JP2004525315A - 流体マウント - Google Patents

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Abstract

露光装置用の流体マウント(10)は、第一のサブシステム(12)と第二のサブシステム(14)とを備えている。第一のサブシステム(12)は第一のシリンダ(18)と第一のピストン(20)とを備え、第一のピストン(20)が第一のシリンダ(18)内にて第一の軸(26)に沿って移動し、第二のサブシステム(14)が第二のシリンダ(22)と第二のピストン(24)とを有し、第二のピストン(24)が第二のシリンダ(22)内にて第二の軸(28)に沿って移動する。ここで、(i)第二のサブシステム(14)が第一のサブシステム(12)の上端に重なり、(ii)第二の軸(28)が第一の軸と基本的に同軸をなし、(iii)第一のピストン(20)と第二のピストン(24)とが機械的に連結されていることが重要である。これらの構成の結果、この流体マウント(10)は、設置面積が小さく、かつ相対的に大きな耐荷重を有する。

Description

【技術分野】
【0001】
本発明は、流体マウントに関し、特に、露光装置用の、複数のチャンバを備える流体マウント及び、振動を低下させるための複数のチャンバを備える流体マウントの製造方法に関する。更に、本発明は、高い振動遮断性を有する露光装置に関する。
【背景技術】
【0002】
露光装置は、半導体製造工程において、レチクル上の像を半導体ウエハに転写するために一般的に使用されている。典型的な露光装置は、装置フレームと、測定系、制御系、光源、光学部材、レチクルを保持するレチクルステージ、及び半導体ウエハを保持するウエハステージを備えている。
【0003】
装置フレームは通常、測定系、光源、レチクルステージ、光学部材、及びウエハステージを、地表上に支持している。測定系は光学部材のような基準に対する各ステージの位置をモニタしている。光学部材は、レチクルを通過した光を照射及び/または集束させる。一つ以上の移動装置が、光学部材に対しレチクルステージを正確に位置決めしており、同様に、一つ以上の移動装置が、光学部材に対しウエハステージを正確に位置決めしている。
【0004】
レチクルからウエハに転写される像のサイズ及びその形状は極めて微細である。従って、光学部材に対しウエハ及びレチクルを正確に位置決めすることは、高密度な半導体を製造するために極めて重要である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、露光装置の装置フレームの機械的振動や変形が、露光装置の精度に影響する場合がある。例えば、ステージを移動させる移動装置は露光装置の装置フレームを振動させる反力を発生させる。また、装置フレームには、地表からも振動が伝達される。
【0006】
装置フレームの振動や変形により、ステージ及び光学部材の正確な位置決めが不可能となる可能性がある。また、装置フレームの振動や変形により、測定系が光学部材に対する各ステージの位置を正しく測定できなくなる可能性がある。更に、光学部材の振動は、光学部材内の光学素子を変形させ、光学的な像の質を低下させる可能性がある。その結果、露光装置の精度及び、ウエハから製造された集積回路の品質を損なう可能性がある。
【0007】
この問題を解決するための一手段として、地表上に装置フレームを固定する際におけるエアマウントの使用がある。このエアマウントは、装置フレームの振動の原因となる、地表からの振動の影響を低下させる。また、装置フレームに対して露光装置の部品を固定する際に、一つ以上のエアマウントを使用してもよい。しかしながら、十分な振動減衰能力を有するエアマウントは設置面積が相対的に大きく、その結果、露光装置が大型化してしまう。更に、エアマウントの設置が、露光装置を構成する他の部品への接触を制限する可能性がある。
【0008】
上記事情に鑑み、より優れた振動遮断系を備えた露光装置が望まれている。また、設置面積が相対的に小さく、かつ相対的に高い振動減衰能力を有する流体マウントが望まれている。更に、高密度な半導体ウエハのような高精度なデバイスを製造可能な露光装置が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明は、上記の要求を満たす露光装置用の流体マウントに関する。すなわち、この流体マウントは、第一のサブシステムと第二のサブシステムとを備えている。また、第一のサブシステムは第一のシリンダと第一のピストンとを備え、第一のピストンが第一のシリンダ内にて第一の軸に沿って移動し、第二のサブシステムが第二のシリンダと第二のピストンとを有し、第二のピストンが第二のシリンダ内にて第二の軸に沿って移動する。
【0010】
ここで、第二の軸が第一の軸と基本的に同軸をなし、第一のピストンと第二のピストンとが機械的に連結され、第二のサブシステムが第一のサブシステムの上端に重なっていることが重要である。これらの構成の結果、この流体マウントは、設置面積が小さく、かつ相対的に大きな耐荷重を有する。
【0011】
ここで、第一のピストンと第一のシリンダとにより第一のチャンバを形成し、第二のピストンと第二のシリンダとにより第二のチャンバを形成する。また、第一のチャンバと第二のチャンバ間では、流体の流通が可能となっている。
【0012】
更に、この流体マウントが、第二のサブシステム上に重なる第三のサブシステムを備えていてもよい。第三のサブシステムは第三のシリンダと第三のピストンとを有し、第三のピストンが第三のシリンダ内にて第三の軸に沿って移動する。また、第三の軸は、第一の軸及び第二の軸が基本的に同軸をなしている。この例では、第一のピストンと第二のピストンと第三のピストンとが連結され、協同して移動する。また、個々のピストンにより負荷を支えることができる。
【0013】
本発明は、露光装置の一部に用いて効果的である。例えば、一つ以上の流体マウントを、露光装置の装置フレームを基礎に固定するフレーム絶縁系(アイソレーションシステム)の一部に使用可能である。この構成によれば、装置フレーム及び装置フレームに固定された部材を振動させるような基礎の振動の影響が、フレーム絶縁系により減少する。
【0014】
更に、一つ以上の流体マウントを、露光装置を構成する一つ以上の部材を装置フレームを固定するために使用可能である。例えば、一つ以上の流体マウントを、ステージ部または光学部材を装置フレームに固定する絶縁系(アイソレーションシステム)の一部に使用可能である。この構成によれば、ステージ部または光学部材を振動させるような装置フレームの振動の影響が、絶縁系により減少する。
【0015】
本発明は更に、この露光装置により製造されるデバイス、この露光装置により製造されるウエハ、流体マウントの製造方法、絶縁系の製造方法、露光装置の製造方法、デバイスの製造方法、及びウエハの製造方法にも関する。
【発明を実施するための最良の形態】
【0016】
本発明における新規な構成及び、本発明に係る構造並びに動作は、明細書の記載に関連する、添付の図面から最も良く理解できる。なお、これらの図面において、同様の部材には同一の符号が付されている。
【0017】
図1〜3にまず示すように、本発明は、複数のチャンバを備える流体マウント10に関する。この中には、互いに異なる二つの実施例の流体マウント10が含まれる。個々の実施例において、流体マウント10は、第一のサブシステム12と、第二のサブシステム14と、ピストンコネクタ16とを備えている。第一のサブシステム12は、第一のシリンダ18と、第一のピストン20を備え、第二のサブシステム14は、第二のシリンダ22と、第二のピストン24を備えている。また、第一のピストン20は、第一のシリンダ18内にて、第一の軸26に沿って移動し、第二のピストン24は、第二のシリンダ22内にて、第二の軸28に沿って移動する。
【0018】
ここに示す個々の実施例において、第二のサブシステム14は、第一のサブシステム12の直上に位置し、その上端に重ねられている。また、第一の軸26は、第二の軸28と略同軸をなしている。また、ピストンコネクタ16は第一のピストン20及び第二のピストン24に機械的に接続されてこれらを連結し、その結果、第一のピストン20及び第二のピストン24は同時に移動する。この構成では、ピストン20,24が協同して振動を減衰させるとともに負荷を支え、また、サブシステム12,14は事実上平行に取付られている。その結果、この流体マウント10は、相対的に小さい設置面積で相対的に高い耐負荷性を有している。
【0019】
この流体マウント10を使用する機械のタイプは多様である。例えば、図4に示すように、露光装置32用のフレーム絶縁系30の一部分に、一つ以上の流体マウント10が使用可能である。本実施例では、絶縁系30が、露光装置32の装置フレーム34を架台36に対して固定している。架台36は地盤、基礎、床、あるいは他の支持構造であってもよい。この構成では、絶縁系30が、装置フレーム34及び装置フレーム34に固定された露光装置32の振動源となる架台36の振動の影響を低減させる。
【0020】
上記の通り、この流体マウント10は、相対的に小さい設置面積で相対的に高い耐負荷性を有している。この構成では、露光装置32内における流体マウント10の設置面積が減少するため、流体マウント10を露光装置32内に容易に設置可能となる。また、露光装置32を構成する他の部品のためのスペースが増加するとともに、流体マウント10及び露光装置32を構成する他の部品に点検や調整の目的で接触するためのスペースが増大する。
【0021】
なお、図中には、X軸、Y軸及びZ軸を示す座標系が含まれているが、この座標系は参照用のものであって変更可能であることはもちろんである。例えば、Z軸をY軸に換えるか、及び/または露光装置32を回転させてもよい。
【0022】
また、流体マウント10の構成は、その設計上の要求に合致するよう変更可能である。上記の通り、ここでは、互いに異なる二つの実施例の流体マウント10が示されている。具体的には、図1A及び図1Bには流体マウント10の第一実施例が示され、図2A〜図2Cには流体マウント10の第二実施例が示され、図3には流体マウント10の第三実施例が示されている。個々の実施例において、流体マウント10は、第一のサブシステム12と、第二のサブシステム14と、ピストンコネクタ16とを備えている。また、個々の実施例において、第一のサブシステム12は、第一のシリンダ18と、第一のピストン20と、第一のチャンバ42の形状に対応した第一のシール38及び第一のクランプ40とを備え、同様に、個々の実施例において、第二のサブシステム14は、第二のシリンダ22と、第二のピストン24と、第二のチャンバ48の形状に対応した第二のシール34及び第一のクランプ46とを備えている。
【0023】
個々のシリンダ18,22のサイズ及び形状は、流体マウント10の設計上の要求に合致するよう変更可能である。図1A及び図1Bに示す実施例では、個々のシリンダ18,22は円筒状の壁面と閉鎖された底面とを有している。なお、図示の各実施例では、個々のシリンダ18,22の壁面は一般に円環状をなしているが、この壁面が角筒状をなしていてもよい。
【0024】
第一のピストン20のサイズ及び形状は、第一のシリンダ18に適合しつつ、第一のシリンダ18中を移動可能となるよう設定されている。同様に、第二のピストン24のサイズ及び形状は、第二のシリンダ22に嵌合しつつ、第二のシリンダ22中を移動可能となるよう設定されている。また、図示の実施例では、個々のピストン20,24は、略円状の断面を有する略円盤状をなしている。
【0025】
第一のシール38は、第一のピストン20と第一のシリンダ18との間をシールし、かつ第一のピストン20を第一のシリンダ18に対し相対移動可能とするもので、同様に、第二のシール44は、第二のピストン24と第二のシリンダ22との間をシールし、かつ第二のピストン24を第二のシリンダ22に対し相対移動可能とするものである。また、個々のシール38,44は設計変更が可能である。図示の実施例では、個々のシール38,44は、ゴムのような弾性材製の平らな膜状をなしている。更に、第一のピストン20の底部は第一のシール38の頂部に固定され、同様に、第二のピストン24の底部は第二のシール44の頂部に固定されている。
【0026】
個々のシール38,44には、対応するピストン20,24の外周近傍に位置する環状の溝50を設けることが望ましい。第一のシール38の溝50は、第一のシール38の他の部位を変形させることなく第一のピストン20が第一のシリンダ18に対し相対移動可能となるよう偏向されている。同様に、第二のシール44の溝50は、第二のシール44の他の部位を変形させることなく第二のピストン24が第二のシリンダ22に対し相対移動可能となるよう偏向されている。
【0027】
第一のクランプ40は、第一のシール38を第一のシリンダ18に固定するとともに密着させるもので、同様に、第二のクランプ46は、第二のシール44を第二のシリンダ22に固定するとともに密着させるものである。また、個々のクランプ40,46は設計変更が可能である。図1A及び図1Bに示す実施例では、個々のクランプ40,46は円環状をなしている。更に、第一のクランプ40は、第一のクランプ40と第一のシリンダ18との間に位置する第一のシール38の外周部とともに、第一のシリンダ18の頂部に固定され、同様に、第二のクランプ46は、第二のクランプ46と第二のシリンダ22との間に位置する第二のシール44の外周部とともに、第二のシリンダ22の頂部に固定されている。
【0028】
ピストンコネクタ16は、第一のピストン20を、第二のピストン24に機械的かつ強固に連結させるもので、その結果、第一のピストン20と第二のピストン24とは協同して移動し、共に負荷を受ける。ピストンコネクタ16は、流体マウント10の設計上の要求に合致するよう変更可能である。図1A及び図1Bに示す実施例では、ピストンコネクタ16は第二のシリンダ22を囲む略矩形枠状をなしている。また、本実施例では、ピストンコネクタ16は、(1)第一のピストン20の上方に位置する第一のプレート52と、(2)第一のプレート52と第一のピストン20との間に配設され、第一のピストン20の頂部を第一のプレート52の底面に固定保持する、環状をなす第一のスペーサ54と、(3)第二のピストン24上に配設された、第一のプレート52と略平行な第二のプレート56と、(4)第二のプレート56と第二のピストン24との間に配設され、第二のピストン24の頂部を第二のプレート56の底面に固定保持する、環状をなす第二のスペーサ58と、(5)第一のプレート52を第二のプレート56に機械的に連結する第一の側方プレート60と、(6)第一の側方プレート60と略平行かつ離間し、第一のプレート52を第二のプレート56に機械的に連結する第二の側方プレート62とを備えている。なお、個々のプレート52,56,60,62は一般に剛体製とされるとともに、ピストンコネクタ16の第二のプレート56が、流体マウント10により支持される露光装置のような負荷を受けるようになっている。
【0029】
更に、本実施例では、第一のシリンダ18が第二のシリンダ22に固定保持されている。その結果、第一のシリンダ18が第二のシリンダ22が協同して移動する。図1A及び図1Bに示す実施例の流体マウント10では、シリンダコネクタ64により、第一のシリンダ18が第二のシリンダ22に機械的に連結されている。また、本実施例では、シリンダコネクタ64は、(1)第一のシリンダ18の下方に位置し、これに固定された第一の連結プレート66と、(2)第二のシリンダ22の下方に位置し、第一の連結プレート66と略平行な第二の連結プレート68と、(3)第一の連結プレート66を第二の連結プレート68に機械的に連結する第一の側方連結プレート70と、(4)第一の側方連結プレート70と略平行かつ離間し、第一の連結プレート66を第二の連結プレート68に機械的に連結する第二の側方連結プレート72とを備えている。なお、個々のプレート66,68,70,72は一般に剛体製とされている。
【0030】
個々のチャンバ42,48のサイズ及び形状は、流体マウント10を構成する他の部材の設計に応じて変更可能である。流体マウント10は、個々のチャンバ42,48内の圧力を制御、調整する制御系74を備えることが望ましい。この制御系74は、一つ以上の流体ポンプ(図示せず)を備えている。この構成では、制御系74により、流体マウント10の振動減衰性及び高さを容易に調整可能である。
【0031】
また、図示の各実施例では、流体マウント10が、第一のチャンバ42と第二のチャンバ48を、両者の間で流体が連絡するよう連結する流体コネクタ76を備えている。図1A及び図1Bに示す実施例では、個々のシリンダ18、22の壁面にそれぞれ開口部78が形成され、流体コネクタ76が、これら開口部78間に延びる管路となっている。この構成では、第一のチャンバ42及び第二のチャンバ48内の圧力が基本的に同一となる。また、この構成では、制御系74により、個々のチャンバ42,48内の圧力が容易に調整可能である。個々のチャンバ42,48間で流体が連絡している場合、流体マウント10の動作中、個々のサブシステム12,14間における流体の移動が極めて少量に抑制されていることが望ましい。
【0032】
一方、例えば、制御系74が、個々のチャンバ42,48にそれぞれ接続されていてもよい。この場合、制御系74が、個々のチャンバ42,48内の圧力を独立して制御可能となる。更に、個々のチャンバ42,48が外気に対し密閉あるいは排気可能とされていてもよい。また、個々のチャンバ42,48内で使用される流体の種類も変更可能である。更にまた、一方のチャンバが密閉され、制御系74が、他方のチャンバの圧力のみを制御する構成としてもよい。
【0033】
上述の通り、図2Aないし図2Cには、流体マウント10の第二実施例が示されている。本実施例は、(1)第一のシリンダ18と、(2)第一のシール38と、(3)第二のシール44と、(4)第二のクランプ46とは、上述した図1A及び図1Bにおける対応する部材と基本的に同様である。しかしながら、(1)第二のシリンダ22と、(2)第一のピストン20と、(3)第二のピストン24と、(4)第一のクランプ40と、(5)ピストンコネクタ16とは、上述した図1A及び図1Bにおける対応する部材とは異なっている。
【0034】
図2Aないし図2Cに示す実施例では、ピストンコネクタ16が、第一のピストン20の頂部から、第二の軸28に沿って、第二のピストン24の底部に延び、かつ本実施例では、ピストンコネクタ16を構成する部材の一部が、第一のピストン20及び第二のピストン24の一部を形成している。更に詳しくは、図2Aないし図2Cに示すように、(1)第二のシリンダ22は単に円筒状の壁部をなし、(2)第一のピストン20は円盤状をなすとともに、第一のピストン20の上面中央部から第一のクランプ40を介して上方に延びる円柱状の上部マウント80を備え、(3)第二のピストン20は、円盤状をなすピストン底部82と、ピストン底部82の中央部から下方に延びる連結シャフト84と、連結シャフト84の底部に位置する底部ピストンコネクタ85と、円盤状をなすピストン頂部プレート86と、ピストン底部82とピストン頂部プレート86とを、それらの間に第二のシール44を介在させた状態で固定する、互いに離間する複数のピストンボルト88とを備え、(4)第一のクランプ40は、第一のシール38を固定するとともに第一のシリンダ18にシールする環状部90と、第二のシリンダ22の底面となる円盤状部92と、第一のクランプ40の中央部に延び、第一のピストン20の上部マウント80と第二のピストン84の連結シャフト84とを連結可能とする、円形の連結口部94とを備えている。また、第一のクランプ40の円盤状部92は、第一のピストン20の上方への過度の移動を防止する停止部材としても作用する。更に、第一のピストン20が第二のピストン24に連結されているため、第一のクランプ40は、第二のピストン24の上方への過度の移動をも防止する。
【0035】
上記の通り、ピストンコネクタ16は、第一のピストン20と第二のピストン24とを機械的かつ強固に連結している。図2Aないし図2Cに示す実施例では、ピストンコネクタ16は、上部マウント80と、連結シャフト84と、底部ピストンコネクタ85と、第一の連結クランプ96と、第一の連結シール98とを備えている。第一の連結シール98は膜状をなし、第一の連結シール98の他の部位を変形させることなく第一のピストン20及び第二のピストン24を移動可能とする円環状の溝100を備えている。本実施例では、(1)上部マウント80は、底部ピストンコネクタ85に、それらの間に第一の連結シール98を介在させた状態で固定され、(2)第一の連結クランプ96は第一の連結シール98の外周部を第一のクランプ40の円盤状部92の頂部に固定している。この構成では、第一の連結シール98により第二のチャンバ48の底部がシールされるとともに、連結シャフト84が第二のチャンバ48を通って伸長可能となっている。また、ピストンコネクタ16のピストン頂部プレート86が、流体マウント10により支持される露光装置のような負荷を受けるようになっている。
【0036】
本実施例では、第一のシール38と第一の連結シール98との間に中間チャンバ101が形成されている。ここで、中間チャンバ101内の圧力は、流体マウント10の動作に応じて調整可能となっている。例えば、中間チャンバ101内の圧力を制御するため、流体マウント10内の間隙開口部104に連結する間隙調整機構102を設けてもよい。また、この間隙調整機構102は、中間チャンバ101内を真空とするポンプ(図示せず)を備えていることが望ましい。その結果、流体マウント10の搭載荷重が増加するとともに、流体マウント10の固有振動数が減少する。一方、例えば間隙調整機構102が中間チャンバ101内を加圧可能であってもよく、あるいは、中間チャンバ101内が外気と換気可能であってもよい。
【0037】
図2Aないし図2Cに示す実施例において、コネクタシャフト84と底部ピストンコネクタ85の存在に伴い、第一のサブシステム12は、第二のサブシステム14より大きな耐荷重を有している。より詳しくは、第二のチャンバ48内の流体の圧力は底部ピストンコネクタ85を押し下げる方向に作用し、その結果、第二の実施例の流体マウント10の総耐荷重は、第一の実施例の流体マウント10より小さくなる。換言すれば、第二の実施例の流体マウント10は、第一の実施例の流体マウント10より僅かに大きな設置面積を有している。
【0038】
上述の通り、図3には、流体マウント10の第三実施例が示されている。本実施例の流体マウント10は、第二実施例の流体マウント10と部分的に類似しているが、第二のサブシステム14上には、第三のサブシステム110が重ねられている。ここに示す通り、流体マウント10の設置面積を増加させずにその耐荷重を増加させるためには、何段のサブシステムを重ねてもよい。
【0039】
第三のサブシステム110は、第三のシリンダ112と、第三のピストン114と、第三のシール116と、第三のクランプ118とを備え、これらにより第三のチャンバ120が構成されている。第三のピストン114のサイズ及び形状は、第三のシリンダ112に適合しつつ、第三のシリンダ12中を、第三の軸122に沿って移動可能となるよう設定されている。第三のシール116は、第三のピストン114と第三のシリンダ112との間をシールし、かつ第三のピストン114を第三のシリンダ112に対し相対移動可能とするもので、第三のクランプ118は、第三のシール116を第三のシリンダ112に固定するとともに密着させるものである。
【0040】
この実施例では、ピストンコネクタ16により、第一のピストン20及び第二のピストン24とともに、第三のピストン114を機械的かつ強固に連結され、その結果、第一のピストン20と第二のピストン24及び第三のピストン114は協同して移動する。また、第一の軸26は、第二の軸28及び第三の軸122と基本的に同軸となっている。
【0041】
図3に示す実施例では、(1)個々のシリンダ18,22,112は基本的に円筒状をなし、(2)個々のピストン20,24,114は基本的に円盤状をなすとともに第一のピストン20及び第二のピストン24はそれぞれ円筒状の上部マウント80を有し、(3)個々のシール38,44,116は環状の溝を有する平らな膜状をなし、(4)個々のクランプ40,46,118は環状をなしている。
【0042】
また、図3において、流体マウント10は、(1)第一のシリンダ18の底部を形成する底板124と、(2)第一のシリンダ18と第二のシリンダ22との間に位置し、中央に開口を有する、円盤状をなす第一の中間板126と、(3)第二のシリンダ22と第三のシリンダ112との間に位置し、中央に開口を有する、円盤状をなす第二の中間板128と、(4)第三のシリンダ112の頂部を形成する頂板130と、(5)第三のピストン114に固定され、このピストンとともに移動する上部プレート131とを備えている。また、第一のクランプ40は、第一のシール38の外周部を第一の中間板126の底部に固定し、第二のクランプ46は、第二のシール44の外周部を第二の中間板128の底部に固定し、第三のクランプ118は、第三のシール116の外周部を頂板130の底部にする。更に、この実施例では、(1)第一の中間板126は、第一のピストン20の上方への過度の移動を防止する停止部材としても作用し、(2)第二の中間板128は、第二のピストン24の上方への過度の移動を防止する停止部材としても作用し、(3)頂板130は、第三のピストン114の上方への過度の移動を防止する停止部材としても作用する。
【0043】
本実施例では、ピストンコネクタ16は、第一のピストン20と第二のピストン24及び第三のピストン114を機械的かつ強固に連結している。また、図3に示す実施例では、ピストンコネクタ16は、(1)第一のピストン20の頂部から第二のピストン24の底部まで、第二のチャンバ48を介して第二の軸28に沿って延び、(2)第二のピストン24の頂部から第三のピストン114の底部まで、第三のチャンバ120を介して第三の軸122に沿って延びている。また、この実施例では、ピストンコネクタ16を構成する部材の一部が、第一のピストン20、第二のピストン24、及び第三のピストン114の一部を形成している。更に詳しくは、図3に示すように、ピストンコネクタ16は、(1)第一のピストン20の上部マウント80から第二のピストン24の底部まで延びる、円筒状をなす第一の連結シャフト132と、(2)第二のピストン24の上部マウント80から第三のピストン114の底部まで延びる、円筒状をなす第二の連結シャフト134と、(3)第三のピストン114と、第二の連結シャフト134と、第二のピストン24と、第一の連結シャフト132ととに形成された中央連結開口部136内に延設されて第一のピストン20に差し込まれ、これらピストン20、24、114を強固に連結する連結ボルト(図示せず)と、(4)第二のチャンバ48の底部をシールする膜状をなす第一の連結シール138と、(5)第一の連結シール138の外周部を第一の中間板126の頂部に固定する第一の連結クランプ140と、(6)第三のチャンバ120の底部をシールする膜状をなす第二の連結シール142と、(7)第二の連結シール142の外周部を第二の中間板128の頂部に固定する第二の連結クランプ144とを備えている。
【0044】
第一の連結シール138は、第一の連結シール138の他の部位を変形させることなく第一のピストン20及び第二のピストン24を移動可能とする円環状の溝を備えている。この構成では、第一の連結シール138により第二のチャンバ48の底部がシールされるとともに、第一の連結シャフト132が第二のチャンバ48を通って伸長可能となっている。同様に、第二の連結シール142は、第二の連結シール142の他の部位を変形させることなく第二のピストン24及び第三のピストン114を移動可能とする円環状の溝を備えている。この構成では、第二の連結シール142により第三のチャンバ120の底部がシールされるとともに、第二の連結シャフト134が第三のチャンバ120を通って伸長可能となっている。また、ピストンコネクタ16の上部プレート131が、流体マウント10により支持される露光装置のような負荷を受けるようになっている。
【0045】
本実施例では、第一のシール38と第一の連結シール138との間に第一の中間チャンバ146が設けられるとともに、第二のシール44と第二の連結シール142との間に第二の中間チャンバ148が設けられている。ここで、中間チャンバ146,148内の圧力は、流体マウント10の動作に応じて調整可能となっている。例えば、中間チャンバ146,148内の圧力を制御するため、中間チャンバ146,148に連結する間隙調整機構102を設けてもよい。また、この間隙調整機構102により、中間チャンバ146,148内を真空にできることが望ましい。その結果、流体マウント10の搭載荷重が増加するとともに、流体マウント10の固有振動数が減少する。一方、例えば間隙調整機構102が中間チャンバ146,148内を加圧であってもよく、あるいは、中間チャンバ146,148内が外気と換気可能であってもよい。
【0046】
また、本実施例では、チャンバ42,48,120間における流体の流通を可能とする流体コネクタ76が、シリンダ18,22,112の壁部内に形成された流路とされている。
【0047】
図4は、本発明の構成を備える露光装置32の側断面図である。この露光装置32は、装置フレーム34と、照明系204(照射装置)と、レチクルステージ部206と、光学部材208(レンズアッセンブリ)と、ウエハステージ部210と、フレーム絶縁系30と、レチクルステージ絶縁系214と、ウエハステージ絶縁系216と、光学部材絶縁系217と、測定系218とを備えている。また、フレーム絶縁系30、レチクルステージ絶縁系214、ウエハステージ絶縁系216、及び/または光学部材絶縁系217には、一つ以上の流体マウント10が使用可能とされている。
【0048】
露光装置32は、特に、レチクル220における集積回路のパターン(図示せず)を半導体ウエハ222のようなデバイス上に転写する転写装置として有用なもので、例えば地表、床、あるいは他の支持構造のような基礎36上に載置されている。
【0049】
装置フレーム34は剛体製とされ、露光装置32の部品を支持している。また、装置フレーム34の構成は、露光装置32の設計上の要求に合致するよう変更可能である。図4に示す装置フレーム34は、光学部材208及び照明系204と、レチクルステージ部206と、ウエハステージ部210とを、基礎36上に支持している。
【0050】
照明系204は、光源226と照明光学系228とを備えている。光源226は、光エネルギーのビームを出射(投影)する。照明光学系228は、光源226からの光エネルギービームを光学部材208に導入するもので、このビームはレチクル220上の異なる箇所を選択的に照射し、半導体ウエハ222を露光する。図4において、光源226は、レチクルステージ部206の上方に位置しているが、通常は、装置フレーム34の一方の側面に固定された光源226からのエネルギービームが、照明光学系228によりレチクルステージ部206の上方に誘導される。
【0051】
光学部材208は、レチクルを通過した光をウエハに照射及び/または集束させるもので、露光装置32の設計に応じ、レチクルにより照射された像を拡大または縮小可能となっている。
【0052】
レチクルステージ部206は、レチクル220を光学部材208及びウエハ222に対し相対的に支持するとともに位置決めするもので、一般的には、レチクルステージ台230と、レチクル220を保持するレチクルステージ232と、レチクルステージ232をウエハ222に対し相対移動させるレチクルステージ移動部234とを備えている。レチクルステージ移動部234が、設計に応じ、レチクルステージ232を移動させる一つ以上のアクチュエータ及びモータを備えていてもよい。
【0053】
また、ウエハステージ部210は、ウエハ222をレチクル220の照射部位にて投影される像に対し相対的に支持するとともに位置決めするもので、一般的には、ウエハステージ台236と、ウエハ222を保持するウエハステージ238と、ウエハステージ238を移動させるウエハステージ移動部240とを備えている。ウエハステージ移動部240が、設計に応じ、ウエハステージ238を移動させる一つ以上のアクチュエータ及びモータを備えていてもよい。
【0054】
フレーム絶縁系30は、装置フレーム34を基礎36に固定し、装置フレーム34を振動させるような基礎36の振動の影響を減少させるもので、本実施例では、(1)剛性を低下させて高い振動遮断性を得るよう互いに離間して配置された、装置フレーム34の重量を支持する複数の流体マウント10と、(2)互いに離間して配置された、装置フレーム34の振動を遮断するとともに、基礎36に対する装置フレーム34の位置を制御する複数のアクチュエータ248とを備えている。
【0055】
また、フレーム絶縁系30における流体マウント10及びアクチュエータ248の数は変更可能である。フレーム絶縁系30は、例えば、互いに離間して配置された3個の流体マウントを備えている。
【0056】
制御系74は、ステージ部206,210における重心ずれのような低周波域での障害を相殺するために、流体マウント10の圧力を能動的に調整することが望ましい。また、制御系74は、個々の流体マウント10の圧力を、装置フレーム34が静止時または低周波数位置にある時に対応し、かつ剛性を低下させて高い振動遮断性を得るよう調整する。
【0057】
アクチュエータ248は、基礎36に対する装置フレーム34の位置を、3自由度、より望ましくは6自由度で調節することが望ましい。また、アクチュエータ248の設計は変更可能である。図示の例では、個々のアクチュエータ248はボイスコイルモータ(VCM)とされている。一方、個々のアクチュエータを、リニアモータ、電磁アクチュエータ、あるいは他のアクチュエータとしてもよい。制御系74は、個々のアクチュエータ248に対する電流を管理、制御することにより、装置フレーム34の振動を能動的に減衰させ、かつその位置を制御する。
【0058】
基礎36に対する装置フレーム34の加速度及び位置は、一つ以上の位置及び/または加速度センサ(図示せず)によりモニタすることが望ましい。制御系74は、これらのセンサからの情報により、基礎36に対する装置フレーム34の位置を調整、制御するよう、フレーム絶縁系30を制御することが可能となる。
【0059】
レチクルステージ絶縁系214は、レチクルステージ台230を装置フレーム34に固定、支持させ、レチクルステージ台230を振動させるような装置フレーム34の振動の影響を減少させるもので、本実施例では、(1)剛性を低下させて高い振動遮断性を得るよう互いに離間して配置された、レチクルステージ台230の重量を支持する複数の流体マウント10と、(2)互いに離間して配置された、レチクルステージ台230の振動を遮断するとともに、装置フレーム34に対するレチクルステージ台230の位置を制御する複数のアクチュエータ250とを備えている。
【0060】
また、レチクルステージ絶縁系214における流体マウント10及びアクチュエータ250の数は変更可能である。レチクルステージ絶縁系214は、例えば、互いに離間して配置された3個の流体マウントを備えている。
【0061】
制御系74は、低周波域での障害を相殺し、レチクルステージ台230が静止時または低周波数位置にある時に対応し、かつ剛性を低下させて高い振動遮断性を得るようするために、流体マウント10の圧力を能動的に調整することが望ましい。
【0062】
アクチュエータ250は、レチクルステージ台230の振動を能動的に減衰させ、かつその位置を制御する。アクチュエータ250は、レチクルステージ台230の位置を、3自由度、より望ましくは6自由度で調節することが望ましい。また、図示の例では、個々のアクチュエータ250はボイスコイルモータ(VCM)とされている。一方、個々のアクチュエータ250を、リニアモータ、電磁アクチュエータ、あるいは他のアクチュエータとしてもよい。制御系74は、個々のアクチュエータ250に対する電流を管理、制御することにより、上記振動を能動的に減衰させ、かつ位置を制御する。また、レチクルステージ台230のの加速度及び位置は、一つ以上の位置及び/または加速度センサ(図示せず)によりモニタすることが望ましい。制御系74は、これらのセンサからの情報により、レチクルステージ台230の位置を調整、制御するよう、レチクルステージ絶縁系214と協同することが可能となる。
【0063】
ウエハステージ絶縁系216は、ウエハステージ台236を装置フレーム34に固定、支持させ、ウエハステージ台236を振動させるような装置フレーム34の振動の影響を減少させるもので、上記したレチクル絶縁系214と同様の構成を有している。光学部材絶縁系217は、光学部材208を装置フレーム34に固定、支持させ、光学部材208を振動させるような装置フレーム34の振動の影響を減少させるもので、上記したレチクル絶縁系214と同様の構成を有している。
【0064】
測定系218は、光学部材208に対するレチクルステージ232及びウエハステージ238の動きをモニタするもので、その設計は変更可能である。例えば、測定系218には、レーザ干渉系、エンコーダ、及び/またはレチクルステージ232及びウエハステージ238の動きをモニタする他の測定装置が使用可能である。
【0065】
また、転写装置には、種々の異なるタイプのものがある。例えば、露光装置32を、レチクルのパターンをウエハに露光し、かつレチクルとウエハとを同期移動させる走査型のフォトリソグラフィー装置に使用可能である。走査型のフォトリソグラフィー装置では、レチクルは、レチクルステージ部206により光学部材208の軸と直交する方向に移動し、ウエハは、ウエハステージ部210により光学部材208の軸と直交する方向に移動する。また、レチクル及びウエハへの走査は、レチクルとウエハとを同期移動させつつ行われる。一方、露光装置32を、レチクルとウエハとを静止させた状態でレチクルを露光するステップ・アンド・スキャン型のフォトリソグラフィー装置に使用可能である。ステップ・アンド・スキャン型の場合、個々の範囲の露光中、ウエハは、レチクル及び光学部材208に対し一定の位置にある。連続する露光工程において、ウエハは、ウエハステージにより光学部材208の軸と直交する方向に連続的に移動し、その結果、ウエハにおける次の露光範囲が、レチクル及び光学部材208に対する露光位置に移動する。そして、この工程の後、レチクルのパターンがウエハに露光され、ウエハにおける次の露光範囲が、レチクル及び光学部材208に対して移動する。
【0066】
しかしながら、本発明に係る露光装置32の使用は半導体装置製造用のフォトリソグラフィーシステムに限定されず、例えば、液晶ディスプレイのパターンを矩形状のガラス板上に転写するLCDフォトリソグラフィーシステムや、薄膜状磁気ヘッド製造用のフォトリソグラフィーシステムに使用可能である。また、本発明は、マスクを対象に接近させることにより、レンズアッセンブリを使用せずにマスクのパターンを露光する、近接型のフォトリソグラフィーシステムにも使用可能である。更に、本発明の流体マウント10は、他の半導体製造装置、昇降装置、工作機械、金属切削工具、検査装置、あるいはディスクドライブのような、他の装置にも適用可能である。
【0067】
光源226には、g線(436nm)、i線(465nm)、KrFエキシマレーザ(248nm)、ArFエキシマレーザ(193nm)、またはFレーザ(157nm)等が使用可能である。一方、光源226に、x線や電子ビームのような荷電粒子ビームを使用してもよい。電子ビームを使用する場合、電子銃として、熱電子放出型の六硼化ランタン(LaB)またはタンタル(Ta)が使用可能である。また、電子ビームを使用する場合、マスクを使用する構造としても、マスクを使用せず、基板に直接パターンを形成する構造としてもよい。
【0068】
フォトリソグラフィーシステムにおける光学部材20の倍率には、縮小系のみならず、等倍または拡大系も含まれる。また、エキシマレーザのような遠紫外線を使用した場合、光学部材20として、石英や蛍石のような、遠紫外線を透過する晶材を使用することが望ましく、Fレーザやx線を使用した場合、光学部材20には、反射屈折性または屈折性のものを使用することが望ましい(レチクルにも屈折性のものを使用することが望ましい)更に、電子ビームを使用した場合には、電子光学部材を電子レンズや電子デフレクタから構成することが望ましく、かつ電子ビームの光路を真空とする。
【0069】
また、露光装置に波長200nm以下の真空紫外線(VUV)を使用した場合、反射屈折型の光学系の使用が考えられる。反射屈折型の光学系の使用は、特開平8−171054及び対応する米国特許No.5668672、並びに特開平10−20195及び対応する米国特許No.5835275に例示されている。これらの例において、ビームスプリッタと凹面鏡とを備えた反射屈折型の光学系として、反射光学装置が使用可能である。なお、特開平8−334695及び対応する米国特許No.5689377、並びに特開平10−3039及び対応する米国特許出願No.873605(1997年12月6日出願)では、凹面鏡を備え、ビームスプリッタのない、反射−屈折型の光学系が使用されているが、これらの装置も本発明に使用可能である。これら米国特許及び公開された日本出願の開示内容は、可能な限り本願に含まれる。
【0070】
また、フォトリソグラフィーシステムにおいて、ウエハステージ及びマスクステージにリニアモータを用いた場合(米国特許No.5623853及び5528100)、リニアモータには、空気ベアリングを用いた空気浮揚型のもの、あるいはローレンツ力またはリアクタンス力を用いた磁気浮揚型のものが使用される。更に、ステージは、ガイドに沿って移動するタイプであっても、ガイドのないガイドレスタイプであってもよい。米国特許No.5623853及び5528100の開示内容は、可能な限り本願に含まれる。一方、これらのステージの一方が、二次元的に配置されたマグネットを備えるマグネットユニットと、これに対向して二次元的に配置されたコイルを備える電機子コイルとで発生した電磁気力によりステージを駆動するプレーナモータにより駆動されてもよい。この駆動系では、マグネットユニットと電機子コイルの一方がステージに取り付けられ、他方がステージの移動面側に取り付けられる。
【0071】
上記のようなステージの移動は、フォトリソグラフィーシステムの動作に影響する反力を発生させる。ウエハ(基板)ステージの移動により発生した反力は、米国特許No.5528100及び対応する特願平8−136475に示すように、フレームを介して機械的に床(地表)に逃がしてもよい。また、レチクル(マスク)ステージの移動により発生した反力は、米国特許No.5874820及び対応する特願平8−330224に示すように、フレームを介して機械的に床(地表)に逃がしてもよい。米国特許No.5528100及び5874820、並びに特願平8−330224の開示内容は、可能な限り本願に含まれる。
【0072】
上記の通り、上記実施例に係るフォトリソグラフィーシステム(露光装置)は、本願の請求項に挙げられる個々の構成を含む種々のサブシステムを、機械的精度、電気的精度、及び光学的精度が維持されるよう組み立てることにより構成されている。これら種々の精度を維持するため、個々の光学部材はその光学的精度を確保するよう調整され、同様に、個々の機械系及び個々の電気系はそれぞれ機械的、電気的精度を確保するよう調整される。個々のサブシステムを組み立ててフォトリソグラフィーシステムを形成する工程には、種々のサブシステム間における機械的接続や電気回路の配線、及び空気系統の配管等が含まれる。これらサブシステムは、これらサブシステムによるフォトリソグラフィーシステムの組立前に形成されていることは言うまでもない。サブシステムによりフォトリソグラフィーシステムを組み立てたら、フォトリソグラフィーシステム全体の精度を確認するための調整を行う。なお、露光装置の製造は、温度及び清浄度が制御されたクリーンルーム内で行うことが望ましい。
【0073】
半導体デバイスは、上記のシステムを用い、図5に概略を示す工程により製造される。ステップ301では、デバイスの機能や性能を設計する。次のステップ302では、上記ステップに基づき、パターンを有するマスク(レチクル)を製造する。同時に、ステップ303では、シリコン材料からウエハを形成する。ステップ304では、上述した本発明に係るフォトリソグラフィーシステムを用いて、ステップ302で設計されたマスクのパターンをステップ303で得られたウエハに露光する。ステップ305(ダイシング工程、ボンディング工程、及びパッケージング工程を含む)では、半導体デバイスを組み立てる。最後に、ステップ306にて、半導体デバイスを検査する。
【0074】
図6は、半導体デバイスを製造する際における、上記したステップ304の詳細を例示するフローチャートである。図6において、ステップ311(酸化工程)では、ウエハの表面を酸化させる。ステップ312(CVD工程)では、ウエハの表面に絶縁皮膜を形成する。ステップ313(電極形成工程)では、蒸着によりウエハに電極を形成する。ステップ314(イオン注入工程)では、ウエハにイオンを注入する。これら311〜314で示す工程は、ウエハ製造工程中の、前処理工程となる。また、必要に応じ、個々の工程で、選抜を行ってもよい。
【0075】
ウエハの処理に際しては、上記前処理工程の完了後、以下に示す後処理工程を行う。すなわち、ステップ315(フォトレジスト形成工程)では、ウエハ上にフォトレジストを形成する。次いで、ステップ316(露光工程)では、上記の露光装置を用い、マスク(レチクル)の回路パターンをウエハに転写する。ステップ317(現像工程)では、露光されたウエハを現像する。ステップ318(エッチング工程)では、フォトレジストの残存部分以外(露光された部分)を、エッチングにより除去する。ステップ319(フォトレジスト除去工程)では、エッチング後に残存する不要なフォトレジストを除去する。そして、上記前処理及び後処理工程を繰り返すことにより、複数の回路パターンが形成される。
【0076】
ここに特に詳説した流体マウント10及び露光装置32によれば、上述したような目的及び効果を十分に達成または獲得することができるが、これらは単に本発明の好ましい実施例を提示したものに過ぎず、添付した請求項に述べる通り、その構成や設計の詳細は、これらに限定されないことはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【0077】
【図1A】本発明の構成を備える流体マウントの第一実施例を示す斜視図である。図
【図1B】図1Aの流体マウントの分解斜視図である。
【図2A】本発明の構成を備える流体マウントの第二実施例の断面を示す斜視図であ
【図2B】図2Aの流体マウントの上方からの分解斜視図である。
【図2C】図2Aの流体マウントの下方からの分解斜視図である。
【図3】本発明の構成を備える流体マウントの第三実施例の断面を示す斜視図である。
【図4】本発明の構成を備える露光装置の側断面図である。
【図5】本発明に係る装置の概略製造工程を示すフローチャートである。
【図6】上記概略製造工程の詳細を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【0078】
10 流体マウント
12 第一のサブシステム
14 第二のサブシステム
16 ピストンコネクタ
18 第一のシリンダ
20 第一のピストン
22 第二のシリンダ
24 第二のピストン
26 第一の軸
28 第二の軸
32 露光装置
34 装置フレーム
36 基礎
42 第一のチャンバ
48 第二のチャンバ
74 制御系
101 中間チャンバ
110 第三のサブシステム
112 第三のシリンダ
114 第三のピストン
120 第二のチャンバ
122 第三の軸

Claims (45)

  1. 第一のシリンダと、第一のシリンダ内にて移動する第一のピストンとを備える第一のサブシステムを備えるとともに、第二のシリンダと、第二のシリンダ内にて移動する第二のピストンとを備える第二のサブシステムを備え、第二のピストンが第一のピストンと連動する流体マウント。
  2. 第一のピストンが第一の軸に沿って移動し、第二のピストンが第一の軸と基本的に同軸をなす第二の軸に沿って移動する請求項1に記載の流体マウント。
  3. 第一のピストンと第二のピストンとが連動するよう第一のピストンと第二のピストンとを連結するピストンコネクタを備える請求項1に記載の流体マウント。
  4. ピストンコネクタが第二のシリンダの周囲に延設されている請求項4に記載の流体マウント。
  5. ピストンコネクタが第二のシリンダで囲まれている請求項3に記載の流体マウント。
  6. 第一のピストンと第一のシリンダとにより第一のチャンバを形成するとともに、第二のピストンと第二のシリンダとにより第二のチャンバを形成する請求項1に記載の流体マウント。
  7. 第一のチャンバと第二のチャンバ間で流体が流通する請求項6に記載の流体マウント。
  8. 第一のチャンバと第二のチャンバとの間に位置する中間チャンバを備える請求項6に記載の流体マウント。
  9. 中間チャンバ内の圧力を大気圧より低くなるよう調整する制御系を備える請求項8に記載の流体マウント。
  10. 少なくとも一つのチャンバ内の圧力を調整する制御系を備える請求項8に記載の流体マウント。
  11. 第二のサブシステムが第一のサブシステムの直上に位置している請求項1に記載の流体マウント。
  12. 第二のサブシステムが第一のサブシステムの上端に重ねられている請求項11に記載の流体マウント。
  13. (1)第三のシリンダと、第三のシリンダ内にて移動する第三のピストンとを備える第三のサブシステムと、(2)第一のピストンと第二のピストンと第三のピストンとを、これらのピストンが連動するよう連結するピストンコネクタとを備える請求項1に記載の流体マウント。
  14. 第三のピストンが、第一の軸及び第二の軸と基本的に同軸をなす第三の軸に沿って移動する請求項13に記載の流体マウント。
  15. 請求項1に記載の流体マウントを備える絶縁系。
  16. 装置フレームと、装置フレームを基礎に固定する請求項1に記載の流体マウントとを備える露光装置。
  17. 請求項16に記載の露光装置により製造されたデバイス。
  18. 請求項16に記載の露光装置により形成された像を有するウエハ。
  19. 第一のシリンダと、第一のシリンダ内にて第一の軸に沿って移動する第一のピストンとを備える第一のサブシステムを備えるとともに、第二のシリンダと、第二のシリンダ内にて第二の軸に沿って移動する第二のピストンとを備える第二のサブシステムを備え、第二の軸が第一の軸と基本的に同軸をなす流体マウント。
  20. 第一のピストンと第二のピストンとが連動するよう第一のピストンと第二のピストンとを連結するピストンコネクタを備える請求項19に記載の流体マウント。
  21. ピストンコネクタが第二のシリンダの周囲に延設されている請求項19に記載の流体マウント。
  22. ピストンコネクタが第二のシリンダで囲まれている請求項19に記載の流体マウント。
  23. 第一のピストンと第一のシリンダとにより第一のチャンバを形成するとともに、第二のピストンと第二のシリンダとにより第二のチャンバを形成し、かつ第一のチャンバと第二のチャンバ間で流体が流通する請求項19に記載の流体マウント。
  24. 第一のチャンバと第二のチャンバとの間に位置する中間チャンバと、中間チャンバ内の圧力を大気圧より低くなるよう調整する制御系とを備える請求項23に記載の流体マウント。
  25. 少なくとも一つのチャンバ内の圧力を調整する制御系を備える請求項23に記載の流体マウント。
  26. 第二のサブシステムが第一のサブシステムの直上に位置し、第二のサブシステムが第一のサブシステムの上端に重ねられている請求項19に記載の流体マウント。
  27. 第三のシリンダと、第三のシリンダ内にて(第一の軸及び第二の軸と基本的に同軸をなす)第三の軸に沿って移動する第三のピストンとを備える第三のサブシステムを備える請求項19に記載の流体マウント。
  28. 第一のピストンと第二のピストンと第三のピストンとを連結し、これらのピストンを連動させるピストンコネクタを備える請求項27に記載の流体マウント。
  29. 請求項19に記載の流体マウントを備える絶縁系。
  30. 装置フレームと、装置フレームを基礎に固定する請求項19に記載の流体マウントとを備える露光装置。
  31. 請求項30に記載の露光装置により製造されたデバイス。
  32. 請求項30に記載の露光装置により形成された像を有するウエハ。
  33. 第一のシリンダと、第一のシリンダ内にて移動する第一のピストンとを備える第一のサブシステムを提供する工程と、第二のシリンダと、第二のシリンダ内にて移動する第二のピストンとを備える第二のサブシステムを提供する工程と、第一のピストンと第二のピストンとが連動するよう第一のピストンと第二のピストンとをピストンコネクタで連結する工程とを含む流体マウントの製造方法。
  34. 第一のピストンが第一の軸に沿って移動し、第二のピストンが第二の軸に沿って移動するとともに、第二の軸が第一の軸と基本的に同軸をなすよう第二のサブシステムを第一のサブシステムに対し位置決めする工程を含む流体マウントの製造方法。
  35. 第二のサブシステムを第一のサブシステムに対し位置決めする工程が、第二のサブシステムを第一のサブシステムの上端に直接重ねる工程を含む請求項34に記載の流体マウントの製造方法。
  36. 個々のサブシステム内の圧力を制御系により調整する工程を含む請求項33に記載の流体マウントの製造方法。
  37. (1)第三のシリンダと、第三のシリンダ内にて移動する第三のピストンとを備える第三のサブシステムを提供する工程と、(2)第一のピストンと第二のピストンと第三のピストンとを、これらのピストンが連動するようピストンコネクタで連結する工程とを備える請求項33に記載の流体マウントの製造方法。
  38. 第三のピストンが第三の軸に沿って移動するとともに、第三の軸が第一の軸及び第二の軸と基本的に同軸をなすよう第三のサブシステムを第一のサブシステム及び第二のサブシステムに対し位置決めする工程を含む流体マウントの製造方法。
  39. 請求項33に記載の流体マウントの製造工程を含む絶縁系の製造方法。
  40. 装置フレームを、請求項33による流体マウントにより基礎に固定する工程を備える露光装置の製造方法。
  41. 請求項40に記載の方法で製造された露光装置を用いたウエハの製造方法。
  42. 少なくとも請求項40に記載の方法で製造された露光装置を用いた露光工程を含むデバイスの製造方法。
  43. 第一のシリンダと、第一のシリンダ内にて第一の軸に沿って移動する第一のピストンとを備える第一のサブシステムを提供する工程と、第二のシリンダと、第二のシリンダ内にて、第一の軸と基本的に同軸をなす第二の軸に沿って移動する第二のピストンとを備える第二のサブシステムを提供する工程と、第一のピストンに負荷に連結させる工程と、第二のピストンを負荷に連結させる工程とを含む負荷の支持方法。
  44. 少なくとも一つのサブシステム内の圧力を制御する工程を含む請求項43に記載の負荷の支持方法。
  45. 少なくとも一つのサブシステム内の圧力を制御する工程が、個々のサブシステム内の圧力を独立して制御する工程を含む請求項44に記載の負荷の支持方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008235889A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Asml Netherlands Bv 振動絶縁サポートデバイスを含むリソグラフィ装置
KR101305717B1 (ko) 2007-11-30 2013-09-09 현대자동차주식회사 다중 댐핑 구조를 갖는 에어 댐핑 마운트
JP2019514033A (ja) * 2016-03-03 2019-05-30 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 振動絶縁装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7095482B2 (en) * 2001-03-27 2006-08-22 Nikon Corporation Multiple system vibration isolator
US6731372B2 (en) 2001-03-27 2004-05-04 Nikon Corporation Multiple chamber fluid mount
JP4175086B2 (ja) * 2002-10-29 2008-11-05 日本電気株式会社 検査用ウエハ支持装置及び検査用ウエハ支持方法
CN103383528B (zh) 2003-04-10 2016-05-04 株式会社尼康 包括用于沉浸光刻装置的真空清除的环境系统
CN101813892B (zh) 2003-04-10 2013-09-25 株式会社尼康 沉浸式光刻装置及使用光刻工艺制造微器件的方法
US20050139061A1 (en) * 2003-12-29 2005-06-30 Swagelok Company Stackable actuator housing
JP4541849B2 (ja) * 2004-11-22 2010-09-08 キヤノン株式会社 位置決め装置
WO2006084657A1 (en) * 2005-02-11 2006-08-17 Carl Zeiss Smt Ag Vibration damping for photolithographic lens mount
DE102005021639A1 (de) * 2005-05-06 2006-11-09 Satisloh Gmbh Hochleistungs-Fräs- und Drehmaschine sowie Verfahren zur Bearbeitung von Brillengläsern
DE102007059631B4 (de) * 2007-12-10 2009-09-17 Integrated Dynamics Engineering Gmbh Schwingungsisolator zur Verwendung im Vakuum
US7927375B2 (en) * 2008-09-12 2011-04-19 Doty Keith L Dynamic six-degrees-of-freedom intervertebral spinal disc prosthesis
TWI398570B (zh) * 2009-08-11 2013-06-11 Ruentex Eng & Constr Co Ltd 微震控制建築系統
USD734377S1 (en) * 2013-03-28 2015-07-14 Hirata Corporation Top cover of a load lock chamber

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4773306A (en) * 1986-07-08 1988-09-27 Pneumo Abex Coporation Dual tandem composite cylinder assembly including separately formed cylinder barrels
US5285995A (en) * 1992-05-14 1994-02-15 Aura Systems, Inc. Optical table active leveling and vibration cancellation system
US5341725A (en) * 1993-06-14 1994-08-30 Dick James B Twin piston power cylinder
GB9314145D0 (en) * 1993-07-08 1993-08-18 Savair Ltd Pneumatic cylinder and control valve therefor
JPH08170990A (ja) 1994-12-19 1996-07-02 Nikon Corp ステージ装置
TW318255B (ja) 1995-05-30 1997-10-21 Philips Electronics Nv
JP3718874B2 (ja) 1995-06-30 2005-11-24 株式会社辰巳菱機 発電機通電試験用負荷抵抗器
US5931441A (en) 1996-02-29 1999-08-03 Nikon Corporation Method of isolating vibration in exposure apparatus
JPH1089403A (ja) * 1996-09-10 1998-04-07 Nikon Corp 防振装置
JPH11295901A (ja) 1998-04-10 1999-10-29 Nikon Corp 露光装置
JP4165844B2 (ja) 1998-11-18 2008-10-15 キヤノン株式会社 除振装置
JP4034007B2 (ja) 1999-07-02 2008-01-16 カヤバ工業株式会社 張力調整ダンパ
US6731372B2 (en) 2001-03-27 2004-05-04 Nikon Corporation Multiple chamber fluid mount

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008235889A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Asml Netherlands Bv 振動絶縁サポートデバイスを含むリソグラフィ装置
JP4740970B2 (ja) * 2007-03-20 2011-08-03 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 振動絶縁サポートデバイスを含むリソグラフィ装置
US8102505B2 (en) 2007-03-20 2012-01-24 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus comprising a vibration isolation support device
KR101305717B1 (ko) 2007-11-30 2013-09-09 현대자동차주식회사 다중 댐핑 구조를 갖는 에어 댐핑 마운트
JP2019514033A (ja) * 2016-03-03 2019-05-30 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 振動絶縁装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法
US10816910B2 (en) 2016-03-03 2020-10-27 Asml Netherlands B.V. Vibration isolator, lithographic apparatus and device manufacturing method

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