JP2004356237A - 半導体発光素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】発光素子の放熱性を高めて光の取り出し効率を向上することができる半導体発光素子を提供すること。
【解決手段】発光する光に対して透明性を有する基板1と、基板1の一方の面に少なくともn型とp型の窒化ガリウム系化合物半導体層3,5と、p型半導体層5に設けられたp層電極7と、p型半導体層5の一部を除去して露出させたn型半導体層3に設けられたn層電極6と、を備え、p層電極7及びn層電極6のうち、少なくともp層電極7は、その露出面に貫通孔83を有する絶縁層82と、貫通孔83に埋設された熱伝導部81と、絶縁層82に積層されて熱伝導部81と固着するとともに熱的に接続された放熱層8とを有する半導体発光素子。
【選択図】 図1
【解決手段】発光する光に対して透明性を有する基板1と、基板1の一方の面に少なくともn型とp型の窒化ガリウム系化合物半導体層3,5と、p型半導体層5に設けられたp層電極7と、p型半導体層5の一部を除去して露出させたn型半導体層3に設けられたn層電極6と、を備え、p層電極7及びn層電極6のうち、少なくともp層電極7は、その露出面に貫通孔83を有する絶縁層82と、貫通孔83に埋設された熱伝導部81と、絶縁層82に積層されて熱伝導部81と固着するとともに熱的に接続された放熱層8とを有する半導体発光素子。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体発光素子に関し、特に半導体層に電圧を印加するための電極をそれぞれ基板の同一面側に形成した構造を有する半導体発光素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の半導体発光素子として、例えば、特開平11−40848号公報(特許文献1)に提案されているものがあり、これを図4に示す。図4は側面断面図である。このものは、発光する光に対して透光性を有するサファイアからなる支持基板101に窒化ガリウム(GaN)からなるバッファ層102を積層し、次いでn型の導電型を有するGaN層103及び窒化インジウムガリウム(InGaN)からなる発光層104とを順に積層し、さらにp型の導電型を有する窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)層105a及びGaN層105bを順に積層したダブルへテロ構造をなしている。
【0003】
このうち、n型の導電型を有するGaN層103は、発光層104、p型AlGaN層105a、p型GaN層105bの一部及び除去された発光層104の直下にあるn型GaN層103の表層を除去することにより階段状に形成されており、その露出した部位には、チタン(Ti)、金(Au)、マグネシウム(Mg)からなるn電極106が形成されている。
【0004】
また、p型の導電型を有するGaN層105bの上面には、マグネシウム(Mg)、金(Au)からなるp電極107が形成されている。
【0005】
さらに、このn電極106及びp電極107に金(Au)からなるバンプ108が形成されている。
【0006】
そして、ダイボンド部材(図示せず)とバンプ108とを溶着してこの半導体発光素子をフリップチップ接合することにより、発光層104から放射される光を支持基板101側から直接取り出すことができる構造になっている。
【0007】
【特許文献1】
特開平11−40848号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような半導体発光素子において、バンプ108は、p型の導電型を有するGaN層105bの一部の領域にのみp電極107を介して形成されているため、素子内部で発生した熱の伝導効率が比較的低く、放熱性を十分に高めることは困難であった。
【0009】
本発明は、上記の点に鑑みてなしたものであり、その目的とするところは、発光素子の放熱性を高めて光の取り出し効率を向上することができる半導体発光素子を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に係る発明の半導体発光素子は、発光する光に対して透明性を有する基板と、前記基板の一方の面に少なくともn型とp型の窒化ガリウム系化合物半導体を有してなる半導体層と、前記p型半導体層に設けられてp型半導体層と電気的に導通してなるp層電極と、所定の領域の少なくとも前記p型半導体層の一部を除去して露出させたn型半導体層に設けられてn型半導体層と電気的に導通してなるn層電極と、を備え、前記p層電極及び前記n層電極のうち、少なくともp層電極は、その露出面に貫通孔を有する絶縁層と、前記貫通孔に埋設された熱伝導部と、前記絶縁層に積層されて前記熱伝導部と固着するとともに熱的に接続された放熱層とを有することを特徴としている。
【0011】
この構成により、半導体発光素子の内部で発生した熱を放熱層へ熱伝導部を介して効率よく移動させて放熱することができるので、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率を向上することができる。
【0012】
請求項2に係る発明の半導体発光素子は、請求項1記載の構成において、請求項1に記載の半導体発光素子において、前記絶縁層は、発光する光に対して透明性を有するとともに、前記熱伝導部及び前記放熱層は、その絶縁層と当接する界面の光の反射率が発光する光に対して85%以上であるものとしている。
【0013】
この構成により、p層電極で反射されずに透過してきた光をこの熱伝導部或いは放熱層で反射することができるので、より光の取り出し効率を向上することができる。
【0014】
請求項3に係る発明は、請求項1又は2に記載の半導体発光素子において、前記放熱層は、その前記絶縁層に当接した面と反対側に位置する面に複数の凹部を有しているものとしている。
【0015】
この構成により、放熱層の表面積が増加して半導体発光素子の内部で発生した熱をより効率よく放熱することができるので、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率をさらに向上することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
[第1の実施形態]
第1の実施形態に係る半導体発光素子を図1に基づいて説明する。図1(a)はその平面図、図1(b)は図1(a)のA−A線に沿って切断したときの断面図である。
【0017】
この半導体発光素子1は、支持基板2と、n型半導体層3と、活性層4と、p型半導体層5と、n層電極6と、p層電極7と、放熱層8とを主要構成要素としている。
【0018】
支持基板2は、後述する各半導体層を積層するための支持部材となるものであり、半導体発光素子1から放射される光に対する透光性と電気的な絶縁性を有する、例えば、サファイアにて形成されている。また、支持基板2の一方の面にはバッファ層21が積層されている。
【0019】
このバッファ層21は、支持基板2にこれとは格子定数の異なるn型半導体層3を成長させる場合において、その両者間での格子不整合を減少させて接合界面近傍での結晶性を改善し、良質なn型半導体層3を形成させるためのものであり、例えば、窒化アルミニウム(AlN)にて形成されて支持基板2に直接積層している。
【0020】
n型半導体層3は、半導体発光素子1においてその内部に比較的多量の電子を存在させるためのものであり、n型コンタクト層31とn型クラッド層32とから構成されている。
【0021】
このうち、n型コンタクト層31は、例えば、窒化ガリウム(GaN)にて形成されており、バッファ層21に直接積層されている。また、n型クラッド層32と比較して、例えば、シリコン(Si)からなるドナーを多く注入することにより高キャリア濃度に形成しており、後述するn層電極6との接触界面における接触障壁(ショットキーバリア)を小さくしてn型コンタクト層31とn層電極6との間でオーミック接触を実現している。また、このものは、平面視においてn型クラッド層32より幅広に形成することにより、n型コンタクト層31を積層した際にその一部の領域が露出する接続部33を設けてn層電極6を載置させている。
【0022】
一方、n型クラッド層32は、発光効率の観点から後述する活性層4と比較してバンドギャップエネルギーを大きくする必要があり、例えば、窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)にて形成しており、n型コンタクト層31に直接積層されている。このものは、平面視において接続部33の形状がn型コンタクト層31に沿って凹凸をなす形状、例えば、本実施形態では櫛歯状となるように形成している。したがって、接続部33と相対するn型クラッド層32の縁部34の平面視における形状は、接続部33と噛合する櫛歯状となっている。
【0023】
これにより、n型半導体層3は、断面視において支持基板2と平行な面を2つ有した階段形状をなしている。
【0024】
活性層4は、n型半導体層3と後述するp型半導体層5とからそれぞれ注入された電子及び正孔をこの内部で再結合させて光を生成するものであり、例えば、不純物を注入しないニュートラルな窒化インジウムガリウム(InGaN)にて形成している。このものは、n型クラッド層32上に直接積層されており、前述した縁部34は、活性層4側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0025】
p型半導体層5は、半導体発光素子1においてその内部に比較的多量の正孔を存在させるためのものであり、p型クラッド層51とp型コンタクト層52とから構成されている。
【0026】
このうち、p型クラッド層51は、n型クラッド層32同様、発光効率の観点から活性層4と比較してバンドギャップエネルギーを大きくする必要があり、例えば、窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)にて形成しており、活性層4に直接積層されている。また、前述した縁部34は、p型クラッド層51側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0027】
一方、p型コンタクト層52は、例えば、窒化ガリウム(GaN)にて形成されており、活性層4に直接積層されている。また、p型クラッド層51と比較して、例えば、マグネシウム(Mg)からなるアクセプタを多く注入することにより高キャリア濃度に形成しており、後述するp層電極7との接触界面における接触障壁(ショットキーバリア)を小さくしてp型コンタクト層52とp層電極7との間でオーミック接触を実現している。また、前述した縁部34は、p型コンタクト層52側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0028】
n層電極6は、外部から供給される電力を各半導体層に供給するためのものであり、例えば、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、バナジウム(V)に金(Au)を積層した2層構造としており、半導体発光素子1の隅角の接続部33上に直接積層されている。また、その形状は略四角形状をしており、その高さ(図1の上下方向)は、n層電極6の露出面が後述するp層電極7の露出面と略同一平面上にあるよう、すなわち、本実施形態の半導体発光素子1をフリップチップ実装したときにリードフレーム等のマウント部材(図示せず)に対して略水平になるように形成している。
【0029】
p層電極7は、n層電極6と同様に外部から供給される電力を各半導体層3,4,5に供給するためのものであり、例えば、パラジウム(Pd)、クロム(Cr)に金(Au)を積層した2層構造としており、p型コンタクト層52の略全面に直接積層されている。
【0030】
放熱層8は、半導体発光素子1で発生した熱を外部へ放出するためのものであり、熱抵抗の比較的小さい、すなわち、熱伝導率の比較的大きい、例えば金(Au)(熱伝導率は293W/mK程度)にて形成している。このものは、n層電極6とp層電極7とにそれぞれ電気的に独立させて設けており、後述する熱伝導部81を介してそれぞれの電極に接合されている。また、その大きさは、n層電極6と接合された放熱層8においては、平面視におけるn層電極6と略同じ大きさであり、p層電極7と接合された放熱層8においては、p型コンタクト層52と略同じ大きさである。
【0031】
熱伝導部81は、半導体発光素子1で発生した熱を放熱層8へ伝導させるものであり、放熱層8と同じく金(Au)にて形成している。このものは、半導体発光素子1の電極形成面側の露出面に設けられた、例えばシリコン酸化膜(SiO2)からなる発光する光に対して透明性を有する絶縁層82と各電極6,7とがそれぞれ当接する領域に形成された複数の貫通孔83の内方に形成している。これにより、放熱層8は、結果的に熱伝導部81及び絶縁層82を介して各電極6,7上に形成される。また、熱伝導部81の平面視における形状は略円形をしており、その厚さは2〜10μm程度であって絶縁層82の厚さと略同等としている。
【0032】
次に、その製造方法について説明する。なお、半導体発光素子1のn層電極6及びp層電極7までの製造方法は、公知技術を用いているので説明を省略する。
【0033】
まず、CVD法を用いてシリコン酸化膜(SiO2)からなる絶縁層82を形成した後、絶縁層82上に感光性樹脂を塗布して所定のパターンを転写し、n層電極6及びp層電極7上の貫通孔83となる位置のレジストを除去する。
【0034】
次いで、貫通孔83となる位置の絶縁層82をエッチングにより除去してn層電極6及びp層電極7の一部を露出させた後、蒸着を施して金(Au)を絶縁層82上に堆積させ、熱伝導部81及び放熱層8を形成する。
【0035】
そして、放熱層8を研磨してその表面を均一にした後、n層電極6の直上の放熱層8をn層電極6の大きさと略同等の大きさに分割してp層電極7上の放熱層8と電気的に絶縁することにより半導体発光素子1が完成する。
【0036】
以上説明した第1の実施形態の半導体発光素子1によると、n層電極6及びp層電極7の露出面と各半導体層3,4,5の露出面に絶縁層82を設け、また、発光する光に対して透明性を有するシリコン酸化膜(SiO2)からなる絶縁層82とn層電極6及びp層電極7との当接する領域に複数の貫通孔83を形成し、その内部に比較的熱伝導率の高い金(Au)からなる熱伝導部81と、その上部に熱伝導部81と一体形成された放熱層8とを有しているので、通電時に半導体発光素子1の内部で発生した熱を放熱層8へ熱伝導部81を介して効率よく移動させて放熱することができ、その結果、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率を向上することができる。
【0037】
なお、貫通孔83は、絶縁層82に複数形成したものに限定されるものではなく、n層電極6及びp層電極7と当接する領域であればその個数及び形状は適宜設計できるものである。例えば、図2に示すように、貫通孔83をn層電極6及びp層電極7と略同等の大きさに形成してもよく、この場合、半導体発光素子1から放熱層8への熱伝導の経路が大きくなり放熱効率が向上するため好ましい。
【0038】
また、熱伝導部81及び放熱層8は、金(Au)に限定されるものではなく、例えば、アルミニウム(Al)(熱伝導率は226W/mK程度)等の金属材料で形成してもよい。このアルミニウム(Al)は、半導体発光素子1で発光した光に対して95%程度の反射率があり、p層電極7で反射されずに透過してきた光をこの熱伝導部81或いは放熱層8で反射することができ、より光の取り出し効率を向上させることができるため好ましい。
【0039】
また、本実施形態では各半導体層3,4,5の平面視における形状を櫛歯状としているが、特にこの形状に限定されるものではない。
【0040】
[第2の実施形態]
第2の実施形態に係る半導体発光素子を図3に基づいて説明する。図3は半導体発光素子の断面図である。
【0041】
この実施形態の半導体発光素子は、放熱層9が第1の実施形態と異なるものであり、他の構成要素は第1の実施形態のものと実質的に同一であるので、同一部材には同一の番号を付して説明を省略する。
【0042】
本実施形態の放熱層9は、絶縁層82と当接した面とは反対側に位置する面に複数の凹凸部91を形成していることが第1の実施形態と異なっている。その凹凸部91は、例えば、前述した放熱層8の研磨時に形成している。その形状は、断面視においてのこぎり歯状となるように形成している。
【0043】
以上説明した本実施形態の半導体発光素子によると、放熱層9は、その絶縁層82に当接した面と反対側に位置する面に凹凸部91を有しているので、放熱層8の表面積が増加して通電時に半導体発光素子1の内部で発生した熱をより効率よく放熱することができる。その結果、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率をさらに向上することができる。
【0044】
【発明の効果】
本発明の半導体発光素子によれば、n層電極及びp層電極と熱的に接続された熱導電部と放熱層を有することにより、通電時に半導体発光素子の内部で発生した熱を効率よく移動させて発光素子外部へ放熱することができ、その結果、発光効率の低下を抑制して光の取り出し効率を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る半導体発光素子を示すものであり、(a)はその平面図、(b)はA−A線に沿って切断したときの断面図である。
【図2】同上の他の実施形態に係る半導体発光素子を示す断面図である。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る半導体発光素子を示す断面図である。
【図4】従来の半導体発光素子の全体概略平面図である。
【符号の説明】
1 半導体発光素子
2 基板
3 n型半導体層
4 活性層
5 p型半導体層
6 n層電極
7 p層電極
8 放熱層
81 熱伝導部
82 絶縁層
83 貫通孔
9 放熱層
91 凹凸部
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体発光素子に関し、特に半導体層に電圧を印加するための電極をそれぞれ基板の同一面側に形成した構造を有する半導体発光素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の半導体発光素子として、例えば、特開平11−40848号公報(特許文献1)に提案されているものがあり、これを図4に示す。図4は側面断面図である。このものは、発光する光に対して透光性を有するサファイアからなる支持基板101に窒化ガリウム(GaN)からなるバッファ層102を積層し、次いでn型の導電型を有するGaN層103及び窒化インジウムガリウム(InGaN)からなる発光層104とを順に積層し、さらにp型の導電型を有する窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)層105a及びGaN層105bを順に積層したダブルへテロ構造をなしている。
【0003】
このうち、n型の導電型を有するGaN層103は、発光層104、p型AlGaN層105a、p型GaN層105bの一部及び除去された発光層104の直下にあるn型GaN層103の表層を除去することにより階段状に形成されており、その露出した部位には、チタン(Ti)、金(Au)、マグネシウム(Mg)からなるn電極106が形成されている。
【0004】
また、p型の導電型を有するGaN層105bの上面には、マグネシウム(Mg)、金(Au)からなるp電極107が形成されている。
【0005】
さらに、このn電極106及びp電極107に金(Au)からなるバンプ108が形成されている。
【0006】
そして、ダイボンド部材(図示せず)とバンプ108とを溶着してこの半導体発光素子をフリップチップ接合することにより、発光層104から放射される光を支持基板101側から直接取り出すことができる構造になっている。
【0007】
【特許文献1】
特開平11−40848号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような半導体発光素子において、バンプ108は、p型の導電型を有するGaN層105bの一部の領域にのみp電極107を介して形成されているため、素子内部で発生した熱の伝導効率が比較的低く、放熱性を十分に高めることは困難であった。
【0009】
本発明は、上記の点に鑑みてなしたものであり、その目的とするところは、発光素子の放熱性を高めて光の取り出し効率を向上することができる半導体発光素子を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に係る発明の半導体発光素子は、発光する光に対して透明性を有する基板と、前記基板の一方の面に少なくともn型とp型の窒化ガリウム系化合物半導体を有してなる半導体層と、前記p型半導体層に設けられてp型半導体層と電気的に導通してなるp層電極と、所定の領域の少なくとも前記p型半導体層の一部を除去して露出させたn型半導体層に設けられてn型半導体層と電気的に導通してなるn層電極と、を備え、前記p層電極及び前記n層電極のうち、少なくともp層電極は、その露出面に貫通孔を有する絶縁層と、前記貫通孔に埋設された熱伝導部と、前記絶縁層に積層されて前記熱伝導部と固着するとともに熱的に接続された放熱層とを有することを特徴としている。
【0011】
この構成により、半導体発光素子の内部で発生した熱を放熱層へ熱伝導部を介して効率よく移動させて放熱することができるので、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率を向上することができる。
【0012】
請求項2に係る発明の半導体発光素子は、請求項1記載の構成において、請求項1に記載の半導体発光素子において、前記絶縁層は、発光する光に対して透明性を有するとともに、前記熱伝導部及び前記放熱層は、その絶縁層と当接する界面の光の反射率が発光する光に対して85%以上であるものとしている。
【0013】
この構成により、p層電極で反射されずに透過してきた光をこの熱伝導部或いは放熱層で反射することができるので、より光の取り出し効率を向上することができる。
【0014】
請求項3に係る発明は、請求項1又は2に記載の半導体発光素子において、前記放熱層は、その前記絶縁層に当接した面と反対側に位置する面に複数の凹部を有しているものとしている。
【0015】
この構成により、放熱層の表面積が増加して半導体発光素子の内部で発生した熱をより効率よく放熱することができるので、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率をさらに向上することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
[第1の実施形態]
第1の実施形態に係る半導体発光素子を図1に基づいて説明する。図1(a)はその平面図、図1(b)は図1(a)のA−A線に沿って切断したときの断面図である。
【0017】
この半導体発光素子1は、支持基板2と、n型半導体層3と、活性層4と、p型半導体層5と、n層電極6と、p層電極7と、放熱層8とを主要構成要素としている。
【0018】
支持基板2は、後述する各半導体層を積層するための支持部材となるものであり、半導体発光素子1から放射される光に対する透光性と電気的な絶縁性を有する、例えば、サファイアにて形成されている。また、支持基板2の一方の面にはバッファ層21が積層されている。
【0019】
このバッファ層21は、支持基板2にこれとは格子定数の異なるn型半導体層3を成長させる場合において、その両者間での格子不整合を減少させて接合界面近傍での結晶性を改善し、良質なn型半導体層3を形成させるためのものであり、例えば、窒化アルミニウム(AlN)にて形成されて支持基板2に直接積層している。
【0020】
n型半導体層3は、半導体発光素子1においてその内部に比較的多量の電子を存在させるためのものであり、n型コンタクト層31とn型クラッド層32とから構成されている。
【0021】
このうち、n型コンタクト層31は、例えば、窒化ガリウム(GaN)にて形成されており、バッファ層21に直接積層されている。また、n型クラッド層32と比較して、例えば、シリコン(Si)からなるドナーを多く注入することにより高キャリア濃度に形成しており、後述するn層電極6との接触界面における接触障壁(ショットキーバリア)を小さくしてn型コンタクト層31とn層電極6との間でオーミック接触を実現している。また、このものは、平面視においてn型クラッド層32より幅広に形成することにより、n型コンタクト層31を積層した際にその一部の領域が露出する接続部33を設けてn層電極6を載置させている。
【0022】
一方、n型クラッド層32は、発光効率の観点から後述する活性層4と比較してバンドギャップエネルギーを大きくする必要があり、例えば、窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)にて形成しており、n型コンタクト層31に直接積層されている。このものは、平面視において接続部33の形状がn型コンタクト層31に沿って凹凸をなす形状、例えば、本実施形態では櫛歯状となるように形成している。したがって、接続部33と相対するn型クラッド層32の縁部34の平面視における形状は、接続部33と噛合する櫛歯状となっている。
【0023】
これにより、n型半導体層3は、断面視において支持基板2と平行な面を2つ有した階段形状をなしている。
【0024】
活性層4は、n型半導体層3と後述するp型半導体層5とからそれぞれ注入された電子及び正孔をこの内部で再結合させて光を生成するものであり、例えば、不純物を注入しないニュートラルな窒化インジウムガリウム(InGaN)にて形成している。このものは、n型クラッド層32上に直接積層されており、前述した縁部34は、活性層4側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0025】
p型半導体層5は、半導体発光素子1においてその内部に比較的多量の正孔を存在させるためのものであり、p型クラッド層51とp型コンタクト層52とから構成されている。
【0026】
このうち、p型クラッド層51は、n型クラッド層32同様、発光効率の観点から活性層4と比較してバンドギャップエネルギーを大きくする必要があり、例えば、窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)にて形成しており、活性層4に直接積層されている。また、前述した縁部34は、p型クラッド層51側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0027】
一方、p型コンタクト層52は、例えば、窒化ガリウム(GaN)にて形成されており、活性層4に直接積層されている。また、p型クラッド層51と比較して、例えば、マグネシウム(Mg)からなるアクセプタを多く注入することにより高キャリア濃度に形成しており、後述するp層電極7との接触界面における接触障壁(ショットキーバリア)を小さくしてp型コンタクト層52とp層電極7との間でオーミック接触を実現している。また、前述した縁部34は、p型コンタクト層52側から見てもn型クラッド層32との境界となる。
【0028】
n層電極6は、外部から供給される電力を各半導体層に供給するためのものであり、例えば、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、バナジウム(V)に金(Au)を積層した2層構造としており、半導体発光素子1の隅角の接続部33上に直接積層されている。また、その形状は略四角形状をしており、その高さ(図1の上下方向)は、n層電極6の露出面が後述するp層電極7の露出面と略同一平面上にあるよう、すなわち、本実施形態の半導体発光素子1をフリップチップ実装したときにリードフレーム等のマウント部材(図示せず)に対して略水平になるように形成している。
【0029】
p層電極7は、n層電極6と同様に外部から供給される電力を各半導体層3,4,5に供給するためのものであり、例えば、パラジウム(Pd)、クロム(Cr)に金(Au)を積層した2層構造としており、p型コンタクト層52の略全面に直接積層されている。
【0030】
放熱層8は、半導体発光素子1で発生した熱を外部へ放出するためのものであり、熱抵抗の比較的小さい、すなわち、熱伝導率の比較的大きい、例えば金(Au)(熱伝導率は293W/mK程度)にて形成している。このものは、n層電極6とp層電極7とにそれぞれ電気的に独立させて設けており、後述する熱伝導部81を介してそれぞれの電極に接合されている。また、その大きさは、n層電極6と接合された放熱層8においては、平面視におけるn層電極6と略同じ大きさであり、p層電極7と接合された放熱層8においては、p型コンタクト層52と略同じ大きさである。
【0031】
熱伝導部81は、半導体発光素子1で発生した熱を放熱層8へ伝導させるものであり、放熱層8と同じく金(Au)にて形成している。このものは、半導体発光素子1の電極形成面側の露出面に設けられた、例えばシリコン酸化膜(SiO2)からなる発光する光に対して透明性を有する絶縁層82と各電極6,7とがそれぞれ当接する領域に形成された複数の貫通孔83の内方に形成している。これにより、放熱層8は、結果的に熱伝導部81及び絶縁層82を介して各電極6,7上に形成される。また、熱伝導部81の平面視における形状は略円形をしており、その厚さは2〜10μm程度であって絶縁層82の厚さと略同等としている。
【0032】
次に、その製造方法について説明する。なお、半導体発光素子1のn層電極6及びp層電極7までの製造方法は、公知技術を用いているので説明を省略する。
【0033】
まず、CVD法を用いてシリコン酸化膜(SiO2)からなる絶縁層82を形成した後、絶縁層82上に感光性樹脂を塗布して所定のパターンを転写し、n層電極6及びp層電極7上の貫通孔83となる位置のレジストを除去する。
【0034】
次いで、貫通孔83となる位置の絶縁層82をエッチングにより除去してn層電極6及びp層電極7の一部を露出させた後、蒸着を施して金(Au)を絶縁層82上に堆積させ、熱伝導部81及び放熱層8を形成する。
【0035】
そして、放熱層8を研磨してその表面を均一にした後、n層電極6の直上の放熱層8をn層電極6の大きさと略同等の大きさに分割してp層電極7上の放熱層8と電気的に絶縁することにより半導体発光素子1が完成する。
【0036】
以上説明した第1の実施形態の半導体発光素子1によると、n層電極6及びp層電極7の露出面と各半導体層3,4,5の露出面に絶縁層82を設け、また、発光する光に対して透明性を有するシリコン酸化膜(SiO2)からなる絶縁層82とn層電極6及びp層電極7との当接する領域に複数の貫通孔83を形成し、その内部に比較的熱伝導率の高い金(Au)からなる熱伝導部81と、その上部に熱伝導部81と一体形成された放熱層8とを有しているので、通電時に半導体発光素子1の内部で発生した熱を放熱層8へ熱伝導部81を介して効率よく移動させて放熱することができ、その結果、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率を向上することができる。
【0037】
なお、貫通孔83は、絶縁層82に複数形成したものに限定されるものではなく、n層電極6及びp層電極7と当接する領域であればその個数及び形状は適宜設計できるものである。例えば、図2に示すように、貫通孔83をn層電極6及びp層電極7と略同等の大きさに形成してもよく、この場合、半導体発光素子1から放熱層8への熱伝導の経路が大きくなり放熱効率が向上するため好ましい。
【0038】
また、熱伝導部81及び放熱層8は、金(Au)に限定されるものではなく、例えば、アルミニウム(Al)(熱伝導率は226W/mK程度)等の金属材料で形成してもよい。このアルミニウム(Al)は、半導体発光素子1で発光した光に対して95%程度の反射率があり、p層電極7で反射されずに透過してきた光をこの熱伝導部81或いは放熱層8で反射することができ、より光の取り出し効率を向上させることができるため好ましい。
【0039】
また、本実施形態では各半導体層3,4,5の平面視における形状を櫛歯状としているが、特にこの形状に限定されるものではない。
【0040】
[第2の実施形態]
第2の実施形態に係る半導体発光素子を図3に基づいて説明する。図3は半導体発光素子の断面図である。
【0041】
この実施形態の半導体発光素子は、放熱層9が第1の実施形態と異なるものであり、他の構成要素は第1の実施形態のものと実質的に同一であるので、同一部材には同一の番号を付して説明を省略する。
【0042】
本実施形態の放熱層9は、絶縁層82と当接した面とは反対側に位置する面に複数の凹凸部91を形成していることが第1の実施形態と異なっている。その凹凸部91は、例えば、前述した放熱層8の研磨時に形成している。その形状は、断面視においてのこぎり歯状となるように形成している。
【0043】
以上説明した本実施形態の半導体発光素子によると、放熱層9は、その絶縁層82に当接した面と反対側に位置する面に凹凸部91を有しているので、放熱層8の表面積が増加して通電時に半導体発光素子1の内部で発生した熱をより効率よく放熱することができる。その結果、発光効率の低下を抑制することができて光の取り出し効率をさらに向上することができる。
【0044】
【発明の効果】
本発明の半導体発光素子によれば、n層電極及びp層電極と熱的に接続された熱導電部と放熱層を有することにより、通電時に半導体発光素子の内部で発生した熱を効率よく移動させて発光素子外部へ放熱することができ、その結果、発光効率の低下を抑制して光の取り出し効率を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る半導体発光素子を示すものであり、(a)はその平面図、(b)はA−A線に沿って切断したときの断面図である。
【図2】同上の他の実施形態に係る半導体発光素子を示す断面図である。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る半導体発光素子を示す断面図である。
【図4】従来の半導体発光素子の全体概略平面図である。
【符号の説明】
1 半導体発光素子
2 基板
3 n型半導体層
4 活性層
5 p型半導体層
6 n層電極
7 p層電極
8 放熱層
81 熱伝導部
82 絶縁層
83 貫通孔
9 放熱層
91 凹凸部
Claims (3)
- 発光する光に対して透明性を有する基板と、前記基板の一方の面に少なくともn型とp型の窒化ガリウム系化合物半導体を有してなる半導体層と、前記p型半導体層に設けられてp型半導体層と電気的に導通してなるp層電極と、所定の領域の少なくとも前記p型半導体層の一部を除去して露出させたn型半導体層に設けられてn型半導体層と電気的に導通してなるn層電極と、を備え、
前記p層電極及び前記n層電極のうち、少なくともp層電極は、その露出面に貫通孔を有する絶縁層と、前記貫通孔に埋設された熱伝導部と、前記絶縁層に積層されて前記熱伝導部と固着するとともに熱的に接続された放熱層とを有することを特徴とする半導体発光素子。 - 前記絶縁層は、発光する光に対して透明性を有するとともに、前記熱伝導部及び前記放熱層は、その絶縁層と当接する界面の光の反射率が発光する光に対して85%以上である請求項1に記載の半導体発光素子。
- 前記放熱層は、その前記絶縁層に当接した面と反対側に位置する面に複数の凹凸部を有している請求項1又は2に記載の半導体発光素子。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007004701A1 (en) * | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor lihgt-emitting device |
JP2007013045A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Showa Denko Kk | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 |
JP2016012707A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司 | 光電部品及びその製造方法 |
JP2019145843A (ja) * | 2019-05-14 | 2019-08-29 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 光電部品 |
JP2021082837A (ja) * | 2021-02-24 | 2021-05-27 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 光電部品 |
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007004701A1 (en) * | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor lihgt-emitting device |
JP2007013045A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Showa Denko Kk | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 |
KR100967841B1 (ko) | 2005-07-04 | 2010-07-05 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 질화갈륨계 화합물 반도체 발광소자 |
US7759690B2 (en) | 2005-07-04 | 2010-07-20 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device |
JP2016012707A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司 | 光電部品及びその製造方法 |
JP2019145843A (ja) * | 2019-05-14 | 2019-08-29 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 光電部品 |
JP2021082837A (ja) * | 2021-02-24 | 2021-05-27 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation | 光電部品 |
JP7223046B2 (ja) | 2021-02-24 | 2023-02-15 | 晶元光電股▲ふん▼有限公司 | 光電部品 |
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