JP2004533302A - 埋込可能型デバイス用密封給電 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
本発明は、一般には埋込可能型医療用デバイス、例えば埋込可能型センサに関する。本発明は、より詳細には、その種のデバイスに対する密封型接続を提供する技術に関する。
【背景技術】
【0002】
本発明は、半導体基板、より詳細には密封された電子回路及びその上に形成された非密封の電極を含む構造を有する半導体基板により、埋込可能型センサその他の埋込可能型デバイスを形成することに関する。
【0003】
米国特許第5660163号(以下‘163号特許と言う)には、セラミック基板上に形成された埋込可能型グルコースセンサが開示されている。センサに関連するワーキング電極その他の素子は、セラミック基板を覆うリザーバ或いは内鞘内の導電液に晒されている。センサ上に置かれている外鞘には窓が形成されており、この窓はワーキング電極のうち一つの上に位置している。窓の中には、選択されたエンザイム、例えばグルコース酸化酵素(GO)が置かれる。‘163号特許に開示されているとおり、5個のワイヤ又は導体は電極に取り付けられ、電子回路例えば同文献の図3に示されている回路に接続される。なお、ここでの参照を以て特許文献1全体が本願に取り込まれたものとする。
【0004】
‘163号特許に開示されたタイプのグルコースセンサの他の特徴、側面及び改良に関しては、更に、97年10月20日付の米国特許出願第08/953817号に係る米国特許第6081736号、97年10月20日付の米国特許出願第08/954166号に係る米国特許第6119028号、並びに97年9月12日付の米国特許出願第08/928867号に係る米国特許第5999848号にも開示があり、全て本願出願人と同一の人物に譲受されている。また、ここでの参照を以てそれらの内容が全て本願に取り込まれたものとする。
【0005】
参照した特許文献に開示されているように、埋込可能型センサの改良案の一つは、基板の一方の側に電極を置き、他方の側に集積回路(IC)チップ及び他の必要部品(コンデンサ等)を置き、それによって基板上のセンサ制御又は駆動用電極と逆の側にハイブリッド電子回路を形成する、というものである。センサは電極に流れる電流を検知し、検知結果から電極周囲の酸素量を検出し、またセンサが晒されているグルコースの量を検出する。加えて、センサは、二芯通信線を介して外部と情報、データ及び/又は電力を送受信する。ICチップその他の電子部品は金属カバー下に密封(hermetically seal)され、それらの端部は基板に対して封止接着されている。ICチップ及びその他の密封された部品は、基板をよぎる導電経路或いはステアステップビアを介して電気的に接続される。また、必要に応じ、2個の導体を用いてこのタイプのセンサを数個、デイジーチェーン接続することもできる。更に、外鞘は基板全体を包む。即ち、金属カバーにより覆われた電子回路と、電極、食塩溶液リザーバ及びエンザイム充填窓が形成されているセンサ電極側とを、の双方とも包む。
【0006】
残念なことに、参照した特許文献に記載されているセンサはやや厚すぎる。即ち、多くの埋込用に、より薄くなおかつその内部回路への密封型電気接続を提供できるセンサが、必要とされている。従って、従来のセンサと同じ機能、即ち塩に晒されるワーキング電極、一電極上に置かれる選択されたエンザイム、センサを制御し他のセンサ及び外部制御ユニットと通信する密封型電子回路等を実現し、なおかつより小さなセンサを求める向きがある。本願発明は、これらを含め各種の必要性を成功裡に充足させうるものである。
【発明の開示】
【0007】
本発明により提供される埋込可能基板型センサは、センサに関連する電子回路例えばICチップを、CMOS基板等の好ましい基板中又は基板上に形成したセンサである。更に、基板は保護被覆により覆われ、この被覆の下に回路がある実効的な密封型パッケージを形成する。本発明の実施形態においては、この回路は、通信のため及び/又は当該回路への電力供給のために、1個又はそれ以上の個数の導電パッドを有する。1個又はそれ以上の個数設けられた接続経路によって、外部接続用の導電パッドと、密封されたパッケージ内の回路とが、密封状態で電気的に接続接続される。センサに関連する電極は、選択的に、保護被覆で覆わずに残す。これにより、センサを生体組織内に埋め込んだとき当該電極が身体の組織及び液に晒されることとなる。
【0008】
第1の実施形態における導電接続経路は、生体親和的(biocompatible)な素材例えばプラチナから製作されたビアである。これによる密封化は、その厚みを例えば少なくとも5μmまで増加させること或いはイオンビーム成長によって、達せられる。これに代わる方法としては、基板表面に対して本質的に平行な金属トレースによって導電接続経路を形成する、という方法がある。この金属トレースは、その第1の端において第1のビアにより回路の導電パッドに接続され、その第2の端が密封パッケージの外部へと延びる。従って、密封回路の外部接続が実現される。また、金属トレースは、例えばアルミナ、ジルコニア、或いはアルミナやジルコニアの合金のように、生体親和的な絶縁素材により覆われる。このようなビアと絶縁化金属トレースとの組合せにより、導電接続の密封性が保たれる。
【0009】
本発明の一実施形態においては、本発明に係りそれぞれその一方の側に電子回路が形成されている薄い基板型センサの対が用いられ、接続用及び/又は検知用電極が外向けとなるよう背面対背面で接続される。このように、背面対背面接続基板型センサ対とすることによって、センサ電極がセンサ対基板の外表面に位置することとなる。
【0010】
本発明に係る密封パッケージは、生体埋込に適するパッケージであって、(1)複数の面を有しそのうち少なくとも一つの面上に形成された集積回路を有する半導体基板であって、当該集積回路が、通信及び/又は当該集積回路に対する電力供給のための1個又はそれ以上の個数の導電パッドを有する半導体基板と、(2)当該1個又はそれ以上の個数の導電パッドに対する導電接続を提供する1個又はそれ以上の個数の導電接続経路であって、その第1の端が当該1個又はそれ以上のパッドに接続され、第2の端が密封パッケージからの外部電気接続用に露出している導電接続経路と、(3)当該導電接続経路の第2の端用に選択された部位を除き集積回路及び半導体基板表面をくるむ絶縁部材と、を備える。
【0011】
本発明の新規な特徴事項は、添付した特許請求の範囲に述べられている。本発明は、添付図面を参照しつつ以下の説明を読むことによって、よりよく理解されるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明を実施するに当たって現時点で最良モードと考えられるものを記述する。当該記述は限定的に捕らえられるべきではなく、却って本発明の一般的原理を記述する目的のものと捕らえられるべきである。本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって画定されるべきである。
【0013】
以下、本発明を実施するに当たって現時点で最良モードと考えられるものを記述する。これは限定的に捕らえられるべきではなく、却って本発明の一般的原理を記述する目的のものと捕らえられるべきである。本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって画定されるべきである。
【0014】
始めに、埋込可能型センサが一般にある種の生理学的パラメタ若しくは条件又は現象(患者の生体内で生じるもの又は患者の生体内で検知可能なもの)を検知するのに用いられることに、留意されたい。この目的により、この種のセンサは、1個又はそれ以上の個数の電極乃至はそれと類似したトランスデューサを備え、検知したパラメタを電気信号その他の検知可能な信号に変換する。しばしば、センサの検出対象は単純な電位信号とされる。この電位信号は、典型的には、筋肉組織の分極/偏極に伴うもの等、患者の肉体に関連する自然現象的電気信号である。この種の例では、すべてのセンサにとって、モニター対象組織に接触するある種の電極と、検知した信号を受信、増幅及び/又は格納する適当な電子回路とが、必須とされる。また、その電極から接触先の組織へと電流パルスを印加できることから、この種のセンサの電極をスティミュレータとしても用いうることは常識的である。このようにスティミュレータ電極としても使用されうるセンサ電極は、常識的に、センサ/スティミュレータと呼ばれる。更に、当該センサは電気化学的センサ或いはエンザイム電極センサ、例えば‘163号特許その他の特許文献に記載されたタイプのセンサとして、用いうる。この種の電気化学的センサにおいては、好ましいエンザイムその他化学物質が電極の近傍に置かれ、これにより所望の化学的相互作用が生起される。
【0015】
どのようなタイプの埋込可能型センサを用いるのであっても、センサ全タイプ共通の構成要素として、電極及び当該電極をモニタ及び/又は制御する電子回路が用いられる。しかしながら、理解頂けるように、他のセンサ構成要素、例えばエンザイムは、電極及び関連電子回路との関連において用いられ得るに過ぎない。
【0016】
本発明の利点をよりよく且つ好適に理解するには、まず、参照した特許文献乃至特許出願により開示されているタイプの埋込可能型センサの好適な用途及び製造法について、簡単に振り返るのが手助けとなろう。この目的のため図1のブロック図を参照するに、2個の共通導体14及び16により複数個のセンサ/スティミュレータ12a,12b,…12nが互いに接続されており、それらは更にコントローラ(図示せず)に接続されている。2個の導体14及び16は、コントローラからセンサ/スティミュレータ12a,12b,…12nへとデータ信号及び電力信号を送り、またセンサ/スティミュレータ12a,12b,…12nからコントローラへとデータ信号を送るための共通信号及びリターン経路として、機能する。
【0017】
図2に、埋込可能型デバイス例えばセンサ/スティミュレータ18aをどのようにしてリモートコントローラ20及び他のセンサ/スティミュレータ18b,…18nにシリアル又はデイジーチェーン接続するのかを示す。図2に見られるように、センサ/スティミュレータ18aは、センサ/スティミュレータ18aの上流側(コントローラ20に近い側)に設けたパッド又は端子の第1の対(13及び15)に取り付けられている2個の導体14’及び16’によって、コントローラ20に接続されている。パッド又は端子のもう一つの対(17及び19)はセンサ/スティミュレータ18aの下流側(コントローラ20から遠い側)に配置されている。後の記述から明らかになるように、下流側パッド17は、センサ/スティミュレータ18a上に配置された回路21を介して、上流側パッド13に電気的に接続されている。同様に、下流側パッド19は、センサ/スティミュレータ18aに含まれる回路21を介して、上流側パッド15に電気的に接続されている。更に2個の導体14’’及び16’’は、デバイス18aの下流側パッド17及び19を、次のセンサ/スティミュレータ18bの対応する上流側パッド13’及び15’にデイジーチェーン接続する。このような形態によって、たった2種類の導体を用いるのみで、所望に応じ多数のデバイスをシリアル接続し更にコントローラ20に接続することができる。
【0018】
図1が機能的且つ電気的に図2と等価であることに留意されたい。図2においては、単純に、チェーン内における上流側デバイスの下流側パッド17及び19から、チェーンに追加すべき新たなデバイスの上流側パッド13’及び15’へと、2個の導体を伸ばすことによるチェーンへのデバイスの追加に、上流側及び下流側のパッド/端子対が用いられている。しかしながら、2個の主導体14及び16への接続が行われ又は導体の分岐が行われる用途においては、図2の構成と同様にして図1に示した構成が用いられる。
【0019】
図1又は図2に示したシステムにおけるデイジーチェーン接続可能なセンサ/スティミュレータ12又は18には、多様な用途がある。一般に、センサ/スティミュレータ12又は18が埋め込まれるとき、1個又はそれ以上の個数の身体パラメタ又は肉体組織若しくは体液中に見いだされる物質(例えばグルコースレベル、血液pH、O2、温度、等)を検知できるよう設計される。それらの計測によって、患者の条件及び状態に関する有用な情報が得られる。また、そのようなことから、複数回の計測の結果の平均値(average or mean)を計算できるよう、しばしば、同一の一般生体組織エリア内における複数回の計測が望まれる。これにより、複数回の相異なる読みから共通点を読み取ることが可能になり、収集したデータの正確性及び信頼性をより好適に確かめることができる。
【0020】
また反面、生体組織内の生理的に関連するが相異なる部位における所与の物質に関して様々な種類の計測成果が得られる。例えば、ある種の用途、例えばクローズドループインシュリンインフュージョンシステムにおいては、血液ストリーム内におけるグルコース値の読みと、他の血液ストリーム内におけるグルコース値の読みと、血液ストリームに隣接する生体組織内におけるグルコース値の読みとを、得られるという利点がある。これは、あるグルコース値の読みが他のものに比べてどのように俊敏に変化するかを示す時定数が異なってもよいためであり(実際、通常は異なるものである)、その種の相違を取得又はモニタすることが可能になることによってインシュリンインフュージョンの安定化に関する有用な情報を得ることが可能になる。
【0021】
図3A,図3B,図3C及び図3Dに、それぞれ、参照した特許に記述されたタイプの典型的な埋込可能型センサデバイス30について、分解パース(図3A)、側面(図3B)、頂面(図3C)及び端面(図3D)を示す。図3Aに最も明瞭に示されているように、センサデバイス30は典型的にはキャリア乃至基板36を有しており、この基板36上には集積回路(IC)38及びその他の部品例えばコンデンサ40が搭載され、ハイブリッド回路が構成されている。
【0022】
図3Aに示されているキャリア乃至基板36はハイブリッド電子回路を形成する土台又は基礎として用いられているけれども、本発明は、キャリア乃至基板36の内部にIC38が実質的に形成される実施形態に関するものである。
【0023】
図3A乃至図3Dに示した実施形態においては、ハイブリッド回路の全構成部品が、リッド乃至カバー42を基板36にボンディングすることにより形成された空洞内に、密封されている。後の記述より明らかになるとおり、本発明における顕著な利点の一つは、本願で開示する一実施形態においてはリッド乃至カバー42が必要でないことである。
【0024】
図3A乃至図3Dにおいては、上流側パッド乃至端子13及び15並びに下流側パッド乃至端子17及び19が、カバー42によって生成されたハイブリッド回路の密封部分の外に、残っている。しかしながら、これら上流側及び下流側パッドは、好適な給電接続を介して密封部分内の回路に電気的に接続される。給電接続の好適なやり方のうち一つは、キャリア又は基板を通じたステアステップ方式(垂直、水平両セグメント共)による給電接続であり、この参照を以て本願に繰り込まれる米国特許第5750926号(以下‘926号特許と言う)に記載されている。
【0025】
引き続き図3A乃至図3Dを参照するに、キャリア乃至基板の面のうちハイブリッド回路と逆側の面上には、好適な電気化学的センサ44又はその他好ましいタイプのセンサ若しくはスティミュレータが形成又は配置されている。ここで使用する電気化学的センサの一タイプは、この参照を以て本願に繰り込まれるところの米国特許第5497772号、特にその図2A、図2B、図2C、図3、図4A及び図4Bにより開示されているエンザイム電極センサである。しかしながら、ここで強調すべきことは、本発明においては、センサデバイス30にて使用できるセンサ44その他の埋込可能型素子の繊細性・精度がクリティカルな問題とはならないことである。重要なのは、センサその他の素子を埋込可能にすること、また適当な制御信号に応じて特定種別のパラメタ若しくは物質を検知し特定種別の信号を発生させる等、望まれている機能を提供することである。
【0026】
センサ44その他の素子によって生成される制御信号又は出力信号のタイプがどのようなものであれ、その種の信号は、キャリア乃至基板36のハイブリッド回路側(センサデバイス30を図3B又は図3Dの向きとしたときの上側)からセンサデバイス30のセンサ側(図3B又は図3D中の下側)へと、センサデバイス30のハイブリッド(上)側から基板乃至キャリアを通じてセンサデバイス30のセンサ(下)側に向けステップワイズに通過する適当な密封給電経路、例えば‘926号特許に記載の方式による経路によって、通じるものである。
【0027】
例えば、センサが米国特許第5497772号により教示されているグルコースセンサを含むものであるならば、同文献の図4Aから最もよく見て取れるように、センサの主電極(群)と電気的にインタフェースする5個の導体があるであろう。この種のグルコースセンサを用いるのであれば、それら5個の導体は、密封性を保ちながらステップワイズにキャリア36を通る適当な給電経路を用いて、即ち‘926号特許により教示されているように垂直水平双方のセグメントを用いたキャリアを通じて、キャリア36の上側にあるハイブリッド電気回路とインタフェースする。
【0028】
上述したように、親出願は、図3A、図3B、図3C、図3D及び図4に示されるように、それ自体、キャリア36を使用しないデバイス30を志向している。キャリア36においては、制御回路がキャリア36の一方の側(上部)上に位置し、またセンサその他電子回路と共に使用される又は電子回路によって制御されるデバイスはキャリアの他の側(下側)上に置かれる。というよりは、IC38が形成されるセラミクス又は基板それ自体がキャリアとして機能している。親出願においては、これを、密封給電経路として機能するよう基板内或いは集積回路の層間に形成されたビアを用いて、達成している。この集積回路(IC)は、被覆されたICそれ自体を埋め込めるようICの適切な部位をシールするために、必要に応じて酸化アルミニウムその他の酸化皮膜で被覆されている選択された層及びトレースにより、構成されている。この点については‘926号特許及び/又は米国特許第6043437号により教示されている。米国特許第6043437号は、1997年12月19日付けの特許出願08/994515号に係る特許であり、ここでの参照を以て本願に繰り入れることとする。好ましいことに、このようにすることによって、センサ44その他ICと共に用いられ或いはICによって制御される埋込可能な素子は、IC基板の裏側(非アクティブ側)に形成できる。従って、キャリアそれ自体は、IC基板がキャリアとして機能することから不要となり、リッド乃至カバー42も不要となる。
【0029】
親出願の実施形態における重要な利点は、センサの基板内に電気回路を形成することにより、他の類似した埋込可能型デバイスとデイジーチェーン接続されうる埋込可能型デバイスが得られたこと、またそれにもかかわらず単一のコントローラ20により個々のデバイスを個別にアドレス、制御及びモニタできることである。なお、この種の電気回路、即ち以下の記述においてしばしばインタフェース/制御回路と称するところの回路は、図3A、図3B、図3C、図3D及び図4においては、キャリア36の「上」側即ちセンサデバイス30のうちその大部分がカバー42によって密封シールされる部分に配置される。しかしながら、理解頂けるように、親出願によれば、そのようなインタフェース/制御回路は、実際には基板のアクティブ側上、基板内に形成され、被覆され、必要に応じ更に密封シール用に被覆される。
【0030】
図2に示した構成は、いくつかの種類の埋込可能型デバイスには特に適している。即ち、図4に示したようにデイジーチェーン接続によって単一のリード32を形成するには適している。図4から読み取れるように、図3A乃至図3Dに示したタイプの3個のセンサタイプデバイス30a,30b及び30cは、リードセグメント46a,46b及び46cにより一体に接続されている。リードセグメント46a,46b及び46cは、各々、2個の導体14,16を含み、適当な方式により構成されている。例えば、2個の導体をリードセグメント内でスパイラル状に巻くことにより構成されている。このスパイラル状の巻き線は、リード分野で公知の技術に従い、シリコンゴム製の鞘によってケーシングされ或いはカバーされる。(注:図4を示した目的に従えば、あるデバイスの下流側パッドから他のデバイスの上流側パッドにつながる個別のリードセグメント46a,46b及び46cにセグメント化されているとはいえ、リード32内の2個の導体14,16それぞれを1個の導体として扱える。)下流パッド34は、リード32のうち端即ち最も下流側のセンサデバイス30c最端の下流側パッドをカバーしている。
【0031】
次に、図5A及び図5Bに、本発明に従い製作された好適な基板型センサ50を示す。図5Aには基板型センサ50の頂部を、図5Bには縦断面を、それぞれ示している。基板型センサ50は、好ましいことに、ハイブリッド電子回路も使用しないし、密封シールリッド乃至カバーも必要としない。却って、基板型センサ50は、CMOSその他の集積回路を製作する際に常識的に用いられるタイプのシリコン又はセラミック基板等による基板52を含む。
【0032】
電子回路は、基板52のアクティブ側上、領域54の中に、従来のやり方、例えばCMOSプロセス技術に従い集積回路70として形成されている。この電子回路は、基板52内に向けその表面が陥入するような形で設けてもよい。そのような形で設けると、図5Bに示されている回路領域54は、基板52の体部内に若干延びることとなる。基板型センサ50のアクティブ面上には、例えば、図5Aに見られるように、接続パッド13,15,17及び19が形成される。これらを形成することによって、センサ基板を他のセンサとデイジーチェーン接続することができる。この点については米国特許第5999848号により既に教示されている。
【0033】
図5Bの例において基板52の縁まで延びている集積回路70は、複数の導電パッド72を有している。導電パッド72は、集積回路70の上側の面上に形成されており、通信及び/又は集積回路70への電力供給に使用される。これらのパッドは、アルミニウムその他の導電素材により、また従来のやり方により形成されている。基板52の大部分及びその内部に形成されている集積回路70は、生体親和的な絶縁素材、例えばアルミナ、ジルコニア、又はアルミナ若しくはジルコニアの合金により被覆されている。基板型センサ50を形成するパッケージは、これによって、カプセル層56を用いつつ密封される。顕著なことに、本発明においては、基板型センサ50を形成するパッケージの密封性を保ちつつ、カプセル層56を通じ導電パッド72に至る電気的接続が形成されている。図5Bに示されている第1の実施形態においては、金属ビア(例えばパッド15及び19を形成する)がプラチナによって好適に形成され、導電パッド72に対する外部導電接続のためカプセル層56を通じている。これのビアは、好ましくは、次に述べる2種類の方法のうち一つにより密封化される。一つ目の方法は、ビアを形成するプラチナ層の厚みを充分に、例えば5μmとし、リーケージの素となるプラチナの不均一性を克服する、という技術である。二つ目の方法は、後に更に述べるように、イオンビーム成長を用いてプラチナビアを形成する、という技術である。このプロセスはより均一なプラチナ層を形成するため、密封性を保ちつつもプラチナ層の厚みをやや減らすことができる。
【0034】
次に、図6A及び図6Bに、カプセル層56を通じ集積回路70上の導電パッド例えば72a及び72bに至る密封外部導電接続を提供する技術の代替例を示す。集積回路70は、図6Bに示した例では、基板52の縁まで延びている。この技術においては、例えばアルミニウム、プラチナ等の金属によるトレース、例えばトレース74が、基板52の表面及び集積回路70に対して本質的に平行に形成されている。トレース74の第1の端は導電パッド例えば導電パッド72bと電気的に結合している。トレース74の第2の端58はカプセル素材56を通じて露出し、外表面からアクセス可能なパッド19を形成している。図6Bに示した技術においては、トレース74の第2の端58から導電パッド72bへの導電接続経路を蛇状ルートとしたこと及び金属トレース74をやや長くしたこと(例えば金属トレースの長さは好ましくは少なくとも100μm)によって、密封性が達成されている。好ましくは、金属トレースは例えば1μm程度の薄いカプセル層によりくるむ。この層は、典型的には、1個又はそれ以上の個数の製造工程によって成長させる。
【0035】
これに追加して、検知電極E1及びE2(図6A参照)を形成する導電接続を形成してもよい。形成箇所は例えば電力/通信パッド13,15,17,19が形成されている面と同一の面でよく、集積回路70に対して同様の形態で密封される。また、この種の検知電極を集積回路70と組み合わせて用い、前掲の特許文献に記載されたセンサを構成するようにしてもよい。好ましいことに、望むのであれば、以上に述べた技術を用いて全ての接続、回路及び検知電極を基板52の同一面上に形成することができ、従って図9及び図10の記載に従い後に述べる複数の例えば対のセンサを製造することができる。
【0036】
図7に、基板上に形成された半導体への密封接続を提供する技術に関し、更に他の実施形態における部分断面を示す。この実施形態は図6Aに示したものと同様であるが、相互内部接続された(interconnected)導電トレース74’、74’’の層を追加している点で異なる。トレース74’、74’’は、追加されたカプセル層56’、56’’、56’’’によりくるまれており、導電接続部の密封性を更に高めるために用いられている(パッケージの厚みがますため若干コストがかさむが)。
【0037】
基板52上のカプセル層56に被覆例えばアルミナ絶縁を与えるには、各種の技術を用いうる。好ましい技術としては、例えば、イオンビーム成長(IBD)技術がある。IBD技術は公知であり、この参照を以て本願に盛り込むところの米国特許第4474827号又は米国特許第5508368号により教示されている。
【0038】
図8に示すように、この種のIBD技術又は類似の技術を用いることにより、所望のアルミナその他の層56を基板52の全面において成長させることができる。図8に見られるように、基板52は、制御された速度で回転する適当な作業面401上に置かれる。作業面401及びその上の基板52(既に回路及び電極が形成されているもの)は、当該作業面がイオンビーム421に晒された状態で回転させられる。基板52が6面を有するとすると、回転につれそれら6面のうち5面がビーム421に晒される。これにより、物体の面のうち晒されている5面にアルミナの所望の層が設けられる。適当な露出の後、物体はひっくり返され、基板の前は露出していなかった側が露出する。この状態で同様の処理を繰り返す。このようにすると、基板52の4面は2回露出することとなるが、これは2回露出した面のアルミナのカプセル層56を単純に厚くするという結果につながるだけである。
【0039】
本件技術分野で知られている他種の技術によって、アルミナカプセル層56を物体上に設けることも、可能である。
【0040】
アルミナのカプセル層を基板52上に被着するステップは、典型的には以下を含む:
(a)約300オングストロームのチタニウム層を、アルミナにより被覆されるべき金属導体その他のオブジェクトに対し、スパッタリングする。
(b)オブジェクトに対するアルミナの選択的被着を行う場合は、基板上に感光ポリアミドをスピニングする。
(c)アルミナを被着させないエリアが露出するようマスクを施す。
(d)紫外(UV)光で照らしマスクを通じてポリアミドをポリメライズする。UV光によってポリアミドが照らされたところは酸化アルミニウムが成長しない。従って、ポリアミドのポリメライゼーションは、実効的には、ネガティブ(negatively acting)レジストである。
(e)非ポリメライズされたポリアミドをキシレン又はこれに等価な物質により洗うことで、フォトレジストを現像する。一旦非ポリメライズされたポリアミドを洗い落とすことで、セラミック(又はその他の部品)に酸化アルミニウムを成長させる準備が整う。
(f)アルミナの選択的被着を行わない場合即ちアルミナを全部位に被着させる場合や、非ポリメライズされたポリアミドを洗い落とした後には、所定厚み例えば4〜10μmまで即ち6μm程度、イオン強化蒸発(ion enhanced evaporation)、IBDその他の適当な応用技術によって、対象上に酸化アルミニウムを成長させる。
(g)被覆被着の間、基板の全属面に被覆を施すべく必要に応じ図8に示すように回転及び/又は再配置(reposition)し、所定厚みまで被覆する。このステップは数回繰り返すとよい。例えば、アルミナの薄い層を繰り返し成長させ、所望の厚み或いは特性となったかをチェックする。そして、再配置、成長及びチェックステップを、所望の厚みが得られるまで或いは被覆が所望の絶縁及び/又は密封特性を示すまで繰り返す。
(h)もしポリアミド上に酸化アルミニウムが被さっているのであれば、ダイアモンドスクライブ、レーザ、コンピュータミルマシン制御等によりそれを破壊し或いは刻む。これにより、次に述べる酸化アルミニウムリフトオフ時に、後述するパイラナ溶液が酸化物の下に入り込む。
(i)基板をパイラナ溶液(60度まで加熱したH2SO4×H2O2×2)に浸した後、ポリアミド及び不要な酸化アルミニウムをリフトオフする。浸す時間は、ポリアミド層の厚みにもよるが、30〜60分。
【0041】
上述した被覆方法は、実質的に、先の参照を以て本願に繰り込まれている米国特許第6043437号に記載されているものと同じである。この技術分野において通常の熟練をなしたいわゆる当業者にとって、上述したIBD技術が、内部に形成される半導体との外部導電接続を得るためのビア及び電極を形成するプラチナ層その他の生体親和的導電金属の選択的成長に適用できることは、明かであろう。好ましいことに、このIBD技術を使用することにより、プラチナその他の金属層を、密封するのに充分な均一さにすることができる。
【0042】
図9に、両センサ基板の電極が外側を向くよう2個のセンサ基板50を背面対背面配置したセンサアセンブリ100を示す。図9には保護カプセル層56を示していないが実際にはあるものと想定している。
【0043】
図10に、図9のセンサアセンブリ100の用途を示す。センサアセンブリ100は鞘102及び膜104の内側にあり、電気化学的センサアセンブリ100を形成している。鞘102はセンサアセンブリ100をくるみ、その内側にリザーバを形成している。リザーバの中には、適当な溶液、例えば塩の溶液が保持されている。膜104は鞘102をくるむ。ポケット106は、膜104内に、選択されたワーキング電極に被さるよう形成されている。適当なエンザイム107が、このポケットの内部に置かれる。窓109はエンザイム107をポケット106内に保持されている周囲環境に晒す。
【0044】
電気化学的センサアセンブリ110の動作は、実質的に、先の参照を以て本願に繰り込まれている‘163号特許その他の参照済特許文献に記載のものと同じと見てよい。しかしながら、センサアセンブリ110の上述した構造においては、検知窓109がアセンブリの両側にあるため、センサの動作においてより広い露出面積乃至「ビュー」を提供できる。
【0045】
上述したように、本発明は、電極及び回路を有し、これら電気回路と電極とが同一基板部材例えば半導体基板の中又は上に形成された埋込可能型センサを提供する。本発明における半導体基板は、例えば、相補的金属−酸化物−半導体(CMOS)集積回路の形成に使用されるものと同一のタイプの基板である。
【0046】
更に明らかなように、本発明は、電極及び回路を有し、リッド乃至カバーが不要な埋込可能型センサを提供する。リッド乃至カバーは、従来は、基板片側の基板上のハイブリッド電子回路を密封シールするために用いられていたが、本発明によれば、従来可能であったものに比べセンサを顕著に薄くすることができる。
【0047】
本発明について特定の実施形態及び用途により説明したが、特許請求の範囲の記載範囲から離れることなく当業者がなし得る種々の変形及びバリエーションがあり得る。例えば、アセンブリの隅部は丸めるのが望ましい(図6Bのコーナー62を参照)。これにより密封性を高められる。サンドブラストや酸によるエッチング技術を、この丸め工程にて使用できる。更に、パッド例えば19は一般にはカプセル層56内の浅い穴内に設けるが、導電ビーズ又はパッドをボンディングして外部接続を補助すること、或いは周囲のカプセル層をずらす又はこれに重ねることにより外部接続上でのパッドへの各種のストレスを最小化することが、望ましい。このようなバリエーションは、本発明の技術的範囲内に属するものと考え得る。従って、明示した実施形態に限らず、特許請求の範囲内において、本発明は実施しうるものと理解されるべきである。なお、複数の図を通じ同一符号が付されている部材は対応する部材である。
【図面の簡単な説明】
【0048】
【図1】コントローラに接続された二芯バスを用い複数のセンサ/スティミュレータを接続した構成を示すブロック図である。
【図2】シリアル又はデイジーチェーン形式に従いセンサ/スティミュレータをコントローラ及び他のセンサ/スティミュレータに対しどのように接続するかを示す図である。
【図3A】図2に示したデイジーチェーンにて用いられ参照した特許文献に示されたタイプのセンサ/スティミュレータを説明するための一部分解斜視図である。
【図3B】図3Aのセンサ/スティミュレータの側端面図である。
【図3C】図3Aのセンサ/スティミュレータの頂端面図である。
【図3D】図3Aのセンサ/スティミュレータの端部端面図である。
【図4】図3A乃至図3Dに示したセンサ/スティミュレータを複数個含む埋込可能型リードを示す図である。
【図5A】本発明に係る好適なセンサ基板、即ち導電ビアの密封性を高めつつ基板上に形成された半導体に対する密封型電気接続を提供するセンサ基板の斜視図である。
【図5B】図5Aのセンサ基板の断面図である。
【図6A】本発明の他の実施形態に係る好適なセンサ基板、即ちビアと絶縁体によりくるまれた金属接続経路との組合せにより基板上に形成された半導体に対する密封型接続を提供するセンサ基板の斜視図である。
【図6B】図6Aのセンサ基板の断面図である。
【図7】基板上に形成された半導体に対する密封型電気接続を提供する技術に係る更に他の実施形態の部分断面図である。
【図8】センサ基板上に保護被覆又は保護層を成長させる方法の一つを示す図である。
【図9】2個のセンサ基板を背面対背面配置して両センサの基板面がアセンブリの外方向を向くようにしたセンサアセンブリを示す図である。
【図10】図9に示したセンサアセンブリを鞘及び膜内に入れ、電気化学的センサアセンブリとする用法を示す図である。
Claims (23)
- 生体組織内への埋込に適し密封シールされたパッケージであって、
複数の面を有しそのうちの少なくとも一つの面における集積的部位として集積回路が形成された半導体基板であって、当該集積回路が、通信のため及び/又は当該集積回路への電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを有する半導体基板と、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドとの電気的接続を提供すべく上記半導体基板の集積的部位として形成された1個又はそれ以上の個数の導電経路であって、上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドと結合する第1の端並びに上記シールされたパッケージからの外部電気接続のため露出している第2の端を有し、当該第2の端が、当該導電経路の密封性を確保するのに充分な均一性及び/又は厚みを有する均一な生体親和的な素材から形成された導電経路と、
上記導電経路の第2の端として選択された部位を除き上記集積回路及び上記半導体基板表面をカプセル状に覆う絶縁被覆部材と、を備え、
上記密封シールされたパッケージが更なるパッケージングなしに生体組織への埋込に適することとなるパッケージ。 - 請求項1記載の密封シールされたパッケージであって、上記導電経路がプラチナを含むパッケージ。
- 請求項2記載の密封シールされたパッケージであって、上記プラチナ導電経路が、充分な均一性を確保すべくイオンビーム成長により製作されたパッケージ。
- 請求項2記載の密封シールされたパッケージであって、上記プラチナ導電経路が、プラチナビアの厚みを少なくとも5μmの厚みとすることにより密封性としたパッケージ。
- 生体組織内への埋込に適し密封シールされたパッケージであって、
複数の面を有しそのうちの少なくとも一つの面に集積回路が形成された半導体基板であって、当該集積回路が、通信のため及び/又は当該集積回路への電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを有する半導体基板と、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドとの電気的接続を提供する1個又はそれ以上の個数の導電経路であって、上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドと結合する第1の端並びに上記シールされたパッケージからの外部電気接続のため露出する第2の端を有する導電経路と、
上記導電経路の第2の端として選択された部位を除き上記集積回路及び上記半導体基板表面をカプセル状に覆う絶縁素材とを、備え、上記導電経路各々が、
上記パッドのうち一つと電気的に結合した第1の導電性ビアと、
本質的に半導体基板の表面と平行な向きを向いた第1及び第2の端を有し上記第1の端において上記第1のビアと電気的に結合した金属トレースであって、上記第2の端が少なくとも部分的には外部に露出している金属トレースとを、備え、
上記導電経路が生体親和的絶縁素材によりくるまれたパッケージ。 - 請求項5記載の密封シールされたパッケージであって、上記生体親和的絶縁素材が、アルミナ、ジルコニア、又はアルミナ及びジルコニアの合金からなるグループ中から選択されたパッケージ。
- 請求項5記載の密封シールされたパッケージであって、上記金属トレースの上記第2の端が生体親和的であるパッケージ。
- 請求項7記載の密封シールされたパッケージであって、上記金属トレースの上記第2の端がプラチナであるパッケージ。
- 生体組織内への埋込に適し密封シールされたパッケージであって、
複数の面を有しそのうちの少なくとも一つの面に集積回路が形成された半導体基板であって、当該集積回路が、通信のため及び/又は当該集積回路への電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを有する半導体基板と、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドとの電気的接続を提供する1個又はそれ以上の個数の導電経路であって、上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドと結合する第1の端並びに上記シールされたパッケージからの外部電気接続のため露出している第2の端を有する導電経路と、
上記導電経路の第2の端として選択された部位を除き上記集積回路及び上記半導体基板表面をカプセル状に覆う絶縁素材とを、備え、上記導電経路のうち少なくとも一つが、
第1及び第2の端を有し、少なくとも上記半導体基板に最も近い内側トレース及び上記半導体基板から最も遠い外側トレースを含む複数の金属トレースであって、上記金属トレース間が密封シールされるようサンドイッチされた絶縁素材により相隣接する金属トレースの対が分離されている金属トレースと、
上記絶縁素材によりくるまれ上記相隣接する金属トレースの対を相互に接続する少なくとも1個の相互接続ビアと、
上記内側トレースを上記集積回路上の少なくとも1個の上記パッドに相互に接続する少なくとも1個の内側ビアと、
上記複数の金属トレース、上記集積回路及び上記半導体基板をカプセル状にくるむ絶縁素材であって、外部接続のため当該カプセル状の絶縁素材を介して少なくとも1個の外側金属トレースの第2の端が少なくとも部分的に露出する絶縁素材とを、備え、
金属トレース、サンドイッチされた絶縁素材、カプセル状の素材及びビアの上記組合せにより、上記埋込可能型パッケージの外部から上記集積回路に至る密封された通信経路を提供するパッケージ。 - 請求項1記載の密封シールされたパッケージであって、上記集積回路が上記半導体基板の第1の面上に形成され、上記集積回路からの上記導電経路が上記第1の面から外側に延びるパッケージ。
- 請求項10記載の密封シールされたパッケージであって、上記半導体基板が当該基板の上記第1の面とは逆側に第2の面を有し、上記基板の上記第2の面が導電経路又は集積回路を伴わないで形成され、追加された上記パッケージの第2の基板面に対する上記第2の面の接続を施しうるパッケージ。
- 密封シールされた集積回路に対する導電密封接続を提供する方法であって、
当該集積回路に対する通信及び/又は電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを備えた集積回路を、半導体基板の表面の集積的部位として形成するステップと、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドに対する導電接続を提供すべく1個又はそれ以上の個数の導電経路を、半導体基板の集積的部位として形成するステップであって、当該導電経路が、上記1個又はそれ以上の個数のパッドと結合した第1の端及び上記シールされた集積回路からの外部導電接続のため露出する第2の端を有し、上記第2の端が、上記導電経路の密封性を確保するのに充分な均一性及び/又は厚みを有する生体親和的素材から形成されるステップと、
上記導電経路の上記第2の端として選択された部位を除き上記半導体基板及び上記集積回路を絶縁被覆素材によりカプセル状にくるむステップとを、有し、
上記密封シールされた回路が更なるパッケージングなしに生体組織内埋込に適するものとなる方法。 - 請求項12記載の方法であって、1個又はそれ以上の個数の導電経路を形成するステップが、生体親和的となるよう当該導電経路をプラチナから形成するステップを含む方法。
- 請求項13記載の方法であって、上記導電経路をプラチナから形成するステップが、充分な均一さとなるようイオンビーム成長を用いてプラチナを成長させるステップを含む方法。
- 請求項13記載の方法であって、上記導電経路をプラチナから形成するステップが、上記プラチナ導電経路が密封性となるよう、少なくとも5μmのプラチナ層を成長させるステップを含む方法。
- 密封シールされた集積回路に対する導電密封接続を提供する方法であって、
通信及び/又は当該集積回路に対する電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを備えた集積回路を、半導体基板の表面上に形成するステップと、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドに対する導電接続を提供すべく1個又はそれ以上の個数の導電経路を提供するステップであって、当該導電経路が、上記1個又はそれ以上の個数のパッドと結合した第1の端及び上記シールされた集積回路からの外部導電接続のため露出している第2の端を有するステップと、
上記導電経路の上記第2の端として選択された部位を除き上記半導体基板及び上記集積回路をカプセル状にくるむステップとを、有し、1個又はそれ以上の個数の導電経路を形成するステップが、少なくともその一部分として、
上記パッドのうち一つと電気的に結合した第1の導電ビアを形成するステップと、
本質的に半導体基板の表面と平行な向きに向けられた第1及び第2の端を有しその第1の端において上記第1のビアと電気的に結合し上記第2の端が少なくとも部分的に外部に露出している金属トレースを形成するステップと、
上記導電経路を生体親和的な絶縁素材によりくるむステップとを、有する方法。 - 請求項16記載の方法であって、上記導電経路をくるむステップが、当該導電経路をくるむようアルミナを成長させるステップを含む方法。
- 請求項16記載の方法であって、第2の導電結合ビアを形成するステップが、生体親和的な金属から当該第2のビアを形成するステップを含む方法。
- 請求項16記載の方法であって、第2の導電結合ビアを形成するステップが、生体親和的となるよう当該第2のビアをプラチナから形成するステップを含む方法。
- 密封シールされた集積回路に対する導電密封接続を提供する方法であって、
通信及び/又は当該集積回路に対する電力供給のため1個又はそれ以上の個数の導電パッドを備えた集積回路を、半導体基板の表面上に形成するステップと、
上記1個又はそれ以上の個数の導電パッドに対する導電接続を提供すべく1個又はそれ以上の個数の導電経路を提供するステップであって、当該導電経路が、上記1個又はそれ以上の個数のパッドと結合した第1の端及び上記シールされた集積回路からの外部導電接続のため露出している第2の端を有するステップと、
上記導電経路の上記第2の端として選択された部位を除き上記半導体基板及び上記集積回路をカプセル状にくるむステップとを、有し、1個又はそれ以上の個数の導電経路を形成するステップが、少なくともその一部分として、
第1及び第2の端を有する複数の金属トレースを形成するステップであって、当該複数の金属トレースが、上記半導体基板に最も近い内側トレース及び上記半導体基板から最も遠い外側トレースを含み、相隣接する金属トレースの対が、当該金属トレース間が密封シールされるよう当該金属トレースによりサンドイッチされた絶縁素材を含むステップと、
上記絶縁素材によりくるまれ上記相隣接する金属トレースの対を相互に接続する少なくとも1個の相互接続ビアを形成するステップと、
上記内側トレースを上記集積回路上の少なくとも1個の上記パッドに相互に接続する少なくとも1個の内側ビアを形成するステップと、
上記複数の金属トレース、上記集積回路及び上記半導体基板をカプセル状にくるむ絶縁素材を成長させるステップと、
外部通信のためカプセル状の絶縁素材を介して少なくとも1個の外側金属トレースの第2の端を少なくとも部分的に露出させるステップとを、有し、
金属トレース、サンドイッチされた絶縁素材、カプセル状の素材及びビアの上記組合せにより、上記埋込可能型パッケージの外部から上記集積回路に至る密封された通信経路を提供する方法。 - 請求項12記載の方法であって、上記カプセル状にくるまれた集積回路の少なくとも一つのコーナーを丸めるステップを有する方法。
- 請求項21記載の方法であって、上記丸めるステップがサンドブラスティングを含む方法。
- 請求項21記載の方法であって、上記丸めるステップが、酸によるエッチングを含む方法。
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