JP2004325110A - 温度センサの故障検出方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】定期的の温度センサの温度測定値Tを取り込むことなどによって、温度センサによる温度測定値Tの時間変化率ΔTを求め、この時間変化率ΔTに基づいて、故障を検出する。具体的には、温度測定値Tが予め定めた温度範囲(TL≦T≦TH)から逸脱し、かつ、温度測定値の時間変化率ΔTが所定のしきい値Wを超えたときに、温度センサの故障と判断する。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、温度センサの故障を検出する方法および装置に関し、特に、各種の二次電池を組み込んだバッテリーシステムなどにおいて温度検出のために設けられた温度センサの故障を検出するための故障検出方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
ハイブリッド電気自動車あるいは電気自動車などでは、モータなどを駆動するための駆動電源として、リチウムイオン二次電池やニッケル水素電池などの二次電池を組み込んだバッテリーシステムが用いられている。バッテリーシステムでは、二次電池の単位電池(セル)を複数個直列に接続して所望の端子間電圧が得られるようにするとともに、電池温度あるいは周囲温度などを検出する温度センサを装備している。二次電池の過充電などを防止し、あるいは、二次電池に何らかの障害がおきたことを検出するために、電池温度を検出する温度センサは、保安上、重要な部品となっている。温度センサとしては、一般的に、負の温度抵抗係数を有するサーミスタが使用されている。
【0003】
多数個の二次電池を有するバッテリーシステムでは、バッテリーシステム内での電池の配置場所によって熱の放散効率が異なることもあって電池ごとの温度が異なることがあり、また、いずれの電池における不具合であるかを検出したいこともあって、複数の温度センサが設けられる。
【0004】
図4は、温度センサとその温度センサからの出力に基づいて制御を行うための回路構成を示している。電源Vcc(例えば+5V)と接地点GNDとの間に、抵抗R1,R2が、抵抗R2が接地側となるように直列に設けられている。そして、例えばサーミスタである温度センサRsは、抵抗R2に対して並列に接続されている。そして、抵抗R1,R2の相互接続点の電圧VADが、温度測定値としてアナログ/デジタル(A/D)変換器11に入力し、A/D変換器11でデジタル値に変換された温度測定値は、電池に対する充放電の制御や異常検出時の制御を行うマイクロプロセッサ12に入力するようになっている。電圧VADは、
VAD=RsR2Vcc/(RsR2+R1Rs+R1R2)
で表わされる。図5は、温度センサにおける温度と電圧VADとの間の典型的な関係を示すグラフである。
【0005】
ところで、温度センサにおける障害が発生すると、例えば、温度センサの断線あるいは短絡が発生すると、電池温度の適切な監視を行えなくなり、電池の過充電あるいは充電不足を引き起こす原因ともなる。そこで、温度センサ自体の故障を検出する機構が必要となる。温度センサの故障のモードとしては、圧倒的に短絡もしくは断線が多いから、そのような故障が発生した場合には、見かけ上、温度測定値が極端に低温になったり、あるいは極端に高温になったりする。そこで、電圧VADが通常はありえないような温度に対応する値となった場合に、温度センサの故障と判断することが試みられている。例えば、図5に示すような温度と電圧VADとの関係が成り立つときには、検出された電圧VADが−30℃より低い温度に対応するものである場合(VAD<V2)、あるいは、+100℃よりも高い温度に対応する場合(VAD>V1)に、温度センサの故障と判断するようにする。この判断は、A/D変換器11からのデジタル値に基づいて、マイクロプロセッサ12が実行する。故障(すなわちNG)と判断した場合には、マイクロプロセッサ12は、例えば、所定の警報信号を出力する。
【0006】
二次電池の監視のために使用される温度センサにおいてこのように温度センサの出力が範囲外となった場合に温度センサの故障と判断することは、例えば、特開平8−280140号公報(特許文献1)に記載されている。特開平8−308133号公報(特許文献2)には、温度センサの抵抗値を直接測定し、規定の範囲以外であれば断線あるいは短絡と判断することが記載されている。さらに、特開2000−175371(特許文献3)には、二次電池の充電装置において、サーミスタからなる温度センサとサーモスタットからなる温度センサとを併用し、両者が示す温度に矛盾が生じている場合に故障が発生したと判断することが開示されている。二次電池の監視のためのものではなく、駆動モータ等に設けられた温度センサの故障を検出するものとして、特開平7−312802号公報(特許文献4)には、モータに対するトルク指令の積分値からある温度に達しているはずであると判断できる場合に、温度センサの検出温度が所定温度に満たないときには、温度センサの断線であると判断することが開示されている。
【0007】
【特許文献1】
特開平8−280140(段落0009、0010、図1)
【特許文献2】
特開平8−308133(段落0014、0015、図2)
【特許文献3】
特開2000−175371(段落0010、図1)
【特許文献4】
特開平7−312802
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、温度センサの検出温度が所定の温度範囲以外の場合にその温度センサの故障であると判断する方法では、温度センサは正常であって実際の温度がその所定の温度範囲外となった場合でも、温度センサの故障と判断してしまうという問題点がある。従来は、二次電池を含むバッテリーシステムはそれほど温度変化のない環境に配置されていたため、実際の温度が上述した所定の温度範囲外となることはほとんどなかった。しかしながら、高温特性に優れるとともに大電流での充放電が可能な二次電池が開発され、また、ハイブリッド電気自動車内などの周囲温度変化が激しいところにバッテリーシステムが配置されるようになってきたことにより、従来想定されているよりも広い温度範囲に温度センサが曝されるようになってきた。このため、例えば従来は、検出温度が−30℃以上+100℃以下の温度範囲を逸脱したときに温度センサの故障としていた場合に、バッテリーシステム内の温度が実際に+100℃を超えることが起きるようになり、そのような場合に温度センサの故障と判断することで、バッテリーシステムに対する適切な制御を行えなくなっている。今後、二次電池における技術の発展に伴って、異常な温度値が測定されたときに、それがバッテリーシステムにおける実際の値なのか温度センサの故障によるものかの切り分けがますます困難になることが予想される。
【0009】
そこで本発明の目的は、バッテリーシステムなどにおいて温度センサの故障を確実に検出できる故障検出方法および装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の故障検出方法は、温度センサの温度測定値を監視し、温度測定値の変化率に基づいて温度センサの故障を検出する。
【0011】
本発明の故障検出方法においては、例えば、温度測定値が予め定めた温度範囲から逸脱し、かつ、温度測定値の変化率が所定のしきい値を超えたときに、温度センサの故障と判断する。また、複数の温度センサが設けられる場合には、各温度センサの温度測定値を監視し、各温度センサの温度測定値の変化率を求め、これらの変化率の相互比較によって、いずれかの温度センサにおける故障を検出するようにしてもよい。
【0012】
本発明の故障検出装置は、温度センサの故障を検出する故障検出装置であって、しきい値を格納するしきい値格納手段と、温度センサの温度測定値の変化率としきい値とを比較する比較手段と、を有する。
【0013】
本発明において温度測定値とは、温度の単位で表示される測定値のみを指すものではなく、温度センサにおける温度に応じて変化する任意の物理量あるいは数値を指すものである。また、変化率とは、単位時間あたりの温度測定値の変化の絶対値すなわち時間変化率のことをいう。一定の時間間隔で温度測定値のサンプリングが行われるのであれば、前回の測定値と今回の測定値との差をそのまま変化率とすることができる。
【0014】
本発明において温度センサは、典型的には、温度に応じて電気抵抗が変化するサーミスタである。
【0015】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の好ましい実施の形態について、図面を参照して説明する。
【0016】
図1は、本発明の実施の一形態の故障検出方法が適用されるバッテリーシステムの構成を示すブロック図である。
【0017】
バッテリーシステム20においては、リチウムイオン二次電池などのセル(単位電池)21の複数個が直列に接続されている。そして、このバッテリーシステム20内の温度、特にセル21の近傍の温度を測定するために、例えばサーミスタなどからなる複数の温度センサ10が設けられている。各温度センサ10の出力は、温度センサ10ごとに設けられたA/D変換器11を介し、マイクロプロセッサ12に入力している。ここでは説明の煩雑を避けるため、温度センサ10をブロックとして簡略化して図示しているが、図4に示したものと同様に、電源電圧Vccと接地点GNDとの間に抵抗R1,R2が直列に接続し、抵抗R2に対して温度センサが並列に接続されている。
【0018】
次に、本実施形態における温度センサの故障検出について説明する。
【0019】
上述したようにサーミスタなどの温度センサにおける故障モードとしては、断線あるいは短絡が主要なものと考えられる。温度センサにおける温度抵抗特性の不良あるいは劣化も考えられるが、初期における温度抵抗特性の不良は製造時に排除すべきものであり、また、温度抵抗特性の経時変化についても定期的な点検や交換などの処置を講じることによって、故障モードとしては無視できる。
【0020】
温度センサにおける断線あるいは短絡の故障について検討すると、断線あるいは短絡が生じたことによって、その温度センサの見かけの抵抗値が変化する。従来の故障検出方法では、結局はこの抵抗値自体を検出して故障を判断していたため、温度センサは正常であって実際の温度が極端に高くなったりあるいは低くなったりした場合と、温度センサ自体の故障とを切り分けることが難しかった。
【0021】
ところで、断線あるいは短絡が生じる場合の温度センサの見かけの抵抗値の変化は、徐々におきるものではなく、急激に変化するものと考えられる。また、このような急激な変化は、温度センサが正常に動作していて温度を検出している場合には起こらないと考えられる。そこで本実施形態では、温度センサの抵抗値あるいはこの抵抗値から算出される温度測定値における微分値すなわち時間変化率に基づいて、温度センサの故障を判別するようにしている。すなわち、温度測定値が徐々に変化しているときは、たとえ温度測定値自体が極端な値であっても温度センサは正常に動作していると判断し、温度測定値が急激に変化する(温度測定値の時間変化率が大きい)ときは温度センサの故障が発生したと判断する。
【0022】
以上の故障検出原理を図1に示した構成において説明すると、マイクロプロセッサ12は、温度センサ10での温度測定値TをA/D変換器11を介して定期的に例えば100ミリ秒ごとに取得しており、温度センサ10での温度測定値Tが所定のしきい値TH(例えば+100℃)を上回っているとともに、その際の温度測定値の時間変化率ΔTが所定のしきい値W(例えば100ミリ秒あたり±2℃)以上である場合に、その温度センサ10における故障が発生したものと判断する。ここでは定期的に温度測定値Tを取り込んでいるので、時間変化率ΔTとしては、今回の温度測定値Tと前回の温度測定値T’との差の絶対値を用いればよい。温度センサ10が負の温度抵抗係数を有するサーミスタである場合には、このときの故障は、温度センサ10の短絡に相当する。同様に、温度測定値が所定のしきい値TL(例えば−30℃)を下回っていてかつその時間変化率が上述したしきい値W以上である場合にも、故障(負の温度抵抗係数を有する温度センサであれば断線)が生じたものと判断する。故障と判断した場合には、マイクロプロセッサ12は例えば警報を出力する。
【0023】
ここでは温度測定値Tとして説明したが、温度と温度センサ10の抵抗値との関係は既知であることから、A/D変換器11の出力を温度に換算することなく、温度測定値Tの代わりにA/D変換器11の出力値(あるいは温度センサ10の測定された抵抗値)をそのまま使用してもよい。もちろんその場合には、しきい値TH,TL,Wの値も適宜に変換しておく必要がある。ここでは、温度測定値Tは、セルシウス温度あるいは絶対温度で表示される測定値のみを指すものではなく、温度センサ10における温度に応じて変化する任意の物理量あるいは数値を指すものである。
【0024】
図2は、この処理を示すフローチャートである。ステップ101で温度測定値Tを取得すると、ステップ102において温度測定値TがTL以上TH以下であるかどうかを判断し、そうであれば温度センサの故障でないのでステップ101に戻り、温度測定値TがTL以上THでないときは故障の可能性があるので、ステップ103において前回の温度測定値T’との差から時間変化率ΔTを算出し、ステップ104においてΔTがW以下であるかどうかを判断する。ΔTがW以下であれば温度センサの故障ではないので、ステップ101に戻り、ΔTがWを上回っていれば故障と判断し、ステップ105で警報を出力して処理を終了する。ここでは、温度測定値TがTL以上THでないときに限って時間変化率ΔTを算出しているが、常時、時間変化率ΔTを算出していもよい。常時、ΔTを算出している場合には、ΔTの大きさに応じて、しきい値TH,TLを変化させてもよい。
【0025】
このような処理を行うマイクロプロセッサ12は、図3に示す機能ブロック構成と等価なものである。図3に示す構成は、A/D変換器11からの出力が温度測定値Tとして入力する測定値入力部31と、前回の温度測定値T’を保持する測定値保持部32と、時間変化率ΔT(=|T−T’|)を算出する変化率算出部33と、上述した各しきい値TH,TL,Wを保持するしきい値格納部34と、温度測定値Tとしきい値TH,TLとを比較する第1の比較部35と、時間変化率ΔTとしきい値Wとを比較する第2の比較部36と、第1及び第2の比較部35,36での比較結果に応じて温度センサ10の故障を判定する判定部37とを備えている。
【0026】
以上の説明においては、TL≦T≦THでなく、かつ、W<ΔTのときに温度センサの故障と判断しているが、本発明はこれに限られるものではない。低温側については、T<TLとなったことのみで温度センサ10の故障と判断し、高温側については、TH<TかつW<ΔTとなったことによって故障と判断してもよい。逆に、低温側について、T<TLかつW<ΔTとなったことで温度センサ10の故障と判断し、高温側については、TH<Tとなったことのみによって故障と判断してもよい。さらには、温度測定値の時間変化率ΔTが所定のしきい値Wを超えたことのみをもって温度センサ10の故障と判断してもよい。このとき、しきい値Wは、温度測定値Tに応じて変化するようにしてもよい。
【0027】
図1に示すように1つのバッテリーシステム20に対して複数個の温度センサ10が配置されている場合には、各温度センサ10からの温度測定値やその時間変化率との相互比較によって、温度センサ10の故障の検出を行うこともできる。具体的には、他の温度センサにおける温度測定値の時間変化率に比べ、極端に時間変化率が大きな温度センサが存在した場合には、その時間変化率の大きな温度センサに故障が発生したと判断することができる。具体的には、100ミリ秒の時間間隔で各温度センサ10で温度を測定している場合に、全温度センサ10を介した平均としての温度変化が1℃の上昇であった場合に、3℃も温度が上昇している温度センサがあれば、その温度センサが故障している、と判断できる。この場合、平均の時間変化率あるいは全温度センサを通じた最小の時間変化率の大きさに応じて、故障と判断する基準となる時間変化率におけるしきい値を変化させるようにしてもよい。
【0028】
ここでは、温度測定値における時間変化率の相互比較を通じて故障を識別しているが、この場合、故障であると判断する前提として、温度測定値自体が所定の温度範囲を逸脱している、という条件を付加してもよい。このとき、温度測定値自体における所定の温度範囲も、平均の温度変化率あるいは最低の温度変化率に応じて変化させてもよい。
【0029】
さらに、図1に示すように1つのバッテリーシステム20に対して複数個の温度センサ10が配置されている場合には、各温度センサ10からの温度測定値やその時間変化率との相互比較によって、温度センサ10の故障の検出精度を向上させることもできる。具体的には、他の温度センサにおける温度測定値の時間変化に比べ、極端に時間変化率が大きな温度センサが存在した場合には、その時間変化率の大きなセンサに対応する第2の比較部36(図3参照)でのしきい値Wを他の温度センサの平均温度上昇値で補正することにより、故障の判定精度を向上させることができる。
【0030】
例えば100ミリ秒の時間間隔で各温度センサ10で温度を測定している場合に、全ての温度センサ10にわたって平均として温度変化が1℃の上昇であった場合には、しきい値Wを(W−1)℃に補正すればよい。
【0031】
この補正値は、平均の時間変化率だけでなく、全温度センサを通じた最小の時間変化率の大きさに応じて変化させるようにしてもよい。
【0032】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、温度センサによる温度測定値自体ではなく、温度測定値の時間変化率に基づくことにより、温度センサにおける断線や短絡などの故障を確実に検出できるようになる、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態の故障検出方法が適用されるバッテリーシステムの構成を示すブロック図である。
【図2】故障検出のための処理を示すフローチャートである。
【図3】故障検出のための機能ブロック構成を示すブロック図である。
【図4】温度センサを含む回路の一例を示す図である。
【図5】温度と電圧との関係の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
10,Rs 温度センサ
11 A/D変換器
12 マイクロプロセッサ
20 バッテリーシステム
21 セル
31 測定値入力部
32 測定値保持部
33 変化率算出部
34 しきい値格納部
35,36 比較部
37 判定部
R1,R2 抵抗
Claims (10)
- 温度センサの故障を検出する故障検出方法であって、温度センサの温度測定値を監視し、前記温度測定値の変化率に基づいて故障を検出する、故障検出方法。
- 温度センサの故障を検出する故障検出方法であって、該温度測定値が予め定めた温度範囲から逸脱し、かつ、前記温度測定値の変化率が所定のしきい値を超えたときに、前記温度センサの故障と判断する、故障検出方法。
- 複数の温度センサを有するシステムにおける温度センサの故障を検出する故障検出方法であって、各温度センサの温度測定値を監視し、前記各温度センサの温度測定値の変化率を求め、該変化率の相互比較によっていずれかの温度センサにおける故障を検出する、故障検出方法。
- 温度測定値が所定の温度範囲を逸脱している場合に故障として検出する、請求項3に記載の故障検出方法。
- 前記複数の温度センサの全体にわたる平均の変化率または最低の変化率に応じ、前記所定の温度範囲を変化させる、請求項4に記載の故障検出方法。
- 前記温度センサは、温度に応じて電気抵抗が変化するサーミスタである、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の故障検出方法。
- 前記温度センサは、二次電池の複数個のセルを有するバッテリーシステム内に配置される、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の故障検出方法。
- 温度センサの故障を検出する故障検出装置であって、
しきい値を格納するしきい値格納手段と、
温度センサの温度測定値の変化率と前記しきい値とを比較する比較手段と、
を有する、故障検出装置。 - 前記故障検出装置は複数の温度センサを有するシステムにおける温度センサの故障を検出するものであって、各温度センサの温度測定値を監視し、前記各温度センサの温度測定値の変化率を求め、前記各温度センサの変化率に基づいて前記しきい値を補正する、請求項8に記載の故障検出装置。
- 温度センサの故障を検出する故障検出装置であって、
温度範囲に関するしきい値と変化率に関するしきい値とを格納するしきい値格納手段と、
温度センサの温度測定値を前記温度範囲に関するしきい値と比較する第1の比較手段と、
前記温度センサの温度測定値における変化率と前記変化率に関するしきい値とを比較する第2の比較手段と、
前記温度センサの温度測定値が前記温度範囲を逸脱し、かつ、前記温度センサの温度測定値における変化率が前記変化率に関するしきい値を上回るときに、前記温度センサの故障と判断する判定手段と、
を有する、故障検出装置。
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