなるよう含んだ水溶液を用いるものである請求項7又は請求項8に記載のキャリア箔付電解銅箔の製造方法。 Step c. The formation of the organic layer in the organic layer forming step uses an aqueous solution containing carboxyl benzotriazole at 50 ppm to 2000 ppm, a copper concentration of 1 g / l to 20 g / l, and sulfuric acid of 50 g / l to 200 g / l. The manufacturing method of the electrolytic copper foil with a carrier foil of Claim 7 or Claim 8. 工程d.のバルク層の形成は、電解に用いる溶液の種類、銅濃度等に応じて定まる平滑メッキ可能な限界電流密度の1/3以下の低電流密度で0.3μm〜2.0μm厚さの銅電解を行い、その後、当該限界電流密度の1/3を超える高電流密度での銅電解を行い所定厚さとするものである請求項7〜請求項9のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔の製造方法。 Step d. The bulk layer is formed by copper electrolysis with a thickness of 0.3 μm to 2.0 μm at a low current density of 1/3 or less of the limit current density that can be smooth plated, which is determined according to the type of solution used for electrolysis, copper concentration, etc. The copper foil with a carrier foil according to any one of claims 7 to 9, wherein the copper electrolysis at a high current density exceeding 1/3 of the limit current density is performed to obtain a predetermined thickness. Manufacturing method. 第2粗化処理工程の後に、第2粗化処理層の表面に必要に応じて防錆処理を施す防錆処理工程及び/又はシランカップリング剤を吸着させ安定化させるためのシランカップリング処理工程とを備えた請求項7〜請求項10のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔の製造方法。 After the second roughening treatment step, the surface of the second roughening treatment layer is subjected to a rust prevention treatment step and / or a silane coupling treatment for adsorbing and stabilizing the silane coupling agent. The manufacturing method of the electrolytic copper foil with a carrier foil in any one of Claims 7-10 provided with the process. 請求項1〜請求項6のいずれかに記載のキャリア箔付電解銅箔を用いて得られる銅張積層板であり、
キャリア箔の片面の第1粗化処理層とバルク銅層との間に位置する有機層がボイド形状を備えることを特徴とする銅張積層板。
A copper-clad laminate obtained using the electrolytic copper foil with a carrier foil according to any one of claims 1 to 6,
The copper clad laminated board characterized by the organic layer located between the 1st roughening process layer of one side of carrier foil, and a bulk copper layer having a void shape.
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