JP2005037184A - 形状測定装置及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プローブとプローブを搭載したステージ機構を備え、プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるようにステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、プローブの軌跡の座標を取得することによって被測定物の表面の形状を測定し、形状測定時のプローブの変位出力値が目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたとき、ステージ機構が所定の動作をするようにし、変位領域の範囲を変更できる動作制御部55を備える。
【選択図】 図5
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、接触式形状測定装置や非接触式形状測定装置のように、被測定物の表面を走査するプローブからの変位出力値を一定に保とうとしながらプローブを搭載したステージを駆動して形状を測定する形状測定装置及びその制御方法に係り、特に、プローブの変位出力値が推移する変位領域の範囲を変更することができる形状測定装置及びその制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
レンズや金型の形状を高精度に測定する装置として、接触式もしくは非接触式プローブによって被測定物表面を走査する形状測定装置が知られている。例えば、特開平2−254306号公報の光学測定装置や、特開2000−298014公報の形状測定装置の測定原点探索方法や、特許第3272952号公報の3次元形状測定装置が提案されている。
【特許文献1】特開平2−254306号公報
【特許文献2】特開2000−298014公報
【特許文献3】特許第3272952号公報
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、例えば凸レンズを測定するときの方法としては、細かなピッチでレンズの表面を走査・測定し、測定された座標データを解析し、レンズ表面の曲率半径やうねりなどを評価する方法や、特許文献1記載の光学測定装置や、特許文献2記載の形状測定装置の測定原点探索方法のようにレンズの頂点位置を求め、これを測定原点と定め、この測定原点を通るように走査・測定を行い、測定された座標データを解析し、レンズ表面の曲率半径やうねりなどを評価する方法がある。
しかしながら、細かなピッチでレンズを走査・測定し、表面の曲率半径やうねりなどを評価する方法では、測定原点が求められていなくても複数の座標データを3次元的に解析することによってレンズの形状を解析することが可能であるが、多くの座標データを必要とするため、計測時間及び解析時間が多大となる問題がある。
一方、測定原点を通るように走査・測定を行い、表面の曲率半径やうねりなどを評価する方法では、曲率半径やうねりの評価は2次元的な解析でできるため、前者の方法と比較して大幅な計測時間の短縮及び解析時間の短縮が可能であるが、測定原点を通るように正しく測定できない場合、レンズの頂点を通らないため、求められた曲率半径は実際の形状よりも小さなものとなってしまう。
特許文献1に記載された光学測定装置の実施例には測定原点を求める方法の記載がある。この場合、レンズ曲率半径が小さい場合は問題ないが、レンズ曲率半径が大きいほど、また、測定する距離が短いほど頂点座標を正確に推定できないという問題が生じる。頂点座標を正確に推定できない理由はたとえば特許文献2にも記載されている。
したがって、被測定物がレーザプリンタやデジタルコピーの書き込み光学系に搭載されている長尺レンズや長尺ミラーの場合、曲率半径が大きく走査距離が短い短手方向の頂点座標を正確に求めることができない。
【0004】
これに対して、特許文献2の形状測定装置の測定原点探索方法のように、レンズの端面の座標を求め、端面基準で測定原点を求める方法が考えられる。この技術は被測定物の端面座標を正確に求めることで測定原点を求める処理方法に関するものである。しかし、被測定物の端面は表面の傾きが急激に変化する部分であるため表面に追従していたプローブの出力も急激に変化し、それに追従しようとプローブを搭載した追従ステージも急激な動作をし、大きな加速度が発生して、追従ステージが急停止できなくなる場合がある。このため、プローブが被測定物の取付け治具等に衝突し、破壊されるという問題が生じる。
【0005】
特許文献3の3次元形状測定装置では、被測定物の端面部分を認識するための技術として、被測定物表面の傾斜を算出し、その値に基づいて被測定物端部付近と判定し、装置を停止させる手段に関する記載がある。しかし、上述の測定原点を用いた測定方法に活用できるような端面情報を検出することはできない。また、端面と判定するまでの時間的要素に適切な制約がないので、例えば端面判定までに時間がかかるような設定になっている場合には、追従ステージの停止までに時間を要し、プローブが被測定物の取付け治具等に衝突してしまい、破壊される可能性がある。逆に端面を判定するまでの時間が短すぎる設定では、被測定物表面の傷やゴミ、被測定物表面の形状、走査条件等によって、誤認識が生じやすくなる。この場合、測定時の追従動作が停止するので測定効率が悪くなるという問題が起こる。
さらに、特許文献3の3次元形状測定装置は、プローブの変位出力の値が所定の範囲から外れたときに動作を切換え、退避させる発明であるが、プローブが何らかの不具合で摺動しない状態や被測定物から外れる状態となってしまうと、プローブの出力は間違った出力となる。プローブの変位出力値のみでステージの動作を制御していると、追従ステージがプローブの間違った出力に追従しようとするため暴走してしまい装置を破壊してしまう恐れがある。特に追従系の追従性能が高いと問題である。
そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、効率がよく、高精度で安全な測定ができる形状測定装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上述の問題点を解決するために、請求項1記載の発明では、プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定し、形状測定時の前記プローブの変位出力値が前記目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするようになされた形状測定装置であって、前記変位領域の範囲を変更できる第1の制御手段を備えた形状測定装置を最も主要な特徴とする。
請求項2記載の発明では、前記第1の制御手段は前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れたとき、前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換える形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項3記載の発明では、前記第1の制御手段は前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、前記停止動作を行う直前の位置に前記プローブが復帰するように探索動作を行う形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項4記載の発明では、前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れた場合、追従異常と判定する第1の追従判定手段を備えた形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項5記載の発明では、前記第1の制御手段によって、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した形状測定装置を主要な特徴とする。
【0007】
請求項6記載の発明では、前記プローブの変位出力値が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記変位領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第1の端面判定手段を備えた形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項7記載の発明では、プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定する形状測定装置において、形状測定における前記プローブによる走査時に前記ステージ機構の追従時の移動速度を検出し、前記移動速度が予め設定された所定の範囲の速度領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするように制御する第2の制御手段を備えた形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項8記載の発明では、前記第2の制御手段は前記速度領域を変更できる形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項9記載の発明では、前記第2の制御手段は前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換える形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項10記載の発明では、前記第2の制御手段は前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、前記停止動作を行う直前の位置に前記プローブが復帰するように探索動作を行う形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項11記載の発明では、前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、追従異常と判定する第2の追従判定手段を備えた形状測定装置を主要な特徴とする。
【0008】
請求項12記載の発明では、前記第2の制御手段によって、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項13記載の発明では、前記移動速度が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記速度領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第2の端面判定手段を備えた形状測定装置を主要な特徴とする。
請求項14記載の発明では、プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定し、形状測定時の前記プローブの変位出力値が前記目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするようになされた形状測定装置の制御方法であって、前記変位領域の範囲を変更できる第1の制御方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項15記載の発明では、前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れた場合、追従異常と判定する第1の追従判定方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項16記載の発明では、前記第1の制御方法において、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項17記載の発明では、前記プローブの変位出力値が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記変位領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第1の端面判定方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
【0009】
請求項18記載の発明では、プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定する形状測定装置の制御方法において、形状測定における前記プローブによる走査時に前記ステージ機構の追従時の移動速度を検出し、前記移動速度が予め設定された所定の範囲の速度領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするように制御する第2の制御方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項19記載の発明では、前記第2の制御方法によって前記速度領域を変更できる形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項20記載の発明では、前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、追従異常と判定する第2の追従判定方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項21記載の発明では、前記第2の制御方法において、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
請求項22記載の発明では、前記移動速度が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記速度領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第2の端面判定方法を備えた形状測定装置の制御方法を主要な特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態である形状測定装置と形状測定装置の制御方法を図面により詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態である形状測定装置の要部(触針式プローブ8)の部品構成を示す平面図であり、図2は形状測定装置の概観を示す平面図である。なお、ここでは、触針式プローブを採用した形状測定装置の例について説明するが、フォーカス信号や、静電容量を使用した比接触式プローブを採用した場合であっても、プローブ出力を所定の値にするように追従ステージによって追従しながら、走査ステージによって走査し、形状を測定していく基本的な動作は同じである。
図1に示すように、触針式プローブ8は真球1、触針子(プローブ)2、ハウジング4、静圧空気軸受5、給気孔6、ばね7とで構成されている。真球1は被測定面に接触する部材であり、触針子2の先端に取り付けられている。触針子2は給気孔6から給気される静圧空気軸受け5によって非接触支持され、横方向には拘束され、上下方向には摺動抵抗なく動くことができる。触針子2はハウジング4に固定されたばね7によって支持されている。ハウジング4は触針子2の変位方向と同方向に駆動される不図示の移動ステージに搭載される。
測定時には、触針子2の先端の真球1が被測定面に押し付けられ、触針子2は、ばね7のばね力と被測定面からの反力とが釣り合う位置に移動する。そのとき、後述する変位計9の出力が変化する。この出力が常に一定となるようにハウジングを搭載した移動ステージが制御される。ばね7が線形ばねである場合、微小変位dZと接触力は比例関係にある。
なお、触針子2を支持するばね7はコイルばね、板ばね、ヒンジ、空気ばね、磁気式ばね等、形式を問わず、変位によって力が発生する機構であればよい。また、触針子2の横方向の支持機構は静圧空気軸受けに限定されず、平行板ばね等の横方向剛性の高い支持機構であれば良い。
【0011】
次に、本実施の形態の形状測定装置の測定原理の一例を図2を用いて説明する。X軸ステージ27、Y軸ステージ29上にこれに対して垂直方向に移動するZ軸ステージ24が搭載されている(特許請求の範囲において、これら各軸ステージをステージ機構と称す)。Z軸ステージ24上には触針式プローブ8が搭載されている。また、触針子2の微小変位dZを検出するためにこの例では光学式の変位計9が搭載されている。変位計9は静電容量式、作動トランス式等の形式であってもよい。また、ステージの変位を検出するためにZ軸ステージ上には、X軸用レーザ測長器12とY軸用レーザ測長器13とZ軸用レーザ測長器14が搭載されている。また、X軸レーザ測長器12用の基準ミラー15、Y軸レーザ測長器13用の基準ミラー16、Z軸レーザ測長器14用の基準ミラー17がそれぞれの測長器に対向して配設されている。
このようになされた形状測定装置では、X軸、Y軸の位置検出は、図示していないがモータ軸上のロータリエンコーダもしくはリニアエンコーダによって行い、この位置の値を使用した位置決め制御系によりX軸、Y軸は駆動される。また、Z軸はリニアエンコーダ11によって位置検出され、この値を使用した位置決め制御系によって駆動される。測定時には被測定物取付治具19上に取り付けられた被測定物20に触針子2を接触させ、Z軸の制御を変位計9の出力を使用した追従制御系に切換えて変位計9の出力が予め設定された目標値となるようにする。このZ軸追従制御の状態で、X軸もしくはY軸ステージを駆動し、被測定物20上を走査させる。このときの軌跡をZ軸ステージ上のX軸用レーザ測長器12、Y軸用レーザ測長器13、Z軸用レーザ測長器14によって検出し、その値を被測定物の表面形状とする。
【0012】
次に、本発明の実施の形態である形状測定装置の制御回路について図3のブロック図を用いて説明する。制御回路の主要部は形状測定装置の動作指令を行うホストPC35と、ホストPC35の指令に応じて各ステージの制御を行うZ軸制御部26、X軸制御部28、Y軸制御部30と、Z軸ステージ24、X軸ステージ27、Y軸ステージ29と、Z軸ステージ上24に取り付けられたX軸Y軸Z軸のレーザ測長器12〜14の3次元座標データを取得する座標データ取得部22から構成される。
ホストPC35は座標データ記憶部23と、動作指令部31と、測定条件設定部34とで構成され、動作指令部31は第1の追従判定手段としての追従異常判定部32と第2の追従判定手段としての速度異常判定部33とを備えている。追従異常判定部32は形状測定モードにおいてプローブの変位出力値が予め設定された目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたことを判定するためのものであり、後述する第1の追従判定方法を実現する手段である。
また、速度異常判定部33は形状測定モードにおいてZ軸ステージの移動速度が予め設定された所定の範囲の速度領域から外れたことを判定するためのものであり、後述する第2の追従判定方法を実現する手段である。追従異常判定部32、速度異常判定部33はZ軸制御部26からのデータを受けて判定を行っている。
【0013】
ホストPC35から動作命令を受けたZ軸制御部26は、動作命令に応じたZ軸ステージ24の制御を行う。Z軸制御部26の指令値に応じてZ軸ドライバ37はZ軸ステージ24のアクチュエータを駆動し、Z軸ステージ24は動作を行う。Z軸ステージ24の動きは、Z軸エンコーダ36によって検出され、Z軸制御部26へフィードバックされる。X軸ステージ、Y軸ステージについても同様な構成で駆動される。各軸ステージのアクチュエータは、回転モータ、リニアモータ、ピエゾアクチュエータ等である。Z軸制御部26、X軸制御部28、Y軸制御部30、座標データ取得部22とホストPC35の間は、共有メモリやパラレルI/O、もしくはシリアルI/O等によって動作命令やデータの授受が行われる(図4)。
なお、ここの説明では、閉ループのサーボ機構を例にしたが、パルスモータ等の開ループ機構であっても成立する。また、各軸ステージの位置検出をエンコーダに代えて、前記レーザ測長器の出力を使用することも可能である。形状測定モード時は、Z軸ステージ24のZ軸エンコーダ36をプローブ出力25に切り換えて、被測定物表面をプローブで倣う追従制御を行う。また、本装置では、各駆動軸の制御部26、28、30を分離した構成としているが、ホストPC35に相当する演算処理部に処理能力がある場合は、ここで処理することも可能である。本装置では、ホストPC35の負荷を低減する目的と、座標データのサンプリング間隔の正確さと高速化、各軸制御系のリアルタイム性を実現するために、別構成としている。また、ここでは、ホストPC35が動作の統括をしている例を説明したが、ワークステーションやシーケンサ、専用ハードウェアによって動作の統括をしてもよい。
図3では、追従異常判定部32と速度異常判定部33の両方をホストPC35内に構築した例を示したが、追従異常判定部32、速度異常判定部33のいずれか一方もしくは両方をZ軸制御部26内に構築することも可能であり、この場合は、判定結果をホストPC35が受けて、異常判定時の動作命令処理を行うことになる。Z軸制御部26内部で、追従異常判定と速度異常判定の2つの異常判定を行うことにより、異常判定の高速化が可能となる。
【0014】
次に図1に示した触針式プローブを使用する場合のZ軸制御部26の動作について図5のブロック線図、図6のフローチャート及び図7のZ軸変位と時間の関係図を用いて説明する。なお、図5の破線で囲まれた部分が図3のZ軸制御部26に相当する。まず、図5によって位置決めモードの場合と形状測定モードの場合について説明し、次に、図6及び図7によって動作の詳細について説明する。Z軸ステージを所定の位置へ移動させる通常の位置決めモードでは、ホストPC35の動作命令を受け、第1の制御手段としての動作制御部55が切換器47を切り換えることによって、Z軸エンコーダ52を使用する位置決めモードに切り換える。同時に、目標位置42にZrefをセットする。
目標位置42のZrefとZ軸エンコーダ36の値Zは、比較器43で比較され、偏差(比較値)は補償器48へ入力される。Z軸ドライバ37は補償器48の演算出力に応じた電流もしくは電圧をZ軸アクチュエータ50に流し、Z軸ステージ24が目標位置へ位置決めされる。なお、図5は速度フィードバックループがない形であるが、位置フィードバックループの内側に、速度フィードバックループを備えてもよい。
形状測定モードでは、ホストPC35の動作命令を受け、動作制御部55は切換器47をプローブの変位計9の出力dZを使用する追従モードに切り換える。同時に、目標荷重44にfprefをセットする。目標荷重44にセットされたfprefは1/Kpnom45においてバネ定数Kpnomで除算され、目標変位dZrefが算出される。目標変位dZrefと、変位計の出力dZからプローブの初期値dZ0を除いた値、すなわちプローブ変位dZ−dZ0は比較器46で比較され、補償器48へ入力される。Z軸ドライバ37は補償器48の演算出力に応じた電流もしくは電圧をZ軸アクチュエータ50に流し、Z軸ステージ24はプローブの出力が目標変位dZrefとなるように制御される。Z軸エンコーダの出力Z及び変位計出力dZは動作制御部55で検出され、ホストPCへ伝達される。
動作制御部55の内部に備えられた追従異常判定部は形状測定モードにおける追従モード時に比較器46の出力の偏差もしくはプローブ変位dZ−dZ0を監視し、その値が所定の範囲を外れた場合、追従モードから位置決めモードに切り換える。同時に、追従異常を判定しホストPC35へ伝達する(第1の追従判定方法)。追従異常を判定するための所定の値についての説明は後述する。なお、目標荷重44にセットされるfprefや追従異常判定の所定の範囲はホストPC35より動作制御部55へ伝達される。
【0015】
動作の詳細を図6のフローチャートで説明する。追従モードでは、まず、ステップS1でXY軸ステージ走査を行い、触針式プローブによって被測定物の表面を走査する。そして、ステップS2でdZが所定の範囲外にあるか判定を行う。dZが範囲内である場合は(ステップS2でNO)、ステップS1に戻ってステージの走査を行い、範囲を外れた場合は(ステップS2でYES)、Z軸は位置決めモードに切り換えられ同時にXYZ軸ステージを停止させる(ステップS3)。次に、追従エラーをホストPC35へ伝達し(ステップS4)、Z軸ステージを退避させる(ステップS5)。
一般的にdZが所定範囲から外れる大きな原因は、被測定物表面のゴミであるため、ゴミを避けることができれは、測定を続けられる。継続して測定を行うために、ステップS6でZ軸を駆動させてdZ探索動作を行う。dZの検出判定を行い(ステップS7)、検出できた場合(ステップS7でYES)、Z軸を追従モードに切り換えXY軸ステージを走査させて(ステップS8)、測定を再開する。dZを検出できない場合は(ステップS7でNO)、ステップS9へ移ってdZの探索範囲外であるか判定し、範囲内であれば(ステップS9でNO)、ステップS6へ戻ってdZ探索動作を行う。一方、探索範囲を外れた場合は(ステップS9でYES)、dZ探索エラーをホストPCへ伝達する(ステップS10)。
【0016】
図7はZ軸の動きと時間との関係を示したものである。図6のフローチャートで説明した動作を図7を用いて説明すると、被測定物表面の走査中にプローブの変位出力値が所定の範囲から外れたことが検出されると(異常検出)、プローブは被測定物表面から離れる方向に退避する(退避動作)。プローブは制定動作の後、退避動作を行う前の地点を探索し(探索動作)、同地点が検出できた場合は測定の継続を開始する。
追従異常を判定するための所定の値について図8を用いて説明する。追従モードにおける目標変位dZrefは目標荷重fprefをバネ定数Kpnomで除算した値となる。目標荷重は被測定物が傷つかない程度の荷重を設定する。例えば、プラスチックレンズ等では0.2mN〜1mN程度の低荷重を選定する。測定精度を上げる場合、走査時の接触荷重のばらつきも問題になるため前記所定の範囲に相当する目標変位からの許容偏差は小さくする必要ある。しかし、許容偏差を小さくすると、Z軸の追従遅れや、微小なゴミ、プローブの微小振動等によって、追従異常となってしまう。
本実施の形態の形状測定装置では、要求される測定精度や走査速度に応じて、動作制御部55が許容偏差を広げたり狭めたり変化させることができる(第1の制御方法)。その構成は、Z軸制御部26とホストPC35間のデータの授受によって行われる。データの授受は、上述したように、図4記載の共有メモリやパラレルI/O、もしくはシリアルI/O等によって行われ、Z軸制御部26がそのデータを読み込むことによって、追従判定の所定の値が設定される。
【0017】
図8において、ホストPC35は通常の走査モード(測定モード)では正方向の許容偏差をδU0、負方向の許容偏差をδL0として設定する。走査モードにおいて、dZ−dZ0がこの範囲を外れた場合、追従異常となりステージは停止する。しかし、被測定物の端面を検出するエッジ検出モードでは、安全のためエッジを検出した瞬間に瞬間的にステージを停止させたい。よって、変位領域としての正方向の許容偏差δU0および負方向の許容偏差δL0よりも許容偏差を小さくした正方向の許容偏差δU1、負方向の許容偏差δL1を使用することによって、変位領域の範囲を狭く設定し、より速くステージを停止できるようになる。
この実施の形態の形状測定装置では、追従異常判定部は被測定物のエッジ(端面)を検出するための第1の端面判定手段としての機能も備えている。図9のように急峻な端面であれば、プローブ出力も急激に変動するためエッジの検出は容易であるが、面取りやRのある端面では、Z軸ステージがプローブ出力に追従してしまうため、プローブ出力の変動も小さくなり、エッジ検出は困難になってくる。そこで、追従異常判定でも使用する目標値の所定の許容範囲を狭めることにより、エッジを検出しやすくしている。
ホストPCは追従モードの正方向の許容偏差δU0、負方向の許容偏差δL0に代えて、許容偏差を小さくした正方向の許容偏差δU1、負方向の許容偏差δL1を動作制御部に伝達する(第1の制御方法)。動作制御部にある追従異常判定部は、dZ−dZ0が設定範囲を外れた場合、エッジ検出完了をホストPC35へ伝達する。ホストPC35はステージを停止させる(第1の端面判定方法)。
【0018】
図10のフローチャートを用いて説明すると、まず、ステップS13でXY軸ステージ走査を行い、触針式プローブによって被測定物の表面を走査する。そして、ステップS14でdZが所定の範囲外にあるか判定を行う。dZが範囲内である場合は(ステップS14でNO)、ステップS13に戻ってステージの走査を行い、範囲を外れた場合は(ステップS14でYES)、ステップS15でエッジ検出完了をホストPC35へ伝達し、XYZ軸ステージを停止させる(ステップS16)。
したがって、Z軸制御部26に追従異常判定部を備えた場合の形状測定装置及び形状測定装置の制御方法では、予め設定されたプローブの変位出力の目標値から所定の範囲にある変位領域の範囲を変更できる動作制御部55を備えたことによって、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、変位領域の範囲を変更し、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
また、プローブの変位出力値が変位領域から外れたとき、ステージ機構の追従及び走査動作から停止動作に切換える動作制御部55を備えたことによって、測定中の異常確認時に測定動作を停止できる。その結果、安全な測定動作を行うことができる。
また、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、停止動作を行う直前の位置にプローブが復帰するように探索動作を行う動作制御部55を備えたことによって、測定中の異常によって測定動作を停止しても、再度測定を続けることができるようになる。その結果、測定動作を最初からやり直す必要がなくなり、安全性と測定の高効率化を両立する動作を行うことができる。
また、プローブの変位出力値が変位領域から外れた場合、追従異常と判定する追従異常判定部を備えたことによって、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
【0019】
また、被測定物の表面を走査して端面を検出するために変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定する動作制御部55を備えたことによって、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激にプローブの変位出力値が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
また、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した変位領域からプローブの変位出力値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定する追従異常判定部を備えたことにより、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、形状測定装置側で被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
また、第1の制御方法において、予め設定されたプローブの変位出力の目標値から所定の範囲にある変位領域の範囲を変更できるようにしたので、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、変位領域の範囲を変更し、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
また、第1の追従判定方法において、プローブの変位出力値が変位領域から外れた場合、追従異常と判定するようにしたので、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
また、第1の制御方法において、被測定物の表面を走査して端面を検出するために変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定するようにしたので、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激にプローブの変位出力値が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
また、第1の端面判定方法において、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した変位領域からプローブの変位出力値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定するようにしたので、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、形状測定装置側で被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
【0020】
続いて、速度異常判定部を備えた場合のZ軸制御部26の動作について図11のブロック線図及び図12のフローチャートを用いて説明する。図11において、破線で囲まれた部分が図3のZ軸制御部26に相当する。この場合は図5の動作制御部55を第2の制御手段としての動作制御部58に置き換え、さらに、Z軸の速度検出をするdu/dt59が備えられる。du/dt59から出力される速度信号vZは動作制御部58内に備えられた速度異常判定部において監視され、所定の範囲を外れた場合、速度異常を判定しホストPC35へ伝達する(第2の追従判定方法)。追従モード時に速度異常を判定した場合、追従モードから位置決めモードに切り換える(第2の制御方法)。速度異常を判定するための所定の値についての説明は後述する。なお、速度異常判定の所定の範囲はホストPC35より動作制御部58へ伝達される。
【0021】
動作の詳細を図12のフローチャートで説明する。追従モードでは、まず、ステップS21でXY軸ステージ走査を行い、触針式プローブによって被測定物の表面を走査する。そして、ステップS22でvZが所定の範囲外にあるか判定を行う。vZが範囲内である場合は(ステップS22でNO)、ステップS21に戻ってステージの走査を行い、範囲を外れた場合は(ステップS22でYES)、Z軸は位置決めモードに切り換えられ同時にXYZ軸ステージを停止させる(ステップS23)。次に、速度エラーをホストPC35へ伝達し(ステップS24)、Z軸ステージを退避させる(ステップS25)。
継続して測定を行うために、ステップS26でZ軸を駆動させてdZ探索動作を行う。dZの検出判定を行い、検出できた場合(ステップS27でYES)、Z軸を追従モードに切り換えXY軸ステージを走査させて(ステップS28)、測定を再開する。一方、dZを検出できない場合は(ステップS27でNO)、ステップS29へ移ってdZの探索範囲外であるか判定し、範囲内であれば(ステップS29でNO)、ステップS26へ戻ってdZ探索動作を行う。探索範囲を外れた場合は(ステップS29でYES)、dZ探索エラーをホストPC35へ伝達する(ステップS30)。
【0022】
速度異常を判定するための所定の値について図13を用いて説明する。追従モード時のZ軸の速度は、被測定物表面の形状と走査速度に依存したものとなるため、その速度を大きく外れる場合は、Z軸の追従に異常がある可能性がある。また、上述したようなエッジ検出においては瞬間的にステージを停止させたい。追従異常判定に加えて、速度異常判定を加えた場合は、2重の安全対策をすることもできる。
本実施の形態の形状測定装置では、要求される測定精度や走査速度に応じて、動作制御部58が許容速度を変化させることができる(第2の制御方法)。その構成は、Z軸制御部とホストPC間のデータの授受によって行われる。データの授受は、上記で説明したように、図4記載の共有メモリやパラレルI/O、もしくはシリアルI/O等によって行われ、Z軸制御部がそのデータを読み込むことによって、速度異常判定の所定の値が設定される。
図13はその一例である。ホストPC35は通常の走査モード(測定モード)では正方向の許容速度をvZU0、負方向の許容速度をvZL0として設定する。走査モードにおいて、vZがこの範囲を外れた場合、速度異常となりステージは停止する。しかし、被測定物の端面を検出するエッジ検出モードでは、安全のためエッジを検出した瞬間に瞬間的にステージを停止させたい。よって、前記正方向の許容速度vZU0、負方向の許容速度vZL0よりも許容速度を小さくした正方向の許容速度vZU1、負方向の許容速度vZL1を使用することによって、速度領域の範囲を狭く設定し、より速くステージを停止できるようになる。この実施の形態の形状測定装置では、速度異常判定部は被測定部のエッジ(端面)を検出するための第2の端面判定手段としての機能も備えている。ホストPC35は追従モードの正方向の正方向の許容速度をvZU0、負方向の許容速度をvZL0に代えて、許容速度を小さくした正方向の許容速度vZU1、負方向の許容速度vZL1を動作制御部に伝達する(第2の制御方法)。動作制御部にある速度異常判定部は、vZが設定範囲を外れた場合、エッジ検出完了をホストPC35へ伝達する。ホストPC35はステージを停止させる(第2の端面判定方法)。
【0023】
図14のフローチャートを用いて説明すると、まず、ステップS33でXY軸ステージ走査を行い、触針式プローブによって被測定物の表面を走査する。そして、ステップS34でvZが所定の範囲外にあるか判定を行う。vZが範囲内である場合は(ステップS34でNO)、ステップS33に戻ってステージの走査を行い、範囲を外れた場合は(ステップS34でYES)、エッジ検出完了をホストPC35へ伝達し(ステップS35)、XYZ軸ステージを停止させる(ステップS36)。
したがって、Z軸制御部26に速度異常判定部を備えた場合の形状測定装置及び形状測定装置の制御方法では、プローブを被測定物表面に追従させるステージ機構の追従時の移動速度を検出し、予め設定された所定の範囲の速度領域から移動速度が外れたとき、ステージ機構が所定の動作をするように制御する動作制御部58を備えたことによって、測定時の追従異常を検出し、所定の異常回避動作を行うことができる。その結果、安全で高精度な測定動作を行うことが可能となる。また、プローブの変位出力だけでは検出できない異常も検出できるようになる。
また、ステージ機構の追従時の移動速度の速度領域の範囲を変更できる動作制御部58を備えることによって、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、また、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
また、追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換える動作制御部58を備えたことによって、測定中の異常確認時に測定動作を停止できる。その結果、安全な測定動作を行うことができる。
【0024】
また、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、停止動作を行う直前の位置にプローブが復帰するように探索動作を行う動作制御部58を備えたことによって、測定中の異常によって測定動作を停止しても、再度測定を続けることができるようになる。その結果、測定動作を最初からやり直す必要がなくなり、安全性と測定の高効率化を両立する動作を行うことができる。
また、ステージ機構の追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、追従異常と判定する速度異常判定部を備えたことによって、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
また、被測定物の表面を走査して端面を検出するためにステージ機構の移動速度の速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定する動作制御部58を備えたことによって、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激に移動速度が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
また、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した速度領域からステージ機構の移動速度の値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定する速度異常判定部を備えたことにより、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
【0025】
また、第2の制御方法において、プローブを被測定物表面に追従させるステージ機構の追従時の移動速度を検出し、予め設定された所定の範囲の速度領域から移動速度が外れたとき、ステージ機構が所定の動作をするようにしたので、測定時の追従異常を検出し、所定の異常回避動作を行うことができる。その結果、安全で高精度な測定動作を行うことが可能となる。また、プローブの変位出力だけでは検出できない異常も検出できるようになる。
また、第2の制御方法において、ステージ機構の追従時の移動速度の速度領域の範囲を変更できるようにしたので、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、また、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
また、第2の追従判定方法において、ステージ機構の追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、追従異常と判定するようにしたので、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
また、第2の制御方法において、被測定物の表面を走査して端面を検出するためにステージ機構の移動速度の速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定するようにしたので、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激に移動速度が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
また、第2の端面判定方法において、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した速度領域からステージ機構の移動速度の値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定するようにしたので、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
なお、この実施の形態では、追従異常判定部を備えた構成と、速度異常判定部を備えた構成を分けて説明したが、1つの装置内部に構築することが可能であり、それにより安全性をより高めることができる。また、Z軸制御部26、X軸制御部28、Y軸制御部30における動作はアナログ回路やデジタル回路で構築可能であるが、CPUやDSPによるソフトウェアでも構築できる。
【0026】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1によれば、予め設定されたプローブの変位出力の目標値から所定の範囲にある変位領域の範囲を変更できる第1の制御手段を備えたことによって、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、変位領域の範囲を変更し、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、安全で高精度な測定動作を行うことができる。請求項2によれば、プローブの変位出力値が変位領域から外れたとき、ステージ機構の追従及び走査動作から停止動作に切換える第1の制御手段を備えたことによって、測定中の異常確認時に測定動作を停止できる。その結果、安全な測定動作を行うことができる。
請求項3によれば、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、停止動作を行う直前の位置にプローブが復帰するように探索動作を行う第1の制御手段を備えたことによって、測定中の異常によって測定動作を停止しても、再度測定を続けることができるようになる。その結果、測定動作を最初からやり直す必要がなくなり、安全性と測定の高効率化を両立する動作を行うことができる。
請求項4によれば、プローブの変位出力値が変位領域から外れた場合、追従異常と判定する第1の追従判定手段を備えたことによって、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
請求項5によれば、被測定物の表面を走査して端面を検出するために変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定する第1の制御手段を備えたことによって、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激にプローブの変位出力値が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
請求項6によれば、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した変位領域からプローブの変位出力値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定する第1の端面判定手段を備えたことにより、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、形状測定装置側で被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
請求項7によれば、プローブを被測定物表面に追従させるステージ機構の追従時の移動速度を検出し、予め設定された所定の範囲の速度領域から移動速度が外れたとき、ステージ機構が所定の動作をするように制御する第2の制御手段を備えたことによって、測定時の追従異常を検出し、所定の異常回避動作を行うことができる。その結果、安全で高精度な測定動作を行うことが可能となる。また、プローブの変位出力だけでは検出できない異常も検出できるようになる。
【0027】
請求項8によれば、ステージ機構の追従時の移動速度の速度領域の範囲を変更できる第2の制御手段を備えることによって、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、また、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
請求項9によれば、追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換える第2の制御手段を備えたことによって、測定中の異常確認時に測定動作を停止できる。その結果、安全な測定動作を行うことができる。
請求項10によれば、ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、停止動作を行う直前の位置にプローブが復帰するように探索動作を行う第2の制御手段を備えたことによって、測定中の異常によって測定動作を停止しても、再度測定を続けることができるようになる。その結果、測定動作を最初からやり直す必要がなくなり、安全性と測定の高効率化を両立する動作を行うことができる。
請求項11によれば、ステージ機構の追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、追従異常と判定する第2の追従判定手段を備えたことによって、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
請求項12によれば、被測定物の表面を走査して端面を検出するためにステージ機構の移動速度の速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定する第2の制御手段を備えたことによって、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激に移動速度が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
請求項13によれば、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した速度領域からステージ機構の移動速度の値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定する第2の端面判定手段を備えたことにより、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
【0028】
請求項14によれば、第1の制御方法において、予め設定されたプローブの変位出力の目標値から所定の範囲にある変位領域の範囲を変更できるようにしたので、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、変位領域の範囲を変更し、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
請求項15によれば、第1の追従判定方法において、プローブの変位出力値が変位領域から外れた場合、追従異常と判定するようにしたので、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
請求項16によれば、第1の制御方法において、被測定物の表面を走査して端面を検出するために変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定するようにしたので、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激にプローブの変位出力値が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
請求項17によれば、第1の端面判定方法において、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した変位領域からプローブの変位出力値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定するようにしたので、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、形状測定装置側で被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
請求項18によれば、第2の制御方法において、プローブを被測定物表面に追従させるステージ機構の追従時の移動速度を検出し、予め設定された所定の範囲の速度領域から移動速度が外れたとき、ステージ機構が所定の動作をするようにしたので、測定時の追従異常を検出し、所定の異常回避動作を行うことができる。その結果、安全で高精度な測定動作を行うことが可能となる。また、プローブの変位出力だけでは検出できない異常も検出できるようになる。
請求項19によれば、第2の制御方法において、ステージ機構の追従時の移動速度の速度領域の範囲を変更できるようにしたので、走査条件もしくは測定条件に応じた安全な動作設定が可能となる。その結果、走査速度重視の測定条件、測定精度重視の測定条件等の設定ができ、また、安全で高精度な測定動作を行うことができる。
【0029】
請求項20によれば、第2の追従判定方法において、ステージ機構の追従時の移動速度が所定の速度領域から外れたとき、追従異常と判定するようにしたので、プローブの走査状態を監視することができる。その結果、走査状態に対応して所望の動作設定が可能となり、安全性を向上させることができる。
請求項21によれば、第2の制御方法において、被測定物の表面を走査して端面を検出するためにステージ機構の移動速度の速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定するようにしたので、通常の形状測定時よりもプローブの異常検知が厳しくなる。その結果、急激に移動速度が変化する場合の被測定物端面を早いタイミングで検出でき、安全な端面検出動作を行うことができる。
請求項22によれば、第2の端面判定方法において、通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した速度領域からステージ機構の移動速度の値が外れた場合、被測定物の端面を検出したと判定するようにしたので、端面を検出した判定ができるようになる。その結果、被測定物の端面を早いタイミングで検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】形状測定装置の要部(触針式プローブ8)の部品構成を示す平面図である。
【図2】形状測定装置の正面図である。
【図3】形状測定装置の制御回路を示すブロック図である。
【図4】各軸の制御部及び座標データ取得部22とホストPC35の間のデータの授受を説明する図である。
【図5】追従異常判定部を備えた場合のZ軸制御部26の動作を説明するブロック線図である。
【図6】追従異常判定部を備えた場合のZ軸制御部26の動作を説明するフローチャートである。
【図7】Z軸変位と時間の関係を示す図である。
【図8】追従異常を判定するための所定の変位領域を示す説明図である。
【図9】エッジ(端面)検出時のプローブの動きを示す図である。
【図10】追従異常判定部によって端面を検出するときの動作を示すフローチャートである。
【図11】速度異常判定部を備えた場合のZ軸制御部26の動作を説明するブロック線図である。
【図12】速度異常判定部を備えた場合のZ軸制御部26の動作を説明するフローチャートである。
【図13】速度異常を判定するための所定の変位領域を示す説明図である。
【図14】速度異常判定部によって端面を検出するときの動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 真球、2 触針子、4 ハウジング、5 静圧空気軸受、6 吸気孔、7ばね、8 触針式プローブ、9 変位計、11 リニアエンコーダ、12 X軸用レーザ測長器、13 Y軸用レーザ測長器、14 Z軸用レーザ測長器、15、16、17 基準ミラー、19 被測定物取付治具、20 被測定物、22座標データ取得部、23 座標データ記憶部、24 Z軸ステージ、25 プローブ出力、26 Z軸制御部、27 X軸ステージ、28 X軸制御部、29Y軸ステージ、30 Y軸制御部、31 動作指令部、32 追従異常判定部、33 速度異常判定部、34 測定条件設定部、35 ホストPC、36 Z軸エンコーダ、37 Z軸ドライバ、42 目標位置、43、46 比較器、44 目標荷重、45 1/Kpnom、47 切換器、48 補償器、50 Z軸アクチュエータ、52 Z軸エンコーダ、55、58 動作制御部、59 du/dt
Claims (22)
- プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定し、形状測定時の前記プローブの変位出力値が前記目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするようになされた形状測定装置であって、
前記変位領域の範囲を変更できる第1の制御手段を備えたことを特徴とする形状測定装置。 - 前記第1の制御手段は前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れたとき、前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えることを特徴とする請求項1記載の形状測定装置。
- 前記第1の制御手段は前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、前記停止動作を行う直前の位置に前記プローブが復帰するように探索動作を行うことを特徴とする請求項2記載の形状測定装置。
- 前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れた場合、追従異常と判定する第1の追従判定手段を備えたことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の形状測定装置。
- 前記第1の制御手段によって、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定したことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の形状測定装置。
- 前記プローブの変位出力値が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記変位領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第1の端面判定手段を備えたことを特徴とする請求項5記載の形状測定装置。
- プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定する形状測定装置において、
形状測定における前記プローブによる走査時に前記ステージ機構の追従時の移動速度を検出し、前記移動速度が予め設定された所定の範囲の速度領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするように制御する第2の制御手段を備えたことを特徴とする形状測定装置。 - 前記第2の制御手段は前記速度領域を変更できることを特徴とする請求項7記載の形状測定装置。
- 前記第2の制御手段は前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の形状測定装置。
- 前記第2の制御手段は前記ステージ機構の追従及び走査動作を停止動作に切換えた後、前記停止動作を行う直前の位置に前記プローブが復帰するように探索動作を行うことを特徴とする請求項9記載の形状測定装置。
- 前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、追従異常と判定する第2の追従判定手段を備えたことを特徴とする請求項7から請求項10のいずれかに記載の形状測定装置。
- 前記第2の制御手段によって、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定したことを特徴とする請求項7から請求項9のいずれかに記載の形状測定装置。
- 前記移動速度が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記速度領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第2の端面判定手段を備えたことを特徴とする請求項12記載の形状測定装置。
- プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定し、形状測定時の前記プローブの変位出力値が前記目標値から所定の範囲にある変位領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするようになされた形状測定装置の制御方法であって、
前記変位領域の範囲を変更できる第1の制御方法を備えたことを特徴とする形状測定装置の制御方法。 - 前記プローブの変位出力値が前記変位領域から外れた場合、追従異常と判定する第1の追従判定方法を備えたことを特徴とする請求項14記載の形状測定装置の制御方法。
- 前記第1の制御方法において、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記変位領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定したことを特徴とする請求項14から請求項15のいずれかに記載の形状測定装置の制御方法。
- 前記プローブの変位出力値が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記変位領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第1の端面判定方法を備えたことを特徴とする請求項16記載の形状測定装置の制御方法。
- プローブと前記プローブを搭載したステージ機構を備え、前記プローブの変位出力の値が予め設定された目標値となるように前記ステージ機構が被測定物の表面を追従及び走査し、前記プローブの軌跡の座標を取得することによって前記被測定物の表面の形状を測定する形状測定装置の制御方法において、
形状測定における前記プローブによる走査時に前記ステージ機構の追従時の移動速度を検出し、前記移動速度が予め設定された所定の範囲の速度領域から外れたとき、前記ステージ機構が所定の動作をするように制御する第2の制御方法を備えたことを特徴とする形状測定装置の制御方法。 - 前記第2の制御方法によって前記速度領域を変更できることを特徴とする請求項18記載の形状測定装置の制御方法。
- 前記移動速度が前記速度領域から外れた場合、追従異常と判定する第2の追従判定方法を備えたことを特徴とする請求項18又は請求項19に記載の形状測定装置の制御方法。
- 前記第2の制御方法において、前記被測定物の表面を走査し前記被測定物の端面を検出するために前記速度領域の範囲を通常の形状測定の走査時よりも狭く設定したことを特徴とする請求項18から請求項20のいずれかに記載の形状測定装置の制御方法。
- 前記移動速度が通常の形状測定の走査時よりも狭く設定した前記速度領域の範囲から外れた場合、前記被測定物の端面を検出したと判定する第2の端面判定方法を備えたことを特徴とする請求項21記載の形状測定装置の制御方法。
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