JP2004347516A - 測量システム - Google Patents
測量システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004347516A JP2004347516A JP2003146235A JP2003146235A JP2004347516A JP 2004347516 A JP2004347516 A JP 2004347516A JP 2003146235 A JP2003146235 A JP 2003146235A JP 2003146235 A JP2003146235 A JP 2003146235A JP 2004347516 A JP2004347516 A JP 2004347516A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- surveying
- point
- reference point
- coordinates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】デジタルスチルカメラが内蔵された測量機10において、測量対象物の画像を撮影する。撮影された画像上において4つの基準点を任意に選択し、各基準点の位置を測量する。手持ちカメラ20により測量対象物の画像を撮影する。内蔵カメラで撮影された画像データと基準点の測量データ、手持ちカメラで撮影された画像データを測量機10に転送する。内蔵カメラで撮影された画像上において基準点を中心とするテンプレート画像を抽出する。テンプレート画像に基づいて、手持ちカメラで撮影された画像の中から対応候補点を検出する。測量座標から求められる画像座標と対応候補点の画像座標のメリット関数を算出する。メリット関数が最小となる対応候補点の組を基準点に対する真の対応点とする。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、測量機を用いた測量システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
測量機を用いて測量を行う際に、測点を含む周囲の状況をカメラで撮影することがあり、撮影には例えば市販のデジタルカメラ等が用いられる。また、近年では測量機内にデジタルカメラを内蔵したものも提案されている(特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開平11−337336号公報(図1)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
測量現場をカメラで撮影し、画像データを測量データとともに利用する場合には、画像撮影時におけるカメラと測量機の間の位置関係を知る必要がしばしば発生する。カメラを内蔵した測量機では、カメラと測量機の位置関係が既知なので、カメラと測量機との位置関係を改めて求める必要はないが、測量機と別個独立の手持ちのカメラ(例えば市販のデジタルカメラ)を用いて撮影を行った場合には、各画像が撮影されたときのカメラの測量機に対する相対的な位置を算出する必要がある。
【0005】
本発明は、測量機とカメラとの間の位置関係を簡単かつ迅速に算出できる測量システムを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の測量システムは、測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機と、測量対象物に関する第1の画像を撮影し、測量機に対する外部評定要素が既知の第1の撮像手段と、測量対象物に関する第1の画像とは異なる第2の画像を撮影し、測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段と、第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を第2の画像から検出する対応候補点検出手段と、測量座標と対応候補点の画像座標とに基づいて、基準点に対応する第2の画像上の位置を特定する対応点特定手段とを備えたことを特徴としている。
【0007】
測量システムは、基準点に対応する第2の画像上の位置と、基準点の測量座標とに基づいて、第2の撮像手段の未知の外部評定要素を算出する外部評定要素算出手段を備えることが好ましい。
【0008】
また、第2の撮像手段として、市販のカメラを用いる場合には、測量システムは、第2の撮像手段の内部定位要素の一部又は全部が未知であり、基準点に対応する第2の画像上の位置と、基準点の測量座標とに基づいて、未知の内部定位要素を算出する内部定位要素算出手段を備えることが好ましい。
【0009】
簡便にかつ正確に基準点に対応する第2の画像上の位置を特定するには、対応点特定手段は、基準点に対応する対応候補点の各組み合わせに対応する各画像座標を基準点に対応する第2の画像上の位置としたときに基準点の測量座標を用いて得られるメリット関数を各組み合わせ毎に算出し、このメリット関数が最小値を取る組み合わせを基準点に対応する第2の画像上の位置であると特定することが好ましい。
【0010】
対応候点検出手段は例えば、第1の画像における基準点周りの画像パターンと類似する画像パターンを第2の画像から検出することにより、基準点に対応する対応候補点を第2の画像から検出する。また、この対応候補点検出手段において、例えば第1の画像における画像パターンと第2の画像における画像パターンとの間の相関を取ることにより2つの画像パターンの間における類似度が判定される。
【0011】
また、本発明の外部標定要素算出方法は、測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機に対する外部標定要素が既知の第1の撮像手段により撮影された測量対象物に関する第1の画像と、測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段により撮影された測量対象物に関する第1の画像とは異なる第2の画像とに基づいて、第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を第2の画像から検出するステップと、基準点の測量座標と対応候補点の画像座標とに基づいて、基準点に対応する第2の画像上の位置を特定するステップとを有したことを特徴としている。
【0012】
また本発明の外部標定要素算出プログラムは、コンピュータに、測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機に対する外部標定要素が既知の第1の撮像手段により撮影された測量対象物に関する第1の画像と、測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段により撮影された測量対象物に関する第1の画像とは異なる第2の画像とに基づいて、第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を第2の画像から検出する手順と、基準点の測量座標と対応候補点の画像座標とに基づいて、基準点に対応する第2の画像上の位置を特定する手順とを実行させることを特徴としている。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の第1実施形態である測量システムの概略を模式的に示す図である。
【0014】
第1実施形態の測量システムは、例えば測量機10、カメラ20、及びコンピュータ30から構成される。測量機10は例えばデジタルカメラが内蔵されたトータルステーションであり、カメラ20は例えば市販のデジタルスチルカメラである。測量機10では、被写体Sの複数の点が測量されるとともに、その画像が内蔵カメラで撮影される。測量された各測点の測量データと内蔵カメラで撮影された被写体Sの画像は、例えば図示しないインターフェースケーブルを介してコンピュータ30に転送される。
【0015】
一方、カメラ20は、測量機10とは別個独立に設けられたカメラであり、例えば作業者により携行され、被写体Sの測量機10とは異なる位置からの撮影に用いられる。また、コンピュータ30では、後述するように、カメラ20からの画像データと、測量機10からの測量データ・画像データとを用いて、カメラ20で画像が撮像された時のカメラ20の測量機10に対する相対的な位置及び向き(姿勢)が算出される。
【0016】
図2は、第1実施形態の測量システムの電気的及び光学的な構成を示すブロック図である。以下、図2を参照して第1実施形態の測量システムの電気的な構成について説明する。
【0017】
測量機10は、測点に視準するための視準望遠鏡17を備える。視準望遠鏡17は、高度角θpを測定するために視準望遠鏡を俯仰させる水平軸Lhと、水平角θhを測定するために視準望遠鏡を水平方向に回転させる鉛直軸Lpとを有し、これらの軸の周りに回動可能である。水平軸Lhと鉛直軸Lpとは点OS(以下視準原点OSと呼ぶ)において直交し、視準望遠鏡17の光軸(視準線)L0は視準原点OSを通る。対物レンズ系LS1の光軸L0は、例えばプリズムPS1において2分され、一方は接眼レンズ系LS2に導かれ他方は測距部11に導かれる。測距部11では視準された測点までの斜距離等が、例えば光波測距等により検出され、測角部12ではこのときの水平角θh、高度角θp等が検出される。
【0018】
測距部11及び測角部12はそれぞれシステムコンロール回路13に接続されており、システムコントロール回路13からの指令に基づき制御される。例えば測距部11はシステムコントロール回路13の指令に基づいて測距を行い、測定値をシステムコントロール回路13に送出する。一方、測角部12は常時水平角θh、高度角θp等を測定しておりシステムコントロール回路13からの要求に応じてその測定値をシステムコントロール回路13へ送出する。検出された斜距離、水平角、高度角等の測定値はシステムコントロール回路13において処理される。
【0019】
また、測量機10は撮像光学系LS3及びCCD等の撮像素子を備えた撮像部18を備え(内蔵カメラ)、撮像光学系LS3を介して視準方向の画像を撮像することができる。撮像部18において取得された画像データは、システムコントロール回路13に転送され、システムコントロール13内に設けられた図示しないメモリに記録される。なお、システムコントロール回路13には、この他にも、スイッチ群14、表示器15(例えばLCD)、インターフェース回路16等が接続される。
【0020】
インターフェース回路16には、インターフェースケーブルを介して例えばノート型パーソナルコンピュータ等のコンピュータ30が接続される。すなわち、測量機10はインターフェースケーブルを介してコンピュータ30等に測量データや画像データ等を送信できる。なお、インターフェース回路16は、データコレクタ(図示せず)等の周辺機器にも接続可能である。
【0021】
コンピュータ30は、CPU31を中心にハードディスク、DVD、MO、ICカード等の記録媒体32、マウス33やキーボード34等の入力装置や、LCD、CRT等の画像表示装置(モニタ)35、及びインターフェース回路36から概ねなる。インターフェース回路36は上述したように、インターフェースケーブルを介して測量機10のインターフェース回路16に接続され、測量機10との通信に用いられる。すなわち、測量機10からの測量データや画像データは、インターフェース回路36を介して入力される。また、インターフェース回路36は、例えばデジタルスチルカメラ20に接続可能である。すなわち、デジタルスチルカメラ20で撮影された画像は、デジタル画像データとしてコンピュータ30に伝送され、例えばインターフェース回路36を介して記録媒体32に記録される。
【0022】
次に図3〜図8を参照して第1実施形態における自動単写真評定処理について説明する。図3は、単写真標定処理の前提となる測量作業の手順を示すフローチャートであり、図4、図5は、図3の測量作業で得られた測量データ及び画像データに基づいてコンピュータ30で実行される自動単写真標定処理のプログラムのフローチャートである。図6は測量機10に内蔵されたデジタルスチルカメラで撮影された基準点を含む測量対象物の画像の一例であり、図7、図8は手持ちカメラ20で撮影された画像の一例である。なお、図7では、基準点に対応する対応候補点が示されており、図8では、対応候補点の中から最適な対応点が検出された状態が示されている。
【0023】
図3に示されるように、測量作業では、まずステップS100において、測量機10の内蔵カメラを用いて、測量対象物の画像が撮影され、その画像データがコンピュータ30に転送される。次にステップS101において、手持ちカメラ20を用いて、同一の測量対象物に対して撮影が行われ、その画像データがコンピュータ30に転送される。最後に、ステップS102において、測量機10を用いて、手持ちカメラ20で撮影された画像の標定(単写真標定)に用いられる基準点の測量が行われる。
【0024】
基準点は、測量機10の内蔵カメラ及び手持ちカメラ20において共通に撮影される任意の点であり、本実施形態では測量対象物の周りの4点、すなわち基準点P1〜基準点P4(図1参照)が選択される。測量された基準点P1〜P4の3次元的な位置を示す測量データは、インターフェースケーブルを介してコンピュータ30に転送される。以上により、コンピュータ30における単写真標定処理の前提となる測量作業は終了する。なお、本実施形態では、手持ちカメラの位置、傾き、画面距離(レンズ投影中心から像面までの距離)が未知であることを前提にしており、基準点の数は4点以上であればよい。また、全ての測量作業が終了した後で、測量機10やカメラ20をコンピュータ30に接続し、画像データや測量データを一括転送してもよい。
【0025】
コンピュータ30では、図4に示されるように、手持ちカメラ20からの画像データと、測量機10からの測量データ及び画像データとに基づいて自動単写真標定処理が実行される。
【0026】
ステップS200では、図3の測量作業における各ステップS100〜S102の操作に対応して測量機10からの測量データ及び画像データと、手持ちカメラ20からの画像データがインターフェース回路36を介して取り込まれ、記録媒体32に記録される。ステップS201では、単写真標定処理に必要な測量データ及び画像データが全て揃っているか否かが判定され、揃っていないと判定された場合には、ステップS200に戻り同様の処理を繰り返す。すなわち、測量機10及び手持ちカメラ20からのデータを受信するための処理が実行される。一方ステップS201において、全データが揃っていると判定された場合には、ステップS202に進む。
【0027】
ステップS202では、図6に示すように、4つの基準点P1〜P4に対応する点が測量機10の内蔵カメラで撮影された画像S1にマッピングされる。すなわち、測量機10の視準光学系と内蔵カメラとの間の関係は既知なので、各基準点P1〜P4の測量データ(測量座標)から、各基準点P1〜P4に対応する画像S1上の画素P1’〜P4’(画像座標)が算出されて対応付けられる。
【0028】
ステップS203では、内蔵カメラで撮影された画像S1から各基準点P1〜P4に対応するテンプレート画像T1〜T4が切り出される。テンプレート画像T1〜T4は、図6に示されるように、画像S1上の画素P1’〜P4’を中心とした所定の領域(例えば正方領域)の画像であり、次のステップS204〜ステップS207において実行される対応候補点検出処理において利用される。
【0029】
対応候補点検出処理は、手持ちカメラ20で撮影された画像S2の中からテンプレート画像T1〜T4に対応する可能性のある領域が例えば相関マッチングにより検出される。すなわち、対応候補点検出処理では、基準点P1〜P4の各々に対応する可能性がある複数の画素がそれぞれ対応候補点Qi,jとして画像S2において検出される。なお、対応候補点Qi,jの添え字i(i=1,2,3,4)は、各テンプレート画像T1〜T4(各基準点P1〜P4)のインデックスであり、添え字jはテンプレート画像Ti(基準点Pi)に対して検出された複数の対応候補点の各々を識別するためのインデックスである。すなわち、テンプレート画像Ti(T1、T2、T3、T4)に対応して画像S2からNi(N1、N2、N3、N4)個の対応候補点が検出されるとすると、1≦j≦Niである。なお、以下において、テンプレート画像Ti(基準点Pi)に対応する対応候補点Qi,jを含む集合を対応候補点群Qiで表わす。
【0030】
図7では、一例として、基準点P1に対応する3つの対応候補点Q1,1、Q1,2、Q1,3、基準点P2に対応する1つの対応候補点Q2,1、基準点P3に対応する3つの対応候補点Q3,1、Q3,2、Q3,3、基準点P4に対応する1つの対応候補点Q4,1が示されている。すなわち、図7の例では、N1=3、N2=1、N3=3、N4=1である。
【0031】
まず、ステップS204では、パラメータiの初期化が行われi=1に設定される。ステップS205では、テンプレート画像Tiと手持ちカメラ20の画像S2の間で相関マッチング処理(後述)が行われ、テンプレート画像Ti、すなわち基準点Pi、に対応する可能性がある複数の対応候補点Qi,jが検出される。
【0032】
次にパラメータiは、ステップS206において1インクリメントされ、ステップS207ではi>4であるか否かが判定される。すなわち、本実施形態では、基準点として4つの点を用いているので、パラメータiがその最大値4を越えたか否かが判定される。iが4を越えていない場合には、ステップS205に戻り、1インクリメントされたiに対して同様に対応候補点検出処理が行われる。一方、ステップS207においてi>4であると判定されると、ステップS208〜S213において対応点特定処理が行われる。
【0033】
ステップS208〜S213では、対応候補点群Qiの各々から1点ずつ合計4点選択した組み合わせの中から最適な組み合わせが求められる。まずステップS208では、パラメータkの初期化が行われ、k=1とされる。パラメータkは、対応候補点群Q1、Q2、Q3、Q4からそれぞれ1点ずつ選択された合計4点の組み合わせの全てに対して付された通し番号(インデックス)であり、その最大値はN1×N2×N3×N4(ΠNi)である。
【0034】
ステップS209では、パラメータkに対応する組み合わせに基づいて、各対応候補点群Qiの中からそれぞれ対応候補点が1点ずつ選択される。ステップS210では、後述するように、選択された4つの対応候補点の画像S2上の画像座標と4つの基準点Piの測量座標からメリット関数Φkが算出される。
【0035】
ステップS211では、パラメータkの値が1インクリメントされ、ステップS212では、パラメータkの値が、その最大値N1×N2×N3×N4を越えたか否かが判定される。パラメータkの値が最大値N1×N2×N3×N4以下であれば、ステップS209に戻り、更新されたパラメータkに対応する対応候補点の組み合わせに対して同様の処理が繰り返され、メリット関数Φkが求められる。またステップS212においてパラメータkの値が最大値N1×N2×N3×N4よりも大きいと判定された場合には、既に全ての組み合わせに対してメリット関数Φkが算出されているのでステップS213に進む。
【0036】
ステップS213では、ステップS210で算出されたメリット関数Φk(1≦k≦N1×N2×N3×N4)のうち最小のΦkに対応する対応候補点Qi,jの組み合わせが基準点Piに対する対応点とされ、そのときの画像S2の位置及び傾きを表わす外部標定要素や手持ちカメラ20における画面距離(レンズ投影中心から像面S2までの距離)fとともに、例えば記録媒体32に保存される。なお、図8では、対応候補点の組み合わせQ1,3、Q2,1、Q3,3、Q4,1が、基準点P1〜P4に対応する点として特定されている。以上により本実施形態の自動単写真標定処理は終了する。
【0037】
次に図9、図10を参照して、図4のステップS204〜ステップS207の対応候補点検出処理において実行される相関マッチング処理について説明する。
【0038】
図9は、テンプレート画像Tiの一例を示すものである。テンプレート画像Ti内の各画素の位置は、順序対(a,b)で表わされ、テンプレート画像Tiの中心に位置する基準点Piに対応する画素Pi’は(u,v)で表わされる。すなわち、画素Pi’の左斜め上に隣接する画素は(u−1,v−1)であり、右斜め下に隣接する画素は(u+1,v+1)で表わされる。テンプレート画像Tiは、例えば画素Pi’(u,v)を中心とした縦(2m+1)画素、横(2n+1)画素の矩形領域である。なお、図9では、便宜上m=2、n=3として表わされているが、m、nの値は任意であり、例えば16である。
【0039】
相関マッチング処理では、図10に示されるように、テンプレート画像Tiと同形かつ同じ大きさの矩形領域Ti’が、手持ちカメラ20で撮影された画像S2から比較領域として切り出され、テンプレート画像Tiと比較領域Ti’との間で相関が取られる。テンプレート画像Tiと相関がとられる比較領域Ti’は、例えば画像S2の左上隅から水平方向に走査されるとともに下向きに副走査されて右下隅にまで至る。すなわち、画素Pi’(u,v)は、画像S2の左上隅から(m,n)の位置にある画素と右隅から(−m,−n)の位置にある画素を対角画素とした破線S2’で囲まれる矩形領域の全ての画素(m1,m2)と比較される。ここで、画像S2の縦横の画素数をM1、M2とすると、m+1≦m1≦(M1−m−1)、n+1≦m2≦(M2−n−1)である。
【0040】
例えば、本実施形態では、以下の式を用いてテンプレート画像Tiと画素(m1,m2)を中心とする比較領域Ti’との相関値S(m1,m2)が計算される。
【数1】
【数2】
【数3】
【数4】
【数5】
ここでI(a,b)はテンプレート画像Tiの画素(a,b)の画素値であり、I’(a,b)は画素(m1,m2)を中心とする比較領域Ti’における画素(a,b)に対応する画素の画素値である。また、上線が冠せられたIは、テンプレート画像Tiにおける画素値の平均値であり、上線が冠せられたI’(m1,m2)は、画素(m1,m2)を中心とする比較領域Ti’における画素値の平均値である。また、σはテンプレート画像Tiにおける画素値の標準偏差であり、σ’(m1,m2)は、画素(m1,m2)を中心とする比較領域Ti’における画素値の標準偏差である。
【0041】
相関値S(m1,m2)は、−1≦S(m1,m2)≦1の範囲の値をとり、相関値S(m1,m2)の値が1に近いほど、テンプレート画像Tiと画素(m1、m2)を中心とする比較領域Ti’の類似度が高い。したがって、本実施形態では、相関値S(m1,m2)の値が所定値(例えば0.8)よりも大きい画素(m1,m2)を基準点Pi(画素Pi’)に対応する対応候補点とする。
【0042】
なお、本実施形態では、類似度の評価に上記相関マッチングを用いたが、類似度の評価に平均値や分散の差を用いたり、エッジ等の特徴点を抽出する方法と組み合わせてもよく、従来公知の様々な類似度評価のための手法が適用できることは言うまでもない。
【0043】
次に図5のステップS208〜ステップS212における対応点特定処理の中心となるステップS210での処理について説明する。ステップS210では空間後方交会法の原理に基づいて処理が行なわれる。図11、12を参照してステップS210の処理について説明する。
【0044】
図11は、4つの基準点P1、P2、P3、P4とこれらの撮像面S2における像点R1、R2、R3、R4との関係を模式的に示す図である。図11に示されるように、測量座標系の原点は、例えば視準原点OSに置かれる。手持ちカメラの位置及び傾き(外部標定要素)は、手持ちカメラ20に固定された手持ちカメラ座標系の原点Oの測量座標系における位置(XO,YO,ZO)と、撮影時の手持ちカメラ座標系のx軸、y軸、z軸回りの回転角(ω,φ,κ)として求められる。なお手持ちカメラ座標系は、レンズ中心(投影中心)Oを原点とした左手座標系であり、そのy軸、z軸はスクリーン座標系(撮像面S2上の2次元座標系)のs’軸、t’軸と平行であり、x軸は撮像面S2に垂直で、投影中心から像面とは反対の方向に向けて定義される。すなわち手持ちカメラ20の撮像レンズの画面距離をfとするとき、手持ちカメラ座標系において、撮像面S2上の点は(−f,y,z)で表される。なお、スクリーン座標系は、主点を原点とした撮像面上の2次元座標系であり、s’軸は手持ちカメラ20の撮像素子の水平ライン方向に、t’軸は垂直ライン方向に対応する。
【0045】
図12は、手持ちカメラ20の位置および傾きを表す外部標定要素(XO,YO,ZO,ω,φ,κ)と画面距離fを、空間後方交会法を用いて算出するプログラムのフローチャートであり、その算出には最小二乗法を用いた逐次近似法が用いられる。なお本実施形態では、基準点の数は4つ以上であればいくつあってもよいが、ここでは基準点が4点指定された場合を例に説明を行なう。
【0046】
まず、ステップS301では、カメラの位置および傾きを表す外部標定要素(XO,YO,ZO,ω,φ,κ)に対して近似値として適当な初期値(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)、が与えられ、画面距離fに対しても同様に近似値として適当な初期値fGが与えられる。また、後述するメリット関数Φには初期値0が与えられる。
【0047】
次にステップS302で、与えられた外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)と画面距離fGを用いて、測量機10において測定された4つの基準点Piの測量データ、すなわち測量座標(Xpi,Ypi,Zpi)から各基準点P1〜P4に対応する像点R1〜R4の近似的な画像S2上における画像座標(xpGi’,ypGi’)が算出される。
【0048】
すなわち、基準点Piの手持ちカメラ座標系における座標(xpi,ypi,zpi)は、測量座標系において測定された各基準点Piの測量座標(Xpi,Ypi,Zpi)から次の(1)式により求まるので、近似的な外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)、画面距離fGおよび基準点Piの測量座標(Xpi,Ypi,Zpi)を(1)式に代入すると、基準点Piの近似的な手持ちカメラ座標(xpGi,ypGi,zpGi)を求めることができる。
【数6】
ここで行列{Tjk}は回転行列であり、各成分Tjkは例えば次式で表される。
T11=cosφ・cosκ
T12=cosω・sinκ+sinω・sinφ・cosκ
T13=sinω・sinκ−cosω・sinφ・cosκ
T21=−cosφ・sinκ
T22=cosω・cosκ−sinω・sinφ・sinκ
T23=sinω・cosκ+cosω・sinφ・sinκ
T31=sinφ
T32=−sinω・cosφ
T33=cosω・cosφ
【0049】
また基準点P1〜P4に対応する画像S2上における真の像点のスクリーン座標(spi’,tpi’)は、撮影された基準点、投影中心、およびその像点が同一直線上にあるという共線条件から外部標定要素(XO,YO,ZO,ω,φ,κ)、画面距離fおよび基準点Piの手持ちカメラ座標(xpi,ypi,zpi)を用いて次の(2)式により求められる。
【数7】
したがって、(2)式に近似的な外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)、画面距離fG、及び(1)式で求められた基準点Piの近似的な手持ちカメラ座標(xpGi,ypGi,zpGi)を代入することにより、基準点Piに対応する像点の近似的なスクリーン座標(spGi’,tpGi’)を算出することができる。
【0050】
また、像点Ri(i=1,2,3,4)の近似的な画像座標(xpGi’,ypGi’)は近似的なスクリーン座標(spGi’,tpGi’)を次の(3)式に代入することにより求められる。
【数8】
ここで、Px、PyはそれぞれCCDの水平、垂直方向の画素ピッチであり、W、Hはそれぞれ画像の水平、垂直方向のピクセル数である。
【0051】
ステップS303では、近似的に与えられた外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)と画面距離fGの値に対して、k番目の対応候補点の組み合わせに関し、メリット関数Φkが計算される。メリット関数Φkは、例えば(4)式で定義される。
【数9】
ここで画像座標(xpik’,ypik’)は、k番目の対応候補点の組み合わせにおいて各対応候補点群Q1、Q2、Q3、Q4から選ばれる対応候補点Qi,jの画像座標である。すなわち、画像座標(xpik’,ypik’)は、k番目の対応候補点の組み合わせにおいて、像点Pi’に対応する点として、対応候補点検出処理(ステップS204〜ステップS207)において画像S2から選択された対応候補点Qi,jの画像座標である。対応候補点Qi,jが実際に像点Pi’に対応していれば、画像座標(xpik’,ypik’)は、基準点Piの画像S2における像点Riに実質的に一致する。
【0052】
なお、式(4)から明らかなように、本実施形態のメリット関数Φkは基準点Piの対応候補点Qi,jの画像座標(xpik’,ypik’)、測量により求められた基準点Piの測量座標(Xpi,Ypi,Zpi)と近似的に与えられた外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)と画面距離fGとから求められた像点Riの近似的な画像座標(xpGi’,ypGi’)との間の距離の2乗に対応している。
【0053】
ステップS304では、ステップS302〜ステップS306の繰り返し処理において、メリット関数Φkが前回の値に対して変化しているか否かが判定される。例えば前回の処理におけるメリット関数の値がΦk 0であり、今回の処理での値がΦk 1であるとするとき、|Φk 1−Φk 0|の値が所定値以上であるか否かが判定される。
【0054】
|Φk 1−Φk 0|≧所定値であると判定された場合には、ステップS305において、近似的に与えられた外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)と画面距離fGに対する補正量(δX,δY,δZ,δω,δφ,δκ)、δfが例えば最小二乗法により求められる。すなわち共線条件を近似値であるXGO、YGO、ZGO、ωG、φG、κG、fGの周りにテイラー展開し高次の項を省いて線形化し、補正量δX、δY、δZ、δω、δφ、δκ、δfを未知量とする正規方程式を作成することにより適正な補正量δX、δY、δZ、δω、δφ、δκ、δfが求められる。また、ステップS306では、算出された補正量δX、δY、δZ、δω、δφ、δκ、δfに基づいて近似値である外部標定要素(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)と画面距離fGの値が更新される。すなわち、(XGO,YGO,ZGO,ωG,φG,κG)の各値は、それぞれ(XGO+δX,YGO+δY,ZGO+δZ,ωG+δω,φG+δφ,κG+δκ)に置き換えられ、画面距離fGの値はfG+δfに更新される。その後処理はステップS302へ戻り、ステップS304において|Φj 1−Φj 0|<所定値と判定されるまで、ステップS302〜ステップS206が繰り返し実行される。ステップS306において|Φj 1−Φj 0|<所定値と判定されると、このステップS210に対応する処理は終了しステップS211に戻る。
【0055】
以上のステップS210に対応する処理は、N1×N2×N3×N4組の全ての対応候補点の組み合わせに対して実行されるが、対応候補点の組み合わせの中で正しい組み合わせは1組しかなく、このときメリット関数Φkは最小(実質的に0)の値を取る。
【0056】
なお、以上の説明は、ディストーション等の内部定位が無い(無視できる量)場合、または概観画像が既に補正されたものの場合に対応する。補正していない概観画像を既知の内部定位量を用いて補正する場合は、(2)式で求められたスクリーン座標(spGi’,tpGi’)を次の(5)式によりディストーション補正したスクリーン座標(scpGi’,tcpGi’)に変換する。
【数10】
ここで、D2、D4、D6はそれぞれディストーション2次成分、4次成分、6次成分であり、N1、N2はディストーション非対称成分、XC、YCは主点の画像中心からのs’軸方向、t’軸方向への偏心量である。また、画像座標(xpGi’,ypGi’)は、次の(6)式から求められる。
【数11】
【0057】
以上により、本発明の第1の実施形態によれば、測量機との位置関係が既知である測量機の内蔵カメラで撮影された画像と手持ちカメラで撮影された画像を比較することにより、手持ちカメラで撮影された画像上において、内蔵カメラにおいて撮影された基準点に対応する点を対応候補点として検出し、これらの候補点に対し測量された基準点の測量値に基づいてメリット関数を計算することにより、簡便、迅速に手持ちカメラで撮影された画像における基準点の位置を自動検出することができる。また、これにより、手持ちカメラの外部標定を自動的に実行することができる。したがって、手持ちカメラで多数の画像を撮影した場合であっても、個々の画像毎に複数の基準点に対応する複数の点をユーザが指定する必要がなく、測量後の作業を極めて効率的に行うことができる。
【0058】
次に図13を参照して本発明の第2の実施形態について説明する。図13は、第2の実施形態における測量システムの電気的な構成及び光学的な構成を示すブロック図である。第2の実施形態の測量システムでは、撮像部18’が視準光学系と光学的に等価な位置に配置されており、それ以外の構成は第1の実施形態と略同様である。したがって、第1の実施形態と異なる構成についてのみ説明をし、その他の構成については説明を省略する。また、同一の構成については、同一参照符号を用いる。
【0059】
第2の実施形態の測量システムにおいては、光軸L0上に光路を二分する光学素子、例えばプリズムPS2が配置される。プリズムPS2において分岐された光路の一方は、プリズムPS1へと導かれる。プリズムPS1では、第1の実施形態と同様に光路が二分され、その一方は接眼レンズ系LS2に導かれ他方は測距部11に導かれる。また、プリズムPS2において分岐された光路の他方は、撮像部18’に導かれる。したがって、撮像部18’では、視準光学系により観察される画像と略同様の画像が撮像され、撮像部18’により撮像される画像S1は、視準光学系と実質的に光学的に等価な位置に配置される。すなわち、画像S1上の各画素の位置と視準光学系の視準方向とは、直接対応付けられる。
【0060】
また、第2の実施形態では、4つの基準点Piが自動的に選択される。すなわち、第1の実施形態においては、図3のステップS102において、操作者が画像S1から任意の4点を基準点Piとして選択したが、第2の実施形態では、エッジ抽出処理などの従来公知のパターン解析を用いて、画像S1から特徴点を例えば4点抽出し、これを基準点Piとする。そしてこれらの基準点Piに対して、視準光学系が自動視準を行ない、各基準点Piの測量が行われる。
【0061】
その後、第1の実施形態と同様に、図4のステップS200以下の処理が行われる。但し、第2の実施形態では、基準点Piは、直接画像S1から抽出されているので、図4におけるステップS202のマッピング処理は省略される。
【0062】
以上のように、第2の実施形態においても、第1の実施形態と略同様の効果が得られる。また、第2の実施形態では、基準点の抽出及び測量を自動で行なうことができるので、測量作業はより効率化される。
【0063】
なお、本実施携帯では、手持ちカメラの画面距離が未知であるとして、基準点を4点指定したが、例えば手持ちカメラの画面距離fが既知の場合、基準点の数は3点であってもよい。また、手持ちカメラの内部定位要素も補正する場合には、更に多くの基準点を指定することにより補正することができる。
【0064】
本実施形態では、測量機にデジタルスチルカメラが内蔵されているものとして説明を行なったが、測量機との位置関係が既知のカメラを内蔵カメラの変わりに用いても良い。また、本実施形態では、手持ちカメラの測量機に対する位置及び傾きが未知であるとして説明を行なったが、位置又は傾きなど一定のパラメータが既知の場合にも本発明を適用できることは言うまでもない。この場合、基準点の数は更に少なくすることができる。
【0065】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、測量機とカメラとの間の位置関係を簡単かつ迅速に算出できる測量システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態である測量システムの概略を模式的に示す図である。
【図2】第1の実施形態である測量システムの電気的、光学的構成を概略的に示すブロック図である。
【図3】単写真標定処理の前提となる測量作業の手順を示すフローチャートである。
【図4】図3の測量作業で得られた測量データ及び画像データに基づいてコンピュータで実行される自動単写真標定処理のプログラムのフローチャートの前半部である。
【図5】図4の自動単写真標定処理のプログラムのフローチャートの後半部である。
【図6】測量機に内蔵されたデジタルスチルカメラで撮影された基準点を含む測量対象物の画像の一例である。
【図7】手持ちカメラで撮影された画像の一例であり、基準点に対応する対応候補点が示されている。
【図8】手持ちカメラで撮影された画像の一例であり、対応候補点の中から最適な対応点が検出された状態が示されている。
【図9】テンプレート画像の一例を示すものである。
【図10】本実施形態で用いられる相関マッチング処理における走査を概念的に示す図である。
【図11】4つの基準点P1、P2、P3、P4と撮像面S2における像点R1、R2、R3、R4との関係を模式的に示す図である。
【図12】手持ちカメラの位置および傾きを表す外部標定要素(XO,YO,ZO,ω,φ,κ)と画面距離fを、空間後方交会法を用いて算出するプログラムのフローチャートである。
【図13】第2の実施形態である測量システムの電気的、光学的構成を概略的に示すブロック図である。
【符号の説明】
10 測量機
11 測距部
12 測角部
18 撮像部
20 デジタルスチルカメラ(手持ちカメラ)
30 コンピュータ
Claims (8)
- 測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機と、
前記測量対象物に関する第1の画像を撮影し、前記測量機に対する外部評定要素が既知の第1の撮像手段と、
前記測量対象物に関する前記第1の画像とは異なる第2の画像を撮影し、前記測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段と、
前記第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を前記第2の画像から検出する対応候補点検出手段と、
前記測量座標と前記対応候補点の画像座標とに基づいて、前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置を特定する対応点特定手段と
を備えることを特徴とする測量システム。 - 前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置と、前記基準点の測量座標とに基づいて、前記第2の撮像手段の未知の外部評定要素を算出する外部評定要素算出手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の測量システム。
- 前記第2の撮像手段の内部定位要素の一部又は全部が未知であり、前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置と、前記基準点の測量座標とに基づいて、前記未知の内部定位要素を算出する内部定位要素算出手段を備えることを特徴とする請求項2に記載の測量システム。
- 前記対応点特定手段が、前記基準点に対応する前記対応候補点の各組み合わせに対応する各画像座標を前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置としたときに前記基準点の測量座標を用いて得られるメリット関数を前記各組み合わせ毎に算出し、前記メリット関数が最小値を取る組み合わせを前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置であると特定することを特徴とする請求項1に記載の測量システム。
- 前記対応候点検出手段が、前記第1の画像における前記基準点周りの画像パターンと類似する画像パターンを前記第2の画像から検出することにより、前記基準点に対応する対応候補点を前記第2の画像から検出することを特徴とする請求項1に記載の測量システム。
- 前記対応候補点検出手段において、前記第1の画像における画像パターンと前記第2の画像における画像パターンとの間の相関を取ることにより前記2つの画像パターンの間における類似度が判定されることを特徴とする請求項5に記載の測量システム。
- 測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機に対する外部標定要素が既知の第1の撮像手段により撮影された前記測量対象物に関する第1の画像と、前記測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段により撮影された前記測量対象物に関する前記第1の画像とは異なる第2の画像とに基づいて、前記第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を前記第2の画像から検出するステップと、
前記基準点の測量座標と前記対応候補点の画像座標とに基づいて、前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置を特定するステップと
を有することを特徴とする外部標定要素算出方法。 - コンピュータに、測量対象物の3次元的な測量座標を測量可能な測量機に対する外部標定要素が既知の第1の撮像手段により撮影された前記測量対象物に関する第1の画像と、前記測量機に対する外部評定要素の一部又は全部が未知である第2の撮像手段により撮影された前記測量対象物に関する前記第1の画像とは異なる第2の画像とに基づいて、前記第1の画像に撮像された基準点に対応する候補点を前記第2の画像から検出する手順と、前記基準点の測量座標と前記対応候補点の画像座標とに基づいて、前記基準点に対応する前記第2の画像上の位置を特定する手順とを実行させる外部標定要素算出プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003146235A JP2004347516A (ja) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | 測量システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003146235A JP2004347516A (ja) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | 測量システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004347516A true JP2004347516A (ja) | 2004-12-09 |
Family
ID=33533153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003146235A Withdrawn JP2004347516A (ja) | 2003-05-23 | 2003-05-23 | 測量システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004347516A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011123008A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nexco-East Engineering Co Ltd | 計測方法および計測プログラムならびに計測装置 |
EP2056066A3 (en) * | 2007-11-01 | 2012-01-25 | Kabushiki Kaisha Topcon | Surveying Instrument |
CN103827630A (zh) * | 2011-09-15 | 2014-05-28 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | 用于对象信息的过滤显示的测量设备和方法 |
-
2003
- 2003-05-23 JP JP2003146235A patent/JP2004347516A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2056066A3 (en) * | 2007-11-01 | 2012-01-25 | Kabushiki Kaisha Topcon | Surveying Instrument |
JP2011123008A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nexco-East Engineering Co Ltd | 計測方法および計測プログラムならびに計測装置 |
CN103827630A (zh) * | 2011-09-15 | 2014-05-28 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | 用于对象信息的过滤显示的测量设备和方法 |
US9497383B2 (en) | 2011-09-15 | 2016-11-15 | Leica Geosystems Ag | Surveying device and method for filtered display of object information |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5538667B2 (ja) | 位置姿勢計測装置及びその制御方法 | |
US7218384B2 (en) | Surveying system | |
JP2009150848A (ja) | 画像処理装置 | |
JP2005327103A (ja) | 指標配置情報推定方法および情報処理装置 | |
JP2005326274A (ja) | 配置情報推定方法および情報処理装置 | |
JP2008058264A (ja) | 実河川を対象とした流速観測装置、流速観測方法,および流速観測プログラム | |
US20060008268A1 (en) | Three-dimensional image processing apparatus, optical axis adjusting method, and optical axis adjustment supporting method | |
JP2010287074A (ja) | カメラ校正装置、カメラ校正方法、カメラ校正プログラムおよびプログラムを記録した記録媒体 | |
US7075634B2 (en) | Surveying system | |
JP2017090420A (ja) | 3次元情報復元装置及び3次元情報復元方法 | |
JP4764896B2 (ja) | カメラ校正装置、カメラ校正方法、カメラ校正プログラムおよびそのプログラムを記録した記録媒体 | |
JP2000205821A (ja) | 三次元形状計測装置及びその三次元形状計測方法 | |
JP4359084B2 (ja) | 測量システム | |
JP4550081B2 (ja) | 画像測定方法 | |
JP2004347516A (ja) | 測量システム | |
JP2006317418A (ja) | 画像計測装置、画像計測方法、計測処理プログラム及び記録媒体 | |
JP4359083B2 (ja) | 測量システム | |
JP4846304B2 (ja) | カメラ姿勢把握方法及びこれを用いた写真測量方法、これらのプログラム | |
JP7044331B2 (ja) | 橋梁などの構造物を効率的に検査するための画像処理システム、画像処理方法及びプログラム | |
JP4167509B2 (ja) | 測量システム | |
JP4217083B2 (ja) | 測量システム | |
JP4565898B2 (ja) | 傾き補正機能を備える3次元物体測量装置 | |
JP4993686B2 (ja) | 対応点探索方法および3次元位置計測方法 | |
JP2004361330A (ja) | 測量システム | |
JP4276900B2 (ja) | 自動測量システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060410 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20080425 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20080821 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081014 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Effective date: 20081209 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 |