JP2004529334A - 本質的に単層の流れの中を移動する物体を自動的に検査するための装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
本発明は、特にリサイクル可能な家庭用包装の中で、物体を、以下でカテゴリと呼ぶ、その構成材料によっておよび/またはその色によって、および/または材料の、または構成物質の、および色の組み合わせによって、特性指摘、および任意には自動的に仕分けすることに関する。
【0002】
本発明は、移動している物体を、それらの化学組成によって特性指摘および区別することによって自動的に検査するための装置および方法に関する。
【背景技術】
【0003】
本発明による機械は、特に検査の目的に適しており、任意には、様々なリサイクル可能なプラスチック包装、特にPET(ポリエチレンテレフタレート)、HDPE(高密度ポリエチレン)、PVC(ポリ塩化ビニル)、PP(ポリプロピレン)およびPS(ポリスチレン)、ならびに紙/ボール紙、複合材料(ドリンクパック)または金属包装製の瓶を高速で仕分けすることに適しているが、他を排除するものではない。
【0004】
しかし、この機械はまた、たとえば果物(糖含有量による区別)などの、有機化合物を含み、実質上単層の平面体裁で移動する他のいかなる物体または物品も検査し、区別するために使用することができる。また、区別は、主なまたはマイナーな化合物または、複数の化合物を基にして実施することができる。
【0005】
また、前記区別は、カテゴリで仕分けすることにより物体の流れを分離することで、または前記流れを単に計数または特性指摘することで終了することができる。
【0006】
特にその構成材料によって包装を仕分けするための、上述のタイプの様々な機械および様々な方法が、すでに存在している。
【0007】
しかし、これらの知られている機械はすべて、かなり深刻な欠点および顕著な制限を有する。
【0008】
したがって、特に、材料による仕分けがリサイクルの担当当局によって要求されているヨーロッパ各国では、家庭用包装の仕分けは、現在まだ多くは手動である。他の国々でも同様である。
【0009】
仕分けをかなり自動化することは、少なくともプラスチック材料に関して、近年ドイツで行われているが、極めて特殊な事例である。仕分け基準は、材料ではなく形状(フィルム、中空体、または様々な混合プラスチック)に関連している。したがって、これらの既存の機械は、フィルムを空気力で前もって仕分けし、中空体を手動で前もって仕分けした後、「混合プラスチック」カテゴリを紙/ボール紙から仕分けする。複合包装または金属製の包装を仕分けするための機械もまた見られる。
【0010】
既存の機械は、効力の点で様々であり、仕分けされる物体の流れの機械的な調整のタイプに依存する。これらの主な解決法は、次のように区別することができる。すなわち、
物体を把持することなく、受容器ごとに1つの物体で完全に個別化すること。
【0011】
渦巻き状の流れ。物体は、前後にアラインメントされる。
【0012】
平面流。物体は、物体の最大寸法よりもずっと大きいマット上にばらばらに広げられ、単一層に分散される。
【0013】
効率および生産性の観点から、最後の解決法のみが、廃棄物、特に家庭廃棄物と同じように異質である製品に適切であると判明した。
【0014】
完全な個別化は、産業的に適切であると判明することはなかった。このタイプの体裁を有する開発されたプロトタイプはすべて、その後運転中止となった。
【0015】
渦巻きタイプの流れは、主な流れが一様であり、関連するオーバーソートが、少ない割合の望ましくない物体を排除する工業用のオーバーソート機械が、すでに存在する。包装の異質の流れに適用すると、これらの渦巻きタイプのシステムは、特に清浄な流れ上で動作した。しかし、これらの機械は、制限されたスループットを有し、作業の妨げとなりそうな物体を取り除くために、機械の上流での手作業のオペレータと、特に大きなプラスチックのシートおよび大きな容器の存在を必要とする。したがって、これらは、仕分けの自動化に対して満足な解決法を構築せず、ほとんど成功しなかった。
【0016】
他方、平面流は、これは実際は手作業の仕分けで発見された物体の呈示のようであると、それ自体判明した。したがって、家庭廃棄物のコンテクストから簡単にそれを実行する方法が知られており、このタイプの流れを使用する機械は、ばらばらの仕分け条件に適しており、上述の他の2つのタイプよりはずっと成功するものであった。
【0017】
したがって、現在最も効率的な機械を含む平面流の仕分けのみを以下で議論する。
【0018】
本出願人の名での欧州特許出願第0 706 838号明細書は、平面流の中の物体に適した仕分け機械および方法を示している。この機械は、物体を配置し、その形状およびその色を認識するための少なくとも1つの人工視覚システムと、物体を把持し、操作するためのロボットアームと、その構成材料を認識するための少なくとも1つのコンプリメンタリセンサを使用している。このコンプリメンタリセンサは、有利には、赤外線分光計である。
【0019】
このシステムは、主な包装が、材料によっておよび/または色によって仕分けされ、複数の適切な容器内に分配される、基本的に多材料のシステムであるという利点を有する。したがって、同機械は、8個までの異なるカテゴリに仕分けすることができる。また、物体を個別に把持することで通常1000の仕分け物体につき1個誤差という、素晴らしい仕分けの品質が保証される。
【0020】
しかし、このシステムの仕分け速度は、仕分けされた物体を個別に把持することによって制限され、仕分けモジュール当たり60〜100kg/hを超えない。この速度を増加させる唯一の方法は、複数の同一の仕分けモジュールを縦続させることであり、このことは、機械の全体の大きさおよびそのコストを増加させる。
【0021】
米国特許第5 260 576号明細書は、物体の流れの下での伝達によって受光された電磁放射を頭上に放出する、平面状の仕分け機械を示している。この放射の強度によって、材料をその伝達での相対不透過率によって区別することが可能になる。したがって、放射線がX線から成る場合、この文献は、塩素原子を含まない他のプラスチック、特にPETと比較して、X線に対して不透過である塩素原子を含むPVCを十分に分離することを述べている。この結果に応じて、ノズル列が、物体の分類の1つを下向きに放出する、または放出しないことになる。
【0022】
しかし、この検知原理は、複雑な事例に対して基本的でありすぎる。すべての物体は不透過率を有し、わずかしか不透過性でない複合的な厚さの材料(たとえばPET/ポリエリレンテレフタレート)を、単一の厚さの、より不透過性である異種の材料(たとえばPVC−塩化ポリビニル)と区別することができないことが、理解されよう。したがって、これらすべての少々不透過性の物体を誤って一度に放出するというリスクがある。また、このシステムは、PVCを他のプラスチックから区別することしかできない。PETをHDPE(高密度ポリエチレン)またはPAN(ポリアクリロニトリル)から区別することは不可能である。この文献による既存の機械は、制限された有効性、および10〜30%の低い出力(放出された物体の中の所望の物体の割合)を有する。最後に、伝達アセンブリの顕著な欠点は、2つの要素のうちの少なくとも1つ、センサまたは伝達機が、流れの下になければならないことである。したがって、汚物の再流、またはより下流の要素の遮蔽のリスクがあり、比較的短い間隔での繰返し介入を必要とする。
【0023】
欧州特許出願第0 776 257号明細書は、高いスループットを有し、複数の材料から1つの材料を認識することが可能である平面状の仕分け機械を記載している。認識される材料は、適切に固定された較正によって機械の構築の時に選択される。
【0024】
この機械では、赤外線光のみが頭上に放射され、センサもまた最上部に配置されて、物体が鉛直方向に散乱させた光を解析する。
【0025】
受光は、マットの全長にわたって延びる平面状または半円形の凹面鏡を介して、その後多角形の回転鏡によって行われる。したがって、測定点は、マットの全長にわたって円筒形に走査される。
【0026】
測定点から受光された光は、その後、複数の流れの中の半反射鏡のアセンブリによって分配される。それぞれの流れは、固有波長の中心に置かれた干渉フィルタを通過し、その後検知器で終わる。したがって、各検知器は、フィルタのバンド幅に含まれる受光した光の割合を測定する。様々な検知器によって測定された相対強度を解析することによって、測定点に存在する材料が所望の材料であるかまたはそうでないかについての決定が可能になる。この文献で述べたフィルタの数は、3から6枚の間である。
【0027】
このタイプの大きなサイズの鏡の存在は、全体構造の脆弱な点を構成し、検知/放出距離を延長し、検知ステーションの全体の大きさを増加させ、ゆがみをもたらしがちになり、解析用に回収される光束の不均質性を導き、検知の誤差をもたらす。
【0028】
このような構成では、検知速度が主な問題となる。線1本当たり25〜50の測定ゾーンがあり、流れの循環速度については1秒当たり100〜150ラインを解析しなければならない。したがって、大きさは5000測定/sとなる、このような速度は次のような顕著な制約条件を含んでいる。
【0029】
検知アルゴリズムは、リアルタイムで実行するのに十分に単純(したがって操作がほとんどなく簡単な処理)でなければならない。
【0030】
受光電子回路は、極めて高速でなければならない。
【0031】
受光される光の量は、極めて短時間で十分でなければならない。
【0032】
検知アルゴリズムは、仕分けされる物体を進行させて排出する前に、仕分けされる物体の2次元再構成を実行しければならず、このことは、検知ゾーンと排出ゾーンの間の比較的長い距離を必要とし、検知と排出の間の物体の運動によって誤って排出するリスクを増大させる。
【0033】
光の量に関する上述の問題点は重大であり、この文献による機械がなぜ一つの所定の材料を認識することしかできないのかを説明している。すなわち
多数の材料の認識は、3から6の波長範囲だけでなく、少なくとも8から16の波長範囲(すなわちPLO)を必要とする。
【0034】
また、より多い数のPLOを同じスペクトル幅で区別しなければならないため、ここに述べた例で比較的広い(32〜114nm)PLOの幅を、5〜20nmの範囲内に減少されなければならない。
【0035】
2つの効果が、互いに追加される。最大数のPLOは、各フィルタによって受光される光の量を約3等分する。減少された各PLOの幅は、各フィルタが、受光された光の約5倍小さい部分が、通過することを可能にすることを意味している。同じレベルの信号を維持するために、機械に要求される光の出力は、1から3×5=15kWである。このような出力は、現実的ではない(コスト、エネルギ消費、加熱)。
【0036】
国際公開第99/26734号パンフレットは、前の文献にかなり近い構造である高いスループットを有するが、多材料の認識を開示している平面状の仕分け機械を示している。
【0037】
これを達成するために、この文献は、光の量の問題に異なる方法でアプローチしている。この文献は、赤外線検知のコンベア上流の視覚システムを提供している。このシステムは、上述の欧州特許出願第0 706 838号明細書に述べたものと極めて類似している。このシステムは、存在する各物体を配置することを可能にし、赤外線検知領域内で、移動する物体を追尾する単一の測定点を1組の位置感受性の鏡群によって制御することが可能である。物体当たり1つの点が解析されるため、有効解析時間は比較的長く、3から10msのオーダーである。したがって、実施例は、この解析時間に対応した知られている技術を使用してもよいが、それに特定されない。たとえば、検知器当たり4〜6nmの解像度を有する1群の光検知器(通常256の構成要素であり、それぞれが1波長に対応する)を使用してもよい。
【0038】
しかし、この解決法は、いくつかの欠点を有する。すなわち、
追加の材料、すなわち可視システムを必要とする。
【0039】
物体上の分光測定の点を見ることによる選択に依存し、このことは、ラベルまたは汚れが存在すると不便であるかもしれない。
【0040】
2つの検知が、約1m×1mのゾーン上で行われ、物体が視覚による検知と分光による検知の間で少なくとも1mだけ移動し、その後、分光による検知と最終的な排出の間で平均0.5mだけ移動するため、マット上の物体の不動性に依存する。特に物体が転がりやすい瓶である場合、コンベアが2.5m/sで進行するとき、不動性は決して保証されない。
【0041】
この文献に記載された機械は、より柔軟であるが、より高価であり、前の機械でよりもずっと非効率的である。
【0042】
最後に、独国特許出願第1 96 09 916号明細書は、赤外線スペクトルを出力ストリップにわたって広げるための回折格子と、この出力ストリップ内に不均一に分布する波長に対応した少数のセンサによって動作する平面のプラスチック仕分け機械用のミニチュア化された分光計を記載している。この文献では、従来型のフォトダイオードの群の256のセンサではなく、良く選択された10個のセンサで、十分であることが述べられている。しかし、これら10個のセンサはそれぞれ、1群のセンサのそれぞれと等価な面積、すなわち、通常30×250μm2の矩形を有する。このタイプの表面は、ほとんど光を集めず、解析速度を1秒当たり200測定に制限する。したがって、このタイプの分光計は、上述の速度および解像度で高速コンベア上のすべての点を解析することはできない。
【0043】
したがって、この最後の文献は、平面状の流れを解析するための1列の平行な同一のマイクロ分光計の作成を提案している。発明者によると、分光計のコストは、マイクロシステム生産技術によって最小化されることになるが、必要な解像度は、コンベアマットの幅をカバーするためにライン上に25〜50の分光計を必要とする。したがって、全体コストは、維持作業の制約と同様、極めて高くなる。また、この文献中には、このような機械の作成の詳細がほとんど提供されておらず、現在動作中のこのタイプの機械はないと思われる。
【0044】
上記に述べた装置および方法のそれぞれに固有の欠点および制限に加えて、これらすべての装置および方法に共通である主要な欠点を述べるべきである。すなわち、移動する物体の搬送平面Pcからこの距離で加えられる放射の不十分な強度のため、または解析される放射を回収することが不可能であるため、または上述の両方の理由で、かなりの高さ、たとえば10〜30cmの高さを有する物体を信頼性高く処理することは、不可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0045】
したがって、本発明の主な目的は、高いスループットで、および実質上単層の物体の流れのために動作する、検査および任意には仕分けするための機械および方法を提案することである。この機械および方法は、かなりの高さを有する物体の間を信頼性高く区別することが可能である一方、製造および使用するのが簡単であり経済的である。
【0046】
また、本発明は、物体を配置するための独立した視覚システムを不要にし、必要なセンサの数を最小にし、特に仕分けの場合、物体がそれらを移送する支持に対して移動し、放出された放射に曝らすことの効果が最適化されたとき、良好な信頼性を維持するべきである。
【課題を解決するための手段】
【0047】
したがって、本発明は、コンベアの搬送平面上をまたは搬送平面を覆って実質上単層で移動する物体を自動的に検査し、これらの物体をその化学組成によって区別するための機械であって、前記機械が、物体の流れがそれを通って通過するかまたはその下を通過する少なくとも1つの検知ステーションを備え、前記検知ステーションが、特に、
前記搬送平面の方向に電磁放射を加え、投光平面を画定することができるように前記放射を放出するための手段であって、前記投光平面と前記搬送平面の交線が、搬送の幅方向に関する物体の移動方向に対して横方向に延びる検知ラインを画定する手段と、
前記検知ライン上の各点を周期的に走査し、この瞬間に走査された点の領域内に配置された基本測定ゾーンによって反射された放射を常に受光する受光装置であって、前記検知ラインおよび前記装置の光学的入力中心によって画定された平面が、走査平面とされる受光装置と、
少なくとも1つの解析装置に、前記走査基本測定ゾーンの領域で反射された前記放射を伝達するための手段とを備える機械であって、
放出された放射が、投光平面の領域内に集中すること、および前記投光平面および前記走査平面が一致し、共通の平面が、前記搬送平面の垂線に対して傾斜していることを特徴とする機械に関する。
【0048】
これらの配置は、高さの領域での物体の高さが、機械の寸法および取得解析手段の感受性によって画定されるいかなるときも、照射されるゾーンと解析されるゾーンの取得およびシステム的な一致のために利用されるゾーン内で最大な放射を加えることを可能にする。
【0049】
したがって、投光および走査(検知)平面の重ね合わせによって、良い深さの場が与えられ、解析された物体の平面に対するその傾斜が、鏡面反射によって形成された寄生的な光を効率的に除去する。
【0050】
本発明の好ましい実施形態によると、受光装置が、光入力中心を備えるか、または担持しており、基本測定ゾーンの領域内で反射された放射を直接受光し、それが移動する前記基本測定ゾーンの寸法に実質上等しい、好ましくは実質上大きい寸法を有する、移動する反射部材を備える。
【0051】
有利には、印加手段が、広スペクトル投光手段から成り、前記加えられた放射が、可視領域と赤外領域の電磁放射の混合物から成り、および前記投光手段は、前記基本測定ゾーンによって周期的に走査される横方向検知ストリップ上の前記搬送平面の領域内に、前記放出された放射を集中させ、その長手方向中間軸が前記検知ラインに対応している部材から成る。
【0052】
たとえばハロゲンタイプなどの広スペクトル光、および1,000から2,000nmの間の波長を(各放出点に対して)使用することは、コンベア上に配置された物体の化学的解析を可能にする。
【0053】
検知ゾーンの光を一様にするために、放射を加えるための前記手段が、前記物体の移動方向に対して横方向に並べて配置された2つの互いに離隔された印加ユニットから成り、各ユニットが、楕円形断面の所定の形状の(profiled)反射板の形状の部材と結合された細長い放出部材を備える。
【0054】
本発明の特徴によると、各細長い放出部材が、それに付随する楕円形反射板の近いほうの焦点の領域内に実質上位置決めされ、放射を加えるための前記手段が、位置決めされ、前記反射板が、第2の、遠いほうの焦点が、仕分けされる前記物体の平均高さに実質上対応する前記搬送平面からある距離に配置されるような形状および寸法にされている。
【0055】
したがって、この光は、大きな深さ範囲(通常約200nm)に集束されてもよい。
【0056】
印加手段によって放出された放射を反射する壁が、コンベア(たとえばコンベアマットまたはベルト)の横方向縁部に沿って、特に検知ストリップの端部の領域内に配置され、実質上前記印加手段の高さまで水平方向および鉛直方向に延びている場合、検知ゾーンの領域内、特にその超過部分の領域内の光の強度は、任意には、さらに増加させることができる。
【0057】
本発明の好ましい変形形態によると、前記受光装置は、前記移送平面上のある距離に配置された受光ヘッドの形状であり、前記受光装置が、一方では、前記コンベアの前記搬送平面に対して実質上中央に配置され、移動する基本測定ゾーンを半振動の間に前記検知ストリップ全体を検査するために十分な範囲での枢動によって振動する平面鏡(この幾何的中心は光学的入口中心に実質的に一致していると有利である)の形状である移動する反射部材を、他方では、前記検知ストリップの基本部分によって反射され、前記振動する鏡によって前記手段の方向に伝達された放射の部分のための、たとえばレンズの形状の集束手段を備えるか、または担持し、前記ヘッドもまた、前記手段によって集束された後、少なくとも1つのスペクトル解析装置のほうへ放射の前記部分を伝達するための前記手段の前記入口オリフィスを有する端部を備えるか、または担持している。
【0058】
移動するコンベア支持物の全表面を徐々に走査する、移動する基本測定ゾーンが、前記伝達手段の入口オリフィスの特徴および前記集束手段の特徴によって、およびその相対的な配置によっての組み合わせで画定され、前記集束手段および前記連続伝達手段は、前記走査平面内に配置された前記振動する鏡(その光学的または幾何学的中心によって画定された)の検査場の外側に配置され、鏡/集束手段/入口オリフィスの配列の軸が、前記場を含む前記平面内に配置されている。
【0059】
前記振動する鏡によって反射された検知または測定表面の部分は、有利には、それを中心とする基本測定ゾーンよりも面積が少なくともわずかに大きく、同じまた異なる形状である。
【0060】
コンパクトな構造を達成するために、前記移動する反射部材を形成する前記振動する平面鏡は、有利には、放射を加えるための手段を形成する2つのユニットの間に、前記ユニットが、前記鏡の検査場に干渉しないような相対的配置で配置されている。
【0061】
上で述べたように、前記走査平面は、前記検査場および、同一の楕円形の反射板の焦点を含む平面を含み、照射されるゾーンと解析されるゾーンが同一であることは、かなりの高さを有する物体を最適に考慮することを可能にする。
【0062】
鏡は、移送平面から、たとえばハロゲンランプの形状の、印加手段のユニットよりも大きい距離に好ましくは配置されている。しかし、鏡はまた、検知ステーションの効率に影響を与えることなく、同じ高さで、または前記ユニットよりもこの平面に近い所にさえも配置することができる。
【0063】
本発明の特徴によると、前記伝達手段は、好ましくは、前記反射された放射をその様々なスペクトル成分に分割または分解し、前記仕分けされる物体の物質特性である波長を有する前記成分のいくつかの強度を決定する解析装置にその全部または大部分が接続され、その少数が、有利には3原色のそれぞれの強度を検知する解析装置に接続することができる、光ファイバの束から成り、前記光ファイバが、前記入口オリフィス範囲内で正方形または矩形の断面構成を有することを特徴とする。
【0064】
本発明のさらに有利な特徴によると、前記第1の解析装置は、一方では、基本測定ゾーンから受光された多スペクトルの光束を、その様々な構成スペクトル成分に、特に赤外線範囲に分解する回折格子を備える分光計から成り、他方では、様々な不均一に離隔されたスペクトル範囲に対応する前記基本光束を回収して伝達し、区別される前記物体の化学物質および化合物を特徴付けるための、たとえば光ファイバの個別の束の形状の手段から成り、最後に、前記基本光束のそれぞれのためのアナログ信号を送達する光電変換手段から成る。
【0065】
前記基本測定ゾーンを起点とする多スペクトル光束が、入口スロットの領域内の前記分光計内に導入され、および前記基本光束が、前記入口スロットと同一の形状および寸法を有する、回収されるスペクトルの分散率および範囲に応じて配置された出口スロットの領域内で回収され、前記ファイバ束の大部分の構成要素の前記ファイバの出口のための端部部分が前記伝達手段を形成し、前記回収および伝達手段の前記光ファイバの入口のための端部部分が、同一の線形構成を有し、前記入口スロットおよび前記出口スロット内にそれぞれ取り付けられている。
【0066】
前記回収および伝達手段を、それらを損傷することなく容易に操作および設置するために、前記回収および伝達手段を形成している光ファイバの束の入口のための端部部分は、分光計の本体内で前記光ファイバのためのアセンブリおよび位置決め支持物を形成するように保持およびロッキングバックプレートに好ましくは結合された適切な受けくぼみを備える薄いプレート内に取り付けられている。
【0067】
好ましくは、前記分光計の本体は、前記支持物を滑動によって位置決めし、積み重ねによって設置する前記支持物のロッキングによる、任意には前記支持物を、記録される前記基本光束の前記衝撃ゾーンに対応する位置に位置決めすることができるような適切なシムの挿入による、剛性の支持受け構造を備える。
【0068】
このタイプの構成は、物体のタイプおよび使用される感受性によって異なる特定の波長範囲を特徴とする、異なる物質群を検知するための検査機械の迅速で、容易で、正確な適用を可能にする。
【0069】
したがって、第1のスペクトル解析装置は、主に、その構成波長に従った顕著な損失なしに光を分布させる手段と、高いユニット表面積を有する光電変換手段の形状の少数の検知器(10から20)から成り、検知器のそれぞれは、波長範囲(PLO)に特有であり、これらのPLOは、たとえば複数の材料に対して、複数の物質またはそれに対応する化学組成を揺るぎなく同時同定するために便宜上、選択される。
【0070】
また、物体の色を認識する第2の解析装置が、前の装置と結合され、ファイバ束から光束のごく一部分を取り出し、それを3原色、すなわち赤、緑または青のうちの1つにそれぞれ感受性がある3つのセンサのほうへ伝達する。
【0071】
前記機械の様々な装置、部品および構成要素を調和させ、制御するために、機械はまた、特に、移動する反射部材の、および任意にはコンベアの運動を制御し、移動する基本測定ゾーンの領域で反射される放射の取得をシークエンス化し、たとえばプログラムされたデータと比較することによって、検査された物体のそれぞれの化学組成および前記物体内の化学物質の存在を決定し、前記決定の結果と前記物体の空間位置の決定とを相関させることによって、解析装置によって送信された信号を処理および評価して、コンピュータなどの検知ステーションの動作を処理および管理するためのユニットを備える。
【0072】
本発明の特に好ましい変形形態によると、前記検知ストリップは、中央軸に対して垂直に、かつ前記コンベアの前記搬送平面の幅全体にわたって横方向に延びている狭い幅の細長い矩形表面の形状を有し、この形状はたとえば、上面が前記搬送面と一致するマットまたはベルトの形状である。
【0073】
したがって、物体の仕分けへの適用例に関連して、および約2.5m/sで移動するベルトの形状のコンベアに対して、検知/区別距離は、約100mmに制限されるかもしれない。このことは、その区別の前に配置されたマット上で物体が不安定にされる可能性を最小にし、このことは、たとえば、物体の逃出によって示される。
【0074】
本発明はまた、コンベア上をまたはコンベアを覆って実質上単層で移動する物体をその化学組成によって自動的に仕分けするための、前記検知ステーションによって実施された前記測定および/または解析の結果に応じて前記物体を能動的に分離するための下流側のステーションと機能的に結合された上流側検知ステーションを備える機械であって、検知ステーションが前に述べたような検知ステーションであることを特徴とする機械に関する。
【0075】
有利には、検知ステーションまたはその処理管理動作用ユニットは、前記解析結果に応じて能動的分離ステーションと横方向に整列した排出手段用の制御モジュールへ作動信号を送信し、一斉の(salvo)作動信号が、基本測定ゾーン移動による横方向検知ストリップの探査が完了する毎に放出される。
【0076】
好ましくは、および、検知と放出の間のコンベアに対する物体の配置のための仕分けの誤りをできる限り避けるために、前記検知ラインは、気体、好ましくは空気のジェットを送達するノズル列の形状であり、たとえば上昇による前記排出手段のごく近傍に(たとえば排出手段から30cmに)配置されている。
【0077】
本発明はまた、検査される物体の流れを、少なくとも1つの検知ステーションを通って通過するかまたはその下を通過させること、
投光平面を定義することができるように、対応する印加手段を介して搬送平面のほうへ電磁放射を放出し、前記投光平面および前記搬送平面の交線が、前記物体の移動方向に対して横方向に延びる検知ラインを画定すること、
任意の瞬間に、この瞬間に走査された点の領域内に配置された基本測定ゾーンによって反射された放射を受光する受光装置を介して前記検知ライン上の任意の点を周期的に走査することを含み、前記検知ラインおよび前記装置の光学的入力中心によって定義された平面が走査平面とされており、さらに、
走査基本測定ゾーンの領域内で反射された前記放射を、適切な伝達手段を介して少なくとも1つの解析装置へ伝達することを含む、
コンベアの搬送平面上をまたは搬送平面を覆って実質上単層で移動する物体を自動的に検査し、これらの物体をその化学組成によって区別することを可能にする方法であって、
放出された放射が、前記投光平面の領域内に集中されること、および前記投光平面および走査平面が結合され、共通の平面が、搬送平面に対する垂線に対して傾斜していることを特徴とする方法に関する。
【0078】
本発明の有利な特徴によると、前記方法は、特に、好ましくは可視および赤外線領域内の放射を、基本測定ゾーンによって周期的に走査され、その長手方向中心軸が前記検知ラインに対応している横方向検知ストリップ上の搬送平面の領域内に集中させ、それによって、前記検知ストリップの全表面にわたって実質上一様である高強度の放射を得ることを含む。
【0079】
より正確には、前記方法は、反射部材を形成している平面鏡の枢動振動によって移動する基本測定ゾーンを備える検知ストリップを順次走査すること、基本測定ゾーンを起点とする光束を、光ファイバの束の形状の伝達手段の入口オリフィス上に集束させること、捕捉された多スペクトルの光束の大部分を、第1の解析手段の部分を形成する分光計の入口スロットのほうへ持って行くこと、この光束を、その様々な基本スペクトル成分に分解すること、出口スロットの領域内の特定の狭い波長領域に対応するこれらの成分のいくつかの光束を回収し、それらを適切な手段を介して光電変換手段へ伝達し、第1の測定信号を供給し、同時に、場合に応じて、捕捉された多スペクトル光束のごく一部を、3原色の各強度を決定し、第2の測定信号を供給する第2の解析手段のほうへ持って行くこと、移動する反射部材の運動を特に制御するコンピュータ化された処理管理ユニットの領域で前記第1および任意には第2の測定信号を処理すること、前記移動する基本測定ゾーンの領域で反射された放射の取得をシークエンス化し、プログラミングされたデータと比較することによって前記解析装置によって送信された前記信号を処理および算定し、前記検査された物体のそれぞれの化学組成または前記物体内の化学物質の存在を決定することを含む。
【0080】
前記検査方法を前に説明した仕分け機械で使用する場合、前記方法はまた、前記測定信号の処理結果に応じて送信させるためにユニットを処理および管理すること、物体の流れに対して前記検知ステーションの下流に配置された分離ステーションの排出手段を制御するためのモジュールへの信号を作動させること、および最後に、前記送信された作動信号に応じて前記コンベアの前記搬送支持平面上を移動する様々な物体のそれぞれを排出する、または排出しないことを含んでもよい。
【0081】
本発明の追加の好ましい特徴によると、前記検知ストリップの各走査および対応する計測信号の処理が完了した際、場合に応じて過去の走査の測定信号を考慮しながら、一斉の作動信号が放出される。
【0082】
本発明は、非限定例として与えられ、添付の図面を参照して説明する好適な実施形態を参照した以下の説明により、よりよく理解されよう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0083】
添付図面の、より具体的には図1から4の図中に示すように、物体2を自動的に検査するための機械は、それを通ってまたはその下を物体2の流れが通過する少なくとも1つの検知ステーション4を備える。この検知ステーション4は、特に、
コンベア3の搬送平面Pcの方向へ電磁放射を加え、投光平面Peを画定するように前記放射を放出するための手段6であって、前記投光平面Peおよび前記搬送平面Pcが、物体2の移動方向に対して横方向に延びる検知ライン7を画定している手段6と、
前記検知ライン7上の各点を周期的に走査し、この瞬間に走査された点の領域内に位置する基本測定ゾーン12によって反射された放射を受光する受光装置8であって、前記検知ライン7と前記装置の光入力中心8”によって画定された平面が走査平面Pbと称される受光装置8と、
走査基本測定ゾーン12の領域内で反射された前記放射を少なくとも1つの解析装置11、11’へ伝達するための手段10とを備える。
【0084】
本発明によると、放出された放射は、投光平面Peの領域内に集中され、前記投光平面Peと走査平面Pbは一致し、前記共通の平面Pe、Pbは、搬送平面Pcに対する垂線Dに対して傾斜される。この最終的な配置によって、空間反射を算定することが特に可能になる。
【0085】
検知ライン7に関して「横方向」という用語は、コンベア3によって画定された搬送平面Pcの全幅にわたって、好ましくは、物体2の移送方向に対して直角にかつ垂直に延びることを示しているが、他を排除するものではない。
【0086】
平面状の搬送支持面の場合はその表面にあり、非平面状の支持面(たとえば果物用の個別移送のための)の場合はチェーンに取り付けられたホイールなどである搬送平面Pcは、前記物体の移動を特徴付ける中間面に対応することになる。
【0087】
以下の説明は、本発明による検査機械を含む仕分け機械の実用的な実施形態に対応しているが、それに限定されるものではないことを理解されよう。これらを、添付の図1から8を参照にして説明する。
【0088】
検知ステーション4は、これら2つの機械と同一であり、仕分け機械はまた、分離ステーション5を備えることも理解されよう。
【0089】
図1は、化学組成または物質によって自動的に仕分けするための機械1の一般的な構造を示している。物体2は、搬送手段すなわちコンベア3上を高速(2〜3m/s)で移動し、それによって物体2は単一の層に実質上広げられる。コンベア3の表面は濃い色であり、その構成材料(一般に無光沢の黒いゴム)は、認識される材料または化学的化合物とは異なるように選択されている。
【0090】
これらの物体2は、検知ステーション4の領域内で定義された検知領域を通過する。この領域は、広い(可視および赤外)スペクトラムを有する投光手段6によって実質上限界を定められ、それによって効率的に検知するために細いストリップの形状のゾーン7’を標的として照射することができるように反射板6’を介して光束を集中させる。ゾーン7’の幅は25〜40mmである。
【0091】
ゾーン7’は、コンピュータ23によって制御された、ゾーン7’の構成基本ゾーン12’のそれぞれに向かって測定を周期的に方向付ける振動鏡8’を用いて高速で解析される。ゾーン7’の完全な走査サイクルは、約8msかかる。この周期中、コンベア3は、前記ゾーン7’の幅に実質上等しい距離だけ進行し、したがって検知の「抜け」はない。コンベア3の、または移動する搬送平面Pcの各点が解析される。
【0092】
鏡8’によって収集された光が、光ファイバ10”の束10の入口オリフィス10’上の、集束手段9を形成するレンズによって集束される。束10は、2つの部分に再分割される。第1の部分は、第1の解析装置11の一部を形成している分光計14へ光束の大部分を持って行き、近赤外線領域(NIR)にあるその構成波長によって光束のこの部分を再分割する。適切に選択された少ない数nのPLO(波長領域)が、大きなユニット表面積を有するフォトダイオードNIRの形状の変換手段16を含むモジュールへ、および増幅ステージへ伝達される。このモジュールは、光信号を同数のアナログ電子信号に変換し、電子信号はその後コンピュータ23によって解析される。
【0093】
束10の第2の部分が、色検知モジュールに対応する第2の解析装置11’へ運ばれる。このモジュールは、フィルタリングによって赤、緑および青の成分を分離し、その後光信号を電子信号に変換し、増幅することを可能にする。変換された後、出力信号もまたコンピュータ23によって解析される。
【0094】
コンピュータ23は、排出されるか排出されない物体のカテゴリを定義することができるように、過去のすべての情報を結合し、分離ステーション5およびノズル列の形状の排出手段5’のそれぞれを制御モジュール24を用いて制御する。
【0095】
吹き飛ばされた物体2’は、受け部25内を終点とする。一方、吹き飛ばされなかった物体2”は、この受け部の前に直接落下する。明らかに、この構成が唯一の解決法とは限らない。ノズル5’を、コンベア3の上方に同様に配置し、したがって、分離される物体2’を吹き落とすこともできる。この第2の構成は、ある用途で利点を有する。
【0096】
機械1の第1の決定的な利点は、反射された光を受光するための装置(鏡8’およびレンズ9’アセンブリ)が、たとえばコンベア3のマット表面へ、対応する搬送平面Pcの幅全体にわたって物理的には延びておらず、単体の装置であり、コンベア3の中間線の中央にのみ設置されていることである。このことによって、検知ゾーン7’を通る信号の一様性を損なう様々な受光点間の不均一性が防止される。
【0097】
機械1の幾何形状の第2の決定的な利点は、検知ゾーンが排出ノズル5’の列に可能な限り近く配置されていることである。検知/排出距離dは、適切なコンピュータ手段によって約100mmまで制限されてもよい。このことによって、物体の排出の前にマット上に物体が不安定に配置される可能性が最小化される。距離は、ソフトウェア処理時間によってのみ制限され、処理時間は、測定部の単一の線またはおそらくは2つのみの隣接する線からの情報に関連しているため極めて高速である。この距離は、前に説明した知られている平面状の光束機械における距離よりもずっと小さい。
【0098】
このように短い距離dによって、決定の前の各物体の2次元解析が可能にはならないことに当業者なら気づくであろう。長さ300mmの長い瓶などの細長い物体の場合、物体の先端のノズル5’を駆動する決定は、同物体の後端が完全に解析される前に行わなければならない。しかし、この制限は、検知または排出に著しく損害を与えることはない。
【0099】
添付図面の図1、2および3を特に参照にして、投光手段をここで詳細に説明する。
【0100】
望まれる目的は、物体が干渉することなく循環することを可能にするように、ランプを循環する物体2から十分に遠くに動かさなければならないという制約条件で、最大の光を検知ゾーン7’上にもたらすことである。ランプとマットの間は約50cmであることが望ましい。光の量は、色温度3400Kのハロゲンランプを参照にして、電力W/cm2での合計で算定される。
【0101】
最も簡単で、最も広く使用されている解決法であるため、考えられる様々な投光技術の中で、1組の定置ハロゲンランプが選択された。しかし、従来では、光を著しく散乱させる工業用スポットライトが使用されている。
【0102】
これらの商業用スポットライトを使用することは、小さな開口角でさえも、多数の個別のランプを必要とし、最終的に低密度の光となる。
【0103】
これらの知られている手段に付随する欠点を克服するために、発明者らは、マット3上で同じ高さにアラインメントされ、楕円形反射板6’に付随した放射部材としての精細なハロゲンチューブ6’を基にした投光を開発した。このタイプの反射板6’は、ハロゲンチューブ6”がその焦点Fのうちの一方に配置された場合、光が他方の焦点F’上に完全に収束することを可能にする。その実用的な実施形態で、機械1に適した寸法を得るためには、楕円形は、以下のパラメータを有するべきである。
長半径a=300〜400mm
約85〜92%の離心率
【0104】
反射板6’の製造は、良好な動作のために極めて正確でなければならないが、放物面鏡などの円対称の従来型の反射板よりは容易である。折り曲げによって作製することができる展開可能な表面が、この場合得られる。
【0105】
好ましくは、機械は、F’が移動する物体の平均厚さに対応する高さ(H)でコンベアマット3の数センチメートル上方に配置されるようにしてアセンブリされる(H=25〜50mm)。
【0106】
上記に述べたような投光手段6の実施形態について、発明者らは、図3に示すような、真空によって分離された2枚のかなり長い反射板6’を用いることによって最良の強度分布が得られることを見出した。また、マット3の端部での光の損失を避けるために、必要に応じて、鉛直方向の平面反射板または反射壁13および13’が、これらの端部に追加される。これらの端部は、光をマットのほうへ戻す。
【0107】
したがって、簡単で、低価格な、少数のランプでのレイアウトが得られ、光のすべてが、解析される狭いストリップ上に集中する。ストリップは、800mm×40mmであり、検知ゾーン7’を含み、それを中心としている。
【0108】
100電子Wの2つの部材では、得られる平均密度は、2×1000/(80×4)≒6W/cm2であり、これは、昼間の太陽光の約60倍の大きさである。このような集中は、その燃焼を防止するために高速で移動するマット3のみに適している。前記マットが停止した場合、投光を自動的に遮断するために、電子的安全装置が設けられている。
【0109】
添付の図面の図1、2および4を参照すると、検知ゾーン7’の領域で反射された光の受光および伝達をするための手段8、9、10を、より詳細に説明する。
【0110】
物体は、移動する基本測定ゾーン12を用いて、ゾーン7’内で約40〜80の基本表面を解析されることになる。基本表面12’は、10×20〜20×20mmの寸法を有する矩形の形状を有する。このような基本表面12’を、以下で「ピクセル」と呼ぶ。前記ピクセルのすべては、検知ゾーン7’に対応している。
【0111】
必要なセンサの数を最小にするために、本発明者は、すべてのピクセルを順次走査する、移動式アセンブリを選択した。したがって、測定が極めて高速で実施される場合、単一のセンサがすべての測定を可能にする。
【0112】
好ましい解決法は、直径30mmの振動する鏡8’である。この鏡は、検知ヘッド8に取り付けられ、図4Aに示す位置の間を角振幅cで振動する。瞬間角度デルタ(図4C)に応じて、鏡は、ピクセル12’からの光を固定レンズ9のほうへ戻し、固定レンズ9は、光を光ファイバ10”の束10内へ集束させる。図4を読みやすくするため、ピクセル12’を点として示した。
【0113】
1秒当たりの測定数は、マット3の移動速度および選択されたピクセルサイズの関数として得られる。したがって、たとえば、20mm×20mmのピクセルでは、800mmの幅にわたる1ライン当たり40の測定である。2.5m/sの移動速度では、1秒当たり20mm幅の125ラインである。したがって、125×40=5000測定/秒であることがわかる。さらに、幾何学的な理由で、振動の交番の半分のみが利用される。個々の測定の継続時間は、したがって、1/(5000×2)=10−4秒=100μsである。
【0114】
この走査の観点では、鉛直でない角度の光の戻りが許容される。したがって、鏡8’の十分高い高さを、検査フィールドCの角度bを60°以下の値に制限するために選択しなければならない。経験によって、幾何学的な照準誤差がこれらの角度に許容可能であることが示されている。回転する鏡の角度αの変動が、反射されたビームの位置での2×αの変動として表されるとき、したがって、平面鏡は角度の半分にわたって、すなわち全体として30°振動することができる。
【0115】
レンズ9は、検査の場C(角度b)に干渉することなく、鏡8’の下にできる限り遠くに配置されている。レンズ9は、コンベアマット3の上方であまり低くするべきでもない。
【0116】
マット3の上方の中央に空の空間を有する光の設計が、鏡8’の走査の振動平面Pb(検査フィールドCを含む)を、投光平面Pe(焦点FおよびF’を含む平面)と一致させ、検知ゾーン7’の中間軸を通過させるために使用される。寸法および配置を適切に選択すると、測定ゾーン(角度b)は、反射板6’のチューブ6”と干渉しない。
【0117】
この設計は、物体の高さがいかなるときでも、照射されるゾーンと解析されるゾーンが同一であるため、かなりの高さ(高さ200mmに至る)の物体2を解析するために極めて有利である。
【0118】
物体の表面が点F’から離れた場合、投光および測定スポットにはもはや収束されないが、光の強度が実質上同一のままであるため、ピクセルの解像度の減少にもかかわらず、検知の信頼性は高い。実際、投光はより広い領域にわたってよく分散されるが、それと同時に、物体がハロゲンチューブに接近し、したがって、強い直接の光束を受け、鏡と物体の間の距離が減少し、これによって、鏡8’上で受光される密度が増加する。
【0119】
知られている同一平面でない装置の設計では、高い物体を効率的に投光するために広い角度にわたって光を分散させなければならず、有効強度は、同じ量だけ減少する。
【0120】
回収された反射光束内で、情報が乏しい鏡の光線が考慮されるのを防止するために、投光手段6と振動する鏡8’の共通平面(投光平面Peおよび走査平面Pb)が、搬送平面Pcの垂線に対して角度アルファだけ傾斜される。したがって、最も近い鏡の光線とセンサの軸(鏡8’/レンズ9/オリフィス10’を含む軸)の間に角度ガンマがあることがわかる。この角度ガンマは、少なくとも5°、高い安全性のためには好ましくは10°より大きくなければならない(添付図面の図2参照)。
【0121】
逆に、過度の傾斜アルファによって、センサが収集した有用な光の質が低下する。良い折衷案は、約20°の角度アルファであると思われる。
【0122】
レンズ9は、コンベアマット3から大きな距離にあるときさえも、解析されたピクセル12’のサイズを制限する働きをする。
【0123】
これは、オリフィス10’にある対応する束の端部がレンズ9の上流側の焦点距離のわずかに下流に配置されているとすると、ファイバ束10の入口オリフィス10’で解析されるピクセル12’の鮮明な画像を与える。倍率、すなわちピクセル12’のサイズと束10の入口10’のサイズの間の比率は、レンズに対する距離の比率に等しい。
【0124】
これらの条件の下で、収集された光の束は最適である。実際、収集された光束が鏡とコンベアの間の距離にほぼ無関係であり、同じ光の下で、光学系なしでコンベアの近傍に配置された同じ表面積を有するファイバ束によって収集された光束と同一であることを数学的に示すことができる。
【0125】
上述の既存の単一材料の機械は、3から6の適切に選択されたPLOを使用している。PLOは、中心波長値とスペクトル幅によって定義される。たとえば、1420nmを中心とし、20nmの幅を有するPLOは、1410から1430nmの間のすべての波長の範囲である。3から6のPLOを使用することは、所与の製品を他のすべてのものから区別するために事実上十分である。廃棄物内に共通に見出される材料の範囲、すなわち、
主なプラスチック材料、PET、PVC、PE、PS、PP、PAN、PEN
いわゆる「加工」プラスチック、ABS、PMMA、PA6、PA6.6、PU、PC
食品パック(テトラパック)、ボール紙、その中にセルロースが検知される
スペクトル特徴のないその他の製品、金属およびガラス
を同時に認識するには不十分であることが、実験によって示された。
【0126】
PLOを分離するために様々な技術を使用してもよい。
干渉フィルタ
AOTF(音響光学チューナブルフィルタ)
回折格子
【0127】
発明者は、試用および試験され、物理的運動から自由でありここで関心のあるスペクトルの60から90%の、極めて良好な光出力を有するため、第3の解決法を適用した。
【0128】
以下の説明は、添付図面の図5および6を参照にしている。
【0129】
回折格子では、光は、波長に応じて、出力スロットを通って虹のように分散される。格子は、nm表現の波長の変化と、mm表現の出口スロット上の距離の間の比である分散を特徴とする。良い解析結果を得るために、発明者は、20nm/mmから30nm/mmの間の分散を選択した。
【0130】
光ファイバ10の束は、ピクセル12’から受光した反射光を、オリフィス10’を備える(ピクセルと同一の形状を有する)正方形断面の端部から、ファイバが精細な鉛直スロット17’内に再配置された分光計14の入口スロット17へ搬送すること(多スペクトル光束14’)を可能にする。
【0131】
格子14’の出口で選択された各PLOに対する入口スロット17の像は、入口と同じ形状および寸法のスロット17’である。様々なPLOに対応する様々な基本光束14’’’が、出口スロット17’によって収集される。送受光手段15を形成しているファイバ束15’の格子が、この領域内に設けられ、これらのファイバは、他方の端部で円形15”に再構成され、ファイバのそれぞれが、約1mm2の作用表面積を有するInGaAs製のフォトダイオード16の接点に固定される。
【0132】
有利には、PLOのスペクトル幅は固定され、約5nmであり、このことによって、同一のフォトダイオードを使用することが可能になる。しかし、対応する表面積(たとえば、約2mm2のフォトダイオード表面積の場合、2列の接着された光ファイバによる10nmのスペクトル幅)を有するフォトダイオード16と結合された異なる断面の束15を構成することもできる。したがって、必要に応じて、受光された光束を増加させる、すなわち解像度を精細にすることができる。
【0133】
上記で説明したアセンブリにより、光の量は1度しか分割されない。出口の束の数を2倍にした場合、それらのそれぞれが、元のアセンブリと同じ光を有する。
【0134】
本発明による機械1の構成によって、将来市場に出現するであろう新しい製品の検索を最適にするように容易にPLOの選択を変更することが可能であることは、極めて有利である。
【0135】
図7および8に示し、適用された設計は、PLOの数が固定されている場合、選択されたPLOを変更するための大きな柔軟性を提供する。以下の技術的解決法によって、アセンブリを容易に修正することが可能である。
【0136】
ファイバ束15は、2つの部品18および19で作成された正確に機械加工された矩形のフェルールを有する。したがって、ファイバを破壊することなく取り扱うことが容易である。このタイプのフェルールは、光ファイバ15’の端部を含みそれを遮蔽するくぼみ18’を有する第1プレート18から形成され、バックプレート19によって閉じられる。
【0137】
フェルール間の最小間隔は、システムの解像度、すなわち、2つのPLO間の最小偏差を定義する(図8)。これは、これらのフェルールのサイズによって決定される。極端な場合、2つのフェルールのうちの一方の保護プレートまたはバックプレート19を除去することができる。このことは、10nmの波長偏差を与える(図8)。
【0138】
高精度で(約+/−0.15μmの公差)機械加工されたシム22の組が、格子14’の出口ゾーン内でフェルールの任意の位置を選択するために使用される。たとえば、5000μmのシムと280μmのシムで、5280μmの間隔という結果になる。
【0139】
フェルール18、19およびシム22はすべて、適切な形状の矩形の保持ボックス21内に固定された支持20内に積層される。
【0140】
したがって、PLOの再構成は、単に、フェルール18、19およびシム22を保持ボックス21から取り外し、あるシムを異なる寸法のシムと交換し、最後にそれらをボックス内に再配置することを含む。作業は簡単であり、迅速であり(単一の作業セッション)、可逆である。
【0141】
変換手段16のフォトダイオードは、所定の時間にその全表面上に入射する光子の数に比例した強度を提供する。この流れが、電圧に変化され、増幅されてから、コンピュータ23へ送達される。
【0142】
増幅手段は、露光時間に比例する最終信号レベルを作製する積分要素を備えてもよい。それと等価な複数の方法も可能である。
【0143】
時間定数が、測定時間の約半分であるように調節された、単純RC(抵抗コンデンサ)フィルタ、
規則的な間隔で電荷蓄積容量を空にする電荷結合デバイス(CCD)、
デジタル変換後ソフトウェア内に移植された積分を計算する加算モジュール。
【0144】
発明者らは、第1の方法を好む。第1の方法は最も単純であり、コンピュータ処理システム23に対して最も制約的でない。
【0145】
使用されるフォトダイオード16の作用表面が、回収/伝達/解析アセンブリの全体設計を実際に決定する。実際に、関連するダイオード16の表面よりも大きい回折格子14’を形成する出口束15を作製することは無意味である。追加の表面は、使用されないことになる。同様に、光の法則は、格子14’の入口スロット17の寸法が出口スロット17’の寸法と同じであることを示している。光ファイバ10の束は、明らかに、変わらない、すなわち約1mm2の作用表面を保持する。最後に、前に述べたように、この束の入口オリフィス10’の端部で受光される光束は、その表面積および搬送平面Pc(たとえばコンベア3のマットの表面)の領域内の光の強度のみに依存し、光学系8’および9の適切な寸法に支配される。
【0146】
前記のことの結果、物質を解析するための最終信号レベルは、以下の変数のみに比例する。
フォトダイオードの照射表面、
コンベアマット上の光の強度、
使用されるPLOのスペクトル幅、
各測定の露光時間。
【0147】
したがって、バータイプの分光計で作成することができるよりもずっと高速であるだけでなく、ずっと精細である解析システムが、光の強度を最大にすること、PLOを狭く維持すること、および広い照射表面積を有するセンサ(フォトダイオード)を用いることによって得られる。
【0148】
図5は、図1と組み合わせて、第2の解析装置11’(色の解析)の考えられる実施形態を示している。
【0149】
この第2の装置11’もまた回折格子を使用して作成することができる。
【0150】
しかし、可視範囲では、波長選択性は、極めて精細である必要はない。60nmのバンド幅で十分である。また、3原色が人の目の知覚で固定されるため、柔軟性の問題はない。したがって、PLOは決して変わらない。したがって、回折格子を使用するのではなく、各受光ダイオードの前方に配置することができる色付きフィルタを使用することが、より簡単であり、よりコスト効果がある。それぞれ赤、緑、青に特有である、6R、6V,6Bフィルタが示されている。
【0151】
上述のフィルタに付随するフォトダイオード27は、シリコン製であり、全可視領域をカバーする。この材料は極めて低価格であり、赤外領域でのInGaAsの約100倍の極めて良好な検知感度を有する。この高い感受性のため、ダイオードの前方にファイバの束を持ってくることは無意味である。200μmの直径を有する1本のファイバだけで、十分な信号を与える。
【0152】
したがって、色の検知で使用するために束10から3本の光ファイバを取り出すことで十分である。したがって、入口オリフィス10’を備える端部は、約20本のファイバを備えることになり、そのうちの16または17本は、分光計14の入口スロット17を貫通する端部に配置され、そのうちの3本は、解析デバイス11’またはカラーモジュールを貫通する。有効な可視光の量の点では、色に対して1本のファイバを使用して、その光を3つのフィルタ上に分散させることも可能である。したがって、最大感受表面積は、分光計14に接続された束10の部分のために残される。
【0153】
シリコンフォトダイオード27の後の、従来型の増幅ステージ(図示せず)によって、アナログ信号をコンピュータ23内で収集するのに十分なレベルにすることが可能になる。
【0154】
明らかに、本発明は添付図面で説明し、図示した実施形態に限定されない。様々な要素の構成を特に参照にした、または本発明の保護範囲から逸脱しない技術的に等価なものと置き換えることによる、修正が可能である。
【図面の簡単な説明】
【0155】
【図1A】本発明による自動検査機械の概略図である。
【図1B】特に、上流検知ステーションおよび下流分離ステーションを備える本発明による自動分類機械の部分概略図である。
【図2】投光手段の、および検知ステーションの一部を形成する受光機ヘッドの反射手段の、傾斜を示す側面概略図である。
【図3】図1に示す機械の一部の、コンベア手段の移動方向と反対方向の部分透過図である。
【図4A】本発明による機械の一部を形成する受光機ヘッドの機能部材、および反射部材の振動振幅および検知ゾーンの領域における走査結果の概略図である。
【図4B】検知ゾーンの走査中に移動する基本測定ゾーンの位置を示す図である。
【図4C】検知ゾーンの走査中に移動する基本測定ゾーンの位置を示す図である。
【図4D】検知ゾーンの走査中に移動する基本測定ゾーンの位置を示す図である。
【図5】回収伝達手段および解析装置の部分構造概略図である。
【図6】回収伝達手段および解析装置の部分構造概略図である
【図7】第1の解析装置の一部を形成する分光計の出力スロット内に取り付けられた回収伝達手段の進入用端部の部分前立面図である。
【図8】回収伝達手段の2つの隣接する入り口端部部分の特定のアセンブリの詳細図である。
Claims (25)
- コンベアの搬送平面上をまたは搬送平面を覆って実質上単層で移動する物体を自動的に検査し、これらの物体をその化学組成によって区別するための機械であって、前記機械が、物体の流れがそれを通って通過するかまたはその下を通過する少なくとも1つの検知ステーションを備え、前記検知ステーションが、特に、
前記搬送平面の方向に電磁放射を加え、投光平面を画定することができるように前記放射を放出するための手段であって、前記投光平面と前記搬送平面の交線が、物体の移動方向に対して横方向に延びる検知ラインを画定する手段と、
前記検知ライン上の各点を周期的に走査し、この瞬間に走査された点の領域内に配置された基本測定ゾーンによって反射された放射を受光する受光装置であって、前記検知ラインおよび前記装置の光学的入力中心によって画定された平面が、走査平面とされる受光装置と、
少なくとも1つの解析装置に、前記走査基本測定ゾーンの領域で反射された前記放射を伝達するための手段とを備える機械であって、
放出された放射が、投光平面(Pe)の領域内に集中すること、および前記投光平面(Pe)および前記走査平面(Pb)が一致し、共通の平面(Pe、Pb)が、前記搬送平面(Pc)の垂線(D)に対して傾斜していることを特徴とする機械。 - 受光装置(8)が、光入力中心(8”)を担持し、走査している基本測定ゾーン(12)の領域内で反射された放射を直接受光し、それが移動する前記基本測定ゾーン(12)の寸法に実質上等しい、好ましくは実質上大きい寸法を有する、移動する反射部材(8’)を備えることを特徴とする請求項1に記載の機械。
- 印加手段(6)が、広スペクトル投光手段から成り、前記加えられた放射が、可視領域と赤外領域の電磁放射の混合物から成ること、および前記投光手段(6)が、前記基本測定ゾーン(12)によって周期的に走査される横方向検知ストリップ(7’)上の前記搬送平面(Pc)の領域内に前記放出された放射を集中させ、その長手方向中立軸が前記検知ライン(7)に対応している部材(6’)から成ることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の機械。
- 放射を加えるための前記手段(6)が、前記物体(2)の移動方向に対して横方向に並べて配置された2つの互いに離隔された印加ユニットから成り、各ユニットが、楕円形断面の所定の形状の反射板の形状の部材(6’)と結合された細長い放出部材(6”)を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の機械。
- 各細長い放出部材(6”)が、それに付随する楕円形反射板の近いほうの焦点(F)の領域内に実質上位置決めされ、放射を加えるための前記手段(6)が、位置決めされ、前記反射板(6’)が、第2の、遠いほうの焦点(F’)が、仕分けされる前記物体(2)の平均高さ(H)に実質上対応する前記搬送平面(3)からある距離に配置されるような形状および寸法にされ、前記焦点(F、F’)が前記投光平面(Pe)内に配置されていることを特徴とする請求項4に記載の機械。
- 前記印加手段(6)によって放出された放射を反射する壁(13、13’)が、前記コンベア(3)の横方向縁部に沿って、特に前記検知ストリップ(7’)の端部の領域に配置され、実質上前記印加手段(6)の高さまで水平および鉛直方向に延びている、請求項3から5のいずれかに記載の機械。
- 受光装置(8)が、一方では、前記コンベア(3)の前記搬送平面(Pc)に対して実質上中央に配置され、移動する基本測定ゾーン(12)を半振動の間に前記検知ストリップ(7’)全体を検査するために十分な範囲での枢動によって振動する平面鏡の形状である移動する反射部材(8’)を、他方では、前記検知ストリップ(7’)の基本部分によって反射され、前記振動する鏡(8’)によって前記手段(9)の方向に伝達された放射の部分を集束させるための手段(9)を担持している受光ヘッドの形状であり、前記ヘッド(8)もまた、前記手段(9)によって集束された後、少なくとも1つのスペクトル解析装置(11、11’)のほうへ放射の前記部分を伝達するための前記手段(10)の前記入口オリフィス(10’)を有する端部を担持することを特徴とする請求項3から6のいずれかに記載の機械。
- 前記集束手段(9)および前記連続伝達手段(10)が、前記走査平面(Pb)内に配置された前記振動する鏡(8’)の検査場(C)の外側に配置され、前記鏡(8’)/集束手段(9)/入口オリフィス(10’)のアラインメント軸が、前記走査平面(Pb)内に配置されていることを特徴とする請求項7に記載の機械。
- 移動する反射部材を形成する振動する平面鏡(8’)が、放射(6)を加えるための手段を形成する2つのユニットの間に、前記ユニットが、前記鏡(8’)の検査場(C)に干渉しないような相対的配置で配置されていることを特徴とする請求項7または8のいずれかに記載の機械。
- 前記伝達手段(10)が、光ファイバ(10”)の束から成り、前記反射された放射をその様々なスペクトル成分に分解し、前記仕分けされる物体の物質特性である波長を有する前記成分のいくつかの強度を決定する解析装置(11)に、前記光ファイバの全部または大部分が接続されており、前記光ファイバ(10”)が、前記入口オリフィス(10’)の範囲内で正方形または矩形の断面構成を有することを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の機械。
- 前記光ファイバ(10”)のビーム(10)の少数が、3原色のそれぞれの強度を検知する解析装置(11’)に接続されていることを特徴とする請求項10に記載の機械。
- 前記解析装置(11)が、一方では、基本測定ゾーン(12)から受光された多スペクトルの光束(14”)を、その様々な構成スペクトル成分に、特に赤外線範囲に分解する回折格子(14’)を備える分光計(14)から成り、他方では、様々な不均一に離隔されたスペクトル範囲に対応する基本光束(14’’’)を回収して伝達し、区別される物体(2)の化学物質および化合物を特徴付けるための、たとえば光ファイバの個別の束の形状の手段(15)から成り、最後に、前記基本光束(14’’’)のそれぞれのためのアナログ信号を送達する光電変換手段(16)から成ることを特徴とする請求項10に記載の機械。
- 多スペクトルの光束(14”)が、入口スロット(17)の領域の前記分光計(14)内に導入されること、および前記基本光束(14’’’)が、前記入口スロットと同一な形状および寸法を有し、回収されるスペクトルの分散率および範囲に応じて配置された出口スロット(17’)の領域で回収され、前記伝達手段(10)を形成している前記ファイバ束の主な構成要素のファイバ(10”)の出口の端部部分および回収および伝達手段(15)の前記光ファイバ(15’)の入口のための端部部分が、同一の線形構成を有し、それぞれ入口スロット(17)および出口スロット(17’)に取り付けられていることを特徴とする請求項12に記載の機械。
- 前記回収および伝達手段(15)を形成している前記束の前記光ファイバの入口のための端部部分(15’)が、好ましくは、アセンブリおよび前記分光計(14)の本体内の前記ファイバ(15’)のための位置決め支持物(20)を形成するように保持およびロッキングバックプレート(19)に結合された適切な受けくぼみ(18’)を備える薄いプレート(18)内に取り付けられていることを特徴とする請求項13に記載の機械。
- 前記分光計(14)の本体が、前記支持物(20)を滑動によって位置決めし、積み重ねによって設置する、前記支持物(20)のロッキングによる、任意には、記録される前記基本光束(14’’’)の衝撃ゾーンに対応する位置に前記支持物(20)を位置決めすることができるような適切なシム(22)の挿入による、剛性の支持受け構造(21)を備えることを特徴とする請求項14に記載の機械。
- 特に前記移動する反射鏡(8’)の、任意には前記コンベア(3)の運動を制御し、前記移動する基本測定ゾーン(12)の前記領域内で反射された前記放射の取得をシークエンス化し、たとえばプログラムされたデータとの比較によって、前記検査される各物体(2)の化学組成または前記物体(2)内での化学物質の存在を決定し、または場合に応じて、前記決定の結果と前記物体(2)の空間位置の決定とを相関させることによって、前記解析装置(11、11’)によって送信された信号を処理および評価する、コンピュータなどの前記検知ステーション(4)の動作を処理し管理するためのユニット(23)も備えることを特徴とする請求項3から15のいずれかに記載の機械。
- 前記検知ストリップ(7’)が、中央軸に対して垂直に、かつ前記コンベア(3)の前記搬送平面(Pc)の幅全体にわたって横方向に延びている狭い幅の細長い矩形表面の形状を有することを特徴とする請求項16に記載の機械。
- コンベア上を実質上単層で移動する物体をその化学組成によって自動的に仕分けするための、前記検知ステーションによって実施された前記測定および/または解析の結果に応じて前記物体を能動的に分離するための下流側のステーションと機能的に結合された上流側検知ステーションを備える機械であって、前記検知ステーション(4)が、請求項1から17のいずれかに記載の検知ステーションであることを特徴とする機械。
- 前記検知ステーション(4)または動作を処理し管理するためのそのユニット(23)が、前記解析の結果に応じて前記能動的分離ステーション(5)と横方向にアラインメントしている排出手段(5’)のための制御モジュール(24)へ作動信号を送信し、移動する基本測定ゾーン(12)によって横方向検知ストリップ(7’)の各完全な検査の後に、一斉の作動信号が放出されることを特徴とする請求項18に記載の仕分け機械。
- 前記検知ライン(7)が、気体、好ましくは空気のジェットを送達するノズル列の形状であり、たとえば上昇による排出手段(5)から、たとえば30cmなどのごく近傍に配置されていることを特徴とする請求項18または19のいずれかに記載の仕分け機械。
- 検査される物体の流れを、少なくとも1つの検知ステーションを通って通過させるかまたはその下を通過させること、
投光平面を定義することができるように、対応する印加手段を介して搬送平面のほうへ電磁放射を放出し、前記投光平面および前記搬送平面の交線が、前記物体の移動方向に対して横方向に延びる検知ラインを画定すること、および
任意の瞬間に、この瞬間に走査された点の領域内に配置された基本測定ゾーンによって反射された放射を受光する受光装置を介して前記検知ライン上の任意の点を周期的に走査することを含み、前記検知ラインと前記装置の光学的入力中心によって画定された平面が走査平面とされており、さらに、
走査基本測定ゾーンの領域内で反射された前記放射を、適切な伝達手段を介して少なくとも1つの解析装置へ伝達することを含む、
コンベアの搬送平面上をまたは搬送平面を覆って実質上単層で移動する物体を自動的に検査し、これらの物体をその化学組成によって区別することを可能にする方法であって、
放出された放射が、前記投光平面(Pe)の領域内に集中されること、および前記投光平面(Pe)および前記走査平面(Pb)が結合され、共通の平面(Pe、Pb)が、搬送平面(Pc)に対する垂線(D)に対して傾斜していることを特徴とする方法。 - 好ましくは可視および赤外線領域内の放射を、基本測定ゾーン(12)によって周期的に走査され、その長手方向中心軸が前記検知ライン(7)に対応している横方向検知ストリップ(7’)上の搬送平面(Pc)の領域内に集中させ、それによって、前記検知ストリップ(7’)の全表面にわたって実質上一様である高強度の放射を得ることを含むことを特徴とする方法。
- 反射部材(8’)を形成している平面鏡の枢動振動によって移動する基本測定ゾーン(12)を備える検知ストリップ(7’)を順次走査すること、基本測定ゾーン(12)を起点とする光束を、光ファイバ(10”)の束の形状の伝達手段(10)の入口オリフィス(10’)上に集束させること、捕捉された多スペクトルの光束(14”)の大部分を、第1の解析手段(11)の部分を形成する分光計(14)の入口スロット(17)のほうへ持って行くこと、この光束(14”)を、その様々な基本スペクトル成分(14’’’)に分解すること、出口スロット(17’)の領域内の特定の狭い波長領域に対応するこれらの成分のいくつかの光束を回収し、それらを適切な手段(15)を介して光電変換手段(16)へ伝達し、第1の測定信号を供給し、同時に、場合に応じて、捕捉された多スペクトル光束(14”)のごく一部を、3原色の各強度を決定し、第2の測定信号を供給する第2の解析手段(11’)のほうへ持って行くこと、移動する反射部材(8’)の運動を特に制御するコンピュータ化された処理管理ユニット(23)の領域で前記第1および任意には第2の測定信号を処理すること、前記移動する基本測定ゾーン(12)の領域で反射された放射の取得をシークエンス化し、プログラミングされたデータと比較することによって前記解析装置(11、11’)によって送信された前記信号を処理および算定し、前記検査された物体(2)のそれぞれの化学組成または前記物体(2)内の化学物質の存在を決定することを含むことを特徴とする請求項21または22のいずれかに記載の方法。
- 前記測定信号の処理結果に応じてユニット(23)に送信させること、物体(2)の流れに対して前記検知ステーション(4)の下流に配置された分離ステーション(5’)の排出手段(5’)を制御するためのモジュール(24)への信号を作動させること、および最後に、前記送信された作動信号に応じて前記コンベア(3)の前記搬送支持平面(Pc)上を移動する様々な物体(2)のそれぞれを排出する、または排出しないことを含むことを特徴とする請求項23に記載の方法。
- 前記検知ストリップ(7’)の各走査および対応する計測信号の処理が完了した際、場合に応じて過去の走査の測定信号を考慮しながら、一斉の作動信号が放出されることを特徴とする請求項24に記載の方法。
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