JP2004363692A - 高周波受信装置 - Google Patents

Abstract

【課題】受信の検査のコストを低く抑えることができる高周波受信装置を提供する。
【解決手段】受信の検査の時に、高周波信号切り替え回路１７はゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続するように接続の切り替えを行い、ミキサ回路７・８にローカル信号を与えるために予め設けられた局部発振器ＶＣＯ１を、テスト信号源として選択する。これにより局部発振器ＶＣＯ１から出力されたテスト信号を受信回路に通し、出力端子１５・１６から出力されたＩとＱとの直交ベースバンド信号をテスト検査装置に入力する。
【選択図】 図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタルテレビジョン放送等の高周波信号を受信する高周波受信装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
デジタルテレビジョン放送において、放送局から送信される高周波信号（直交デジタル変調信号）を受信するには、高周波信号からＩとＱとの直交ベースバンド信号に復調すると言った高周波受信装置が必要である。
【０００３】
一般的な高周波受信装置としてはチューナが挙げられるが、最近ではワンチップの高周波集積回路も開発されている。
【０００４】
図９に、高周波信号からＩとＱとの直交ベースバンド信号への復調を行う高周波受信装置１０１の一般的な構成を示す。
【０００５】
なお、衛星放送等の受信装置では広い発振周波数範囲が必要である。そのため、高周波受信装置として、中心周波数の異なる局部発振器を複数個持ち合わせ、受信周波数に応じて適切な局部発振器を選択する場合がある。今回例として挙げるの高周波受信装置は、そのタイプである。
【０００６】
図９の高周波受信装置１０１は、受信入力端子１、ゲイン可変高周波アンプ２、発振回路３、ＶＣＯ選択回路４、ＰＬＬ回路５、９０°移相器６、ミキサ回路７・８、ゲイン可変ベースバンドアンプ９・１０、ローパスフィルタ１１・１２、アンプ１３・１４、および出力端子１５・１６を備えている。
【０００７】
受信入力端子１は、放送局から送信される高周波信号が入力される端子である。ゲイン可変高周波アンプ２は、受信入力端子１から入力された高周波信号を増幅する。発振回路３は、高周波信号をベースバンド信号に周波数変換するためのローカル信号を出力するＶＣＯ１・ＶＣＯ２・…といった複数個の電圧制御型局部発振器（ＶＣＯ）を備えている。ＶＣＯ選択回路４は、受信する高周波信号の周波数に応じたＶＣＯ選択信号ｓ１の入力指示に従って、発振回路３の局部発振器ＶＣＯ１・ＶＣＯ２・…から出力される各ローカル信号のうち所定のものを選択する。
【０００８】
ＰＬＬ回路５は、前記ローカル信号が設定周波数に収束するように、発振回路３をフィードバック制御する。設定周波数は周波数信号ｓ２によってＰＬＬ回路５に与えられる。９０°移相器６は、ＶＣＯ選択回路４から出力された信号の位相を９０°ずらした９０°移相信号を生成し、位相をずらさない０°の信号とともに出力する。ミキサ回路７・８はＩとＱとの直交ベースバンド信号を検波するために高周波信号の周波数変換を行う。ミキサ回路７は９０°移相器６から出力される０°の信号を用いて、高周波信号をＩのベースバンド信号に復調する。ミキサ回路８は９０°移相器６から出力される９０°移相信号を用いて、高周波信号をＱのベースバンド信号に復調する。この２つのミキサ回路により、受信した高周波信号は直交ベースバンド信号に復調される。ゲイン可変ベースバンドアンプ９は、ミキサ回路７の出力を増幅し、ゲイン可変ベースバンドアンプ１０は、ミキサ回路８の出力を増幅する。
【０００９】
ローパスフィルタ１１は、ゲイン可変ベースバンドアンプ９の出力から、希望帯域以外の周波数成分を遮断する。ローパスフィルタ１２は、ゲイン可変ベースバンドアンプ１０の出力から、希望帯域以外の周波数成分を遮断する。アンプ１３は、ローパスフィルタ１１の出力を増幅する。アンプ１４は、ローパスフィルタ１２の出力を増幅する。出力端子１５は、アンプ１３によって増幅されたＩのベースバンド信号を出力する。出力端子１６は、アンプ１４によって増幅されたＱのベースバンド信号を出力する。
【００１０】
また、高周波受信装置１０１を出荷するためには受信の検査が必要である。図１０に従来の検査構成例を示す。
【００１１】
高周波受信装置１０１の検査には、テスト信号送信装置２７およびテスト検査装置２８を用いる。テスト信号送信装置２７は、高周波受信装置１０１にテスト信号を送信して受信入力端子１に入力する。テスト検査装置２８は、出力端子１５・１６から出力されるＩとＱとの直交ベースバンド信号のレベル・周波数・位相を検知し、そのレベルが規定値以内にあるかどうかを検査する。
【００１２】
ＩとＱとの直交ベースバンド出力を有する高周波モジュールの検査としては、例えば、以下の検査がある。
【００１３】
・ＩとＱとの直交ベースバンド出力のレベル差が所定の範囲内にあるかどうかを検査するゲインバランス検査。
この場合、テスト信号送信装置２７から特定レベルのテスト信号を送信し、テスト検査装置２８でＩとＱとの直交ベースバンド信号のレベルを検知し、検知したレベルの差が規定値以内にあるかどうかを検査する。
【００１４】
・ＩとＱとの直交ベースバンド出力の位相差が所定の範囲内にあるかどうかを検査する位相差検査。
この場合、テスト信号送信装置２７から特定周波数のテスト信号を送信し、テスト検査装置２８でＩとＱとの直交ベースバンド信号の位相を検知し、検知した位相の差が規定値以内にあるかどうかを検査する。
【００１５】
・高周波受信装置１０１のローパスフィルタ１１・１２の周波数特性が所定の範囲内にあるかどうかを検査する周波数特性検査。
この場合、テスト信号送信装置２７から送信されるテスト信号のレベルを一定にし、周波数のみを変化させる。テスト検査装置２８で周波数毎にＩとＱとの直交ベースバンド信号のレベルを検知する。検知したレベルの変化が規定値以内にあるかどうかを検査する。
【００１６】
高周波受信装置１０１に対して、テスト検査装置２８はこのようにＩおよびＱのベースバンド出力を観測して合否判定を行うことで検査を行う。
【００１７】
【特許文献１】
特開２００２−２３２４９８号公報（公開日：平成１４（２００２）年８月１６日）
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、高周波受信装置１０１の受信の検査を行うためには、テスト信号送信装置２７やテスト検査装置２８などの検査装置が必要となる。しかし、一般的に測定器は高価であり、ひとつの測定器で数百万円から数千万円もかかり、検査装置を導入することで高周波受信装置１０１の単価が上がる場合がある。
【００１９】
このように、従来の高周波受信装置１０１には受信の検査に多大なコストを要するという問題があった。
【００２０】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、受信の検査のコストを低く抑えることができる高周波受信装置を提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、高周波信号を周波数変換するためのミキサ回路と、上記ミキサ回路に与えるローカル信号を発生する複数の局部発振器とを備えた高周波受信装置において、受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源として、上記局部発振器の中から選択したものを用いることを特徴としている。
【００２２】
上記の発明によれば、複数の局部発振器の中から、受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源を選択する。すなわち、局部発振器という通常の高周波信号受信動作用に予め備えられている回路を検査に用いて、高周波受信装置の内部からテスト信号を供給する。従って、検査において外部のテスト信号送信装置が不必要になり、検査のコストを低く抑えることができる。
【００２３】
この結果、受信の検査のコストを低く抑えることができる高周波受信装置を提供することができる。
【００２４】
また、テスト信号の発生に外部のテスト信号送信装置を使わずに内部の回路を用いるため、従来困難であったウェハーテストでの高周波信号の受信回路への入力検査を行うことができる。これにより、不良チップを後半の工程に回すことを回避することができる分でもコスト的に有利となる。
【００２５】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記テスト信号源となる上記局部発振器を検査用入力端子に接続するか否かを切り替える切り替え回路を備えていることを特徴としている。
【００２６】
上記の発明によれば、検査時には切り替え回路によって、テスト信号源となる局部発振器を検査用入力端子に接続することにより、テスト信号を容易に入力することができる。
【００２７】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記テスト信号源となる上記局部発振器を任意に選択することのできるテスト信号源選択回路を備えていることを特徴としている。
【００２８】
上記の発明によれば、検査時にテスト信号源選択回路によってテスト信号源となる局部発振器を任意に選択することができるので、広い受信周波数範囲に合わせて中心周波数が異なるように設けられている複数の局部発振器を使い分けて、広い周波数範囲の検査を行うことができる。
【００２９】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記検査の時と通常の高周波信号受信動作時とで、上記テスト信号源となる上記局部発振器の周波数を制御する制御電圧を切り替える制御電圧切り替え回路を備えていることを特徴としている。
【００３０】
上記の発明によれば、制御電圧切り替え回路によって、テスト信号源として選択する局部発振器の発振周波数を、検査の時にはテスト信号用の周波数に制御し、通常の高周波信号受信動作時にはローカル信号用の周波数に制御するように、局部発振器に入力する制御電圧を切り替える。従って、テスト信号の周波数とローカル信号の周波数とを独立して制御することができる。
【００３１】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記テスト信号源となる上記局部発振器に上記制御電圧を入力して上記テスト信号を所定の周波数に収束させる上記検査に専用のＰＬＬ回路を備えていることを特徴としている。
【００３２】
上記の発明によれば、検査に専用のＰＬＬ回路によって、テスト信号源となる局部発振器に制御電圧を入力してテスト信号を所定の周波数に収束させるので、テスト信号の周波数を容易に設定することができる。
【００３３】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、高周波信号を増幅する利得可変アンプと、上記利得可変アンプの利得を調整する利得調整回路とを備えていることを特徴としている。
【００３４】
上記の発明によれば、利得可変アンプによって高周波信号を増幅するときに、利得調整回路によって利得可変アンプの利得を調整することができるので、検査の時にテスト信号のレベルが全ての周波数で一定であることが望ましい高周波受信装置の周波数特性を調べることができる。
【００３５】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記検査の過程で得られた被検査信号を自己診断する自己診断回路を備えていることを特徴としている。
【００３６】
上記の発明によれば、自己診断回路によって、検査の過程で得られた被検査信号を自己診断するので、高周波受信装置内で被検査信号の合否判定が可能となって検査を終了させることができ、外部のテスト検査装置が不要となる。
【００３７】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記被検査信号はアナログ信号であり、上記自己診断回路は、ＡＤコンバータと、上記ＡＤコンバータの出力を信号処理する回路をプログラマブルとするプログラマブルロジックとを備えていることを特徴としている。
【００３８】
上記の発明によれば、アナログ信号の被検査信号をＡＤコンバータによってデジタル信号に変換し、このデジタル信号をプログラミングによりプログラマブルロジックに書き込まれた回路によって処理する。従って、被検査信号の合否判定をプログラマブルロジックで行うことができるので、判定基準など合否判定に関する設定をプログラミングにより容易に変更することができる。
【００３９】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記検査の設定を行う検査設定回路を備えていることを特徴としている。
【００４０】
上記の発明によれば、検査設定回路によって検査の設定を行うので、高周波受信装置内でテスト信号源の選択、テスト信号の設定周波数、テスト信号の基準レベル等といった設定が可能となる。
【００４１】
さらに本発明の高周波受信装置は、上記課題を解決するために、上記検査設定回路は、上記設定をプログラマブルとするプログラマブルロジックを備えていることを特徴としている。
【００４２】
上記の発明によれば、検査設定回路における検査の設定を、プログラマブルロジックのプログラミングによって容易に変更することができる。
【００４３】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施の形態について図１に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００４４】
図１に、本実施の形態に係る高周波受信装置５１の構成を示す。高周波受信装置５１は、図９の高周波受信装置１０１に、高周波信号切り替え回路１７を追加した構成である。
【００４５】
高周波信号切り替え回路（切り替え回路）１７は、ゲイン可変高周波アンプ２の入力端子を受信入力端子１に接続するか、発振回路３の電圧制御型局部発振器（以下、局部発振器と称する）ＶＣＯ１の出力端子に接続するかを切り替える回路である。また、高周波信号切り替え回路１７には、高周波受信装置５１の受信の検査を行うときに検査信号ｓ３が入力されるようになっている。なお、本実施の形態および他の実施の形態を通して、受信の検査は、信号を高周波受信装置の受信回路やその他の回路を通す行程と、受信回路を通る過程で得られた信号の特性を調べる行程（合否判定）との両方を含むものとする。検査信号ｓ３が入力されないときは通常の高周波信号受信動作を行うときであり、高周波信号切り替え回路１７は、ゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と受信入力端子１とを接続する。検査信号ｓ３が入力されるときは、受信の検査を行うときであり、高周波信号切り替え回路１７は、検査用入力端子でもあるゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続する。
【００４６】
高周波受信装置５１では、局部発振器ＶＣＯ１は、高周波信号切り替え回路１７に検査信号ｓ３が入力されないときには、通常の高周波信号受信動作を行うためのローカル信号の発振器として動作する。そして、高周波信号切り替え回路１７に検査信号ｓ３が入力されるときには、受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源として動作する。図１は、テスト信号源として局部発振器ＶＣＯ１が選択された状態を示しており、テスト信号源としては、一般には任意の複数の局部発振器ＶＣＯ１・ＶＣＯ２・…の中から選択したものを用いればよい。また、テスト信号源として１つの局部発振器に固定してもしなくてもよい。
【００４７】
検査時に高周波信号切り替え回路１７に検査信号ｓ３が入力されると、局部発振器ＶＣＯ１から出力された信号がそのままゲイン可変高周波アンプ２に入力される。このとき、テスト信号源として用いない他の局部発振器ＶＣＯ２・ＶＣＯ３・ＶＣＯ４がミキサ回路７・８に入力するローカル信号の発振器として動作する他は、図９の高周波受信装置１０１と同様に受信回路で信号処理が行われ、出力端子１５・１６からＩとＱとのベースバンド信号が出力される。これらベースバンド信号をテスト検査装置に入力することで、Ｉ・Ｑのゲインバランスおよび位相差を検査することが可能となる。
【００４８】
上記の構成の高周波受信装置５１によれば、複数の局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４の中から、受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源を選択する。すなわち、局部発振器ＶＣＯ１という通常の高周波信号受信動作用に予め備えられている回路を検査に用いて、高周波受信装置５１の内部からテスト信号を供給する。従って、検査において外部のテスト信号送信装置が不必要になり、検査のコストを低く抑えることができる。
【００４９】
このように、高周波受信装置５１は、受信の検査のコストを低く抑えることができる高周波受信装置である。
【００５０】
また、高周波受信装置が集積回路である場合、ウェハーの段階で不良品を選別するのが、コスト面で望ましいが、ウェハーテストで高周波信号を入力するのは難しく、従来は受信の検査が困難であった。これに対して高周波受信装置５１では、テスト信号の発生に外部のテスト信号送信装置を使わずに内部の回路を用いるため、ウェハーテストでの高周波信号の受信回路への入力検査を行うことができる。これにより、不良チップを後半の工程に回すことを回避することができる分でもコスト的に有利となる。
【００５１】
また、高周波信号切り替え回路１７は、局部発振器ＶＣＯ１の出力端子をゲイン可変高周波アンプ２の入力端子に接続するか否かを切り替えるが、これによる接続により、テスト信号を容易に入力することができる。また、高周波信号切り替え回路１７を含めても、高周波受信装置５１は従来に対する回路増加分がほとんど無く、特にコストを低く抑えることができる。
【００５２】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術および実施の形態１で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００５３】
図２に、本実施の形態に係る高周波受信装置５２の構成を示す。高周波受信装置５２は、図１の高周波受信装置５１に、テスト信号源選択回路１８を追加した構成である。
【００５４】
テスト信号源選択回路１８は、高周波信号切り替え回路１７に接続するテスト信号源としての局部発振器を、局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４の中から任意の１つを選択することができる回路である。また、テスト信号源選択回路１８には検査時にテスト信号源選択信号ｓ４が入力されるようになっており、テスト信号源選択回路１８はテスト信号源選択信号ｓ４の指示に従ってテスト信号源を選択する。
【００５５】
高周波受信装置は広い受信周波数範囲を扱うため、高周波受信装置５２の局部発振器ＶＣＯ１・〜ＶＣＯ４のそれぞれは、広い受信周波数範囲に合わせて中心周波数が異なるように設けられている。高周波受信装置５２によれば、検査時にテスト信号源選択回路１８によってテスト信号源となる局部発振器を任意に選択することができるので、中心周波数が異なる複数の局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４を使い分けて、広い周波数範囲の検査を行うことができる。
【００５６】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施の形態について図３および図４に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術、実施の形態１および２で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００５７】
図３に、本実施の形態に係る高周波受信装置５３の構成を示す。高周波受信装置５３は、図２の高周波受信装置５２に、制御電圧切り替え回路１９を追加した構成である。
【００５８】
制御電圧切り替え回路１９は、検査の時と通常の高周波信号受信動作時とで、テスト信号源となる局部発振器の周波数を制御する制御電圧を切り替える回路である。制御電圧切り替え回路１９による制御電圧の切り替えにより、テスト信号源として選択する局部発振器の発振周波数を、検査の時にはテスト信号用の周波数に制御し、通常の高周波信号受信動作時にはローカル信号用の周波数に制御する。図２は、局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４のいずれもがテスト信号源となり得る場合を示しており、通常の高周波信号受信動作時および検査時において局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４の各周波数を制御する制御電圧として、ローカル信号発生用にはＰＬＬ回路５の出力電圧Ｖ１を選択し、テスト信号発生用には外部のテスト信号源用制御電圧Ｖ２を選択するように、制御電圧切り替え回路１９が制御電圧を切り替える。
【００５９】
また、制御電圧切り替え回路１９には検査信号ｓ３およびテスト信号源選択信号ｓ４が入力されるようになっている。通常の高周波信号受信動作時は検査信号ｓ３もテスト信号源選択信号ｓ４も入力されず、局部発振器ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４の制御電圧の全てにＰＬＬ回路５の出力電圧Ｖ１を選択する。検査時には、検査信号ｓ３が入力されて検査時であることが知らされるとともに、テスト信号源選択信号ｓ４が入力されていずれの局部発振器をテスト信号源に選択するかが知らされる。このとき、テスト信号源として選択する局部発振器の制御電圧にテスト信号源用制御電圧Ｖ２を選択し、それ以外の局部発振器の制御電圧にＰＬＬ回路５の出力電圧Ｖ１を選択する。
【００６０】
このような構成により、テスト信号の周波数とローカル信号の周波数とを独立して制御することができる。
【００６１】
次に、図４に高周波受信装置５４の構成を示す。高周波受信装置５４は、図３の高周波受信装置５３においてテスト信号源用制御電圧Ｖ２を出力する回路としてテスト信号源用ＰＬＬ回路２０が設けられた構成である。
【００６２】
テスト信号源用ＰＬＬ回路２０は、ＰＬＬ回路５とは別に設けられた受信の検査に専用のＰＬＬ回路である。テスト信号源選択回路１８によってテスト信号源に選択された局部発振器のテスト信号は、テスト信号源選択回路１８から出力された後、高周波信号切り替え回路１７に入力されるまでにテスト信号源用ＰＬＬ回路２０に入力される。テスト信号源用ＰＬＬ回路２０にはテスト信号設定周波数信号ｓ５が入力されるようになっている。テスト信号設定周波数信号ｓ５によってテスト信号の設定周波数が指示される。これによって、テスト信号源用ＰＬＬ回路２０は、テスト信号源となる局部発振器にテスト信号源用制御電圧Ｖ２を入力してテスト信号を所定の周波数に収束させる。このような構成により、テスト信号の周波数を容易に設定することができる。
【００６３】
〔実施の形態４〕
本発明のさらに他の実施の形態について図５に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術、実施の形態１ないし３で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６４】
図５に、本実施の形態に係る高周波受信装置５５の構成を示す。高周波受信装置５５は、図４の高周波受信装置５４に、ＡＧＣ回路２１を追加した構成である。
【００６５】
ＡＧＣ回路（利得調整回路）２１は、ゲイン可変高周波アンプ（利得可変アンプ）２の利得をフィードバック制御する回路である。ＡＧＣ回路２１にはテスト信号の基準レベルＶｒｅｆが入力されるようになっており、ＡＧＣ回路２１はこの基準レベルＶｒｅｆを参照して、ゲイン可変高周波アンプ２の出力電圧値から設定すべき利得を判断して利得調整を行う。
【００６６】
高周波受信装置の周波数特性を調べるためには、テスト信号のレベルが全ての周波数で一定であることが望ましい。高周波受信装置５５によれば、ゲイン可変高周波アンプ２によって高周波信号であるテスト信号を増幅するときに、ＡＧＣ回路２１によってゲイン可変高周波アンプ２の利得を調整することができるので、発振周波数により変わる局部発振器の出力レベルはＡＧＣ回路２１によって補正される。従って、テスト信号を一定のレベルに保つことができる。これにより、高周波受信装置の周波数特性を調べることが可能となり、ローパスフィルタ１１・１２の特性を検査することができる。
【００６７】
なお、ＡＧＣ回路２１は高周波受信装置５１〜５３に追加するようにしてもよい。
【００６８】
〔実施の形態５〕
本発明のさらに他の実施の形態について図６および図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術、実施の形態１ないし４で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６９】
図６に、本実施の形態に係る高周波受信装置５６の構成を示す。高周波受信装置５６は、図５の高周波受信装置５５に、自己診断回路２２を追加した構成である。
【００７０】
自己診断回路２２は、アンプ１３・１４から出力されたＩとＱとのベースバンド信号、すなわち検査の過程で得られた被検査信号を自己診断する。これにより、高周波受信装置５６内で被検査信号の合否判定が可能となって検査を終了させることができ、外部のテスト検査装置が不要となる。
【００７１】
図７に、自己診断回路２２の構成例を示す。自己診断回路２２は、ＡＤコンバータ２３・２４およびプログラマブルロジック２５を備えている。ＡＤコンバータ２３は、アンプ１３から出力されるアナログ信号であるＩのベースバンド信号をデジタル信号に変換する。ＡＤコンバータ２４は、アンプ１４から出力されるアナログ信号であるＱのベースバンド信号をデジタル信号に変換する。プログラマブルロジック２５は、ＡＤコンバータ２３・２４から出力される各デジタル信号を処理する回路をプログラマブルとし、該デジタル信号をプログラミングにより書き込まれた回路によって処理し、検査項目についての合否判定を行う。このような構成によれば、ＩとＱとのベースバンド信号の合否判定をプログラマブルロジック２５で行うので、判定基準など合否判定に関する設定をプログラミングにより容易に変更することができる。
【００７２】
なお、自己診断回路２２は、高周波受信装置５１〜５４に備えるようにしてもよい。
【００７３】
〔実施の形態６〕
本発明のさらに他の実施の形態について図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、前記従来の技術、実施の形態１ないし５で述べた構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００７４】
図８に、本実施の形態に係る高周波受信装置５７の構成を示す。高周波受信装置５７は、図６の高周波受信装置５６に、検査設定回路２６を追加した構成である。
【００７５】
検査設定回路２６は、高周波受信装置５７内で受信の検査の設定を行う回路であり、テスト信号源の選択、テスト信号の設定周波数、テスト信号の基準レベルＶｒｅｆ等といった設定が可能である。図８では、検査設定回路２６は上記設定に基づいて、検査信号ｓ３、テスト信号源選択信号ｓ４、テスト信号設定周波数信号ｓ５、および基準レベルＶｒｅｆを出力する。
【００７６】
この検査設定回路２６に、検査の設定をプログラマブルとするプログラマブルロジックを備えるようにしてもよい。これによれば、検査設定回路２６における検査の設定を、プログラマブルロジックのプログラミングによって容易に変更することができる。
【００７７】
なお、検査設定回路２６は、高周波受信装置５１〜５５に、それぞれに応じた検査信号ｓ３などの信号を出力するものとして、備えるようにしてもよい。
【００７８】
【発明の効果】
本発明の高周波受信装置は、以上のように、受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源として、上記局部発振器の中から選択したものを用いる構成である。
【００７９】
それゆえ、局部発振器という通常の高周波信号受信動作用に予め備えられている回路を検査に用いて、高周波受信装置の内部からテスト信号を供給する。従って、検査において外部のテスト信号送信装置が不必要になり、検査のコストを低く抑えることができる。
【００８０】
この結果、受信の検査のコストを低く抑えることができる高周波受信装置を提供することができるという効果を奏する。
【００８１】
また、従来困難であったウェハーテストでの高周波信号の受信回路への入力検査を行うことができる。これにより、不良チップを後半の工程に回すことを回避することができる分でもコスト的に有利となるという効果を奏する。
【００８２】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記テスト信号源となる上記局部発振器を検査用入力端子に接続するか否かを切り替える切り替え回路を備えている構成である。
【００８３】
それゆえ、検査時には切り替え回路によって、テスト信号源となる局部発振器を検査用入力端子に接続することにより、テスト信号を容易に入力することができるという効果を奏する。
【００８４】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記テスト信号源となる上記局部発振器を任意に選択することのできるテスト信号源選択回路を備えている構成である。
【００８５】
それゆえ、広い受信周波数範囲に合わせて中心周波数が異なるように設けられている複数の局部発振器を使い分けて、広い周波数範囲の検査を行うことができるという効果を奏する。
【００８６】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記検査の時と通常の高周波信号受信動作時とで、上記テスト信号源となる上記局部発振器の周波数を制御する制御電圧を切り替える制御電圧切り替え回路を備えている構成である。
【００８７】
それゆえ、テスト信号の周波数とローカル信号の周波数とを独立して制御することができるという効果を奏する。
【００８８】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記テスト信号源となる上記局部発振器に上記制御電圧を入力して上記テスト信号を所定の周波数に収束させる上記検査に専用のＰＬＬ回路を備えている構成である。
【００８９】
それゆえ、テスト信号の周波数を容易に設定することができるという効果を奏する。
【００９０】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、高周波信号を増幅する利得可変アンプと、上記利得可変アンプの利得を調整する利得調整回路とを備えている構成である。
【００９１】
それゆえ、検査の時にテスト信号のレベルが全ての周波数で一定であることが望ましい高周波受信装置の周波数特性を調べることができるという効果を奏する。
【００９２】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記検査の過程で得られた被検査信号を自己診断する自己診断回路を備えている構成である。
【００９３】
それゆえ、高周波受信装置内で被検査信号の合否判定が可能となって検査を終了させることができ、外部のテスト検査装置が不要となるという効果を奏する。
【００９４】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記被検査信号はアナログ信号であり、上記自己診断回路は、ＡＤコンバータと、上記ＡＤコンバータの出力を信号処理する回路をプログラマブルとするプログラマブルロジックとを備えている構成である。
【００９５】
それゆえ、被検査信号の合否判定をプログラマブルロジックで行うことができるので、判定基準など合否判定に関する設定をプログラミングにより容易に変更することができるという効果を奏する。
【００９６】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記検査の設定を行う検査設定回路を備えている構成である。
【００９７】
それゆえ、高周波受信装置内でテスト信号源の選択、テスト信号の設定周波数、テスト信号の基準レベル等といった設定が可能となるという効果を奏する。
【００９８】
さらに本発明の高周波受信装置は、以上のように、上記検査設定回路は、上記設定をプログラマブルとするプログラマブルロジックを備えている構成である。
【００９９】
それゆえ、検査設定回路における検査の設定を、プログラマブルロジックのプログラミングによって容易に変更することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態に係る高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図３】本発明の第３の実施の形態に係る高周波受信装置の第１の構成を示す回路ブロック図である。
【図４】本発明の第３の実施の形態に係る高周波受信装置の第２の構成を示す回路ブロック図である。
【図５】本発明の第４の実施の形態に係る高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図６】本発明の第５の実施の形態に係る高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図７】図６の高周波受信装置に備えられる自己診断回路の構成を示す回路ブロック図である。
【図８】本発明の第６の実施の形態に係る高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図９】従来の高周波受信装置の構成を示す回路ブロック図である。
【図１０】図９の高周波受信装置の受信の検査を説明する回路ブロック図である。
【符号の説明】
２ ゲイン可変高周波アンプ（利得可変アンプ）
７、８ ミキサ回路
１７ 高周波信号切り替え回路（切り替え回路）
１８ テスト信号源選択回路
１９ 制御電圧切り替え回路
２０ テスト信号源用ＰＬＬ回路（ＰＬＬ回路）
２１ ＡＧＣ回路（利得調整回路）
２２ 自己診断回路
２３、２４ ＡＤコンバータ
２５ プログラマブルロジック
２６ 検査設定回路
５１〜５７ 高周波受信装置
ＶＣＯ１〜ＶＣＯ４ 電圧制御型局部発振器（局部発振器）

Claims (10)

1. 高周波信号を周波数変換するためのミキサ回路と、上記ミキサ回路に与えるローカル信号を発生する複数の局部発振器とを備えた高周波受信装置において、
   受信の検査に用いるテスト信号を発生するテスト信号源として、上記局部発振器の中から選択したものを用いることを特徴とする高周波受信装置。
2. 上記テスト信号源となる上記局部発振器を検査用入力端子に接続するか否かを切り替える切り替え回路を備えていることを特徴とする請求項１に記載の高周波受信装置。
3. 上記テスト信号源となる上記局部発振器を任意に選択することのできるテスト信号源選択回路を備えていることを特徴とする請求項１または２に記載の高周波受信装置。
4. 上記検査の時と通常の高周波信号受信動作時とで、上記テスト信号源となる上記局部発振器の周波数を制御する制御電圧を切り替える制御電圧切り替え回路を備えていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の高周波受信装置。
5. 上記テスト信号源となる上記局部発振器に上記制御電圧を入力して上記テスト信号を所定の周波数に収束させる上記検査に専用のＰＬＬ回路を備えていることを特徴とする請求項４に記載の高周波受信装置。
6. 高周波信号を増幅する利得可変アンプと、上記利得可変アンプの利得を調整する利得調整回路とを備えていることを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載の高周波受信装置。
7. 上記検査の過程で得られた被検査信号を自己診断する自己診断回路を備えていることを特徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の高周波受信装置。
8. 上記被検査信号はアナログ信号であり、
   上記自己診断回路は、ＡＤコンバータと、上記ＡＤコンバータの出力を信号処理する回路をプログラマブルとするプログラマブルロジックとを備えていることを特徴とする請求項７に記載の高周波受信装置。
9. 上記検査の設定を行う検査設定回路を備えていることを特徴とする請求項１ないし８のいずれかに記載の高周波受信装置。
10. 上記検査設定回路は、上記設定をプログラマブルとするプログラマブルロジックを備えていることを特徴とする請求項９に記載の高周波受信装置。

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