JP2004514898A - 光学的検出デバイス - Google Patents

光学的検出デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP2004514898A
JP2004514898A JP2002546175A JP2002546175A JP2004514898A JP 2004514898 A JP2004514898 A JP 2004514898A JP 2002546175 A JP2002546175 A JP 2002546175A JP 2002546175 A JP2002546175 A JP 2002546175A JP 2004514898 A JP2004514898 A JP 2004514898A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical element
light
detector
spectra
diffractive optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002546175A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4077316B2 (ja
Inventor
ヨハンセン,イブ−ルネ
ロブハウゲン,オド
Original Assignee
トムラ・システムズ・エイ・エス・エイ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by トムラ・システムズ・エイ・エス・エイ filed Critical トムラ・システムズ・エイ・エス・エイ
Publication of JP2004514898A publication Critical patent/JP2004514898A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4077316B2 publication Critical patent/JP4077316B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/30Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1842Gratings for image generation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

広いバンドの光が光源(31)から光学要素(24)に向かって放射され、そこから少なくとも1つの検出器(29、29’)へ透過させられる、分光技術で使用するための回折光学要素デバイス。該光学要素は、少なくとも2つが別々であるが、相互に対しオフセットされそして/又は部分的に重なり合っている、複数のスペクトラム(25−28)を作るためにそれぞれの中心が相互に対し2次元的にオフセットされ、好ましくは部分的に相互に集積化されるのがよい、複数の回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有する。代替えの実施例では、該光学要素は、波長に関係しスペクトラムを作る1つの回折光学要素(60)か、又はそれぞれの波長に関係し、合成スペクトラムを与えるために少なくとも2つの相互に部分的に重なり合うスペクトラムを作る少なくとも2つの回折光学要素(60,61)か、何れかから成る。上部及び/又は下部波長値の少なくとも1つの指示を前記スペクトラム内で作るために該光学要素上の又はそれと連携した手段が提供される。

Description

【0001】
本発明は、付置する特許請求項1,2,14,15,18、19,29及び30の前文(preamble)で開示される様に、広いバンドの光(broad−band light)が光源から光学要素に向かって放射され、そこから少なくとも1つの検出器(detector)へ透過(transmitted)される、分光技術(spectroscopy)で使用するための回折光学要素デバイス(diffractive optical element device)に関する。
【0002】
従来技術の図解としてWO第9961941号、米国特許第4729658号、WO第0062267号、WO第9634256号、欧州特許第0075171号、英国特許第2219853号、米国特許第5369276号そして米国特許第4391523号を参照する。
【0003】
WO第9961941号はカラーの収差(color aberration){色収差(chromatic aberration)}を修正する目的で波長範囲を増大するための2層内の回折光学要素に関する。かくして、青及び赤用に同じ焦点が得られるが、本発明は結果的に代わりに該カラーを分散(disperse)することを求めており、これが達成される方法の1つは同じ平面内にパターンを置くことに依っている。
【0004】
米国特許第4729658号は格子(grating)を回折光学要素として使用するが、この場合該要素は焦点合わせ解決策(focusing solution)を提供しない。焦点合わせはレンズの助けを得て行われる。この公知の解決策は光の各点用に1つのスペクトラムのみを生ずるが、本発明は光の各点用に幾つかのスペクトラムを提供する。
【0005】
WO第0062267号は何等のスペクトラム的解決策を与えず、分散式焦点合わせ(dispersive focusing)も与えない。結果として、複数スペクトラム(spectra)は発生されない。
【0006】
欧州特許第0075171号は高調波検出付きの標準的格子分光計(standard grating spectrometer with harmonic detection)を説明している。これは分散式、非焦点合わせ解決策でありそこでは検出器に当たるスペクトラム的応答が液晶シャッター手段により変調される。該解決策は焦点合わせせず、それは複数スペクトラムも生じない。
【0007】
本発明の目的は、例えばガス又は流体の様な、媒体(medium)と連携して分光技術用に使用され得るのみならず、例えばガラス又はプラスチックの品物(article)の様な媒体を解析ためにも使用出来て、生物学的材料、ウエースト(waste)、医学的サンプル、流体及び調合品(preparations)、金属及び/又はその合金そして一般にプラスチック材料又はガラスの分析で使用するために好適でもあるデバイスを提供することである。オプションとして、前記媒体は、例えば、セルラーリキッド(cellular liquid)から成ってもよい。
【0008】
本発明の1目的は分光技術の目的で回折光学要素を作ることであった。この狙いは、該回折光学要素が、例えば焦点合わせ効果(focusing effect)の様な、特定の特性を有するよう作られ得ることを除けば、丁度標準的格子が行う様に、この様な回折光学要素からスペクトラムを得ることであった。
【0009】
本発明に依れば、該デバイスは付置する特許請求項1,2,14,15,18,19、29及び30の特徴の節で表明される態様により特徴付けられる。
【0010】
該デバイスのそれぞれの代替えの追加的実施例はそれぞれの付置する従属的特許請求項及び下記説明から明らかである。
【0011】
本発明をここで付置する図面を参照して更に詳細に説明する。
【0012】
図1は、以下でデーオーイー(DOE)として引用される、回折光学要素(diffractive optical element)と連携した2波長の使用の原理を示す。該デーオーイーは点S1をD1上に(波長λ1)そして点S2をD2上に(波長λ2)画像形成する。光源S及び検出器Dがある時、前記デーオーイーの走査はそれぞれλ1、λ2をそれぞれの走査角度θ1及びθ2で該検出器上に画像形成する結果を有する。問題はこれらの特性を有する前記デーオーイーのプロフアイルを決定することにある。走査軸線(scanning axis){すなわち、該デーオーイーのチルト角(tilt angle)}はSAで示される。本発明の或る一般的側面を考えることは有用である。波面(wave front)の規定と関連して、その位置がベクトル
【0013】
【数1】
Figure 2004514898
【0014】
により規定されるソースsと、その位置がベクトル
【0015】
【数2】
Figure 2004514898
【0016】
で規定されるその画像dを考える。
【0017】
(r)は該ソースから来る球形波面である:
【0018】
【数3】
Figure 2004514898
【0019】
ここでk=2π/λそして
【0020】
【数4】
Figure 2004514898
【0021】
そしてi=(−1)1/2であり、そして
【0022】
【数5】
Figure 2004514898
【0023】
は前記デーオーイーでの波面振幅(wavefront amplitude)である。
【0024】
(r)は該検出器上に焦点合わせされた該球形波面であり、下式で規定され、
【0025】
【数6】
Figure 2004514898
【0026】
ここで
【0027】
【数7】
Figure 2004514898
【0028】
であり、
【0029】
【数8】
Figure 2004514898
【0030】
は前記デーオーイーでの該波面振幅である。
【0031】
(r)の波面インテンシテイは下記であることは注意されるべきである。
【0032】
【数9】
Figure 2004514898
【0033】
そして同様に、右記である。
【0034】
【数10】
Figure 2004514898
【0035】
該デーオーイーの光学的反射率関数は下式で与えられ、
【0036】
【数11】
Figure 2004514898
【0037】
ここでf(r)はデーオーイープロフアイル関数を示し、k=2π/λそしてλは入って来る波(incoming wave)Sの波長である。
【0038】
ここで、前記デーオーイー上での反射により引き起こされる位相遅延は該光路長への純粋な幾何学的追加であると仮定する。
【0039】
フーリエ光学(Fourier optics)に従えば、下記の様に書くことが出来る。
【0040】
結果の波(Outcoming wave)=S(r)・t(r)       (5)
回折光学要素に関する理論をより密接に考えることも有用である。出発点として単波長の場合(single wavelength case)を取り上げることが出来る。
【0041】
ソースS1は波長λ1で光を放射し、d1上に画像形成される。式4と5が与えられると、下記の結果が得られる。
【0042】
【数12】
Figure 2004514898
【0043】
この方程式を解くと右記に帰着する
【0044】
【数13】
Figure 2004514898
【0045】
これは整数関数の剰余(remainder of an integer function){モジュロ関数(modulo function)}を特徴付け、そこでは一般にmod[a,b]はf(r)=(a/b)−‖a/b‖を与える。
【0046】
前に様にSAが該走査軸線を示す、図3に示す下記システム形状をここで考える。図3は又図5,6及び7からも見られ、それらの図と関係して説明されるものと関係している。図5a及び5bは、該デーオーイープロフアイルを得るためにそれがカットオフされる前の反射率関数t(r)用の位相を示し、そしてそこでは図5aは関数
【0047】
【数14】
Figure 2004514898
【0048】
を示し、図5bは該デーオーイープロフアイルに沿った距離を示す。
【0049】
図6aはこの場合フレーネル帯状板の中央部であるデーオーイープロフアイルを示す。図6bは該プロフアイルに沿った距離である。結果は本質的に期待に従っている。それにも拘わらず、該フレーネル帯状板の中央部分は波長から独立した方向の分散を与えると知られているので、ソースから来るどんな波長も前記検出器上で同じ場所に焦点を結ぶ。該ソースSと該検出器Dを左へシフトすると、図4で見られる様に、該デーオーイープロフアイルは図7で示す様なフレーネルレンズ軸線を離れた部分であり、かくしてそれはフレーネル帯状板の外側部分を示す。このプロフアイルは今度は波長依存性であり、該ソースから来る波長λを有する波面は該検出器上に画像形成され、そして他の波長は異なる場所に焦点を結ぶ。又これは一般に多数波長の場合にも成立し、選ばれる形状は図3に示す様である。
【0050】
ここで、sをd上に(波長λ)、sをd上に(波長λ)画像形成することが同時に望まれる、2波長の場合の簡潔な説明を行う。デーオーイー光学的反射率は下記式に従うべきである。
【0051】
t(r)=D・S*/|S+D・S*/|S  (6)
ここで、
【0052】
【数15】
Figure 2004514898
【0053】
である、図8に示す1つの特定の場合へ考慮を払う。ソースSから来る2つの波長λとλは検出器D上に画像形成される。かくして図8はこの場合のデーオーイープロフアイルを示す。それが2つのフレーネル帯状板間の1種の混合されたパターンに似ていることが分かる。
【0054】
計算が、図3の形状から明らかなそれに基づく、他の例が図9で見られる。ここで与えられた結果が2つの混合されたフレーネル帯状板と解釈するのは容易であり、該2つのフレーネル帯状板を分離する曲線は異なる半径を有する。しかしながら、全てのこれらの曲線は走査軸線の方向に接する(X方向の該軸線)。
【0055】
今度は、本発明の更に進んだ側面が図10から出発してより詳細に説明されるが、そこでは、光がソースsから、この図で参照数字1により示される回折光学要素デーオーイーを通り、作られるスペクトラム2を検出出来る検出器Dに向かって放射される。例えば、軸線yの周りに要素1を回転させることにより、スペクトラム2は検出器Dに対し移動する。
【0056】
図11は変型された回折光学要素3を示す。光は、好ましくは点ソース(point source)から要素3に向かって送られ、該要素3を透過させられるか又はそれにより反射させられると、該要素3に平行な面内のスペクトラム4が作られ、そしてこれは全体的に長方形でないことが分かるが、それは支配的な形状(prevailing geometry)のためである。代わりに、z軸線に平行なスペクトラム5が作られ得る。ここでは、もし検出器6又は検出器7が提供されるなら、該要素3がチルト運動に供されると該スペクトラム4又は5はシフトするであろうことも評価される。この仕方で、該検出器6又は7は前記スペクトラムの実際の場所を検出出来る。
【0057】
もし、図12に示す様に、この原理が更に用いられるなら、そして複数の回折光学要素8,9、10及び11が提供される場合、これらの各々はそれぞれの複数スペクトラム(spectra)12−15を作ることが分かる。検出器16の検出領域は参照数字17で示される。唯1つの検出器16が示されるが該検出領域17に2つ以上の検出器があり得ることは理解される。
【0058】
該要素8−11は単に典型的な軸線オフセットのフレーネル帯状板フラグメントを図解として示しており、図面上ではこれらは同一であるよう見えるが、本発明の主張する望まれる効果を得るためにそれらが相互に異っているに違いないことは理解されるであろう。
【0059】
もし要素8−11が集合的に該x軸線の周りにチルトされるなら、前記複数スペクトラム12−15は該検出器場17を横切って動くであろう。しかしながら、要素8−11が該y軸線の周りにチルトされるなら、前記複数スペクトラム12−15は該検出器場17に沿い一緒に動き、続いて検出器16を通過する。かくして、複数スペクトラム12−15の有効な検出のためには、前記スペクトラムのそれぞれの領域と共に続いて該検出器16上を通過するように該検出器16が場17に沿って動かされるか又は該要素8−11がy軸線の周りにチルトされねばならないことが評価されるであろう。もし、例えば、1つより多くの検出器が使用されるなら、検出器16’の様な検出器が提供され得る。
【0060】
更に図13を参照すると、該回折光学要素18は複数のより小さい回折光学要素19に分けられることが分かるであろう、尤も明らかなのでその唯少しの数が示されているが。光が該要素18を照明すると、該回折光学要素19の或るものがスペクトラムの或る部分を形成する一方他のものはスペクトラムの他の部分を形成することが分かる。かくして、図13は、図12に示す要素8−11の種類のそれらの様な、複数の要素から成ると考えられ得る。この仕方で、少なくとも2つは別々であるが、相互に対しオフセットされそして/又は部分的に重なり合った複数スペクトラムを作るために、複数の回折性で分散的要素パターン19を有し、好ましくは部分的に相互に集積化され、そのそれぞれの中心が、図13から明らかな様に、相互に対し2次元的にオフセットされた、全体的回折光学要素18が得られる。図13から、図で示される該複数スペクトラム20−23は別々であり、相互に対しオフセットされるが、必ずしも重なり合ってはいない。
【0061】
図14は種々の回折光学要素を、図14で参照数字24で示す回折光学要素の様な、合成要素に集積化する方への更に進んだ過程を示す。図解された例ではこの要素は、光に曝された時、4つの複数スペクトラム25−28を発生することが分かる。かくして該光学要素24は、そのそれぞれの中心が、図12そして又図14から明らかに見られる様に、相互に対し2次元的にオフセットされるので、前記複数スペクトラム25−28が作られ、そこではこれらの少なくとも2つは別々であるが、相互に対しオフセットされる、好ましくは相互に部分的に集積化されるのがよい、複数の回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有する。1つ以上の検出器29,29’、29”は付随する検出場30を備え得る。該光学要素24が少なくとも第1軸線yの周りに回転させられると、前記少なくとも1つの検出器29,29’は、該要素24がチルトされる時、前記別々の複数スペクトラム25−28のそれぞれの1つ内にそれぞれの参照数字25’、26’、27’、28’により示される第1セットの種々のスペクトラム範囲を検出させられる。又該要素24は該第1軸線yに直交する第2軸線xの周りに回転可能であるので前記少なくとも1つの検出器29,29’は前記チルト時前記複数スペクトラム25−28のそれぞれの1つ内で少なくとも第2セットの種々のスペクトラム範囲を検出させられ、検出場30は該z軸線方向で変化せずに留まり、一方x軸線周りの該光学要素24のチルテイングは前記複数スペクトラム25−28を該検出場22を横断して、すなわち該z軸線の方向に、僅かにシフトさせる。要素24を第1軸線yの周りに動かす代替えは、勿論、該光学要素24を静止して保ち、代わりに該検出器又は複数検出器29,29’をx方向に、すなわち、前記別々の複数スペクトラムのスペクトラムバンド25−28を横断するよう動かすことである。加えて、又前記スペクトラムバンド25−28に沿う方向に該検出器29,29’そしてオプションとしてより多い又はより少ない検出器を有する検出場を動かすことも可能である。
【0062】
更に進んだ代替えは、前記複数スペクトラム25−28に対し該検出器の位置又は該検出場の位置をそれにより変えるために、光源31の位置を前記スペクトラムバンドの方向に調節可能にすることである。しかしながら、該検出器29,29’と該光源31は共に電気接続線に接続されており、それはそれらの位置を機械的にシフトすることを不便にするが一方該要素24は何等能動的部分を有さず、動かすのがより容易であることを注意しておく。
【0063】
光源31は、固定した、好ましくは小さなアパーチャ(aperture)32を通して光を放射するのが好ましく(図38参照)、回転デイスク33は少なくとも1つのスリット34又は複数の微少な孔を備えることが出来るので、光は該スリット又は前記孔を通過出来て、一方該スリット又は孔は、該デイスク上でのそれらの円弧状の配置のために、該デイスク回転時該アパーチャ32の長さを横切って進む。
【0064】
代替えとして、図39aで参照数字35により示された、光源は、例えば光フアイバーの端部部分36’が取り付けられたピエゾ電気要素(piezoelectric element)37を励起(exciting)することにより機械的に移動可能な光フアイバー36を介して光を放射出来る。図29で示す様に、オプションとして、該複数スペクトラムのスペクトラムバンドの方向に、図29で示す検出器38又は39の様な、少なくとも2つの検出器が提供され得る。前記少なくとも2つの検出器からの出力はオプションとして時分割多重化(time−multiplexing)により集められてもよい。
【0065】
光フアイバー(optical fibre)又は光ガイド(light guide)の使用を含むこの原理は図39bで示す様に、該検出器側に使用されることも可能で、そこでは検出器122は該光ガイドの端部123’の焦点面内に横たわる少なくとも2つの複数スペクトラム125を光ガイド123を介して走査し、そしてそこでは手段124、例えば、ピエゾ電気要素は、励起された時、該光ガイドの端部部分123’を前記複数スペクトラムを横切ってか又はオプションで前記複数スペクトラムに沿ってか、何れかで移動させる、も考えられる。
【0066】
前に示した様に、該回折光学要素が、別々の複数スペクトラムの望ましい部分を通しての走査を有効化するようにチルト運動に曝されることが有利である。図17はこれをより詳細に概説するが、そこでは該参照数字40は回折光学要素を呼称し、そしてそこでは、前に説明した様にオプション的にスリットを介してその光を放射する、光源が参照数字41により示される。該検出器は参照数字42で示される。該回折光学要素40はそのチルトの中心を、好ましくはチルトの中心43により示した様に、その端部部分に有するのがよい。この解決策では、望ましい、被測定波長は曲線44上焦点合わせされるのでそれらは走査が角度θに亘り起こった時中心で該検出器を打つ。しかしながら、該面内のスペクトラムは、格子分光計で見られる様に、必ずしも連続的でなく、予め規定された波長から成り、これらの波長は昇順又は降順の順序にある必要はない(need not to be in rising or falling order)。これは又、例えば、図14で明らかに示される仕方である。走査角度θの関数としての該被測定スペクトラムのインテンシテイは図17の右の頂部で明らかに見られ得る。
【0067】
前に示した様に、該回折光学要素が光の反射か又は光の透過か何れかに基づくことは考えられる。格子は光の入射光線の振幅か又は位相かどちらかを変調する。位相格子(phase grating)は最高の回折効率(diffraction efficiency)を与える。更に、この種の回折要素はプレシング又は複製の別の形式により、すなわち低い個別コストで、大量にコンパクトデイスク基盤内に容易に複製され得る。
【0068】
図15の場合を最初に説明する。Pr(x)が格子要素プロフアイルを表し、nがその屈折率そして定数k=2π/λと与えられたとすると、この種の格子により作られる位相プロフアイルはΦgrating(x)=−2k・Pr(x)である。
【0069】
入射場(incident field)(それぞれの該格子)のチルテイング(tilting)は下記結果を有する。
【0070】
Φtiltfield(x)=−k・x・sin(α)
Φtiltgrating(x)=2k・x・sin(β)
最終的に下記となる。
【0071】
ΦReflective(x)=ΦGrating+ΦtiltField+ΦtiltGrating
同様に、図16に示すそれについて、下記が得られる。
【0072】
Φgrating(x)=k・(n−1)・Pr(x)
該入射場(それぞれの該格子)のチルテイングは下記結果を有する。
【0073】
ΦtiltField(x)=k・x・sin(α)
ΦtiltField(x)=−k・x・sin(β)
最終的に下記を得る。
【0074】
ΦTransmission(x)=ΦGrating+ΦtiltField+ΦtiltGrating
伝播は負のz値に向かっているので、反射の場合の符号が透過の場合の反対であることを注意しておく。
【0075】
nが1.5として構造が分数形式でセットアップされるなら、下記が得られる。
【0076】
【数16】
Figure 2004514898
【0077】
これから同じ格子プロフアイルPr(x)が透過格子(transmission grating)の場合より反射格子(reflective grating)に於いて4倍大きい位相関数(phase function)Φ(x)を発生することが結論付けられる。該透過格子のチルト角θはθより小さい角度だけ該スペクトラムをシフトするが、反射格子の格子の場合は角度θの角度チルトは2θの角度に亘り該スペクトラムをシフトするだろう。かくして波長での走査(scanning in wavelength )は反射格子用に要する2倍より大きい透過格子のチルトを要する。かくして、本発明の場合に、透過に基づく回折光学要素用の格子解決策(grating solution)も勿論可能であるが、反射格子の原理を適用することが有利であろう。
【0078】
図15と16、入射光場は文字IFで示され、光学要素又は格子は基準デーオーイー(refrence DOE)で示される。
【0079】
回折光学要素のチルテイングは、例えば、図37に示す構造体を使用することによりもたらされ得る。コイル45は電圧Uをパルス動作(pulsing)させる又は周期的に変化させることにより励磁(excited)され、チルト可能な板47に固定されたアンカー46を操作するが、該板に、ここで参照数字48で示される、該回折光学要素が取り付けられている。この仕方で、該回折光学要素48はチルトの中心49,49’の周りにチルトする。
【0080】
勿論図37に示すそれへの代替えの解決策は、例えば、チルテイング運動を引き起こし得るピエゾ電気要素を使用することにより、又は該回折光学要素48を振動に供されるコンデンサープレート(condenser plate)に取り付けることにより、考えられる。
【0081】
前に示した様に、回折性を得るためにフレーネル帯状板の光軸からオフセットされたフレーネル帯状板の部分を使用することは有用である。
【0082】
図18はフレーネル帯状板について波長焦点依存性(wavelength focus dependency)を示す。光線はその光軸からオフセットされた該フレーネル帯状板の部分にのみ描かれている。ここでは、波長1.7μmを有する焦点面(図18の面1)がスタート点として取られる。この面では1.7μmの波長は該光軸上に焦点を結ぶが、1.6μm及び1.8μmの波長は僅かに焦点が外れ(defocused)そして軸線を離れている。ここで、該フレーネル帯状板の軸線を離れた部分(off−axis part)は焦点合わせ効果と分散的要素として作用する(act as a dispersive element with a focusing effect)と結論付けられる。
【0083】
図19は該フレーネル帯状板の3mm軸線離れ部分を使用する時に、種々の波長について該面1内のインテンシテイ分布を示す。図19では波長範囲1.64μm−1.76μmで検出器での積分エネルギー(integrated energy)は一定である。もし、例えば、1.7μm用に最適化された3mm×10mm要素が使用されるなら、該インテンシテイは他の波長では必然的に減じられるだろう。図19で破線で示された正方形は寸法で約300×300μmである検出器を象徴化している。ここで示された検出器寸法は該解像度を25ナノメートルに限定している。必然的に、より小さい検出器が1.7μmの示された波長のより高い解像度を与える。かくして与えられた値は本発明のこれらの側面を図解する例として単に理解されるべきである。
【0084】
この種の回折要素が図20と21でより詳細に示され、そこでは典型的な寸法が与えられているが、しかしそれは本発明を限定するためではない。回折光学要素52と連携して2つの反射面50,51がある。選ばれた例でそれぞれの基準マーキング(reference marking)1.6μm及び1.8μm用の該2つの反射面50,51は結果的にミラーの様に機能する。それらの傾斜はこれらの面上で反射される光が該1.6μm及び1.8μm光線用の場所上に焦点を結ぶように計算される。図22を参照すると、格子56又は光学要素を形成するように該回折光学要素又は格子が凹面基盤53上のエングレービング(engraving)を備え、そしてそこでは該基盤は該検出器(示されてない)へのスリット57をコンジュゲート(conjugates)させることが考えられる。該選ばれた例で該スリットと該格子の間の距離はd=50mmであるように示され、該凹面基盤の半径はかくして50mmであるべきである。この構成では、中間レンズは不要とされ、図20と21で示される様に、該反射面50,51はかくしてチルトされた凹面ミラーとなる。図24は図20及び21と連携して説明される設計を示し、そこでは該基準1.6μm及び1.8μm用の反射面により画像形成されるスペクトラムが前記スペクトラムの或る部分で基準を与えられるので、検出器は、前記スペクトラム内の何処に、例えば、信号ピークがあるかを極めて明白に決定出来ることが分かる。ここでは、図22で示す解決策で避けられたレンズ58が使用されたことが分かる。1.6μmから1.8μmまでの範囲内の反射回折光学要素用にそして与えられた格子又は要素用に、一般に得られるスペクトラムは図22で示された様に作られる。回折光学要素と連携して反射面50,51を使うことは可能であるが、該選ばれた例の中で1.6μm及び1.8μm用に前記基準を提供するために球形ミラー又はフレーネル帯状板中央領域を使うことも可能である。望まれるスペクトラムを作るための回折光学要素は理想的フレーネル帯状板の光軸に対し軸線から外されるであろう。これは図25から一層明らかである。図25の基準要素は参照数字59で示され、軸線から外れた該回折光学要素は参照番号60で示される。もし球形ミラーが該基準要素59用に使用されるならば、この様なミラーが色収差補正済み(achromatic)である利点を有する。この関連で図26は、範囲1.2−2.0μm内のλ用でそして約30ナノメートルの解像度を有する基準として作用する中央フレーネル帯状板用回折パターンを示す。
【0085】
全基準インテンシテイ(total reference intensity)は全てのこれらの寄与の合計であり、そのピークインテンシテイはλ=1.7μmの中央光線(central ray)のインテンシテイに対応する(図19参照)。図19のプロットは今度は図27で見られるものと同じとなり、すなわちそれぞれ波長1.6μm及び1.8μm用の明らかなマーキングを有する。種々の要素のモザイクを作ることにより、該インテンシテイ分布をより均一にすることは可能である。しかしながら、この様な解決策の欠点は各波長のより非対称な分布であり、それは、例えば、λ=1.8μmは1.77μm及び1.83μmからの小さな寄与しか有しないことを意味する。例えば、1mm×10mmの回折光学要素についてのx軸線方向での分散効果と、y軸線方向でフレーネル帯状板の10mm部分を使う幾何学的効果と、を明らかにすることにより該インテンシテイを減じることは可能であるので、インテンシテイの該減少は計算され得る。もしこの様な要素が、例えば、1.7μm用に最適化されれば、1.6μm及び1.8μmでの該インテンシテイは50%まで減じられるであろう。これは種々の波長がy軸線方向で種々の焦点距離を有するので、y方向で幾何学的に該検出器に当たるエネルギー円錐の量を計算することにより検証され得る。変動を減らすために、各々が1mmで、かつ、異なる設計波長を有する、3つの異なる要素がモザイク内に一緒に置かれる。その時1.6μm及び1.8μmでの減少は唯の15%であり、特に関心のある波長領域に亘り可成り平坦な応答を呈した。上記説明の解決策の様に、該光学的要素は少なくとも第1面内でチルト可能となし得るので、該要素がチルトされる時含まれる少なくとも1つの検出器は前記複数スペクトラム又は合成スペクトラム内の連続する種々のスペクトラム領域を検出させられる。合成スペクトラムは幾つかの回折光学要素60、61を使うことにより得ることが出来る。これは、問題の波長範囲に亘り最大均一度のスペクトラムを得るためにに利点となる。代替えとして、例えば、図24に示す検出器62の様な、前記少なくとも1つの検出器は、前記複数スペクトラム又は合成スペクトラムのスペクトラムバンドに沿って移動可能にすることが出来る。しかしながら、前に示唆した様に、該検出器を動かす代わりにチルト可能な光学的要素を使用することがより好ましい。
【0086】
図28と29で、IVは不可視スペクトラムを示す、一方Vは可視スペクトラムを示す。本発明の2つの主要な代替え的実施例用では、前記複数スペクトラムは可視及び/又は不可視のスペクトラム範囲にあり得る。かくして前記複数スペクトラムは、不可視の離れ隔てられた複数スペクトラム;可視の離れ隔てられた複数スペクトラム;不可視の隣接するか又は部分的に重なり合う複数スペクトラム;可視の隣接するか又は部分的に重なり合う複数スペクトラム;可視及び不可視の離れ隔てられた複数スペクトラムそして不可視と可視との隣接するか又は部分的に重なり合う複数スペクトラム、から成るグループから選択されてもよい。
【0087】
例えば、カラー検出に関連して、可視スペクトラムV内の合成カラーを検出出来るようにするために、図28fに示す様に、少なくとも2つの重なり合う可視複数スペクトラムを使用することは有利である。これは、例えば、2つの相互調整可能な回折光学要素を使用することにより提供出来る。
【0088】
例えば、カラー検出用の、例えば、可視スペクトラムと関連しては、幾つかの検出器38を使用することは有利であるが、不可視スペクトラムでは、図29に示す様に、より少ない数の検出器39を使用出来る。
【0089】
本発明に関連した実際的解決策がここで図30−34を参照して詳細に説明される。
【0090】
図30は装置ハウジング66内のスリット65に向かって光を焦点合わせするための反射要素64の方へ光を放射出来る光源63を示すが、そこでは選ばれた、限定しない例の該光はレンズ67に当たり、分散光学要素68の方へ移動し、そこから光は検出器69の方へ導かれる。該レンズ67及び要素68はオプションとして分散性で、焦点合わせする、回折要素(デーオーイー)により置き換えてもよい。該スリット65は、例えば、なお限定しないが、0.3×3mmの桁の様に、寸法が小さいのが好ましい。又該スリットが長方形、多角形、円又は卵形(oval)のアパーチャにより置き換えられることが可能である。この解決策の特定的使用は図12−15に示す実施例と連携して関連していてもよい。例えば、該検出器69は寸法で0.3mmとすることが出来る。これは決して本発明の限界を規定すると理解されるべきでないが、実際のハウジング66は、例えば、60×10mmであってもよい。軽い散乱を限定出来るよう、図31に示す様に、バッフル(baffle)70が該ハウジング66内に置かれる。
【0091】
チルト軸線71の周りに該回折光学要素をチルト出来るように、図31に示す様に、該要素68の第2端部にピエゾ電気要素72が提供されるので、該要素72が励起されると、該要素68は点71の周りにチルトされる。透明又は半透明の媒体、例えば、流体又は品物73、が該光源63,64と該検出器69の間の光路内に導入される。ここで、表示されそして該検出器69により検出される該スペクトラム又は複数スペクトラムは前記媒体73の光吸収特性の関数である。
【0092】
変形品(variant)が図33に描かれ、そこでは該光学要素は参照数字74で、該光源は参照数字75で、該装置ハウジングは参照数字76で、そして該検出器は参照数字77で示される。光源75の代替えとして、外部光源75’が破線で示される様に提供されてもよく、そしてそれは該ハウジング76内のアパーチャ75”を介して光源75と同じことを達成する。光は光源75から該回折光学要素74を経由し装置ハウジング76内のスリット78を経由し反射要素79に向かって放射されるので、スペクトラムを形成する光の光線は検出器77に当たる。この場合、該光学要素74と該検出器77の間の光路内に透明又は半透明媒体80を導入することが出来るので、表示され該検出器77により検出される該スペクトラム又は複数スペクトラムは前記媒体80の光吸収特性の関数である。前記媒体が透明又は半透明である代わりに、図32に示す様に本質的に光反射性である場合は、光反射性媒体83、例えば、流体又は品物は、その光が反射器(reflector)82により反射される光源81と、該光学要素68との間の光路内に導入出来る。前記媒体83はかくして該光をレンズ84とスリット65を経由して該光学要素68に向かって反射する。かくして表示され該検出器69により検出される該スペクトラム又は複数スペクトラムは、前記媒体83の光吸収及び/又は光反射特性、及び/又は前記媒体のルミネッセンス又は再放射特性(luminescence or re−emission properties)、の関数であろう。
【0093】
図30及び33に示す実施例に関連して、光吸収特性のみならず、光反射特性も又検出可能であることが理解されるであろう。
【0094】
図30−33で示される解決策では、表示される該スペクトラム又は複数スペクトラムは前記媒体のルミネッセンス又は再放射特性の関数であってもよいことが考えられる。この関連で、前記媒体がセルラー液体(cellular liquid)であってもよいことが特定的に予想される。
【0095】
しかしながら、前記媒体が下記要素の少なくとも1つから成ってもよいことも起こり得る:
ガス、生物学的材料、合成ウエースト(composite waste)、流体、医学的なサンプル及び調合品(medical samples and preparations)、食糧、紙製品、木製品、金属及び/又はその合金、プラスチック材料、ガラス又はプラスチック又はガラスの品物、例えば、飲料パッケージング(beverage packaging )。
【0096】
図33に示す場合には、前記媒体が、例えば、ガスであってもよいので、該ハウジング76が、例えば、このガスで充たされることも又予想し得る。この場合、関心のあるのは特に該ガスの吸収特性であろう。
【0097】
図34に示す該要素85の様な、該回折光学要素を動かす代わりに、光源86と検出器87の間の光路内に、チルト可能なミラー88が提供されることも可能である。第1端部部分で、該ミラー88は旋回軸点89に旋回可能に設置され、第2端部でそれは、例えば、ピエゾ電気要素90に結合されるが、該ピエゾ電気要素は、励起時に、該ミラー88を該点89の周りにチルトさせるであろう。勿論、幾つかの小さな変型で、該光源86と該検出器87は得られる測定データに大幅に影響することなく場所をスイッチすることも可能である。かくして、該チルト可能なミラーが、該光源86と該回折光学要素85の間及び/又は該回折光学要素85と該検出器87の間の光路内に置かれ得ることも考えられる。
【0098】
図35及び36は光学要素91の、チルテイング及びオプションとしての回転のための原理を図解する。矢印92の方向の該要素91のチルテイングは方向92’に移動する該複数スペクトラム95−98に帰着し、矢印93の方向の該要素の回転は方向93’に移動する該複数スペクトラム95−98に帰着する。かくして、それぞれのスペクトラム95−98の予め決められた領域を検出器94上を連続して通過させることが方向92にチルトすることにより可能であるが、方向92でのチルテイングがチルト軸線99の周りに起こった時矢印93の方向の回転は各スペクトラム95−98のそれぞれの他の領域を該検出器上を通過させることが理解されるであろう。
【0099】
図40はフレーネル帯状板フラグメントの形式の複数の回折光学要素101,102,103そして104に向かって光を透過させる光源100を示す。スペクトラムは各要素から作られるが、簡単さと明瞭さのためにそれぞれ要素104と101からの唯2つの複数スペクトラム105と106のみが示される。該スペクトラム106は該スペクトラム105の側にありそしてよりかすかに(faintly)示されることが分かるが、それは該スペクトラムが光検出器を表す暗い場(dark field)109に対し焦点外れであることを示す。要素101,102及び103が要素104よりよりかすかに示されることが分かるが、それはこれら3つの要素が、光源100からの光が焦点外れのスペクトラムか又は事実上不可視のスペクトラムかどちらかを発生する仕方で、機械的に操作されるか又は光学的に消されているからである。これは、実際は、各スペクトラムは、全ての該要素を、例えば該y軸線の周りにチルトすることによるのでなく、代わりに該要素101−104を、それらの各々が焦点の合ったスペクトラムを連続的に作るが、一方相手方は焦点外れしており、それにより焦点の合ったこの様なスペクトラムが該検出器109に明らかに可視性となる、一方他のスペクトラムはそれらがある儘に留まるのでそれらは該検出器109により行われる検出に大きなインパクトを有しないような位置に、持って来ることによって連続的に調査されることを意味する。
【0100】
図41はフレーネル帯状板フラグメントの形式の複数の回折光学要素101,102,103及び104に向かって光を透過させる光源100を示す。スペクトラムは各要素から作られるが、簡単さと明瞭さのために、それぞれ要素101と104からの唯2つの複数スペクトラム107と108が示される。該スペクトラム108が該スペクトラム107の背後にありそして又よりかすかに示されていることも分かるが、それは該スペクトラムが光検出器を表す暗い場109に対し焦点外れしていることを示す。又該要素102,103及び104が該要素101よりかすかに示されるのはそれはこれらの3つの要素は光源100からの光が焦点外れであるスペクトラムか又は事実上不可視のスペクトラムを発生する様な仕方で機械的に操作されるか又は光学的に消されるからである。これは、実際は、各スペクトラムは、全ての該要素を、例えば、該y軸線の周りにチルトすることによらず、代わりに該要素101−104を、これらの各々が焦点の合ったスペクトラムを連続的に作る一方相手方は焦点外れしており、それにより焦点の合ったこの様なスペクトラムは該検出器109にとって明らかに可視性となる、一方他のスペクトラムはそれらがある儘に留まるのでそれらは該検出器109により行われる該検出に大きなインパクトを有しない様な位置に、持ち込むことにより連続的に調査されることを意味する。
【0101】
図42はそれぞれの圧力室112,113に対し各々がシールされている回折光学要素110,111(それぞれデーオーイー1及びデーオーイー2)を示すが、該室では、例えば、それぞれの負圧−ΔP1及び−ΔP2が時間間隔で供給され得るので、例えば、該要素110により発生されたスペクトラムは負圧が該室112に印加された時は焦点外れに持ち込まれる一方、圧力室113は公称圧力を有するので、該要素111により作られたスペクトラムは調査されるべきスペクトラムの部分についての該検出器109用にその時焦点が合うであろう。
【0102】
同様な推論が、回折光学要素(それぞれデーオーイー1及びデーオーイー2)が参照数字114及び115により示される図43の実施例に適用される。この場合、圧力室の代わりに、電気的に駆動可能な手段116及び117が使用されるが、それらは異なる時刻にドライブ電圧V1及びV2を供給すると、例えば、それぞれの要素の下方への曲げを引き起こす。該手段116及び117は、例えば、ピエゾ電気要素又は静電要素(electrostatic elements)から成り、そこでは供給されるドライブ電圧により該光学要素の上又は下への曲げが起こる。静電的原理が適用される時、この様な手段の1部分は該光学的要素へ締結され、一方第2の部分はベース126に締結される。
【0103】
ピエゾ電気要素が使用されると、それは該光学要素114,115と該ベース126の間に置かれる。もし、例えば、該光学要素が唯1つのエッジで支持され、もう1つでは前記手段により保持されるなら、該光学要素は実際は該x又はy軸線に対しチルトされ得て、それは横にか又は該スペクトラムの縦方向にか何れかで作られる該スペクトラムをシフトすることが可能であることを意味する。これは、縦方向に部分的に重なり合うスペクトラムでの異なるカラー組合せをテストするためか又は検出場の外にスペクトラムを持って来るためにか何れかで有効である。
【0104】
図44は参照数字118及び119により名付けられた回折光学要素(それぞれデーオーイー1及びデーオーイー2)を示す。この場合、該要素は、参照数字120及び121と名付けられた、光バルブ(light valves)LV1及びLV2によりカバーされる。該光バルブは異なる時刻に賦活される{アドレスされる(addressed)}ので、光源が照明されると、或る時刻には該要素の唯1つがスペクトラムを発生出来る。
【0105】
アイアール(IR)スペクトラムとカラーの両者を同時に考えることが好都合な場合、幾つかの検出器を使用することが応急的(expedient)である。この例は図12及び14で与えられるがそこでは検出場それぞれ17、30の外にある、少なくとも1つの更に進んだ検出器それぞれ16”、29”が追加される。アイアール関係のスペクトラムと典型的カラースペクトラムの異なる焦点合わせ差のために該検出器が異なるy位置にあることを予想することも可能である。
【0106】
もし全ての要素101−104が同様に焦点合わせされた複数スペクトラムを同時に与えられたなら、種々の、発生可能な複数スペクトラムが殆どスーパーインポーズ(superimposed)されたであろう図41に示す解決策は、実際には、例えば、品物の様な媒体の多くの起こり得るカラー組合せが2つ以上の複数スペクトラムを組み合わせることにより検査され得て、すなわち少なくとも2つの要素が、お互いの上にスーパーインポーズされるが、相互に対してオフセットされているそれらのそれぞれの複数スペクトラムを作ることを可能にする。
【0107】
図45はデーオーイー129を移動するための手段127を例により示すが、そこでは該デバイス127はビーム構造体(beam structure)又は同様なもの、例えばシリコンビーム(silicon beam)を有し、該シリコンビームは、熱発生の結果として該ビームを曲がらせる電力回路128へのターミナル128’を経由した電力供給に応答して曲がるよう適合されている。該電力回路128はオプションとしてピエゾ電気の又は電磁的な要素により置き換えられてもよい。
【0108】
図46は静電容量性要素(capacitive element)131,131’を使用することによりデーオーイー132を移動させるための手段130を例により示すが、該要素はターミナル131”,131’”を経由して電力供給を受けるので、容量性の吸引又は反撥があり、かくしてビーム130’、例えば、シリコンビームの運動がある。
【0109】
該要素の機械的操作により或る回折光学要素(フラグメント又は部分)を賦活する、又は賦活を止めるための幾つかの代替え的解決策が説明及び図面で示される。図47は、特に、本発明の概念の目的が、上部の、第1及び下部の、第2反射面間の間隔を変えることにより2進ホログラム(binary hologram)の種々の部分をオン及びオフにスイッチすることが出来ることである、代替えの解決策を示す。該原理は、例えば、反射ビームの上面と下部反射面との間の間隔が回折光学要素の回折効果を賦活停止させたり、賦活したりするために変えられる、米国特許第5、311、360号が参照される、光学的変調器(optical modulators)により本質的に公知である。
【0110】
2進の回折光学要素の上部、反射部分133はガラスプレート135上のメタライズされたパターン134の形で作られ得ること、そしてそこでは該2進の形成された回折光学要素の下部部分は単に反射面とすることが考えられる。用語”2進の(binary)”はレリーフ高さ(relief height)が唯2つのレベルしか取らなくてもよい要素を意味すると理解されるべきである。該下部の反射面は、例えば、薄いメタライズされた膜136であってもよく、該膜はλ/4のスペーサーを有して設置されてもよい。例えば、電界を印加することにより、該膜を該メタライズされたパターン134の方へ引き、それにより該間隔をnλ/2+λ/4→オンからnλ/2→オフまで変えることが可能であり、ここでn=0,1,2,3...である。
【0111】
この仕方で、該回折光学要素(オプションとしてそのフラグメント又は部分を伴って)は変形可能であるので、例えば、0λ/16で該要素は実際には反射面のみを有する。回折効率はかくして、例えば、該膜136と該プレート135の間の電場の導入により影響され、例えば、該場の階段状調整、そして従って該回折効率の対応した変化を提供することが出来る。該要素の回折効率はnλ/2+λ/4で最大、そしてnλ/2で最小となるが、ここでn=0,1,2,3...である。m=0,1,2,3,4...とした場合のmλ/2から(m+1)λ/2までの、λ/2に等しい期間内での該要素の回折効率は近似ガウス曲線に従い、そこでは最大は中点(half way)にある。有利なことに、公称の間隔は0λと4λ/16の間でステップで変化可能であり、各ステップは、例えば、λ/16である。
【0112】
回折効率が約0.5λの周期性を伴ってサイクリックであろうことは図48から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】
回折光学要素の原理を示す。
【図2】
回折光学要素と関連する反射率を図解する。
【図3】
第1実施例と関連するソース及び検出器配置を示す。
【図4】
第2実施例に依る光学要素に対するソース及び検出器配置を示す。
【図5a】
回折光学要素のプロフアイルを得るためにそれがカットオフされる前の反射率関数の位相を示す。
【図5b】
該プロフアイルに沿った距離を示す。
【図6a及び6b】
図6aは該回折光学要素のプロフアイルを示し、図6bは該プロフアイルに沿った距離を示す。
【図7】
フレーネル帯状板(Fresnel zone plate)の外側部を示す。
【図8】
2つの波長の場合用の回折光学要素プロフアイルを示す。
【図9】
回折光学要素のプロフアイルに付随し、図3に示す実施例に関係する一般的2波長の場合を示す。
【図10】
フレーネル帯状板を透過する光に基づくスペクトラムの発生を図解する。
【図11】
図10に図解された実施例の変型を示す。
【図12】
図11で描かれた実施例の変形を示す。
【図13】
図12に図解された実施例の更に進んだ展開を示す。
【図14】
図12及び13で描かれた実施例のなおもう1つの変形を示す。
【図15】
反射の使用と連携する回折光学要素の使用を示す。
【図16】
該要素を通しての光透過の使用と連携する回折光学要素の使用を示す。
【図17】
該要素又は協同する検出器が移動可能な回折光学要素の使用を示す。
【図18】
レンズの光軸からオフセットされたレンズ部分と連携するフレーネル帯状板の波長焦点依存性を示す。
【図19】
種々の波長についてフレーネル帯状板に対するインテンシテイ(intesity)分布を示す。
【図20】
反射面用仕様を拡大スケールで示す。
【図21】
回折光学要素として使用するための格子外形を示す。
【図22】
凹型格子の形式の光学要素を示す。
【図23】
いわゆるブレーズドグレーテイング(blazed grating)を使用することにより得られるスペクトラムを示す。
【図24】
モールドされた反射要素を有する回折光学要素を示す(図21参照)。
【図25】
フレーネル帯状板の理想的光軸からオフセットされ、該光軸の周りに1つ又は2つの基準要素が提供される、回折光学要素を示す。
【図26】
λの種々の波長ついての該基準要素からの回折パターンを示す。
【図27】
基準を有するスペクトラムを示す(図19参照)。
【図28a】
並んだ不可視複数スペクトラム(IV)を示す。
【図28b】
相互に隣接した可視及び不可視スペクトラムを示す。
【図28c】
離れ隔てられた可視及び不可視スペクトラムを示す。
【図28d】
離れ隔てられた可視複数スペクトラムを示す。
【図28e】
相互に部分的に重なり合った不可視複数スペクトラムを示す。
【図28f】
相互に部分的に重なり合った可視複数スペクトラムを示す。
【図29】
相互に対しオフセットされ検出器と連携する可視及び不可視スペクトラムを示す。
【図30】
透明又は半透明媒体、例えば、品物と連携する本発明のデバイスを示す。
【図31】
図30で示すデバイスの1部の小さな変型を示す。
【図32】
光吸収、光反射、ルミネッセンス(luminescence)又は再放射(re−emission)特性を有する媒体の検出用に意図された実施例での該デバイスを示す。
【図33】
透明又は半透明媒体の検出用に意図された本発明のデバイスの変型を示すが、そこでは検出は前記媒体の該光吸収、光反射、ルミネッセンス又は再放射特性に基づいている。
【図34】
該回折光学要素、光源及び光検出器が全て静止しているデバイスの実施例を示す。
【図35】
該回折光学要素が1つ又は2つの軸線の周りに移動可能であるか又は該光源が移動可能である該デバイスの実施例を示す。
【図36】
光検出器に対しスペクトラムのセットの起こり得る双方向の運動を図解する。
【図37】
回折光学要素をチルトするための手段を例により示す。
【図38】
光源を移動する手段を示す。
【図39a及び39b】
図39aは光源を移動するための代替え手段を示し、図39bは複数のスペクトラに対して検出器を移動する手段を示す。
【図40】
フレーネル帯状板フラグメントに向かって透過させられる光に基づいたスペクトラムの発生を示し、図12の変形である。
【図41】
図40の変形を示す。
【図42及び43】
フレーネル帯状板フラグメントが如何に機械的に操作され得るか又は光学的に消され得るかを略図式に示す。
【図44】
該フレーネル帯状板フラグメントが如何に光学的に消され得るかを略図式に示す。
【図45】
第2例として回折光学要素をチルトするための手段を示す。
【図46】
図45の手段の変形を示す。
【図47】
回折光学要素を不能化する代替えの方法を示す。
【図48】
この代替えの方法に関する距離/インテンシテイ線図を示す。

Claims (46)

  1. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該回折光学要素は、1つのパターン面、又は幾つかの、相互作用するが重なり合わないパターン面、を形成しそしてそのそれぞれの中心が、少なくとも2つが別々であるが、相互に対しオフセットされるか又は部分的に重なり合う複数のスペクトラムを作るために、相互に対し2次元的にオフセットされている、複数の、回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有することを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  2. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該回折光学要素は、1つのパターン面、又は幾つかの、相互作用するが重なり合わないパターン面、を形成しそしてそのそれぞれの中心が、少なくとも2つが別々であるが、相互に対しオフセットされそして部分的に重なり合う複数のスペクトラムを作るために、相互に対し2次元的にオフセットされている、複数の、回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有することを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  3. 前記複数のパターンが部分的に相互内に集積化されることを特徴とする請求項1又は2のデバイス。
  4. 該光学要素が少なくとも第1軸線の周りにチルト可能であるので、該要素がチルトされた時、前記少なくとも1つの検出器が前記別々の複数スペクトラムのそれぞれの1つ内に第1セットの種々のスペクトラム領域を検出させられることを特徴とする請求項1,2又は3のデバイス。
  5. 該光学要素が該第1軸線に直交する第2軸線の周りにチルト可能であるので、該要素がチルトされた時前記少なくとも1つの検出器が、前記別々の複数スペクトラムのそれぞれの1つ内に少なくとも第2セットの種々のスペクトラム領域を検出させられることを特徴とする請求項4のデバイス。
  6. 前記少なくとも1つの検出器が前記別々の複数スペクトラムのスペクトラムバンドを横断して移動可能であることを特徴とする請求項1,2又は3のデバイス。
  7. 前記少なくとも1つの検出器の位置が前記スペクトラムバンドに沿って調整可能であることを特徴とする請求項6のデバイス。
  8. 該光源の位置が前記スペクトラムバンドに沿って調整可能であることを特徴とする請求項1,2又は3のデバイス。
  9. 該光源は固定アパーチャを通して光を放射し、そして
    回転デイスクが該アパーチャの前に配置されており、該デイスクが少なくとも1つのスリット又は複数の微少孔を装備しているので、該デイスクが回転する時、該スリット又は該孔が、該デイスク上でのそれらの円弧状配置のため、該アパーチャの長さを横切って動く間に、光が該スリット又は前記孔を通過することを特徴とする請求項8のデバイス。
  10. 該光源が機械的に移動可能な光フアイバーを経由して光を放射し、該移動は、例えば、該光フアイバーの端部部分が取付られたピエゾ電気要素を励起することによることを特徴とする請求項8のデバイス。
  11. 少なくとも2つの検出器が前記複数スペクトラムのスペクトラムバンドの方向に配置されることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  12. 前記少なくとも2つの検出器からの出力が時分割多重化により集められることを特徴とする請求項11のデバイス。
  13. 光屈折要素、例えば、チルト可能なミラーが該光源と該光学要素の間の光路内に配置されることを特徴とする請求項1,2又は3のデバイス。
  14. 光屈折要素、例えば、チルト可能なミラーが該光学要素と該検出器の間の光路内に配置されることを特徴とする請求項1,2又は3のデバイス。
  15. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、オプションとしてスリットを経由して、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該光学要素は1つの波長に関係しそして1つのスペクトラムを作る1つの回折光学要素から成り、そして、波長値の指示であるが、該上部及び下部波長値の1つ又は両者を指示する様な、該指示を前記スペクトラム内に作るために該光学要素上に又は該光学要素と連携するよう光学屈折手段が配置されることを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  16. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、オプションとしてスリットを経由して、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該光学要素はそれぞれの波長に関係しそして合成スペクトラムを与えるために少なくとも2つの別々の複数スペクトラム又は少なくとも2つの相互に部分的に重なり合う複数スペクトラムを作る少なくとも2つの回折光学要素部分から成り、そして、波長値の指示であるが、該上部及び下部波長値の1つ又は両者を指示する様な、該指示を前記スペクトラム内に作るために該光学要素上に又は該光学要素と連携するよう光学屈折手段が配置されることを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  17. 該光学要素が少なくとも第1軸線の周りにチルト可能であるので、該要素がチルトされた時、前記少なくとも1つの検出器が前記複数スペクトラム又は合成スペクトラム内に連続的に種々のスペクトラム領域を検出させられることを特徴とする請求項15又は16のデバイス。
  18. 前記少なくとも1つの検出器が前記複数スペクトラム又は合成スペクトラムのスペクトラムバンドに沿って移動可能であることを特徴とする請求項15又は16のデバイス。
  19. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該回折光学要素は、該要素のフラグメントを形成し、そしてそのそれぞれの中心が、少なくとも2つが別々であるが、相互に対しオフセットされそして/又は部分的に重なり合う複数のスペクトラムを作るために、相互に対し2次元的にオフセットされている、複数の、回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有しており、そして
    該フラグメントの少なくとも1つは、この様なフラグメントを変形するために該フラグメントを選択的に、機械的に操作可能にさせるように手段に取り付けられているので、発生されるスペクトラムは、a)検出器に対し焦点外れに持って来られるか、又はb)この様な検出器の検出範囲外にあるか、又はc)第2検出器用に焦点が合っているか、何れかであることを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  20. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該回折光学要素は、該要素のフラグメントを形成し、そしてそのそれぞれの中心が、少なくとも2つが別々であるが、相互に対しオフセットされそして/又は部分的に重なり合う複数のスペクトラムを作るために、相互に対し2次元的にオフセットされている、複数の、回折性で、分散的に焦点合わせするパターンを有しており、そして
    該フラグメントの少なくとも1つは、該フラグメントを、該フラグメントからの光反射を制御可能にブロックする光を通して選択的に操作可能にさせるための手段に付随することを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  21. 該光源の位置が前記スペクトラムバンドに沿って調整可能であることを特徴とする請求項19又は20のデバイス。
  22. 該光源は固定アパーチャを通して光を放射しており、そして
    回転デイスクが該アパーチャの前に配置されており、該デイスクが少なくとも1つのスリット又は複数の微少孔を装備しているので、該デイスクが回転する時、該スリット又は該孔が、該デイスク上でのそれらの円弧状配置のため、該アパーチャの長さを横切って動く間に、光が該スリット又は前記孔を通過することを特徴とする請求項21のデバイス。
  23. 該光源が機械的に移動可能な光フアイバーを経由して光を放射し、該移動は、例えば、該光フアイバーの端部部分が取付られたピエゾ電気要素を励起することによることを特徴とする請求項19又は20のデバイス。
  24. 少なくとも2つの検出器が前記複数スペクトラムのスペクトラムバンドの方向(z方向)に配置されることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  25. 少なくとも2つの検出器が前記複数スペクトラムのスペクトラムバンドを横断する方向(x方向)に配置されることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  26. 少なくとも2つの検出器が該y方向に配置されることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  27. 前記少なくとも2つの検出器からの出力が時分割多重化により集められることを特徴とする請求項24,25又は26のデバイス。
  28. 光屈折要素、例えば、チルト可能なミラーが該光源と該光学要素の間の光路内に配置されることを特徴とする請求項20又は21のデバイス。
  29. 光屈折要素、例えば、チルト可能なミラーが該光学要素と該検出器の間の光路内に配置されることを特徴とする請求項20又は21のデバイス。
  30. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、オプションとしてスリットを経由して、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該光学要素は、それぞれの波長に関係しそして合成スペクトラムを与えるために少なくとも2つの別々の複数スペクトラム又は少なくとも2つの相互に部分的に重なり合う複数スペクトラムを作る少なくとも2つの回折光学要素部分から成り、該要素部分の少なくとも1つは、この様な要素部分を変形するために該要素部分を選択的に、機械的に操作可能にさせるための手段に取り付けられているので、発生されるスペクトラムは、a)検出器に対し焦点外れに持って来られるか、又はb)この様な検出器の検出範囲外にあるか、又はc)第2検出器用に焦点が合っているか、何れかであることを特徴とする該回折光学要素デバイス。
  31. 分光技術で使用するための回折光学要素デバイスであるが、広いバンドの光が光源から、オプションとしてスリットを経由して、該光学要素に向かって放射されそしてそこから少なくとも1つの検出器へ透過させられる、該回折光学要素デバイスに於いて、
    該光学要素は、それぞれの波長に関係しそして合成スペクトラムを与えるために少なくとも2つの別々の複数スペクトラム又は少なくとも2つの相互に部分的に重なり合う複数スペクトラムを作る少なくとも2つの回折光学要素部分から成り、該要素部分の少なくとも1つは、該要素部分を、該要素部分からの光反射を制御可能にブロックする光を通して選択的に操作可能にさせるための手段に取り付けられることを特徴とする回折光学要素デバイス。
  32. 前記複数スペクトラムが不可視の及び/又は可視のスペクトラム領域にあることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  33. 前記複数スペクトラムが、
    不可視の離れ隔てられた複数スペクトラム、
    可視の離れ隔てられた複数スペクトラム、
    不可視の相互に隣接する又は部分的に重なり合う複数スペクトラム、
    可視の相互に隣接する又は部分的に重なり合う複数スペクトラム、
    不可視と可視の別々の複数スペクトラム、
    不可視と可視の相互に隣接する又は部分的に重なり合う複数スペクトラム、から成るグループから選択されることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  34. 該光源と該光学要素の間及び/又は該光学要素と該検出器の間の該光路がその中に透明又は半透明の媒体が導入され得るように配置され、そして
    表示されそして検出される該スペクトラム又は複数スペクトラムが光吸収、光反射、ルミネッセンスそして再放射のグループから選択された前記媒体の特性の関数であることを特徴とする前記請求項の1つ以上のデバイス。
  35. 該光源と該光学要素の間の該光路がその中に光反射媒体が導入され得るように構成され、前記媒体がかくして光を該光学要素に向かって反射し、そして
    表示されそして検出される該スペクトラム又は複数スペクトラムが光吸収、光反射、ルミネッセンスそして再放射のグループから選択された前記媒体の特性の関数であることを特徴とする請求項1−33の1つ以上のデバイス。
  36. 該透明又は半透明媒体が流体又は品物であることを特徴とする請求項34又は35のデバイス。
  37. 前記媒体がセルラーリキッドであることを特徴とする請求項34のデバイス。
  38. 前記媒体が下記要素、すなわち
    ガス、
    生物学的材料、
    合成ウエースト
    流体、
    医学的サンプル及び調合品、
    食糧、
    紙製品、
    木製品
    金属及び/又はその合金、
    プラスチック材料、
    ガラス、
    木材、
    プラスチック又はガラスの品物、例えば飲料パッケージング、
    の少なくとも1つから成ることを特徴とする請求項34又は35のデバイス。
  39. 機械的に移動可能な光フアイバーを経由して前記少なくとも2つの複数スペクトラムを見るよう配置されており、該移動が、例えば、該光フアイバーの端部部分が取り付けられたピエゾ電気要素を励起することによることを特徴とする請求項6,7,11−19及び25−35の何れか1つのデバイス。
  40. 該光学要素がビーム構造体上に配置され、そして
    該光学要素を操作するために、該ビーム構造体が電熱的、ピエゾ電気的、電磁的又は静電容量的手段を使うことにより変形可能又は曲げ可能であることを特徴とする請求項1,4,15,16,17,19,20,30,31の何れか1つのデバイス。
  41. 該回折光学要素が、操作される時その回折効率を変えるよう設計されることを特徴とする請求項19,20,30又は31のデバイス。
  42. 該回折光学要素が2進の構造体を有することを特徴とする請求項41のデバイス。
  43. 該回折光学要素が第1パターンを有するベース部分と反射する又は種々にパターン付けされた面を有する移動部分とから成り、
    該ベース部分と該移動部分は公称間隔を有し、
    該要素は操作された時該公称間隔を変えるよう配置され、それにより該要素の回折効率を変えることを特徴とする請求項19,20,30,31,41又は42のデバイス。
  44. 該公称間隔がnλ/2+λ/4であり、ここでn=1,2,3...であることを特徴とする請求項43のデバイス。
  45. 該要素の回折効率がnλ/2+λ/4で最大であり、nλ/2で最小であり、ここでn=1,2,3...であることを特徴とする請求項43のデバイス。
  46. 該回折光学要素が、電場がそれに印加された時、その回折効率を変えるよう設計されることを特徴とする請求項41,42,43、44又は45のデバイス。
JP2002546175A 2000-11-30 2001-11-30 光学的検出デバイス Expired - Lifetime JP4077316B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO20006084A NO321629B1 (no) 2000-11-30 2000-11-30 Anordning for bruk ved spektroskopi
PCT/NO2001/000476 WO2002044673A1 (en) 2000-11-30 2001-11-30 Optical detection device

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007150702A Division JP2007292777A (ja) 2000-11-30 2007-06-06 光学的検出デバイス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004514898A true JP2004514898A (ja) 2004-05-20
JP4077316B2 JP4077316B2 (ja) 2008-04-16

Family

ID=19911857

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002546175A Expired - Lifetime JP4077316B2 (ja) 2000-11-30 2001-11-30 光学的検出デバイス
JP2007150702A Pending JP2007292777A (ja) 2000-11-30 2007-06-06 光学的検出デバイス

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007150702A Pending JP2007292777A (ja) 2000-11-30 2007-06-06 光学的検出デバイス

Country Status (11)

Country Link
US (2) US7196791B2 (ja)
EP (1) EP1337818B1 (ja)
JP (2) JP4077316B2 (ja)
KR (1) KR20040055723A (ja)
CN (1) CN100430701C (ja)
AU (2) AU1857602A (ja)
BR (1) BR0115793A (ja)
CA (1) CA2430505C (ja)
DK (1) DK1337818T3 (ja)
NO (1) NO321629B1 (ja)
WO (1) WO2002044673A1 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100850708B1 (ko) * 2002-06-20 2008-08-06 삼성전자주식회사 광스캐너를 구비하는 화상 표시 장치
NO20033191L (no) * 2003-07-11 2005-01-12 Sinvent As Fargemodulator
US7561274B2 (en) * 2005-10-20 2009-07-14 Duke University Optical spectroscopy utilizing planar spectral filters
US9146155B2 (en) * 2007-03-15 2015-09-29 Oto Photonics, Inc. Optical system and manufacturing method thereof
TWI325492B (en) * 2007-03-16 2010-06-01 Cheng Hao Ko Optical system
US20090231677A1 (en) * 2008-03-13 2009-09-17 Usa As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Variable Focal Point Optical Assembly Using Zone Plate and Electro-Optic Material
US8094306B2 (en) * 2008-08-15 2012-01-10 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Micro ring grating spectrometer with adjustable aperture
US8174695B2 (en) * 2008-08-15 2012-05-08 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Arrayed micro-ring spectrometer system and method of use
US8059273B2 (en) * 2008-08-15 2011-11-15 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Micro spectrometer for parallel light and method of use
US8018815B2 (en) * 2008-08-15 2011-09-13 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Micro-Fresnel zone plate optical devices using densely accumulated ray points
US8441532B2 (en) * 2009-02-24 2013-05-14 Corning Incorporated Shape measurement of specular reflective surface
US8294989B2 (en) * 2009-07-30 2012-10-23 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Apparatus and method for creating a photonic densely-accumulated ray-point
DE102010007365B4 (de) 2010-02-10 2012-03-22 Envipco Holding N.V. Vorrichtung zum Erfassen und Detektieren von Objekten
US9046418B1 (en) * 2012-02-24 2015-06-02 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Linear Fresnel spectrometer chip with gradient line grating
GB201211917D0 (en) * 2012-07-04 2012-08-15 Cambridge Correlators Ltd Reconfigurable optical processor
JP6520032B2 (ja) * 2014-09-24 2019-05-29 富士通株式会社 照明装置及び生体認証装置
US9995626B1 (en) * 2014-12-30 2018-06-12 Dow Global Technologies Llc Micro-fluorescence capable micro-Raman spectrometer
CN104535181B (zh) * 2015-01-09 2016-06-29 哈尔滨工业大学 利用透射光栅对可见光谱裸眼观测并读取波长的装置及基于该装置观测并读取波长的方法
DE102015109340A1 (de) * 2015-06-11 2016-12-15 Sick Ag Spektrometer und Analysevorrichtung
TWI715599B (zh) 2016-07-12 2021-01-11 台灣超微光學股份有限公司 光譜儀模組及其製作方法

Family Cites Families (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3015984A (en) * 1956-09-21 1962-01-09 Parsons & Co Sir Howard G Grating spectrometers or analysers
US3263079A (en) 1962-11-26 1966-07-26 Block Engineering Method for forming an image of an invisible radiation pattern and apparatus for copying the image
US3515459A (en) 1967-01-03 1970-06-02 Remsen V Wood Inlay diffraction gratings
US3523734A (en) * 1967-12-18 1970-08-11 Fisher Scientific Co Diffraction grating spectrometer wherein the grating has first and second groups of grooves
US3791737A (en) * 1971-06-18 1974-02-12 A Johansson Spectrometer in which a desired number of spectral lines are focused at one fixed output slit
US3782828A (en) * 1972-03-09 1974-01-01 Gte Laboratories Inc Picosecond spectrometer using picosecond continuum
FR2334947A1 (fr) * 1975-12-10 1977-07-08 Instruments Sa Spectographe a champ plan pour un domaine spectral etendu utilisant un reseau holographique concave
USRE32598E (en) * 1975-12-11 1988-02-09 Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
US4060327A (en) * 1976-09-13 1977-11-29 International Business Machines Corporation Wide band grating spectrometer
JPS5369648A (en) * 1976-12-02 1978-06-21 Ritsuo Hasumi Continuous lattice patterned optical device of digital light wave length meter
FR2396961A2 (fr) * 1977-07-08 1979-02-02 Instruments Sa Spectrographe a champ plan pour un domaine spectral etendu, utilisant un reseau holographique concave
US4191473A (en) * 1978-01-09 1980-03-04 Hansch Theodor W Method of and apparatus for measuring the absolute wavelength of a source of unknown frequency radiation
JPS5737223A (en) 1980-08-15 1982-03-01 Hitachi Ltd Multiwavelength spectrophotometer
US4391523A (en) 1980-11-13 1983-07-05 Leeman Labs Inc. Scannable detector system for echelle grating spectrometers
DD159566A1 (de) * 1981-06-10 1983-03-16 Hartmut Lucht Spektralfluorometer
AU8706982A (en) 1981-09-17 1983-05-12 Miles Laboratories Inc. Spectrophotometer for analytic and diagnostic purposes
US4762412A (en) * 1984-12-26 1988-08-09 Shimadzu Corporation Optical scanning device
US4729658A (en) * 1986-06-05 1988-03-08 The Perkin-Elmer Corporation Very wide spectral coverage grating spectrometer
JPS6311822A (ja) * 1986-07-02 1988-01-19 Hitachi Ltd 回折格子
US4815849A (en) 1987-12-30 1989-03-28 Hewlett-Packard Company Spectrometer using concave holographic diffraction grating
GB2219853A (en) 1988-06-14 1989-12-20 Plessey Co Plc A spectral filter
JP2689572B2 (ja) 1989-01-31 1997-12-10 株式会社島津製作所 クロマトスキャナ
US5071207A (en) * 1990-09-25 1991-12-10 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Broadband diffractive lens or imaging element
AU2419192A (en) * 1991-07-12 1993-02-11 Biotronics Technologies, Inc. Atomic emission spectrometry
US5377003A (en) * 1992-03-06 1994-12-27 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Spectroscopic imaging device employing imaging quality spectral filters
JPH06214169A (ja) * 1992-06-08 1994-08-05 Texas Instr Inc <Ti> 制御可能な光学的周期的表面フィルタ
US5369276A (en) 1992-07-01 1994-11-29 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method and system for real-time wavelength identification for infrared detectors
EP0655128B1 (de) * 1992-08-13 1998-03-18 Hewlett-Packard Company Spektroskopische systeme zur analyse von kleinen und kleinsten substanzmengen
US5491344A (en) * 1993-12-01 1996-02-13 Tufts University Method and system for examining the composition of a fluid or solid sample using fluorescence and/or absorption spectroscopy
CA2193699C (en) 1994-07-02 2006-03-14 Werner Reinhart Structure arrangement having an optical-diffraction effect
US5526116A (en) * 1994-11-07 1996-06-11 Zygo Corporation Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles
US5671050A (en) * 1994-11-07 1997-09-23 Zygo Corporation Method and apparatus for profiling surfaces using diffracative optics
US5615673A (en) * 1995-03-27 1997-04-01 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and methods of raman spectroscopy for analysis of blood gases and analytes
GB9508343D0 (en) 1995-04-25 1995-06-14 Renishaw Plc Spectroscopic apparatus
US5565983A (en) * 1995-05-26 1996-10-15 The Perkin-Elmer Corporation Optical spectrometer for detecting spectra in separate ranges
US5701005A (en) 1995-06-19 1997-12-23 Eastman Kodak Company Color separating diffractive optical array and image sensor
US5905571A (en) * 1995-08-30 1999-05-18 Sandia Corporation Optical apparatus for forming correlation spectrometers and optical processors
GB9614071D0 (en) 1996-07-04 1996-09-04 Spectrasense Ltd Spectrometer
DE19713483B4 (de) * 1997-03-19 2006-08-17 Dr. Bruno Lange Gmbh & Co. Kg Spektrometer
JPH11132847A (ja) * 1997-10-28 1999-05-21 Yokogawa Electric Corp 光スペクトラムアナライザ
JPH11230828A (ja) 1998-02-12 1999-08-27 Shimadzu Corp エシェル分光器
GB9811195D0 (en) 1998-05-22 1998-07-22 Sira Ltd Diffractive optical element
US6100974A (en) * 1998-09-15 2000-08-08 California Institute Of Technology Imaging spectrometer/camera having convex grating
US6335831B2 (en) * 1998-12-18 2002-01-01 Eastman Kodak Company Multilevel mechanical grating device
GB9908073D0 (en) 1999-04-09 1999-06-02 Texecom Limited Infrared detector lens
US6226083B1 (en) * 1999-05-05 2001-05-01 Georgia Tech Research Corporation Integrated-optic spectrometer and method
JP2001330717A (ja) 2000-05-18 2001-11-30 Toppan Printing Co Ltd 回折格子パターンとその作製方法

Also Published As

Publication number Publication date
AU2002218576B2 (en) 2005-11-17
CA2430505C (en) 2010-07-06
US7701574B2 (en) 2010-04-20
NO20006084L (no) 2002-05-31
NO321629B1 (no) 2006-06-12
EP1337818A1 (en) 2003-08-27
US20040032585A1 (en) 2004-02-19
JP4077316B2 (ja) 2008-04-16
CA2430505A1 (en) 2002-06-06
BR0115793A (pt) 2003-08-19
US7196791B2 (en) 2007-03-27
CN100430701C (zh) 2008-11-05
KR20040055723A (ko) 2004-06-26
WO2002044673A1 (en) 2002-06-06
JP2007292777A (ja) 2007-11-08
EP1337818B1 (en) 2012-08-15
US20100079755A9 (en) 2010-04-01
US20070171416A1 (en) 2007-07-26
CN1488071A (zh) 2004-04-07
AU1857602A (en) 2002-06-11
NO20006084D0 (no) 2000-11-30
DK1337818T3 (da) 2012-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7701574B2 (en) Optically controlled detection device
US11880047B2 (en) System and method for controlling light by an array of optical resonators
AU2002218576A1 (en) Optical detection device
US20030202228A1 (en) Hologram screen and a method of producing the same
EP2901102B1 (en) Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object
US20130229654A1 (en) Illumination optical system, light irradiation apparatus for spectrometory, and spectometer
JP2009265101A (ja) 光ビームの波面を解析するための方法、位相格子および装置
JP2009300486A (ja) 光学機器及び光学装置
US20130229653A1 (en) Spectrometric optical system and spectrometer
US6597477B2 (en) Hologram screen and a method of producing the same
JP4014678B2 (ja) 光拡散スクリーンの製造方法
JP4991582B2 (ja) 偏向装置、及びイメージング装置
JP2014048096A (ja) 二次元分光計測装置及び二次元分光計測方法
US5815261A (en) Correlation spectrometer with high-resolution, broad-band optical characteristics
JPH08193884A (ja) 画像分光装置
US20060186312A1 (en) Apparatus and method for optical wavefront analysis using active light modulation
JP2005504318A (ja) 測定装置
KR20040030066A (ko) 분광법 및 이 분광법 (실시예) 을 수행하기 위한 장치
KR20040004825A (ko) 음향광학변조필터를 이용한 투명박막의 3차원 형상측정장치
CN102798472A (zh) 基于fpa非制冷红外热成像的菲涅耳透镜光学读出系统
CN104729995B (zh) 基于可编程微镜阵列菲涅尔波带片的微型光谱仪
JPH1151768A (ja) レーザ波長分離用ホログラム光学装置
FR2825798A1 (fr) Generateur de lumiere diffractee polychrome

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040824

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051206

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20060302

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20060315

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060606

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070606

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070614

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071106

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080131

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4077316

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140208

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term