JP2004357463A - 保護回路 - Google Patents

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裕幸 小林
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Abstract

【課題】短絡電流によりスイッチング素子が破損されることを確実に防止すると共に、コストの低減が可能な保護回路を提供することを目的とする。
【解決手段】保護回路22は、インバータ10のU相、V相、W相のそれぞれの相の下段側のFET15〜17のドレイン電圧とゲート電圧とに基づく異常判断用電圧を検出する検出回路23を備え、その検出回路23で検出される電圧をドライブ回路11で読み込み、ドライブ回路11で読み込まれた電圧の電圧値と所定値とを比較し、その電圧値が所定値よりも大きい場合に、FET12〜17に出力されている制御信号を停止させインバータ10を停止させている。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、インバータや電源回路などに出力電圧を発生させるためのスイッチング素子、例えば、FET(Field−Effect Transistor)が破損しないように保護する保護回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、三相交流モータの駆動を制御するためのインバータの出力電圧の各相に短絡電流が流れることによって、各相を構成するスイッチング素子が破損しないようにするため、従来では、以下のような方法が考えられていた。
【0003】
(1)ある方法では、例えば、三相交流モータの駆動を制御するためのインバータの出力電圧の各相に流れる電流を監視し、その電流が過電流と判断されたときにインバータの出力電圧の各相を構成するスイッチング素子の駆動を停止させている。
【0004】
(2)また、他の方法では、例えば、図6に示すトランジスタ60を、電力変換装置としてのインバータの出力電圧のある相の下段側のスイッチング素子として使用する場合、そのトランジスタ60のコレクタ−エミッタ間の電圧を電圧検出回路61で監視し、その電圧を故障判別回路62へフィードバックさせる。そして、故障判別回路62において、入力された電圧が故障判別条件に該当すると判断すると、故障信号63を過電流保護回路64に出力し、過電流保護回路64のトランジスタ65をオンさせることによりトランジスタ66の駆動を停止させる。そして、最終的にトランジスタ60の駆動が停止しインバータが停止する(特許文献1参照)。
【0005】
(3)また、更に、他の方法では、例えば、三相交流モータの駆動を制御するためのインバータの出力電圧の各相の一対のIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)の内の下段側のIGBTのコレクタ電流を監視し、そのコレクタ電流に基づいて下段側のIGBTのゲートにコレクタが接続されるトランジスタがオンになると、各相の下段側のIGBTを全て停止させてインバータを停止させている(例えば、特許文献2参照)。
【0006】
【特許文献1】
特開平5−219752号 (第4〜5頁、第8図)
【0007】
【特許文献2】
特開平10−14249号 (第3〜4頁、第1図)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の(1)〜(3)方法では、以下に示す(4)〜(6)の問題がある。
(4)(1)の方法では、インバータの出力電圧の各相に流れる電流を検出するために、電流センサが必要であり、その電流センサを備える分、コストが増加する問題がある。
【0009】
(5)また、(2)の方法では、インバータの出力側の電圧を監視して故障を判別しているが、インバータの動作条件によっては、異常を検出できない場合がある。すなわち、ある相の上段側のスイッチング素子が破損している場合、同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となり、正常状態である上段側のスイッチング素子がオンしている状態と何らかわりがないため異常検出と判断されない。そのため、(2)の方法では、上段側のスイッチング素子が破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧になっているにもかかわらず、同じ相の下段側のスイッチング素子がオンしてしまうと、異常検出されないままその相に短絡電流が流れ、下段側のスイッチング素子さえも破損させてしまうおそれがあるという問題がある。
【0010】
(6)また、(3)の方法では、ある相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となる異常、ある2相以上の中点同士が短絡する異常、又は、ある相の上下段のスイッチング素子が同時にオンする異常に対しては、トランジスタTrが駆動し、インバータを停止させることができるが、ある相の下段側のIGBTが破損している(主に、コレクタとゲートとが短絡すること)場合に、同じ相の上段側のスイッチング素子がオンしてしまうと、異常検出されないままその相に短絡電流が流れ、下段側のIGBTのみならず、上段側のIGBTまでもが短絡電流により破損させてしまうおそれがあるという問題がある。
【0011】
そこで、本発明では、上記問題点を考慮し、短絡電流によりスイッチング素子が破損されることを確実に防止すると共に、コストの低減が可能な保護回路を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために本発明では、以下のような構成を採用した。
すなわち、本発明の保護回路は、入力される制御信号に基づいてオン、オフするスイッチング素子のドレイン又はコレクタに印加されるドレイン又はコレクタ電圧が所定電圧を超えた場合に、前記ドレイン又はコレクタ電圧と前記スイッチング素子のゲートに印加されるゲート電圧とに基づき、前記スイッチング素子のドレイン又はコレクタと前記スイッチング素子のゲートとが短絡した場合に、前記ゲート電圧に基づき、異常判断用電圧を検出する検出手段と、前記スイッチング素子に短絡電流の流れる短絡異常の有無を、前記検出手段で検出される異常判断用電圧に基づき判断し、短絡異常であると判断した場合には前記スイッチング素子に入力される前記制御信号を停止させる停止制御手段とを備えることを特徴とする。
【0013】
これより、スイッチング素子が例えばインバータ又は電源回路のある相を構成する場合について考えると、ある相の上段側のスイッチング素子が破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となった場合、ある2相以上の中点同士が短絡した場合、又は、ある相の上下段のスイッチング素子が同時にオンした場合は、ドレイン又はコレクタ電圧が正常時よりも高くなり異常判断用電圧も正常時より高くなるので停止制御手段に短絡異常と判断させることができる。また、ある相の下段側のスイッチング素子のドレインとゲートとが短絡した場合は、ゲート電圧が正常時よりも高くなり異常判断用電圧も正常時より高くなるので停止制御手段に短絡異常と判断させることができる。これより、スイッチング素子における全ての短絡異常に対して、停止制御手段に短絡異常と判断させ、スイッチング素子の駆動を停止させることができるので、スイッチング素子が破損されることを確実に防止することが可能となる。
【0014】
また、検出回路を、例えば、抵抗やダイオードなどの安価な素子で構成することができるので、コストを低減することが可能となる。
また、上記保護回路の検出回路は、前記異常判断用電圧を抵抗により分圧して検出するように構成してもよい。
【0015】
また、上記保護回路の停止制御手段は、前記異常判断用電圧の電圧値と所定値とを比較し、前記異常判断用電圧の電圧値が前記所定値よりも大きい場合に、短絡異常であると判断し、前記スイッチング素子に入力される前記制御信号を停止させるように構成してもよい。
【0016】
また、上記保護回路は、前記スイッチング素子が、各相毎に上段側及び下段側のスイッチング素子を備えるインバータ又は電源回路における前記下段側のスイッチング素子であり、前記ある相の上段側のスイッチング素子が破損し同じ相の中点の電圧が電源側のプラス側の電圧となった場合、前記ある2相以上の中点同士が短絡した場合、前記ある相の上下段のスイッチング素子が同時にオンした場合、又は、前記ある相の下段側のスイッチング素子のドレイン又はコレクタとゲートが短絡した場合、前記検出手段で検出される異常判断用電圧の電圧値が前記所定値よりも大きくなるように前記所定値が設定されるように構成してもよい。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
図1は、本発明の実施形態の保護回路を示す図である。
まず、図1に示すインバータ10は、ドライブ回路11(停止制御手段)で生成される制御信号に基づいてU相、V相、W相のFET12〜17(スイッチング素子:電圧制御形のスイッチング素子)のオン、オフが制御されることにより、電源18の直流電力を交流電力に変換しコイル19〜21に供給している。
【0018】
そして、保護回路22は、インバータ10のU相、V相、W相のそれぞれの相の下段側のFET15〜17のドレインに印加されるドレイン電圧が所定電圧を越えた場合に、ドレイン電圧とゲートに印加されるゲート電圧とに基づき、FET15〜17のドレインとゲートとが短絡した場合に、ゲート電圧に基づく異常判断用電圧を検出する検出回路23(検出手段)を備え、その検出回路23で検出される電圧をドライブ回路11で読み込み、ドライブ回路11で読み込まれた電圧の電圧値と所定値とを比較し、その電圧値が所定値よりも大きい場合に、FET12〜17に出力されている制御信号を停止させインバータ10を停止させている。
【0019】
上記検出回路23は、上述したように、異常判断用電圧を検出するものであって、FET15〜17のゲートは、抵抗24、抵抗25、ダイオード26、及び、抵抗27を介してグランドに接続され、FET15〜17のドレインは、ダイオード28を介して抵抗24と抵抗25との間に接続されている。FET15〜17のゲート電圧は、抵抗24、抵抗25、及び抵抗27により所定の分圧比で分圧されA点に印加される。また、FET15〜17のドレイン電圧は、ダイオード28に逆バイアスとして印加され、その電圧が所定電圧を超えると所定の電流がダイオード11に流れ、その電流に応じた電圧が抵抗24と抵抗25との間のB点に印加され、更に、そのB点の電圧も抵抗24、抵抗25、及び抵抗27により所定の分圧比で分圧されA点に印加される。これより、異常判断用電圧は図1に示すA点より検出することができる。
【0020】
ここで、例えば、U相に短絡電流が流れる場合を考える。なお、U相に短絡電流が流れる理由としては、U相のFET12が破損しU相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となった場合と、U相の中点とV相の中点又はW相の中点とが短絡した場合と、U相のFET12とFET15とに同時にハイレベルの制御信号が入力されFET12とFET15とが同時にオンした場合とが考えられる。このとき、FET15のドレイン電圧は、正常時(U相に短絡電流が流れていないとき)よりも高くなる。すると、図1に示すA点の電圧もある程度高くなる。そして、ドライブ回路11が、抵抗24、抵抗25、及び抵抗27のそれぞれの抵抗値に基づいて分圧された電圧を読み込み、その電圧の電圧値と所定値とを比較し、その電圧値が所定値よりも大きい場合に、FET12〜17に出力していた制御信号を停止させている。なお、停止させるFETは、下段側のFET15〜17だけでもよい。また、本実施形態でいう中点とは、U相〜W相の各相における上段側のFETと下段側のFETとの間の中点のことを示す。
【0021】
次に、例えば、U相のFET15のドレインとゲートとが短絡した場合を考える。このとき、U相のFET15のゲート電圧は、正常時(FET15のドレインとゲートとが短絡していないとき)よりも高くなる。すると、図1に示すA点の電圧もある程度高くなる。そして、ドライブ回路11が、抵抗24、抵抗25、及び抵抗27のそれぞれの抵抗値に基づいて分圧された電圧を読み込み、その電圧の電圧値と所定値とを比較し、その電圧値が所定値よりも大きい場合に、FET12〜17に出力していた制御信号を停止さている。
【0022】
このとき、上記所定値は、U相〜W相の内のある1相の上段側のFETが破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側(電源側)の電圧となった場合、U相〜W相の内のある2相以上の中点同士が短絡した場合、U相〜W相の内のある1相の上下段のFETが同時にオンした場合、又は、U相〜W相の内のある1相の下段側のFETのドレインとゲートが短絡した場合、検出回路23で検出される異常判断用電圧の電圧値が所定値よりも大きくなるように設定されている。また、上記所定値は、上記4つの場合すべてを考慮し、それら4つの場合に共通する所定値を設定する。例えば、4つの場合すべてについて、それぞれに対応する所定値を求め、それらの中の最低値を4つの場合に共通する所定値として設定する。
【0023】
図2は、検出回路の異常判断用電圧の電圧値と所定値との関係を示す図である。
図2(a)はU相のFET15の正常動作を示す。ドレイン、ゲートに印加される電圧をそれぞれVds、Vgsとし、A点の電圧値をVとする。
【0024】
図2(b)はU相のFET15にB時点において異常が発生した場合の動作を示し、図2(c)はU相のFET15にC時点において異常が発生した場合の動作を示す。なお、実線がドレイン電圧、破線がゲート電圧、一点鎖線がA点の電圧値、A点の電圧値を異常と判定する所定値を二点鎖線でそれぞれ示している。また、図2(a−Vds)は、図2(a)におけるFET15のドレイン電圧を、図2(a−Vgs)は、図2(a)におけるFET15のゲート電圧を、図2(a−V)は、図2(a)におけるA点電圧値を示している。また、図2(b−Vds)は、図2(b)におけるFET15のドレイン電圧を、図2(b−Vgs)は、図2(b)におけるFET15のゲート電圧を、図2(b−V)は、図2(b)におけるA点電圧値を示している。また、図2(c−Vds)は、図2(c)におけるFET15のドレイン電圧を、図2(c−Vgs)は、図2(c)におけるFET15のゲート電圧を、図2(c−V)は、図2(c)におけるA点電圧値を示している。
【0025】
図2(a)に示すように、FET15がオンしているときはゲート電圧がH(ハイ)を示しA点の電圧値もそれにあわせて上がろうとするが、ドレイン電圧がほぼゼロとなるためA点の電圧値はほぼゼロを示す。逆にFET15がオフのときはドレイン電圧がほぼ電源電圧値となるがゲート電圧がL(ロー)のためA点の電圧値はほぼゼロを示す。FET15スイッチング時の過渡的な時間においてはA点の電圧値も多少変化するが所定値を越えないように設定する。これより、U相に短絡電流が流れない場合やU相のFET15のドレインとゲートとが短絡していない場合はA点の電圧値はほぼゼロであり、所定値よりも大きくならないのでFET12〜17を停止させない。
【0026】
次に、図2(b)はU相のFET15にB時点において短絡電流が流れる場合の動作を示す図である。B時点ではゲート電圧はHを示し、FET15はオンしている。このとき何らかの要因により短絡電流が流れ始めるとドレイン電圧が上昇を始め、それにともないA点の電圧値も上昇する。A点電圧値が所定値を上回ると異常を検出し、FET12〜17の駆動を停止しインバータの出力を停止する。
【0027】
次に、図2(c)はU相のFET15のドレインとゲートとがC時点において短絡する場合の動作を示す図である。C時点ではゲート電圧はLを示しFET15はオフしている。このときドレインとゲートが短絡すると、FET15のゲート電圧値がドレイン電圧にあわせて上昇する。これよりA点の電圧値も上昇し、所定値を上回るとFET12〜17の駆動を停止し、インバータの出力を停止する。
【0028】
次に、ドライブ回路11における停止制御手段としての動作について説明する。
図3は、ドライブ回路11における停止制御手段としての動作を説明する図である。
【0029】
まず、ステップS1において、ドライブ回路11は、A点の電圧値を読み込む。
次に、ステップS2において、ドライブ回路11は、読み込んだ電圧値と所定値とを比較する。
【0030】
そして、読み込んだ電圧値が所定値よりも大きくなかった場合は、ステップS1に戻る。
一方、読み込んだ電圧値が所定値よりも大きい場合、ステップS3において、ドライブ回路11は、全てのFET12〜17に出力していた制御信号を停止させ、FET12〜17の駆動を停止させる。
【0031】
これより、ある相の上段側のFETが破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となった場合、U相〜W相の内の2相以上の中点が短絡した場合、ある相の上下段のFETが同時にオンした場合、又は、ある相の下段側のFETのドレインとゲートとが短絡した場合の全ての異常に対して、FET12〜17の駆動を停止させることができるので、スイッチング素子が破損されることを確実に防止することが可能となる。
【0032】
また、検出回路23は、抵抗やダイオードなどの安価な素子で構成することができるので、コストを低減することが可能となる。
<その他の実施形態>
本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、請求項に記載した範囲において、種々の構成を採用可能である。例えば、以下のような構成変更も可能である。
【0033】
(1)上記実施形態では、ドライブ回路11は、単に、異常判断用電圧の電圧値が所定値よりも大きいか否かに基づいて、FET12〜17を停止させているが、ある時間内において、異常判断用電圧の電圧値が所定値よりも大きいものが所定数よりも多いときにFET12〜17を停止させるように構成してもよい。
【0034】
すなわち、図4に示すように、まず、ステップST1において、ドライブ回路11は、所定のタイマをスタートさせる。
次に、ステップST2において、ドライブ回路11は、A点の電圧値を読み込む。
【0035】
次に、ステップST3において、ドライブ回路11は、読み込んだ電圧値と所定値とを比較する。
次に、ステップST4において、ドライブ回路11は、比較結果を所定の記録手段に記録する。
【0036】
次に、ステップST5において、ドライブ回路11は、上記所定のタイマのカウントが終了したか否かを判断する。
所定のタイマのカウントが終了していないと判断した場合は、ステップST2に戻る。
【0037】
一方、所定のタイマのカウントが終了したと判断した場合、ステップST6において、ドライブ回路11は、上記記録手段に記録される「読み込んだ電圧値が所定値よりも大きかった電圧値」の数が所定数よりも多いか否かを判断する。
記録されている数が所定数よりも多くないと判断した場合は、ステップST1に戻る。
【0038】
一方、記録されている数が所定数よりも多いと判断した場合、ステップST7において、ドライブ回路11は、FET12〜17に出力していた制御信号を停止させ、FET12〜17の駆動を停止させる。
このように構成しても、ある相の上段側のFETが破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となった場合、U相〜W相の内の2相以上の中点が短絡した場合、ある相の上下段のFETが同時にオンした場合、又は、ある相の下段側のFETのドレインとゲートとが短絡した場合の全ての異常に対して、FET12〜17の駆動を停止させることができるので、スイッチング素子が破損されることを確実に防止することが可能となる。
【0039】
また、検出回路23は、抵抗やダイオードなどの安価な素子で構成することができるので、コストを低減することが可能となる。
(2)また、上記実施形態では、ブリッジ構造である三相交流モータのインバータ10の出力電圧のある相に流れる短絡電流により同じ相のFETが破損されることを防止する構成であるが、図5に示すように、FET50が駆動することにより負荷51に電力を供給することが可能な電源回路52においても保護回路22を備えることによって、短絡電流によりFET51が破損されることを防止することが可能である。
【0040】
(3)また、上記実施形態では、図1に示すインバータ10又は図5に示す電源回路52をFETを使用して構成しているが、例えば、IGBTなど、その他のスイッチング素子で構成してもよい。
【0041】
【発明の効果】
以上、本発明によれば、スイッチング素子が例えばインバータ又は電源回路のある相を構成する場合、ある相の上段側のスイッチング素子が破損し同じ相の中点の電圧が電源電圧のプラス側の電圧となった場合、ある2相以上の中点同士が短絡した場合、ある相の上下段のスイッチング素子が同時にオンした場合、又は、ある相の下段側のスイッチング素子のドレイン又はコレクタとゲートとが短絡した場合の短絡異常に対して、停止制御手段に短絡異常と判断させ、スイッチング素子の駆動を停止させることができるので、スイッチング素子が破損されることを確実に防止することが可能となる。
【0042】
また、安価な構成で異常検出することができるので、コストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の保護回路を示す図である。
【図2】検出回路が検出する異常判断用電圧の電圧値と所定値との関係を示す図である。
【図3】ドライブ回路における停止制御手段としての動作を説明する図である。
【図4】他の実施形態の保護回路を説明するための図である。
【図5】他の実施形態の保護回路を説明するための図である。
【図6】従来の保護回路を示す図である。
【符号の説明】
10 インバータ
11 ドライブ回路
12〜17 FET
18 電源
19〜21 コイル
22 保護回路
23 検出回路
24、25、27 抵抗
26、28 ダイオード
50 FET
51 負荷
52 電源回路
60 トランジスタ
61 電圧検出回路
62 故障判別回路
63 故障信号
64 過電流保護回路
65 トランジスタ
66 トランジスタ

Claims (4)

  1. 入力される制御信号に基づいてオン、オフするスイッチング素子のドレイン又はコレクタに印加されるドレイン又はコレクタ電圧が所定電圧を超えた場合に、前記ドレイン又はコレクタ電圧と前記スイッチング素子のゲートに印加されるゲート電圧とに基づき、前記スイッチング素子のドレイン又はコレクタと前記スイッチング素子のゲートとが短絡した場合に、前記ゲート電圧に基づき、異常判断用電圧を検出する検出手段と、
    前記スイッチング素子に短絡電流の流れる短絡異常の有無を、前記検出手段で検出される異常判断用電圧に基づき判断し、短絡異常であると判断した場合には前記スイッチング素子に入力される前記制御信号を停止させる停止制御手段と、
    を備えることを特徴とする保護回路。
  2. 請求項1に記載の保護回路であって、
    前記検出手段は、前記異常判断用電圧を抵抗により分圧して検出することを特徴とする保護回路。
  3. 請求項1に記載の保護回路であって、
    前記停止制御手段は、前記異常判断用電圧の電圧値と所定値とを比較し、前記異常判断用電圧の電圧値が前記所定値よりも大きい場合に、短絡異常であると判断し、前記スイッチング素子に入力される前記制御信号を停止させることを特徴とする保護回路。
  4. 請求項3に記載の保護回路であって、
    前記スイッチング素子が、各相毎に上段側及び下段側のスイッチング素子を備えるインバータ又は電源回路における前記下段側のスイッチング素子であり、
    前記ある相の上段側のスイッチング素子が破損し同じ相の中点の電圧が電源側のプラス側の電圧となった場合、前記ある2相以上の中点同士が短絡した場合、前記ある相の上下段のスイッチング素子が同時にオンした場合、又は、前記ある相の下段側のスイッチング素子のドレイン又はコレクタとゲートが短絡した場合、前記検出手段で検出される異常判断用電圧の電圧値が前記所定値よりも大きくなるように前記所定値が設定されることを特徴とする保護回路。
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