JP2005022769A - Handling device for chip electronic component and handling method for chip electronic component - Google Patents

Handling device for chip electronic component and handling method for chip electronic component Download PDF

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JP2005022769A
JP2005022769A JP2003187270A JP2003187270A JP2005022769A JP 2005022769 A JP2005022769 A JP 2005022769A JP 2003187270 A JP2003187270 A JP 2003187270A JP 2003187270 A JP2003187270 A JP 2003187270A JP 2005022769 A JP2005022769 A JP 2005022769A
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chip
type electronic
electronic component
disk
transfer
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Inventor
Masanobu Iwasa
昌信 岩佐
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a chip electronic component handling device and a chip electronic component handling method having fewer restrictions of operation at the time of delivery of chip electronic components and enabling high-speed and effective processing of the chip electronic components. <P>SOLUTION: A product inspecting device is provided with a disciform drum 10 for conveyance, a disciform disc 55 for conveyance, a parts feeder 60 comprised of a ball feeder 61 and a linear feeder 62, a delivery mechanism part 63 and takeout mechanism parts 64, 65. Outermost peripheries of the disciform drum 10 for conveyance and the disciform disc 55 for conveyance have a structure preventing them from invading into the other's rotating region (from interfering with each other). Regrading the disc 55 for conveyance, a position for gripping or sucking and holding the chip electric components 70 is not predetermined, and the chip electronic components 70 may be properly placed on arbitrary positions of an outer peripheral edge part. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ型電子部品の取扱い装置およびチップ型電子部品の取扱い方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、チップ型コンデンサなどのチップ型電子部品の電気測定や外観検査を行い、その結果に基づいて良品、不良品を選別する装置として、特許文献1〜特許文献3に記載された装置が知られている。
【0003】
特許文献1および特許文献2の装置は、チップ型電子部品を保持するための把持機構や吸着保持口を、それぞれ外周面に形成した第1回転テーブルと第2回転テーブルを備えている。図5は、特許文献1の装置の第1回転テーブル1と第2回転テーブル2の配置状態を示す図である。回転テーブル1と回転テーブル2は、吸着保持口3が互いにオーバラップする状態で直交して配置されている。そして、第1回転テーブル1の吸着保持口3に保持されて搬送されてきたチップ型電子部品が受け渡し位置に到達すると、吸着保持口3での吸引力を低下させる。すると、チップ型電子部品は、第2回転テーブル2の吸着保持口3にスムーズに移動し、吸着保持されることになる。
【0004】
また、特許文献3の装置は、図6に示すように、ボールフィーダ6およびリニアフィーダ7からなるパーツフィーダ5と、水平面で連続回転する透明円板8とを備えている。ボールフィーダ6内のチップ型電子部品70はリニアフィーダ7を通って、その先端部から自重で透明円板8の上面縁部に1個づつ落下して載置される。透明円板8上に載置されたチップ型電子部品70は、透明円板8の回転に伴って搬送される。
【0005】
【特許文献1】
特開平9−315566号公報
【特許文献2】
特開2002−19957号公報
【特許文献3】
特開平4−107000号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、特許文献1および特許文献2の装置は、第1回転テーブル1と第2回転テーブル2にそれぞれ形成された把持機構や吸着保持口3を互いに位置合わせするとともに、第1回転テーブル1と第2回転テーブル2を同期させて回転駆動する必要がある。
【0007】
さらに、図5に示すように、回転テーブル1,2は、最外周が互いに他の回転テーブルの回転領域に入り込んでいるため、チップ型電子部品の受け渡し位置には、必ずいずれか一方の回転テーブルの吸着保持口3がきていなければならない。従って、チップ型電子部品を渡した第1回転テーブル1は、チップ型電子部品を渡された第2回転テーブル2が回転して次の空の吸着保持口3が受け渡し位置に達するまで、その位置に停止していなければならず、動作が限定されていた。
【0008】
また、特許文献2の装置のように、チップ型電子部品を機械的に把持すると、受け渡しミスや部品の欠けなどの不具合を発生し易いという心配があった。さらに、この把持機構は、受け渡しの際に開閉ピンの挿入、引抜などの動作を伴うため、高速搬送に不適であった。
【0009】
また、図6に示す特許文献3の装置は、透明円板8上にチップ型電子部品70の相互間隔を充分にあけるために、透明円板8の回転速度をパーツフィーダ5の搬送速度より大きくしている。しかし、パーツフィーダ5が1分間に排出するチップ型電子部品70の数はばらついており、例えば100個/分以上の部品排出数のばらつきが生じることもある。そのため、実際の透明円板8の回転速度は、パーツフィーダ5の部品排出数の最大値に合わせて設定しなければならなかった。この結果、パーツフィーダ5の部品排出数が少ないときには、チップ型電子部品70の相互間隔が必要以上に大きくあいてしまい、透明円板8の回転速度に対して処理数が少ないという問題があった。
【0010】
そこで、本発明の目的は、チップ型電子部品の受け渡しの際の動作に制限が少なく、高速かつ効率良くチップ型電子部品を処理することができるチップ型電子部品の取扱い装置およびチップ型電子部品の取扱い方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段および作用】
前記目的を達成するため、本発明に係るチップ型電子部品の取扱い装置は、
(a)チップ型電子部品を外周面に保持して搬送する搬送用ドラムと、
(b)チップ型電子部品を、略水平に配置された主面上に載置して搬送する搬送用ディスクとを備え、
(c)前記搬送用ドラムと前記搬送用ディスクを所望の間隔を設けて配置し、チップ型電子部品を、前記搬送用ドラムの外周面と前記搬送用ディスクの主面上との間で移し替えること、
を特徴とする。
【0012】
以上の構成により、チップ型電子部品は、所望の時間間隔で搬送用ドラムの外周面と搬送用ディスクの主面上との間で移し替えられる。ここに、例えば搬送用ドラムから搬送されてくるチップ型電子部品の時間間隔に基づいて、搬送用ディスクの回転速度を適宜設定することにより、搬送用ディスク上のチップ型電子部品の相互間隔が最適値になる。この結果、搬送用ディスク上のチップ型電子部品の相互間隔が必要以上に大きくならず、効率良くチップ型電子部品を処理することができる。
【0013】
また、このように、チップ型電子部品を、搬送用ドラムの外周面から搬送用ディスクの主面上へ移し替える場合、搬送用ドラムと互いに同期をとることなく、独立して回転駆動できる。
【0014】
また、搬送用ディスクを透明体にすることにより、搬送用ディスクの下方側から搬送用ディスクを通して搬送用ディスクに載置されたチップ型電子部品の底面を外観検査することができる。
【0015】
さらに、搬送用ディスクの主面上に、搬送用ディスクの回転方向に一列にチップ型電子部品を整列させる整列部材を設けることを特徴とする。これにより、搬送用ドラムから搬送用ディスクへの移し替えのときに、チップ型電子部品の姿勢を維持しなければならないという制約がなくなる。
【0016】
また、搬送用ドラムの外周面に保持されたチップ型電子部品を、空中搬送により、水平に配置された搬送用ディスクの主面縁部上に移し替える方法により、効率的にかつ高速にチップ型電子部品を搬送しながら電気測定もしくは外観検査を行うことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るチップ型電子部品の取扱い装置およびチップ型電子部品の取扱い方法の実施の形態について添付の図面を参照して説明する。各実施形態は、チップ型電子部品の取扱い装置として、製品検査装置を例にして説明するが、搬送装置などであってもよい。
【0018】
図1に示すように、製品検査装置は、円板状の搬送用ドラム10と、円板状の搬送用ディスク55と、ボールフィーダ61およびリニアフィーダ62から成るパーツフィーダ60と、受け渡し機構部63と、取り出し機構部64,65とを備えている。
【0019】
図2および図3に示すように、搬送用ドラム10の後面側には、円板状の固定ベース30と、搬送用ドラム10を回転駆動させる駆動用モータ40と、ハウジング50とが配設されている。
【0020】
筒状のハウジング50の左側端面50aには、駆動用モータ40がボルト51で固定されている。駆動用モータ40の回転軸41は、中継部材42を介してシャフト43に連結されている。中継部材42と回転軸41、並びに、中継部材42とシャフト43は、それぞれボルト45で固定されている。シャフト43は二つのボールベアリング46によって、回転自在の状態でハウジング50内に支持されている。シャフト43の先端部43aは、固定ベース30の中央部に設けられた穴30aを挿通して、搬送用ドラム10の中央部に接合している。
【0021】
搬送用ドラム10の外周面10aには、チップ型電子部品70を吸引保持するための吸引保持孔11が所望の間隔、例えば等間隔に形成されている。搬送用ドラム10の後面側には減圧源側孔13が形成されている。さらに、搬送用ドラム10内には、減圧源側孔13と吸引保持孔11を連通して繋ぐ空洞バッファ部12が、搬送用ドラム10の径方向に延在して形成されている。
【0022】
一方、固定ベース30は、ハウジング50の右側端面50bにボルト52で固定されている。固定ベース30には、円弧形状の減圧溝31が円環状に形成されている。この減圧溝31は、搬送用ドラム10の回転に伴って減圧源側孔13が移動する軌道に合わせた位置に配置されている。減圧溝31には、アダプタ39を介してその内部の空気を吸引する減圧装置(真空ポンプなど)が繋がっている。
【0023】
図4に示すように、固定ベース30の前面と搬送用ドラム10の後面の間には僅かな隙間Tが確保され、減圧溝31の前面は搬送用ドラム10の後面で略気密状に封止されている。このため、減圧溝31の形成範囲において、減圧源側孔13、空洞バッファ部12および吸引保持孔11のそれぞれの内部の空気が吸引され、吸引保持孔11の開口にチップ型電子部品70が吸引保持される。
【0024】
ここに、空洞バッファ部12の容積は、減圧源側孔13の容積や吸引保持孔11の容積より大きく設定されている。従って、搬送用ドラム10の回転の際、搬送用ドラム10の加工精度や回転時の振動によって隙間Tの寸法が変わって減圧源側孔13の減圧状態が変動したり、あるいは、減圧溝31の継ぎ目部分Pを減圧源側孔13が通過することによって減圧源側孔13の減圧状態が変動したりしても、その変動は、空洞バッファ12によって緩和される。従って、吸引保持孔11の吸引保持力は、減圧源側孔13の減圧状態の変動を受けにくくなる。この結果、チップ型電子部品70を吸引保持孔11によって安定してかつ確実に吸引保持することができる。
【0025】
また、図3に示すように、固定ベース30には、減圧溝31に隣接させて、減圧エアの供給を遮断することができるエア供給溝32,33が形成されている。エア供給溝32,33には、それぞれアダプタや電磁弁などを介して、減圧装置(真空ポンプ)が繋がっている。
【0026】
そして、例えば、検査で良品となったチップ型電子部品70がエア供給溝32に対応する位置に搬送されてきたとき、電磁弁を駆動してエア供給溝32へ減圧エアを供給するのを遮断し、搬送用ドラム10の吸着保持力を低下させる。これにより、良品のチップ型電子部品70は、自重で搬送用ディスク55の上面55aに落下して載置される。一方、検査で不良品となったチップ型電子部品70が搬送されてきたときは、電磁弁を駆動してエア供給溝32に減圧エアを供給して、さらに、エア供給溝33に対応する位置まで移送させる。エア供給溝33では電磁弁の駆動によって減圧エアの供給が遮断されており、不良品のチップ型電子部品70は取り出し機構部64の不良品トレイに排出される。
【0027】
なお、これらチップ型電子部品70を搬送用ドラム10から外す方法としては、前述の減圧エアの供給を遮断する方法の他に、吸着パッドを端部に有するアームなどによって機械的に外す方法や圧縮エアを供給する方法などがある。
【0028】
また、搬送用ドラム10の厚みdは、搬送用ドラム10に吸引保持されたチップ型電子部品70の搬送用ドラム厚み方向の外形寸法Lより薄く設定されている。具体的には、搬送用ドラム10の厚みdは0.5〜1.5mm(代表値:1.0mm)、直径は50〜170mm(代表値:160mm)である。また、チップ型電子部品70のサイズは、例えば、L:1.0〜2.0mm×W:0.5〜1.2mm×T:0.5〜0.95mmである。
【0029】
これにより、搬送中のチップ型電子部品70は、搬送用ドラム厚み方向の両端、すなわち、外部端子が搬送用ドラム10の縁部からはみ出すため、搬送用ドラム厚み方向からCCDカメラでチップ型電子部品70の両端面を外観検査したり、測定プローブで電気特性検査をしたりすることが可能となる。特に、本実施形態の場合、固定ベース30の外周面30aが搬送用ドラム10の外周面10aより内側に位置しているので、固定ベース30側から測定プローブをチップ型電子部品70の外部端子に接触させることが可能となる。
【0030】
搬送用ディスク55の下面側には、搬送用ディスク55を回転駆動させる駆動用モータ(図示せず)が配設されている。水平に配置された搬送用ディスク55は、所望の間隔Rを設けて、垂直に配置された搬送用ドラム10の下方に近接配置されている。
【0031】
搬送用ドラム10と搬送用ディスク55は最外周が互いに他の回転領域に入り込んでいない構造(干渉しない構造)である。従って、搬送用ドラム10と搬送用ディスク55はお互い、他方の回転とは独立して常に回転させることができ、チップ型電子部品70の処理速度を向上させることができる。
【0032】
また、搬送用ディスク55は、チップ型電子部品70を把持したり吸着保持したりする位置を予め決定しておらず、外周縁部の任意の位置に、適宜、チップ型電子部品70を載置すればよい。従って、搬送用ドラム10の吸引保持孔11との位置合わせも必要なく、搬送用ドラム10と搬送用ディスク55を同期させて回転駆動する必要もない。
【0033】
搬送用ディスク55はガラスや樹脂などの透明体でできている。このように、搬送用ディスク55を透明体で構成することにより、搬送用ディスク55の上面55aに載置されたチップ型電子部品70の底面を搬送用ディスク55の下側から搬送用ディスク55を通して外観検査することができる。
【0034】
次に、以上の構成からなる製品検査装置の動作について説明する。
図1に示すように、振動式のボールフィーダ61によって整列されたチップ型電子部品70は、順次、リニアフィーダ62によって受け渡し機構部63の位置まで振動搬送あるいは気流搬送される。受け渡し機構部63はアームなどを有しており、このアームでチップ型電子部品70を搬送用ドラム10の外周面10aに近接させる。近接のタイミングに合わせて、搬送用ドラム10の受け渡し機構部63に面した位置にある吸引保持孔11は真空ポンプによって減圧され、チップ型電子部品70は吸引保持孔11に吸引保持される。なお、受け渡し機構部63は、圧縮エアでチップ型電子部品70を搬送用ドラム10に渡すものであってもよい。
【0035】
搬送用ドラム10に受け渡されたチップ型電子部品70は、連続的に位置決め搬送されながら、チップ型電子部品70の両端面の外観検査や電気特性測定検査が行われる。搬送用ドラム10上でのチップ型電子部品70は、チップの長手方向が搬送用ドラム10の回転方向と直交する状態で保持されており、CCDカメラで両端面およびそれらの稜線(8本)の外観検査が行われる。搬送スピードは例えば約800m/分である。検査が終了したチップ型電子部品70は、受け渡しエリアに搬送される。搬送用ディスク55に面した位置にきた良品のチップ型電子部品70は、エア供給溝32への減圧エア供給が遮断されて、搬送用ドラム10の吸着保持力が低下することにより、自重で搬送用ディスク55の上面55aに落下して載置される。
【0036】
搬送用ドラム10はチップ型電子部品70を一個づつ分離して一定の速度で搬送しており、一定の時間間隔で搬送用ディスク55に移し替えられる。そこで、搬送用ドラム10から搬送されてくるチップ型電子部品70の時間間隔に基づいて、搬送用ディスク55の回転速度を適宜設定することにより、搬送用ディスク55上のチップ型電子部品70の相互間隔を量産に適した最適値(一定値)にすることができる。この結果、搬送用ディスク55上のチップ型電子部品70の相互間隔が必要以上に大きくならず、効率良くチップ型電子部品70を処理することができる。
【0037】
搬送用ディスク55上に移し替えられたチップ型電子部品70は、整列部材66によって位置や向きが修正される。このように、搬送用ディスク55がチップ型電子部品70を受け取った後に、搬送用ディスク55の回転方向に一列にチップ型電子部品70が整列される。従って、搬送用ドラム10から搬送用ディスク55への移し替えのときに、チップ型電子部品70の姿勢を維持しなければならないという制約がなくなる。
【0038】
整列されたチップ型電子部品70は、搬送用ディスク55によって検査エリアに搬送され、CCDカメラで残りの4側面と4稜線が外観検査される。検査が終了したチップ型電子部品70は排出エリアに搬送される。取り出し機構部65に面した位置にきたチップ型電子部品70は、電磁弁を駆動させて圧縮空気を送り込むことによって、良品と不良品に分けてそれぞれ搬送用ディスク55から外される。
【0039】
なお、取り出し機構部64を搬送用ディスク55側に設置し、不良品のチップ型電子部品70を取り出し機構部64の不良品トレイに排出し、良品のチップ型電子部品70を取り出し機構部65の良品トレイに排出してもよい。この場合、良品の中に不良品が混入することを防止するために、搬送用ディスク55の回転方向に沿って、取り出し機構部64、取り出し機構部65の順に配置させることが好ましい。さらに、取り出し機構部に排出できなかったチップ型電子部品70は、取り出し機構部65の後段に設けられた全数取り出し機構部(図示せず)に集められ、再びパーツフィーダ60内に戻される。
【0040】
以上の方法により、能率良くかつ円滑にチップ型電子部品70を搬送しながら、検査や測定をすることができる。
【0041】
なお、本発明に係るチップ型電子部品の取扱い装置およびチップ型電子部品の取扱い方法は前記実施形態に限定するものではなく。その要旨の範囲内で種々に変更することができる。例えば、搬送用ドラム10は必ずしも搬送用ディスク55に対して垂直に配置する必要はなく、平行あるいは傾斜させて配置してもよい。
【0042】
また、チップ型電子部品70を、先に搬送用ディスク55に供給して、4側面と4稜線の外観検査を行う。その後、チップ型電子部品70を吸着パッド付きアームなどによって引き上げて、搬送用ドラム10の外周面10aに吸着保持させ、両端面およびそれらの稜線(8本)の外観検査と電気特性測定装置をするようにしてもよい。ただし、この場合、搬送用ドラム10の外周面10aに形成した吸引保持孔11の位置に合わせて、搬送用ドラム10と搬送用ディスク55は互いに同期をとって回転駆動する必要がある。
【0043】
さらに、搬送用ドラム10と搬送用ディスク55で行う外観検査の面数および稜線の本数は、CCDカメラの設置に応じて任意に設定できる。
【0044】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、搬送用ドラムと搬送用ディスクは最外周が互いに他の回転領域に入り込んでいない構造(干渉しない構造)である。従って、搬送用ドラムと搬送用ディスクはお互い、他方の回転とは独立して常に回転させることができ、チップ型電子部品の処理速度を向上させることができる。また、搬送用ディスクは、チップ型電子部品を把持したり吸着保持したりする位置を予め決定しておらず、外周縁部の任意の位置に、適宜、チップ型電子部品を載置すればよい。従って、搬送用ドラムとの位置合わせも必要なく、搬送用ドラムと搬送用ディスクを同期させて回転駆動する必要もない。この結果、チップ型電子部品の受け渡しの際の動作に制限が少なく、高速かつ効率良くチップ型電子部品を処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るチップ型電子部品の取扱い装置の一実施形態を示す概略構成図。
【図2】図1に示されている搬送用ドラムの一部水平断面図。
【図3】図1に示されている搬送用ドラムの一部切り欠き正面図。
【図4】図2に示されているA部の拡大断面図。
【図5】従来のチップ型電子部品の取扱い装置を示す概略構成図。
【図6】従来の別のチップ型電子部品の取扱い装置を示す概略構成図。
【符号の説明】
10…搬送用ドラム
10a…外周面
55…搬送用ディスク
55a…上面(主面)
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a chip-type electronic component handling apparatus and a chip-type electronic component handling method.
[0002]
[Prior art]
For example, devices described in Patent Documents 1 to 3 are known as devices that perform electrical measurement and appearance inspection of chip-type electronic components such as chip-type capacitors and sort out non-defective products and defective products based on the results. ing.
[0003]
The devices of Patent Literature 1 and Patent Literature 2 include a first rotary table and a second rotary table in which a gripping mechanism and a suction holding port for holding a chip-type electronic component are formed on the outer peripheral surface, respectively. FIG. 5 is a diagram illustrating an arrangement state of the first rotary table 1 and the second rotary table 2 of the apparatus of Patent Document 1. The turntable 1 and the turntable 2 are arranged orthogonally with the suction holding ports 3 overlapping each other. When the chip-type electronic component held and conveyed by the suction holding port 3 of the first turntable 1 reaches the delivery position, the suction force at the suction holding port 3 is reduced. Then, the chip-type electronic component moves smoothly to the suction holding port 3 of the second rotary table 2 and is sucked and held.
[0004]
Further, as shown in FIG. 6, the apparatus of Patent Document 3 includes a parts feeder 5 including a ball feeder 6 and a linear feeder 7, and a transparent disk 8 that continuously rotates on a horizontal plane. The chip-type electronic components 70 in the ball feeder 6 pass through the linear feeder 7 and are dropped and placed one by one on the upper surface edge of the transparent disk 8 from its tip. The chip-type electronic component 70 placed on the transparent disk 8 is conveyed as the transparent disk 8 rotates.
[0005]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 9-315566 [Patent Document 2]
JP 2002-19957 A [Patent Document 3]
JP-A-4-107000 [0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the devices of Patent Literature 1 and Patent Literature 2 align the gripping mechanisms and suction holding ports 3 formed on the first rotary table 1 and the second rotary table 2 with each other, and the first rotary table 1 and the second rotary table 2 respectively. It is necessary to rotate the two-rotation table 2 in synchronization.
[0007]
Further, as shown in FIG. 5, the rotary tables 1 and 2 have their outermost circumferences mutually entering the rotary area of another rotary table, so that one of the rotary tables is always provided at the delivery position of the chip-type electronic component. The suction holding port 3 must be open. Accordingly, the first rotary table 1 that has passed the chip-type electronic component is moved to the position until the second empty table 2 to which the chip-type electronic component has been passed rotates and the next empty suction holding port 3 reaches the delivery position. The operation had to be limited.
[0008]
Further, when the chip-type electronic component is mechanically gripped as in the device of Patent Document 2, there is a concern that problems such as delivery mistakes and chipping of components are likely to occur. Further, this gripping mechanism is not suitable for high-speed conveyance because it involves operations such as insertion and withdrawal of an opening / closing pin during delivery.
[0009]
In addition, the apparatus of Patent Document 3 shown in FIG. 6 has a rotational speed of the transparent disk 8 larger than the conveying speed of the parts feeder 5 in order to sufficiently leave the chip-type electronic components 70 on the transparent disk 8. is doing. However, the number of chip-type electronic components 70 discharged by the parts feeder 5 in one minute varies, and there may be a variation in the number of discharged components, for example, 100 pieces / minute or more. Therefore, the actual rotational speed of the transparent disk 8 has to be set in accordance with the maximum number of parts discharged from the parts feeder 5. As a result, when the number of parts discharged from the parts feeder 5 is small, the mutual distance between the chip-type electronic components 70 is larger than necessary, and there is a problem that the number of processing is small with respect to the rotational speed of the transparent disk 8. .
[0010]
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a chip-type electronic component handling apparatus and a chip-type electronic component capable of processing the chip-type electronic component at high speed and efficiently, with less restrictions on the operation during delivery of the chip-type electronic component. It is to provide a handling method.
[0011]
[Means and Actions for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a chip-type electronic component handling apparatus according to the present invention comprises:
(A) a transport drum for transporting the chip-type electronic component while being held on the outer peripheral surface;
(B) a chip-type electronic component is provided on the main surface arranged substantially horizontally, and a transfer disk for transferring the chip-type electronic component;
(C) The transport drum and the transport disk are arranged at a desired interval, and the chip-type electronic component is transferred between the outer peripheral surface of the transport drum and the main surface of the transport disk. thing,
It is characterized by.
[0012]
With the above configuration, the chip-type electronic component is transferred between the outer peripheral surface of the transport drum and the main surface of the transport disk at a desired time interval. Here, for example, by appropriately setting the rotation speed of the transfer disk based on the time interval of the chip-type electronic parts transferred from the transfer drum, the mutual distance between the chip-type electronic parts on the transfer disk is optimal. Value. As a result, the mutual distance between the chip-type electronic components on the transfer disk is not increased more than necessary, and the chip-type electronic components can be processed efficiently.
[0013]
Further, when the chip-type electronic component is transferred from the outer peripheral surface of the transfer drum to the main surface of the transfer disk in this way, it can be independently rotated without being synchronized with the transfer drum.
[0014]
In addition, by making the transport disk transparent, the bottom surface of the chip-type electronic component placed on the transport disk can be inspected from the lower side of the transport disk through the transport disk.
[0015]
Furthermore, an alignment member for aligning chip-type electronic components in a line in the rotation direction of the transport disk is provided on the main surface of the transport disk. This eliminates the restriction that the posture of the chip-type electronic component must be maintained when transferring from the transfer drum to the transfer disk.
[0016]
In addition, chip-type electronic components held on the outer peripheral surface of the transfer drum are transferred efficiently onto the edge of the main surface of the transfer disk that is horizontally arranged by air transfer. Electrical measurements or visual inspections can be performed while conveying electronic components.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of a chip-type electronic component handling apparatus and a chip-type electronic component handling method according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In each embodiment, a product inspection apparatus will be described as an example of a chip-type electronic component handling apparatus. However, a conveyance apparatus or the like may be used.
[0018]
As shown in FIG. 1, the product inspection apparatus includes a disk-shaped transport drum 10, a disk-shaped transport disk 55, a parts feeder 60 including a ball feeder 61 and a linear feeder 62, and a delivery mechanism unit 63. And take-out mechanism sections 64 and 65.
[0019]
As shown in FIGS. 2 and 3, a disc-shaped fixed base 30, a drive motor 40 that rotationally drives the transport drum 10, and a housing 50 are disposed on the rear surface side of the transport drum 10. ing.
[0020]
A driving motor 40 is fixed to the left end surface 50 a of the cylindrical housing 50 with a bolt 51. A rotation shaft 41 of the drive motor 40 is connected to a shaft 43 via a relay member 42. The relay member 42 and the rotation shaft 41, and the relay member 42 and the shaft 43 are fixed by bolts 45, respectively. The shaft 43 is supported in the housing 50 by two ball bearings 46 in a rotatable state. The distal end portion 43 a of the shaft 43 passes through a hole 30 a provided in the central portion of the fixed base 30 and is joined to the central portion of the transport drum 10.
[0021]
Suction holding holes 11 for sucking and holding the chip-type electronic component 70 are formed on the outer peripheral surface 10a of the transfer drum 10 at a desired interval, for example, at equal intervals. A decompression source side hole 13 is formed on the rear surface side of the transfer drum 10. Further, a hollow buffer portion 12 that communicates and connects the decompression source side hole 13 and the suction holding hole 11 is formed in the conveying drum 10 so as to extend in the radial direction of the conveying drum 10.
[0022]
On the other hand, the fixed base 30 is fixed to the right end surface 50 b of the housing 50 with bolts 52. An arc-shaped decompression groove 31 is formed in an annular shape in the fixed base 30. The decompression groove 31 is disposed at a position that matches the trajectory along which the decompression source side hole 13 moves as the transport drum 10 rotates. The decompression groove 31 is connected to a decompression device (such as a vacuum pump) that sucks air inside the adapter 39 via the adapter 39.
[0023]
As shown in FIG. 4, a slight gap T is secured between the front surface of the fixed base 30 and the rear surface of the transport drum 10, and the front surface of the decompression groove 31 is sealed in a substantially airtight manner at the rear surface of the transport drum 10. Has been. Therefore, in the formation range of the decompression groove 31, the air inside each of the decompression source side hole 13, the cavity buffer portion 12 and the suction holding hole 11 is sucked, and the chip-type electronic component 70 is sucked into the opening of the suction holding hole 11. Retained.
[0024]
Here, the volume of the cavity buffer unit 12 is set larger than the volume of the decompression source side hole 13 and the volume of the suction holding hole 11. Therefore, when the transfer drum 10 is rotated, the dimension of the gap T changes due to processing accuracy of the transfer drum 10 and vibration during rotation, and the reduced pressure state of the reduced pressure source side hole 13 is changed. Even if the reduced pressure state of the reduced pressure source side hole 13 changes as the reduced pressure source side hole 13 passes through the joint portion P, the change is alleviated by the cavity buffer 12. Accordingly, the suction holding force of the suction holding hole 11 is less susceptible to fluctuations in the reduced pressure state of the reduced pressure source side hole 13. As a result, the chip-type electronic component 70 can be sucked and held stably and reliably by the suction holding hole 11.
[0025]
As shown in FIG. 3, the fixed base 30 is formed with air supply grooves 32 and 33 that are adjacent to the pressure reduction groove 31 and that can block the supply of the pressure reduction air. A decompression device (vacuum pump) is connected to the air supply grooves 32 and 33 via adapters and solenoid valves, respectively.
[0026]
For example, when the chip-type electronic component 70 that has become non-defective in the inspection has been transported to a position corresponding to the air supply groove 32, the electromagnetic valve is driven and the supply of the reduced pressure air to the air supply groove 32 is blocked. Then, the suction holding force of the transfer drum 10 is reduced. Thereby, the non-defective chip type electronic component 70 is dropped and placed on the upper surface 55a of the transfer disk 55 by its own weight. On the other hand, when the chip-type electronic component 70 that has become defective in the inspection has been conveyed, the electromagnetic valve is driven to supply the reduced pressure air to the air supply groove 32, and the position corresponding to the air supply groove 33. To be transferred. In the air supply groove 33, the supply of the reduced pressure air is cut off by driving the electromagnetic valve, and the defective chip-type electronic component 70 is discharged to the defective product tray of the take-out mechanism 64.
[0027]
As a method for removing these chip-type electronic components 70 from the conveying drum 10, in addition to the above-described method of shutting off the supply of reduced-pressure air, a method of mechanically removing by means of an arm or the like having a suction pad or compression There is a method of supplying air.
[0028]
The thickness d of the transport drum 10 is set to be thinner than the outer dimension L in the transport drum thickness direction of the chip-type electronic component 70 sucked and held by the transport drum 10. Specifically, the thickness d of the transfer drum 10 is 0.5 to 1.5 mm (representative value: 1.0 mm), and the diameter is 50 to 170 mm (representative value: 160 mm). The size of the chip-type electronic component 70 is, for example, L: 1.0 to 2.0 mm × W: 0.5 to 1.2 mm × T: 0.5 to 0.95 mm.
[0029]
As a result, the chip-type electronic component 70 being transported has both ends in the transport drum thickness direction, that is, the external terminals protrude from the edge of the transport drum 10, so the chip-type electronic component 70 is connected with the CCD camera from the transport drum thickness direction. It is possible to inspect the both end faces of 70 and to inspect electrical characteristics with a measurement probe. In particular, in the case of the present embodiment, the outer peripheral surface 30a of the fixed base 30 is located on the inner side of the outer peripheral surface 10a of the transfer drum 10, so that the measurement probe is connected to the external terminal of the chip-type electronic component 70 from the fixed base 30 side. It becomes possible to make it contact.
[0030]
A drive motor (not shown) for rotating the transport disk 55 is disposed on the lower surface side of the transport disk 55. The horizontally arranged transfer disks 55 are arranged close to each other below the vertically arranged transfer drum 10 with a desired interval R.
[0031]
The transport drum 10 and the transport disk 55 have a structure in which the outermost periphery does not enter into another rotation region (a structure that does not interfere). Therefore, the transfer drum 10 and the transfer disk 55 can always be rotated independently of each other and the processing speed of the chip-type electronic component 70 can be improved.
[0032]
Further, the transfer disk 55 does not determine in advance the position at which the chip-type electronic component 70 is gripped or sucked and held, and the chip-type electronic component 70 is appropriately placed at any position on the outer peripheral edge. do it. Therefore, it is not necessary to align the suction drum 11 with the suction holding hole 11 of the transport drum 10 and it is not necessary to rotate the transport drum 10 and the transport disk 55 in synchronization.
[0033]
The transfer disk 55 is made of a transparent material such as glass or resin. In this way, by configuring the transfer disk 55 with a transparent body, the bottom surface of the chip-type electronic component 70 placed on the upper surface 55 a of the transfer disk 55 passes through the transfer disk 55 from the lower side of the transfer disk 55. Appearance inspection can be performed.
[0034]
Next, the operation of the product inspection apparatus having the above configuration will be described.
As shown in FIG. 1, the chip-type electronic components 70 aligned by the vibration type ball feeder 61 are sequentially vibrated or air-flowed to the position of the delivery mechanism unit 63 by the linear feeder 62. The delivery mechanism part 63 has an arm or the like, and the chip-type electronic component 70 is brought close to the outer peripheral surface 10 a of the transfer drum 10 with this arm. The suction holding hole 11 at a position facing the delivery mechanism portion 63 of the transfer drum 10 is decompressed by the vacuum pump and the chip electronic component 70 is sucked and held in the suction holding hole 11 in accordance with the proximity timing. The delivery mechanism unit 63 may deliver the chip-type electronic component 70 to the transport drum 10 with compressed air.
[0035]
The chip-type electronic component 70 delivered to the transfer drum 10 is subjected to visual inspection and electrical characteristic measurement inspection of both end surfaces of the chip-type electronic component 70 while being continuously positioned and conveyed. The chip-type electronic component 70 on the transport drum 10 is held in a state in which the longitudinal direction of the chip is orthogonal to the rotation direction of the transport drum 10, and the both end surfaces and their ridge lines (eight) are captured by the CCD camera. Appearance inspection is performed. The conveyance speed is about 800 m / min, for example. The chip-type electronic component 70 that has been inspected is transported to the delivery area. The non-defective chip-type electronic component 70 that has come to the position facing the transport disk 55 is transported by its own weight when the reduced pressure air supply to the air supply groove 32 is cut off and the suction holding force of the transport drum 10 is reduced. The disk 55 is dropped and placed on the upper surface 55a.
[0036]
The transport drum 10 separates the chip-type electronic components 70 one by one and transports them at a constant speed, and is transferred to the transport disk 55 at regular time intervals. Accordingly, the chip-type electronic components 70 on the transport disk 55 can be connected to each other by appropriately setting the rotation speed of the transport disk 55 based on the time interval of the chip-type electronic components 70 transported from the transport drum 10. The interval can be set to an optimum value (constant value) suitable for mass production. As a result, the mutual distance between the chip-type electronic components 70 on the transfer disk 55 is not increased more than necessary, and the chip-type electronic components 70 can be processed efficiently.
[0037]
The position and orientation of the chip-type electronic component 70 transferred onto the transfer disk 55 is corrected by the alignment member 66. Thus, after the transfer disk 55 receives the chip-type electronic components 70, the chip-type electronic components 70 are aligned in a line in the rotation direction of the transfer disk 55. Accordingly, there is no restriction that the posture of the chip-type electronic component 70 must be maintained when the transfer from the transfer drum 10 to the transfer disk 55 is performed.
[0038]
The aligned chip-type electronic components 70 are transported to the inspection area by the transport disk 55, and the remaining four side surfaces and four ridge lines are visually inspected by the CCD camera. The chip-type electronic component 70 that has been inspected is conveyed to a discharge area. The chip-type electronic component 70 that has come to the position facing the take-out mechanism 65 is separated from the transfer disk 55 into a non-defective product and a defective product by driving the solenoid valve and feeding compressed air.
[0039]
The take-out mechanism 64 is installed on the conveying disk 55 side, the defective chip-type electronic component 70 is discharged to the defective tray of the take-out mechanism 64, and the non-defective chip-type electronic component 70 is removed from the take-out mechanism 65. It may be discharged to a good product tray. In this case, in order to prevent a defective product from being mixed into a non-defective product, it is preferable that the take-out mechanism 64 and the take-out mechanism 65 are arranged in this order along the rotation direction of the transport disk 55. Further, all the chip-type electronic components 70 that could not be discharged to the take-out mechanism section are collected in a take-out mechanism section (not shown) provided at the subsequent stage of the take-out mechanism section 65 and returned to the parts feeder 60 again.
[0040]
By the above method, inspection and measurement can be performed while efficiently and smoothly transporting the chip-type electronic component 70.
[0041]
Note that the chip-type electronic component handling apparatus and the chip-type electronic component handling method according to the present invention are not limited to the above embodiments. Various modifications can be made within the scope of the gist. For example, the transport drum 10 is not necessarily disposed perpendicular to the transport disk 55, and may be disposed in parallel or inclined.
[0042]
Further, the chip-type electronic component 70 is first supplied to the transfer disk 55, and the appearance inspection of the four side surfaces and the four ridge lines is performed. Thereafter, the chip-type electronic component 70 is pulled up by an arm with a suction pad or the like and sucked and held on the outer peripheral surface 10a of the transfer drum 10 to perform an appearance inspection and an electrical property measuring device for both end faces and their ridge lines (eight). You may do it. In this case, however, the transport drum 10 and the transport disk 55 need to be rotated in synchronization with each other in accordance with the position of the suction holding hole 11 formed in the outer peripheral surface 10a of the transport drum 10.
[0043]
Furthermore, the number of surface inspections and the number of ridge lines performed by the transport drum 10 and the transport disk 55 can be arbitrarily set according to the installation of the CCD camera.
[0044]
【The invention's effect】
As is clear from the above description, the transport drum and the transport disk have a structure in which the outermost circumferences do not enter into other rotation regions (structures that do not interfere with each other). Therefore, the transfer drum and the transfer disk can always be rotated independently of each other and the processing speed of the chip-type electronic component can be improved. In addition, the transfer disk does not have a predetermined position for gripping or holding the chip-type electronic component in advance, and the chip-type electronic component may be appropriately placed at any position on the outer peripheral edge. . Therefore, it is not necessary to align the position with the transport drum, and it is not necessary to rotate the transport drum and the transport disk in synchronization. As a result, there are few restrictions on the operation during delivery of the chip-type electronic component, and the chip-type electronic component can be processed efficiently at high speed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a chip-type electronic component handling apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a partial horizontal sectional view of the transfer drum shown in FIG.
FIG. 3 is a partially cutaway front view of the transfer drum shown in FIG. 1;
4 is an enlarged cross-sectional view of a portion A shown in FIG.
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a conventional chip-type electronic component handling apparatus.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing another conventional chip-type electronic component handling apparatus.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Conveying drum 10a ... Outer peripheral surface 55 ... Conveying disk 55a ... Upper surface (main surface)

Claims (6)

チップ型電子部品を外周面に保持して搬送する搬送用ドラムと、
チップ型電子部品を、略水平に配置された主面上に載置して搬送する搬送用ディスクとを備え、
前記搬送用ドラムと前記搬送用ディスクを所望の間隔を設けて配置し、チップ型電子部品を、前記搬送用ドラムの外周面と前記搬送用ディスクの主面上との間で移し替えること、
を特徴とするチップ型電子部品の取扱い装置。
A transfer drum for holding and transporting chip-type electronic components on the outer peripheral surface;
A chip-type electronic component, and a transport disk for transporting the chip-type electronic component mounted on a substantially horizontal main surface;
Arranging the transfer drum and the transfer disk at a desired interval, and transferring the chip-type electronic component between the outer peripheral surface of the transfer drum and the main surface of the transfer disk;
A device for handling chip-type electronic components.
前記搬送用ドラムと前記搬送用ディスクが互いに同期をとることなく、独立して回転駆動していることを特徴とする請求項1に記載のチップ型電子部品の取扱い装置。2. The chip-type electronic component handling apparatus according to claim 1, wherein the transport drum and the transport disk are independently driven to rotate without being synchronized with each other. 前記搬送用ディスクが透明体からなることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のチップ型電子部品の取扱い装置。The chip-type electronic component handling apparatus according to claim 1, wherein the transfer disk is made of a transparent body. 前記搬送用ドラムもしくは前記搬送用ディスクに保持されたチップ型電子部品に対し、電気測定もしくは外観検査が行われることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載のチップ型電子部品の取扱い装置。The chip-type electronic component according to any one of claims 1 to 3, wherein an electrical measurement or an appearance inspection is performed on the chip-type electronic component held on the transport drum or the transport disk. Handling equipment. 前記搬送用ディスクの主面上に、搬送用ディスクの回転方向に一列にチップ型電子部品を整列させる整列部材が設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載のチップ型電子部品の取扱い装置。5. An alignment member for aligning chip-type electronic components in a line in a rotation direction of the transfer disk is provided on a main surface of the transfer disk. Chip-type electronic component handling equipment. 搬送用ドラムの外周面に保持されたチップ型電子部品を、空中搬送により、水平に配置された搬送用ディスクの主面縁部上に移し替えることを特徴とするチップ型電子部品の取扱い方法。A chip-type electronic component handling method, wherein the chip-type electronic component held on the outer peripheral surface of the transfer drum is transferred by air transfer onto a main surface edge of a transfer disk disposed horizontally.
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