JP2005019804A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005019804A
JP2005019804A JP2003184477A JP2003184477A JP2005019804A JP 2005019804 A JP2005019804 A JP 2005019804A JP 2003184477 A JP2003184477 A JP 2003184477A JP 2003184477 A JP2003184477 A JP 2003184477A JP 2005019804 A JP2005019804 A JP 2005019804A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface emitting
emitting laser
semiconductor laser
laser device
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003184477A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Sato
彰生 佐藤
Kazuhisa Sanpei
和久 三瓶
Hiroshi Ito
伊藤  博
Mitsutoshi Maeda
光俊 前田
Toru Kachi
徹 加地
Tadashi Ichikawa
正 市川
Hiroyuki Matsubara
弘幸 松原
Kenji Ito
健治 伊藤
Kazuo Hasegawa
和男 長谷川
Daisuke Inoue
大介 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Toyota Central R&D Labs Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp, Toyota Central R&D Labs Inc filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2003184477A priority Critical patent/JP2005019804A/ja
Publication of JP2005019804A publication Critical patent/JP2005019804A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

【課題】高いビーム品質で高強度のレーザ光を出力することのできる半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】面発光レーザ21が2次元アレイ状に配列した面発光レーザチップ13からの出射光を集光レンズ15によって集光して高強度レーザ光を発生する。集光レンズ15の面発光レーザに対向する面に反射鏡16を備えることにより、各面発光レーザ21の発振モード選択してシングルモード化し、高出力にする。
【選択図】 図3

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザ装置に関し、特に複数の面発光レーザを組み合わせた半導体レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザ光源として、小型で取り扱いが容易な半導体レーザが多用されている。半導体レーザの光活性層は熱あるいは電流密度により屈折率が変化する。そのため、半導体レーザの光出力を上げようとして注入電流を増加させると、電流密度の増加あるいは発生した熱により半導体レーザの光活性層の屈折率が変化し、光の固有モードが変わってビーム品質が劣化してしまう。この問題に対して、特開2001−223429号公報には、高出力面発光レーザの発振モードを外部鏡によって選択することでシングルモード化し、高出力にする技術が記載されている。一方、高強度なレーザ光を得るための方法として、複数のレーザ素子からの出力光を一本のビームに集光させて光強度を上げる方法が知られている。例えば、特開2002−148491号公報には、複数のレーザダイオードを一列に配列した半導体レーザバーからの出射光をレンズ系と複数本の光ファイバを用いて一点に集光する半導体レーザ加工装置が記載されている。
【0003】
【特許文献1】
特開2002−148491号公報
【特許文献2】
特開2001−223429号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
半導体レーザバーのレーザダイオードから出射されるレーザ光はビーム断面が楕円形であり、ビーム品質の点で問題がある。一方、面発光レーザから出射するレーザ光は円形断面を有し、ビーム品質の点では問題がないが、出力が小さい。特開2001−223429号公報に記載されたように、面発光レーザを外部鏡によってシングルモードかつ高出力にしたとしても、1個の面発光レーザでは出力に限りがある。そこで、それぞれ外部鏡を設けて高出力にした複数の面発光レーザをアレイにし、各面発光レーザからの出力光を集光して高強度なレーザ光とする方法が考えられるが、多数の外部鏡アレイと集光レンズ系を個別に用意すると装置が大型化し、コストも高くなる。
本発明は、高いビーム品質で高強度のレーザ光を出力することのできる半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明においては、2次元アレイ状に配列した面発光レーザを用い、各面発光レーザからの出射光を集光レンズによって集光して高強度レーザ光を発生する。その際、集光レンズの面発光レーザに対向する面に反射鏡を備えることにより、各面発光レーザの発振モードを選択してシングルモード化し、高出力にすることによって前記目的を達成する。
【0006】
すなわち、本発明の半導体レーザ装置は、複数の面発光レーザを2次元状に配列した面発光レーザアレイと、面発光レーザアレイからの出射光を集光する単一の集光レンズとを含み、集光レンズは、面発光レーザアレイに対向する面に反射鏡を備えることを特徴とする。反射鏡は、集光レンズの面発光レーザアレイ対向面の全面に設けてもよいし、個々の面発光レーザに対向する箇所にアレイ状に設けてもよい。
【0007】
集光レンズは面発光レーザアレイに対向する面を平面とした平凸レンズとすると、集光レンズに設けた反射鏡を全ての面発光レーザに対して同じ条件とすることができるので好ましい。集光レンズの光出射面は球面あるいは放物面とすることができるが、小さな領域に集光する点からは放物面とするのが好ましい。また、集光レンズは、面発光レーザアレイに対向する面に高反射コーティングを施し、光出射面には無反射コーティングを施すのが好ましい。更に、集光レンズは、面発光レーザアレイに対向する面の各面発光レーザに対向する領域を窪ませてそれぞれ凹面鏡を構成するようにすると、各面発光レーザの安定性を向上することができる。
【0008】
このように面発光レーザアレイのモード選択のための外部反射鏡と集光レンズとを一体としたことで、組付作業性が向上し、コストダウンを図ることができる。更に、外部反射鏡と集光レンズとの相対位置精度が向上し、経年変化による影響を低減することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下には、発明を理解しやすいように寸法の一例を示すが、それらの値は単なる一例にすぎず、本発明を限定するものではない。
【0010】
図1は本発明による半導体レーザ装置の一実施例を示す断面模式図、図2はそこに使用した集光レンズを底面側から見た図である。
この半導体レーザ装置は、厚さ5mm、直径70mmの無酸素銅からなるヒートシンク11、ヒートシンク11上に配置されたサブマウント12、サブマウント12上に配置された面発光レーザチップ13を有する。ヒートシンク11上には、内部にサブマウント12及び面発光レーザチップ13を収容するようにして、外径70mm、内径60mmで高さ5.5mmのインバー製の円筒状スペーサ14が設けられ、その上に集光レンズ15が固定されている。
【0011】
面発光レーザチップ13は、例えば、p型GaAsのコンタクト層と屈折率の高いAlGaAs層と屈折率の低いAlGaAs層をそれぞれ発振波長の1/4の厚さで30対以上積層したものからなるp型多層膜反射鏡と、InGaAsの井戸とGaAsPのバリアとAlGaAsの光閉じこめ層からなる活性層と、1.5波長のn型AlGaAs半導体と、n型GaAsバッファ層をn型GaAs基板の上に成長したものであり、10mm×10mmの寸法を有する。面発光レーザの口径は110μmであり、面発光レーザは2mm間隔で5×5個のアレイ状に配列されている。サブマウント12は、厚さ1mm、大きさ15mm×15mmのAlNからなり、ヒートシンク11と面発光レーザチップ13の間の熱応力を緩和する作用をする。
【0012】
集光レンズ15は、材質にBK7を用いた直径60mm、曲率52mm、焦点距離100mmの平凸レンズであり、平面側を面発光レーザチップ13側に向け、円筒状スペーサ14の上に接着剤で固定されている。集光レンズ15と面発光レーザチップの活性層との距離は5mmである。本例の集光レンズ15は、面発光レーザチップ13に対向する平面に、面発光レーザチップ13に形成された5×5個の面発光レーザの直上位置に対応して、5×5個のマイクロ凹面鏡16が設けられている。すなわち、マイクロ凹面鏡16は2mm間隔で5×5個のアレイ状に配置されている。マイクロ凹面鏡16は直径が125μm、曲率25mmであり、反射率99%以上となるように高反射コーティングが施されている。出射側の曲面には無反射コーティングが施されている。
【0013】
図3は、本発明による半導体レーザ装置の動作を示す模式図である。面発光レーザチップ13に形成された各面発光レーザ21からの出射レーザ光22は、集光レンズ15の下面に設けられた対応するマイクロ凹面鏡16が外部反射鏡となってそれぞれの各面発光レーザ21に戻る。その結果、モード選択が起こり、各面発光レーザ21はシングルモード発振をする。マイクロ凹面鏡16から集光レンズ15内に透過したレーザ光は、集光レンズ15の作用によって焦点Fに集光される。こうして、集光レンズ15の焦点Fに、面発光レーザチップ13に設けられた複数の各面発光レーザ21からの出射光を集光したビーム品質の高い高強度のレーザ光が得られる。
【0014】
また、本発明の半導体レーザ装置は、外部鏡アレイ(マイクロ凹面鏡16のアレイ)と集光レンズ15が一体型になっているため、装置の組み立てが簡単であり、外部鏡アレイと集光レンズの相対的位置が正確に決まるため組み付けを行う場合より精度を上げることができる。更に、外部鏡アレイと集光レンズの相対的位置の経年変化がなくなるため、長期間にわたって安定した性能を得ることができる。
【0015】
図4は、本発明による半導体レーザ装置の他の実施例を示す模式図である。本実施例は、集光レンズとして、面発光レーザチップ13に対面する入射面が平面で、出射面が放物面となった集光レンズ25を用いた例である。集光レンズ25の面発光レーザチップ13に対面する入射面には、面発光レーザチップ13に形成された複数の面発光レーザの直上位置に、面発光レーザの数と同数のマイクロ凹面鏡16が設けられている。球面レンズには収差があり、光が必ずしも一点に集まらないが、本実施例で用いた放物面レンズは光を収差なく一点に集めることができるため集光効率が高い。
【0016】
図5は本発明による半導体レーザ装置に用いられる集光レンズの他の例を示す模式図であり、(a)は側面図、(b)は底面図である。基本的な装置構成は図1と同様であるため、ここには半導体レーザ装置に用いられる集光レンズのみを示した。
【0017】
本実施例では、面発光レーザをシングルモードにするための外部鏡として凹面鏡に代えて平面鏡を用いた。すなわち、本実施例の集光レンズ31は、面発光レーザからの出射光が入射する各位置に、外部鏡アレイとして平面状の高反射コーティング32をアレイ状に設けた。高反射コーティング32は、面発光レーザチップに形成されている面発光レーザの数と同じ数だけ、同じ配置で設けられている。図の例は、面発光レーザチップに形成された13個の面発光レーザアレイに対応させて、13個の高反射コーティング32を設けたものである。レーザ光入射面と反対側の出射面には無反射コーティングが施されている。出射面の形状は球面あるいは放物面とする。また、本実施例では、高反射コーティング32を面発光レーザからのレーザ光入射領域に局在させて複数設けたが、集光レンズの入射側の平面全面に高反射コーティングを施しても構わない。
【0018】
【発明の効果】
本発明によると、ビーム品質の高い面発光レーザアレイを用いて高強度のレーザ光を集光することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体レーザ装置の一実施例を示す断面模式図。
【図2】集光レンズを底面側から見た図。
【図3】本発明による半導体レーザ装置の動作を示す模式図。
【図4】本発明による半導体レーザ装置の他の実施例を示す模式図。
【図5】本発明による半導体レーザ装置に用いられる集光レンズの他の例を示す模式図。
【符号の説明】
11…ヒートシンク、12…サブマウント、13…面発光レーザチップ、14…円筒状スペーサ、15…集光レンズ、16…マイクロ凹面鏡、21…面発光レーザ、22…レーザ光、25…集光レンズ、31…集光レンズ、32…高反射コーティング

Claims (5)

  1. 複数の面発光レーザを2次元的に配列した面発光レーザアレイと、前記面発光レーザアレイからの出射光を集光する単一の集光レンズとを含み、
    前記集光レンズは、前記面発光レーザアレイに対向する面に反射鏡を備えることを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. 請求項1記載の半導体レーザ装置において、前記集光レンズは前記面発光レーザアレイに対向する面が平面である平凸レンズであることを特徴とする半導体レーザ装置。
  3. 請求項2記載の半導体レーザ装置において、前記集光レンズは光出射面が放物面であることを特徴とする半導体レーザ装置。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体レーザ装置において、前記集光レンズは、前記面発光レーザアレイに対向する面に高反射コーティングが施され、光出射面に無反射コーティングが施されていることを特徴とする半導体レーザ装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項記載の半導体レーザ装置において、前記集光レンズは、前記面発光レーザアレイに対向する面の各面発光レーザに対向する領域にそれぞれ凹面鏡を形成したことを特徴とする半導体レーザ装置。
JP2003184477A 2003-06-27 2003-06-27 半導体レーザ装置 Pending JP2005019804A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003184477A JP2005019804A (ja) 2003-06-27 2003-06-27 半導体レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003184477A JP2005019804A (ja) 2003-06-27 2003-06-27 半導体レーザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005019804A true JP2005019804A (ja) 2005-01-20

Family

ID=34184237

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003184477A Pending JP2005019804A (ja) 2003-06-27 2003-06-27 半導体レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005019804A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006294810A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Fuji Xerox Co Ltd 面発光半導体レーザアレイおよびそれを用いた光伝送システム
JP2016178271A (ja) * 2015-03-20 2016-10-06 新科實業有限公司SAE Magnetics(H.K.)Ltd. 垂直キャビティ表面発光レーザ
JP2021504707A (ja) * 2017-11-30 2021-02-15 セプトン テクノロジーズ,インコーポレイテッド ライダーシステムの分解能を向上させるための光学設計および検出器設計

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006294810A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Fuji Xerox Co Ltd 面発光半導体レーザアレイおよびそれを用いた光伝送システム
JP2016178271A (ja) * 2015-03-20 2016-10-06 新科實業有限公司SAE Magnetics(H.K.)Ltd. 垂直キャビティ表面発光レーザ
JP2021504707A (ja) * 2017-11-30 2021-02-15 セプトン テクノロジーズ,インコーポレイテッド ライダーシステムの分解能を向上させるための光学設計および検出器設計
JP7319690B2 (ja) 2017-11-30 2023-08-02 セプトン テクノロジーズ,インコーポレイテッド ライダーシステムの分解能を向上させるための光学設計および検出器設計

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2636111B1 (en) Optical element for vertical external-cavity surface-emitting laser
KR100393057B1 (ko) 마이크로 렌즈 일체형 표면광 레이저
JP5744749B2 (ja) 改善された空間モードを備えるハイパワーvcsel
JP7098730B2 (ja) 半導体レーザ
KR101270166B1 (ko) 외부 공진기형 면발광 레이저
KR100754402B1 (ko) 수직외부공진기형 면발광 레이저
JP2004503118A (ja) 半導体レーザ・ポンピング固体レーザ・システムに使用するvcselおよび集積マイクロレンズを有するvcselアレイ
US7602832B2 (en) Surface emitting laser aligned with pump laser on single heat sink
JP6357230B2 (ja) 光ポンプ拡張キャビティレーザを含むレーザデバイス
JP2005537643A (ja) 半導体レーザ装置
US20060280220A1 (en) Optically-pumped vertical external cavity surface emitting laser
CN101005195A (zh) 垂直外腔面发射激光器
JP2007248581A (ja) レーザーモジュール
JP2005019804A (ja) 半導体レーザ装置
JP2007300015A (ja) 光学装置
JP2006128656A (ja) 外部共振型半導体レーザ
KR20190040545A (ko) 포물경을 사용한 고출력 레이저 다이오드 모듈
JPH1168197A (ja) 半導体レーザ励起固体レーザ装置
WO2019187784A1 (ja) 光学装置
KR102171494B1 (ko) 고출력 레이저용 광 집속장치
JP6130427B2 (ja) レーザモジュール
JPH05145151A (ja) 固体レーザ
KR101334175B1 (ko) 렌즈 덕트를 구비하는 외부 공진기형 면발광 레이저
CN218956928U (zh) 散斑投射模组和深度相机
CN220774983U (zh) 低成本小型化半导体激光器光纤耦合模块

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090428

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090626

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091104

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100309