JP2004337744A - Stage apparatus and apparatus and method for applying paste by using the same - Google Patents

Stage apparatus and apparatus and method for applying paste by using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2004337744A
JP2004337744A JP2003138038A JP2003138038A JP2004337744A JP 2004337744 A JP2004337744 A JP 2004337744A JP 2003138038 A JP2003138038 A JP 2003138038A JP 2003138038 A JP2003138038 A JP 2003138038A JP 2004337744 A JP2004337744 A JP 2004337744A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
receiving surface
arm
paste
space
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003138038A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004337744A5 (en
JP4342210B2 (en
Inventor
Junichi Kojima
純一 小嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2003138038A priority Critical patent/JP4342210B2/en
Publication of JP2004337744A publication Critical patent/JP2004337744A/en
Publication of JP2004337744A5 publication Critical patent/JP2004337744A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4342210B2 publication Critical patent/JP4342210B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stage apparatus by which a liquid crystal substrate can be prevented from being warped by its own weight or its own warp can be corrected in a paste applying apparatus to be adopted when the liquid crystal substrate is assembled. <P>SOLUTION: This stage apparatus has a receiving surface 4A3 on which the substrate 2 to be held and carried in on a conveying arm 3 is placed and an approach space 4A2 which is formed below the surface 4A3 and into which a substrate holding part of the arm 3 for holding the substrate 2 can go. A movable supporting pin 10 is arranged in the space 4A2 so that the pin 10 is located at the position that the pin 10 is retreated from the approach route of the substrate holding part when the substrate holding part of the arm 3 goes into the space 4A2 and located at the height almost similar to that of the surface 4A3 to support the substrate 2 from below when the substrate holding part is retreated from the space 4A2. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ガラス基板等の基板を載置するステージ装置、それを用いたペースト塗布装置、及びペースト塗布方法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示パネル等の製造過程では、液晶を挟む2枚のガラス基板が貼り合わされるが、その貼り合わせを行うために、少なくとも一方のガラス基板の貼り合わせ面に、シール剤等のペーストが塗布される。
【0003】
図4は、従来のペースト塗布装置の構成配置図、図5は、図4に示すペースト塗布装置の斜視図、図6は、図5に示すペースト塗布装置のステージ装置と搬送アームの概略斜視図を示している。
【0004】
すなわち、図4に示すように、供給台1上に順次搬送供給されてくる基板2は、搬送アーム3にてペースト塗布面の反対側を吸着保持され、4台のペースト塗布装置41〜44の各ステージ4A上にペースト塗布面を上にして順次搬送供給される。このように搬送するのは、基板のペースト塗布面を吸着することにより塵等が付着して製品不良が発生するのを防ぐためである。
【0005】
搬送アーム3は、供給台1上から基板2を受け取り、搬送ラインである図示矢印X方向に搬送しつつ、その搬送ラインに向けて2台ずつ対向配置されたペースト塗布装置41〜44に供給する。
【0006】
このように、4台のペースト塗布装置41〜44が、搬送ラインに向けて配列されるのは、他の工程との間に整合性を有するスループットタイムが要求されるからであり、比較的多くの操作時間を要するペースト塗布装置を複数台、並設稼働させることにより、ペースト塗布工程におけるスループットタイムを上げ、組立て製造全体の生産性を高めるためである。
【0007】
なお、図4では、1台のペースト塗布装置41のみの要部構成を示し、他の3台のペースト塗布装置42〜44も同じ構成からなるので、要部構成を省略して示している。
【0008】
図6に示すように、ステージ4Aには複数の吸着盤4A1が設けられており、配管8Bを介して空圧制御部6に接続されていて基板2を同時に真空吸着することが可能である。また、ステージ4Aには、搬送アーム3のアーム7に対応するように図5中の矢印Y方向に所定の間隔をあけて、複数の凹部4A2が形成されている。なお、アーム7には、吸着盤7Aが設けられ、配管8Aを介し空圧制御部6へ接続される。
【0009】
また、ステージ4Aは、X−Y−θ移動機構4Bのθ(旋回)軸に固定され、そのθ軸はY軸4B1に固定されて、そのY軸はX軸4B2に固定されて、X−Y−θ移動機構4B全体は、テーブル(架台)4C上に設置される。
【0010】
ステージ4Aは、基板2の受け渡し時は搬送アーム3近くに前進移動した受け渡し位置に、基板2のペースト塗布作業時には搬送アーム3から離れるように後退した塗布作業位置にそれぞれ移動する。
【0011】
ペースト塗布作業開始に先立ち、ステージ4Aに吸着保持された基板2は、塗布ヘッド(ヘッド機構)4Dとの間で位置合わせが行われるが、基板2自体も搬送アーム3からの受け渡しにより、ステージ4A上においてX−Y−θ方向に位置ずれを生じていることが多い。従って、図4に示したように、ヘッド機構4Dの2個のシリンジ4D1,4D2に対応して取り付けられたCCDカメラ4D3,4D4、あるいは別途設けられた認識カメラ等により、基板2のアライメントマークが撮影され、その映像パターンに基づく補正制御により予め位置ずれ補正が行われる。
【0012】
また、ヘッド機構4Dの2個一組のシリンジ4D1,4D2は、ペースト塗布作業開始に先立ち、各シリンジ4D1,4D2間の間隔が、基板2における矢印X方向の複数の塗布パターン間隔(ピッチ)に一致するように個々に矢印X方向に移動調整されて、位置決め固定される。
【0013】
すなわち、制御器4Eのプログラム制御により、基板2面にペーストパターンが形成されるが、シリンジ4D1,4D2の間隔は、多面取りの基板(1枚に同一品種の基板(子基板)を複数形成した基板)2に配列された複数枚の各子基板のX方向の配列ピッチに対応する。
【0014】
なお、図4及び図5に示したように、制御器4Eには、モニタディスプレイ4F及びキ−ボ−ド4Gが接続されていて、作業員は、キーボート4Gの操作により、基板2へのペースト塗布作業を調整操作することができる。
【0015】
ペースト塗布によりペーストパターンが形成された基板2は、搬送アーム3への受け渡し位置に向けて前進移動して搬送アーム3に引き渡され、受け取った搬送アーム3は、基板2を次工程へと引き渡すべく、図4に示した搬出台5に供給する。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、パソコンやテレビ等の表示装置としては、薄型化を可能とする液晶ディスプレイやプラズマディスプレイが多く採用されるようになってきて、同時にこれらのディスプレイは、大画面化が要求されるようになってきた。また、ディスプレイの生産性を上げるため、1枚の基板からより多くの枚数のディスプレイがとれるように基板の大型化が進んでおり、この観点からも基板は大型化する傾向にある。他方、ディスプレイの軽量化の要求から基板の板厚は薄型化する傾向にある。しかしながら、このように基板が大型化かつ薄型化すると、上述したような従来のステージ装置には、以下のような問題が存在する。
【0017】
すなわち、薄型化した基板2は剛性が低く、そのため凹部4A2に対応する部分に、図7に示すように自重による撓みを生じる。
【0018】
一方で、上述のペースト塗布装置41〜44では、基板2上に塗布されるペーストの塗布量を一定に保つために、ペーストを塗布する際に、ヘッド機構が有するノズルと一体で移動する距離センサにて基板2面の高さを設定された時間間隔で測定し、その測定値に基づいてノズルの高さをフィードバック制御して、ノズルと基板2との間隔を一定に維持している。
【0019】
しかしながら、ノズルが上述の撓み部分を横切るように通過した時には、基板2面の高さの変化に対するノズルの高さフィードバック制御が間に合わずに、ノズルと基板2との間隔が増大してしまい、その結果、塗布精度の悪化を招いてしまう。
【0020】
そこで、本発明は、基板の自重による撓みを防止できるステージ装置、そして高精度な塗布パターンを形成し得るペースト塗布装置、及びペースト塗布方法を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明によるステージ装置は、搬送アーム上に保持され搬入される基板を載置する受け面と、この受け面の高さ位置より下方に形成され前記搬送アームにおける前記基板を保持する基板保持部を進入可能とする進入空間とを有するステージ装置において、前記進入空間内にて移動可能な支持部材を設け、この支持部材は、前記搬送アームの前記基板保持部が前記進入空間に進入するときにはその進入経路から退避する退避位置に位置付けられ、前記進入空間から前記基板保持部が退避したときにはその基板支持部が前記受け面と略一致する高さ位置に位置付けられて前記基板を下方より支持可能としたことを特徴とする。
【0022】
なお、支持部材を、進入経路から退避した退避位置と受け面と略一致する高さ位置との間で移動させる駆動部をさらに有すると好ましい。
【0023】
また、支持部材の先端部は、曲面状に形成されていると好ましい。
【0024】
また、受け面には、複数の吸着盤を有することが好ましい。
【0025】
本発明によるペースト塗布装置は、搬送アーム上に保持され搬入される基板を載置する受け面と、この受け面の高さ位置より下方に形成され前記搬送アームにおける前記基板を保持する基板保持部を進入可能とする進入空間とを有するステージ装置と、前記基板にペーストを塗布する塗布ヘッドとを備え、前記塗布ヘッドと前記ステージ装置との相対移動により、前記基板にペーストを塗布するペースト塗布装置において、前記進入空間内にて移動可能な支持部材を設け、この支持部材は、前記搬送アームの前記基板保持部が前記進入空間に進入するときにはその進入経路から退避する退避位置に位置付けられ、前記進入空間から前記基板保持部が退避したときにはその基板支持部が前記受け面と略一致する高さ位置に位置付けられて前記基板を下方より支持可能としたことを特徴とする。
【0026】
本発明のよるペースト塗布方法は、受け面に形成された進入空間に搬入アームを進入させ搬入アームに保持された基板を前記受け面に載置する工程と、前記基板を前記受け面に載置後、前記搬入アームを前記進入空間内から退避させる工程と、前記搬入アームが前記進入空間から退避後、前記進入空間内にて移動可能な支持部材にて前記基板の下面を支持する工程と、前記受け面に載置された前記基板にペーストを塗布する工程と、ペースト塗布後に前記支持部材を前記搬入アームの進入空間から退避させる工程と、前記支持部材が退避後、前記進入空間に搬出アームを進入させ、この搬出アームにより前記基板を前記受け面から取り出す工程と、を有することを特徴とする。
【0027】
本発明によるステージ装置によれば、受け面の高さ位置より下方に形成された進入空間にて移動可能な支持部材は、基板がステージに受け渡される時には進入空間から退避し、受け渡された後はその受け渡された基板を下方より支持する。従って、基板がその自重によってステージに形成された進入空間内に撓んだ状態となるのを防止でき、平坦度よく基板を保持できる。
【0028】
また、本発明によるペースト塗布装置、ペースト塗布方法によれば、受け面の高さ位置より下方に形成された進入空間にて移動可能な支持部材は、基板がステージに受け渡される時には進入空間から退避し、受け渡された後はその受け渡された基板を下方より支持する。従って、基板がその自重によってステージに形成された進入空間内に撓んだ状態となるのを防止でき、平坦度よく基板を保持できるため、基板に対するペースト塗布を精度良く行なうことができる。
【0029】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について、図1及び図3を用いて説明する。なお、図4乃至図5に示した従来のペースト塗布装置と同一構成には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
【0030】
図1は、本発明を適用してなるステージ装置と搬送アームの概略斜視図、図2は、図1のA―A矢視断面図、図3は、図1のB―B矢視断面図である。
【0031】
図1に示したペースト塗布装置のステージ装置と搬送アームは、図4、図5で示した従来のペースト塗布装置と同じ構成をなしており、ステージ装置の構造のみ異なり、他は同様である。
【0032】
すなわち、従来と同じように、供給台1上に順次搬送供給されてくる基板2は、搬送アーム3のアーム7にペースト塗布面の反対側を吸着保持され、θ(旋回)軸方向への回転及び搬送ライン(矢印X)方向への移動により、4台のペースト塗布装置41〜44のステージにペースト塗布面を上にして順次搬送供給される。
【0033】
各ペースト塗布装置41〜44は、基板2を受取り載置するステージ4Aと、ヘッド機構4Dとを備えている。搬送アーム3は、供給台1上から基板2を受け取り、搬送ラインである図示矢印X方向に搬送しつつ、その搬送ラインに向けて2台ずつ対向配置されたペースト塗布装置41〜44に供給する。
【0034】
ステージ4Aは、X−Y−θ移動機構4Bのθ(旋回)軸に固定され、そのθ軸はY軸4B1に固定されて、そのY軸はX軸4B2に固定されて、X−Y−θ移動機構4B全体は、テーブル(架台)4C上に設置されている。
【0035】
ステージ4Aは、基板2の受け渡し時は搬送アーム3近くに前進移動した受け渡し位置に、基板2のペースト塗布作業時には搬送アーム3から離れるように後退した塗布作業位置にそれぞれ移動する。
【0036】
ペースト塗布作業開始に先立ち、ステージ4Aに吸着保持された基板2は、ヘッド機構4Dとの間で位置合わせが行われるが、基板2自体も搬送アーム3からの受け渡しにより、ステージ4A上においてX−Y−θ方向に位置ずれを生じていることが多い。従って、図4に示したように、ヘッド機構4Dの2個のシリンジ4D1,4D2に対応して取り付けられたCCDカメラ4D3,4D4、あるいは別途設けられた認識カメラ等により、基板2のアライメントマークが撮影され、その映像パターンに基づく補正制御により予め位置ずれ補正が行われる。
【0037】
また、ヘッド機構4Dの2個一組のシリンジ4D1,4D2は、ペースト塗布作業開始に先立ち、各シリンジ4D1,4D2間の間隔が、基板2における矢印X方向の複数の塗布パターン間隔(ピッチ)に一致するように個々に矢印X方向に移動調整されて、位置決め固定される。
【0038】
すなわち、制御器4Eのプログラム制御により、基板2面にペーストパターンが形成されるが、シリンジ4D1,4D2の間隔は、多面取りの基板(1枚に同一品種の基板(子基板)を複数形成した基板)2に配列された複数枚の各子基板のX方向の配列ピッチに対応する。
【0039】
なお、図4及び図5に示したように、制御器4Eには、モニタディスプレイ4F及びキ−ボ−ド4Gが接続されていて、作業員は、キーボート4Gの操作により、基板2へのペースト塗布作業を調整操作することができる。
【0040】
ペースト塗布によりペーストパターンが形成された基板2は、搬送アーム3への受け渡し位置に向けて前進移動して搬送アーム3に引き渡され、受け取った搬送アーム3は、基板2を次工程へと引き渡すべく、図4に示した搬出台5に供給する。
【0041】
ここで、ステージ装置について図1から図3を用いて詳明する。
【0042】
図1に示すように、基板2は搬送アーム3でステージ装置の受け面4A3に受け渡され、受け面4A3に吸着保持され、ペーストが塗布された後再び受け面4A3から搬送アーム3にて取り出される。
【0043】
搬送アーム3は、二又のフォーク状の形状をしたアーム7上面に複数の吸着盤7Aが設けられ、吸着盤7Aは配管8Aを介し空圧制御部6に接続されている。
【0044】
ステージ装置は、ステージ4Aと駆動装置9とから概略構成されている。
【0045】
ステージ4Aは、基板2を載置する受け面4A3と、受け面4A3にペーストが塗布される基板2を吸着保持する複数の吸着盤4A1と、受け面4A3とアーム7との干渉を防ぎつつ基板2を受け面4A3に受け渡すために搬送アーム3の2本の凹部4A2と、支持部材としての支持ピン10と、凹部4A2の底面に設けられた支持ピン10を貫通させる貫通孔4A4とを有して構成される。
【0046】
一方、駆動装置9は、略球面状の先端部10Aを有した支持ピン10が設置された昇降プレート11と、昇降プレート11を昇降可能に支持するエアーシリンダ12とを有して構成される。
【0047】
ここで、2本の凹部4A2は、アーム7の間隔に対応しており、吸着盤4A1は配管8Bを介し空圧制御部6に接続される。支持ピン10と、この支持ピン10が貫通する貫通孔4A4は、凹部4A2毎にそれぞれ3つ等間隔で設けられる。また、支持ピン10は、エアーシリンダ12の駆動により、先端部10Aが受け面4A3の高さ位置と略一致する支持位置と、凹部4A2の底面下に後退して没する退避位置との間を移動可能とされる。
【0048】
次に、ステージ4Aが搬送アーム3から基板2を受け取る動作について説明する。
【0049】
まず供給台1に載置された基板2は、搬送アーム3のアーム7上面の吸着盤7Aに吸着保持される。アーム7は、制御器4Eの指令に基づいて搬送ラインである図4の矢印X方向に移動しつつ、矢印Y方向、θ軸回転方向、および鉛直方向に移動して基板2を位置決めしてペースト塗布装置41のステージ4A上に位置させる。このときアーム7は、2本の凹部4A2に対向するように位置決めされる。
【0050】
次に、アーム7は、鉛直方向に下降し、アーム7を凹部4A2に進入させる。この下降過程で基板2を受け面4A3に載置する。そして、吸着盤7Aによる基板2の真空吸着は、基板2が受け面4A3に接するタイミングで解除する。これにより、基板2は、受け面4A3に載置される。つまり、凹部4A2は、搬送アーム3における基板保持部を進入可能とする進入空間を形成していることになり、この進入空間にアーム7の基板保持部が進入することで、基板2は受け面4A3に載置されることになる。
【0051】
次にアーム7は、その上面の吸着盤7Aが基板2の下面と当接せず、かつその下面が凹部底面と当接しない位置まで下降した後、図1中の矢印−Y方向に移動してステージ4Aの進入空間から退避する。
【0052】
アーム7がステージ4Aから離れると、ステージ4Aは塗布作業位置に移動を開始する。この移動とともに、ステージ4A内のエアーシリンダ12に図示しない配管を介し圧縮空気が供給されエアーシリンダ12のシリンダロッドが上昇すして、昇降プレート11上に設置された支持ピン10の先端部が受け面4A3と略一致する高さ位置、つまり基板下面の支持位置まで上昇し、基板2を下方より支持する。これにより、図7に示したなステージ4Aの凹部4A2内に基板2が自重で撓むことなく、支持されることになる。その後、ステージ4Aの受け面4A3に設けられた吸着盤4A1にて基板2は真空吸着される。
【0053】
ステージ4Aの移動が完了すると、基板2のアライメントマークをカメラ4D3、4D4で撮像する。そして、カメラ4D3、4D4の撮像パターンに基づいて制御装置4Eにより基板2の位置ずれが演算されステージ4AのXYθ方向移動が補正されてペーストを所定の位置に正確に塗布させる。
【0054】
続いて、ペーストが塗布された基板2を受け面4A3から搬送アーム3が取り出す動作について説明する。
【0055】
まず、ステージ4Aを塗布位置から基板受け渡し位置へ移動させる。そして、この移動中、基板2を支持している支持ピン10の先端部10Aをエアーシリンダ12にて退避位置まで下降させる。
【0056】
次に搬送アーム3は、制御器4Eの指令に基づいて、アーム7の先端がステージ4Aの凹部4A2の側面に対向するように移動される。このとき、高さ方向において、アーム7の高さ位置は、その上面の吸着盤7Aとステージ4A上の基板2の下面との間に隙間を形成し、かつその下面とステージ4Aの凹部4A2の底面との間に隙間を形成する高さ位置となるように位置付ける。
【0057】
次に、アーム7を図1中矢印Y方向に移動させ、吸盤7Aをステージ4Aに保持されている基板2の下方位置に位置付ける。そして受け面4A3の吸着盤4A1の真空吸着を解除した後、アーム7を上昇させ基板2を受け面4A3からすくい上げる。このとき、吸着盤7Aの真空吸着によって基板2はアーム7に吸着保持される。次にアーム7の上昇により、基板2を受け面4A3に当接しない位置まで上昇させた後に、図1中の矢印−Y方向に後退して基板2をステージ4Aから取り出す。
【0058】
次に、アーム7は、図4中の矢印θ軸回りに回転することで、吸着保持した基板2を搬送ラインに位置付ける。そして、アーム7がX方向に移動して、基板2を搬出位置に位置付ける。ここでアーム7は下降し、基板2を搬出台5に載置する。
【0059】
以上の動作により、基板2はステージ4Aから搬出台5へと搬出される。なお、その他のペースト塗布装置42〜44においても同様な動作にて基板2の搬入、搬出が行われる。
【0060】
以上説明した実施の形態では、ステージ4Aに搬入された基板2における凹部4A2に対応する部分は、その下方より支持ピン10によって支持されることで、基板2がその自重によりステージ4Aの凹部4A2にU字状に撓んだ状態の自重による撓みを防止することができる。そしてペースト塗布装置に用いた場合には、従来のような、ノズルと基板2との間隔が増大する現象を防止でき、基板2上にペーストを高精度にて塗布することができる。また同理由により、ステージ4Aに供給された基板2を、ペーストの塗布作業に先立って受け面4A3の吸着盤4A1にて確実に保持することができるので、ペースト塗布作業はより高精度に行なうことができる。
【0061】
また、支持ピン10は、搬送アーム3のアーム7が進入空間を形成する凹部4A2に進入するときにはその進入経路から退避した下方位置に位置付けられることにより、アーム7の進入を阻害することなくスムーズな基板受渡しを行なうことが可能である。
【0062】
また、ステージ4Aに搬送された基板2の位置ずれ補正をカメラを用いて行なう場合において、基板2上のアライメントマークがステージ4Aの凹部4A2上あるいはその近傍に位置した場合でも、カメラで撮像される部分が撓んでいないためアライメントマークの反射光がカメラ4D3、4D4に確実に入光するのでアライメントマークを良好に読み込むことができ、検出できずに装置が止まることが防止できるので、生産性の向上ができ、また省人化を図ることもできる。
【0063】
また、本実施の形態によれば、基板固有の反りのために、ステージ4Aの凹部4A2に対応する部分が下向き凸状に撓んでいる場合には、支持ピン10の上動によってこの撓みを矯正することができる。従って、このような場合であっても基板2上にペーストを高精度にて塗布することができる。
【0064】
また、本実施の形態によれば、支持ピン10の上昇はステージ4Aの塗布作業位置への移動中に実施され、また、支持ピン10の下降は、ステージ4Aの基板受け渡し位置への移動中に実施されるため、支持ピン10の昇降動作のためのスループットタイムが増大することが防止できる。
【0065】
また、本実施の形態によれば、基板2の下面を先端部10Aが球面状の支持ピン10で支持するようにしたので、支持位置における支持ピン10の高さを調整する時、先端部10Aが基板2の下面に接触するように調整しさえすればよく、支持ピン10の鉛直方向の傾きに対する調整が不要となり、高さ方向のみの調整で済むため調整が容易にできる。この効果は、支持ピン10の先端部を曲面状にすれば足りる。
【0066】
なお、上述した実施の形態では、基板にペーストを塗布するペースト塗布装置について説明したが、本発明はかかる実施の形態に限定されず、液晶基板などの基板を扱う各種半導体製造装置、たとえば投影露光装置、スピンコータ、成膜装置、貼り合わせ装置などの基板支持装置に適応しても良い。
【0067】
また、本発明の実施の形態では、ペースト塗布装置1台に付き塗布ヘッドを2台設けたが、これは1台でも、3台以上であっても良く、また4台のペースト塗布装置を搬送ラインに対向して2台ずつ配置したがこれもこの実施の形態にとらわれることなく、他の工程との間で整合を取ることで自由に配置しても良い。
【0068】
また、本発明の実施の形態では、支持ピン3本を同一の昇降プレート上に設けこの昇降プレートを1個のエアーシリンダで上下させているが、3本の支持ピンを個別の駆動体、例えば、エアーシリンダで駆動しても良い。ここで、エアーシリンダで支持ピンを上昇させる駆動タイミングは必ずしもすべて同じにする必要はない。
【0069】
また、本発明の実施の形態では、基板2を支持するため、または、アーム7との干渉を回避するために支持ピン10を上下動させるための駆動部としてエアーシリンダ用いたが、駆動部を持たず、例えば、凹部内にスプリングで支持ピン10を基板2の略下面位置に上方に付勢させ、アーム7が凹部4A2に上から進入することでアーム7の下面に支持ピン10を付勢させるように支持ピン10を上下動するように構成しても良い。
【0070】
また、基板を支持する支持ピン10の数を、1つの凹部当たり3本としたが、凹部の大きさに応じて変えても良いもので、2本以下でも4本以上でも構わない。
【0071】
また、本発明の実施の形態では、基板の支持は支持ピンの先端部が略球面状を有した複数のピン部材で行なっているが、ピン状部材に限らず、たとえば複数の支持ピンをつなげて1個のかまぼこ形状に変更して支持しても良い。この場合は、基板はライン状に支持されることから、点状に支持する先端部が曲面状の支持部材に比べ、基板の撓みの矯正および基板固有の反りの矯正効果がさらに向上する。
【0072】
また、本発明の実施の形態では、ステージ上の基板は真空圧にて保持する場合を説明したが、他の保持方法、例えば、静電チャックにて保持しても良い。
【0073】
また、本発明の実施の形態では、進入空間としてステージ4Aに2本の凹部4A2を設けたが、これに限らず1本あるいは3本以上でも良い。凹部の数はアーム7の数に応じて決定すれば良い。
【0074】
また、本発明の実施の形態では、基板2をステージ4Aに搬入および搬出する際は、同一の搬送アーム3で行なうようにしたが、基板2の搬入と搬出を別々のアームにて実施しても良い。
【0075】
また、本発明の実施の形態では、支持ピン10は、基板2を支持するため、または、アーム7との干渉を回避するために上下動をさせるようにしたが、支持ピン10の動きはこれに限らず、支持ピン10を略水平方向にスライドあるいは回転にて凹部4A2から退避、進入する構造としても良い。
【0076】
また、上述した実施の実施の形態では、搬送アーム3の進入空間として、凹部4A2、つまり底のある窪みとして説明したが、底のない場合でも適用できる。
【0077】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、基板の自重による撓みを防止することができ、ペースト塗布作業に用いた場合には、高精度な塗布パターンを形成することが可能となる。
【0078】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用してなるステージ装置と搬送アームの概略斜視図。
【図2】図1のA―A矢視断面図。
【図3】図1のB―B矢視断面図。
【図4】従来のペースト塗布装置の構成配置図。
【図5】図4に示すペースト塗布装置の斜視図。
【図6】図5に示すペースト塗布装置のステージ装置と搬送アームの概略斜視図。
【図7】図6のC―C矢視したステージ装置の概略断面図。
【符号の説明】
1 供給台
2 基板
3 搬送アーム
41 ペースト塗布装置
42 ペースト塗布装置
43 ペースト塗布装置
44 ペースト塗布装置
4A ステージ
4A1 吸着盤
4A2 凹部(進入空間)
4A3 受け面
4A4 貫通孔
4B X−Y−θ移動機構
4B1 Y軸
4B2 X軸
4C テーブル(架台)
4D ヘッド機構(塗布ヘッド)
4D1 シリンジ
4D2 シリンジ
4D3 CCDカメラ
4D4 CCDカメラ
4E 制御器
4F モニタディスプレイ
4G キーボード
5 搬出台
6 空圧制御部
7 アーム(基板保持部)
7A 吸着盤
8A 配管
8B 配管
9 駆動装置
10 支持ピン(支持部材)
10A 先端部(基板支持部)
11 昇降プレート
12 エアーシリンダ
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a stage device on which a substrate such as a glass substrate is placed, a paste application device using the same, and an improvement in a paste application method.
[0002]
[Prior art]
In a manufacturing process of a liquid crystal display panel or the like, two glass substrates sandwiching liquid crystal are bonded. To perform the bonding, a paste such as a sealant is applied to a bonding surface of at least one of the glass substrates. You.
[0003]
FIG. 4 is a structural layout of a conventional paste application apparatus, FIG. 5 is a perspective view of the paste application apparatus shown in FIG. 4, and FIG. 6 is a schematic perspective view of a stage device and a transfer arm of the paste application apparatus shown in FIG. Is shown.
[0004]
That is, as shown in FIG. 4, the substrate 2 sequentially conveyed and supplied onto the supply table 1 is sucked and held by the transfer arm 3 on the opposite side of the paste application surface, and the four paste application devices 41 to 44 The paste is sequentially conveyed and supplied onto each stage 4A with the paste application surface facing upward. The transport is performed in this manner to prevent the dust or the like from adhering to the paste-applied surface of the substrate and causing a product defect.
[0005]
The transfer arm 3 receives the substrate 2 from the supply table 1, and transfers the substrate 2 to the paste application devices 41 to 44 which are arranged two by two toward the transfer line while transferring the substrate 2 in the direction of the arrow X shown in the drawing. .
[0006]
The reason why the four paste application devices 41 to 44 are arranged toward the transport line in this manner is that a throughput time that is consistent with other processes is required, and the number of paste application devices 41 to 44 is relatively large. By operating a plurality of paste application apparatuses that require a long operation time in parallel, the throughput time in the paste application step is increased, and the productivity of the entire assembly manufacturing is increased.
[0007]
Note that FIG. 4 shows a main part configuration of only one paste application device 41, and the other three paste application devices 42 to 44 have the same configuration, so that the main configuration is omitted.
[0008]
As shown in FIG. 6, a plurality of suction plates 4A1 are provided on the stage 4A, and are connected to the pneumatic control unit 6 via a pipe 8B so that the substrate 2 can be vacuum-sucked at the same time. Further, a plurality of recesses 4A2 are formed on the stage 4A at predetermined intervals in the direction of arrow Y in FIG. 5 so as to correspond to the arm 7 of the transfer arm 3. The arm 7 is provided with a suction board 7A, which is connected to the pneumatic control unit 6 via a pipe 8A.
[0009]
The stage 4A is fixed to the θ (turn) axis of the XY-θ moving mechanism 4B, the θ axis is fixed to the Y axis 4B1, the Y axis is fixed to the X axis 4B2, and the X- The entire Y-θ moving mechanism 4B is installed on a table (stand) 4C.
[0010]
The stage 4A moves to a transfer position advanced near the transfer arm 3 when transferring the substrate 2, and moves to a coating operation position retracted away from the transfer arm 3 when performing paste application of the substrate 2.
[0011]
Prior to the start of the paste application operation, the substrate 2 sucked and held on the stage 4A is aligned with an application head (head mechanism) 4D. The substrate 2 itself is also transferred from the transfer arm 3 to the stage 4A. Above, there is often a displacement in the XY-θ direction. Therefore, as shown in FIG. 4, the alignment marks of the substrate 2 are formed by the CCD cameras 4D3 and 4D4 attached to the two syringes 4D1 and 4D2 of the head mechanism 4D, or by a separately provided recognition camera or the like. Photographing is performed, and positional deviation correction is performed in advance by correction control based on the video pattern.
[0012]
Prior to the start of the paste application operation, the pair of syringes 4D1 and 4D2 of the head mechanism 4D is arranged such that the interval between the syringes 4D1 and 4D2 is set to a plurality of application pattern intervals (pitch) in the direction of arrow X on the substrate 2. The members are individually moved and adjusted in the direction of the arrow X so as to coincide with each other, and are positioned and fixed.
[0013]
That is, the paste pattern is formed on the surface of the substrate 2 by the program control of the controller 4E. This corresponds to the arrangement pitch in the X direction of the plurality of sub-substrates arranged on the (substrate) 2.
[0014]
As shown in FIGS. 4 and 5, a monitor 4F and a keyboard 4G are connected to the controller 4E, and the operator can operate the keyboard 4G to paste the paste on the substrate 2. The coating operation can be adjusted.
[0015]
The substrate 2 on which the paste pattern is formed by the paste application moves forward toward the transfer position to the transfer arm 3 and is transferred to the transfer arm 3, and the received transfer arm 3 transfers the substrate 2 to the next step. Are supplied to the carry-out table 5 shown in FIG.
[0016]
[Problems to be solved by the invention]
In recent years, as display devices such as personal computers and televisions, liquid crystal displays and plasma displays that can be made thinner have been increasingly used, and at the same time, these displays are required to have large screens. It has become. In addition, in order to increase the productivity of the display, the size of the substrate is increasing so that a larger number of displays can be obtained from one substrate, and from this viewpoint, the size of the substrate tends to increase. On the other hand, the thickness of the substrate tends to be reduced due to a demand for a lightweight display. However, when the substrate is made larger and thinner as described above, the conventional stage device as described above has the following problems.
[0017]
That is, the thinned substrate 2 has low rigidity, so that a portion corresponding to the concave portion 4A2 is bent by its own weight as shown in FIG.
[0018]
On the other hand, in the paste application devices 41 to 44 described above, in order to keep the amount of the paste applied onto the substrate 2 constant, a distance sensor that moves integrally with the nozzle of the head mechanism when applying the paste. The height of the surface of the substrate 2 is measured at a set time interval, and the height of the nozzle is feedback-controlled based on the measured value to keep the distance between the nozzle and the substrate 2 constant.
[0019]
However, when the nozzle passes across the above-mentioned bent portion, the height control of the nozzle against the change in the height of the surface of the substrate 2 cannot be performed in time, and the distance between the nozzle and the substrate 2 increases. As a result, the coating accuracy deteriorates.
[0020]
Therefore, an object of the present invention is to provide a stage device that can prevent bending of a substrate due to its own weight, a paste application device that can form a highly accurate application pattern, and a paste application method.
[0021]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, a stage device according to the present invention includes a receiving surface on which a substrate held and carried in on a transfer arm is placed, and a substrate formed at a level lower than the height of the receiving surface. A stage member having an entrance space for allowing a substrate holding part for holding the substrate to enter, a supporting member movable in the entrance space, and the supporting member is provided with When entering the space, it is positioned at a retreat position where it retreats from the entry path, and when the substrate holding portion is retracted from the entry space, the substrate support portion is positioned at a height position substantially coinciding with the receiving surface, and Can be supported from below.
[0022]
In addition, it is preferable to further include a drive unit that moves the support member between a retracted position retracted from the approach path and a height position substantially coinciding with the receiving surface.
[0023]
Further, it is preferable that the distal end of the support member is formed in a curved shape.
[0024]
It is preferable that the receiving surface has a plurality of suction disks.
[0025]
A paste coating apparatus according to the present invention is a paste application device, comprising: a receiving surface on which a substrate held and carried in on a transfer arm is placed; and a substrate holding unit formed below the height of the receiving surface and holding the substrate in the transfer arm. A paste apparatus for applying a paste to the substrate by providing a stage device having an entry space allowing entry of the paste, and a coating head for applying the paste to the substrate, by applying a relative movement between the coating head and the stage device. In the above, a supporting member movable in the approach space is provided, and the support member is located at a retreat position where the substrate holding unit of the transfer arm retreats from the approach path when the substrate holding unit enters the approach space. When the substrate holding part is retracted from the entrance space, the substrate supporting part is positioned at a height position substantially coincident with the receiving surface, and Characterized in that it possible to support from below.
[0026]
The paste application method according to the present invention includes a step of entering a carry-in arm into an entrance space formed on a receiving surface, and placing a substrate held by the carry-in arm on the receiving surface, and placing the substrate on the receiving surface. Thereafter, a step of retracting the carry-in arm from the entrance space, and a step of supporting the lower surface of the substrate with a support member movable in the entrance space after the carry-in arm retracts from the entrance space, A step of applying paste to the substrate placed on the receiving surface; a step of retracting the support member from the entrance space of the loading arm after applying the paste; and a step of transporting the support arm to the entrance space after the support member retracts. And taking out the substrate from the receiving surface by the carry-out arm.
[0027]
According to the stage device of the present invention, the support member movable in the entry space formed below the height position of the receiving surface is retracted from the entry space when the substrate is transferred to the stage, and is transferred. After that, the transferred substrate is supported from below. Therefore, the substrate can be prevented from being bent into the entry space formed on the stage by its own weight, and the substrate can be held with good flatness.
[0028]
Further, according to the paste application device and the paste application method according to the present invention, the support member movable in the entry space formed below the height position of the receiving surface moves from the entry space when the substrate is transferred to the stage. After being evacuated and transferred, the transferred substrate is supported from below. Therefore, the substrate can be prevented from being bent into the entry space formed on the stage by its own weight, and the substrate can be held with good flatness, so that the paste can be applied to the substrate with high accuracy.
[0029]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The same components as those of the conventional paste application device shown in FIGS. 4 and 5 are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.
[0030]
1 is a schematic perspective view of a stage device and a transfer arm to which the present invention is applied, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. It is.
[0031]
The stage device and the transfer arm of the paste application device shown in FIG. 1 have the same configuration as the conventional paste application device shown in FIGS. 4 and 5, and only the structure of the stage device is different.
[0032]
That is, as in the conventional case, the substrate 2 sequentially conveyed and supplied onto the supply table 1 is suction-held on the arm 7 of the transfer arm 3 on the side opposite to the paste application surface, and rotated in the θ (rotation) axis direction. Then, by moving in the direction of the transport line (arrow X), the paste is sequentially transported and supplied to the stages of the four paste application devices 41 to 44 with the paste application surface facing upward.
[0033]
Each of the paste coating devices 41 to 44 includes a stage 4A for receiving and mounting the substrate 2, and a head mechanism 4D. The transfer arm 3 receives the substrate 2 from the supply table 1, and transfers the substrate 2 to the paste application devices 41 to 44 which are arranged two by two toward the transfer line while transferring the substrate 2 in the direction of the arrow X shown in the drawing. .
[0034]
The stage 4A is fixed to the θ (rotation) axis of the XY-θ moving mechanism 4B, the θ axis is fixed to the Y axis 4B1, the Y axis is fixed to the X axis 4B2, and the XY- The entire θ moving mechanism 4B is installed on a table (stand) 4C.
[0035]
The stage 4A moves to a transfer position advanced near the transfer arm 3 when transferring the substrate 2, and moves to a coating operation position retracted away from the transfer arm 3 when performing paste application of the substrate 2.
[0036]
Prior to the start of the paste application operation, the substrate 2 sucked and held on the stage 4A is aligned with the head mechanism 4D. In many cases, a displacement occurs in the Y-θ direction. Therefore, as shown in FIG. 4, the alignment marks of the substrate 2 are formed by the CCD cameras 4D3 and 4D4 attached to the two syringes 4D1 and 4D2 of the head mechanism 4D, or by a separately provided recognition camera or the like. Photographing is performed, and positional deviation correction is performed in advance by correction control based on the video pattern.
[0037]
Prior to the start of the paste application operation, the pair of syringes 4D1 and 4D2 of the head mechanism 4D is arranged such that the interval between the syringes 4D1 and 4D2 is set to a plurality of application pattern intervals (pitch) in the direction of arrow X on the substrate 2. The members are individually moved and adjusted in the direction of the arrow X so as to coincide with each other, and are positioned and fixed.
[0038]
That is, the paste pattern is formed on the surface of the substrate 2 by the program control of the controller 4E. This corresponds to the arrangement pitch in the X direction of the plurality of sub-substrates arranged on the (substrate) 2.
[0039]
As shown in FIGS. 4 and 5, a monitor 4F and a keyboard 4G are connected to the controller 4E, and the operator can operate the keyboard 4G to paste the paste on the substrate 2. The coating operation can be adjusted.
[0040]
The substrate 2 on which the paste pattern is formed by the paste application moves forward toward the transfer position to the transfer arm 3 and is transferred to the transfer arm 3, and the received transfer arm 3 transfers the substrate 2 to the next step. Are supplied to the carry-out table 5 shown in FIG.
[0041]
Here, the stage device will be described in detail with reference to FIGS.
[0042]
As shown in FIG. 1, the transfer arm 3 transfers the substrate 2 to the receiving surface 4A3 of the stage device. The substrate 2 is sucked and held by the receiving surface 4A3. After the paste is applied, the substrate 2 is again taken out of the receiving surface 4A3 by the transfer arm 3. It is.
[0043]
The transfer arm 3 is provided with a plurality of suction disks 7A on the upper surface of a bifurcated fork-shaped arm 7, and the suction disks 7A are connected to the pneumatic control unit 6 via a pipe 8A.
[0044]
The stage device is schematically composed of a stage 4A and a driving device 9.
[0045]
The stage 4A includes a receiving surface 4A3 on which the substrate 2 is placed, a plurality of suction plates 4A1 for suction-holding the substrate 2 on which the paste is applied to the receiving surface 4A3, and a substrate while preventing interference between the receiving surface 4A3 and the arm 7. 2 has two recesses 4A2 of the transfer arm 3 for transferring to the receiving surface 4A3, a support pin 10 as a support member, and a through hole 4A4 provided on the bottom surface of the recess 4A2 for passing through the support pin 10. It is composed.
[0046]
On the other hand, the driving device 9 includes an elevating plate 11 on which a support pin 10 having a substantially spherical tip portion 10A is installed, and an air cylinder 12 that supports the elevating plate 11 so as to be able to move up and down.
[0047]
Here, the two recesses 4A2 correspond to the interval between the arms 7, and the suction plate 4A1 is connected to the pneumatic control unit 6 via a pipe 8B. The support pins 10 and the through holes 4A4 through which the support pins 10 pass are provided at three equal intervals for each recess 4A2. Further, the support pin 10 is driven by the air cylinder 12 to move between a support position where the distal end portion 10A substantially coincides with the height position of the receiving surface 4A3 and a retracted position where the distal end portion 10A retreats and sinks below the bottom surface of the recess 4A2. It can be moved.
[0048]
Next, an operation in which the stage 4A receives the substrate 2 from the transfer arm 3 will be described.
[0049]
First, the substrate 2 placed on the supply table 1 is suction-held by the suction plate 7A on the upper surface of the arm 7 of the transfer arm 3. The arm 7 moves in the arrow X direction of FIG. 4 which is a transfer line, moves in the arrow Y direction, the θ-axis rotation direction, and the vertical direction based on a command from the controller 4E to position the substrate 2 and paste. It is positioned on the stage 4A of the coating device 41. At this time, the arm 7 is positioned so as to face the two recesses 4A2.
[0050]
Next, the arm 7 descends in the vertical direction, and causes the arm 7 to enter the recess 4A2. During this lowering process, the substrate 2 is placed on the receiving surface 4A3. Then, the vacuum suction of the substrate 2 by the suction disk 7A is released when the substrate 2 comes into contact with the receiving surface 4A3. Thus, the substrate 2 is placed on the receiving surface 4A3. That is, the concave portion 4A2 forms an entry space that allows the substrate holding portion of the transfer arm 3 to enter, and the substrate 2 is received by the substrate holding portion of the arm 7 entering this entry space. 4A3.
[0051]
Next, the arm 7 is moved in the direction of the arrow -Y in FIG. 1 after descending to a position where the suction plate 7A on the upper surface does not contact the lower surface of the substrate 2 and the lower surface does not contact the bottom surface of the concave portion. To escape from the entrance space of the stage 4A.
[0052]
When the arm 7 separates from the stage 4A, the stage 4A starts moving to the coating operation position. Along with this movement, compressed air is supplied to the air cylinder 12 in the stage 4A via a pipe (not shown), and the cylinder rod of the air cylinder 12 rises, so that the tip of the support pin 10 installed on the elevating plate 11 receives the receiving surface. It rises to a height position substantially coincident with 4A3, that is, a supporting position on the lower surface of the substrate, and supports the substrate 2 from below. As a result, the substrate 2 is supported in the recess 4A2 of the stage 4A shown in FIG. 7 without being bent by its own weight. Thereafter, the substrate 2 is vacuum-sucked by the suction plate 4A1 provided on the receiving surface 4A3 of the stage 4A.
[0053]
When the movement of the stage 4A is completed, the alignment marks on the substrate 2 are imaged by the cameras 4D3 and 4D4. Then, based on the imaging patterns of the cameras 4D3 and 4D4, the controller 4E calculates the positional shift of the substrate 2, corrects the movement of the stage 4A in the XYθ directions, and applies the paste accurately to a predetermined position.
[0054]
Next, an operation of taking out the transfer arm 3 from the receiving surface 4A3 of the substrate 2 coated with the paste will be described.
[0055]
First, the stage 4A is moved from the application position to the substrate delivery position. Then, during this movement, the tip 10A of the support pin 10 supporting the substrate 2 is lowered by the air cylinder 12 to the retracted position.
[0056]
Next, the transfer arm 3 is moved based on a command from the controller 4E so that the tip of the arm 7 faces the side surface of the recess 4A2 of the stage 4A. At this time, in the height direction, the height position of the arm 7 forms a gap between the suction plate 7A on the upper surface and the lower surface of the substrate 2 on the stage 4A, and the lower surface of the arm 7 and the concave portion 4A2 of the stage 4A. It is positioned so as to be at a height position that forms a gap with the bottom surface.
[0057]
Next, the arm 7 is moved in the direction of arrow Y in FIG. 1 to position the suction cup 7A at a position below the substrate 2 held on the stage 4A. Then, after the vacuum suction of the suction board 4A1 on the receiving surface 4A3 is released, the arm 7 is raised and the substrate 2 is picked up from the receiving surface 4A3. At this time, the substrate 2 is suction-held by the arm 7 by the vacuum suction of the suction board 7A. Next, by raising the arm 7, the substrate 2 is raised to a position where it does not come into contact with the receiving surface 4A3, and then retracts in the direction of the arrow -Y in FIG. 1 to take out the substrate 2 from the stage 4A.
[0058]
Next, the arm 7 rotates about the arrow θ axis in FIG. 4 to position the substrate 2 sucked and held on the transfer line. Then, the arm 7 moves in the X direction, and positions the substrate 2 at the unloading position. Here, the arm 7 descends, and the substrate 2 is placed on the unloading table 5.
[0059]
By the above operation, the substrate 2 is unloaded from the stage 4A to the unloading table 5. In the other paste coating devices 42 to 44, the loading and unloading of the substrate 2 are performed by the same operation.
[0060]
In the embodiment described above, the portion corresponding to the concave portion 4A2 of the substrate 2 carried into the stage 4A is supported by the support pins 10 from below, so that the substrate 2 is placed in the concave portion 4A2 of the stage 4A by its own weight. It is possible to prevent bending due to its own weight in a U-shaped state. When used in a paste application device, a phenomenon in which the distance between the nozzle and the substrate 2 is increased, unlike the related art, can be prevented, and the paste can be applied onto the substrate 2 with high accuracy. For the same reason, the substrate 2 supplied to the stage 4A can be reliably held by the suction plate 4A1 on the receiving surface 4A3 prior to the paste application operation, so that the paste application operation can be performed with higher precision. Can be.
[0061]
When the arm 7 of the transfer arm 3 enters the concave portion 4A2 forming the entry space, the support pin 10 is positioned at a lower position retracted from the entry path, so that the support pin 10 can be smoothly inserted without obstructing the entry of the arm 7. It is possible to carry out substrate transfer.
[0062]
Further, in the case where the position shift correction of the substrate 2 conveyed to the stage 4A is performed using a camera, even when the alignment mark on the substrate 2 is located on or near the recess 4A2 of the stage 4A, an image is taken by the camera. Since the part is not bent, the reflected light of the alignment mark surely enters the cameras 4D3 and 4D4, so that the alignment mark can be read well, and the apparatus can be prevented from being stopped without being detected, thereby improving productivity. And labor saving can be achieved.
[0063]
Further, according to the present embodiment, when the portion corresponding to the concave portion 4A2 of the stage 4A is bent in a downwardly convex shape due to the warpage inherent to the substrate, the bending is corrected by the upward movement of the support pin 10. can do. Therefore, even in such a case, the paste can be applied onto the substrate 2 with high accuracy.
[0064]
Further, according to the present embodiment, the support pins 10 are raised during the movement of the stage 4A to the coating operation position, and the support pins 10 are lowered during the movement of the stage 4A to the substrate transfer position. As a result, it is possible to prevent the throughput time for raising and lowering the support pins 10 from increasing.
[0065]
In addition, according to the present embodiment, the lower end of the substrate 2 is supported by the spherical support pins 10 at the distal end 10A. Therefore, when adjusting the height of the support pins 10 at the support position, the distal end 10A is used. It is only necessary to make an adjustment so as to make contact with the lower surface of the substrate 2, and there is no need to adjust the inclination of the support pins 10 in the vertical direction, and it is only necessary to adjust the height in the height direction. This effect is sufficient if the tip of the support pin 10 is curved.
[0066]
In the above-described embodiment, a paste application apparatus for applying a paste to a substrate has been described. However, the present invention is not limited to this embodiment, and various semiconductor manufacturing apparatuses that handle substrates such as a liquid crystal substrate, for example, projection exposure The present invention may be applied to a substrate supporting device such as a device, a spin coater, a film forming device, and a bonding device.
[0067]
Further, in the embodiment of the present invention, two paste application heads are provided for one paste application device, but the number may be one, three or more, and four paste application devices may be transported. Although two units are arranged in opposition to the line, the arrangement is not limited to this embodiment, and may be arranged freely by matching with other processes.
[0068]
Further, in the embodiment of the present invention, three support pins are provided on the same elevating plate and this elevating plate is moved up and down by one air cylinder. Alternatively, it may be driven by an air cylinder. Here, the drive timings for raising the support pins by the air cylinder need not always be the same.
[0069]
In the embodiment of the present invention, an air cylinder is used as a drive unit for supporting the substrate 2 or moving the support pins 10 up and down in order to avoid interference with the arm 7. For example, the support pin 10 is urged upward to the substantially lower surface position of the substrate 2 by a spring in the concave portion, and the arm 7 enters the concave portion 4A2 from above to urge the support pin 10 to the lower surface of the arm 7. The support pin 10 may be configured to move up and down so as to cause the movement.
[0070]
Although the number of the support pins 10 for supporting the substrate is set to three per recess, the number of support pins 10 may be changed according to the size of the recess, and may be two or less or four or more.
[0071]
Further, in the embodiment of the present invention, the substrate is supported by the plurality of pin members having the end portions of the support pins having a substantially spherical shape. However, the present invention is not limited to the pin members, and for example, a plurality of support pins may be connected. It may be changed to a single kamaboko shape and supported. In this case, since the substrate is supported in a linear shape, the effect of correcting the deflection of the substrate and correcting the inherent warpage of the substrate is further improved as compared with a support member having a point-like supporting end having a curved surface.
[0072]
Further, in the embodiment of the present invention, the case where the substrate on the stage is held by vacuum pressure has been described, but it may be held by another holding method, for example, an electrostatic chuck.
[0073]
Further, in the embodiment of the present invention, two recesses 4A2 are provided in stage 4A as an entry space, but the number is not limited to this, and one or three or more recesses may be provided. The number of recesses may be determined according to the number of arms 7.
[0074]
In the embodiment of the present invention, the loading and unloading of the substrate 2 to and from the stage 4A is performed by the same transfer arm 3, but the loading and unloading of the substrate 2 is performed by separate arms. Is also good.
[0075]
Further, in the embodiment of the present invention, the support pin 10 is moved up and down to support the substrate 2 or to avoid interference with the arm 7, but the movement of the support pin 10 is However, the structure is not limited to this, and the support pin 10 may be slid or rotated in a substantially horizontal direction to retract and enter the recess 4A2.
[0076]
Further, in the above-described embodiment, the recess 4A2, that is, the recess with the bottom is described as the entrance space of the transfer arm 3, but the present invention can be applied to the case without the bottom.
[0077]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to prevent the substrate from bending due to its own weight, and it is possible to form a highly accurate application pattern when used in a paste application operation.
[0078]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic perspective view of a stage device and a transfer arm to which the present invention is applied.
FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG. 1;
FIG. 3 is a sectional view taken along the line BB of FIG. 1;
FIG. 4 is a configuration layout diagram of a conventional paste application device.
FIG. 5 is a perspective view of the paste application device shown in FIG.
6 is a schematic perspective view of a stage device and a transfer arm of the paste application device shown in FIG.
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the stage device taken along the line CC of FIG. 6;
[Explanation of symbols]
1 Supply stand
2 substrate
3 Transfer arm
41 Paste coating device
42 paste application equipment
43 Paste coating device
44 paste application equipment
4A stage
4A1 suction cup
4A2 recess (entrance space)
4A3 receiving surface
4A4 Through hole
4B XY-θ moving mechanism
4B1 Y axis
4B2 X axis
4C table (stand)
4D head mechanism (coating head)
4D1 syringe
4D2 syringe
4D3 CCD camera
4D4 CCD camera
4E controller
4F monitor display
4G keyboard
5 delivery platform
6 Pneumatic control section
7 Arm (substrate holder)
7A suction cup
8A piping
8B piping
9 Drive
10 Support pins (support members)
10A Tip (substrate support)
11 Lifting plate
12 Air cylinder

Claims (6)

搬送アーム上に保持され搬入される基板を載置する受け面と、この受け面の高さ位置より下方に形成され前記搬送アームにおける前記基板を保持する基板保持部を進入可能とする進入空間とを有するステージ装置において、
前記進入空間内にて移動可能な支持部材を設け、
この支持部材は、前記搬送アームの前記基板保持部が前記進入空間に進入するときにはその進入経路から退避する退避位置に位置付けられ、前記進入空間から前記基板保持部が退避したときにはその基板支持部が前記受け面と略一致する高さ位置に位置付けられて前記基板を下方より支持可能としたことを特徴とするステージ装置。
A receiving surface on which a substrate held and carried in on the transfer arm is placed, and an entry space formed below a height position of the receiving surface and capable of entering a substrate holding portion for holding the substrate in the transfer arm; In the stage device having
Providing a support member movable in the entrance space,
The support member is located at a retreat position where the substrate holding portion of the transfer arm retreats from the approach path when the substrate holding portion enters the approach space, and the substrate support portion is retracted when the substrate holding portion retreats from the approach space. A stage device positioned at a height position substantially coinciding with the receiving surface and capable of supporting the substrate from below.
前記支持部材を、前記進入経路から退避した退避位置と前記受け面と略一致する高さ位置との間で移動させる駆動部をさらに有することを特徴とする請求項1記載のステージ装置。2. The stage device according to claim 1, further comprising a drive unit for moving the support member between a retracted position retracted from the approach path and a height position substantially coincident with the receiving surface. 前記支持部材の先端部は、曲面状に形成されていることを特徴とする請求項1または請求項2記載のステージ装置。The stage device according to claim 1, wherein a tip portion of the support member is formed in a curved shape. 前記受け面には、複数の吸着盤を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のステージ装置。The stage device according to any one of claims 1 to 3, wherein the receiving surface includes a plurality of suction plates. 搬送アーム上に保持され搬入される基板を載置する受け面と、この受け面の高さ位置より下方に形成され前記搬送アームにおける前記基板を保持する基板保持部を進入可能とする進入空間とを有するステージ装置と、
前記基板にペーストを塗布する塗布ヘッドとを備え、
前記塗布ヘッドと前記ステージ装置との相対移動により、前記基板にペーストを塗布するペースト塗布装置において、
前記進入空間内にて移動可能な支持部材を設け、
この支持部材は、前記搬送アームの前記基板保持部が前記進入空間に進入するときにはその進入経路から退避する退避位置に位置付けられ、前記進入空間から前記基板保持部が退避したときにはその基板支持部が前記受け面と略一致する高さ位置に位置付けられて前記基板を下方より支持可能としたことを特徴とするペースト塗布装置。
A receiving surface on which a substrate held and carried in on the transfer arm is placed, and an entry space formed below a height position of the receiving surface and capable of entering a substrate holding portion for holding the substrate in the transfer arm; A stage device having
An application head for applying paste to the substrate,
By a relative movement between the coating head and the stage device, a paste coating device that applies a paste to the substrate,
Providing a support member movable in the entrance space,
The support member is located at a retreat position where the substrate holding portion of the transfer arm retreats from the approach path when the substrate holding portion enters the approach space, and the substrate support portion is retracted when the substrate holding portion retreats from the approach space. A paste coating device which is positioned at a height position substantially coinciding with the receiving surface and is capable of supporting the substrate from below.
受け面に形成された進入空間に搬入アームを進入させ搬入アームに保持された基板を前記受け面に載置する工程と、
前記基板を前記受け面に載置後、前記搬入アームを前記進入空間内から退避させる工程と、
前記搬入アームが前記進入空間から退避後、前記進入空間内にて移動可能な支持部材にて前記基板の下面を支持する工程と、
前記受け面に載置された前記基板にペーストを塗布する工程と、
ペースト塗布後に前記支持部材を前記搬入アームの進入空間から退避させる工程と、
前記支持部材が退避後、前記進入空間に搬出アームを進入させ、この搬出アームにより前記基板を前記受け面から取り出す工程と、
を有することを特徴とするペースト塗布方法。
A step of moving a carry-in arm into an entrance space formed on a receiving surface and placing a substrate held by the carry-in arm on the receiving surface;
After placing the substrate on the receiving surface, retracting the carry-in arm from the entrance space,
A step of supporting the lower surface of the substrate by a support member movable in the approach space after the carry-in arm has retreated from the approach space;
Applying a paste to the substrate placed on the receiving surface,
Retreating the support member from the entrance space of the carry-in arm after applying the paste,
After the support member is retracted, a step of allowing a carry-out arm to enter the entrance space, and removing the substrate from the receiving surface by the carry-out arm;
A paste application method, comprising:
JP2003138038A 2003-05-16 2003-05-16 STAGE DEVICE, PASTE COATING DEVICE USING SAME, AND PASTE COATING METHOD Expired - Fee Related JP4342210B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003138038A JP4342210B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 STAGE DEVICE, PASTE COATING DEVICE USING SAME, AND PASTE COATING METHOD

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003138038A JP4342210B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 STAGE DEVICE, PASTE COATING DEVICE USING SAME, AND PASTE COATING METHOD

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2004337744A true JP2004337744A (en) 2004-12-02
JP2004337744A5 JP2004337744A5 (en) 2006-07-06
JP4342210B2 JP4342210B2 (en) 2009-10-14

Family

ID=33527515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003138038A Expired - Fee Related JP4342210B2 (en) 2003-05-16 2003-05-16 STAGE DEVICE, PASTE COATING DEVICE USING SAME, AND PASTE COATING METHOD

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4342210B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249936A (en) * 2009-04-13 2010-11-04 Hitachi High-Technologies Corp Packaging processing work apparatus and packaging processing work method
JP2013192980A (en) * 2012-03-16 2013-09-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Coating apparatus and coating method
CN106980225A (en) * 2016-01-18 2017-07-25 Hoya株式会社 Base plate keeping device, drawing apparatus, photomask inspection device, photo mask manufacturing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249936A (en) * 2009-04-13 2010-11-04 Hitachi High-Technologies Corp Packaging processing work apparatus and packaging processing work method
JP2013192980A (en) * 2012-03-16 2013-09-30 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Coating apparatus and coating method
CN106980225A (en) * 2016-01-18 2017-07-25 Hoya株式会社 Base plate keeping device, drawing apparatus, photomask inspection device, photo mask manufacturing method
JP2017129848A (en) * 2016-01-18 2017-07-27 Hoya株式会社 Substrate holding device, drawing device, photomask inspection device, and manufacturing method of photomask

Also Published As

Publication number Publication date
JP4342210B2 (en) 2009-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2021008668A (en) Film deposition apparatus, control method and method for manufacturing electronic device
KR101061707B1 (en) Coating film forming apparatus and coating film forming method
JP7244401B2 (en) Alignment apparatus, film formation apparatus, alignment method, film formation method, and electronic device manufacturing method
KR101870586B1 (en) Substrate conveyance device, substrate mounting device, film formation device and film formation method
US10684501B2 (en) Manufacturing system and manufacturing method
KR100576406B1 (en) Flux reservoir and flux transferring method
JP5189370B2 (en) Substrate exchange apparatus, substrate processing apparatus, and substrate inspection apparatus
JP4743716B2 (en) Substrate processing equipment
JP2007112626A (en) Substrate carrying device, substrate inspection device and substrate carrying method
JP5771432B2 (en) Coating device
JP3943481B2 (en) Electronic component transport head and electronic component mounting apparatus
JP2009094184A (en) Substrate treatment apparatus and treating method
TW202114048A (en) Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device
JP3545387B2 (en) IC component mounting method and device
JP4342210B2 (en) STAGE DEVICE, PASTE COATING DEVICE USING SAME, AND PASTE COATING METHOD
TWI779014B (en) Exposure device
JP4064795B2 (en) Electronic component mounting equipment
KR20090008114A (en) Inspection apparatus and substrate processing system
JP2019060027A (en) Substrate mounting device, film formation device, substrate mounting method, film formation method, and method for producing electronic device
JP2004298775A (en) Applicator and application method
CN112331582A (en) Chip mounting device and method for manufacturing semiconductor device
JP2003031642A (en) Substrate carrier, paste coater using it, and coating method of paste
JP2008229562A (en) Device for positioning substrate
JP3545386B2 (en) IC component mounting method and device
JP4291387B2 (en) Electronic component mounting method

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060516

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060516

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090317

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090513

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090707

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090707

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4342210

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130717

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees